KR101119841B1 - 비전도코팅된 케이스의 테스트 장치 및 그를 이용한 테스트 시스템 - Google Patents

Abstract

본 발명은 비전도코팅된 케이스의 테스트 장치 및 그를 이용한 테스트 시스템에 관한 것으로, 휴대 단말기용 케이스의 표면에 양호하게 비전도코팅층이 형성되었는 지의 여부를 신속하면서 정확하게 테스트하기 위한 것이다. 본 발명에 따른 테스트 장치는 거치대와 본체부를 포함한다. 거치대는 비전도코팅층이 형성된 휴대 단말기용 케이스가 탑재되는 RF 커플러를 구비한다. 본체부는 RF 커플러로 RF 신호를 인가하여 출력되는 유도 RF 신호를 분석하여 비전도코팅층의 RF 특성을 테스트하여 케이스의 양불량 여부를 판단한다. 특히 본체부는 RF 소스 발생부, 유도 RF 검출부, 제어부 및 표시부를 포함한다. RF 소스 발생부는 RF 신호를 발생시켜 RF 커플러로 인가한다. 유도 RF 검출부는 인가된 RF 신호에 의해 RF 커플러에서 유도되는 유도 RF 신호를 검출한다. 제어부는 검출된 유도 RF 신호에 대한 측정값을 산출하고, 산출된 측정값과 기 설정된 임계값을 비교하여 케이스의 양불량을 판단한다. 그리고 표시부는 제어부로부터 케이스의 양불량 결과와 산출된 측정값을 수신하여 출력한다.

Description

비전도코팅된 케이스의 테스트 장치 및 그를 이용한 테스트 시스템{Apparatus for testing case coated NCVM and test system using the same}

본 발명은 휴대 단말기용 케이스의 테스트 기술에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 휴대 단말기용 케이스의 표면에 양호하게 비전도코팅층이 형성되었는 지의 여부를 신속하면서 정확하게 테스트할 수 있는 비전도코팅된 케이스의 테스트 장치 및 그를 이용한 테스트 시스템에 관한 것이다.

일반적으로 휴대 단말기 또는 전자기기의 케이스로는 투명한 아크릴이나 폴리카보네이트 등의 플라스틱 소재가 사용되며, 화려한 외관 디자인 효과를 나타내기 위해 니켈(Ni), 알루미늄(Al) 또는 크롬(Cr) 등의 금속 박막을 코팅함으로써 금속 느낌의 색상을 표현하였다.

그러나 휴대 단말기 중 통신 기능을 갖는 휴대폰, PDA, 이동방송 수신기 등의 케이스에 전술된 바와 같은 전도성 물질인 금속 박막을 사용할 경우, 무선 통신 신호에 악영향을 끼쳐 무선 통신 중 신호 끊김 현상을 발생시키는 주요 원인이 된다는 사실이 밝혀졌다. 또한 품질검사규격 중의 하나인 정전기(Electro Static Discharge; ESD) 테스트에서도 금속 박막으로 인한 폭발하는 현상이 발생하였다.

이러한 문제점을 해결하기 위하여, 휴대 단말기의 케이스에 주석(Sn) 또는 주석(Sn)-인듐(In) 박막을 이용한 비전도코팅(Non Conductive Vaccum Metallization; NCVM) 방법이 사용되고 있다. 이와 같은 비전도코팅은 플라스틱 소재의 케이스 외관이 금속 같이 보이도록 하면서 휴대 단말기의 무선 통신에 영향을 주지 않는 금속 코팅 방법이다.

하지만 육안으로는 케이스에 양호하게 비전도코팅층이 형성되었는 지 알 수 없다. 또한 케이스에 코팅되는 비전도코팅층의 두께가 일정 수준 이하인 경우 무선 통신에 크게 영향을 주지 않지만, 일정 수준 이상 두꺼워지면 금속화되어 휴대 단말기의 무선 통신에 영향을 주는 문제가 발생될 수 있다.

따라서 본 발명의 목적은 휴대 단말기용 케이스의 표면에 양호하게 비전도코팅층이 형성되었는 지의 여부를 신속하면서 정확하게 테스트할 수 있는 비전도코팅된 케이스의 테스트 장치 및 그를 이용한 테스트 시스템을 제공하는 데 있다.

본 발명의 다른 목적은 비전도코팅층이 형성된 휴대 단말기용 케이스의 금속화 정도에 대한 정보를 제공할 수 있는 비전도코팅된 케이스의 테스트 장치 및 테스트 시스템을 제공하는 데 있다.

그리고 본 발명의 또 다른 목적은 캘리브레이션을 위한 기준값, 테스트를 위한 임계값 등과 같은 테스트 조건을 쉽게 조정할 수 있는 비전도코팅된 케이스의 테스트 장치 및 테스트 시스템을 제공하는 데 있다.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 거치대와 본체부를 포함하는 비전도코팅된 케이스의 테스트 장치를 제공한다. 상기 거치대는 비전도코팅층이 형성된 휴대 단말기용 케이스가 탑재되는 RF 커플러를 구비한다. 그리고 상기 본체부는 상기 RF 커플러로 RF 신호를 인가하여 출력되는 유도 RF 신호를 분석하여 상기 비전도코팅층의 RF 특성을 테스트하여 상기 케이스의 양불량 여부를 판단한다. 이때 본체부는 RF 소스 발생부, 유도 RF 검출부, 제어부 및 표시부를 포함한다. 상기 RF 소스 발생부는 RF 신호를 발생시켜 상기 RF 커플러로 인가한다. 상기 유도 RF 검출부는 상기 인가된 RF 신호에 의해 상기 RF 커플러에서 유도되는 유도 RF 신호를 검출한다. 상기 제어부는 상기 검출된 유도 RF 신호에 대한 측정값을 산출하고, 상기 산출된 측정값과 기 설정된 임계값을 비교하여 상기 케이스의 양불량을 판단한다. 그리고 상기 표시부는 상기 제어부로부터 상기 케이스의 양불량 결과와 상기 산출된 측정값을 수신하여 출력한다.

본 발명에 따른 테스트 장치는, 상기 검출된 유도 RF 신호를 입력받아 전압 신호로 변환하여 출력하는 로그 디텍터와, 상기 로그 디텍터로부터 상기 전압 신호를 수신하여 디지털 신호로 변환하여 상기 제어부로 출력하는 ADC를 더 포함할 수 있다. 이때 상기 제어부는 상기 ADC로부터 상기 디지털 신호를 수신하여 상기 측정값으로 전압값을 산출한다.

본 발명에 따른 테스트 장치에 있어서, 상기 제어부는, 상기 RF 커플러에 케이스가 탑재되지 않은 상태에서 산출한 참조값과 기 설정된 기준값을 비교하여 캘리브레이션을 수행할 수 있다.

본 발명에 따른 테스트 장치에 있어서, 상기 제어부는, 상기 산출된 전압값이 상기 기 설정된 임계값 범위에 속하는 경우 양품으로 판단하고, 상기 산출된 전압값이 상기 기 설정된 임계값 범위를 벗어나는 경우 불량품으로 판단할 수 있다. 또한 상기 제어부는 상기 산출된 전압값과 상기 양불량 결과를 상기 표시부에 출력할 수 있다.

본 발명에 따른 테스트 장치는, 상기 기 설정된 기준값, 상기 기 설정된 임계값, 상기 산출된 전압값 및 상기 양불량 결과를 저장하는 저장부를 더 포함할 수 있다.

본 발명에 따른 테스트 장치에 있어서, 상기 표시부는, 상기 산출된 전압값과 상기 양불량 결과를 표시하는 표시창을 포함할 수 있다. 또한 상기 표시부는 상기 양불량 결과를 서로 다른 색상으로 표시하는 램프를 더 포함할 수 있다.

본 발명에 따른 테스트 장치는, 사용자의 선택 신호를 입력받는 입력부와, 외부 기기와 통신을 수행하는 통신 인터페이스를 더 포함할 수 있다. 이때 상기 제어부는 상기 입력부를 통한 사용자의 선택 신호 또는 상기 통신 인터페이스를 통한 제어 신호에 따라서, 상기 기 설정된 기준값 또는 상기 기 설정된 임계값을 재설정하거나, 상기 통신 인터페이스를 통하여 상기 저장부에 저장된 정보를 상기 외부 기기로 전송할 수 있다.

