TWI663841B

TWI663841B - 用於擷取及致能分析來自射頻資料封包信號收發器之測試資料封包之系統及方法

Info

Publication number: TWI663841B
Application number: TW104129147A
Authority: TW
Inventors: 克里斯敦沃夫奧萊; 王如珠
Original assignee: 美商萊特波因特公司
Priority date: 2014-09-04
Filing date: 2015-09-03
Publication date: 2019-06-21
Also published as: CN106664225B; TW201614964A; US9497101B2; CN106664225A; US20160072686A1; WO2016036438A1

Abstract

本文揭示用於擷取及致能分析來自射頻(RF)資料封包信號傳輸器受測裝置(DUT)之一或多個測試資料封包之系統及方法。最近擷取自所接收之RF資料封包信號之資料封包被保留，用於在確認該等所擷取之資料封包含有潛在有效測試資料封包後進行分析。此確認係藉由以下而達成：確認由目前擷取之資料封包所界定之資料型樣不同於由後續接收之資料封包所界定之資料型樣。在後此確認之後，觸發信號起始所擷取之資料封包的存取及/或分析。

Description

用於擷取及致能分析來自射頻資料封包信號收發器之測試資料封包之系統及方法

本發明係關於測試射頻(RF)資料封包信號收發器受測裝置(DUT)，且具體而言，係關於在DUT繼續傳輸進一步資料封包時，在偵測到所接收信號特性改變後，致能分析先前接收及擷取之測試資料封包。

許多現今的電子裝置使用無線技術用於連接性及通訊兩種目的。因為無線裝置傳輸以及接收電磁能量，且因為兩個或更多個無線裝置可能因其信號頻率及功率頻譜密度而干擾彼此的運作，這些裝置及其無線技術必須遵循各種無線技術標準規格。

在設計此類無線裝置時，工程師額外注意要確保此類裝置會符合或優於依據其所包括之無線技術所規定標準的每一項規格。再者，當這些裝置之後進入量產時，其會經過測試以確保製造瑕疵不會導致不適當的運作，此測試也包括是否遵循所納入之基於無線技術標準的規格。

為了在製造及裝配之後測試這些裝置，目前無線裝置測試系統採用一子系統以分析所接收來自各裝置的信號。此類子系統一般包括用於提供待傳輸至待測裝置之來源信號之諸如向量信號產生器(VSG)之至少一RF資料封包信號傳輸器、以及用於接收並分析DUT所產生信號之諸如向量信號分析器(VSA)之RF資料封包信號接收器。VSG對於測試信號之產生及VSA所執行之信號分析通常是可程式化的，以便允許將各者都用於測試各種裝置是否遵循各種具有不同頻率範圍、頻寬、以及信號調變特性之無線技術標準。

當測試此類裝置時，通常使用觸發來起始後續測試事件之動作。舉例而言，在傳送測試封包(例如，由DUT傳送至測試器)前，觸發將警示測試器準備進行傳送。然而，此必然需要測試器及時地預先知道何時應擷取所傳輸之一序列資料封包中之一或多個部分，以及何時應起始測試(例如，分析)所擷取之資料封包。半導體積體電路(IC)在所傳送之一序列測試資料封包中間穿插非確定性自我校準的傾向，使此做法更加複雜。擷取及分析此類事件(例如，數序列之自我校準資料封包)很少或未提供有價值的測試資料且通常是測試錯誤報告的原因。

觸發通常是回應於一或多個信號特性改變而發生，其後接著對後續事件採取行動。此意謂受測裝置或系統必須知道何時是應該回應且開始擷取封包的正確時間。在許多晶片組中，會採用某種程度的非確定性自我校準，這可能會錯誤地被認為是一個其中適當回應係開始擷取封包的事件。因此，需要偵測這些間隔的自我校準，並且一旦已完成自我校準，即接著開始處理(例如，擷取或計數)封包。

