CN104838288A - 用于x-射线图像信息的图像校正的方法和装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及X-射线图像信息的校正，例如与X-射线探测器元件中的持续电流有关的X-射线图像信息的校正。X-射线探测器可以被实现为具有欧姆接触的光电导体，所述光电导体输出取决于撞击在各自的光电导体像素上的光子的能量和量的光电流。这样的光电导体可以呈现光电导增益，即当由X-射线辐射辐照时测得的电流比将由仅仅生成电子-空穴对的撞击光子引起的电流更高。为了补偿光电导增益，提供了一种用于X-射线图像信息的图像校正的方法(50)，所述方法包括接收(52)X-射线探测器元件(14)的读出信息，其中，所述读出信息取决于生成光电流的撞击X-辐射(20)，并且采用补偿信息来对所述读出信息补偿(54)光电导增益。

Description

用于X-射线图像信息的图像校正的方法和装置

技术领域

本发明总体上涉及X-射线成像技术。

更具体地，本发明涉及X-射线图像信息的校正，例如与X-射线探测器元件中的持续电流有关的X-射线图像信息的校正。尤其地，本发明涉及用于X-射线图像信息的图像校正的方法、用于X-射线图像信息的图像校正的装置、包括根据本发明的装置的X-射线系统、这样的装置在X-射线系统和CT系统之一中的用途、计算机可读介质以及程序单元。

背景技术

要采集其X射线图像的诸如患者的要被检查的对象通常被布置在诸如X-射线管的X-射线生成设备与在X-射线辐射的路径中的X-射线探测器元件之间。源自于X-射线生成设备的所述X-射线辐射穿透对象，随后到达X-射线探测器元件。要被检查的对象的内部结构或组织结构提供在经过对象之后到达X-射线探测器的X-射线射束的空间衰减。随后通过X-射线探测器探测由对象空间衰减的X-射线辐射。然后所述衰减信息被用于生成对象的X-射线图像信息。

为了获得所述X-射线图像信息，X-射线探测器元件记录到达探测器的光子的光子能量和/或光子计数。光子能量生成探测器元件中，尤其是光电探测器的每个像素元件中的光电流，所述光电流基本上被读出，即被提供作为X-射线探测器到随后电子设备或电路的输出以用于生成所述图像信息。

X-射线探测器可以被实现为具有欧姆接触的光电导体，所述光电导体输出取决于撞击在各自的光电导体元件或X-射线探测器像素元件上的光子的能量和量的光电流。具有欧姆接触的这样的光电导体可以呈现光电导增益η，即当由X-辐射照射时这样的X-射线探测器像素的测得的电流比将由仅仅生成电子-空穴对的撞击光子引起的电流更高，可能高的多。仅仅由可以光学的、X射线或其他类型的撞击光子生成的电流被称为光电流。

US 6,759,658 B2描述了具有大动态范围的X-射线探测器，还描述了计数和积分通道的组合。

WO 2007/010448 A2描述了具有多色谱的X-射线探测器成像，还描述了具有若干能量阈值的计数通道和积分通道的组合。

发明内容

因此，本专利申请的一个方面可以在于对X-射线探测器元件的读出信息补偿光电导增益或换言之补偿持续电流。

因此，提供一种用于X-射线图像信息的图像校正的方法、一种用于X-射线图像信息的图像校正的装置、一种包括根据本发明的装置的X-射线系统、根据本发明的装置的用途、根据独立权利要求的一种用于X-射线图像信息的图像校正的计算机可读介质以及程序单元。从从属权利要求可以获取优选实施例。

上述也适用于被用作X-射线探测器的转换材料以对单个光子进行计数，尤其用于计算机断层摄影成像的诸如CdTe和CZT半导体的直接转换半导体。因此，本发明的方法和装置尤其可以与使用电离辐射并且采用直接转换器用于将所述辐射转换成电信号的所有成像模态一起被采用。

在直接转换半导体中呈现的光电导增益可以被认为是归因于空穴陷阱的存在以及空穴的移动性小于电子的移动性约10倍的事实。除此之外，深陷阱比浅陷阱更重要。

当例如X-辐射的光子与材料交互并且生成电子-空穴对的云时，施加的例如300V/mm的外部电场将电子与空穴分离。随后，电子朝阳极漂移，而空穴朝阴极漂移。由于移动性的差异，可以假设电子比“空穴”更快地到达阳极。换言之，当电子到达X-射线探测器像素的阳极元件时，可以假设在朝阴极元件的转变中仍然具有空穴。甚至可以是对应于电子的所有空穴仍然在转变中。

