JP2015519742A - ハイブリッドキャパシタ - Google Patents

ハイブリッドキャパシタ Download PDF

Info

Publication number
JP2015519742A
JP2015519742A JP2015509484A JP2015509484A JP2015519742A JP 2015519742 A JP2015519742 A JP 2015519742A JP 2015509484 A JP2015509484 A JP 2015509484A JP 2015509484 A JP2015509484 A JP 2015509484A JP 2015519742 A JP2015519742 A JP 2015519742A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
structured surface
deposition
layer
capacitor
coating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2015509484A
Other languages
English (en)
Inventor
アマラトゥーンガ,ゲーハン・アンジール・ジョーセフ
チェ,ヨンジン
シヴァレディ,サイ・ギリダール
ブラウン,ネイサン,チャールズ
コリス,チャールズ・アントニー・ニールド
Original Assignee
ダイソン テクノロジー リミテッド
ダイソン テクノロジー リミテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ダイソン テクノロジー リミテッド, ダイソン テクノロジー リミテッド filed Critical ダイソン テクノロジー リミテッド
Publication of JP2015519742A publication Critical patent/JP2015519742A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G11/00Hybrid capacitors, i.e. capacitors having different positive and negative electrodes; Electric double-layer [EDL] capacitors; Processes for the manufacture thereof or of parts thereof
    • H01G11/22Electrodes
    • H01G11/26Electrodes characterised by their structure, e.g. multi-layered, porosity or surface features
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G11/00Hybrid capacitors, i.e. capacitors having different positive and negative electrodes; Electric double-layer [EDL] capacitors; Processes for the manufacture thereof or of parts thereof
    • H01G11/22Electrodes
    • H01G11/30Electrodes characterised by their material
    • H01G11/32Carbon-based
    • H01G11/36Nanostructures, e.g. nanofibres, nanotubes or fullerenes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G11/00Hybrid capacitors, i.e. capacitors having different positive and negative electrodes; Electric double-layer [EDL] capacitors; Processes for the manufacture thereof or of parts thereof
    • H01G11/04Hybrid capacitors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G11/00Hybrid capacitors, i.e. capacitors having different positive and negative electrodes; Electric double-layer [EDL] capacitors; Processes for the manufacture thereof or of parts thereof
    • H01G11/08Structural combinations, e.g. assembly or connection, of hybrid or EDL capacitors with other electric components, at least one hybrid or EDL capacitor being the main component
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G11/00Hybrid capacitors, i.e. capacitors having different positive and negative electrodes; Electric double-layer [EDL] capacitors; Processes for the manufacture thereof or of parts thereof
    • H01G11/22Electrodes
    • H01G11/26Electrodes characterised by their structure, e.g. multi-layered, porosity or surface features
    • H01G11/28Electrodes characterised by their structure, e.g. multi-layered, porosity or surface features arranged or disposed on a current collector; Layers or phases between electrodes and current collectors, e.g. adhesives
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G11/00Hybrid capacitors, i.e. capacitors having different positive and negative electrodes; Electric double-layer [EDL] capacitors; Processes for the manufacture thereof or of parts thereof
    • H01G11/22Electrodes
    • H01G11/30Electrodes characterised by their material
    • H01G11/32Carbon-based
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G11/00Hybrid capacitors, i.e. capacitors having different positive and negative electrodes; Electric double-layer [EDL] capacitors; Processes for the manufacture thereof or of parts thereof
    • H01G11/52Separators
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G11/00Hybrid capacitors, i.e. capacitors having different positive and negative electrodes; Electric double-layer [EDL] capacitors; Processes for the manufacture thereof or of parts thereof
    • H01G11/84Processes for the manufacture of hybrid or EDL capacitors, or components thereof
    • H01G11/86Processes for the manufacture of hybrid or EDL capacitors, or components thereof specially adapted for electrodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G11/00Hybrid capacitors, i.e. capacitors having different positive and negative electrodes; Electric double-layer [EDL] capacitors; Processes for the manufacture thereof or of parts thereof
    • H01G11/54Electrolytes
    • H01G11/58Liquid electrolytes
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E60/00Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
    • Y02E60/13Energy storage using capacitors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Electric Double-Layer Capacitors Or The Like (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)
  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
  • Formation Of Insulating Films (AREA)

Abstract

開示されるのは、誘電体コーティング(230)を有する第1の構造化表面、誘電体コーティング(230)を有する第2の構造化表面、第1の構造化表面と第2の構造化表面との間に設けられるセパレータ(240)、および、第1の構造化表面と第2の構造化表面との間に設けられる電解質を備えるキャパシタ(200)である。構造化表面は、1:30以下であるカーボンナノチューブの間隔対長さの比を有する、カーボンナノチューブのランダムなアレイであり得る炭素から形成され得る。誘電体コーティングは、酸化ハフニウム、チタン酸バリウム(BTO)、BST、PZT、CCTO、もしくは二酸化チタン、または、2つ以上のそのような材料の組み合わせから選択され得るが、それらに限定されない。