根據所主張之本發明，提供一種用於擷取及致能分析來自射頻(RF)資料封包信號傳輸器受測裝置(DUT)之一或多個測試資料封包之系統及方法。最近擷取自所接收之RF資料封包信號之資料封包被保留，用於在確認該等所擷取之資料封包含有潛在有效測試資料封包後進行分析。此確認係藉由確認而達成

根據所主張之本發明之一實施例，一種用於擷取及致能分析來自射頻(RF)資料封包信號傳輸器受測裝置(DUT)之複數個測試資料封包之系統包括：資料封包擷取電路系統，其回應於RF資料封包信號之接收而擷取複數個第一資料封包之至少一者且確立(assert)觸發信號，該RF資料封包信號包括含有該複數個第一資料封包之至少一個資料封包序列，該複數個第一資料封包具有藉由各自第一封包間間隔來互相分開之各自第一封包持續時間，該觸發信號係在下列情況中確立：該複數個第一資料封包包括由至少該等第一封包持續時間及封包間間隔所界定的重複的第一資料封包型樣，及該RF資料封包信號進一步包括，在該複數個第一資料封包後，不同於該等第一封包間間隔且不具有資料封包之時間間隔，或複數個第二資料封包，該複數個第二資料封包具有藉由各自第二封包間間隔來互相分開之各自第二封包持續時間，其中該等第二封包持續時間及封包間間隔界定第二資料封包型樣，該第二資料封包型樣不同於該第一資料封包型樣；及資料封包分析電路系統，其耦合至該資料封包擷取電路系統，且回應於該經確立之觸發信號而分析該複數個第一資料封包中該經擷取之至少一者。

根據所主張之本發明之另一實施例，一種用於擷取及致能分析來自射頻(RF)資料封包信號傳輸器受測裝置(DUT)之複數個測試資料封包之方法包括：回應於RF資料封包信號之接收而擷取複數個第一資料封包之至少一者且確立觸發信號，該RF資料封包信號包括含有該複數個第一資料封包之至少一個資料封包序列，該複數個第一資料封包具有藉由各自第一封包間間隔來互相分開之各自第一封包持續時間，該觸發信號係在下列情況中確立：該複數個第一資料封包包括由至少該等第一封包持續時間及封包間間隔所界定的重複的第一資料封包型樣，及該RF資料封包信號進一步包括，在該複數個第一資料封包後，不同於該等第一封包間間隔且不具有資料封包之時間間隔，或複數個第二資料封包，該複數個第二資料封包具有藉由各自第二封包間間隔來互相分開之各自第二封包持續時間，其中該等第二封包持續時間及封包間間隔界定第二資料封包型樣，該第二資料封包型樣不同於該第一資料封包型樣；及回應於該經確立之觸發信號而分析該複數個第一資料封包中該經擷取之至少一者。

10‧‧‧測試環境

12‧‧‧測試器

13‧‧‧資料封包信號

14‧‧‧受測裝置(DUT)