另外，结合场强所见，由于半导体中的空穴陷阱，可以诱捕所述陷阱，这为他们添加到达阴极的时间，由此超过由空穴移动性本身引起的时间。

因此，当电子已经到达阳极时，由于半导体中空穴的存在，物体不再是电中性的，而对应的电子将要离开物体或已经离开在阳极的物体。在非常简单的模型中，尤其是在阴极具有良好欧姆属性的情况下，这导致电子在阴极侧的注入以迫使电中性。换言之，只要在朝阴极的转变中具有陷阱空穴或空穴，而对应的电子已经到达阳极，电子可以被认为从阴极注入到物体中，并且随后由施加的电场强迫，也朝阳极移动，从而得到额外的电流。该额外的电流被称为持续电流。

该性能可以被总结为光电导增益与“直到重组的空穴的平均寿命”和“注入电子从阴极到阳极的转变时间”的商近似成比例。因此，光电导增益可以是考虑的晶体，尤其考虑的晶体体积的特性属性。

因此，光电导增益可以是测得的电流实际大于由撞击光子本身生成的电流的因子。因此，X-射线探测器元件的每个像素元件观察的测得的电流是由撞击光子生成的光电流和由上述半导体的性能引起的持续电流的和。因此，光电导增益可以被计算如下：

方程1

本发明的这些和其他方面将参考下文描述的实施例变得显而易见并将参考下文描述的实施例得以阐述。

下面将参考以下附图来描述本发明的示范性实施例。

附图中的图示是示意性的。在不同的附图中，相似或相同的元件被提供具有相似或相同的附图标记。

这些附图不是按比例绘制的，然而可以描绘定性比例。

附图说明

图1是根据本发明的CT系统的示范性实施例；

图2是用于分析读出信息的电子电路的示范性实施例；

图3是用于确定光子能量的示范性图；

图4a、b是用于分析读出信息的电子电路的另一示范性实施例；并且

图5是根据本发明的用于X-射线图像信息的图像校正的方法的示范性实施例。

附图标记列表

10 X-射线/CT系统

12 X-射线生成设备

14 X-射线探测器

16 机架

18 X-射线探测器像素元件

20 X-射线辐射

22 对象

24 支撑物

26 装置

28 处理器元件

30 存储/内存元件

32 显示元件

40 读出电路

41 放大器

42a、b、n 鉴别器

43a、b、n 光子计数器

44 积分器

45 电荷包计数器

46 时间计数器

47 时间锁

48 X-射线探测器像素传感器电流

49 基线复位器

50 用于图像校正的方法

52 接收读出信息

54 补偿读出信息

56 根据读出信息来确定光子能量/光子计数以及每个X-射线探测器像素元件的光电流

58 确定补偿的光电流

60 确定补偿信息

62 确定超过定义的光子能量阈值的光子能量

64 补偿阈值偏移/基线偏移

66 对读出信息补偿缓慢变化的持续电流

具体实施方式

在具有欧姆(阴极)接触的诸如Cd[Zn]Te半导体的直接转换半导体被用于单个光子计数探测器的情况下，光电导增益可以被认为引起尤其是直流(DC)耦合的读出电子设备的主要问题。由于持续电流可以被认为是在由撞击光子生成的规律光电流的顶部上的非常缓慢变化或相当恒定的电流，其可以被认为引起在朝预设能量阈值的模拟读出通道的输出处的基线偏移，使得在没有任何校正模块的情况下错误地记录撞击光子的能量。

在持续电流非常缓慢地变化的情况下，可以应用诸如基线复位的方法。然而，尤其是对于直接转换半导体或被设计用于高通量X-射线成像的Cd[Zn]Te-材料，存在持续电流可以被认为是非常快速地“打开”和“关闭”的指示，当存在时，即在入射X-射线谱和通量保持基本恒定的情况下，无明显变化。换言之，在X-射线照射已经停止之后，持续电流可以被认为非常快速地消失，例如，在微秒或更小的范围内消失。

