JP2015536455A - 材料の表面を照明する装置 - Google Patents

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Abstract

較正光(105)を用いて材料(103)の表面を照明する照明装置(101)と、前記較正光(105)に応じて前記材料(103)の表面から放射された測定光(109)を記録する記録装置(107)と、前記材料(103)の表面のスペクトル・レミッション挙動を特徴付ける前記測定光(109)のスペクトル特性を記録する処理装置(111)を含み、前記照明装置(101)は、前記測定光(109)のスペクトル特性に対応するスペクトル特性を有し、前記材料(103)の表面を照明する照明光(113)を生成する、材料の表面を照明する装置。【選択図】図1

Description

本発明は、対象物の光学的検出のため、工作物等の対象物を照明する分野に関する。
最新の製造設備では、工作物、製品などの対象物の光学的記録や検出が必要となることが多い。この目的のため、対象物の表面が、一般的には白色光で照明され、対象物の表面から反射された光が、対象物の画像を取得するために光学的に記録され、それが任意選択的に処理される。
しかしながら、対象物の光学的記録および分析は、干渉光によって、例えばホール照明などの周囲光によって、または散乱光によって妨害されることがある。
このため、特に製造設備では、対象物の光学的記録への干渉光の影響を低減する必要がある。
この目的のため、対象物の照明強度を増大させることは可能である。しかしながら、隣接する光学的記録作業を妨げかねない更なる干渉光の生成を引き起こすことがある。また、干渉光の影響を低減するため、対象物の均質な照明を得るために、干渉光を光学的に記録し、対象物の照明強度を干渉光のスペクトル領域において低減している。しかしながら、特に干渉光のスペクトル強度パターンが時間的に変動する人工照明の場合には問題がある。
したがって、本発明の目的は、干渉光の影響を低減できる材料の表面の照明のための効率的な概念を作り出すことである。
この目的は、独立請求項の特徴によって解決される。有利な変形例は、詳細な説明、図面、並びに従属請求項の主題である。
本発明は、上記目的が材料の表面、例えば工作物の表面の照明に使用される照明光の適合によって解決できるという発見に基づいている。
この目的のため、材料の表面が少なくとも2回照明され、最初の照明プロセスでは、材料の表面のスペクトル放射挙動が記録される。材料の表面の測定光によって特徴づけられる材料の表面のスペクトル放射挙動が、照明光のスペクトル特性、特に色温度を測定光に適応させるために用いられる。
このようにして、材料の表面を照明するのに使用される照明光のスペクトルまたは色組成が、材料の表面の光学特性に適応する。材料の表面が、例えば第2のスペクトル領域よりも第1のスペクトル領域の反射光の強力な強度によって特徴づけられる場合、第1のスペクトル領域の照明光の強度は、第2のスペクトル領域の照明光の強度よりも高いものであり得る。このようにして、材料の表面は、より強力な応答強度が予想されるはずの部位にはより大きな強度でスペクトル照明される。他方、材料の表面が特定の波長の光を吸収する場合には、例えば、この波長では材料の表面を照明しないで済ませることが可能である。
これによって、材料表面のエネルギー高効率化が得られる。
一態様によれば、本発明は材料の表面を照明する装置に関し、この装置は、較正光を用いて材料の表面を照明する照明装置と、前記較正光に応じて前記材料の表面から放射された測定光を記録する記録装置と、前記材料の表面のスペクトル・レミッション挙動を特徴付ける前記測定光のスペクトル特性を記録する処理装置を含み、前記照明装置は、前記測定光のスペクトル特性に対応するスペクトル特性を有し、前記材料の表面を照明する照明光を生成する。
実施の形態によれば、前記測定光は、前記較正光に応じて前記材料の表面で反射した光、または前記較正光に応じて前記材料の表面から再放射された光、または前記較正光に応じて前記材料の表面から放射された光である。
実施の形態によれば、前記測定光のスペクトル特性は、色空間に従った前記測定光の色スペクトル、前記測定光の波長スペクトル、または前記測定光の周波数スペクトルである。
実施の形態によれば、前記照明装置は、許容差範囲、例えば1%、5%、または10%以内で前記測定光のスペクトル特性と対応する、特に前記スペクトル特性と等しいスペクトル特性で前記照明光を生成するように構成される。
実施の形態によれば、前記処理装置は、前記測定光のスペクトル特性に関する表示を前記照明装置に伝達するように構成される。結果として、照明装置は、例えば所望の照明光を生成するように制御できる。