15‧‧‧資料封包信號；TX信號；資料封包序列

16‧‧‧測試信號介面；無線信號路徑

17‧‧‧序列間間隔

17a‧‧‧連接器；天線

17b‧‧‧連接器；天線

18‧‧‧控制器

19‧‧‧封包間間隔

19a‧‧‧控制信號介面

19b‧‧‧控制信號介面

21‧‧‧序列間間隔

40‧‧‧測試流程

42‧‧‧步驟

43‧‧‧步驟

44‧‧‧步驟

45‧‧‧步驟

46‧‧‧步驟

47‧‧‧步驟

48‧‧‧步驟

49‧‧‧步驟

50‧‧‧步驟

51‧‧‧步驟

53‧‧‧步驟

100‧‧‧擷取及分析測試資料封包之電路

102‧‧‧資料封包擷取電路

103‧‧‧指定資料封包；數位信號資料

103a‧‧‧測試資料封包

103b‧‧‧控制信號

104‧‧‧分析電路

105‧‧‧測試結果

122‧‧‧接收電路

123a‧‧‧數位信號資料

123b‧‧‧數位信號資料

124‧‧‧記憶體電路

125‧‧‧控制信號

126‧‧‧偵測電路

127a‧‧‧所儲存資料

127b‧‧‧控制信號

142‧‧‧記憶體電路

143‧‧‧測試資料封包

144‧‧‧偵測電路

145a‧‧‧數位資料

145b‧‧‧控制信號

145c‧‧‧控制信號

146‧‧‧處理電路

147‧‧‧控制信號

201‧‧‧循序資料封包序列；自我校準序列；自我校準資料封包傳輸

202‧‧‧循序資料封包序列；測試資料封包序列

203‧‧‧序列間間隔

204‧‧‧循序資料封包序列；測試資料封包序列

205‧‧‧序列間間隔

206‧‧‧循序資料封包序列；自我校準序列

207‧‧‧循序資料封包序列；測試資料封包序列

208‧‧‧序列間間隔

圖1描繪用於RF資料封包信號收發器之典型測試環境。

圖2描繪由DUT傳輸以供根據所主張本發明之例示性實施例之測試器分析之例示性數序列之循序資料封包。

圖3描繪根據所主張本發明的例示性實施例之測試流程。

圖4描繪用於在根據所主張本發明之例示性實施例之測試器內實施之資料封包擷取及分析電路系統之例示性實施例。

圖5描繪用於在根據所主張本發明之例示性實施例之測試器內實施之資料封包擷取電路系統之另一例示性實施例。

圖6描繪用於在根據所主張本發明之例示性實施例之測試器內實施之資料封包分析電路系統之另一例示性實施例。

下列詳細說明係參照附圖之所主張本發明之例示性實施例。此等說明意欲為說明性的而非限制本發明之範疇。該等實施例係以足夠細節予以說明使得所屬技術領域中具通常知識者得以實施本發明，且應理解，在不脫離本發明之精神或範疇的情況下，可以某些改變來實施其他實施例。

在本揭示各處，如無相反於本文的明確指示，可理解所描述之個別電路元件在數目上可為單一個或是複數個。例如，「電路」及「電路系統」一詞可包括單一個或複數個組件，可為主動及/或被動，且經連接或以其他方式耦接在一起(例如，作為一或多個積體電路晶片)以提供所述的功能。另外，「信號」一詞可指一或多個電流、一或多個電壓或資料信號。在圖式中，類似的或相關的元件會有類似的或相關的字母、數字或文數字標誌符。此外，儘管本發明是在使用離散電子電路系統(較佳的是以一或多個積體電路晶片的形式)進行實施的情境中進行討論，但取決於待處理的信號頻率或資料率，仍可替代地使用一或多個經適當程式化的處理器來實施此類電路系統的任何部分之功能。此外，倘若圖式繪示各種實施例之功能方塊圖，該等功能方塊不一定表示硬體電路系統之間的區分。

當DUT正利用測試器進行TX測試時(在此期間，測試器接收及擷取來自DUT之資料封包以用於分析)，DUT將發送一個測試封包或一序列測試封包至測試器。通常，測試器需要知道何時應進行適用於測試之封包的傳輸，且在該傳輸前會有一觸發(例如，來自DUT或另一來源，諸如外部控制器)，因而預備好該測試器以擷取後續之封包序列。如下文之更詳細論述，根據所主張本發明之例示性實施例，觸發是發生在封包序列傳輸後，而非發生在封包序列傳輸前，並且觸發之發生取決於系統已知所傳輸資料封包信號之特性(例如，(多種)型樣)。此做法的優點是能避免可發生在封包序列一開始時的誤偵測，該誤偵測之後的後續封包擷取及其他封包處理會變成有時間偏差。舉例而言，如果在接近封包序列一開始時起始並執行自我校準程序，可能會傳輸非確定性數目個封包，因此難以識別待擷取或處理之所要封包。替代地或此外，封包序列之標稱功率位準可能尚未穩定，因此難以在波動的封包功率位準中擷取所要封包。然而，根據所主張之本發明，可有利地使用封包序列之結尾(其經清楚界定且非取決於起始封包序列條件)來觸發封包擷取及處理。