본 발명에 따른 테스트 장치에 있어서, 상기 RF 소스 발생부는, 100 내지 300 MHz 대역에서 선택된 주파수의 RF 신호를 상기 RF 커플러로 인가할 수 있다.

본 발명에 따른 테스트 장치에 있어서, 상기 거치대는 베이스판과, 상기 베이스판 위에 설치되며, 상기 케이스의 비전도코팅층이 접촉되는 상기 RF 커플러와, 상기 베이스판 위에 설치되며, 상기 RF 커플러와 함께 탑재되는 상기 케이스를 지지하는 지지판을 포함할 수 있다.

본 발명에 따른 테스트 장치에 있어서, 상기 RF 커플러는, 상기 RF 소스 발생부로부터 RF 신호가 인가되는 제1 안테나 커플러와, 상기 제1 안테나 커플러에 이웃하게 설치되며, 상기 RF 신호가 인가된 상기 제1 안테나 커플러와 커플링되어 유도 RF 신호를 출력하는 제2 안테나 커플러를 포함할 수 있다.

본 발명에 따른 테스트 장치에 있어서, 상기 지지판과 상기 RF 커플러에는 각각 상기 케이스의 외곽을 지지하는 지지대가 형성되어 있다.

본 발명에 따른 테스트 장치는, 상기 제어부의 제어에 따라 양불량 결과를 안내 음성이나 음향으로 출력하는 음원 출력부를 더 포함할 수 있다.

본 발명은 또한 전술된 테스트 장치를 이용한 테스트 시스템을 제공한다. 테스트 시스템은 케이스 적재함, 케이스 로더, 상기 테스트 장치, 케이스 언로더, 양품 수거함 및 불량품 수거함을 포함한다. 상기 케이스 적재함은 테스트할 비전도코팅층이 형성된 휴대 단말기용 케이스가 적재되어 있다. 상기 케이스 로더는 상기 케이스 적재함에 적재된 상기 케이스를 순차적으로 로딩한다. 상기 테스트 장치는 상기 케이스 적재함에 근접하게 설치되며, 상기 케이스 로더에 의해 로딩된 케이스가 탑재되며, 상기 케이스의 비전도코팅층의 RF 특성을 테스트한다. 상기 케이스 언로더는 상기 테스트 장치의 테스트 결과에 따라 상기 테스트 장치에 탑재된 상기 케이스를 상기 테스트 장치로부터 언로딩한다. 상기 양품 및 불량품 수거함은 상기 테스트 장치에 근접하게 설치되며, 상기 케이스 언로더에 의해 언로딩된 케이스가 테스트 결과에 따라 수거된다.

따라서 본 발명에 따른 테스트 장치를 이용하여 휴대 단말기용 케이스의 표면에 양호하게 비전도코팅층이 형성되었는 지의 여부를 신속하면서 정확하게 테스트한 후, 테스트 결과에 따라 양품 및 불량품으로 분류할 수 있다. 특히 표5에서 확인할 수 있는 바와 같이, 본 발명에 따른 테스트 장치는 네트워크 분석기(network analyzer)와 비교했을 때 신뢰할 수 있는 테스트 결과를 산출한다.

본 발명에 따른 테스트 장치는 실시간 수준으로 테스트 공정을 진행할 수 있기 때문에, 휴대 단말기용 케이스의 생산성을 향상시킬 수 있다. 테스트 시간이 짧기 때문에, 제조되는 케이스에 대한 전수 검사가 가능하여 출하되는 케이스의 양호한 제품 신뢰성을 확보할 수 있다.

본 발명에 따른 테스트 장치는 테스트 결과 양품 및 불량품에 대한 정보와 함께 테스트한 케이스의 RF 특성을 수치로 표시부를 통하여 출력하기 때문에, 테스트되는 케이스의 비전도코팅층의 금속화 정도에 대한 정보를 제공할 수 있다.

본 발명에 따른 테스트 장치는 양불량에 대한 정보와 함께 테스트한 케이스들의 RF 특성값을 저장하였다가 통신 인터페이스를 통하여 케이스 제조를 총괄하는 시스템으로 제공할 수 있기 때문에, 비전도코팅 공정의 문제 발생 여부 또는 이상 징후에 신속히 대응할 수 있다.

그리고 본 발명에 따른 테스트 장치는 캘리브레이션 및 케이스의 테스트 공정에서 산출한 산출값과 비교하기 위한 기준값과, 산출값과 기준값의 차이값과 비교하기 위한 임계값 등과 같은 테스트 조건을 입력부의 조작을 통하여 쉽게 조정할 수 있다.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 비전도코팅된 케이스의 테스트 시스템을 보여주는 블록도이다.
도 2는 도 1의 비전도코팅된 케이스의 테스트 장치의 구성을 보여주는 블록도이다.
도 3은 도 2의 RF 커플러를 개략적으로 보여주는 회로도이다.
도 4는 도 2의 비전도코팅된 케이스의 테스트 장치의 일 예를 보여주는 평면도이다.
도 5는 도 4의 테스트 장치에 케이스가 탑재된 상태를 보여주는 평면도이다.
도 6은 도 5의 6-6선 단면도이다.
도 7은 본 발명의 실시예에 따른 비전도코팅된 케이스의 테스트 방법에 따른 흐름도이다.
도 8은 도 7의 테스트 방법에 따른 테스트 결과가 표시된 표시부의 표시창을 보여주는 도면이다.
도 9는 네트워크 분석기에서 100MHz 내지 3GHz의 RF 신호를 베어 케이스(bare case)에 인가하여 출력되는 유도 RF 신호를 검출한 파형도이다.
도 10은 네트워크 분석기에서 100MHz 내지 3GHz의 RF 신호를 양품 케이스에 인가하여 출력되는 유도 RF 신호를 검출한 파형도이다.
도 11은 네트워크 분석기에서 100MHz 내지 3GHz의 RF 신호를 불량품 케이스에 인가하여 출력되는 유도 RF 신호를 검출한 파형도이다.

이하, 첨부 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다.

테스트 시스템

본 발명의 실시예에 따른 비전도코팅된 케이스의 테스트 시스템(700)은, 도 1에 도시된 바와 같이, 테스트 장치(100), 케이스 적재함(200), 케이스 로더(300), 케이스 언로더(400), 양품 수거함(500) 및 불량품 수거함(600)을 포함하여 구성된다.

테스트 장치(100)는 휴대 단말기용 케이스에 형성된 비전도코팅층의 RF 특성을 테스트하여 해당 케이스의 양불량 여부를 판단하는 장치이다. 특히 테스트 장치(100)는 케이스의 비전도코팅층에 인가되는 RF 신호에 대해서 커플링으로 유도되는 유도 RF 신호를 분석하여 비전도코팅층의 금속화 정도와 케이스의 양불량 정보를 출력한다.

케이스 적재함(200)은 테스트 장치(100)의 일측에 배치되어 테스트할 케이스를 제공한다. 케이스 적재함(200)에는 테스트할 비전도코팅층이 형성된 휴대 단말기용 케이스들이 적재되어 있다. 이때 케이스는 휴대 단말기의 외형을 구성하며, 상부 케이스와 하부 케이스로 구성될 수 있다. 케이스 적재함(200)은 상부 케이스와 하부 케이스를 함께 적재할 수 있는 형태로 구현되거나, 상부 케이스와 하부 케이스를 구분하여 적재할 수 있는 형태로 구현될 수 있다.

케이스 로더(300)는 케이스 적재함(200)과 테스트 장치(100) 사이에 설치되어 케이스 적재함(200)에 적재된 케이스를 순차적으로 테스트 장치(100)로 로딩한다. 이때 케이스 로더(300)는 케이스를 집어서 이송하는 집게나, 케이스를 진공 흡착하여 이송하는 진공 흡착 툴을 포함할 수 있다.