実施の形態によれば、前記処理装置は、前記スペクトル特性に依存して、特に前記測定光のスペクトル特性に従って、前記照明光のスペクトル特性を調整するように前記照明装置を制御するように構成される。
実施の形態によれば、前記照明装置は、異なる波長または異なる色の光を放射する複数の照明素子を含む。
実施の形態によれば、前記照明装置は、照明光のスペクトル特性を調整するために、所定の強度の光を放射するように前記複数の照明素子の少なくとも1つ、特に各照明素子を制御するように構成される。
実施の形態によれば、前記処理装置は、前記測定光に基づいて前記材料の表面の特性を記録するように構成される。
実施の形態によれば、前記記録装置は、前記測定光を記録する光センサを含む。
実施の形態によれば、前記照明装置は、実際の照明光を記録する光センサを含み、前記処理装置は、実際の照明光のスペクトル特性と所望の照明光のスペクトル特性との差異を記録し、前記差異に基づいて前記照明装置を制御するように構成される。結果として、照明光は自動制御で調整できる。
実施の形態によれば、前記記録装置は、照明光に応じて前記材料の表面から放射された画像光を記録するように構成される。
実施の形態によれば、前記処理装置は、前記画像光を試験画像に、特にデジタル試験画像に変換するように構成される。
他の態様によれば、本発明は、較正光によって材料の表面を照明し、前記材料の表面のスペクトル・レミッション挙動を特徴付ける較正光に応じて前記材料の表面から放射された測定光を記録し、前記測定光のスペクトル特性を記録し、前記測定光のスペクトル特性に対応するスペクトル特性を有する照明光によって前記材料の表面を照明する、材料の表面を照明する方法に関する。
以下、図面を参照して実施の形態を更に説明する。
図1は、材料の表面を照明する装置のブロック図である。
図1は、較正光105を用いて材料103の表面を照明する照明装置101と、較正光105に応じて材料103の表面から放射した測定光109を記録する記録装置107を有する、材料103の表面を照明する装置のブロック図を示している。測定光は、例えば材料103の表面で反射する光、または材料103の表面から放射または再放射した光である。
また、処理装置111が設けられ、該処理装置は、測定光109のスペクトル特性、例えば色組成または波長パターンを記録するように構成されている。測定光109のスペクトル特性は、特に材料の表面のスペクトル・レミッション挙動(spectral reemission behavior)を特徴付けている。測定光は、例えば反射光、再放射光、または放射光である。
照明装置101は、材料の表面に照明される照明光113を生成するように構成され、該照明光は、測定光のスペクトル特性に対応するスペクトル特性を有している。
したがって、照明プロセスは2段階のプロセスである。第1のステップでは、照明装置101が測定光105を生成する。測定光105のスペクトル特性の記録後、材料103の表面が照明光113で照明され、該照明光のスペクトルが、例えば許容差、例えば5%または10%内で測定光のスペクトルに対応する。したがって、測定光105が初めに生成される。照明光113は、時間的に測定光105の生成後に生成される。
照明装置101は複数の照明素子115を含み、該照明素子は較正光および/または照明光を放射するために設けられる。照明素子115は、例えば発光ダイオード(LED)であり、発光ダイオードの各々は、例えば赤色、緑色、黄色、または別の波長の光を放射する。個々の照明素子115に通電することによって照明光の所定の色組成またはスペクトル特性を生成することができる。
光学部品117、例えばレンズは任意選択的に使用され、放射光を集束するために照明素子115の下流側にて接続される。
照明素子115の駆動については、駆動部119の一例としてLED駆動部が設けられ、該駆動部は照明素子115の上流側に接続される。
実施の形態によれば、駆動部119は照明装置101の一構成要素である。別の実施の形態によれば、駆動部119は処理装置111の一構成要素である。
照明装置101はセンサ121を含み、該センサは任意選択的に光学部品117の後に設けられ、特に照明光として照明素子115によって生成された光を記録し、照明装置101の制御システムの自動制御のため、対応する測定信号が処理装置111に印加される。
照明装置101は、照明素子115によって、材料の表面に対するシステムの較正のための較正光105と、材料の表面のスペクトル光挙動を特徴付ける照明光113を、材料の表面に向けて放射するために設けられている。
較正光または照明光に応じて材料103の表面から放射、または表面で反射した光が記録装置107に記録される。このため、記録装置107は光センサ123を含み、該センサが材料103の表面から放射した光109を光学的に記録する。光センサ123の出力信号が制御部125に印加される。