由于光电导增益可以被认为是在直接转换材料内的特定体积的属性，所以其是尤其是在由CdTe或CdZnTe制成的直接转换X-射线传感器中的每个像素元件的特性。

因此，本发明提出确定针对直接转换X-射线传感器元件的每个像素的光电导增益，即在除了测量在每个测量时间段中到达的个体光子的数量之外的同时，也确定在每个像素中观察的电流。随后，根据测得的总像素电流和每个像素元件的(已知或预定的)光电导增益来确定或估计光电流以及持续电流。随后，该信息可以被采用于校正针对光电导增益的读出信息。换言之，补偿信息被采用于确定来自测得的电流的补偿的光电流，由此通过补偿由持续电流引起的基线偏移来去除持续电流以允许对每个到达光子的能量估计。基线偏移尤其涉及探测到的单个光子的能量级的偏移(至更小的能量)。

因此，本发明的技术构思提供其可以处理持续电流的益处，所述持续电流在微秒时间尺度内消失并且否则所述持续电流不能够通过使用诸如基线复位器的方法进行校正，所述基线复位器感测基线并且随后通过提供在输入节点处的校正电流来调整基线。这可以是因为基线复位器方法可以被认为仅仅适用于缓慢变化的持续电流。已知若干不同的基线复位方法，一种实施方式如下：基线复位器可以感测在脉冲整形前端的输出端处的基线的变化，并且随后可以注入在前端的输入端处的电流以补偿该基线偏移。与由于源自于X-射线光子的电流脉冲的输出波形的变化相比，由于正确地感测在输出端处的基线要求输出波形实际到达基线的事实，该反馈回路可以被认为是相当缓慢。

所描述的构思也可以允许处理不同于所描述的简单模型的材料性能，例如，在持续电流可以被认为以非线性的方式与X-射线通量和平均X-射线能量相关的情况下，同时信号电流可以被认为与通量和平均X-射线能量线性相关。在这样的情况下，可以测得在不同通量和平均能量光电流的条件下的入射X-射线通量的不同平均能量的光电导增益。在查找表中可以对所述测量的结果进行编译，其中，光电导增益是平均能量的函数。此外，函数本身可以被采用于精确地确定光电导增益。

根据本发明的用于图像校正的方法采用X-射线探测器元件的读出信息，并且采用补偿信息来对所述读出信息补偿光电导增益。换言之，补偿信息被用于从读出信息去除归因于持续电流，即光电导增益的部分。读出信息取决于撞击X-辐射，撞击X-辐射独立地生成在X-射线探测器元件中，尤其在每个像素中的光电流。

根据先前描述的理论，由尤其当使用直接转换半导体时出现的持续电流覆盖光电流，光电流将仅仅反映撞击X-辐射。在对读出信息的补偿之后，获得补偿的光电流，补偿的光电流补偿所述持续电流。利用所述补偿的光电流，也可以校正到达X-射线探测器元件的探测到的光子能量级。换言之，持续电流可以被认为贡献于光子能量测定，所述光子能量测定不反映实际光子能量，但是其确定比实际光子能量更高的能量级。因此，当在没有补偿持续电流的情况下确定光子能量时，确定的光子能量将小于到达的光子的实际能量。当去除来自光电流的持续电流的影响并且由此获得补偿的光电流时，随后所述补偿的光电流可以被采用于确定补偿的光子能量，补偿的光子能量更准确地反映到达X-射线探测器元件的特定光子的实际能量。

通常，不必确定光子能量的其特定精确值，而是确定特定的能量范围，在所述能量范围中接收到的光子的光子能量下降。在光电流不补偿持续电流的情况下，随后确定的光子能量的阈值水平可以被估计为高于实际光子能量。因此，当对光电流补偿持续电流时，或者输出到阈值水平确定器或鉴别器的值被补偿或者所述水平本身被改变以反映光电导增益，即归因于持续电流的确定的添加的光子能量。

通过对X-射线系统的校准操作可以确定尤其是针对每个像素的光电导增益的补偿信息。例如，所述校准操作可以是在X-射线生成设备与采用具有已知平均能量的特定已知X-射线通量的X-射线探测器之间的X-辐射的路径中没有任何对象的情况下对X-射线系统的操作。在所述校准操作期间，由此已知，将要期望哪个能量级到达特定像素元件。随后可以将所述期望值与实际测得的值进行比较。在期望值与测得的值之间的偏差可以因此归因于持续电流和由此产生的光电导增益。所述确定的光电导增益，每个像素的持续电流分别可以被采用于确定补偿信息，使得测得的值，即获得的读出信息可以补偿光电导增益。此外，在将读出信息转发到随后的读出电子设备或读出电子设备本身之前，可以补偿读出信息，尤其是其测定性能可以被改变以去除光电导增益的影响以获得补偿的输出值。

