JP2015227854A - 高計数率用パルス型放射線検出器 - Google Patents
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Abstract
Description
。
2 放射線検出素子
3 バイアス電圧電源
4 チャージアンプ
5 シェイピングアンプ
6 シェイピングアンプ微分段
7 シェイピングアンプ積分段
8 波高検出部
9 回路状態推定演算部
10 基準電圧出力部
11 チャージアンプ波形
12 チャージアンプ増分
21 シェイピングアンプ波形
22 シェイピングアンプ波高
23 初期波高
24 パイルアップ
25 アンダーシュート
31 トリガレベル
32 ベースラインシフトなしスペクトル
33 負のベースラインシフト
34 ベースラインシフトありスペクトル
35 低エネルギーイベントの損失
41 前回イベント
42 今回イベント
43 検出時刻差
44 未処理波高
45 前回イベント直後のチャージアンプ蓄積推定量
46 チャージアンプ減衰計算
47 今回イベント直前のチャージアンプ蓄積推定量
48 チャージアンプ増分推定量
49 今回イベント直後のチャージアンプ蓄積推定量
50 今回イベントベースラインシフト推定量
51 波高検出部でもちいる基準電位
55 ベースラインシフト推定量による補正後波高
71 前回パルス直後シェイピングアンプ出力推定量
72 今回パルス直前シェイピングアンプ出力推定量
73 パルス直前ベースライン高さによる補正波高
74 正しい波高例
75 エンプティパルス応答
76 ピーキング時間
77 エンプティパルスのピーク時刻値推定量
78 エンプティパルスのピーク時刻値推定量による補正波高
101 無照射領域
102 照射領域
103 放射線によるパルス
104 ベースラインシフトの多パルスに対する応答
105 正しいベースラインシフト量
106 過去数パルスの波高および検出時刻差から得たシフト量(補正不足)
107 照射開始からNパルス入射時点でのシフト量
Claims (4)
- 放射線による付与エネルギー量に応じた電荷キャリアを出力する放射線検出素子と
前記放射線検出素子から得た入力電荷量に応じた電圧信号を出力するチャージアンプと
前記チャージアンプ出力の信号増分を短時間パルスに整形するシェイピングアンプ部と
トリガ処理によりシェイピングアンプ波高とトリガタイミングを得る波高検出部と
任意の検出系状態量推定値を保持する機構と
前記波高検出部で得たトリガタイミングおよびシェイピングアンプ波高と現在の検出系状態量推定値から検出系状態量推定値を更新する回路応答模擬演算部と
検出系状態量推定値を用いて,トリガレベル調整およびシェイピングアンプ波高補正を行う波高補正部
を持つことを特徴とした放射線検出装置。
- 前記検出系状態量推定値として
チャージアンプ蓄積電荷量を持つことを特徴とした請求項1記載の放射線検出装置。
- 前記検出系状態量推定値として
チャージアンプ蓄積電荷量,
シェイピングアンプ微分部の容量両端間電位,
シェイピングアンプ積分部の出力電位,
を持つことを特徴とした請求項1記載の放射線検出装置。
- 前記検出系状態量推定値として
チャージアンプ蓄積電荷量,
シェイピングアンプ微分部の容量両端間電位,
シェイピングアンプ積分部の出力電位,
半導体が持つ複数の放出時定数ごとのトラップ量
を持つことを特徴とした請求項1記載の放射線検出装置。
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JP2014114492A JP6381973B2 (ja) | 2014-06-03 | 2014-06-03 | 高計数率用パルス型放射線検出器 |
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JP2005049144A (ja) * | 2003-07-30 | 2005-02-24 | Toshiba Corp | 放射線計測方法 |
JP2007163516A (ja) * | 1995-08-14 | 2007-06-28 | Warburton William K | デジタルベースの高速x線スペクトロメータについての方法と装置 |
WO2012029496A1 (ja) * | 2010-09-02 | 2012-03-08 | 株式会社日立製作所 | 放射線計測装置 |
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- 2014-06-03 JP JP2014114492A patent/JP6381973B2/ja not_active Expired - Fee Related
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2015
- 2015-06-01 WO PCT/JP2015/065728 patent/WO2015186650A1/ja active Application Filing
Patent Citations (3)
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