JP6814235B2 - X線画像情報の画像補正方法及び装置 - Google Patents
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Description
ベースライン回復器は基本的にはフィードバックループと考えられる。このフィードバックループは、ゆっくり変化する永久電流に起因すると考えられるX線検出器ピクセルの出力の部分を取り除く。
各シナリオI、IIは、それぞれ、3つの到着光子a、b、cとe、f、gのパルストレインを示し、各々は専用のエネルギーレベルを有し、これを決定すべきである。特に、さらに説明するため、到着光子の各光子エネルギーのうち、aとe、bとf、及びcとgは同じであると仮定する。
以下の実施形態を付記する。
(付記1)X線画像情報の画像補正方法であって、
X線検出器要素の読み出し情報を受け取るステップと、
前記読み出し情報は光電流を生成する衝突X線に依存し、
補正情報を用いて光伝導ゲインに対して読み出し情報を補正するステップとを有する、方法。
(付記2)前記読み出し情報から、光エネルギー及び/または光カウントと検出器ピクセル要素ごとの光電流とを決定するステップと、
永久電流に対して前記光電流を補正することにより補正光電流を決定するステップと、
前記補正光電流に基づいて補正光エネルギーを決定することを含み、前記補正情報を決定するステップとを有する、付記1に記載の方法。
(付記3)前記光伝導ゲインは前記補正情報を用いて各X線検出器ピクセル要素について補正される、付記1乃至2いずれか一項に記載の方法。
(付記4)光伝導ゲインの補正情報は、前記読み出し情報の取得に用いられるX線システムの校正動作により各ピクセルに対して決定される、付記1乃至3いずれか一項に記載の方法。
(付記5)前記補正情報は、X線束に依存する関数と、X線束に依存して検出器ピクセルごとに少なくとも1つの値を有するルックアップテーブルとのうち一方である、付記1乃至4いずれか一項に記載の方法。
(付記6)ベースラインシフトを補正するステップは、
光子エネルギーが複数の光子エネルギー閾値のうちの確定された一光子エネルギー閾値を超えているか判断するステップと、
決定された閾値は永久電流によりシフトされる可能性があり、
前記補正情報を用いてシフトを補正し、補正光子エネルギー閾値を取得するステップとを有する、
付記2ないし5いずれか一項に記載の方法。
(付記7)ベースライン回復を利用して、ゆっくり変化する永久電流に対して、光エネルギー情報を含む読み出し情報を補正するステップをさらに有する、付記2ないし6いずれか一項に記載の方法。
(付記8)X線画像情報の画像補正装置であって、
オブジェクトの、受け取った読み出し情報を記憶する記憶要素と、
補正された読み出し情報を生成する処理要素とを有し、
付記1乃至7いずれか一項に記載の方法を実行するように構成されている、装置。
(付記9)付記8に記載の装置を有するX線システム。
(付記10)X線システム及びCTシステムのうち一方における付記8に記載の装置の使用。
(付記11)プロセッサにより実行されたとき、付記1乃至7いずれか一項に記載の方法を実行するように構成された、X線画像情報の画像補正をするコンピュータプログラムが記憶されたコンピュータ読み取り可能媒体。
(付記12)プロセッサにより実行されたとき、付記1乃至7いずれか一項に記載の方法を実行するように構成された、X線画像情報の画像補正をするプログラム要素。
参照符号リスト
10 X線/CTシステム
12 X線発生デバイス
14 X線検出器
16 ガントリー
18 X線検出器ピクセル要素
20 X線放射
22 オブジェクト
24 サポート
26 装置
28 プロセッサ要素
30 記憶/メモリ要素
32 ディスプレイ要素
40 読み出し回路
41 アンプ
42a、b、n 弁別器
43a、b、n 光子カウンタ
44 積分器
45 電荷パケットカウンタ
46 時間カウンタ
47 時間ラッチ
48 X線検出器ピクセルセンサ電流
49 ベースライン回復器
50 画像補正方法
52 読み出し情報の受け取り
54 読み出し情報の補正
56 読み出し情報から、光エネルギー/光子カウント及びX線検出器ピクセル要素ごとの光電流の決定
58 補正光電流の決定
60 補正情報の決定
62 光子エネルギーが、確定された光子エネルギー閾値を超えたかの判断
64 閾値シフト/ベースラインシフトの補正
66 ゆっくり変化する永久電流に対する読み出し情報の補正
Claims (9)
- X線画像情報の画像補正方法であって、
X線検出器要素の読み出し情報を受け取ることであって、前記読み出し情報は測定光電流を生成する衝突X線に依存することと、
前記読み出し情報から、検出器ピクセル要素ごとの検出光子エネルギーを決定することと、
前記読み出し情報から、検出器ピクセル要素ごとの測定光電流を決定することと、
検出器ピクセル要素ごとの光伝導ゲインと検出器ピクセル要素ごとの永久電流とを含む補正情報を決定することであって、検出器ピクセル要素ごとの前記検出光子エネルギーを期待光子エネルギーと比較することを含み、前記期待光子エネルギーは前記読み出し情報の取得に用いられたX線システムの校正操作により決定される、ことと、
検出器ピクセル要素ごとの前記永久電流に対して検出器ピクセル要素ごとの前記測定光電流を補正することにより検出器ピクセル要素ごとの補正光電流を決定することと、
検出器ピクセル要素ごとの前記補正光電流と、検出器ピクセル要素ごとの前記検出光子エネルギーとに基づいて、検出器ピクセル要素ごとの補正光子エネルギーを決定することと、
