EP2914955A1 - Vorrichtung zum beleuchten einer stoffoberfläche - Google Patents

Vorrichtung zum beleuchten einer stoffoberfläche

Info

Publication number
EP2914955A1
EP2914955A1 EP13782692.1A EP13782692A EP2914955A1 EP 2914955 A1 EP2914955 A1 EP 2914955A1 EP 13782692 A EP13782692 A EP 13782692A EP 2914955 A1 EP2914955 A1 EP 2914955A1
Authority
EP
European Patent Office
Prior art keywords
light
illumination
spectral characteristic
measuring
illuminating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
EP13782692.1A
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Fred Grunert
Fredrik HAILER
Thomas Nimz
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Phoenix Contact GmbH and Co KG
Original Assignee
Phoenix Contact GmbH and Co KG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Phoenix Contact GmbH and Co KG filed Critical Phoenix Contact GmbH and Co KG
Publication of EP2914955A1 publication Critical patent/EP2914955A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02—Details
    • G01J3/0297—Constructional arrangements for removing other types of optical noise or for performing calibration
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02—Details
    • G01J3/027—Control of working procedures of a spectrometer; Failure detection; Bandwidth calculation
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02—Details
    • G01J3/10—Arrangements of light sources specially adapted for spectrometry or colorimetry
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28—Investigating the spectrum
    • G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features

