RU2014127855A - Адаптивная постоянная компенсация тока для детекторов счета фотонов - Google Patents

Адаптивная постоянная компенсация тока для детекторов счета фотонов Download PDF

Info

Publication number
RU2014127855A
RU2014127855A RU2014127855A RU2014127855A RU2014127855A RU 2014127855 A RU2014127855 A RU 2014127855A RU 2014127855 A RU2014127855 A RU 2014127855A RU 2014127855 A RU2014127855 A RU 2014127855A RU 2014127855 A RU2014127855 A RU 2014127855A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
direct conversion
direct
direct current
pixel
conversion material
Prior art date
Application number
RU2014127855A
Other languages
English (en)
Inventor
Роланд ПРОКСА
Original Assignee
Конинклейке Филипс Н.В.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Конинклейке Филипс Н.В. filed Critical Конинклейке Филипс Н.В.
Publication of RU2014127855A publication Critical patent/RU2014127855A/ru

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/17Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/24Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/24Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
    • G01T1/247Detector read-out circuitry
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/24Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
    • G01T1/249Measuring radiation intensity with semiconductor detectors specially adapted for use in SPECT or PET

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)

Claims (42)

1. Система (100) визуализации, содержащая:
первый пиксель (111) детектора прямого преобразования, который обнаруживает излучение, проходящее через область (106) исследования, и генерирует электрический сигнал, указывающий на это, причем генерируемый электрический сигнал содержит постоянный ток, который вырабатывается материалом прямого преобразования первого пикселя детектора прямого преобразования, и который сдвигает уровень электрического сигнала;
блок (116) оценки постоянного тока, который оценивает постоянный ток, вырабатываемый материалом прямого преобразования, и генерирует сигнал компенсации постоянного тока, основываясь на оценке;
предусилитель (112), который принимает электрический сигнал, выводимый первым пикселем детектора прямого преобразования, и сигнал компенсации постоянного тока, где сигнал компенсации постоянного тока по существу исключает постоянный ток, вырабатываемый материалом прямого преобразования, вырабатывая сигнал с компенсированным постоянным током, и который усиливает сигнал с компенсированным постоянным током, генерируя усиленный сигнал с компенсированным постоянным током; и
формирователь (114), который генерирует электрический импульс, указывающий на энергетический уровень излучения, освещающего материал прямого преобразования, основываясь на усиленном сигнале с компенсированным постоянным током.
2. Система визуализации по п. 1, в которой средство оценки постоянного тока оценивает сигнал компенсации постоянного тока, основываясь на модели поведения материала прямого преобразования относительно постоянного тока.
3. Система визуализации по п. 2, в которой модель моделирует генерацию захваченных дырок в материале прямого преобразования и скорость рекомбинации захваченных дырок материала прямого преобразования.
4. Система визуализации по п. 1, в которой блок оценки постоянного тока содержит:
схему (300), которая принимает и обрабатывает электрический импульс, выводимый формирователем, и генерирует сигнал компенсации постоянного тока на его основе.
5. Система визуализации по п. 4, в которой схема содержит:
первый резистивный элемент (310), который принимает электрический импульс, выводимый формирователем, и генерирует первый выходной сигнал, указывающий на генерацию захваченных дырок в материале прямого преобразования.
6. Система визуализации по п. 5, в которой первый резистивный элемент имеет первое значение сопротивления, соответствующее поведению материала прямого преобразования относительно постоянного тока.
7. Система визуализации по п. 6, которая дополнительно содержит:
по меньшей мере второй пиксель детектора прямого преобразования, причем первый резистивный элемент второго пикселя детектора прямого преобразования имеет второе значение
сопротивления, соответствующее поведению материала прямого преобразования по меньшей мере второго пикселя детектора прямого преобразования относительно постоянного тока, и второе значение сопротивления отличается от первого значения сопротивления.
8. Система визуализации по п. 5, в которой схема дополнительно содержит:
интегратор (302), который содержит:
усилитель (304); и
схему (303) обратной связи, которая содержит:
второй резистивный элемент (306), указывающий на скорость рекомбинации захваченных дырок материала прямого преобразования; и
емкостной элемент (308), причем второй резистивный элемент и емкостной элемент электрически соединены параллельно,
причем интегратор принимает и интегрирует первый выходной сигнал и генерирует сигнал компенсации постоянного тока на его основе.
9. Система визуализации по п. 8, где второй резистивный элемент имеет второе значение сопротивления, соответствующее поведению материала прямого преобразования относительно постоянного тока.
10. Система визуализации по п. 9, которая дополнительно содержит:
по меньшей мере второй пиксель детектора прямого преобразования, причем второй резистивный элемент второго пикселя детектора прямого преобразования имеет второе значение сопротивления, соответствующее поведению материала прямого
преобразования по меньшей мере второго пикселя детектора прямого преобразования относительно постоянного тока, и второе значение сопротивления отличается от первого значения сопротивления.
11. Система визуализации по п. 1, в которой электрический импульс, генерируемый формирователем, обрабатывается для того, чтобы энергетически различать соответствующее обнаруживаемое излучение.
12. Система визуализации по любому по п. 1, которая дополнительно содержит:
множество пикселей детектора прямого преобразования и множество блоков оценки постоянного тока, причем каждый блок оценки постоянного тока генерирует сигнал компенсации постоянного тока для отличного пикселя детектора прямого преобразования.
13. Система визуализации по п. 1, в которой постоянный ток вырабатывается материалом прямого преобразования первого пикселя детектора прямого преобразования в ответ на излучение, освещающее материал прямого преобразования.
14. Способ, который включает в себя этапы, на которых:
генерируют сигнал компенсации постоянного тока, основываясь на модели поведения материала прямого преобразования пикселя (111) детектора счета фотонов системы (100) визуализации,
причем модель моделирует генерацию захваченных дырок в материале прямого преобразования и скорость рекомбинации захваченных дырок материала прямого преобразования; и
подают сигнал компенсации постоянного тока на вход предусилителя (112), который принимает и усиливает электрическийсигнал, вырабатываемый посредством пикселя детектора счета фотонов в ответ на излучение, освещающее пиксель детектора счета фотонов.
15. Способ по п. 14, который дополнительно включает в себя этапы, на которых:
генерируют сигнал компенсации постоянного тока с использованием схемы, которая содержит:
интегратор (302), который содержит:
усилитель (304); и
схему (303) обратной связи, которая содержит:
второй резистивный элемент (306), указывающий на скорость рекомбинации захваченных дырок материала прямого преобразования; и
емкостной элемент (308), причем второй резистивный элемент и емкостной элемент электрически соединены параллельно,
причем интегратор принимает и интегрирует первый выходной сигнал и генерирует сигнал компенсации постоянного тока на его основе.
RU2014127855A 2012-12-12 2012-12-12 Адаптивная постоянная компенсация тока для детекторов счета фотонов RU2014127855A (ru)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/IB2012/057211 WO2014091278A1 (en) 2012-12-12 2012-12-12 Adaptive persistent current compensation for photon counting detectors

