JP2015531191A - 被試験デバイス(dut)によって送信された無線周波数(rf)データ信号、及び試験システムによって受信された無線周波数(rf)データ信号を比較することを容易にするためのシステム及び方法 - Google Patents
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Abstract
Description
DUTへの少なくとも1つのRF送信データ信号、及びDUTからの少なくとも1つのRF受信データ信号を経路指定するための信号経路指定回路と、
前記信号経路指定回路に連結され、前記少なくとも1つのRF送信データ信号及び複数のシステムデータの一部分を提供することにより、複数の制御信号及び複数の送信データの一部に応答する、データ信号源回路と、
前記信号経路指定回路に連結され、前記少なくとも1つのRF送信データ信号を処理することにより、及び複数の信号分析データ及び複数のシステムデータの別の部分を提供することにより、前記複数の制御信号の別の部分に応答する、データ信号分析回路と、
前記信号経路指定回路に連結され、関連する複数の受信変換データを提供することにより、前記少なくとも1つのRF受信データ信号に応答する、信号変換回路と、
前記データ信号源回路と前記データ信号分析回路とに連結され、かつ複数の状態機械データを提供することにより、複数のシステムデータに応答する、状態機械と、を含む。
DUTへの少なくとも1つのRF送信データ信号、及びDUTからの少なくとも1つのRF受信データ信号を経路指定するための工程と、
複数の制御信号及び複数の送信データの一部分を受信し、これらに応答して、前記少なくとも1つのRF送信データ信号及び複数のシステムデータの一部分を提供する工程と、
前記複数の制御信号の別の部分を受信して、これに応答して、前記少なくとも1つのRF受信データ信号を処理し、複数の信号分析データ及び複数のシステムデータの別の部分を提供する工程と、
関連する複数の受信変換データを提供するために、前記少なくとも1つのRF受信データ信号を変換する工程と、
複数の状態機械データを提供するために、前記複数のシステムデータを状態機械によって処理する工程と、を含む。
Claims (20)
- 被試験デバイス(DUT)によって送信され、試験システムによって受信された無線周波数(RF)データ信号の比較を容易にするための前記試験システムを含む装置であって、
DUTへの少なくとも1つのRF送信データ信号、及びDUTからの少なくとも1つのRF受信データ信号を経路指定するための信号経路指定回路と、
前記信号経路指定回路に連結され、前記少なくとも1つのRF送信データ信号及び複数のシステムデータの一部分を提供することにより、複数の制御信号及び複数の送信データの一部に応答する、データ信号源回路と、
前記信号経路指定回路に連結され、前記少なくとも1つのRF送信データ信号を処理することにより、及び複数の信号分析データ及び前記複数のシステムデータの別の部分を提供することにより、前記複数の制御信号の別の部分に応答する、データ信号分析回路と、
前記信号経路指定回路に連結され、関連する複数の受信変換データを提供することにより、少なくとも1つのRF受信データ信号に応答する、信号変換回路と、
前記データ信号源回路と前記データ信号分析回路とに連結され、複数の状態機械データを提供することにより、前記複数のシステムデータに応答する、状態機械と、を含む、装置。 - 前記信号経路指定回路は、信号多重化回路、信号分割回路、スイッチング回路及び電力分配回路のうちの少なくとも1つを含む、請求項1に記載の装置。
- 前記データ信号源回路は、ベクトル信号発生器(VSG)を含む、請求項1に記載の装置。
- 前記データ信号分析回路は、ベクトル信号分析器(VSA)を含む、請求項1に記載の装置。
- 前記信号変換回路が、
検波された電力信号を提供することにより、前記少なくとも1つのRF受信データ信号に応答する電力検波回路と、
前記電力検波回路に連結され、前記複数の受信変換データを提供することにより、前記検波された電力信号に応答する、アナログ−デジタル変換(ADC)回路と、を含む、請求項1に記載の装置。 - 前記状態機械は、論理回路を含む、請求項1に記載の装置。
- 前記複数の受信変換データ及び前記複数の状態機械データを記憶するための、前記信号変換回路及び前記状態機械に連結された、データ記憶回路を更に含む、請求項1に記載の装置。
- 前記データ記憶回路は、ローカルメモリ回路を含む、請求項7に記載の装置。
- 前記複数の制御信号を提供するために、前記データ信号源回路及び前記データ信号分析回路に連結された制御回路を更に含む、請求項1に記載の装置。
- 前記信号変換回路は、関連する複数の送信変換データを提供することにより、前記少なくとも1つのRF送信データ信号に更に応答する、請求項1に記載の装置。
- 前記複数の受信変換データ、前記複数の送信変換データ、及び前記複数の状態機械データを記憶するための、前記信号変換回路及び前記状態機械に連結された、データ記憶回路を更に含む、請求項10に記載の装置。
- 被試験デバイス(DUT)によって送信され、試験システムによって受信された無線周波数(RF)データ信号を比較することを容易にするための方法であって、
DUTへの少なくとも1つのRF送信データ信号、及びDUTからの少なくとも1つのRF受信データ信号を経路指定するための工程と、
複数の制御信号及び複数の送信データの一部分を受信し、これらに応答して、前記少なくとも1つのRF送信データ信号及び複数のシステムデータの一部分を提供する工程と、
前記複数の制御信号の別の部分を受信して、これに応答して、前記少なくとも1つのRF受信データ信号を処理し、複数の信号分析データ及び前記複数のシステムデータの別の部分を提供する工程と、
関連する複数の受信変換データを提供するために、前記少なくとも1つのRF受信データ信号を変換する工程と、
複数の状態機械データを提供するために、前記複数のシステムデータを状態機械によって処理する工程と、を含む、方法。 - 前記経路指定する工程は、信号を多重化する工程、信号を分割する工程、信号をスイッチングする工程、及び電力を分配する工程のうちの少なくとも1つを含む、請求項12に記載の方法。
- 前記変換する工程は、
検波された電力信号を提供するために、前記RF受信データ信号の少なくとも1つの電力プロファイルを検波する工程と、
前記複数の受信変換データを提供するために、前記検波された電力信号のアナログ−デジタル変換を実行する工程と、を含む、請求項12に記載の方法。 - 前記複数のシステムデータを状態機械によって処理する工程は、前記複数のシステムデータを論理回路で処理する工程を含む、請求項12に記載の方法。
- 前記複数の受信変換データ及び前記複数の状態機械データを記憶する工程を更に含む、請求項12に記載の方法。
- 前記記憶する工程は、前記複数の受信変換データ及び前記複数の状態機械データをローカルに記憶する工程を含む、請求項16に記載の方法。
- 前記複数の制御信号を提供する工程を更に含む、請求項12に記載の方法。
- 関連する複数の送信変換データを提供するために、前記少なくとも1つのRF送信データ信号を変換する工程を更に含む、請求項12に記載の方法。