Definitions

  • the present invention relates to the field of illumination of objects, such as workpieces, for the optical recognition of object recognition.
  • objects such as workpieces, products, and the like.
  • the surfaces of objects are usually illuminated with white light, wherein the reflected light from an object surface is optically detected and, if necessary, further processed in order to obtain an image of the object.
  • the optical detection or the analysis of the optically recorded image of the object can be disturbed by stray light, for example by ambient light such as hall lighting or by stray light. For this reason, there is a need to reduce the influence of stray light in the optical detection of objects, especially in manufacturing facilities.
  • the intensity of the object illumination can be increased.
  • this can lead to the generation of another stray light, which can disturb, for example, adjacent optical detections.
  • Another possibility of reducing the influence of the stray light is to optically detect the stray light and to reduce the intensity of the object illumination in the spectral range of the stray light in order to obtain a homogeneous object illumination.
  • this is particularly problematic when the spectral intensity curve of the disturbing light is subject to temporal fluctuations, which is the case for example in artificial lighting or at different times of the day.
  • the present invention is based on the finding that the above object can be achieved by adapting an illumination light which is to be used for illuminating a material surface, for example a surface of a workpiece.
  • the fabric surface is illuminated at least twice, wherein the spectral reflectance behavior of the fabric surface is detected in a first illumination process.
  • the spectral reflectance behavior of the fabric surface which is characterized by a measurement light coming from the fabric surface, is used to adapt the illumination light or its spectral characteristic, in particular color temperature, to the measurement light.
  • the spectrum or the color composition of the illuminating light to be used for illuminating the fabric surface is adapted to the optical properties of the fabric surface. If the material surface is characterized, for example, by a stronger intensity of the reflected light in a first spectral range than in a second spectral range, then the intensity of the illumination light in the first spectral range can be higher than the intensity of the illumination light in the second spectral range. In this way, the surface of the substance is illuminated spectrally there with greater intensity, where a stronger response intensity is to be expected. On the other hand, if the material surface absorbs light of a certain wavelength, then, for example, the illumination of the material surface at this wavelength can be dispensed with. This also leads to an energy-efficient illumination of fabric surfaces.
  • the invention relates to a device for illuminating a fabric surface with a lighting device for illuminating the fabric surface with a calibration light, a detection device for detecting a measuring light emitted from the fabric surface in response to the calibration light, and a processor device for detecting the spectral characteristic of the measurement light, which characterizes a spectral remission behavior of the fabric surface; wherein the illumination device is designed to generate an illumination light for illuminating the material surface, which has a spectral characteristic which corresponds to the spectral characteristic of the measurement light.
  • the measuring light is a light reflected on the cloth surface in response to the calibration light, or a light re-emitted from the cloth surface in response to the calibration light, or one of the cloth surface
  • the spectral characteristic of the measuring light is a
  • Color spectrum of the measuring light according to a color space, a wavelength spectrum of the measuring light, or a frequency spectrum of the measuring light.
  • the illumination device is designed, which is
  • illumination light with a spectral characteristic which corresponds to the spectral characteristic of the measuring light within a tolerance range for example 1%, 5% or 10%, in particular, is similar.
  • the processor device is designed to transmit an indication of the spectral characteristic of the measurement light to the illumination device.
  • the illumination device can be controlled, for example, to generate the desired illumination light.
  • the processor device is designed, which
  • the illumination device has a plurality of light elements for emitting light of different wavelengths or
  • the illumination device is designed to drive at least one light element of the plurality of light elements, in particular each light element of the plurality of light elements, for emitting light of a predetermined intensity in order to set the spectral characteristic of the illumination light.
  • the processor device is designed, a
  • the detection device comprises an optical sensor for detecting the measurement light.
  • the illumination device comprises an optical sensor for detecting an actual illumination light
  • the processor device is designed to detect a difference between a spectral characteristic of the actual illumination light and a spectral characteristic of a target illumination light and the illumination device as a function of the difference head for.
  • the detection device is designed to detect an image light emitted from the material surface in response to the illumination light.
  • the processor device is designed to convert the image light into a test image, in particular into a digital test image.
  • the invention relates to a method for illuminating a cloth surface, illuminating the cloth surface with a calibration light, detecting a measuring light emitted from the cloth surface in response to the calibration light, which characterizes a spectral reflectance behavior of the cloth surface, detecting a spectral characteristic of the measuring light, and Illuminate the
  • FIG. 1 shows a block diagram of a device for illuminating a fabric surface.
  • FIG. 1 shows a block diagram of a device for illuminating a material surface 103 with an illumination device 101 for illuminating the material surface 103 with a calibration light 105, and with a detection device 107 for detecting one of the material surface 103 in response to the calibration light 105
  • the measuring light can be, for example, light reflected on the cloth surface 103 or light emitted or re-emitted by the cloth surface 103.
  • a processor device 1 1 1 is provided, which is formed, a spectral characteristic, such as a color composition or a
  • the spectral characteristic of the measurement light 109 characterizes in particular the spectral remission behavior of the material surface.
  • the measuring light may, for example, be a reflected light, a re-emitted light or an emitted light.
  • the lighting device 101 is formed, an illumination light 1 to 13
  • the lighting process is thus two stages.
  • the first stage the first stage
  • Illumination device 101 the measurement light 105. After the detection of the spectral characteristic of the measuring light 105, the fabric surface 103 with a