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2014127855A true RU2014127855A (ru) 2017-01-18

Family

ID=47603881

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2014127855A RU2014127855A (ru) 2012-12-12 2012-12-12 Адаптивная постоянная компенсация тока для детекторов счета фотонов

Country Status (7)

Country Link
US (2) US9291724B2 (ru)
EP (1) EP2932300B1 (ru)
JP (1) JP6145517B2 (ru)
CN (1) CN104838287B (ru)
BR (1) BR112015013392A2 (ru)
RU (1) RU2014127855A (ru)
WO (1) WO2014091278A1 (ru)

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014087264A1 (en) * 2012-12-04 2014-06-12 Koninklijke Philips N.V. Method and apparatus for image correction of x-ray image information
EP2871496B1 (en) * 2013-11-12 2020-01-01 Samsung Electronics Co., Ltd Radiation detector and computed tomography apparatus using the same
US9759822B2 (en) 2013-11-27 2017-09-12 Koninklijke Philips N.V. Detection device for detecting photons and method therefore
US10159450B2 (en) * 2014-10-01 2018-12-25 Toshiba Medical Systems Corporation X-ray CT apparatus including a photon-counting detector, and an image processing apparatus and an image processing method for correcting detection signals detected by the photon-counting detector
EP3234651B1 (en) 2014-12-16 2019-09-11 Koninklijke Philips N.V. Baseline shift determination for a photon detector
WO2017046002A1 (en) 2015-09-18 2017-03-23 Koninklijke Philips N.V. Correcting photon counts in a photon counting x-ray radiation detection system
US10117626B2 (en) * 2015-09-29 2018-11-06 General Electric Company Apparatus and method for pile-up correction in photon-counting detector
EP3532873B1 (en) * 2016-10-27 2021-06-23 Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. Dark noise compensation in a radiation detector
FR3058230B1 (fr) * 2016-10-27 2019-03-15 Detection Technology Sas Dispositif de spectrometrie
EP3567405A1 (en) 2018-05-08 2019-11-13 Koninklijke Philips N.V. Photon counting spectral ct
CN113614576A (zh) * 2018-11-29 2021-11-05 Oy直接转换有限公司 检测器电路
CN114114212B (zh) * 2022-01-28 2022-04-22 探维科技(北京)有限公司 脉冲信号的放大电路、回波信号接收系统及激光雷达