양품 수거함(500) 및 불량품 수거함(600)은 테스트 장치(100)의 타측에 배치된다. 양품 수거함(500)에는 테스트 결과 양품으로 판정된 케이스가 적재된다. 불량품 수거함(600)에는 테스트 결과 불량품으로 판정된 케이스가 적재된다. 이때 양품 수거함(500)은 케이스 적재함(200)로 동일한 형태를 가질 수 있다. 불량품 수거함(600)은 케이스 적재함(200)로 동일한 형태를 갖거나 상부가 개방된 박스 형태를 가질 수 있다.

그리고 케이스 언로더(400)는 테스트 장치(100)와 수거함(500,600) 사이에 설치되어 테스트 장치(100)로부터 테스트가 완료된 케이스를 언로딩하여 수거함(500,600)으로 이송한다. 이때 케이스 언로더(400)는 테스트가 완료된 케이스를 테스트 장치(100)로부터 언로딩하여 테스트 결과에 따라 양품 수거함(500) 또는 불량품 수거함(600)으로 이송한다. 케이스 언로더(400)는 케이스 로드(200)와 동일한 구조를 가질 수 있다.

한편 본 실시예에서는 케이스 로더(300)와 케이스 언로더(400)를 함께 구비하는 예를 개시하였지만 이것에 한정되는 것은 아니다. 케이스 로더(300) 또는 케이스 언로더(400) 중에 하나만 설치되어 케이스 로딩과 언로딩을 함께 수행할 수도 있다.

또한 케이스 로더(300)와 케이스 언로더(400) 중에 하나만 설치되어 해당 작업을 수행하고, 다른 작업은 작업자가 수작업으로 수행할 수도 있다. 예컨대 케이스 로더(300)만 설치된 경우, 케이스 로딩은 케이스 로더(300)가 담당하고 언로딩은 작업자가 담당할 수 있다.

또한 본 실시예에서는 케이스 로더(300)와 케이스 언로더(400)를 이용하여 케이스를 자동으로 테스트 장치(100)로 로딩하거나 언로딩하는 예를 개시하였지만, 케이스 로더(300) 및 케이스 언로더(400) 없이 작업자가 수작업으로 케이스 로딩 및 언로딩 작업을 수행할 수도 있다.

또한 본 실시예에서는 테스트 장치(100)의 일측에 케이스 적재함(200)이 배치된 예를 개시하였지만 이것에 한정되는 것은 아니다. 예컨대 비전도코팅 장치에 테스트 장치(100)를 인라인으로 연결하여 비전도코팅이 완료된 케이스를 테스트 장치(100)로 직접 로딩하여 테스트 공정을 수행할 수도 있다. 또는 비전도코팅 장치와 테스트 장치(100) 사이에 케이스 적재함(200)을 설치할 수도 있다.

테스트 장치

특히 본 실시예에 따른 테스트 시스템(700)의 테스트 장치(100)에 대해서 도 2 내지 도 6을 참조하여 설명하면 다음과 같다. 여기서 도 2는 도 1의 비전도코팅된 케이스의 테스트 장치의 구성을 보여주는 블록도이다. 도 3은 도 2의 RF 커플러를 개략적으로 보여주는 회로도이다. 도 4는 도 2의 비전도코팅된 케이스의 테스트 장치의 일 예를 보여주는 평면도이다. 도 5는 도 4의 테스트 장치에 케이스가 탑재된 상태를 보여주는 평면도이다. 그리고 도 6은 도 5의 6-6선 단면도이다.

본 실시예에 따른 테스트 장치(100)에 의해 테스트되는 케이스(60)는 플라스틱 소재의 케이스 본체(61)와, 케이스 본체(61)의 표면에 형성된 비전도코팅층(63)을 포함한다. 이때 케이스(60)는 상부 케이스와 하부 케이스를 포함한다. 베어 케이스(bare case)는 비전도코팅층(63)이 형성되지 않은 케이스 본체(61) 상태의 케이스를 의미한다.

본 실시예에 따른 테스트 장치(100)는 거치대(30)와 본체부(10)를 포함하여 구성된다. 거치대(30)는 테스트할 케이스(60)가 탑재되는 부분으로서 RF 커플러(20)를 구비한다. 본체부(10)는 RF 커플러(20)로 RF 신호를 인가하여 출력되는 유도 RF 신호를 분석하여 비전도코팅층(63)의 RF 특성을 테스트하여 해당 케이스(60)의 양불량 여부를 판단한다. 이때 본체부(10)는 RF 소스 발생부(14), 유도 RF 검출부(15), 제어부(19) 및 표시부(18)를 포함한다. RF 소스 발생부(14)는 RF 신호를 발생시켜 RF 커플러(20)로 인가한다. 유도 RF 검출부(15)는 인가된 RF 신호에 의해 RF 커플러(20)에서 출력되는 유도 RF 신호를 검출한다. 제어부(19)는 검출된 유도 RF 신호에 대한 측정값을 산출하고, 산출된 측정값과 기 설정된 임계값을 비교하여 케이스(60)의 양불량을 판단한다. 그리고 표시부(18)는 제어부(19)로부터 테스트한 케이스(60)의 양불량 결과와 산출된 측정값을 수신하여 출력한다.

거치대(30)는 RF 커플러(20)를 포함하며, 그 외 베이스판(40) 및 지지판(50)을 구비할 수 있다. 베이스판(40)은 본체부(10)에 근접하게 배치되며, 상부에 RF 커플러(20)와 지지판(50)이 설치되며, 절연성을 경질의 플라스틱 소재로 제조될 수 있다. RF 커플러(20)는 본체부(10)와 지지판(50) 사이의 베이스판(40) 위에 고정 설치되며, 케이스(60)의 비전도코팅층(63)이 접촉된다. 그리고 지지판(50)은 베이스판(40) 위에 설치되며, RF 커플러(20)와 함께 탑재되는 케이스(60)를 지지한다.

이때 RF 커플러(20)는 기판 몸체(21), 제1 및 제2 안테나 커플러(23,25)를 포함한다. 제1 및 제2 안테나 커플러(23,25)는 기판 몸체(21)의 일면에 금속층을 형성하고, 금속층을 패터닝하여 형성할 수 있다. 케이스(60)는 비전도코팅층(63)이 제1 및 제2 안테나 커플러(23,25)에 접촉되게 탑재된다.

기판 몸체(21)는 제1 및 제2 안테나 커플러(23,25)가 형성되는 절연판으로서, PC(Poly Carbonate), Acrylic, PEEK(Polyther Etherketone), MC Nylon(Mono Cast Nylon), POM (Polyoxymethylene plastic) 또는 PEI(Poly ether imide)와 같은 플라스틱 소재로 제조될 수 있다.

제1 안테나 커플러(23)는 RF 소스 발생부(14)로부터 RF 신호를 인가 받는다. 이때 제1 안테나 커플러(23)는 기판 몸체(21)의 상부면의 일측에 형성되며, 디귿자 형태로 형성될 수 있다. 제1 안테나 커플러(23)는 케이블(12a)을 매개로 RF 소스 발생부(14)에 연결된다.

그리고 제2 안테나 커플러(25)는 제1 안테나 커플러(23)에 이웃하게 형성되며, RF 신호가 인가된 제1 안테나 커플러(23)와 커플링되어 발생되는 유도 RF 신호를 유도 RF 검출부(15)로 출력한다. 이때 제2 안테나 커플러(25)는 케이블(15a)을 매개로 유도 RF 검출부(15)에 연결된다. 제2 안테나 커플러(25)는 제1 안테나 커플러(23)와 이웃하게 기판 몸체(21)의 상부면에 형성되며, 제1 안테나 커플러(23)와 역상을 이루도록 형성될 수 있다. 제1 및 제2 안테나 커플러(23,25)가 커플링될 수 있도록, 제1 및 제2 안테나 커플러(23,25)는 서로 근접하되 일정 간격으로 이격되게 기판 몸체(21)에 형성된다.