Description

本発明は、ハイブリッドキャパシタに関する。
キャパシタは、2つの金属の表面間に電荷を蓄積する。キャパシタは、キャパシタが構成される手法、および2つの金属の表面間で使用される材料に基づいて、静電、電解、または電気化学に幅広く分類され得る。標準的な静電キャパシタでは、2つの金属の電極が誘電材料により分離され、電荷が電極間に蓄積される。電解キャパシタは、それらの1つが金属の電極の酸化物である絶縁誘電体でコーティングされる2つの金属の電極と、電解質に浸漬された紙スペーサとを備える。酸化物層により絶縁される金属電極がアノード(正電極)をもたらし、一方で、液体電解質および第2の金属の表面がカソード(負電極)をもたらす。
二重層キャパシタまたはスーパーキャパシタとも呼ばれる電気化学キャパシタは、通常は、各々が高表面積導電炭素でコーティングされ、電解質に浸漬され、スペーサにより分離される、2つの同一の金属電極からなる。電気化学キャパシタは、(典型的には数uF/cmの静電容量を有する)電解キャパシタ、および、(典型的にはnF/cmの程度の静電容量を有する)静電キャパシタの両方の静電容量より多くの桁数高い、(100F/gより大きな、または100μF/cmより大きな)静電容量を有する。これに対して、最大動作電圧、ならびに、充電および放電の速度は、電気化学キャパシタ(有機電解質を有するキャパシタの場合約3V)から、電解キャパシタおよび静電キャパシタ(数十から数百ボルト)まで相当に増大する。
キャパシタは、有する電力密度はバッテリと比較して非常に高いが、有するエネルギー密度ははるかに低い。キャパシタ内に蓄積される電気エネルギー(U)は、そのキャパシタの静電容量(C)と、そのキャパシタが動作することが可能である最大電圧(V)の2乗とに応じて変動し、関係式U=(1/2)CVにより与えられる。キャパシタ内に蓄積されるエネルギーを増大するためには、静電容量および動作電圧の両方が増大されなければならない。電気化学スーパーキャパシタは、有する静電容量は非常に高いが、有する動作電圧は低く、一方で静電誘電体キャパシタは、有する静電容量はより低いが、有する動作電圧ははるかに高い。
第1の態様によれば、本発明は、
誘電体コーティングを有する第1の構造化表面と、
誘電体コーティングを有する第2の構造化表面と、
第1の構造化表面と第2の構造化表面との間に配設されるセパレータと、
第1の構造化表面と第2の構造化表面との間に配設される電解質と
を備えるキャパシタを提供する。
本発明は、好ましくは構造化高表面積炭素材料から形成される、誘電体コーティングされた表面を用い、電気化学スーパーキャパシタの従来のようにして構成され、それゆえ、スーパーキャパシタの静電容量と同様であり、ただしより高い動作電圧によるものである静電容量を得るという点で、誘電体キャパシタおよび電気化学キャパシタのハイブリッドであるキャパシタに関する。その結果、ハイブリッドキャパシタ内に蓄積されるエネルギーが改善されることになる。この構成は、それが高表面積炭素表面を用い、絶縁酸化物は、電極の金属から形成される金属酸化物ではないので、電解キャパシタの構成とは異なる。このことによってこのキャパシタ構造体は、より堅牢に、および無極性になり得る。
構造化表面は、好ましくは導電構造体であり、好ましくはキャパシタの電極を備える。例えば構造化表面は、好ましくは3次元表面を有し、そのことによって、電荷移送のための電極の表面積が増大する。構造化ナノ表面の例は、多孔質炭素および活性炭素の皺立ったプレートである。
好ましくは、構造化表面は、ナノ構造化炭素表面である。ナノ構造化炭素表面は、カーボンナノチューブ(CNT)アレイを備えることが好ましい。
第2の態様によれば、本発明は、
a.誘電体コーティングを有する第1の構造化表面を設けるステップと、
b.誘電体コーティングを有する第2の構造化表面を設けるステップと、
c.第1の構造化表面と第2の構造化表面との間にセパレータを配設するステップと、
d.第1の構造化表面と第2の構造化表面との間に電解質を配設するステップと
を含む、キャパシタを製造する方法を提供する。
構造化表面は、炭素から形成されることが好ましい。好ましくは、構造化表面は、CNTのアレイである。アレイは、規則的なアレイまたはランダムなアレイであり得る。化学気相堆積(CVD)プロセスが、CNTを生成するために使用されることが好ましい。1つの例では、DCプラズマ強化CVD成長チャンバが、配向ナノチューブを生成するために使用された。
CNTの規則的なアレイの生成のために、基板が、指定された位置のみでのCNTの成長を促進するように、リソグラフィによって調製され得る。1つの好ましい成長プロセスは、以下の4つの段階からなる。
(a)ケイ素がニオブの30nmの厚さの層によってスパッタリングされる、(拡散バリアを形成する)基板前処理、
(b)ニッケル触媒の10nmの厚さの膜が基板上に堆積される、触媒堆積、
(c)基板が、触媒層を焼結するために、および、触媒のアイランドまたはナノスフェアを形成するために、700℃に加熱され10分間保たれる、触媒アニール(焼結)段階、ならびに、
(d)NHの200sccmの流れが導入され、カソード(基板)とアノードとの間のdc放電が始められ、バイアス電圧が−600Vに増大され、アセチレン(C)フィードガスの60sccmの流れが導入される、ナノチューブ成長。
1つの例では、総圧が3.8mbarで維持され、堆積が、安定した放電の中で10分間実行された。
好ましい実施形態では第1の電極は、構造体、好ましくはCNTのランダムなアレイを備える。そのようなランダムなアレイは、スーパーグロースとしてもまた知られており、規則的なアレイより著しく高い成長速度を有する。好ましくは、構造体の間隔対長さの比は、1:30の最大値を有する。構造体が所与の密度に対して長すぎる場合、誘電体コーティングは非コンフォーマルとなり、不連続な誘電体層が結果として生じる。加えて、構造体が長すぎ密度が高すぎる場合、構造体の上部に誘電体層および第2の電極層の両方を形成することは困難になり得る。
スーパーグロースの、またはランダムなCNTに関しては、好ましい成長プロセスは以下のようなものである。
(a)基板が、アルミニウムの2〜4nmの厚さの層でコーティングされる、
(b)鉄(Fe)触媒の2〜4nmの厚さの膜が、ベース圧力が10−5mbarである金属スパッタコーティング機器を使用して、アルミニウム層上にスパッタリングされる、および、
(c)コーティングされた基板が、10分間、NH環境内部で、600℃でアニールされ、次いで2sccmのCが、CNTを成長させるためにチャンバ内に導入される。
好ましくは、CNT成長段階は、10分以下である、好ましくは1分から10分の間である、さらにより好ましくは1分から3分の間である継続時間を有する。アルミニウム層はバリア層であり、アニールプロセスステップの間に薄いアルミナ層を形成するために使用される。この薄い酸化物層は、高い密度でCNTを成長させるために鉄ナノアイランドを形成する助力になる。基板は、任意の導電性基板であり得る。好ましくは、基板は、銅基板またはシリコン基板である。あるいは基板は、グラファイト基板であり得る。
ハイブリッドキャパシタは、結果として得られるキャパシタの望ましい特性を最大にする試みで、固体キャパシタ技術材料を液体電解質と組み合わせるキャパシタである。キャパシタの電圧ウィンドウが、従来の液体電解質キャパシタに対してのおよそ2.8Vから5V以上に増大され得るということが見出されている。
誘電体コーティングは、酸化ハフニウム、チタン酸バリウム、チタン酸バリウムストロンチウム、チタン酸ジルコン酸鉛、CaCuTi12、および二酸化チタンのうちの少なくとも1つから形成され得る。誘電体は、酸化ハフニウム、二酸化チタン、チタン酸バリウム(BTO)、またはチタン酸バリウムストロンチウムなどの高K(high k)金属酸化物であることが好ましい。そのようなコーティングは、原子層堆積(ALD)、プラズマ強化ALD(PEALD)、電気泳動堆積(EPD)、物理気相堆積(PVD)、パルスレーザ堆積(PLD)、有機金属化学気相堆積(MOCVD)、プラズマ強化化学気相堆積(PECVD)、およびスパッタコーティングを含む、ただしそれらに限定されない様々な方法により生成され得る。