如下文之更詳細論述，根據所主張本發明之例示性實施例，為了使測試器能夠避免擷取非測試相關之事件(諸如自我校準)，及避免擷取含有過度可變功率位準之封包，使用觸發來提示測試器擷取及分析過去事件，而非未來事件。傳入測試封包被擷取且留存在記憶體中，使得在任何時刻都將有先前已發送且暫時儲存於該記憶體中的某數目個最新近封包。記憶體充當緩衝器，以實際上提供先前已發送數目個封包的移動視窗(rolling window)，該數目由所選用記憶體容量決定。

參考圖1，根據所主張本發明之例示性實施例，測試環境10包括測試器12(例如，包括VSG及VSA，如上文所論述)、DUT 14及控制器18，其等全部如圖所示實質上互連。控制器18經由控制器18與DUT 14之間之控制信號介面19a以及控制器18與測試器12之間之控制信號介面19b交換測試命令及資料。控制器18可在測試器12及DUT 14外部且與其等分開，如此處所描繪，或替代地，控制器18可部分或全部包括在測試器12內。

測試器12與DUT 14之間之測試信號介面16一般為傳導信號路徑(諸如RF同軸纜線)及連接器17a、17b，或替代地為無線信號路徑16而充當與測試器12及DUT 14相關聯之天線17a、17b 之間之通訊媒體。依據熟知原理，此信號路徑16係用來載送源自測試器12及DUT 14之資料封包信號13、15。

參考圖2，在DUT 14之傳輸(TX)信號測試期間，藉由DUT 14傳輸多個循序資料封包序列201、202、204、206、207、...作為TX信號15，以供測試器12接收及分析。這些資料封包序列通常包括自我校準序列201、206及測試資料封包序列202、204、207，且包括具有藉由各自封包間間隔19來互相分開之各自封包持續時間之封包。這些封包序列201、202、204、206、207、...藉由序列間間隔17、203、205、21、208、...而進一步互相分開。測試資料封包序列202、204、207可處於相同的頻率(或通道)或處於不同頻率。自我校準序列201、206可發生在各種信號事件後，包括(但不限於)預定數目個TX資料封包之傳輸、TX信號頻率或功率改變，或定時事件。

如此處對於此例示性序列之資料封包所描繪，在此系列循序資料封包序列內之某處，起始自我校準，藉此引入自我校準資料封包傳輸201，之後，在序列間間隔17後，傳輸測試資料封包序列202、204(其等由另一序列間間隔203分開)。如圖所示，自我校準資料封包序列包括具有變動的信號特性(諸如信號功率位準及資料速率)之資料封包傳輸，且如所屬領域技術所瞭解，該等資料封包傳輸不以其他方式與由特定DUT 14所預期接收之資料封包一致或相關聯，以達確保正確資料接收之目的。

如圖所示，在新作用中的信號傳輸器電路系統穩定化期間，這些測試資料封包序列202、204內的測試資料封包(其等接在其等先前序列間間隔17、203(在此等間隔期間信號傳輸器電路系統為閒置，例如，關閉)之後)最初具有變動的信號功率位準，其後，資料封包信號位準穩定於所要之標稱信號功率位準。這些測試資料封包序列202、204之一者或兩者的重複之封包持續時間及封包間間隔共同界定資料封包型樣。

在另一序列間時間間隔205後，DUT 14晶片組可起始及傳輸另一自我校準資料封包序列206，其包含不同封包持續時間及/或封包間間隔，藉此界定另一資料封包型樣，其不同於由先前測試資料封包序列202、204所界定之型樣。此外，自我校準資料封包序列206不具有封包持續時間及封包間間隔之重複型樣。這些先前與後續(例如，相鄰)資料封包型樣之間之此差異充當為一觸發事件。據此，觸發先前序列202、204之測試資料封包之一或多者的擷取及分析。

此自我校準資料封包序列206後續接著另一序列間間隔21，再來是下一測試資料封包序列207。然而，由於自我校準資料封包序列206並不具有封包持續時間及封包間間隔之重複型樣，所以不比較下一測試資料封包序列207之資料封包型樣與自我校準資料封包型樣，來用於判定是否應觸發任何資料封包之擷取及分析之目的。