- 前記複数の受信変換データ、前記複数の送信変換データ及び前記複数の状態機械データを記憶する工程を更に含む、請求項19に記載の方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US13/554,035 US9325435B2 (en) | 2012-07-20 | 2012-07-20 | System and method for facilitating comparison of radio frequency (RF) data signals transmitted by a device under test (DUT) and received by a test system |
US13/554,035 | 2012-07-20 | ||
PCT/US2013/033447 WO2014014523A1 (en) | 2012-07-20 | 2013-03-22 | System and method for facilitating comparison of radio frequency (rf) data signals transmitted by a device under test (dut) and received by a test system |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015531191A true JP2015531191A (ja) | 2015-10-29 |
JP6125632B2 JP6125632B2 (ja) | 2017-05-10 |
Family
ID=49946943
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015523075A Active JP6125632B2 (ja) | 2012-07-20 | 2013-03-22 | 被試験デバイス(dut)によって送信された無線周波数(rf)データ信号、及び試験システムによって受信された無線周波数(rf)データ信号を比較することを容易にするためのシステム及び方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9325435B2 (ja) |
JP (1) | JP6125632B2 (ja) |
KR (1) | KR102073705B1 (ja) |
CN (1) | CN104471882B (ja) |
TW (1) | TWI591970B (ja) |
WO (1) | WO2014014523A1 (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9319154B2 (en) * | 2014-04-18 | 2016-04-19 | Litepoint Corporation | Method for testing multiple data packet signal transceivers with a shared tester to maximize tester use and minimize test time |
US9326174B1 (en) | 2014-10-15 | 2016-04-26 | National Instruments Corporation | Spectral stitching method to increase instantaneous bandwidth in vector signal analyzers |
US9609653B2 (en) | 2014-10-15 | 2017-03-28 | National Instruments Corporation | Spectral stitching method to increase instantaneous bandwidth in vector signal generators |
US9780893B2 (en) * | 2015-07-08 | 2017-10-03 | Litepoint Corporation | Method for testing a radio frequency (RF) data packet signal transceiver packet error rate |
US9825717B2 (en) | 2015-07-08 | 2017-11-21 | Litepoint Corporation | Method for testing a radio frequency (RF) data packet signal transceiver using implicit synchronization |
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WO2018045201A1 (en) | 2016-09-03 | 2018-03-08 | National Instruments Corporation | Time sequenced spectral stitching |
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- 2012-07-20 US US13/554,035 patent/US9325435B2/en active Active
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2013
- 2013-03-22 JP JP2015523075A patent/JP6125632B2/ja active Active
- 2013-03-22 WO PCT/US2013/033447 patent/WO2014014523A1/en active Application Filing
- 2013-03-22 KR KR1020157002899A patent/KR102073705B1/ko active IP Right Grant
- 2013-03-22 CN CN201380038622.7A patent/CN104471882B/zh active Active
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2014014523A1 (en) | 2014-01-23 |
TWI591970B (zh) | 2017-07-11 |
JP6125632B2 (ja) | 2017-05-10 |
CN104471882A (zh) | 2015-03-25 |
KR20150036353A (ko) | 2015-04-07 |
CN104471882B (zh) | 2016-08-17 |
TW201406072A (zh) | 2014-02-01 |
US9325435B2 (en) | 2016-04-26 |
KR102073705B1 (ko) | 2020-03-02 |
US20140024315A1 (en) | 2014-01-23 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160229 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20170210 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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