특히 제1 및 제2 안테나 커플러(23,25)의 형태는 임피던스 매칭(impedance matching)이 될 수 있도록 디자인되며, 기판 몸체(21)의 소재, 기판 몸체(21)의 크기, 금속층의 소재 등에 따라서 일부 형태는 변형될 수 있다. 또한 제1 및 제2 안테나 커플러(23,25)에는 임피던스 매칭에 필요한 저항(R)과 인덕터(L)가 각각 연결될 수 있다. 예컨대 제1 안테나 커플러(23)에 인가되는 RF 신호에 대한 제2 안테나 커플러(25)에서 출력되는 유도 RF 신호의 매칭값이 50Ω이 되도록 제1 및 제2 안테나 커플러(23,25)가 디자인될 수 있다. 이때 RF 커플러(20)는 100 내지 300 MHz 대역에서 선택된 주파수의 RF 신호에서 케이스(60)의 양불량을 평가하는 데 필요한 신뢰할 수 있는 유도 RF 신호를 출력할 수 있다. 구체적인 것은 후술하도록 하겠다.

그리고 기판 몸체(21)에서 제1 및 제2 안테나 커플러(23,25)가 형성된 영역의 외곽 및 하부에는 제1 및 제2 안테나 커플러(23,25)의 주파수 특성을 위하여 접지층이 형성될 수 있다.

한편 거치대(30)에 탑재되는 케이스(60)를 안정적으로 지지할 수 있도록, RF 커플러(20)와 지지판(50)에는 각각 케이스(60)의 외곽을 지지하는 적어도 하나의 지지대(27,51)가 형성되어 있다.

본체부(10)는 RF 소스 발생부(14), 유도 RF 검출부(15), 제어부(19) 및 표시부(18)를 포함하며, 그 외 입력부(11), 저장부(12), 통신 인터페이스부(13), 로그 디텍터(16), ADC(17) 및 음원 출력부(18c)를 더 포함할 수 있다.

입력부(11)는 본체부(10)의 조작을 위한 복수의 키를 제공하며, 사용자의 키선택에 따른 선택 신호를 발생하여 제어부(19)로 전달한다. 사용자는 입력부(11)를 통해 본체부(10)의 온/오프(ON/OFF)를 요청하고, 기 설정된 기준값 또는 기 설정된 임계값을 재설정하거나, 테스트 결과를 통신 인터페이스(13)를 통하여 외부 기기로 전송을 요청할 수 있다. 이때 입력부(11)로는 복수의 버튼, 키패드, 터치패드와 같은 포인팅 장치, 터치스크린(touch screen) 등의 입력장치가 사용될 수 있다. 예컨대 입력부(11)가 복수의 버튼으로 구현되는 경우, 복수의 버튼은 입력 버튼, 종료 버튼, 설정 버튼 등을 포함할 수 있다.

저장부(12)는 본체부(10)의 동작 제어시 필요한 프로그램과, 그 프로그램 수행 중에 발생되는 정보를 저장한다. 특히 저장부(12)는 케이스(60)의 RF 특성 테스트를 위한 테스트 프로그램을 저장하며, 테스트 프로그램 실행 중 산출되는 정보를 저장한다. 저장부(12)는 기 설정된 기준값, 기 설정된 임계값, 케이스(60)의 테스트 결과로서 양불량 결과 및 산출된 측정값을 저장한다.

이때 기준값은 테스트 장치(100)의 캘리브레이션 및 테스트 공정시 기준이 되는 값이다. 캘리브레이션은 거치대(30)에 케이스(60)가 탑재되지 않은 상태에서 복수회 산출한 측정값의 평균값(이하 '참조값'이라 한다)과 기 설정된 기준값을 비교하여 차이값이 일정 범위 안에 들어오는 지의 여부를 판단하고, 판단 결과 일정 범위에 들어오는 경우 참조값을 영점으로 조정하는 과정이다.

산출된 측정값은 캘리브레이션으로 조정된 영점을 기준으로 산출된 값으로, 케이스(60)의 비전도코팅층(63)의 RF 특성을 수치적으로 나타내는 값이다. 따라서 산출된 측정값의 크기에 따라 비전도코팅층(63)의 금속화 정도를 알 수 있다.

그리고 임계값은 케이스(60)의 양불량 여부를 판단하는 값으로서, 케이스(60)에 요구되는 RF 특성 조건에 따라 변경될 수 있다.

통신 인터페이스(13)는 외부 기기와 통신을 수행할 수 있는 부분이다. 통신 인터페이스(13)를 통하여 저장부(12)에 저장된 정보가 외부 기기로 전송될 수 있다. 이때 외부 기기는 본 실시예에 따른 테스트 시스템(700)을 포함하여 케이스 제조를 총괄하거나 관리하는 단말 또는 서버를 포함한다. 이때 통신 인터페이스(13)는 유무선 통신 인터페이스를 포함한다. 예컨대 유무선 통신 인터페이스는 USB 모듈, 유선 인터넷 모듈, 무선 인터넷 모듈, 이동통신 모듈 또는 근거리 통신모듈 등을 포함할 수 있다.

RF 소스 발생부(14)는 제어부(19)의 제어에 따라 케이스(60)의 비전도코팅층(63)의 RF 특성 테스트에 필요한 RF 신호를 발생하여 제1 안테나 커플러(23)로 인가한다. RF 소스 발생부(14)는 100 내지 300 MHz 대역에서 선택된 주파수의 RF 신호를 제1 안테나 커플러(23)로 인가할 수 있다. 이때 100 내지 300 MHz 대역에서 선택된 주파수의 RF 신호를 인가하는 이유는, 본 대역에서 선택된 RF 신호에서 케이스(60)의 양불량을 평가하는 데 필요한 신뢰할 수 있는 유도 RF 신호를 획득할 수 있기 때문이다. 즉 RF 커플러(20)에 네트워크 분석기를 직접 연결한 상태에서 10MHz 내지 3GHz의 RF 신호를 제1 안테나 커플러(23)에 인가하여 제2 안테나 커플러(25)로 유도되는 유도 RF 신호를 측정한 결과를 살펴보면, 도 11의 파형도에 도시된 바와 같이, 100 내지 300 MHz 대역에서 케이스(60)의 양불량을 평가하는 데 필요한 신뢰할 수 있는 유도 RF 신호를 획득할 수 있음을 알 수 있다. 이때 도 11은 비전도코팅층(63)이 형성된 케이스(60) 중 불량인 케이스의 유도 RF 신호의 파형도이다.

유도 RF 검출부(15)는 제2 안테나 커플러(25)에서 출력되는 유도 RF 신호를 검출하여 로그 디텍터(16)로 출력한다. 이때 유도 RF 검출부(15)로는 RF 필터가 사용될 수 있다.

로그 디텍터(16)는 유도 RF 검출부(15)로부터 유도 RF 신호를 입력받아 전압 신호로 변환하여 ADC(17)로 출력한다.

ADC(17)는 로그 디텍터(16)로부터 전압 신호를 수신하여 디지털 신호로 변환한다.

표시부(18)는 본체부(10)에서 실행되는 각종 기능 메뉴를 비롯하여 저장부(12)에 저장된 정보를 표시한다. 표시부(18)는 제어부(19)의 제어에 따라 기준값, 임계값, 케이스(60)의 테스트 결과로서 양불량 결과 및 산출된 측정값을 표시할 수 있다. 이때 표시부(18)는 기준값, 임계값, 케이스의 테스트 결과로서 양불량 결과 및 산출된 측정값을 표시하는 표시창(18a)과, 양불량 결과를 서로 다른 색상으로 표시하는 램프(18b)를 포함할 수 있다. 이때 표시창(18a)으로는 LED 표시창, LCD(Liquid Crystal Display) 또는 터치스크린이 사용될 수 있다. 터치스크린은 표시 장치와 입력 장치로서의 역할을 동시에 수행한다.

한편 본 실시예에서는 표시부(18)가 양불량 결과를 표시하는 예를 개시하였지만 이것에 한정되는 것은 아니다. 즉 테스트 장치(100)는 양불량 결과를 안내 음성이나 경고음으로 출력하는 음원 출력부(18c)를 더 포함할 수 있다. 예컨대 음원 출력부(18c)로는 부저, 스피커 등이 사용될 수 있다. 음원 출력부(18c)를 통하여 캘리브레이션 결과를 출력할 수 있다. 또는 음원 출력부(18c)는 테스트 장치(100)의 현재 모드, 예컨대 캘리브레이션 모드, 준비 모드 또는 테스트 모드 인지에 대한 정보를 출력할 수 있다.