加えて、BTOでコーティングされたCNT上にスピンコーティングされ得る、シアノレジン(CR−S)、Pvdf:TrfeまたはPVDF:TrFE:CFEなどのポリフッ化ビニリデン系ポリマーなど、比較的高いK値を有する様々なポリマー材料が、誘電体を形成するために使用され得る。ホスホン酸の自己組織化単分子膜コーティングもまた、漏れ電流をさらに低減するための追加的なコーティングとして機能し得る。
ALDプロセスは複数の堆積サイクルを含み得るものであり、各々の堆積サイクルは、(i)プロセスチャンバに前駆体を導入するステップ、(ii)パージガスを使用してプロセスチャンバをパージするステップ、(iii)プロセスチャンバに第2の前駆体として酸素源を導入するステップ、および、(iv)パージガスを使用してプロセスチャンバをパージするステップを含む。酸素源は、酸素およびオゾンのうちの1つであり得る。パージガスは、アルゴン、窒素、またはヘリウムであり得る。酸化ハフニウムを堆積させるために、アルキルアミノハフニウム化合物前駆体が使用され得る。二酸化チタンを堆積させるために、チタンイソプロポキシド前駆体が使用され得る。好ましくは各々の堆積サイクルは、好ましくは200から300℃の範囲内、例えば250℃である同じ温度で基板とともに遂行される。各々の堆積ステップは、好ましくは、少なくとも100の堆積サイクルを含む。例えばALD堆積は、25から50nmの範囲内の厚さを有する酸化ハフニウムコーティングを生成するために、200から400の堆積サイクルを含み得る。堆積サイクルがプラズマ強化堆積サイクルである場合、上記のステップ(iii)は、好ましくは、酸化前駆体がチャンバに供給される前に、例えばアルゴンから、または、アルゴンと、窒素、酸素、および水素などの1つもしくは複数の他のガスとの混合物から、プラズマを起こすステップもまた含む。
誘電体コーティングは2ステップALDプロセスで生成されることが好ましく、そのプロセスにより、コーティングの第1の層が堆積され、堆積プロセスの休止がそれに続き、次いで第2のコーティングの第2の層が堆積される。この2ステップコーティングは、プラズマのみの、ならびに、組み合わされたプラズマおよび熱の、両方のALDコーティング方法に適用可能である。休止は、基板上に堆積される材料のある種の特性に対して有利であることが見出されている、堆積プロセスでの中断または遅延である。遅延は、好ましくは、少なくとも1分の継続時間を有する。遅延は、好ましくは、第1の堆積ステップと第2の堆積ステップとの間の少なくとも1分の時間の期間の間、中に基板が設置されるプロセスチャンバにパージガスを供給することにより、堆積に導入される。各々の堆積ステップは、好ましくは、複数の連続した堆積サイクルを含む。堆積ステップの各々は、好ましくは、少なくとも50の堆積サイクルを含み、堆積ステップの少なくとも1つは、少なくとも100の堆積サイクルを含み得る。1つの例では、堆積ステップの各々は、200の連続した堆積サイクルを含む。堆積ステップ間の遅延の継続時間は、好ましくは、各々の堆積サイクルの継続時間より長い。各々の堆積サイクルの継続時間は、好ましくは、40から50秒の範囲内である。
堆積ステップ間の遅延は、堆積サイクルの選択された1つの終了でプロセスチャンバにパージガスが供給される間の、時間の期間の延長された継続時間により設けられ得る。この選択された堆積サイクルは、堆積プロセスの開始近くに、堆積サイクルの終了近くに、または、堆積プロセスの実質的に途中に存在するものであり得る。
電気泳動は、電場の影響のもとでの溶媒中の分散粒子の移動である。この現象は、荷電粒子で基板をコーティングするための電気泳動堆積(EPD)の形で利用される。EPDは、例えば以下の刊行物において説明されているように、より平坦な基板上にコーティングを堆積させるために使用されてきた。
Fabrication of Ferroelectric BaTiO3 Films by Electrophoretic Deposition, Jpn. J. Appl. Phys. 32 (1993), pp.4182-4185, Soichiro Okamura, Takeyo Tsukamoto, Nobuyuki Koura Preparation of a Monodispersed Suspension of Barium Titanate Nanoparticles and Electrophoretic Deposition of Thin Films, Journal of the American Ceramic Society, 87: pp.1578-1581(2004), doi: 10.1111/j.1551-2916.2004.01578.x、2., Li, J., Wu, Y. J., Tanaka, H., Yamamoto, T., Kuwabara, M. Low-temperature synthesis of barium titanate thin films by nanoparticles electrophoretic deposition, JOURNAL OF ELECTROCERAMICS, Volume 21, Numbers 1-4, pp.189-192, DOI: 10.1007/s10832-007-9106-6, Yong Jun Wu, Juan Li, Tomomi Koga, Makoto Kuwabara 誘電体コーティングを有する構造化表面は、 (a)コーティング材料のナノ粒子を用意するステップ、および、 (b)電気泳動堆積を使用して構造化表面上にナノ粒子を堆積させるステップにより生成され得る。
本発明者らは、EPDプロセスが、金属的な性質を呈する構造化表面とともに使用するのに有利であるということを立証しており、その理由は、他の技法、例えばスピンコーティングおよびディップコーティングとは異なり、EPDは、マイクロ構造化基板およびナノ構造化基板上にコンフォーマルコーティングを生成することが見出されているからというものである。
好ましい実施形態では、コーティング材料はチタン酸バリウム(BaTiO)である。好ましくはチタン酸バリウムの粒子サイズは、70〜150nmの範囲内である。より好ましくは、ナノ粒子は、直径が5〜20nmであるチタン酸バリウムナノ粒子である。
1つの実施形態ではナノ粒子は、構造化表面上に堆積される前に、超音波によって攪拌される。この超音波攪拌は、ナノ粒子をより小さな粒子に粉砕し、構造化表面のより良好な被覆、またはよりコンフォーマルなコーティングをもたらす。
好ましくは、誘電体コーティングは、第1の層および第2の層を備える。第1の層は、EPDを使用して構造化表面の1つの上に堆積されることが好ましい。好ましくは、誘電体コーティングは、チタン酸バリウムである。
好ましくは第2の層は、ALDを使用して堆積される。第2の層は、酸化ハフニウムであることが好ましい。あるいは第2の層は、PLDにより堆積される場合がある。この場合では第2の層は、チタン酸バリウムであり得る。
電解質は、KOH、塩酸、もしくは硫酸などの水性電解質、または、炭酸プロピレンもしくはアセトニトリルなどの有機溶媒中のテトラフルオロホウ酸テトラエチルアンモニウム塩などの有機電解質であり得る。好ましくは、動作電圧は、少なくとも5Vである。
次に本発明は、付随する図面を参照して例によって説明されることになる。