Family Cites Families (41)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4893018A (en) * 1986-05-21 1990-01-09 Kabushiki Kaisha Toshiba Radiation detecting circuit including positional error calibrator
US5521736A (en) * 1994-09-29 1996-05-28 Vixel Corporation Control circuits for parallel optical interconnects
JP3793266B2 (ja) * 1995-10-20 2006-07-05 浜松ホトニクス株式会社 ポジトロンct装置およびその画像再構成方法
US6148057A (en) * 1998-11-02 2000-11-14 Analogic Corporation Apparatus and method for calibrating detectors in a computed tomography scanner
JP2000321357A (ja) * 1999-03-10 2000-11-24 Toshiba Corp 核医学診断装置
US7868665B2 (en) * 2002-03-05 2011-01-11 Nova R&D, Inc. Integrated circuit and sensor for imaging
US6931098B2 (en) * 2002-03-08 2005-08-16 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Method and system for dual or multiple energy imaging
FR2864628B1 (fr) 2003-12-30 2006-02-17 Commissariat Energie Atomique Systeme de detection de rayonnements a comptage d'impulsions a double remise a zero
CA2621736C (en) 2004-09-16 2018-07-31 Southern Innovation International Pty Ltd Method and apparatus for resolving individual signals in detector output data
US7260171B1 (en) * 2004-10-25 2007-08-21 General Electric Company Apparatus for acquisition of CT data with penumbra attenuation calibration
CN2793721Y (zh) 2004-12-23 2006-07-05 北京源德生物医学工程有限公司 用于单光子计数仪的光电检测电路
US7592596B2 (en) 2005-06-03 2009-09-22 Ge Medical Systems Israel, Ltd Methods and systems for medical imaging
CN101297221B (zh) * 2005-10-28 2012-01-11 皇家飞利浦电子股份有限公司 用于谱计算机断层摄影的方法和设备
US20090016482A1 (en) * 2006-01-05 2009-01-15 Koninklijke Philips Electronics N. V. Artifact suppression
JP4670704B2 (ja) * 2006-03-31 2011-04-13 株式会社日立製作所 エネルギー較正方法,エネルギー関心領域の設定方法、放射線検出装置及び核医学診断装置
US7485850B2 (en) * 2006-07-27 2009-02-03 Varian Medical Systems, Inc. Gain/lag artifact correction algorithm and software
WO2008018264A1 (fr) * 2006-08-08 2008-02-14 Shimadzu Corporation appareil de tomographie informatisée par positrons
ATE556537T1 (de) * 2006-09-25 2012-05-15 Koninkl Philips Electronics Nv Kompensation von leckagestrom und restsignalen zur integration eines detektors auf basis direkter röntgenstahlumwandlung
WO2008065564A2 (en) * 2006-11-30 2008-06-05 Koninklijke Philips Electronics, N.V. Spectral computed tomography using correlated photon number and energy measurements
WO2008146218A2 (en) * 2007-06-01 2008-12-04 Koninklijke Philips Electronics N.V. Spectral photon counting detector
US8159286B2 (en) * 2007-10-08 2012-04-17 General Electric Company System and method for time-to-voltage conversion with lock-out logic
DE102008005373B4 (de) * 2008-01-21 2010-02-25 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren und Schaltungsanordnung zur Bestimmung der Strahlungsintensität mit direkt zählenden Detektoren
CN102016923A (zh) * 2008-05-06 2011-04-13 皇家飞利浦电子股份有限公司 图像伪影的减少
JP5461547B2 (ja) * 2008-07-07 2014-04-02 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ K端イメージング
WO2010015951A1 (en) * 2008-08-04 2010-02-11 Koninklijke Philips Electronics N.V. Data acquisition
US7872221B2 (en) * 2009-01-30 2011-01-18 General Electric Company Apparatus and methods for calibrating pixelated detectors
US8378310B2 (en) * 2009-02-11 2013-02-19 Prismatic Sensors Ab Image quality in photon counting-mode detector systems
JP5595478B2 (ja) * 2009-03-26 2014-09-24 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ 画像処理システムにおけるディテクタ配列装置及び方法
EP2419759B1 (en) * 2009-04-16 2013-10-23 Koninklijke Philips N.V. Spectral imaging
ES2710101T3 (es) * 2009-06-17 2019-04-23 Univ Michigan Regents Fotodiodo y otras estructuras de sensores en generadores de imágenes de rayos X de panel plano y método para mejorar la uniformidad topológica del fotodiodo y otras estructuras de sensores en impresoras de rayos X de panel plano basadas en electrónica de película delgada
DE102010015422B4 (de) 2010-04-19 2013-04-18 Siemens Aktiengesellschaft Röntgendetektor mit einer direkt konvertierenden Halbleiterschicht und Kalibrierverfahren für einen solchen Röntgendetektor
FR2961904B1 (fr) * 2010-06-29 2012-08-17 Commissariat Energie Atomique Procede d'identification de materiaux a partir de radiographies x multi energies
US8422636B2 (en) * 2010-10-12 2013-04-16 Ge Medical Systems Israel, Ltd. Photon counting and energy discriminating detector threshold calibration
EP2663879B1 (en) * 2011-01-10 2017-08-02 Koninklijke Philips N.V. Detection device for detecting photons emitted by a radiation source
WO2012101537A1 (en) * 2011-01-27 2012-08-02 Koninklijke Philips Electronics N.V. Spectral imaging
US9310495B2 (en) * 2011-05-04 2016-04-12 Oy Ajat Ltd. Photon/energy identifying X-ray and gamma ray imaging device (“PID”) with a two dimensional array of pixels and system therefrom
US8416914B2 (en) * 2011-07-08 2013-04-09 General Electric Company System and method of iterative image reconstruction for computed tomography
RU2594602C2 (ru) * 2011-10-19 2016-08-20 Конинклейке Филипс Н.В. Детектор для подсчета фотонов
JP6254947B2 (ja) * 2011-12-02 2017-12-27 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. 放射線を検出する検出装置
US9678220B2 (en) * 2011-12-19 2017-06-13 Konninklijke Philips N.V. X-ray detector with saturated sensor element estimated photon counting
US9619730B2 (en) * 2012-06-29 2017-04-11 Analogic Corporation Estimating multi-energy data in a radiation imaging modality

