RU2014127855A - Адаптивная постоянная компенсация тока для детекторов счета фотонов - Google Patents
Адаптивная постоянная компенсация тока для детекторов счета фотонов Download PDFInfo
- Publication number
- RU2014127855A RU2014127855A RU2014127855A RU2014127855A RU2014127855A RU 2014127855 A RU2014127855 A RU 2014127855A RU 2014127855 A RU2014127855 A RU 2014127855A RU 2014127855 A RU2014127855 A RU 2014127855A RU 2014127855 A RU2014127855 A RU 2014127855A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- direct conversion
- direct
- direct current
- pixel
- conversion material
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/17—Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/24—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/24—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
- G01T1/247—Detector read-out circuitry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/24—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
- G01T1/249—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors specially adapted for use in SPECT or PET
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
Claims (42)
1. Система (100) визуализации, содержащая:
первый пиксель (111) детектора прямого преобразования, который обнаруживает излучение, проходящее через область (106) исследования, и генерирует электрический сигнал, указывающий на это, причем генерируемый электрический сигнал содержит постоянный ток, который вырабатывается материалом прямого преобразования первого пикселя детектора прямого преобразования, и который сдвигает уровень электрического сигнала;
блок (116) оценки постоянного тока, который оценивает постоянный ток, вырабатываемый материалом прямого преобразования, и генерирует сигнал компенсации постоянного тока, основываясь на оценке;
предусилитель (112), который принимает электрический сигнал, выводимый первым пикселем детектора прямого преобразования, и сигнал компенсации постоянного тока, где сигнал компенсации постоянного тока по существу исключает постоянный ток, вырабатываемый материалом прямого преобразования, вырабатывая сигнал с компенсированным постоянным током, и который усиливает сигнал с компенсированным постоянным током, генерируя усиленный сигнал с компенсированным постоянным током; и
формирователь (114), который генерирует электрический импульс, указывающий на энергетический уровень излучения, освещающего материал прямого преобразования, основываясь на усиленном сигнале с компенсированным постоянным током.
2. Система визуализации по п. 1, в которой средство оценки постоянного тока оценивает сигнал компенсации постоянного тока, основываясь на модели поведения материала прямого преобразования относительно постоянного тока.
3. Система визуализации по п. 2, в которой модель моделирует генерацию захваченных дырок в материале прямого преобразования и скорость рекомбинации захваченных дырок материала прямого преобразования.
4. Система визуализации по п. 1, в которой блок оценки постоянного тока содержит:
схему (300), которая принимает и обрабатывает электрический импульс, выводимый формирователем, и генерирует сигнал компенсации постоянного тока на его основе.
5. Система визуализации по п. 4, в которой схема содержит:
первый резистивный элемент (310), который принимает электрический импульс, выводимый формирователем, и генерирует первый выходной сигнал, указывающий на генерацию захваченных дырок в материале прямого преобразования.
6. Система визуализации по п. 5, в которой первый резистивный элемент имеет первое значение сопротивления, соответствующее поведению материала прямого преобразования относительно постоянного тока.
7. Система визуализации по п. 6, которая дополнительно содержит:
по меньшей мере второй пиксель детектора прямого преобразования, причем первый резистивный элемент второго пикселя детектора прямого преобразования имеет второе значение
сопротивления, соответствующее поведению материала прямого преобразования по меньшей мере второго пикселя детектора прямого преобразования относительно постоянного тока, и второе значение сопротивления отличается от первого значения сопротивления.
8. Система визуализации по п. 5, в которой схема дополнительно содержит:
интегратор (302), который содержит:
усилитель (304); и
схему (303) обратной связи, которая содержит:
второй резистивный элемент (306), указывающий на скорость рекомбинации захваченных дырок материала прямого преобразования; и
емкостной элемент (308), причем второй резистивный элемент и емкостной элемент электрически соединены параллельно,
причем интегратор принимает и интегрирует первый выходной сигнал и генерирует сигнал компенсации постоянного тока на его основе.
9. Система визуализации по п. 8, где второй резистивный элемент имеет второе значение сопротивления, соответствующее поведению материала прямого преобразования относительно постоянного тока.
10. Система визуализации по п. 9, которая дополнительно содержит:
по меньшей мере второй пиксель детектора прямого преобразования, причем второй резистивный элемент второго пикселя детектора прямого преобразования имеет второе значение сопротивления, соответствующее поведению материала прямого
преобразования по меньшей мере второго пикселя детектора прямого преобразования относительно постоянного тока, и второе значение сопротивления отличается от первого значения сопротивления.
11. Система визуализации по п. 1, в которой электрический импульс, генерируемый формирователем, обрабатывается для того, чтобы энергетически различать соответствующее обнаруживаемое излучение.