本発明によるキャパシタを概略的に例示する図である。 構造化金属表面が配向性の、またはランダムなナノチューブのアレイであるときの、キャパシタ構造体の断面を概略的に例示する図である。 CVDにより成長させられたランダムなナノチューブの走査電子画像を示す図である。 図3aに示されたのと同じナノチューブであって、そのナノチューブが、ALDプロセスを使用して酸化アルミニウム誘電体でコーティングされた後のナノチューブを示す図である。 CVDにより成長させられたランダムなナノチューブの走査電子画像を示す図である。 図3cに示されたのと同じナノチューブであって、そのナノチューブが、ALDプロセスを使用して酸化アルミニウム誘電体でコーティングされた後のナノチューブを示す図である。 CVDにより成長させられたランダムなナノチューブの走査電子画像を示す図である。 図3eに示されたのと同じナノチューブであって、そのナノチューブが、ALDプロセスを使用して酸化アルミニウム誘電体でコーティングされた後のナノチューブを示す図である。 ランダムなナノチューブ上に酸化アルミニウムの異なる厚さで製作されたハイブリッドスーパーキャパシタのインピーダンス分光を例示するグラフである。 コーティングされないCNTに対するサイクリックボルタメトリグラフである。 酸化アルミニウムでコーティングされたCNTに対するサイクリックボルタメトリグラフである。 コーティングされないCNT、および酸化アルミニウムでコーティングされたCNTを備えるキャパシタに対する静電容量保持率を示すグラフである。
図1は、第1の表面上に堆積された誘電体層120を各々が有する、2つの実質的に平行な電極110を有するハイブリッドキャパシタ100を概略的に例示する。キャパシタが組み立てられるとき、第1の表面は相互に面する。電解質130は、(示されないが、電解質130の2つの領域間に設置される)セパレータ140の両方の側部上に設けられる。
図2は、金属薄膜210上に形成され誘電体230によりコンフォーマルにコーティングされたカーボンナノチューブ220の2つの電極、および、電解質に浸漬されたセパレータ240を有する、ハイブリッドキャパシタ200を概略的に例示する。例としてセパレータはセルロースであり、電解質は炭酸プロピレン中のTEABF4である。
図3a、図3c、および図3eは、直径が10〜20nmであり、長さが15μmであり、銅箔上に成長させられる、3分間、570℃でCVDにより成長させられたマルチウォールナノチューブ300の走査電子画像である。
これらのカーボンナノチューブはちぢれており、もつれた構造体を形成する。これらのナノチューブを成長させる方法は、CNTの規則的および直線的なアレイの場合よりはるかに高速であり、スーパーグロースと呼ばれる。ちぢれた、またはスーパーグロースのCNTは不規則であるが、スーパーグロースのCNTは、はるかに高い表面積を有し、個々のCNT間には、電解質が入り込むための多数の余地が存在する。
スーパーグロースの、またはランダムなCNTに関しては、成長プロセスは以下のようなものである。
(a)基板が、ほぼ2〜4nmの厚さであるアルミニウムの層でコーティングされる、
(b)鉄(Fe)触媒の、ほぼ2〜4nmの厚さの薄膜が、ベース圧力が10−5mbarである金属スパッタコーティング機器を使用して、アルミニウム上にスパッタリングされる、
(c)コーティングされた基板が、10分間、198sccmのNH環境内で、600℃でアニールされ、次いで2sccmのCが、CNTを成長させるためにチャンバ内に導入される。
CNT成長段階は、好ましくは最高10分の継続時間であり、より好ましくは継続時間が1分から10分の間であり、さらにより好ましくは継続時間が1分から3分の間である。アルミニウムはバリア層であり、アニールプロセスステップの間に薄いアルミナ層を形成するために使用され、この薄い酸化物層は、高い密度でCNTを成長させるために鉄ナノアイランドを形成する一助になる。好ましくは、基板は、銅基板またはシリコン基板である。
アニール段階は、最高650℃の温度で実行され得るものであり、システム圧力は、好ましくは、およそ25mbarである。
図3b、図3d、および図3fは、コンフォーマルに誘電体コーティングされたナノ構造化電極310を形成するために、原子層堆積プロセスにより酸化アルミニウムでコーティングされた、スーパーグロースのマルチウォールナノチューブ300を示す。各々のALDプロセスは、Cambridge Nanotech Fiji 200プラズマALDシステムを使用して行われた。基板は、堆積プロセスの間は0.3から0.5mbarの範囲内の圧力に排気された、ALDシステムのプロセスチャンバ内に設置され、基板は、堆積プロセスの間はおよそ200〜250℃の温度に保たれた。アルゴンが、パージガスとして選択され、最初の堆積サイクルの始まりの前に少なくとも30秒の期間の間、200sccmの流量でチャンバに供給された。
使用されたALDプロセスは、前駆体としてトリメチルアルミニウム(TMA)および水を用いた熱ALDプロセスであるとともに、プロセス温度は200℃であった。アルミナの異なる厚さが、堆積サイクルの数を変動させることにより生成された。第1の堆積プロセスは、100の堆積サイクルを含み、酸化アルミニウムの10nmの厚さの層を生成した。第2の堆積プロセスは、200の堆積サイクルを含み、20nmの厚さの酸化アルミニウムコーティングを生成し、そのことによって、50nmの直径の誘電体コーティングされたナノチューブ310が結果として生じた。第3の堆積プロセスは、400の堆積サイクルを含み、40nmの厚さの酸化アルミニウムコーティングを生成し、そのことによって、90nmの直径の誘電体コーティングされたナノチューブ320が結果として生じた。コーティングされないCNT300の直径は、約10nmである。
あるいは誘電体コーティングは、EPDにより生成されるチタン酸バリウムであり得る。第1の技法ではBTOナノ粒子が、水酸化バリウム八水和物およびチタン(IV)テトライソプロポキシドを使用して、ソルボサーマルによって、または水熱によって調製された。結果として生じたナノ粒子は、直径が5〜20nmであり、立方晶ペロブスカイト相の結晶性を伴うものであった。反応物は以下のようなものであった。
Ba(OH)+8HO+Ti{OCH(CH(チタンイソプロポキシド)+エタノール(60ml)
溶液は、磁気攪拌のもとで4時間の間、50℃で水槽内に配置された。次いで反応の生成物が、ギ酸、エタノール、および最終的には脱イオン水で洗浄され、引き続き真空内で6時間の間、50℃で乾燥された。
第2の技法では、形状が全体的に球形である、(Sigma−Aldrichから入手可能な)市販で入手可能な75〜150nmのBTOナノ粒子が高パワーの超音波処理を受け、その超音波処理は粒子を、(4nm〜25nmの範囲で)ほぼ20nmに粉砕した。より大きな粒子は、6時間から12時間の間、200Wから250Wで、チップソニケータを使用して水中に懸濁させられた。チップソニケータは、超音波槽よりもその先端で、単位体積あたりで大きなパワーをもたらす。
この技法は普通、水は粒子を溶解するので、水ではなく、粒子を分散させるために有機溶媒を使用して実行される。これに対して、粒子が水中に溶解すると、チップソニケータの先端で高エネルギーの入力のために再結晶化して、BTOの鋭い断片を生成するということが考えられる。粒子の自然循環が、チップソニケータによって懸濁液内部に存在し、そのため、材料の一定の流動が先端の付近でもたらされる。音波処理プロセスが完了した後、懸濁液は、より大きな粒子が懸濁液の下部に沈降することを可能にするために、少なくとも1時間の間放置された。
次いでこれらのナノ粒子は、EPDを使用して規則的なCNT上にコーティングされた。より小さな粒子を使用して行われたコーティングは、成長するのにより多くの時間、例えばおよそ2時間を必要とした。より小さな粒子は、粒子サイズ(およそ5〜20nm)が全体的にCNTの直径より小さいので、CNT上でのよりコンフォーマルなコーティングをもたらす。しかしながら、コーティングされたCNTは依然として漏電しやすい状態であったが、このことは、コーティングが連続的でないということによるものであると、および、ナノ粒子はシリコン基板上よりナノチューブ上ではるかに良好に堆積し、そのことによって2つの電極間の漏れ経路が発生するからと考察される。キャパシタが良好で完全な絶縁層を有することは重要であり、そうでない場合、蓄積された電荷が経時的に失われることになる。この問題を軽減するために、第2のコーティング材料が設けられた。この第2のコーティングは、好ましくは、高K値、すなわち高誘電率を伴う材料である。