Also Published As

Publication number Publication date
BR112015013392A2 (pt) 2017-07-11
EP2932300A1 (en) 2015-10-21
CN104838287B (zh) 2018-08-17
WO2014091278A1 (en) 2014-06-19
EP2932300B1 (en) 2018-04-11
US9857479B2 (en) 2018-01-02
JP6145517B2 (ja) 2017-06-14
US9291724B2 (en) 2016-03-22
US20150268362A1 (en) 2015-09-24
CN104838287A (zh) 2015-08-12
US20160170039A1 (en) 2016-06-16
JP2016506507A (ja) 2016-03-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2014127855A (ru) Адаптивная постоянная компенсация тока для детекторов счета фотонов
JP2014066742A5 (ru)
JP2014166268A5 (ru)
JP2013229853A5 (ru)
JP2015037217A5 (ru)
JP2016515358A5 (ru)
JP2013138174A5 (ru)
EP2777956A3 (en) Tire suspension fusion system for estimation of tire deflection and tire load and method of estimating a tire load
WO2016073123A3 (en) High-current sensing scheme using drain-source voltage
JP2016522890A5 (ru)
WO2009095920A3 (en) Intra-aortic electrical counterpulsation
JP2014060517A5 (ja) 固体撮像装置
WO2012138687A3 (en) Spatially-varying flicker detection
IN2012DN01351A (ru)
RU2015153566A (ru) Детектор формирования изображений
JP2016525864A5 (ru)
GB201118970D0 (en) Target position,movement and tracking system
JP2016095278A5 (ru)
JP2013235054A5 (ja) 焦点検出装置、焦点検出方法及び撮像装置
EP2651121A3 (en) Radiation imaging apparatus, radiation imaging system, and control method for the radiation imaging apparatus
JP2016127373A5 (ru)
EP2645706A3 (en) Programmable readout integrated circuit for an ionizing radiation sensor
JP2018066701A5 (ru)
JP2013219407A5 (ru)
WO2012066297A3 (en) Electrolysis apparatus