그리고 제어부(19)는 본체부(10)의 전반적인 제어 동작을 수행하는 마이크로프로세서(microprocessor)이다. 제어부(19)는 비전도코팅층(63)이 형성된 케이스(60)의 RF 특성 테스트의 수행을 제어한다. 특히 제어부(19)는 ADC(17)로부터 디지털 신호를 수신하여 측정값으로 전압값을 산출한다. 산출된 전압값이 기 설정된 임계값 범위에 속하는 경우, 제어부(19)는 해당 케이스(60)를 양품으로 판단한다. 산출된 전압값이 기 설정된 임계값 범위를 벗어나는 경우, 제어부(19)는 해당 케이스(60)를 불량품으로 판단한다. 그리고 제어부(19)는 테스트한 케이스(60)에 대한 양불량 결과와 산출된 측정값을 표시부(18)를 통하여 출력한다.

한편 테스트 장치(100)의 초기 시동시 제어부(19)는 캘리브레이션 과정을 수행한다. 즉 입력부(11)를 통하여 본체부(10)의 온(ON)을 요청하면, 제어부(19)는 초기 시동 과정을 거친 후에 거치대(30)에 케이스(60)가 탑재되지 않은 상태에서 산출한 참조값과 기 설정된 기준값을 비교하여 캘리브레이션을 수행하여 영점을 조정한다. 캘리브레이션을 수행한 이후에 테스트할 케이스(60)가 거치대(30)에 탑재되면, 제어부(19)는 해당 케이스(60)에 대한 테스트를 수행한다.

그리고 제어부(19)는 입력부(11)를 통한 사용자의 선택 신호 또는 통신 인터페이스(13)를 통한 제어 신호에 따라서 기 설정된 기준값 또는 기 설정된 임계값을 재설정할 수 있다.

또한 제어부(19)는 통신 인터페이스(13)를 통하여 저장부(12)에 저장된 정보를 외부 기기로 전송할 수 있다. 이때 정보는 설정된 기준값, 기 설정된 임계값, 케이스의 테스트 결과 등을 포함한다.

또한 제어부(19)는 특정 케이스 적재함(200)에 적재된 케이스(60)를 테스트할 때, 해당 케이스 적재함(200)에서 일정 개수 이상의 불량품이 발생되는 경우, 통신 인터페이스(13)를 통하여 불량품 발생 사실을 외부 기기, 예컨대 비전도코팅 공정을 관리하는 단말 또는 서버로 피드백하여 비전도코팅 불량 발생에 대한 후속조취가 신속히 이루어질 수 있도록 할 수 있다.

이와 같이 본 실시예에 따른 테스트 장치(100)는 케이스(60)의 표면에 양호하게 비전도코팅층(63)이 형성되었는 지의 여부를 신속하면서 정확하게 테스트한 후, 테스트 결과에 따라 양품 및 불량품으로 분류할 수 있다.

본 발명에 따른 테스트 장치(100)는 실시간 수준으로 테스트 공정을 진행할 수 있기 때문에, 케이스(60)의 생산성을 향상시킬 수 있다. 테스트 시간이 짧기 때문에, 제조되는 케이스(60)에 대한 전수 검사가 가능하여 출하되는 케이스(60)의 양호한 제품 신뢰성을 확보할 수 있다.

본 실시예에 따른 테스트 장치(100)는 테스트 결과 양품 및 불량품에 대한 정보와 함께 테스트한 케이스(60)의 RF 특성을 수치로 표시부(18)를 통하여 출력하기 때문에, 테스트되는 케이스(60)의 비전도코팅층(63)의 금속화 정도에 대한 정보를 제공할 수 있다.

본 실시예에 따른 테스트 장치(100)는 양불량에 대한 정보와 함께 테스트한 케이스들(60)의 RF 특성값을 저장하였다가 통신 인터페이스(13)를 통하여 케이스 제조를 총괄하는 시스템으로 제공할 수 있기 때문에, 비전도코팅 공정의 문제 발생 여부 또는 이상 징후에 신속히 대응할 수 있다.

그리고 본 실시예에 따른 테스트 장치(100)는 캘리브레이션 및 케이스(60)의 테스트 공정에서 산출한 산출값과 비교하기 위한 기준값과, 산출값과 기준값의 차이값과 비교하기 위한 임계값 등과 같은 테스트 조건을 입력부(11)의 조작을 통하여 쉽게 조정할 수 있다.

테스트 방법

이와 같은 본 실시예에 따른 테스트 시스템(700)을 이용한 테스트 방법을 도 1 내지 도 8을 참조하여 설명하면 다음과 같다. 여기서 도 7은 본 발명의 실시예에 따른 비전도코팅된 케이스의 테스트 방법에 따른 흐름도이다. 도 8은 도 7의 테스트 방법에 따른 테스트 결과가 표시된 표시부의 표시창을 보여주는 도면이다.

먼저 S70단계에서 테스트 장치(100)의 입력부(11)의 시작 버튼이 입력되면, 제어부(19)는 S71단계에서 캘리브레이션 모드를 수행하여 영점을 조정한다. 캘리브레이션 모드는 10 내지 20초 사이에 수행될 수 있다.

이때 S71단계의 캘리브레이션 모드는 다음과 같이 수행될 수 있다. 먼저 케이스(60)가 거치대(30)에 탑재되지 않은 상태에서, 제어부(19)는 RF 소스 발생부(14)를 통하여 RF 커플러(20)로 RF 신호를 인가하여 출력되는 유도 RF 신호를 유도 RF 검출부(15)를 통하여 검출하여 측정값을 산출하고, 이와 같은 과정을 복수회 반복하여 산출된 측정값들을 평균하여 참조값을 산출한다. 그리고 제어부(19)는 산출한 참조값과 기 설정된 기준값과 비교하여 차이값이 일정 범위 안에 들어오는 지의 여부를 판단한다. 예컨대 참조값은 20회 산출된 측정값을 평균하여 산출할 수 있다. 기준값은 0.800V이며, 일정 범위는 ±0.020V일 수 있다. 기준값은 디폴트로 제공되거나 사용자 설정에 의해 제공될 수 있다. 즉 산출된 참조값이 0.800±0.020V의 범위 안에 들어오는 지의 여부를 판단한다.

다음으로 S73단계에서 제어부(19)는 캘리브레이션의 성공 여부를 판단한다. 즉 S73단계에서 산출된 참조값이 0.800±0.020V의 범위 안에 들어오면, 제어부(19)는 캘리브레이션이 성공한 것으로 판단한다. 반대로 산출된 참조값이 0.800±0.020V의 범위를 벗어나면, 제어부(19)는 캘리브레이션이 실패한 것으로 판단한다.

S73단계의 판단 결과 캘리브레이션에 실패하면, S75단계에서 제어부(19)는 캘리브레이션의 반복 횟수가 일정 회수(n; n은 1보다 큰 자연수)에 도달했는 지의 여부를 다시 판단한다.

S76단계의 판단 결과 도달하지 않은 경우, 제어부(19)는 S71단계부터 다시 수행한다. 하지만 S76단계의 판단 결과 일정 횟수에 도달한 경우, S76단계에서 제어부(19)는 캘리브레이션 실패로 판단하여 테스트 공정을 종료한다. 이때 S76단계에서 제어부(19)는 작업자가 해당 테스트 장치(100)의 캘리브레이션 실패를 인지할 수 있도록 램프(18b)를 점멸시키거나, 표시창(18a)에 캘리브레이션 실패를 표시할 수 있다.

한편 S73단계에서 판단 결과 캘리브레이션에 성공하면, S77단계에서 제어부(19)는 캘리브레이션 모드에서 비전도코팅층(63)이 형성된 케이스(60)를 테스트할 수 있는 준비 모드로 전환한다. 이때 제어부(19)는 참조값을 영점, 예컨대 0.000V로 조정한다. 제어부(19)는 표시창(18a)에 준비 모드로 진입한 사실을 표시할 수 있다. 예컨대 제어부(19)는, 도 8의 (a)와 같이, 표시창(18a)에 "Ready: 0.000V"를 표시할 수 있다.