第2のコーティング材料として使用するのに適している化合物の例は、酸化ハフニウム、二酸化チタン、チタン酸バリウム、およびチタン酸バリウムストロンチウムなどの高K金属酸化物コーティングを含み、ただしそれらに限定されず、それらの化合物は、コンフォーマルな原子層堆積(ALD)、プラズマ強化ALD(PEALD)、物理気相堆積(PVD)、パルスレーザ堆積(PLD)、有機金属化学気相堆積(MOCVD)、プラズマ強化化学気相堆積(PECVD)、およびスパッタコーティングを含む、ただしそれらに限定されない様々な方法によりコーティングされ得る。加えて、BTOでコーティングされたCNT上にスピンコーティングされ得る、シアノレジン(CR−S)、Pvdf:Trfe、PVDF:TrFE:CFEのようなポリフッ化ビニリデン系ポリマーなど、比較的高いK値を有する様々なポリマー材料が利用可能である。ホスホン酸の自己組織化単分子膜コーティングもまた、漏れ電流をさらに低減するための追加的なコーティングとして機能し得る。
酸化ハフニウムコーティングを形成するための好ましいPEALDプロセスは、一連の堆積サイクルを含む。各々の堆積サイクルは、堆積チャンバへのハフニウム前駆体の供給によって始まる。ハフニウム前駆体は、テトラキスジメチルアミノハフニウム(TDMAHf、Hf(N(CH)であった。ハフニウム前駆体は、0.25秒の期間の間パージガスに付加された。チャンバへのハフニウム前駆体の導入に続いて、パージガスが、いかなる過剰なハフニウム前駆体もチャンバから除去するために、さらに5秒間供給された。次いでプラズマが、アルゴンパージガスを使用して起こされた。プラズマパワーレベルは、300Wであった。プラズマが5秒の期間の間安定させられた後、酸素が、20秒の継続時間の間、20sccmの流量でプラズマに供給された。プラズマパワーがオフに切り替えられ、酸素の流れが停止し、アルゴンパージガスが、いかなる過剰な酸化前駆体もチャンバから除去するために、および堆積サイクルを終結させるために、さらに5秒間供給された。
堆積プロセスは、第1の堆積ステップ、第2の堆積ステップ、および、第1の堆積ステップと第2の堆積ステップとの間の遅延を含む、不連続なPEALDプロセスであった。第1の堆積ステップは、200の連続した堆積サイクルを含むものであったが、一方で、1つの堆積サイクルの終了と次の堆積サイクルの開始との間の遅延は実質的になかった。第2の堆積ステップは、さらなる200の連続した堆積サイクルを含むものであったが、一方で、1つの堆積サイクルの終了と次の堆積サイクルの開始との間の遅延は実質的になかった。第1の堆積ステップの最終の堆積サイクルと、第2の堆積ステップの最初の堆積サイクルとの間の遅延は、1分から60分の範囲内であった。遅延の間、チャンバ内の圧力は0.3から0.5mbarの範囲内で維持され、基板はおよそ250℃の温度で保たれ、アルゴンパージガスが20sccmでチャンバに連続的に運ばれた。堆積ステップ間のこの遅延もまた、選択された堆積サイクルの終了でチャンバにパージガスが供給される間の、時間の期間の増大であるとみなされ得る。両方の堆積プロセスにより生成されたコーティングの厚さは、およそ36nmであった。
二酸化チタンコーティングもまた、第1の堆積ステップ、第2の堆積ステップ、および、第1の堆積ステップと第2の堆積ステップとの間の遅延を含む、不連続なPEALDプロセスを使用して、CNTのBTOでコーティングされた規則的なアレイ上に堆積された。第1の堆積ステップは、200の連続した堆積サイクルを含むものであったが、一方で、1つの堆積サイクルの終了と次の堆積サイクルの開始との間の遅延は実質的になかった。第2の堆積ステップは、さらなる200の連続した堆積サイクルを含むものであったが、一方で、1つの堆積サイクルの終了と次の堆積サイクルの開始との間の遅延は実質的になかった。第1の堆積ステップの最終の堆積サイクルと、第2の堆積ステップの最初の堆積サイクルとの間の遅延は、10分であった。遅延の間、チャンバ内の圧力は0.3から0.5mbarの範囲内で維持され、基板はおよそ250℃の温度で保たれ、アルゴンパージガスが20sccmでチャンバに運ばれた。
チタン酸バリウムの第2のコーティングが、PLDを使用して生成された。チタン酸バリウム膜は、700℃で、50mTorrの酸素分圧、および5Hzの繰返し数での1400のレーザパルスで堆積された。KrFエキシマUVレーザとともに注文製の真空堆積チャンバが使用された。1〜2J/cmのレーザエネルギー、および0.06〜0.2mbar(50〜150mTorr)の間の酸素雰囲気が、異なる繰返し数でKrFエキシマレーザ(λ=240nm)を利用してマルチウォールCNT上のペロブスカイト酸化物膜を最適化するために用いられた。ペロブスカイト膜の堆積の後でチャンバは、400mbar(300Torr)での酸素雰囲気で、室温に10度/分の速度で冷却された。生成されたPLDコーティングは、60nmの厚さであった。
図4は、図2に例示されたようなハイブリッドスーパーキャパシタに対するインピーダンススペクトルのプロットを示す。プロット310は、酸化アルミニウムの20nmの厚さの層でコーティングされたCNTによって形成されたスーパーキャパシタにより生み出されたものであり、プロット320は、酸化アルミニウムの40nmの厚さの層でコーティングされたCNTによって形成されたスーパーキャパシタにより生み出されたものである。比較として、プロット300は、コーティングされないCNTによって形成されたスーパーキャパシタにより生み出されたものである。図4に示されるように、コーティングされないCNTによって形成されたスーパーキャパシタが、最も高い比静電容量を有していた。他のスーパーキャパシタに関しては、比静電容量は、アルミナコーティングの厚さの増大とともに減少した。このことは、静電容量は二重層の厚さに反比例するので、予測されるべきことである。ハイブリッドキャパシタの静電容量は、コーティングされないCNT電気化学スーパーキャパシタの桁の範囲内であり、従来の誘電体キャパシタよりはるかに高い。
図5aは、コーティングされないCNTを使用して作製された規則的なスーパーキャパシタに対するサイクリックボルタメトリグラフを示す。グラフは、CNTと電解質との間の相互作用が存在し、そのことが、予測されるように3.5Vを超えると電解質の絶縁破壊を引き起こすということを示す。
図5bは、40nmのアルミナでコーティングされたCNTを使用して作製されたハイブリッドスーパーキャパシタに対するサイクリックボルタメトリグラフを示す。アルミナが、CNTおよび電解質を分離する誘電体層をもたらすので、CNTと電解質との間の相互作用は存在せず、図5bで確認されるように、ハイブリッドスーパーキャパシタは5Vでも機能する。
電圧が炭素電極間に印加されるとき、電圧降下のある程度の一部分が誘電体にわたって存在し、残りの一部分が誘電体と電解質との間にある。いかなる電気化学キャパシタの動作電圧も、電解質/炭素電極界面にわたっての絶縁破壊電圧を上回ることはあり得ない。KOHまたはHSOのような標準的な水性電解質に対する動作電圧は、通常は1Vであり、電解質にわたっての最大電圧降下は、炭酸プロピレン中のテトラフルオロホウ酸テトラエチルアンモニウム(TEABF4)塩のような有機電解質では、大まかに3Vを上回ることはあり得ない。ハイブリッドスーパーキャパシタの場合では、3Vより高い電圧が電極の両端間に印加されるとき、3Vより高い電圧の一部分が誘電体にわたってあり、そのことにより、ハイブリッドキャパシタの全体としての電圧動作が増大する。ハイブリッドキャパシタが動作することが可能である最大電圧は、炭素表面上の誘電体コーティングの厚さによって決まることになる。絶縁破壊の強さが3MV/cmである40nmのアルミナ膜に関しては、最大電圧動作はおよそ12Vとなる。動作電圧が4倍に増大することによって、結果として、ハイブリッドキャパシタ内に蓄積されるエネルギー密度が16倍に増大する。
図6は、4vで実行された、コーティングされないCNT610を備えるキャパシタ、および、本発明による酸化アルミニウムでコーティングされたCNTから形成されたハイブリッドキャパシタ600に対する静電容量保持率のグラフを示す。ハイブリッドキャパシタ600は、コーティングされないCNT610から形成されたキャパシタと比較すると、キャパシタが充電および放電によってサイクルで動作させられる際に、改善された静電容量保持率を示す。