接下來，在下一資料封包序列207(其有包括重複封包持續時間與封包間間隔)及後續時間間隔208後，監測後續資料封包型樣以判定是否及何時應進一步觸發事件發生，藉此起始接在彼等之前的此序列207之一或多個先前測試資料封包之擷取及分析。

參考圖3，如圖所示進行根據所主張本發明之例示性實施例之測試流程40。在偵測到TX資料封包信號之起始42後，監測信號以偵測重複的資料封包型樣44，該型樣可基於各種信號特性而界定，該等信號特性包括(但不限於)資料封包持續時間、封包間間隔或封包功率位準。如果未偵測到重複的資料封包型樣43(例如，如上文所述)，則繼續此監測44直到偵測到重複資料封包型樣之時(或已超過逾時間隔)。

如果偵測到重複的資料封包型樣45，則致能傳入資料封包之擷取46。隨著傳入資料封包被擷取，繼續監測傳入資料封包是否有重複的資料封包型樣48。只要繼續偵測到重複的資料封包型樣47，此監測就繼續進行。當不再偵測到重複的資料封包型樣49時，預定數目N個最新近擷取之資料封包被識別且載送至適當資源或以其他方式使之可由適當資源存取以供用於分析50。如果測試被視為完成53，此測試流程即結束。如果測試未視為完成51，則重複此測試流程40。

因此，最終在以下兩個事件之任一者後，起始預定數目個最新近擷取之資料封包的分析：(1)接收一或多個重複的資料封包型樣，其後續接著的一時間間隔不同於(例如，長於)先前封包間間隔且在此時間間隔期間未接收到資料封包；或(2)接收不同於先前重複的資料封包型樣之資料封包型樣(例如，資料封包型樣具有不同資料封包持續時間、不同封包間間隔或不同封包功率位準之一或多者)。

參考圖4，用於如上文所論述擷取及分析測試資料封包之電路系統100可共置在測試器12內，或替代地，依據熟知技術，可部分定位在測試器12內且部分定位在其他處(例如，資料封包擷取電路系統102定位在測試器12內，而分析電路系統104定位在其他處且可經由網路通訊存取)。如上文所論述，在資料封包擷取電路系統102內擷取測試資料封包序列15。在觸發發生後，如上文所論述，藉由分析電路系統104分析指定資料封包103以產生測試結果105。

參考圖5，依據例示性實施例，擷取電路系統102可實施為接收電路系統122，其能夠提供資料封包序列15之任何必要信號轉換(例如，信號降頻轉換、類比轉數位信號轉換等)，以提供數位信號資料123a以用於儲存於記憶體電路系統124中。亦藉由偵測電路系統126來監測此數位信號資料123b，以辨識觸發事件之發生(如上文所論述)。在藉由偵測電路系統126偵測到觸發事件後，提供一或多個控制信號103b給分析電路系統104(圖3)，回應於此，分析電路系統104將存取預定數目個測試資料封包103a以供分析。

替代地，藉由偵測電路系統126監測所儲存資料127a，以偵測觸發事件之發生(如上文所論述)。回應於觸發事件，偵測電路系統126提供一或多個控制信號127b至記憶體電路系統124，以提供預定數目個資料封包103a，以供分析電路系統104進行處理。替代地，偵測電路系統126可提供一或多個控制信號103b至分析電路系統104，指出已辨識觸發事件，回應於此，分析電路系統104可提供一或多個控制信號125至記憶體電路系統124，以存取所要數目個測試資料封包103a。