  • Illuminated illumination light 1 13 whose spectrum corresponds to the spectrum of the measuring light within a tolerance, for example 5% or 10%.
  • the illumination light 1 13 is generated in time after the generation of the measurement light 105.
  • the illumination device 101 comprises a plurality of light elements 15, which are provided for emitting the calibration light and / or the illumination light.
  • the light elements 1 15, for example, be light emitting diodes (LED), each light of a different color, such as red, green or yellow, or a send out another wavelength.
  • LED light emitting diodes
  • the optical elements 1 17, for example, a lens be connected downstream of the light elements 1 15, for example, to focus the emitted light.
  • the driver 1 19 is an element of
  • the driver 1 19 is an element of the processor device 1 1 1.
  • the illumination device 101 comprises a sensor 121, which is provided to detect the light generated by the light elements 1 15, optionally after the optics 1 17, as actual light, in particular as actual illumination light, and a corresponding measurement signal of the processor device 1 1 1 for controlling the control of
  • Admit lighting device 101 The illumination device 101 is provided to emit both the calibration light 105 for measuring the system on the fabric surface and the illumination light 1 13 in the direction of the material surface 103 by means of the light elements 1 15, which characterizes the spectral light behavior of the fabric surface. That of the fabric surface 103 in response to the calibration light or
  • Illuminating light emitted or reflected light is through the
  • the detection device 107 comprises an optical sensor 123 which optically detects the light 109 emitted by the material surface 103.
  • An output signal of the optical sensor 123 is supplied to a control unit 125.
  • the control unit 125 is according to one embodiment an element of
  • the controller 125 is an element of the processor device 1 1 1.
  • the control unit 125 includes an interface 127 which may be digital and may be embodied, for example, as an I2C, SPI, USB or similar interface.
  • the interface 127 may include, for example, an analog-to-digital converter. This is advantageous when the optical sensor 123 converts the detected light into an analog measuring signal. If the optical sensor 123 is provided to convert the detected light into a digital signal, the interface 127 may be, for example, an I2C, SPI or a USB interface.
  • the interface 127 is followed by a signal conditioning device 129, which performs, for example, a filtering of an output signal of the interface 127.
  • the filtering can, for example, cause signal smoothing.
  • the signal smoothing may be dependent, for example, on a frequency or wavelength of the detected or measured light.
  • the control unit 125 further comprises an optional calibration device 130, which is provided to receive and calibrate the processed signal data from the signal conditioning device 129.
  • the processed signal data in the color value can be calibrated, for example, according to a color space.
  • the output data of the calibration device 130 may be determined according to a
  • Embodiment of the processor device 1 1 in particular one
  • Control device 131 of the processor device 1 1 are supplied.
  • the output data may be supplied to the calibration device 130 of an optional decision device 133.
  • the decision device 133 may perform edge detection in a digital image to capture, for example, contours of the illuminated object with the material surface.
  • the decision means 133 may determine the spectral characteristic of the light responsive to the calibration light or
  • Illuminating light is emitted from the fabric surface 103 and detected, assign target color values, which can not define the spectral characteristic of the measuring light, but also the spectral characteristics of the illumination light to be used. In this way, the illumination device 101 can be regulated to produce a desired illumination light.
  • the processor device 1 1 1 comprises a control unit 137, for example an LED control unit, which controls the driver 1 19 in accordance with the desired color values of a desired illumination signal to generate a lighting signal.
  • the control unit 137 may be formed, associated with the respective colors
  • control device 131 may be provided to track the lighting elements 1 1 15 at a deviation between the desired illumination signal and an actual illumination signal, so that, for example, a difference between the desired illumination signal and the actual illumination signal, in particular a spectral difference, reduced can be.
  • the processor device 1 1 1 may be configured to receive from the sensor 121 a measurement signal representing the actual illumination signal.
  • the sensor 121 may be an optical sensor which converts visible light into an analog or a digital measurement signal.
  • the processor device 1 1 1 may include an interface 139 for receiving a measurement signal from the sensor 121, which may be digital and embodied, for example, as an I 2 C, SPI, USB or similar interface.
  • the interface 139 may include, for example, an analog-to-digital converter and / or an I2C, SBI or USB interface.
  • the interface 139 is followed by an optional signal conditioning 141, which in the functionality of the
  • Signal processing 129 of the control unit 125 may have.
  • the signal processing 129 can, for example, perform signal smoothing, for example as a function of a frequency of the measured light.
  • the signal conditioning device 141 is followed by an optional calibration device 143, which performs a correction of the processed signal data in color values.
  • the calibration device 143 may have the functionality of
  • the calibration device 143 is
  • control device 131 in particular provided to feed an actual color value of the control device 131, which characterizes the spectral characteristic of the actual illumination signal.
  • the control device 131 is designed, for example, to determine a deviation between the actual color value and the desired color value and to output a control variable for the control unit 137 on this basis in order to drive the driver 1 19 for driving the
  • control unit 137 the interface 139, the signal conditioning device 141, the calibration device 143 and the
  • Control device 131 may be realized by a microcontroller.

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Circuit Arrangement For Electric Light Sources In General (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

Vorrichtung zum Beleuchten einer Stoffoberfläche mit einer Beleuchtungseinrichtung (101) zum Beleuchten der Stoffoberfläche (103) mit einem Kalibrierungslicht (105), einer Erfassungseinrichtung (107) zum Erfassen eines von der Stoffoberfläche (103) ansprechend auf das Kalibrierungslicht (105) ausgesandten Messlichts (109), und einer Prozessoreinrichtung (111) zum Erfassen der spektralen Charakteristik des Messlichts (109), welche ein spektrales Remissionsverhalten der Stoffoberfläche (103) charakterisiert, wobei die Beleuchtungseinrichtung (101) ausgebildet ist, ein Beleuchtungslicht (113) zum Beleuchten der Stoffoberfläche (103) zu erzeugen, das eine spektrale Charakteristik aufweist, welche der spektralen Charakteristik des Messlichts (109) entspricht.