Claims (15)

  1. 誘電体コーティングを有する第1の構造化表面と、
    誘電体コーティングを有する第2の構造化表面と、
    前記第1の構造化表面と前記第2の構造化表面との間に設けられるセパレータと、
    前記第1の構造化表面と前記第2の構造化表面との間に設けられる電解質と
    を備えるキャパシタ。
  2. 前記構造化表面が、炭素から形成される、請求項1に記載のキャパシタ。
  3. 前記構造化表面が、カーボンナノチューブのランダムなアレイである、請求項1または2に記載のキャパシタ。
  4. 前記カーボンナノチューブの間隔対長さの比が、1:30以下である、請求項3に記載のキャパシタ。
  5. 前記誘電体コーティングが、酸化ハフニウム、チタン酸バリウム、チタン酸バリウムストロンチウム、チタン酸ジルコン酸鉛、CaCuTi12、および二酸化チタンのうちの少なくとも1つから形成される、請求項1から4のいずれかに記載のキャパシタ。
  6. 前記電解質が、有機または水性である、請求項1から5のいずれかに記載のキャパシタ。
  7. 動作電圧が、少なくとも5Vである、請求項1から6のいずれかに記載のキャパシタ。
  8. a.誘電体コーティングを有する第1の構造化表面を設けるステップと、
    b.誘電体コーティングを有する第2の構造化表面を設けるステップと、
    c.前記第1の構造化表面と前記第2の構造化表面との間にセパレータを配設するステップと、
    d.前記第1の構造化表面と前記第2の構造化表面との間に電解質を配設するステップと
    を含む、キャパシタを製造する方法。
  9. 前記誘電体コーティングが、第1の層および第2の層を備える、請求項8に記載の方法。
  10. 前記第1の層が、電気泳動堆積を使用して前記構造化表面の1つの上に堆積される、請求項9に記載の方法。
  11. 前記誘電体コーティングが、チタン酸バリウムから形成される、請求項10に記載の方法。
  12. 前記第2の層が、原子層堆積プロセスを使用して堆積される、請求項8から11のいずれかに記載の方法。
  13. 前記第2の層が、酸化ハフニウムから形成される、請求項12に記載の方法。
  14. 前記第2の層が、パルスレーザ堆積プロセスにより堆積される、請求項8から11のいずれかに記載の方法。
  15. 前記第2の層が、チタン酸バリウムから形成される、請求項14に記載の方法。
JP2015509484A 2012-05-03 2013-04-25 ハイブリッドキャパシタ Pending JP2015519742A (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB1207763.2 2012-05-03
GB1207763.2A GB2501871B8 (en) 2012-05-03 2012-05-03 Hybrid Capacitor
PCT/GB2013/051050 WO2013164578A1 (en) 2012-05-03 2013-04-25 Hybrid capacitor