12. Система визуализации по любому по п. 1, которая дополнительно содержит:
множество пикселей детектора прямого преобразования и множество блоков оценки постоянного тока, причем каждый блок оценки постоянного тока генерирует сигнал компенсации постоянного тока для отличного пикселя детектора прямого преобразования.
13. Система визуализации по п. 1, в которой постоянный ток вырабатывается материалом прямого преобразования первого пикселя детектора прямого преобразования в ответ на излучение, освещающее материал прямого преобразования.
14. Способ, который включает в себя этапы, на которых:
генерируют сигнал компенсации постоянного тока, основываясь на модели поведения материала прямого преобразования пикселя (111) детектора счета фотонов системы (100) визуализации,
причем модель моделирует генерацию захваченных дырок в материале прямого преобразования и скорость рекомбинации захваченных дырок материала прямого преобразования; и
подают сигнал компенсации постоянного тока на вход предусилителя (112), который принимает и усиливает электрическийсигнал, вырабатываемый посредством пикселя детектора счета фотонов в ответ на излучение, освещающее пиксель детектора счета фотонов.
15. Способ по п. 14, который дополнительно включает в себя этапы, на которых:
генерируют сигнал компенсации постоянного тока с использованием схемы, которая содержит:
интегратор (302), который содержит:
усилитель (304); и
схему (303) обратной связи, которая содержит:
второй резистивный элемент (306), указывающий на скорость рекомбинации захваченных дырок материала прямого преобразования; и
емкостной элемент (308), причем второй резистивный элемент и емкостной элемент электрически соединены параллельно,
причем интегратор принимает и интегрирует первый выходной сигнал и генерирует сигнал компенсации постоянного тока на его основе.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/IB2012/057211 WO2014091278A1 (en) | 2012-12-12 | 2012-12-12 | Adaptive persistent current compensation for photon counting detectors |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2014127855A true RU2014127855A (ru) | 2017-01-18 |
Family
ID=47603881
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2014127855A RU2014127855A (ru) | 2012-12-12 | 2012-12-12 | Адаптивная постоянная компенсация тока для детекторов счета фотонов |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US9291724B2 (ru) |
EP (1) | EP2932300B1 (ru) |
JP (1) | JP6145517B2 (ru) |
CN (1) | CN104838287B (ru) |
BR (1) | BR112015013392A2 (ru) |
RU (1) | RU2014127855A (ru) |
WO (1) | WO2014091278A1 (ru) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014087264A1 (en) * | 2012-12-04 | 2014-06-12 | Koninklijke Philips N.V. | Method and apparatus for image correction of x-ray image information |
EP2871496B1 (en) * | 2013-11-12 | 2020-01-01 | Samsung Electronics Co., Ltd | Radiation detector and computed tomography apparatus using the same |
US9759822B2 (en) | 2013-11-27 | 2017-09-12 | Koninklijke Philips N.V. | Detection device for detecting photons and method therefore |
US10159450B2 (en) * | 2014-10-01 | 2018-12-25 | Toshiba Medical Systems Corporation | X-ray CT apparatus including a photon-counting detector, and an image processing apparatus and an image processing method for correcting detection signals detected by the photon-counting detector |
EP3234651B1 (en) | 2014-12-16 | 2019-09-11 | Koninklijke Philips N.V. | Baseline shift determination for a photon detector |
WO2017046002A1 (en) | 2015-09-18 | 2017-03-23 | Koninklijke Philips N.V. | Correcting photon counts in a photon counting x-ray radiation detection system |
US10117626B2 (en) * | 2015-09-29 | 2018-11-06 | General Electric Company | Apparatus and method for pile-up correction in photon-counting detector |
EP3532873B1 (en) * | 2016-10-27 | 2021-06-23 | Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. | Dark noise compensation in a radiation detector |
FR3058230B1 (fr) * | 2016-10-27 | 2019-03-15 | Detection Technology Sas | Dispositif de spectrometrie |
EP3567405A1 (en) | 2018-05-08 | 2019-11-13 | Koninklijke Philips N.V. | Photon counting spectral ct |