한편 제어부(19)는 준비 모드에서 일정 시간 단위로 거치대(30)에 케이스(60)가 탑재되는 지의 여부를 판단한다. 예컨대 10ms 단위로 산출한 측정값이 ±0.010V 범위에 들어오면, 제어부(19)는 거치대(30)에 케이스(60)가 탑재되는 않은 것으로 판단하여 준비 모드 상태를 유지한다. 하지만 ±0.010V 범위에 벗어나면, 제어부(19)는 거치대(30)에 케이스(60)가 탑재된 것으로 판단하여 준비 모드에서 테스트 모드로 전환한다.

다음으로 S79단계에서 케이스 로드(300)가 케이스 적재부(200)에 적재된 케이스(60)를 로딩하여 거치대(30)에 투입 즉, 탑재한다. 이때 케이스(60)의 비전도코팅층(63)이 형성된 면이 RF 커플러(20)의 제1 및 제2 안테나 커플러(23,25)에 접촉되게 탑재한다.

다음으로 S81단계에서 제어부(19)는 탑재된 케이스(60)에 대한 테스트를 수행한다.

이때 S81단계에 따른 테스트는 다음과 같이 수행될 수 있다. 먼저 S79단계에서 케이스(60)가 거치대(30)에 투입되면, 제어부(19)는 준비 모드에서 테스트 모드로 전환한다. 다음으로 RF 소스 발생부(14)는 제어부(19)의 제어에 따라 특정 주파수의 RF 신호를 RF 커플러(20)에 인가한다. 다음으로 유도 RF 검출부(15)는 RF 커플러(20)에서 유도되어 출력되는 유도 RF 신호를 검출한다. 다음으로 로그 디텍터(16)는 유도 RF 검출부(15)로부터 유도 RF 신호를 입력받아 전압 신호로 변환하여 ADC(17)로 출력한다. 다음으로 ADC(17)는 로그 디텍터(16))로부터 전압 신호를 수신하여 디지털 신호로 변환하여 제어부(19)로 출력한다. 다음으로 제어부(19)는 ADC(17)로부터 디지털 신호를 수신하여 측정값으로 전압값을 산출한다.

다음으로 S83단계에서 제어부(19)는 테스트 결과가 양품인지 불량품인지의 여부를 판단한다. 즉 S83단계에서 제어부(19)는 산출한 전압값이 임계값 범위에 속하는 경우 양품으로 판단하고, 임계값 범위를 벗어나는 경우 불량품으로 판단한다. 예컨대 임계값 범위는 0.060±0.015V일 수 있다. 불량품 판단 범위는 0.075 내지 0.600V로 설정될 수 있다. 이때 임계값 범위를 구성하는 0.060V 및 0.015V는 디폴트로 제공되거나 사용자 설정에 의해 제공될 수 있다.

특히 S81단계 및 S83단계에 따른 테스트는 약 0.2초의 짧은 시간에 수행되기 때문에, 거의 실시간에 가깝게 테스트되는 케이스(60)의 양불량 여부를 판단할 수 있다.

S83단계의 판단 결과 양품인 경우, S85단계에서 제어부(19)는 양품 결과를 표시부(18)에 출력한다. 즉 제어부(19)는 표시부(18)를 통하여 양품 표시와 함께 산출된 전압값을 표시할 수 있다. 예컨대 제어부(19)는, 도 8의 (b)와 같이, 표시창(18a)에 "Pass : 0.061V"를 표시할 수 있다. 또한 제어부(19)는 램프(18b)를 파란색으로 점등시킬 수 있다.

다음으로 S87단계에서 케이스 언로더(400)는 양품의 케이스(60)를 거치대(30)에서 언로딩하여 양품 수거함(500)으로 이송한다.

S83단계의 판단 결과 불량품인 경우, S89단계에서 제어부(19)는 불량품 결과를 표시부(18)에 출력한다. 즉 제어부(19)는 표시부(18)를 통하여 불량품 표시와 함께 산출된 전압값을 표시할 수 있다. 예컨대 제어부(19)는, 도 8의 (c)와 같이, 표시창(18a)에 "Fail:0.110V"를 표시할 수 있다. 또한 제어부(19)는 램프(18b)를 빨간색으로 점등시킬 수 있다.

이어서 S91단계에서 케이스 언로더(400)는 불량품의 케이스(60)를 거치대(30)에서 언로딩하여 불량품 수거함(600)으로 이송한다.

한편 본 실시예에서는 S85단계 및 S89단계에서 표시부(18)를 통하여 양불량 결과를 표시하는 예를 개시하였지만 이것에 한정되는 것은 아니다. 즉 제어부(19)는 음원 출력부(18c)를통하여 양불량 결과를 안내 음성이나 경고음으로 출력할 수 있다. 그 외 음원 출력부(18c)를 통하여 캘리브레이션 결과를 출력할 수 있다. 또는 음원 출력부(18c)는 테스트 장치(100)의 현재 모드, 예컨대 캘리브레이션 모드, 준비 모드 또는 테스트 모드 인지에 대한 정보를 출력할 수도 있다.

제어부(19)는 케이스(60)의 테스트 결과를 저장부(12)에 저장한다. 이때 제어부(19)는 테스트 결과를 저장부(12)에 저장할 때, 케이스(60) 단위로 구분하여 저장하거나 케이스 적재함(200) 단위로 구분하여 저장할 수 있다. 통상적으로 케이스 적재함(200)에는 동일한 공정 조건에 비전도코팅층(63)이 형성된 케이스들(60)이 적재된다. 따라서 케이스 적재함(200) 단위로 테스트 결과를 저장할 때, 현재 테스트 중인 케이스 적재함(200)에서의 불량 발생 횟수가 일정 횟수를 초과하게 되면, 제어부(19)는 해당 정보를 통신 인터페이스(13)를 통하여 외부 기기, 즉 비전도코팅 공정을 관리하는 단말 또는 서버로 피드백하여 비전도코팅 불량 발생에 대한 후속조취가 신속히 이루어질 수 있도록 할 수 있다.

다음으로 S87단계 또는 S91단계를 수행한 이후에, S93단계에서 제어부(19)는 입력부(11)의 종료 버튼이 입력되는 지의 여부를 판단한다.

S93단계의 판단 결과 종료 버튼이 입력되지 않은 경우, 제어부(19)는 S77단계부터 다시 수행한다.

그리고 판단 결과 종료 버튼이 입력되는 경우, 제어부(19)는 테스트 공정을 종료한다.

이와 같은 본 실시예에 테스트 장치는 양호한 테스트 신뢰성을 갖고 있음을 네트워크 분석기와 비교하여 설명하면 다음과 같다.

테스트 조건은 다음과 같다. 본 실시예에 따른 테스트 장치와 네트워크 분석기는 각각 동일한 RF 커플러를 포함하는 거치대를 사용하였다. 테스트 시료로서 베어 케이스, 양품 케이스, 불량품 케이스 각각 10개를 준비하고, 174MHz RF 신호를 인가한 후 출력되는 유도 RF 신호를 검출하여 실제 측정값을 산출하였다. 네트워크 분석기로는 E5071B 모델을 사용하였다. 본 실시예에 따른 테스트 장치는 거치대에 케이스가 탑재되지 않은 경우에 0.837V가 측정되었다.

테스트 결과는 도 9 내지 도 11, 표1 및 표2에 도시되어 있다. 도 9 내지 도 11은 네트워크 분석기에서 100MHz 내지 3GHz의 RF 신호를 인가하여 출력되는 유도 RF 신호를 검출한 파형도이다. 도 9는 베어 케이스, 도 10은 양품 케이스, 도 11은 불량품 케이스의 파형도이다. 파형도에서 파형을 나타내는 Trace#은 Tr#으로 표시하였다.

먼저 도 9를 참조하면, Tr1은 케이스를 거치대에 탑재하지 않은 상태에서 네트워크 분석기로 측정한 파형이다. Tr2 내지 Tr9는 1번부터 8번까지의 베어 케이스를 거치대에 탑재한 상태에서 네트워크 분석기로 측정한 파형이다.