前記決定した補正情報を用いて検出器ピクセル要素ごとの前記読み出し情報を補正することとを有する、方法。 - 前記補正情報は、X線束に依存する関数と、X線束に依存して検出器ピクセルごとに少なくとも1つの値を有するルックアップテーブルとのうち一方である、請求項1に記載の方法。
- 前記読み出し情報を補正することは、ベースラインシフトを補正することをさらに有し、前記ベースラインシフトを補正することは、
光子エネルギーが複数の光子エネルギー閾値のうちの画定された一光子エネルギー閾値を超えているか判断することと、
決定された閾値は永久電流によりシフトされる可能性があり、
前記補正情報を用いてシフトを補正し、補正光子エネルギー閾値を取得することとを有する、
請求項1または2に記載の方法。 - ベースライン回復を利用して、ゆっくり変化する永久電流に対して、光エネルギー情報を含む読み出し情報を補正するステップをさらに有する、請求項1乃至3いずれか一項に記載の方法。
- X線画像情報の画像補正装置であって、
オブジェクトの、受け取った読み出し情報を記憶する記憶要素と、
補正された読み出し情報を生成する処理要素とを有し、
請求項1乃至4いずれか一項に記載の方法を実行するように構成されている、装置。 - 請求項5に記載の装置を有するX線システム。
- X線システム及びCTシステムのうち一方における請求項6に記載の装置の使用。
- プロセッサにより実行されたとき、請求項1乃至4いずれか一項に記載の方法を実行するように構成された、X線画像情報の画像補正をするコンピュータプログラムが記憶されたコンピュータ読み取り可能媒体。
- プロセッサにより実行されたとき、請求項1乃至4いずれか一項に記載の方法を実行するように構成された、X線画像情報の画像補正をするプログラム要素。
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EP1573896A4 (en) * | 2002-10-16 | 2008-08-20 | Varian Med Sys Tech Inc | METHOD AND DEVICE FOR CORRECTING SIGNAL EXCESSES IN IMAGING DEVICE |
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US20060043315A1 (en) * | 2004-08-19 | 2006-03-02 | Walter Cook | Very large-scale integration (VLSI) circuit for measuring charge pulses |
WO2006064403A2 (en) * | 2004-12-17 | 2006-06-22 | Koninklijke Philips Electronics, N.V. | Pulsed x-ray for continuous detector correction |
JP2009502227A (ja) * | 2005-07-22 | 2009-01-29 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 多色スペクトルによるx線検出器イメージング |
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EP2028509A1 (en) | 2007-08-09 | 2009-02-25 | European Organisation for Nuclear Research CERN | Radiation monitoring device |
US20090039397A1 (en) | 2007-08-09 | 2009-02-12 | Micromedia Technology Corp. | Image sensor structure |
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WO2011077302A2 (en) * | 2009-12-21 | 2011-06-30 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Radiation detector assembly with test circuitry |
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WO2012095710A2 (en) * | 2011-01-10 | 2012-07-19 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Detection device for detecting photons emitted by a radiation source |
WO2013061186A1 (en) * | 2011-10-26 | 2013-05-02 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Radiographic apparatus for detecting photons with offset correction |
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