Description

VORRICHTUNG ZUM BELEUCHTEN EINER STOFFOBERFLÄCHE
Die vorliegende Erfindung betrifft das Gebiet der Beleuchtung von Objekten, wie beispielsweise Werkstücken, zur optischen Erkennung von Objekterkennung. In modernen Fertigungsanlagen besteht oft die Notwendigkeit der optischen Erfassung bzw. Erkennung von Objekten, wie beispielsweise Werkstücken, Erzeugnissen und dergleichen. Hierzu werden die Oberflächen von Objekten üblicherweise mit Wei ßlicht beleuchtet, wobei das von einer Objektoberfläche zurückgeworfene Licht optisch erfasst und ggf. weiterverarbeitet wird, um ein Abbild des Objektes zu erhalten. .
Die optische Erfassung bzw. die Analyse des optisch erfassten Abbildes des Objektes kann jedoch durch Störlicht, beispielsweise durch Umgebungslicht wie Hallenbeleuchtung oder durch Streulicht, gestört werden. Aus diesem Grund besteht die Notwendigkeit, den Einfluss von Störlicht bei der optischen Erfassung von Objekten insbesondere in Fertigungsanlagen zu reduzieren.
Hierzu kann zwar die Intensität der Objektbeleuchtung erhöht werden. Dies kann jedoch zur Erzeugung eines weiteren Störlichts führen, das beispielsweise benachbarte optische Erfassungen stören kann. Eine andere Möglichkeit der Reduktion des Einflusses des Störlichtes besteht darin, das Störlicht optisch zu erfassen und die Intensität der Objektbeleuchtung im spektralen Bereich des Störlichts zu reduzieren, um eine homogene Objektausleuchtung zu erhalten. Dies ist jedoch insbesondere dann problematisch, wenn der spektrale Intensitätsverlauf des Störlichts zeitlichen Schwankungen unterliegt, was beispielsweise bei künstlicher Beleuchtung oder zu unterschiedlichen Tageszeiten der Fall ist.
Es ist daher die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein effizientes Konzept zur Beleuchtung von Stoffoberflächen zu schaffen, bei dem der Einfluss von Störlicht reduziert werden kann. Diese Aufgabe wird durch die Merkmale der unabhängigen Ansprüche gelöst. Vorteilhafte Weiterbildungsformen sind Gegenstand der Beschreibung, der Zeichnungen sowie der abhängigen Ansprüche.
Die vorliegende Erfindung basiert auf der Erkenntnis, dass die obige Aufgabe durch eine Anpassung eines Beleuchtungslichts, das zur Beleuchtung einer Stoffoberfläche, beispielsweise einer Oberfläche eines Werkstückes, herangezogen werden soll, gelöst werden kann.
Hierzu wird die Stoffoberfläche zumindest zweimal beleuchtet, wobei in einem ersten Beleuchtungsvorgang das spektrale Remissionsverhalten der Stoffoberfläche erfasst wird. Das spektrale Remissionsverhalten der Stoffoberfläche, welches durch ein von der Stoffoberfläche kommendes Messlicht charakterisiert wird, wird benutzt, um das Beleuchtungslicht, bzw. dessen spektrale Charakteristik, insbesondere Farbtemperatur, an das Messlicht anzupassen.
Auf diese Weise wird das Spektrum bzw. die Farbzusammensetzung des zur Beleuchtung der Stoffoberfläche zu verwendenden Beleuchtungslichtes an die optischen Eigenschaften der Stoffoberfläche angepasst. Zeichnet sich die Stoffoberfläche beispielsweise durch eine stärkere Intensität des reflektierten Lichts in einem ersten Spektralbereich als in einem zweiten Spektralbereich aus, so kann die Intensität des Beleuchtungslichts in dem ersten Spektralbereich höher sein als die Intensität des Beleuchtungslichts in dem zweiten Spektralbereich. Auf diese Weise wird die Stoffoberfläche spektral dort mit stärkerer Intensität beleuchtet, wo eine stärkere Antwortintensität zu erwarten ist. Absorbiert die Stoffoberfläche hingegen Licht einer bestimmten Wellenlänge, so kann beispielsweise auf die Beleuchtung der Stoffoberfläche bei dieser Wellenlänge verzichtet werden. Dies führt auch zu einer energieeffizienten Beleuchtung von Stoffoberflächen.
Gemäß einem Aspekt betrifft die Erfindung eine Vorrichtung zum Beleuchten einer Stoffoberfläche mit einer Beleuchtungseinrichtung zum Beleuchten der Stoffoberfläche mit einem Kalibrierungslicht, einer Erfassungseinrichtung zum Erfassen eines von der Stoffoberfläche ansprechend auf das Kalibrierungslicht ausgesandten Messlichts, und einer Prozessoreinrichtung zum Erfassen der spektralen Charakteristik des Messlichts, welche ein spektrales Remissionsverhalten der Stoffoberfläche charakterisiert; wobei die Beleuchtungseinrichtung ausgebildet ist, ein Beleuchtungslicht zum Beleuchten der Stoffoberfläche zu erzeugen, das eine spektrale Charakteristik aufweist, welche der spektralen Charakteristik des Messlichts entspricht. Gemäß einer Ausführungsform ist das Messlicht ein an der Stoffoberfläche ansprechend auf das Kalibrierungslicht reflektiertes Licht, oder ein von der Stoffoberfläche ansprechend auf das Kalibrierungslicht re-emittiertes Licht, oder ein von der Stoffoberfläche
ansprechend auf das Kalibrierungslicht emittiertes Licht. Gemäß einer Ausführungsform ist die spektrale Charakteristik des Messlichts ein
Farbspektrum des Messlichts gemäß einem Farbraum, ein Wellenlängenspektrum des Messlichts, oder ein Frequenzspektrum des Messlichts.
Gemäß einer Ausführungsform ist die Beleuchtungseinrichtung ausgebildet, das
Beleuchtungslicht mit einer spektralen Charakteristik zu erzeugen, welche der spektralen Charakteristik des Messlichts innerhalb eines Toleranzbereichs, beispielsweise 1 %, 5% oder 10%, entspricht, insbesondere gleicht.
Gemäß einer Ausführungsform ist die Prozessoreinrichtung ausgebildet, eine Angabe über spektrale Charakteristik des Messlichts an die Beleuchtungseinrichtung zu übermitteln. Dadurch kann die Beleuchtungseinrichtung beispielsweise gesteuert werden, um das gewünschte Beleuchtungslicht zu erzeugen.
Gemäß einer Ausführungsform ist die Prozessoreinrichtung ausgebildet, die
Beleuchtungseinrichtung zum Einstellen der spektralen Charakteristik des
Beleuchtungslichts in Abhängigkeit von der spektralen Charakteristik, insbesondere gemäß der spektralen Charakteristik des Messlichts, anzusteuern.
Gemäß einer Ausführungsform weist die Beleuchtungseinrichtung eine Mehrzahl von Lichtelementen zum Aussenden von Licht unterschiedlicher Wellenlängen bzw.