在补偿信息例如以基本线性的方式与X-辐射的通量功能相关的情况下，所述功能能够被采用于确定在相当宽范围的到达通量上的补偿信息。在光电导增益与X-辐射的通量非线性相关的情况下，可以确定查找表，所述查找表包括针对具体通量值的具体补偿信息值。优选地，可以优选每个探测器像素具有仅仅一个值的查找表，因为这能够被解释为至少在特定能量范围上在X-辐射通量与光电导增益之间的线性相关关系。

在通过使用多个阈值来确定特定光子的能量的情况下，阈值转而可以被补偿以反映由于持续电流而出现的变化，同时确定光子的未补偿能量级。备选地，对应于所述能量级的读出信息可以补偿持续电流，所述持续电流转而将致使其不必改变各个阈值，因为补偿的能量级又对应于光子的实际能量级，尤其是当仅仅在没有额外的持续电流的情况下考虑光电流时将被提供作为读出信息的能量级。

在读出信息不仅包括上述快速变化的持续电流而且包括例如由于深陷阱其仅仅非常缓慢地被释放的缓慢变化的持续电流的情况下，除了快速变化的持续电流分量之外，可以通过所谓的基线复位来补偿所述缓慢变化的持续电流分量。基线复位器基本上可以被看作反馈回路，所述反馈回路去除归因于缓慢变化的持续电流的X-射线探测器像素的输出的部分。

现在参考图1，描绘了根据本发明的CT系统的示范性实施例。

CT系统100包括X-射线生成设备12或X-射线管以及被布置在机架16的对侧的X-射线探测器14。X-射线生成设备12生成X-辐射20，X-辐射20在图1中示范性地被描绘为到达二维X-射线探测器14的锥形射束。在X-射线探测器14上提供单独的X-射线探测器像素元件18。要被检查的对象22被布置在支撑物24上，所述对象22可以被带入到X-射线射束20中以对所述X-射线射束进行空间衰减，以获得与对象22的内部结构有关的信息。X-射线生成设备12和X-射线探测器14在机架16上绕对象22旋转，由此生成围绕对象的多个视角的单独的X-射线图像，稍后能够例如通过装置26将X-射线图像重建为三维结构。装置26包括处理器28以及存储元件30，存储元件30用于在处理连同由X-射线探测器14采集的图像信息进行的处理器28的处理操作之前和/或之后存储数据。可以向X-射线/CT系统10的用户提供在显示元件32上描绘的可视化信息。

可以在从系统10的实况采集的图像上以及在例如存储在存储元件30上的存储的预采集图像信息上两者执行根据本发明的方法。

另外，根据本发明的方法可以被实现为处理器28内的程序单元以及执行如图2和4a、b中描绘的各个功能的专用电子电路两者。

现在参考图2，描绘了用于分析读出信息的电子电路的示范性实施例。

图2示出了将X-射线探测器的传感器电流接收作为输入的示范性读出电路40。尤其地，图2可以被看作连接到单个X-射线探测器像素元件18的读出电路。

图2中的电路被划分成第一部分I和另外的第二部分II，其中，第一部分I用于确定光子计数并且确定各自的光子能量，第二部分II用于确定从特定探测器像素8接收到的电流。多个鉴别器42a、b、n被采用于确定到达X-射线探测器像素元件的光子的特定能量级。随后，光子计数器43a、b、n被附接在各自的鉴别器42a、b、n的后面以对具有各自的能量级的到达光子进行计数。

例如，具有在鉴别器1与鉴别器2之间的能量级的光子将导致由光子计数器1进行计数，由此已知光子的能量级必须在由鉴别器1和鉴别器2确定的能量级之间。例如，具有在鉴别器6与鉴别器7的能量级之间的能量级的光子导致所有的光子计数器1到6记录所述光子，随后允许确定所述光子的能量范围在鉴别器6与鉴别器7的能量级之间。

与对光子计数的评估并行，通过积分器44采用电荷包计数器45和计时器46、47来确定在得到电流的具体时间期间的电荷量而确定从所述像素元件接收到的电流。使用基于持续电流的补偿信息，可以补偿各自的鉴别器42a、b、n的能量阈值水平。例如可以通过确定持续电流、根据计算的持续电流确定基线偏移以及调整对应于基线偏移的鉴别器的能量阈值来进行所述补偿。例如，在根据估计的持续电流基线偏移达到16keV的情况下，将在80keV的阈值变为在64keV的阈值。由于实际基线偏移可以变化，所以在没有持续电流的情况下，更大数量的阈值，例如n＝10，或鉴别器以及可能固定的相互能量距离被设定在没有基线偏移的基线以上。