도 10을 참조하면, Tr1은 베어 케이스를 거치대에 탑재한 상태에서 네트워크 분석기로 측정한 파형이다. Tr2 내지 Tr9는 1번부터 8번까지의 양품 케이스를 거치대에 탑재한 상태에서 네트워크 분석기로 측정한 파형이다. 즉 양품 케이스의 경우 베어 케이스와 거의 동일한 파형을 나타내는 것을 알 수 있다.

도 11을 참조하면, Tr1은 베어 케이스를 거치대에 탑재한 상태에서 네트워크 분석기로 측정한 파형이다. Tr2 내지 Tr9는 1번부터 8번까지의 불량품 케이스를 거치대에 탑재한 상태에서 네트워크 분석기로 측정한 파형이다. 즉 Tr1과 비교했을 때, Tr2 내지 Tr9의 파형은 100 내지 300MHz 대역에서 심하게 변화하는 것을 알 수 있다. 이것은 100 내지 300 MHz 대역에서 선택된 주파수의 RF 신호를 이용하여 획득한 유도 RF 신호는 케이스의 양불량의 판단하는 근거로 사용할 수 있음을 나타낸다.

따라서 본 신뢰성 평가에서는 174MHz의 RF 신호를 인가한 후 출력되는 유도 RF 신호를 환산한 측정값을 사용하였다. 한편 본 신뢰성 평가에서는 174MHz의 RF 신호를 사용하였지만 이것에 한정되는 것은 아니다.

표1은 도 9 내지 도 11의 파형도에서 174MHz의 RF 신호를 인가한 후 출력되는 유도 RF 신호의 산출된 측정값이다. 표2는 본 실시예에 따른 테스트 장치에서 174MHz의 RF 신호를 인가한 후 출력되는 유도 RF 신호의 산출된 측정값이다. 이때 1dB은 0.02V로 환산될 수 있다. 산출된 측정값은 실제 측정값이다.

	베어 케이스		양품 케이스		불량품 케이스
번호	상부(dB)	하부(dB)	상부(dB)	하부(dB)	상부(dB)	하부(dB)
1	-43.965	-44.087	-43.672	-43.738	-38.170	-33.358
2	-43.669	-43.675	-43.466	-43.743	-36.820	-34.334
3	-43.697	-43.723	-43.565	-43.618	-39.037	-36.071
4	-43.784	-43.552	-43.754	-43.634	-38.217	-39.311
5	-43.552	-43.985	-43.536	-44.029	-39.832	-38.366
6	-43.682	-43.654	-43.720	-43.566	-38.369	-35.169
7	-43.714	-43.709	-43.848	-43.975	-40.738	-34.898
8	-44.015	-43.784	-43.473	-43.713	-42.070	-39.194
9	-43.723	-43.589	-43.793	-43.971	-39.844	-36.974
10	-43.757	-43.597	-43.449	-43.574	-37.120	-33.677
최소값	-44.015	-44.087	-43.848	-44.029	-42.070	-39.311
최대값	-43.552	-43.552	-43.449	-43.566	-36.820	-33.358
평균값	-43.756	-43.736	-43.628	-43.756	-39.022	-36.135

	베어 케이스		양품 케이스		불량품 케이스
번호	상부(V)	하부(V)	상부(V)	하부(V)	상부(V)	하부(V)
1	0.898	0.899	0.898	0.896	0.998	1.079
2	0.899	0.895	0.897	0.900	1.043	1.096
3	0.898	0.897	0.897	0.900	0.982	1.043
4	0.898	0.899	0.900	0.897	1.011	0.994
5	0.900	0.899	0.901	0.900	0.961	0.997
6	0.898	0.899	0.899	0.900	1.013	1.096
7	0.899	0.899	0.900	0.898	0.975	1.050
8	0.899	0.898	0.896	0.898	0.936	0.986
9	0.897	0.898	0.897	0.900	0.970	1.017
10	0.899	0.897	0.898	0.900	1.017	1.080
최소값	0.897	0.895	0.896	0.896	0.936	0.986
최대값	0.900	0.899	0.901	0.900	1.043	1.096
평균값	0.899	0.898	0.898	0.899	0.991	1.044

그리고 본 실시예에 따른 테스트 장치에서 측정된 값과 네트워크 분석기에서 측정된 값을 비교하여 표3 및 표4와 같이 보정한 후, 표5와 같이 편차를 산출하였다.

여기서 표3은 네트워크 분석기에 있어서, 불량품 케이스의 실측정값과 양품 케이스의 평균값의 차이값을 나타낸다.

ⓐ 네트워크 분석기
번호	불량품 상부 케이스		불량품 하부 케이스
	실측정값(dB)	보정(dB)	실측정값(dB)	보정(dB)
1	-38.170	5.536	-33.358	10.348
2	-36.820	6.886	-34.334	9.372
3	-39.037	4.669	-36.071	7.635
4	-38.217	5.489	-39.311	4.395
5	-39.832	3.874	-38.366	5.340
6	-38.369	5.337	-35.169	8.537
7	-40.738	2.968	-34.898	8.808
8	-42.070	1.636	-39.194	4.512
9	-39.844	3.862	-36.974	6.732
10	-37.120	6.586	-33.677	10.029
최소값	-42.070	1.636	-39.311	4.395
최대값	-36.820	6.886	-33.358	10.348
평균값	-39.022	4.684	-36.135	7.571
	보정=실측정값-양품 케이스의 평균값

표4는 본 실시예에 따른 테스트 장치에 있어서, 불량품 케이스의 실측정값과 양품 케이스의 평균값의 차이값을 나타낸다.

ⓑ 테스트 장치
번호	불량품 상부 케이스		불량품 하부 케이스
	실측정값(V)	보정(dB)	실측정값(V)	보정(dB)
1	0.998	4.950	1.079	9.000
2	1.043	7.200	1.096	9.850
3	0.982	4.150	1.043	7.200
4	1.011	5.600	0.994	4.750
5	0.961	3.100	0.997	4.900
6	1.013	5.700	1.096	9.850
7	0.975	3.800	1.050	7.550
8	0.936	1.850	0.986	4.350
9	0.970	3.550	1.017	5.900
10	1.017	5.900	1.080	9.050
최소값	0.936	1.850	0.986	4.350
최대값	1.043	7.200	1.096	9.850
평균값	0.991	4.580	1.044	7.240
	보정(dB)=(실측정값-양품 케이스의 평균값)/0/02

편차(ⓐ-ⓑ)
번호	불량품 상부 케이스(dB)	불량품 하부 케이스(dB)
1	0.586	1.348
2	-0.314	-0.478
3	0.519	0.435
4	-0.111	-0.355
5	0.774	0.440
6	-0.363	-1.313
7	-0.832	1.258
8	-0.214	0.162
9	0.312	0.832
10	0.686	0.979
최소값	-0.832	-1.313
최대값	0.774	1.348
평균값	0.104	0.331

그리고 표5는 본 실시예에 따른 테스트 장치와 네트워크 분석기에서 각각 측정된 값의 편차를 나타낸다. 이때 편차는 표3의 차이값과 표4의 차이값의 차이로 산출하였다.

표5에 도시된 바와 같이, 네트워크 분석기와 테스트 장치의 편차가 불량품 상부 케이스의 경우 -0.832 내지 0.774dB이고, 불량품 하부 케이스의 경우 -1.313 내지 1.348dB로 매우 작은 것을 확인할 수 있다. 즉 본 실시예에 따른 테스트 장치가 네트워크 분석기와 실질적으로 유사한 테스트 결과를 산출하는 것을 확인할 수 있다.

따라서 본 실시예에 따른 테스트 장치는 네트워크 분석기에 대응하는 테스트 신뢰성을 갖고 있음을 확인할 수 있다. 특히 본 실시예에 따른 테스트 장치는 특정 RF 신호를 인가하여 테스트를 수행하기 때문에, 거의 실시간 수준으로 테스트 공정을 진행할 수 있기 때문에, 휴대 단말기용 케이스의 생산성을 향상시킬 수 있다. 또한 고가의 네트워크 분석기에 비해서 본 실시예에 따른 테스트 장치는 저렴하기 때문에, 테스트 장치의 설치로 인한 케이스의 제조 비용 증가도 최소화할 수 있다.