unterschiedlicher Farben auf. Gemäß einer Ausführungsform ist die Beleuchtungseinrichtung ausgebildet, zumindest ein Lichtelement der Mehrzahl der Lichtelemente, insbesondere jedes Lichtelement der Mehrzahl der Lichtelemente, zum Aussenden von Licht einer vorbestimmten Intensität anzusteuern, um die spektrale Charakteristik des Beleuchtungslichts einzustellen. Gemäß einer Ausführungsform ist die Prozessoreinrichtung ausgebildet, eine
Charakteristik der Stoffoberfläche auf der Basis des Messlichts zu erfassen.
Gemäß einer Ausführungsform umfasst die Erfassungseinrichtung einen optischen Sensor zum Erfassen des Messlichts.
Gemäß einer Ausführungsform umfasst die Beleuchtungseinrichtung einen optischen Sensor zum Erfassen eines Ist-Beleuchtungslichts, wobei die Prozessoreinrichtung ausgebildet ist, einen Unterschied zwischen einer spektralen Charakteristik des Ist- Beleuchtungslichts und einer spektralen Charakteristik eines Soll-Beleuchtungslichts zu erfassen und die Beleuchtungseinrichtung in Abhängigkeit von dem Unterschied anzusteuern. Dadurch kann das Beleuchtungslicht regelnd nachgeführt werden.
Gemäß einer Ausführungsform ist die Erfassungseinrichtung ausgebildet, ein von der Stoffoberfläche ansprechend auf das Beleuchtungslicht ausgesandtes Abbildlicht zu erfassen.
Gemäß einer Ausführungsform ist die Prozessoreinrichtung ausgebildet, das Abbildlicht in ein Prüfbild, insbesondere in ein digitales Prüfbild, zu überführen. Gemäß einem weiteren Aspekt betrifft die Erfindung ein Verfahren zum Beleuchten einer Stoffoberfläche, mit Beleuchten der Stoffoberfläche mit einem Kalibrierungslicht, Erfassen eines von der Stoffoberfläche ansprechend auf das Kalibrierungslicht ausgesandten Messlichts, welche ein spektrales Remissionsverhalten der Stoffoberfläche charakterisiert, Erfassen einer spektralen Charakteristik des Messlichts, und Beleuchten der
Stoffoberfläche mit einem Beleuchtungslicht, das eine spektrale Charakteristik aufweist, welche der spektralen Charakteristik des Messlichts entspricht. Weitere Ausführungsformen werden Bezug nehmend auf die Fig. 1 beschrieben, welche ein Blockschaltbild einer Vorrichtung zum Beleuchten einer Stoffoberfläche zeigt.
Fig. 1 zeigt ein Blockschaltbild einer Vorrichtung zum Beleuchten einer Stoffoberfläche 103 mit einer Beleuchtungseinrichtung 101 zum Beleuchten der Stoffoberfläche 103 mit einem Kalibrierungslicht 105, und mit einer Erfassungseinrichtung 107 zum Erfassen eines von der Stoffoberfläche 103 ansprechend auf das Kalibrierungslicht 105
ausgesandtes Messlicht 109. Das Messlicht kann beispielsweise an der Stoffoberfläche 103 reflektiertes Licht oder durch die Stoffoberfläche 103 emittiertes oder re-emittiertes Licht sein.
Ferner ist eine Prozessoreinrichtung 1 1 1 vorgesehen, welche ausgebildet ist, eine spektrale Charakteristik, beispielsweise eine Farbzusammensetzung oder einen
Wellenlängenverlauf, des Messlichts 109 zu erfassen. Die spektrale Charakteristik des Messlichts 109 charakterisiert insbesondere das spektrale Remissionsverhalten der Stoffoberfläche. Das Messlicht kann beispielsweise ein reflektiertes Licht, ein reemittiertes Licht oder ein emittiertes Licht sein.
Die Beleuchtungseinrichtung 101 ist ausgebildet, ein Beleuchtungslicht 1 13 zum
Beleuchten der Stoffoberfläche zu erzeugen, das eine spektrale Charakteristik aufweist, welche der spektralen Charakteristik des Messlichts entspricht.
Der Beleuchtungsvorgang ist somit zweistufig. In der ersten Stufe erzeugt die
Beleuchtungseinrichtung 101 das Messlicht 105. Nach der Erfassung der spektralen Charakteristik des Messlichts 105 wird die Stoffoberfläche 103 mit einem
Beleuchtungslicht 1 13 beleuchtet, dessen Spektrum dem Spektrum des Messlichts innerhalb einer Toleranz, beispielsweise 5% oder 10%, entspricht. Zuerst wird daher das Messlicht 105 erzeugt. Das Beleuchtungslicht 1 13 wird zeitlich nach der Erzeugung des Messlichts 105 erzeugt. Die Beleuchtungseinrichtung 101 umfasst eine Mehrzahl von Lichtelementen 1 15, welche zum Aussenden des Kalibrierungslichts und/oder des Beleuchtungslichts vorgesehen sind. Die Lichtelemente 1 15 können beispielsweise Licht emittierende Dioden (LED) sein, welche jeweils Licht einer anderen Farbe, beispielweise Rot, Grün oder Gelb, bzw. einer anderen Wellenlänge aussenden. Durch eine Ansteuerung der einzelnen Lichtelemente 1 15 kann eine vorgegebene Farbzusammensetzung bzw. Spektralcharakteristik des Beleuchtungslichts erzeugt werden.
Optional kann den Lichtelementen 1 15 eine Optik 1 17, beispielsweise eine Linse, nachgeschaltet sein, um beispielsweise das ausgestrahlte Licht zu fokussieren.
Zum Treiben der Lichtelemente 1 15 ist ein Treiber 1 19, beispielsweise ein LED-Treiber, vorgesehen, welcher den Lichtelementen 1 15 vorgeschaltet ist. Gemäß einer Ausführungsform ist der Treiber 1 19 ein Element der
Beleuchtungseinrichtung 101 . Gemäß einer anderen Ausführungsform ist der Treiber 1 19 ein Element der Prozessoreinrichtung 1 1 1 .
Die Beleuchtungseinrichtung 101 umfasst einen Sensor 121 , welcher vorgesehen ist, das durch die Leuchtelemente 1 15 erzeugte Licht, gegebenenfalls nach der Optik 1 17, als Ist- Licht, insbesondere als Ist-Beleuchtungslicht, zu erfassen und ein entsprechendes Messsignal der Prozessoreinrichtung 1 1 1 zur Regelung der Steuerung der
Beleuchtungseinrichtung 101 zuzuleiten. Die Beleuchtungseinrichtung 101 ist vorgesehen, mittels der Leuchtelemente 1 15 sowohl das Kalibrierungslicht 105 zur Einmessung des Systems auf die Stoffoberfläche als auch das Beleuchtungslicht 1 13 in Richtung der Stoffoberfläche 103 auszusenden, welche das spektrale Lichtverhalten der Stoffoberfläche charakterisiert. Das von der Stoffoberfläche 103 ansprechend auf das Kalibrierungslicht oder
Beleuchtungslicht ausgesandte bzw. zurückgeworfene Licht wird durch die
Erfassungseinrichtung 107 erfasst. Hierzu umfasst die Erfassungseinrichtung 107 einen optischen Sensor 123, welcher das von der Stoffoberfläche 103 abgegebene Licht 109 optisch erfasst. Ein Ausgangssignal des optischen Sensors 123 wird einer Steuereinheit 125 zugeführt. Die Steuereinheit 125 ist gemäß einer Ausführungsform ein Element der