実施の形態によれば、制御部125は記録装置107の一構成要素である。別の実施の形態によれば、制御部125は処理装置111の一構成要素である。
制御部125がインターフェース127を含み、該インターフェースがデジタルであり、例えばI2C、SPI、USBとして、または類似のインターフェースとして構成されてもよい。
インターフェース127が、例えばアナログ/デジタル変換器を含んでもよい。光センサ123が記録された光をアナログ測定信号に変換する場合に有利である。光センサ123が、記録された光をデジタル信号に変換するために設置される場合、インターフェース127は、例えばI2C、SPI、またはUSBインターフェースであってもよい。
インターフェース127の下流側には信号処理装置129が配置され、該装置が、例えばインターフェース127の出力信号のフィルタリングを実行する。このフィルタリングによって、例えば信号が平滑化される。信号の平滑化は記録または測定された光の周波数つまり波長に依存する。
また、制御部125が任意選択的な較正装置130を含み、該較正装置が信号処理装置129から処理済の信号データを受け取ってデータを較正するために設置される。信号データが、例えば色空間に従って色値に関して較正されてもよい。
実施の形態によれば、較正装置130の出力データが、処理装置111、特に処理装置111の自動制御装置131に印加されてもよい。
実施の形態によれば、較正装置130の出力データが、任意選択的な判定装置133に印加されてもよい。
実施の形態によれば、判定装置133が、例えば材料表面を有する被照明物の輪郭を検出するために、例えば縁部検出をデジタル画像において実行してもよい。
実施の形態によれば、判定装置133は、較正光または照明光に応じて材料103の表面から放射されて記録される光のスペクトル特性を実際の色値と関連付けることができ、該色値は、測定光のスペクトル特性だけでなく、使用される照明光のスペクトル特性も特定することができる。このように、照明装置101は所望の照明光を生成するように自動制御することができる。
処理装置111は、制御部137、例えばLED制御部を含み、照明信号を生成するために、該制御部が所望の照明光の所望の色値に従って駆動部119を制御する。測定光のスペクトル特性または所望の色値に基づいて照明光のスペクトル特性を得るために、制御部137は、例えば個々に色に関連した照明素子1115を制御するために構成されてもよい。
例えば所望の照明信号と実際の照明信号との差、特にスペクトル差を低減することができるように、所望の照明信号と実際の照明信号との偏差の場合には照明素子1115を調整するために任意選択的に自動制御装置131が設置されてもよい。
処理装置111は、実際の照明信号を表す測定信号をセンサ121から取得するように構成することができる。センサ121は、可視光をアナログまたはデジタル測定信号に変換する光センサであってもよい。処理装置111は、測定信号をセンサ121から受け取るインターフェース139を含むことができ、該インターフェースはデジタルであり、例えばI2C、SPI、USB、または類似のインターフェースとして構成されてもよい。
インターフェース139はI2C、SBI、またはUSBインターフェースであり、例えばアナログ/デジタル変換器を含んでもよい。インターフェース139の下流側には任意選択的な信号処理装置141が接続され、該装置は、制御部125の信号処理装置129の機能を有してもよい。信号処理装置129によって、例えば、測定された光の周波数に基づいて、例えば、信号平滑化を実行してもよい。
色値に関して信号処理された信号データの補正を実行する任意選択的な較正装置143が、信号処理装置141の下流側に接続される。較正装置143は較正装置130の機能を有することができる。較正装置143は、特に実際の照明信号のスペクトル特性を特徴付ける実際の色値を自動制御装置131に加えるために設置される。自動制御装置131は、照明素子115を駆動する駆動部119を制御するため、例えば実際の色値と所望の色値との偏差を判定し、これに基づいて制御部137のための起動変数を発生するように構成されている。
実施の形態によれば、制御部137、インターフェース139、信号処理装置141、較正装置143、並びに自動制御装置131は、マイクロコントローラを使って実行することが可能である。
101 照明装置
103 対象物の表面
105 較正光
107 記録装置
109 測定光
111 処理装置
113 照明光
115 照明素子
117 光学部品
119 駆動部
121 光学センサ
123 光学センサ
