JP6691775B2 - X線画像情報の画像補正方法及び装置 - Google Patents
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Description
ベースライン回復器は基本的にはフィードバックループと考えられる。このフィードバックループは、ゆっくり変化する永久電流に起因すると考えられるX線検出器ピクセルの出力の部分を取り除く。
各シナリオI、IIは、それぞれ、3つの到着光子a、b、cとe、f、gのパルストレインを示し、各々は専用のエネルギーレベルを有し、これを決定すべきである。特に、さらに説明するため、到着光子の各光子エネルギーのうち、aとe、bとf、及びcとgは同じであると仮定する。
参照符号リスト
10 X線/CTシステム
12 X線発生デバイス
14 X線検出器
16 ガントリー
18 X線検出器ピクセル要素
20 X線放射
22 オブジェクト
24 サポート
26 装置
28 プロセッサ要素
30 記憶/メモリ要素
32 ディスプレイ要素
40 読み出し回路
41 アンプ
42a、b、n 弁別器
43a、b、n 光子カウンタ
44 積分器
45 電荷パケットカウンタ
46 時間カウンタ
47 時間ラッチ
48 X線検出器ピクセルセンサ電流
49 ベースライン回復器
50 画像補正方法
52 読み出し情報の受け取り
54 読み出し情報の補正
56 読み出し情報から、光エネルギー/光子カウント及びX線検出器ピクセル要素ごとの光電流の決定
58 補正光電流の決定
60 補正情報の決定
62 光子エネルギーが、確定された光子エネルギー閾値を超えたかの判断
64 閾値シフト/ベースラインシフトの補正
66 ゆっくり変化する永久電流に対する読み出し情報の補正
Claims (9)
- X線画像情報の画像補正方法であって、
X線検出器画素要素の読み出し情報を受け取るステップであって、前記読み出し情報は、マイクロ秒以下のスケールで消える永久電流を含む光電流を生成する、直接変換X線材料ボリュームに衝突するX線に依存し、前記読み出し情報は、前記光電流により決定される光子のエネルギーを含む、ステップと、
前記X線検出器画素要素の光伝導ゲインに基づき、1マイクロ秒未満で生じる永久電流のベースラインシフトに対して、前記決定される光子のエネルギーを補正するステップとを有する、方法。 - 決定される光子エネルギーを補正するステップは、ルックアップテーブルを用いるステップを含み、前記ルックアップテーブルは、X線束とX線平均エネルギーとを含む群のうち少なくとも1つの関数に基づく直接変換X線材料ボリュームの一以上の光子エネルギーの補正値を格納する、請求項1に記載の方法。
- 既知の平均エネルギーを有する既知のX線束を用いて、X線発生装置とX線検出器画素要素との間のX線経路に何もオブジェクトを置かずに、X線システムを作動させるX線システムの校正動作により、直接変換X線材料ボリュームの一以上の値が決定される、
請求項2に記載の方法。 - 光子エネルギーを決定する前に、ゆっくり変化する永久電流を補正する、ベースライン回復を利用することにより、永久電流に対して、決定される光子エネルギーを補正するステップをさらに有する、請求項1乃至3いずれか一項に記載の方法。
- X線画像情報の画像補正装置であって、
画像化するオブジェクトの、受け取った読み出し情報を記憶する記憶要素と、
補正された光子エネルギーを含む補正された読み出し情報を生成する処理要素とを有し、
請求項1乃至4いずれか一項に記載の方法を実行するように構成されている、装置。 - 請求項5に記載の装置を有するX線システム。
- X線システム及びCTシステムのうち一方における請求項5に記載の装置の使用。
- プロセッサにより実行されたとき、請求項1乃至4いずれか一項に記載の方法を実行するように構成された、X線画像情報の画像補正をするコンピュータプログラムが記憶された非一時的コンピュータ読み取り可能媒体。
- プロセッサにより実行されたとき、請求項1乃至4いずれか一項に記載の方法を実行するように構成された、X線画像情報の画像補正をするプログラム要素。
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WO2004036738A2 (en) * | 2002-10-16 | 2004-04-29 | Varian Medical Systems Technologies, Inc. | Method and apparatus for excess signal correction in an imager |
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US20060043315A1 (en) * | 2004-08-19 | 2006-03-02 | Walter Cook | Very large-scale integration (VLSI) circuit for measuring charge pulses |
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