Erfassungseinrichtung 107. Gemäß einer anderen Ausführungsform ist die Steuereinheit 125 ein Element der Prozessoreinrichtung 1 1 1 .
Die Steuereinheit 125 umfasst eine Schnittstelle 127, welche digital sein kann und beispielsweise als eine I2C, SPI, USB oder als eine ähnliche Schnittstelle ausgeführt sein kann.
Die Schnittstelle 127 kann beispielsweise einen Analog-Digitalwandler umfassen kann. Dies ist dann vorteilhaft, wenn der optische Sensor 123 das erfasste Licht in ein analoges Messsignal umsetzt. Ist der optische Sensor 123 vorgesehen, das erfasste Licht in ein digitales Signal umzuwandeln, so kann die Schnittstelle 127 beispielsweise eine I2C-, SPI- oder eine USB-Schnittstelle sein.
Der Schnittstelle 127 ist eine Signalaufbereitungseinrichtung 129 nachgeordnet, welche beispielsweise eine Filterung eines Ausgangssignals der Schnittstelle 127 vornimmt. Die Filterung kann beispielsweise eine Signalglättung bewirken. Die Signalglättung kann beispielsweise von einer Frequenz oder Wellenlänge des erfassten bzw. gemessenen Lichts abhängig sein. Die Steuereinheit 125 umfasst ferner eine optionale Kalibrierungseinrichtung 130, welche vorgesehen ist, die aufbereiteten Signaldaten von der Signalaufbereitungseinrichtung 129 zu empfangen und zu kalibrieren. Hierbei können die aufbereiteten Signaldaten im Farbwert beispielsweise gemäß einem Farbraum kalibriert werden. Die Ausgangsdaten der Kalibrierungseinrichtung 130 können gemäß einer
Ausführungsform der Prozessoreinrichtung 1 1 1 , insbesondere einer
Regelungseinrichtung 131 der Prozessoreinrichtung 1 1 1 , zugeführt werden.
Gemäß einer Ausführungsform können die Ausgangsdaten der Kalibrierungseinrichtung 130 einer optionalen Entscheidungseinrichtung 133 zugeführt werden. Gemäß einer Ausführungsform kann die Entscheidungseinrichtung 133 beispielsweise eine Kantenerkennung in einem digitalen Bild durchführen, um beispielsweise Konturen des beleuchteten Objektes mit der Stoffoberfläche zu erfassen.
Gemäß einer Ausführungsform kann die Entscheidungseinrichtung 133 die spektrale Charakteristik des Lichts, das ansprechend auf das Kalibrierungslicht oder
Beleuchtungslicht von der Stoffoberfläche 103 ausgesandt und erfasst wird, Soll- Farbwerten zuordnen, welche nicht die spektrale Charakteristik des Messlichts, sondern auch die spektrale Charakteristik des zu verwendenden Beleuchtungslichts definieren können. Auf diese Weise kann die Beleuchtungseinrichtung 101 zur Erzeugung eines gewünschten Beleuchtungslichts geregelt werden.
Hierzu umfasst die Prozessoreinrichtung 1 1 1 eine Steuereinheit 137, beispielsweise eine LED-Steuereinheit, welche den Treiber 1 19 gemäß den Soll-Farbwerten eines Soll- Beleuchtungssignals, zum Erzeugen eines Beleuchtungssignals ansteuern. Hierzu kann die Steuereinheit 137 ausgebildet sein, den jeweiligen Farben zugeordnete
Leuchtelemente 1 1 15 beispielsweise einzeln anzusteuern, um die spektrale Charakteristik des Beleuchtungslichts gemäß der spektralen Charakteristik des Messlichts bzw. der Soll- Farbwerte zu erhalten. Optional kann die Regelungseinrichtung 131 vorgesehen sein, die Leuchtelemente 1 1 15 bei einer Abweichung zwischen dem Soll- Beleuchtungssignal und einem Ist- Beleuchtungssignal nachzuführen, so dass beispielsweise ein Unterschied zwischen dem Soll-Beleuchtungssignal und dem Ist-Beleuchtungssignal, insbesondere ein spektraler Unterschied, reduziert werden kann.
Hierzu kann die Prozessoreinrichtung 1 1 1 ausgebildet sein, von dem Sensor 121 ein Messsignal zu erhalten, das das Ist-Beleuchtungssignal repräsentiert. Der Sensor 121 kann ein optischer Sensor sein, welcher sichtbares Licht in ein analoges bzw. in ein digitales Messsignal umwandelt. Die Prozessoreinrichtung 1 1 1 kann eine Schnittstelle 139 zum Empfangen eines Messsignals von dem Sensor 121 umfassen, welche digital sein kann und beispielsweise als eine I2C, SPI, USB oder als eine ähnliche Schnittstelle ausgeführt sein kann. Die Schnittstelle 139 kann beispielsweise einen Analog-Digitalwandler umfassen und/oder eine I2C-, SBI oder USB-Schnittstelle sein. Der Schnittstelle 139 ist eine optionale Signalaufbereitung 141 nachgeschaltet, welche in der Funktionalität der
Signalaufbereitung 129 der Steuereinheit 125 aufweisen kann. Die Signalaufbereitung 129 kann beispielsweise eine Signalglättung, beispielsweise in Abhängigkeit von einer Frequenz des gemessenen Lichts, durchführen.
Der Signalaufbereitungseinrichtung 141 ist eine optionale Kalibrierungseinrichtung 143 nachgeschaltet, welche eine Korrektur der aufbereiteten Signaldaten in Farbwerte vornimmt. Die Kalibrierungseinrichtung 143 kann die Funktionalität der
Kalibrierungseinrichtung 130 aufweisen. Die Kalibrierungseinrichtung 143 ist
insbesondere vorgesehen, einen Ist-Farbwert der Regelungseinrichtung 131 zuzuleiten, welcher die spektrale Charakteristik des Ist-Beleuchtungssignals charakterisiert. Die Regelungseinrichtung 131 ist beispielsweise ausgebildet, eine Abweichung zwischen dem Ist-Farbwert und dem Soll-Farbwert zu bestimmen und auf dieser Basis eine Stellgröße für die Steuereinheit 137 auszugeben, um den Treiber 1 19 zum Antreiben der
Leuchtelemente 1 15 anzusteuern.
Gemäß einer Ausführungsform können die Steuereinheit 137, die Schnittstelle 139, die Signalaufbereitungseinrichtung 141 , die Kalibrierungseinrichtung 143 sowie die
Regelungseinrichtung 131 durch einen MikroController realisiert sein.
Bezugszeichenliste
101 Beleuchtungseinrichtung
103 Stoffoberfläche
105 Kalibrierungslicht
107 Erfassungseinrichtung
109 Messlicht
1 1 1 Prozessoreinrichtung
1 13 Beleuchtungslicht
1 15 Lichtelement
1 17 Optik
1 19 Treiber
121 optischer Sensor
123 optischer Sensor
125 Steuereinheit
127 Schnittstelle
129 Signalaufbereitungseinrichtung
130 Kalibrierungseinrichtung
131 Regelungseinrichtung
133 Entscheidungseinrichtung
135 Anzeige
137 Steuereinheit
139 Schnittstelle
1 1 15 Leuchtelement
141 Signalaufbereitung
143 Kalibrierungseinrichtung