125 制御部
127 インターフェース
129 信号処理装置
130 較正装置
131 自動制御装置
133 決定装置
135 表示部
137 制御部
139 インターフェース
1115 照明素子
141 信号処理装置
143 較正装置

Claims (15)

  1. 較正光(105)を用いて材料(103)の表面を照明する照明装置(101)と、
    前記較正光(105)に応じて前記材料(103)の表面から放射された測定光(109)を記録する記録装置(107)と、
    前記材料(103)の表面のスペクトル・レミッション挙動を特徴付ける前記測定光(109)のスペクトル特性を記録する処理装置(111)を含み、
    前記照明装置(101)は、前記測定光(109)のスペクトル特性に対応するスペクトル特性を有し、前記材料(103)の表面を照明する照明光(113)を生成する、材料の表面を照明する装置。
  2. 前記測定光(109)は、前記較正光(105)に応じて前記材料(103)の表面で反射した光、または前記較正光(105)に応じて前記材料(103)の表面から再放射された光、または前記較正光(105)に応じて前記材料(103)の表面から放射された光であることを特徴とする、請求項1に記載の材料の表面を照明する装置。
  3. 前記測定光(109)のスペクトル特性は、色空間に従った前記測定光(109)の色スペクトル、前記測定光(109)の波長スペクトル、または前記測定光(109)の周波数スペクトルである、請求項1または2に記載の材料の表面を照明する装置。
  4. 前記照明装置(101)は、許容差範囲以内で前記測定光(109)のスペクトル特性と対応する、特に前記スペクトル特性と等しいスペクトル特性で前記照明光(113)を生成するように構成される、請求項1〜3の何れか一つに記載の材料の表面を照明する装置。
  5. 前記処理装置(111)は、前記測定光(109)のスペクトル特性に関する表示を前記照明装置(101)に伝達するように構成される、請求項1〜4の何れか一つに記載の材料の表面を照明する装置。
  6. 前記処理装置(111)は、前記スペクトル特性に依存して、特に前記測定光(109)のスペクトル特性に従って、前記照明光(113)のスペクトル特性を調整するように前記照明装置(101)を制御するように構成される、請求項1〜5の何れか一つに記載の材料の表面を照明する装置。
  7. 前記照明装置(101)は、異なる波長または異なる色の光を放射する複数の照明素子(115)を含む、請求項1〜6の何れか記載の材料の表面を照明する装置。
  8. 前記照明素子(115)は発光ダイオードである、請求項7に記載の材料の表面を照明する装置。
  9. 前記照明装置(101)は、照明光のスペクトル特性を調整するために、所定の強度の光を放射するように前記複数の照明素子の少なくとも1つ、特に各照明素子を制御するように構成される、請求項7または8に記載の材料の表面を照明する装置。
  10. 前記処理装置は、前記測定光(109)に基づいて前記材料(103)の表面の特性を記録するように構成される、請求項1〜9の何れか一つに記載の材料の表面を照明する装置。
  11. 前記記録装置(107)は、前記測定光(109)を記録する光センサ(123)を含む、請求項1〜10の何れか一つに記載の材料の表面を照明する装置。
  12. 前記照明装置(101)は、実際の照明光を記録する光センサ(121)を含み、前記処理装置(111)は、実際の照明光のスペクトル特性と所望の照明光のスペクトル特性との差異を記録し、前記差異に基づいて前記照明装置(101)を制御するように構成される、請求項1〜11の何れか一つに記載の材料の表面を照明する装置。
  13. 前記記録装置(107)は、照明光に応じて前記材料(103)の表面から放射された画像光を記録するように構成される、請求項1〜12の何れか一つに記載の材料の表面を照明する装置。
  14. 前記処理装置(111)は、前記画像光を試験画像に、特にデジタル試験画像に変換するように構成される、請求項13に記載の材料の表面を照明する装置。
  15. 較正光(105)によって材料(103)の表面を照明し、
    前記材料(103)の表面のスペクトル・レミッション挙動を特徴付ける較正光(105)に応じて前記材料(103)の表面から放射された測定光(109)を記録し、
    前記測定光(109)のスペクトル特性を記録し、
    前記測定光(109)のスペクトル特性に対応するスペクトル特性を有する照明光(113)によって前記材料(103)の表面を照明する、材料の表面を照明する方法。
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