한편, 본 명세서와 도면에 개시된 본 발명의 실시예들은 이해를 돕기 위해 특정 예를 제시한 것에 지나지 않으며, 본 발명의 범위를 한정하고자 하는 것은 아니다. 여기에 개시된 실시예들 이외에도 본 발명의 기술적 사상에 바탕을 둔 다른 변형예들이 실시 가능하다는 것은, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명한 것이다.

10 : 본체부 20 : RF 커플러
30 : 거치대 40 : 베이스판
50 : 지자판 60 : 케이스
61 : 케이스 본체 63 : 비전도코팅층
100 : 테스트 장치 200 : 케이스 적재함
300 : 케이스 로더 400 : 케이스 언로더
500 : 양품 수거함 600 : 불량품 수거함
700 : 테스트 시스템

Claims (14)

1. 비전도코팅층이 형성된 휴대 단말기용 케이스가 탑재되는 RF 커플러를 구비하는 거치대;
   상기 RF 커플러로 RF 신호를 인가하여 출력되는 유도 RF 신호를 분석하여 상기 비전도코팅층의 RF 특성을 테스트하여 상기 케이스의 양불량 여부를 판단하는 본체부;를 포함하며,
   상기 본체부는,
   RF 신호를 발생시켜 상기 RF 커플러로 인가하는 RF 소스 발생부;
   상기 인가된 RF 신호에 의해 상기 RF 커플러에서 유도되는 유도 RF 신호를 검출하는 유도 RF 검출부;
   상기 검출된 유도 RF 신호에 대한 측정값을 산출하고, 상기 산출된 측정값과 기 설정된 임계값을 비교하여 상기 케이스의 양불량을 판단하는 제어부;
   상기 제어부로부터 상기 케이스의 양불량 결과와 상기 산출된 측정값을 수신하여 출력하는 표시부;
   를 포함하는 것을 특징으로 하는 비전도코팅된 케이스의 테스트 장치.
2. 제1항에 있어서,
   상기 검출된 유도 RF 신호를 입력받아 전압 신호로 변환하여 출력하는 로그 디텍터;
   상기 로그 디텍터로부터 상기 전압 신호를 수신하여 디지털 신호로 변환하여 상기 제어부로 출력하는 ADC;
   를 더 포함하며,
   상기 제어부는 상기 ADC로부터 상기 디지털 신호를 수신하여 상기 측정값으로 전압값을 산출하는 것을 특징으로 하는 비전도코팅된 케이스의 테스트 장치.
3. 제2항에 있어서, 상기 제어부는,
   상기 RF 커플러에 케이스가 탑재되지 않은 상태에서 산출한 참조값과 기 설정된 기준값을 비교하여 캘리브레이션을 수행하는 것을 특징으로 하는 비전도코팅된 케이스의 테스트 장치.
4. 제3항에 있어서, 상기 제어부는
   상기 산출된 전압값이 상기 기 설정된 임계값 범위에 속하는 경우 양품으로 판단하고, 상기 산출된 전압값이 상기 기 설정된 임계값 범위를 벗어나는 경우 불량품으로 판단하고,
   상기 산출된 전압값과 상기 양불량 결과를 상기 표시부에 출력하는 것을 특징으로 하는 비전도코팅된 케이스의 테스트 장치.
5. 제4항에 있어서,
   상기 기 설정된 기준값, 상기 기 설정된 임계값, 상기 산출된 전압값 및 상기 양불량 결과를 저장하는 저장부;
   를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 비전도코팅된 케이스의 테스트 장치.
6. 제4항에 있어서, 상기 표시부는,
   상기 산출된 전압값과 상기 양불량 결과를 표시하는 표시창;
   을 포함하는 것을 특징으로 하는 비전도코팅된 케이스의 테스트 장치.
7. 제6항에 있어서, 상기 표시부는,
   상기 양불량 결과를 서로 다른 색상으로 표시하는 램프;
   를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 비전도코팅된 케이스의 테스트 장치.
8. 제5항에 있어서,
   사용자의 선택 신호를 입력받는 입력부;
   외부 기기와 통신을 수행하는 통신 인터페이스;
   를 더 포함하며,
   상기 제어부는 상기 입력부를 통한 사용자의 선택 신호 또는 상기 통신 인터페이스를 통한 제어 신호에 따라서, 상기 기 설정된 기준값 또는 상기 기 설정된 임계값을 재설정하거나, 상기 통신 인터페이스를 통하여 상기 저장부에 저장된 정보를 상기 외부 기기로 전송하는 것을 특징으로 하는 비전도코팅된 케이스의 테스트 장치.
9. 제1항에 있어서, 상기 RF 소스 발생부는,
   100 내지 300 MHz 대역에서 선택된 주파수의 RF 신호를 상기 RF 커플러로 인가하는 것을 특징으로 하는 비전도코팅된 케이스의 테스트 장치.
10. 제9항에 있어서, 상기 거치대는,
    베이스판;
    상기 베이스판 위에 설치되며, 상기 케이스의 비전도코팅층이 접촉되는 상기 RF 커플러;
    상기 베이스판 위에 설치되며, 상기 RF 커플러와 함께 탑재되는 상기 케이스를 지지하는 지지판;
    을 포함하는 것을 특징으로 하는 비전도코팅된 케이스의 테스트 장치.
11. 제10항에 있어서, 상기 RF 커플러는,
    상기 RF 소스 발생부로부터 RF 신호가 인가되는 제1 안테나 커플러;
    상기 제1 안테나 커플러에 이웃하게 설치되며, 상기 RF 신호가 인가된 상기 제1 안테나 커플러와 커플링되어 유도 RF 신호를 출력하는 제2 안테나 커플러;
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 비전도코팅된 케이스의 테스트 장치.
12. 제11항에 있어서,
    상기 지지판과 상기 RF 커플러에는 각각 상기 케이스의 외곽을 지지하는 지지대가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 비전도코팅된 케이스의 테스트 장치.
13. 제1항에 있어서,
    상기 제어부의 제어에 따라 양불량 결과를 안내 음성이나 음향으로 출력하는 음원 출력부;
    를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 비전도코팅된 케이스의 테스트 장치.
14. 테스트할 비전도코팅층이 형성된 휴대 단말기용 케이스가 적재된 케이스 적재함;
    상기 케이스 적재함에 적재된 상기 케이스를 순차적으로 로딩하는 케이스 로더;
    상기 케이스 적재함에 근접하게 설치되며, 상기 케이스 로더에 의해 로딩된 케이스가 탑재되며, 상기 케이스의 비전도코팅층의 RF 특성을 테스트하는 테스트 장치;
    상기 테스트 장치의 테스트 결과에 따라 상기 테스트 장치에 탑재된 상기 케이스를 상기 테스트 장치로부터 언로딩하는 케이스 언로더;
    상기 테스트 장치에 근접하게 설치되며, 상기 케이스 언로더에 의해 언로딩된 케이스가 테스트 결과에 따라 수거되는 양품 및 불량품 수거함;
    을 포함하며,
    상기 테스트 장치는,
    비전도코팅층이 형성된 휴대 단말기용 케이스가 탑재되는 RF 커플러를 구비하는 거치대;
    상기 RF 커플러로 RF 신호를 인가하여 출력되는 유도 RF 신호를 분석하여 상기 비전도코팅층의 RF 특성을 테스트하여 상기 케이스의 양불량 여부를 판단하는 본체부;를 포함하며,
    상기 본체부는,
    RF 신호를 발생시켜 상기 RF 커플러로 인가하는 RF 소스 발생부;
    상기 인가된 RF 신호에 의해 상기 RF 커플러에서 유도되는 유도 RF 신호를 검출하는 유도 RF 검출부;
    상기 검출된 유도 RF 신호에 대한 측정값을 산출하고, 상기 산출된 측정값과 기 설정된 임계값을 비교하여 상기 케이스의 양불량을 판단하는 제어부;
    상기 제어부로부터 상기 케이스의 양불량 결과와 상기 산출된 측정값을 수신하여 출력하는 표시부;
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 비전도코팅된 케이스의 테스트 시스템.

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