Claims

PATENTANSPRÜCHE
1 . Vorrichtung zum Beleuchten einer Stoffoberfläche mit: einer Beleuchtungseinrichtung (101 ) zum Beleuchten der Stoffoberfläche (103) mit einem Kalibrierungslicht (105); einer Erfassungseinrichtung (107) zum Erfassen eines von der Stoffoberfläche (103) ansprechend auf das Kalibrierungslicht (105) ausgesandten Messlichts (109); und einer Prozessoreinrichtung (1 1 1 ) zum Erfassen der spektralen Charakteristik des Messlichts (109), welche ein spektrales Remissionsverhalten der Stoffoberfläche (103) charakterisiert; wobei die Beleuchtungseinrichtung (101 ) ausgebildet ist, ein Beleuchtungslicht (1 13) zum Beleuchten der Stoffoberfläche (103) zu erzeugen, das eine spektrale Charakteristik aufweist, welche der spektralen Charakteristik des Messlichts (109) entspricht.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1 , wobei das Messlicht (109) ein an der Stoffoberfläche (103) ansprechend auf das Kalibrierungslicht (105) reflektiertes Licht, oder ein von der Stoffoberfläche (103) ansprechend auf das Kalibrierungslicht (105) re- emittiertes Licht, oder ein von der Stoffoberfläche (103) ansprechend auf das Kalibrierungslicht (105) emittiertes Licht ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, wobei die spektrale Charakteristik des Messlichts (109) ein Farbspektrum des Messlichts (109) gemäß einem Farbraum, ein Wellenlängenspektrum des Messlichts (109), oder ein Frequenzspektrum des Messlichts (109) ist.
4. Vorrichtung nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die
Beleuchtungseinrichtung (101 ) ausgebildet ist, das Beleuchtungslicht (1 13) mit einer spektralen Charakteristik zu erzeugen, welche der spektralen Charakteristik des
Messlichts (109) innerhalb eines Toleranzbereichs entspricht, insbesondere gleicht.
5. Vorrichtung nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die
Prozessoreinrichtung (1 1 1 ) ausgebildet ist, eine Angabe über spektrale Charakteristik des Messlichts (109) an die Beleuchtungseinrichtung (101 ) zu übermitteln.
6. Vorrichtung nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die
Prozessoreinrichtung (1 1 1 ) ausgebildet ist, die Beleuchtungseinrichtung (101 ) zum Einstellen der spektralen Charakteristik des Beleuchtungslichts (1 13) in Abhängigkeit von der spektralen Charakteristik, insbesondere gemäß der der spektralen Charakteristik, des Messlichts (109) anzusteuern.
7. Vorrichtung nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die
Beleuchtungseinrichtung (101 ) eine Mehrzahl von Lichtelementen (1 15) zum Aussenden von Licht, insbesondere Kalibrierungslicht oder Beleuchtungslicht, unterschiedlicher Wellenlängen aufweist.
8. Vorrichtung nach Anspruch 7, wobei die Lichtelemente (1 15) Licht emittierende Dioden sind.
9. Vorrichtung nach Anspruch 7 oder 8, wobei die Beleuchtungseinrichtung (101 ) ausgebildet ist, zumindest ein Lichtelement (1 15) der Mehrzahl der Lichtelemente, insbesondere jedes Lichtelement der Mehrzahl der Lichtelemente, zum Aussenden von Licht einer vorbestimmten Intensität anzusteuern, um die spektrale Charakteristik des Beleuchtungslichts einzustellen.
10. Vorrichtung nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die
Prozessoreinrichtung (1 1 1 ) ausgebildet ist, eine Charakteristik der Stoffoberfläche (103) auf der Basis des Messlichts (109) zu erfassen.
1 1 . Vorrichtung nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die
Erfassungseinrichtung (107) einen optischen Sensor (123) zum Erfassen des Messlichts (109) umfasst.
12. Vorrichtung nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die
Beleuchtungseinrichtung (101 ) einen optischen Sensor (121 ) zum Erfassen eines Ist- Beleuchtungslichts umfasst, wobei die Prozessoreinrichtung (1 1 1 ) ausgebildet ist, einen Unterschied zwischen einer spektralen Charakteristik des Ist-Beleuchtungslichts und einer spektralen Charakteristik eines Soll-Beleuchtungslichts zu erfassen und die
Beleuchtungseinrichtung (101 ) in Abhängigkeit von dem Unterschied anzusteuern.
13. Vorrichtung nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die
Erfassungseinrichtung (107) ausgebildet ist, ein von der Stoffoberfläche (103)
ansprechend auf das Beleuchtungslicht ausgesandtes Abbildlicht zu erfassen.
14. Vorrichtung nach Anspruch 13, wobei die Prozessoreinrichtung (1 1 1 ) ausgebildet ist, das Abbildlicht in ein Prüfbild, insbesondere in ein digitales Prüfbild, zu überführen.
15. Verfahren zum Beleuchten einer Stoffoberfläche (103), mit:
Beleuchten der Stoffoberfläche (103) mit einem Kalibrierungslicht (105); Erfassen eines von der Stoffoberfläche (103) ansprechend auf das Kalibrierungslicht (105) ausgesandten Messlichts (109), welche ein spektrales Remissionsverhalten der Stoffoberfläche (103) charakterisiert; Erfassen einer spektralen Charakteristik des Messlichts (109); und
Beleuchten der Stoffoberfläche (103) mit einem Beleuchtungslicht (1 13), das eine spektrale Charakteristik aufweist, welche der spektralen Charakteristik des Messlichts (109) entspricht.
EP13782692.1A 2012-10-31 2013-10-23 Vorrichtung zum beleuchten einer stoffoberfläche Withdrawn EP2914955A1 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102012110429.8A DE102012110429B4 (de) 2012-10-31 2012-10-31 Vorrichtung und Verfahren zum Beleuchten einer Stoffoberfläche
PCT/EP2013/072111 WO2014067819A1 (de) 2012-10-31 2013-10-23 Vorrichtung zum beleuchten einer stoffoberfläche

Publications (1)

Publication Number Publication Date
EP2914955A1 true EP2914955A1 (de) 2015-09-09

Family

ID=49485717

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
EP13782692.1A Withdrawn EP2914955A1 (de) 2012-10-31 2013-10-23 Vorrichtung zum beleuchten einer stoffoberfläche

Country Status (8)

Country Link
US (1) US10473523B2 (de)
EP (1) EP2914955A1 (de)
JP (1) JP6033968B2 (de)
KR (1) KR101692653B1 (de)
CN (1) CN104769421B (de)
DE (1) DE102012110429B4 (de)
RU (1) RU2015110477A (de)
WO (1) WO2014067819A1 (de)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102015115474A1 (de) * 2015-09-14 2017-03-16 Deutsche Telekom Ag Verfahren zum Kalibrieren einer lichtintransparenten Anzeige
KR102599809B1 (ko) * 2023-05-17 2023-11-10 (주)동아엘텍 외관 검사 시스템에서의 디스플레이를 이용한 패턴 조명 시스템

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20080093539A1 (en) * 2005-01-31 2008-04-24 Chemimage Corporation Apparatus and method for chemical imaging of a biological sample