參考圖6，依據進一步例示性實施例，可實施分析電路系統104以包括記憶體電路系統142、偵測電路系統144及處理電路系統146。可實施擷取電路系統102(圖3)以提供資料封包序列15之任何必要轉換(例如，信號降頻轉換、類比轉數位信號轉換等)，以提供數位信號資料103以用於儲存於記憶體電路系統142中。藉由偵測電路系統144監測此數位資料145a，以偵測觸發事件之發生(如上文所論述)。回應於觸發事件，偵測電路系統144提供一或多個控制信號145b至記憶體電路系統142，以提供預定數目個資料封包143以供處理電路系統146處理。替代地，偵測電路系統144可提供一或多個控制信號145c至處理電路系統146，指出已辨識觸發事件，回應於此，處理電路系統146可提供一或多個控制信號147至記憶體電路系統142，以存取所要數目個測試資料封包143。

本發明的結構和操作方法之各種其他修改及替代例在不背離本發明的精神與範疇的情況下，對所屬技術領域中具有通常知識者而言是顯而易見的。儘管已藉由特定較佳實施例說明本發明，應理解所主張之本發明不應過度地受限於此等特定實施例。吾人意欲以下列申請專利範圍界定本發明的範疇且意欲藉以涵蓋此等申請專利範圍之範疇內之結構與方法以及其均等者。