CN113614576A (zh) * | 2018-11-29 | 2021-11-05 | Oy直接转换有限公司 | 检测器电路 |
CN114114212B (zh) * | 2022-01-28 | 2022-04-22 | 探维科技(北京)有限公司 | 脉冲信号的放大电路、回波信号接收系统及激光雷达 |
Family Cites Families (41)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4893018A (en) * | 1986-05-21 | 1990-01-09 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Radiation detecting circuit including positional error calibrator |
US5521736A (en) * | 1994-09-29 | 1996-05-28 | Vixel Corporation | Control circuits for parallel optical interconnects |
JP3793266B2 (ja) * | 1995-10-20 | 2006-07-05 | 浜松ホトニクス株式会社 | ポジトロンct装置およびその画像再構成方法 |
US6148057A (en) * | 1998-11-02 | 2000-11-14 | Analogic Corporation | Apparatus and method for calibrating detectors in a computed tomography scanner |
JP2000321357A (ja) * | 1999-03-10 | 2000-11-24 | Toshiba Corp | 核医学診断装置 |
US7868665B2 (en) * | 2002-03-05 | 2011-01-11 | Nova R&D, Inc. | Integrated circuit and sensor for imaging |
US6931098B2 (en) * | 2002-03-08 | 2005-08-16 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | Method and system for dual or multiple energy imaging |
FR2864628B1 (fr) | 2003-12-30 | 2006-02-17 | Commissariat Energie Atomique | Systeme de detection de rayonnements a comptage d'impulsions a double remise a zero |
CA2621736C (en) | 2004-09-16 | 2018-07-31 | Southern Innovation International Pty Ltd | Method and apparatus for resolving individual signals in detector output data |
US7260171B1 (en) * | 2004-10-25 | 2007-08-21 | General Electric Company | Apparatus for acquisition of CT data with penumbra attenuation calibration |
CN2793721Y (zh) | 2004-12-23 | 2006-07-05 | 北京源德生物医学工程有限公司 | 用于单光子计数仪的光电检测电路 |
US7592596B2 (en) | 2005-06-03 | 2009-09-22 | Ge Medical Systems Israel, Ltd | Methods and systems for medical imaging |
CN101297221B (zh) * | 2005-10-28 | 2012-01-11 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 用于谱计算机断层摄影的方法和设备 |
US20090016482A1 (en) * | 2006-01-05 | 2009-01-15 | Koninklijke Philips Electronics N. V. | Artifact suppression |
JP4670704B2 (ja) * | 2006-03-31 | 2011-04-13 | 株式会社日立製作所 | エネルギー較正方法,エネルギー関心領域の設定方法、放射線検出装置及び核医学診断装置 |
US7485850B2 (en) * | 2006-07-27 | 2009-02-03 | Varian Medical Systems, Inc. | Gain/lag artifact correction algorithm and software |
WO2008018264A1 (fr) * | 2006-08-08 | 2008-02-14 | Shimadzu Corporation | appareil de tomographie informatisée par positrons |
ATE556537T1 (de) * | 2006-09-25 | 2012-05-15 | Koninkl Philips Electronics Nv | Kompensation von leckagestrom und restsignalen zur integration eines detektors auf basis direkter röntgenstahlumwandlung |
WO2008065564A2 (en) * | 2006-11-30 | 2008-06-05 | Koninklijke Philips Electronics, N.V. | Spectral computed tomography using correlated photon number and energy measurements |
WO2008146218A2 (en) * | 2007-06-01 | 2008-12-04 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Spectral photon counting detector |
US8159286B2 (en) * | 2007-10-08 | 2012-04-17 | General Electric Company | System and method for time-to-voltage conversion with lock-out logic |
DE102008005373B4 (de) * | 2008-01-21 | 2010-02-25 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren und Schaltungsanordnung zur Bestimmung der Strahlungsintensität mit direkt zählenden Detektoren |
CN102016923A (zh) * | 2008-05-06 | 2011-04-13 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 图像伪影的减少 |
JP5461547B2 (ja) * | 2008-07-07 | 2014-04-02 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | K端イメージング |
WO2010015951A1 (en) * | 2008-08-04 | 2010-02-11 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Data acquisition |
US7872221B2 (en) * | 2009-01-30 | 2011-01-18 | General Electric Company | Apparatus and methods for calibrating pixelated detectors |
US8378310B2 (en) * | 2009-02-11 | 2013-02-19 | Prismatic Sensors Ab | Image quality in photon counting-mode detector systems |
JP5595478B2 (ja) * | 2009-03-26 | 2014-09-24 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | 画像処理システムにおけるディテクタ配列装置及び方法 |
EP2419759B1 (en) * | 2009-04-16 | 2013-10-23 | Koninklijke Philips N.V. | Spectral imaging |