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2015519742A true JP2015519742A (ja) 2015-07-09

Family

ID=46330746

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015509484A Pending JP2015519742A (ja) 2012-05-03 2013-04-25 ハイブリッドキャパシタ

Country Status (8)

Country Link
US (1) US20150131205A1 (ja)
EP (1) EP2845210A1 (ja)
JP (1) JP2015519742A (ja)
KR (1) KR20140139585A (ja)
CN (1) CN104272411A (ja)
GB (1) GB2501871B8 (ja)
TW (1) TWI604481B (ja)
WO (1) WO2013164578A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2021059569A1 (ja) * 2019-09-25 2021-04-01
US11955291B2 (en) 2019-10-24 2024-04-09 Murata Manufacturing Co., Ltd. Composite capacitor

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101889321A (zh) 2007-10-05 2010-11-17 D·卡弗 高电容率低漏电的电容器和能量存储器件及其形成方法
US8940850B2 (en) 2012-08-30 2015-01-27 Carver Scientific, Inc. Energy storage device
US9011627B2 (en) 2007-10-05 2015-04-21 Carver Scientific, Inc. Method of manufacturing high permittivity low leakage capacitor and energy storing device
US10199165B2 (en) 2012-08-30 2019-02-05 Carver Scientific, Inc. Energy storage device
US9805869B2 (en) 2012-11-07 2017-10-31 Carver Scientific, Inc. High energy density electrostatic capacitor
US9640332B2 (en) * 2013-12-20 2017-05-02 Intel Corporation Hybrid electrochemical capacitor
JP6031146B2 (ja) * 2014-03-26 2016-11-24 ツィンファ ユニバーシティ ナノチューブフィルム及びその製造方法
TWI706411B (zh) 2015-11-06 2020-10-01 美商卡福科學公司 電熵記憶體元件
CA3044111A1 (en) 2016-12-02 2018-06-07 Carver Scientific, Inc. Memory device and capacitive energy storage device
KR20210073514A (ko) * 2018-10-18 2021-06-18 스몰텍 에이비 이산 금속 절연체 금속(mim) 에너지 저장 구성 요소 및 제조 방법
EP3796351B1 (en) * 2019-09-17 2021-11-03 Murata Manufacturing Co., Ltd. Low defect high capacitance thin solid electrolyte capacitor and method of fabrication thereof
CN113555225B (zh) * 2021-07-22 2023-04-07 广州巨湾技研有限公司 一种管式多层结构超级电容器及其制备方法

Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000286161A (ja) * 1999-01-26 2000-10-13 Seiko Instruments Inc 電気二重層キャパシタ
JP2001307951A (ja) * 2000-04-12 2001-11-02 Young Hee Lee スーパーキャパシタ及びその製造方法
JP2003234254A (ja) * 2002-02-07 2003-08-22 Hitachi Zosen Corp カーボンナノチューブを用いた電気二重層キャパシタ
JP2005129566A (ja) * 2003-10-21 2005-05-19 Toyota Motor Corp キャパシタ
JP2007081384A (ja) * 2005-08-19 2007-03-29 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 電気化学キャパシタ及びそれに用いる電極材料
JP2007096029A (ja) * 2005-09-29 2007-04-12 Equos Research Co Ltd キャパシタ用電極材料の製造方法、キャパシタ用電極及びキャパシタ
JP2009021123A (ja) * 2007-07-12 2009-01-29 Hitachi Zosen Corp 光電変換素子およびその製造方法
WO2011038824A1 (de) * 2009-10-01 2011-04-07 Bayerische Motoren Werke Aktiengesellschaft Kraftfahrzeug
WO2011063539A2 (en) * 2009-11-30 2011-06-03 Oc Oerlikon Balzers Ag Electronic battery with nano-composite
US20110149473A1 (en) * 2009-12-21 2011-06-23 Eilertsen Thor E Energy storage in edlcs by utilizing a dielectric layer
WO2011123135A1 (en) * 2010-04-02 2011-10-06 Intel Corporation Charge storage device, method of making same, method of making an electrically conductive structure for same, mobile electronic device using same, and microelectronic device containing same
JP2011246317A (ja) * 2010-05-28 2011-12-08 Ulvac Japan Ltd カーボンナノチューブの形成方法及びカーボンナノチューブの形成装置