Claims

一種包括用於擷取及致能分析來自射頻(RF)資料封包信號傳輸器受測裝置(DUT)之複數個測試資料封包之系統的設備，其包含：資料封包擷取電路系統，其回應於RF資料封包信號之接收而擷取複數個第一測試資料封包之少於所有的預定數目個第一測試資料封包且確立(assert)觸發信號，該RF資料封包信號包括含有該複數個第一測試資料封包之至少一個資料封包序列，該複數個第一測試資料封包具有藉由各自第一封包間間隔來互相分開之各自第一封包持續時間，該觸發信號係在下列情況中確立：該複數個第一測試資料封包包括由至少該等第一封包持續時間及封包間間隔所界定的重複的第一測試資料封包型樣，及該RF資料封包信號進一步包括，在該複數個第一測試資料封包後，不同於該等第一封包間間隔且不具有測試資料封包之時間間隔，或複數個第二測試資料封包，該複數個第二測試資料封包具有藉由各自第二封包間間隔來互相分開之各自第二封包持續時間，其中該等第二封包持續時間及封包間間隔界定第二測試資料封包型樣，該第二測試資料封包型樣不同於該第一測試資料封包型樣；及資料封包分析電路系統，其耦合至該資料封包擷取電路系統且回應於經確立之該觸發信號而分析該複數個第一測試資料封包中經擷取之該少於所有的預定數目個第一測試資料封包。
如請求項1之設備，其中該不同於該等第一封包間間隔且不具有測試資料封包之時間間隔包含不同於該等第一封包間間隔之各者的時間間隔。
如請求項1之設備，其中該複數個第二測試資料封包係緊接續在該複數個第一測試資料封包後。
如請求項1之設備，其中：該複數個第一測試資料封包具有藉由各自第一封包間間隔來互相分開之各自第一封包持續時間與功率位準；該第一測試資料封包型樣係由該等第一封包持續時間與功率位準以及該等第一封包間間隔予以界定；該複數個第二測試資料封包具有藉由各自第二封包間間隔來互相分開之各自第二封包持續時間與功率位準；且該第二測試資料封包型樣係由該等第二封包持續時間與功率位準以及該等第二封包間間隔予以界定。
如請求項4之設備，其中該複數個第二測試資料封包係緊接續在該複數個第一測試資料封包後。
如請求項1之設備，其中該資料封包擷取電路系統包含：接收器電路系統，其回應於該RF資料封包信號之該接收而提供該至少一個資料封包序列及該觸發信號；及記憶體電路系統，其耦合至該接收器電路系統，且回應於該複數個第一測試資料封包之該至少一者而儲存該複數個第一測試資料封包之該少於所有的預定數目個第一測試資料封包。
如請求項6之設備，其中該資料封包擷取電路系統進一步包含偵測電路系統，該偵測電路系統回應於該至少一個資料封包序列而提供該觸發信號。
如請求項1之設備，其中該資料封包分析電路系統包含：記憶體電路系統，其回應於該複數個第一測試資料封包之該至少一者而儲存該複數個第一測試資料封包之該少於所有的預定數目個第一測試資料封包；及處理電路系統，其耦合至該記憶體電路系統，且回應於經確立之該觸發信號而處理該複數個第一測試資料封包中經儲存之該少於所有的預定數目個第一測試資料封包。
如請求項8之設備，其中該資料封包分析電路系統進一步包含偵測電路系統，該偵測電路系統回應於該至少一個資料封包序列而提供該觸發信號。
一種用於擷取及致能分析來自射頻(RF)資料封包信號傳輸器受測裝置(DUT)之複數個測試資料封包之方法，該方法包含：回應於RF資料封包信號之接收而擷取複數個第一測試資料封包之少於所有的預定數目個第一測試資料封包且確立(assert)觸發信號，該RF資料封包信號包括含有該複數個第一測試資料封包之至少一個資料封包序列，該複數個第一測試資料封包具有藉由各自第一封包間間隔來互相分開之各自第一封包持續時間，該觸發信號係在下列情況中確立；該複數個第一測試資料封包包括由至少該等第一封包持續時間及封包間間隔所界定的重複的第一測試資料封包型樣，及該RF資料封包信號進一步包括，在該複數個第一測試資料封包後，不同於該等第一封包間間隔且不具有測試資料封包之時間間隔，或複數個第二測試資料封包，該複數個第二測試資料封包具有藉由各自第二封包間間隔來互相分開之各自第二封包持續時間，其中該等第二封包持續時間及封包間間隔界定第二測試資料封包型樣，該第二測試資料封包型樣不同於該第一測試資料封包型樣；及回應於經確立之該觸發信號而分析該複數個第一測試資料封包中經擷取之該少於所有的預定數目個第一測試資料封包。
如請求項10之方法，其中該不同於該等第一封包間間隔且不具有測試資料封包之時間間隔包含不同於該等第一封包間間隔之各者的時間間隔。
如請求項10之方法，其中該複數個第二測試資料封包係緊接續在該複數個第一測試資料封包後。
如請求項10之方法，其中：該複數個第一測試資料封包具有藉由各自第一封包間間隔來互相分開之各自第一封包持續時間與功率位準；該第一測試資料封包型樣係由該等第一封包持續時間與功率位準以及該等第一封包間間隔予以界定；該複數個第二測試資料封包具有藉由各自第二封包間間隔來互相分開之各自第二封包持續時間與功率位準；且該第二測試資料封包型樣係由該等第二封包持續時間與功率位準以及該等第二封包間間隔予以界定。
如請求項13之方法，其中該複數個第二測試資料封包係緊接續在該複數個第一測試資料封包後。
如請求項10之方法，其中該回應於RF資料封包信號之接收而擷取複數個第一測試資料封包之少於所有的預定數目個第一測試資料封包且確立觸發信號係包含：回應於該RF資料封包信號之該接收而提供該至少一個資料封包序列及該觸發信號；及回應於該複數個第一測試資料封包之該至少一者而儲存該複數個第一測試資料封包之該少於所有的預定數目個第一測試資料封包。
如請求項15之方法，其中該回應於RF資料封包信號之接收而擷取複數個第一測試資料封包之少於所有的預定數目個第一測試資料封包且確立觸發信號係進一步包含回應於該至少一個資料封包序列而提供該觸發信號。
如請求項10之方法，其中該回應於經確立之該觸發信號而分析該複數個第一測試資料封包中經擷取之該少於所有的預定數目個第一測試資料封包係包含：回應於該複數個第一測試資料封包之該至少一者而儲存該複數個第一測試資料封包之該少於所有的預定數目個第一測試資料封包；及回應於經確立之該觸發信號而處理該複數個第一測試資料封包中經儲存之該少於所有的預定數目個第一測試資料封包。
如請求項17之方法，其中該回應於經確立之該觸發信號而分析該複數個第一測試資料封包中經擷取之該少於所有的預定數目個第一測試資料封包係進一步包含回應於該至少一個資料封包序列而提供該觸發信號。