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05332939A (ja) * 1992-06-01 1993-12-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd 視覚認識装置
JPH06174448A (ja) * 1992-12-09 1994-06-24 Seiko Epson Corp 液晶パネルの位置決め装置及びパターン検査装置
JPH08219716A (ja) * 1994-12-13 1996-08-30 Toshiba Corp 入力画像コントラスト処理装置およびこれを用いた装置
US6501542B2 (en) * 1998-06-30 2002-12-31 Lj Laboratories, Llc Apparatus and method for measuring optical characteristics of an object
JPH11237344A (ja) * 1998-02-19 1999-08-31 Hitachi Ltd 欠陥検査方法およびその装置
JP4270604B2 (ja) * 1998-07-14 2009-06-03 オリンパス株式会社 画像入力装置
US7151609B2 (en) * 2000-07-06 2006-12-19 Filmetrics, Inc. Determining wafer orientation in spectral imaging
JP2005515473A (ja) * 2002-01-18 2005-05-26 ニユートン・ラボラトリーズ・インコーポレーテツド 分光診断方法とシステム
DE10241472B4 (de) * 2002-09-04 2019-04-11 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren und Anordnung zur einstellbaren Veränderung von Beleuchtungslicht und/oder Probenlicht bezüglich seiner spektralen Zusammensetzung und/oder Intensität
US7151597B2 (en) * 2003-12-05 2006-12-19 Agilent Technologie, Inc Optical wavelength standard and optical wavelength calibration system and method
KR101239546B1 (ko) * 2003-12-26 2013-03-06 가부시키가이샤 니콘 결함 검사 장치 및 결함 검사 방법
US20060000963A1 (en) * 2004-06-30 2006-01-05 Ng Kee Y Light source calibration
US7060955B1 (en) * 2005-01-31 2006-06-13 Chemimage Corporation Apparatus and method for defining illumination parameters of a sample
EP1880658B9 (de) * 2005-05-11 2013-04-17 Olympus Medical Systems Corp. Signalaufbereitungsvorrichtung für ein biologisches beobachtungsgerät
US7433034B1 (en) * 2005-06-17 2008-10-07 Nanometrics Incorporated Darkfield defect inspection with spectral contents
WO2007020554A1 (en) * 2005-08-15 2007-02-22 Koninklijke Philips Electronics, N.V. Dual beam set-up for scatterometer
EP1979726B1 (de) 2006-01-19 2013-11-06 Philips Intellectual Property & Standards GmbH Farbgesteuerte beleuchtungsvorrichtung
US8193500B2 (en) * 2008-04-01 2012-06-05 National University Corporation Toyohashi University Of Technology Discrimination filtering device, discrimination method of object, and designing method of filters for discrimination filtering device
WO2009132360A2 (en) * 2008-04-25 2009-10-29 Duke University Systems and methods for performing optical spectroscopy using a self-calibrating fiber optic probe
JP5332939B2 (ja) 2009-06-23 2013-11-06 岩崎電気株式会社 セラミックメタルハライドランプ
US9091637B2 (en) * 2009-12-04 2015-07-28 Duke University Smart fiber optic sensors systems and methods for quantitative optical spectroscopy
JP2011174764A (ja) * 2010-02-23 2011-09-08 Nikon Corp 検査方法および検査装置
JP5060580B2 (ja) * 2010-04-09 2012-10-31 トヨタ自動車株式会社 スペクトル測定装置
US9618449B2 (en) * 2012-02-03 2017-04-11 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Optical analysis of emissions from stimulated liquids
US9274047B2 (en) * 2013-05-24 2016-03-01 Massachusetts Institute Of Technology Methods and apparatus for imaging of occluded objects
US10203246B2 (en) * 2015-11-20 2019-02-12 Verifood, Ltd. Systems and methods for calibration of a handheld spectrometer

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20080093539A1 (en) * 2005-01-31 2008-04-24 Chemimage Corporation Apparatus and method for chemical imaging of a biological sample

Also Published As

Publication number Publication date
DE102012110429B4 (de) 2014-07-10
US10473523B2 (en) 2019-11-12
US20150285681A1 (en) 2015-10-08
KR20150074026A (ko) 2015-07-01
JP2015536455A (ja) 2015-12-21
WO2014067819A1 (de) 2014-05-08
JP6033968B2 (ja) 2016-11-30
KR101692653B1 (ko) 2017-01-03
RU2015110477A (ru) 2016-12-20
CN104769421A (zh) 2015-07-08
DE102012110429A1 (de) 2014-04-30
CN104769421B (zh) 2018-06-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1775565B1 (de) Verfahren zur Farbmessung von gedruckten Proben mit Aufhellern
DE19617009C2 (de) Photoelektrische Meßeinrichtung
EP2270451B1 (de) Farbmessgerät
DE69907468T2 (de) System zur farbklassifizierung von fasern
DE102008049908A1 (de) Verfahren zur Erzeugung eines Detektionssignals und Erfassungseinrichtung
EP2914955A1 (de) Vorrichtung zum beleuchten einer stoffoberfläche
DE102008055949B4 (de) Optische Erfassungseinheit für Objekte
EP3078950B1 (de) Farbmessverfahren und farbmessgerät
EP3479655B1 (de) Messanordnung zur erfassung von alterungsprozessen einzelner leuchtdioden
DE3244286A1 (de) Elektro-optische vorrichtung zum erkennen von farben
EP3244699B1 (de) Leuchtmittel mit regelbarer bestrahlungsstärke
EP0788599A1 (de) Automatische fehlererkennungsanlage für rissprüfung
DE102005031104A1 (de) Automatisches Mikroskop und Verfahren zur farbgetreuen Bildwiedergabe bei automatischen Mikroskopen
DE10152851A1 (de) Bildverarbeitungssystem
DE102018202949A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Betreiben eines Spektrometers und Spektrometer
DE102020104959A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur automatisierten Detektion einer Beeinträchtigung einer Lichtabstrahlung bei einer Beleuchtungsvorrichtung für ein Fahrzeug
DE102014208206A1 (de) Verfahren zum Steuern, Parametrisieren oder Kalibrieren einer zur Beleuchtungssteuerung genutzten Sensoreinheit
DE10106284B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung der Farbabmusterung
DE102013106554A1 (de) Kontaktlos arbeitende Dentalvorrichtung
EP3279875A1 (de) Verschmutzungsdetektor, münzsortiermaschine und verfahren zur verschmutzungserkennung von münzen
WO2018033251A2 (de) Tageslicht-handleuchte zur prüfung von lackierten oberflächen, insbesondere im rahmen von lackreparaturarbeiten an kraftfahrzeugen
WO2017182479A1 (de) Vorrichtung und verfahren zum überwachen von farblichen sicherheitsmerkmalen
DE102018120006A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Überwachung eines Spektralradiometers
DE102022115138A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Detektion von Verschmutzungen auf einem Förderband
DE102018121534A1 (de) Optisches Messsystem und Verfahren umfassend ein solches

Legal Events

Date Code Title Description
PUAI Public reference made under article 153(3) epc to a published international application that has entered the european phase

Free format text: ORIGINAL CODE: 0009012

17P Request for examination filed

Effective date: 20150325

AK Designated contracting states

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR

AX Request for extension of the european patent

Extension state: BA ME

DAX Request for extension of the european patent (deleted)
STAA Information on the status of an ep patent application or granted ep patent

Free format text: STATUS: EXAMINATION IS IN PROGRESS

17Q First examination report despatched

Effective date: 20180131

STAA Information on the status of an ep patent application or granted ep patent

Free format text: STATUS: EXAMINATION IS IN PROGRESS

STAA Information on the status of an ep patent application or granted ep patent

Free format text: STATUS: THE APPLICATION IS DEEMED TO BE WITHDRAWN

18D Application deemed to be withdrawn

Effective date: 20210501