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100947064B1 (ko) * 2003-08-13 2010-03-10 삼성전자주식회사 반도체 장치의 커패시터 및 이를 구비하는 메모리 장치
JP2005183443A (ja) * 2003-12-16 2005-07-07 Hitachi Zosen Corp キャパシタ組込みプリント基板
US7428138B2 (en) * 2005-10-06 2008-09-23 Intel Corporation Forming carbon nanotube capacitors
JP4743520B2 (ja) * 2006-03-02 2011-08-10 三洋電機株式会社 カーボンナノチューブ電極及びその製造方法
JP5305569B2 (ja) * 2006-06-29 2013-10-02 三洋電機株式会社 電解コンデンサの製造方法および電解コンデンサ
KR100931095B1 (ko) * 2008-03-06 2009-12-10 현대자동차주식회사 금속산화물을 양극 및 음극에 적용한 비대칭 하이브리드커패시터
KR101614449B1 (ko) * 2009-01-22 2016-04-21 삼성전자주식회사 전이 금속/탄소 나노튜브 복합체 및 이의 제조 방법
US8259432B2 (en) * 2009-02-02 2012-09-04 Space Charge, LLC Capacitors using preformed dielectric
US8927156B2 (en) * 2009-02-19 2015-01-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Power storage device
KR101032342B1 (ko) * 2009-04-24 2011-05-02 삼화콘덴서공업주식회사 임베디드 커패시터 및 이를 이용한 임베디드 커패시터 시트, 및 그의 제조방법
US8603195B2 (en) * 2009-08-24 2013-12-10 Applied Materials, Inc. 3D approach on battery and supercapitor fabrication by initiation chemical vapor deposition techniques
US9209464B2 (en) * 2009-09-24 2015-12-08 Corning Incorporated Current collectors having textured coating
CN102714099A (zh) * 2009-11-30 2012-10-03 Oc欧瑞康巴尔斯公司 电子电池应用中的核-壳纳米颗粒
US8475961B2 (en) * 2009-12-18 2013-07-02 Molecular Rebar Design, Llc High performance energy storage and collection devices containing exfoliated microtubules and spatially controlled attached nanoscale particles and layers
US20110205688A1 (en) * 2010-02-19 2011-08-25 Nthdegree Technologies Worldwide Inc. Multilayer Carbon Nanotube Capacitor
KR101652404B1 (ko) * 2010-03-24 2016-08-30 삼성전자주식회사 플렉시블 수퍼 커패시터 및 그 제조방법과 플렉시블 수퍼 커패시터를 포함하는 장치
WO2011139174A1 (ru) * 2010-05-04 2011-11-10 Kogan Andrey Yakovlevich Устройство конденсатора двойного слоя или ультраконденсатора
US8780526B2 (en) * 2010-06-15 2014-07-15 Applied Nanostructured Solutions, Llc Electrical devices containing carbon nanotube-infused fibers and methods for production thereof

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000286161A (ja) * 1999-01-26 2000-10-13 Seiko Instruments Inc 電気二重層キャパシタ
JP2001307951A (ja) * 2000-04-12 2001-11-02 Young Hee Lee スーパーキャパシタ及びその製造方法
JP2003234254A (ja) * 2002-02-07 2003-08-22 Hitachi Zosen Corp カーボンナノチューブを用いた電気二重層キャパシタ
JP2005129566A (ja) * 2003-10-21 2005-05-19 Toyota Motor Corp キャパシタ
JP2007081384A (ja) * 2005-08-19 2007-03-29 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 電気化学キャパシタ及びそれに用いる電極材料
JP2007096029A (ja) * 2005-09-29 2007-04-12 Equos Research Co Ltd キャパシタ用電極材料の製造方法、キャパシタ用電極及びキャパシタ
JP2009021123A (ja) * 2007-07-12 2009-01-29 Hitachi Zosen Corp 光電変換素子およびその製造方法
WO2011038824A1 (de) * 2009-10-01 2011-04-07 Bayerische Motoren Werke Aktiengesellschaft Kraftfahrzeug
WO2011063539A2 (en) * 2009-11-30 2011-06-03 Oc Oerlikon Balzers Ag Electronic battery with nano-composite
US20110149473A1 (en) * 2009-12-21 2011-06-23 Eilertsen Thor E Energy storage in edlcs by utilizing a dielectric layer
WO2011123135A1 (en) * 2010-04-02 2011-10-06 Intel Corporation Charge storage device, method of making same, method of making an electrically conductive structure for same, mobile electronic device using same, and microelectronic device containing same
JP2011246317A (ja) * 2010-05-28 2011-12-08 Ulvac Japan Ltd カーボンナノチューブの形成方法及びカーボンナノチューブの形成装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2021059569A1 (ja) * 2019-09-25 2021-04-01
WO2021059569A1 (ja) * 2019-09-25 2021-04-01 株式会社村田製作所 キャパシタおよびその製造方法
JP7151907B2 (ja) 2019-09-25 2022-10-12 株式会社村田製作所 キャパシタおよびその製造方法
US11749463B2 (en) 2019-09-25 2023-09-05 Murata Manufacturing Co., Ltd. Capacitor and method for manufacturing the same
US11955291B2 (en) 2019-10-24 2024-04-09 Murata Manufacturing Co., Ltd. Composite capacitor

Also Published As

Publication number Publication date
GB2501871A8 (en) 2022-08-17
GB2501871A (en) 2013-11-13
EP2845210A1 (en) 2015-03-11
KR20140139585A (ko) 2014-12-05
GB201207763D0 (en) 2012-06-13
GB2501871B8 (en) 2022-08-17
CN104272411A (zh) 2015-01-07
TWI604481B (zh) 2017-11-01
GB2501871B (en) 2016-10-05
WO2013164578A1 (en) 2013-11-07
TW201401309A (zh) 2014-01-01
US20150131205A1 (en) 2015-05-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI604481B (zh) 混合式電容器
JP6046803B2 (ja) コーティングされた構造化表面
US10777366B2 (en) Method of increasing an energy density and an achievable power output of an energy storage device
JP4973229B2 (ja) 電解コンデンサおよびその製造方法
CN110574132B (zh) 用于片上超级电容器的蚀刻的硅上的沉积的碳膜
Thulasi et al. Ceria deposited titania nanotubes for high performance supercapacitors
Chen et al. The microstructure and capacitance characterizations of anodic titanium based alloy oxide nanotube
WO2013164576A1 (en) Dielectric capacitor
Assaud et al. Atomic layer deposition of HfO 2 for integration into three-dimensional metal–insulator–metal devices
JP2012231112A (ja) セラミック電子部品用多層薄膜フィルム及びその製造方法
US20140002956A1 (en) High energy density electrochemical capacitor
JP5471738B2 (ja) 電解キャパシタ及びその製造方法
WO2009101806A1 (ja) 電気二重層キャパシタおよびその製造方法
TWI443696B (zh) 鋁電極之製造方法、其製備之鋁電極以及含該鋁電極之鋁電容器
KR101218514B1 (ko) 양극산화를 이용한 니오븀 산화물 나노파우더 제조방법
JP2015099871A (ja) コンデンサ
CN116721873A (zh) 一种复合腐蚀铝箔及其制备方法和应用
Halder et al. Microstructural and Electrical Characterization of (Ba, Sr) TiO3 Thin Films Prepared by a New Carboxylate Free Chemical Solution Deposition (CSD) route
Adarmanabadi et al. Preparation of thin PbTiO3 Nanotubes by the Electrophoretic Deposition Method
KR20130023657A (ko) 아세트산납이 내부에 충진된 이산화티탄 나노튜브, 이산화티탄 나노튜브 내부에 아세트산납을 충진하는 방법 및 강유전체 나노튜브 소자 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20151109

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20151111

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20160204

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160509

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20160714

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160928

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20170117

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170517

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20170605

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20170707