在优选实施例中，仍然有至少五个阈值水平在由可能出现的最大估计的持续电流引起的可能偏移的基线以上。在这种情况下，尽管存在持续电流，将仍然能够估计由多个随后的撞击光子引起的脉冲序列的能量。

优选地，持续电流在一个测量时间段，尤其是例如100μs或更少的非常短的测量时间段期间至少保持近似恒定。另外，尤其是在读出电路被实现为模拟前端电路的情况下，读出电路可以以这样的方式被设计：读出电路，尤其是其放大元件的动态范围以及能确定的各个能量阈值水平足够大，以提供甚至在高瞬间背景电流的线性输出结果，所述线性输出结果可能叠加到形成光电流的电荷脉冲的脉冲序列。换言之，模拟前端仍然应当提供当在持续电流的顶部上时振幅a₀的输出脉冲，在不考虑持续电流的高度的情况下可在输入端处获得q₀的电荷脉冲。因此，动态范围应当是使得当前遭受最大可想象持续电流条件的到达读出电路的最高可想象电荷脉冲得到仍然在电路的动态范围内的输出信号。

在光电导增益与入射谱的平均能量(非线性)相关的情况下，还可以要求独立于针对每个像素的入射谱的平均能量而特征化光电导增益。在对基线偏移的校正之后，尤其是在假设入射谱的特定平均能量下，估计光子能量，并且还根据该估计来估计平均能量。在该确定的平均能量于假设的平均能量相匹配的情况下，基线偏移校正被认为是足够的。否则，连续地利用针对不同平均能量的另外的光电导增益值进行校正，直到获得最佳匹配。

现在参考图3，描绘了用于确定光子能量的示范性图。

图3在图的左侧I示出了没有持续电流的确定情况，而在右侧II，描绘了具有持续电流的情况。每种情况I、II分别描绘了三个到达光子a、b、c和e、f、g的脉冲序列，每个具有要被确定的专用能量级。尤其地，为了进一步解释，可以假设，到达光子的各自的能量级对于a和e、b和f、c和g是相同的。

水平线示范性地描绘了10对应于特定能量的阈值。因此，阈值1对应于图2的光子计数器的鉴别器1的阈值，而阈值2对应于鉴别器2的水平等。在场景I中的三个到达光子中，光子a具有在阈值3与阈值4之间的能量级，光子b具有在阈值4与阈值5之间的能量级，而光子c又具有在阈值3与阈值4之间的能量级。因此，对于光子a，前三个鉴别器记录如它们对于光子c所做的一样。对于光子b，前四个鉴别器记录。大量的阈值被采用于调解瞬间基线偏移。

通过最大可能基线偏移来确定要设置的最高阈值。在场景I与场景II之间，尤其是当X-射线通量瞬间变化时，由于持续电流的近瞬间基线偏移d出现。图3中的基线偏移d示范性地对应于鉴别器3的能量阈值。

随后，记录光子e、f、g。在阈值5与阈值6之间记录光子e的能量级，在阈值7与阈值8之间记录光子f的能量级，而在阈值6与阈值7之间记录光子g的能量。由于假设光子e、f、g的实际能量级基本上对应于光子a、b、c的实际能量级，所以确定的能量值基本上大于将在没有基线偏移d的情况下已经记录的能量值。因此，为了获得真实的能量值，将必须从光子e、f和g的各自的能量级，即对应于阈值3的能量减去归因于持续电流的基线偏移d的能量级。

因此，当确定持续电流时，图3中的相应基线偏移d是能够确定的，在存在持续电流和由此的基线偏移的情况下，其转而能够被用于补偿确定的阈值水平。

为了补偿光子e、f和g的能量值，在图3中假设线性垂直比例的情况下，能够从针对光子e、f、g确定的各自能量级减去对应于偏移d的阈值3的能量阈值水平。

现在参考图4，描绘了用于分析读出信息的电子示意图的另一示范性实施例。

描述的校正方案也能够结合基线复位采用，以便避免由缓慢变化的持续电流分量引起的基线偏移。为了实现这样的基线复位器，采用基线复位器反馈电路49，基线复位器反馈电路49包括围绕图2的光子计数部分I的前置放大器41的反馈回路。因此，由于已经通过基线复位器补偿了缓慢变化的持续电流分量，从计数器I到积分器41以及由此到积分通道II的反馈将察觉不到所述分量。

图4b示出了从模拟前端放大器的输出端到由此添加到从X-射线探测器像素元件到达的传感器电流的输入端的反馈，由此补偿缓慢变化的持续电流。“CSA和整形器”或“整形器”单独地适于从电流脉冲生成电压脉冲，其中，电压脉冲的高度与在特定电流脉冲下的区或区域成比例。这样的区是由电流脉冲提供的电荷的度量，并且由此也是生成各自的电流脉冲的X-射线光子的能量的度量。

为了科学目的或机场/国土安全，本发明能够应用到例如在医学成像系统、器械中的基于直接转换探测器技术的所有光子计数辐射探测器。

现在参考图5，描绘了根据本发明的用于X-射线图像信息的图像校正的方法的示范性实施例。

用于X-射线图像信息的图像校正的方法50包括接收52X-射线探测器元件的读出信息，其中，读出信息取决于由光电流生成的撞击X-辐射，并且采用补偿信息对读出信息补偿54光电导增益。

转而可以通过根据读出信息来确定56光子能量和/或光子计数以及每个X-射线探测器像素元件的光电流而确定补偿信息，同时还通过对光电流补偿持续电流来确定58补偿的光电流。通过基于补偿的光电流来确定补偿的光子能量而确定60补偿信息。

尤其是在光子计数器的情况下，补偿读出信息对应于补偿基线偏移，其包括确定62光子能量是否超过多个光子能量阈值的定义的光子能量阈值，其中，确定的阈值的偏移能够由持续电流引入，并且采用补偿信息来补偿64所述偏移以获得补偿的光子能量阈值。

任选地，还可以通过采用基线复位来对补偿的读出信息补偿66缓慢变化的持续电流。

Claims (12)

1.一种用于X-射线图像信息的图像校正的方法(50)，包括：

接收(52)X-射线探测器元件(14)的读出信息；

其中，所述读出信息取决于生成光电流的撞击X-辐射(20)；并且

采用补偿信息来对所述读出信息补偿(54)光电导增益。

2.根据前述权利要求所述的方法，包括：

根据所述读出信息来确定(56)光子能量和/或光子计数；以及每个探测器像素元件(18)的所述光电流；

通过对所述光电流补偿持续电流来确定(58)补偿的光电流；并且

确定(60)所述补偿信息，包括基于所述补偿的光电流来确定补偿的光子能量。

3.根据前述权利要求中的任一项所述的方法，

其中，采用所述补偿信息来对每个X-射线探测器像素元件(18)补偿所述光电导增益。

4.根据前述权利要求中的任一项所述的方法，其中，通过用于采集所述读出信息的X-射线系统(10)的校准操作来确定针对每个像素的所述光电导增益的所述补偿信息。

5.根据前述权利要求中的任一项所述的方法，其中，所述补偿信息是取决于X-辐射的通量的函数和具有取决于X-辐射的通量的每个探测器像素的至少一个值的查找表之一。

6.根据权利要求2至5中的任一项所述的方法，还包括补偿基线偏移，包括：

确定(62)所述光子能量是否超过多个光子能量阈值的定义的光子能量阈值；

其中，确定的阈值的偏移能够由所述持续电流引入；并且

采用所述补偿信息来补偿(64)所述偏移以获得补偿的光子能量阈值。

7.根据权利要求2至6中的任一项所述的方法，还包括：

通过采用基线复位来对包括光子能量信息的所述读出信息补偿缓慢变化的持续电流。

8.一种用于X-射线图像信息的图像校正的装置(26)，包括：

存储元件(30)，其用于存储接收到的对象(22)的读出信息；以及

处理元件(28)，其用于生成补偿的读出信息；

其中，所述装置(26)适于执行根据前述权利要求中的任一项所述的方法(50)。

9.一种X-射线系统(10)，其包括根据前述权利要求所述的装置(26)。

10.根据权利要求8所述的装置(26)在X-射线系统(10)和CT系统(10)之一中的用途。

11.一种计算机可读介质，在所述计算机可读介质中存储了用于X-射线图像信息的图像校正的计算机程序，所述计算机程序当由处理器(28)运行时适于执行根据权利要求1至7中的至少一项所述的方法(50)。

12.一种用于X-射线图像信息的图像校正的程序单元，所述程序单元当由处理器(28)运行时适于执行根据权利要求1至7中的至少一项所述的方法(50)。