ES2710101T3 (es) * | 2009-06-17 | 2019-04-23 | Univ Michigan Regents | Fotodiodo y otras estructuras de sensores en generadores de imágenes de rayos X de panel plano y método para mejorar la uniformidad topológica del fotodiodo y otras estructuras de sensores en impresoras de rayos X de panel plano basadas en electrónica de película delgada |
DE102010015422B4 (de) | 2010-04-19 | 2013-04-18 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgendetektor mit einer direkt konvertierenden Halbleiterschicht und Kalibrierverfahren für einen solchen Röntgendetektor |
FR2961904B1 (fr) * | 2010-06-29 | 2012-08-17 | Commissariat Energie Atomique | Procede d'identification de materiaux a partir de radiographies x multi energies |
US8422636B2 (en) * | 2010-10-12 | 2013-04-16 | Ge Medical Systems Israel, Ltd. | Photon counting and energy discriminating detector threshold calibration |
EP2663879B1 (en) * | 2011-01-10 | 2017-08-02 | Koninklijke Philips N.V. | Detection device for detecting photons emitted by a radiation source |
WO2012101537A1 (en) * | 2011-01-27 | 2012-08-02 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Spectral imaging |
US9310495B2 (en) * | 2011-05-04 | 2016-04-12 | Oy Ajat Ltd. | Photon/energy identifying X-ray and gamma ray imaging device (“PID”) with a two dimensional array of pixels and system therefrom |
US8416914B2 (en) * | 2011-07-08 | 2013-04-09 | General Electric Company | System and method of iterative image reconstruction for computed tomography |
RU2594602C2 (ru) * | 2011-10-19 | 2016-08-20 | Конинклейке Филипс Н.В. | Детектор для подсчета фотонов |
JP6254947B2 (ja) * | 2011-12-02 | 2017-12-27 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. | 放射線を検出する検出装置 |
US9678220B2 (en) * | 2011-12-19 | 2017-06-13 | Konninklijke Philips N.V. | X-ray detector with saturated sensor element estimated photon counting |
US9619730B2 (en) * | 2012-06-29 | 2017-04-11 | Analogic Corporation | Estimating multi-energy data in a radiation imaging modality |
-
2012
- 2012-12-12 RU RU2014127855A patent/RU2014127855A/ru unknown
- 2012-12-12 EP EP12818819.0A patent/EP2932300B1/en active Active
- 2012-12-12 WO PCT/IB2012/057211 patent/WO2014091278A1/en active Application Filing
- 2012-12-12 CN CN201280077580.3A patent/CN104838287B/zh active Active
- 2012-12-12 BR BR112015013392A patent/BR112015013392A2/pt not_active IP Right Cessation
- 2012-12-12 JP JP2015547153A patent/JP6145517B2/ja active Active
- 2012-12-12 US US14/363,451 patent/US9291724B2/en active Active
-
2016
- 2016-02-11 US US15/041,100 patent/US9857479B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
BR112015013392A2 (pt) | 2017-07-11 |
EP2932300A1 (en) | 2015-10-21 |
CN104838287B (zh) | 2018-08-17 |
WO2014091278A1 (en) | 2014-06-19 |
EP2932300B1 (en) | 2018-04-11 |
US9857479B2 (en) | 2018-01-02 |
JP6145517B2 (ja) | 2017-06-14 |
US9291724B2 (en) | 2016-03-22 |
US20150268362A1 (en) | 2015-09-24 |
CN104838287A (zh) | 2015-08-12 |
US20160170039A1 (en) | 2016-06-16 |
JP2016506507A (ja) | 2016-03-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
RU2014127855A (ru) | Адаптивная постоянная компенсация тока для детекторов счета фотонов | |
JP2014066742A5 (ru) | ||
JP2014166268A5 (ru) | ||
JP2013229853A5 (ru) | ||
JP2015037217A5 (ru) | ||
JP2016515358A5 (ru) | ||
JP2013138174A5 (ru) | ||
EP2777956A3 (en) | Tire suspension fusion system for estimation of tire deflection and tire load and method of estimating a tire load | |
WO2016073123A3 (en) | High-current sensing scheme using drain-source voltage | |
JP2016522890A5 (ru) | ||
WO2009095920A3 (en) | Intra-aortic electrical counterpulsation | |
JP2014060517A5 (ja) | 固体撮像装置 | |
WO2012138687A3 (en) | Spatially-varying flicker detection | |
IN2012DN01351A (ru) | ||
RU2015153566A (ru) | Детектор формирования изображений | |
JP2016525864A5 (ru) | ||
GB201118970D0 (en) | Target position,movement and tracking system | |
JP2016095278A5 (ru) | ||
JP2013235054A5 (ja) | 焦点検出装置、焦点検出方法及び撮像装置 | |
EP2651121A3 (en) | Radiation imaging apparatus, radiation imaging system, and control method for the radiation imaging apparatus | |
JP2016127373A5 (ru) | ||
EP2645706A3 (en) | Programmable readout integrated circuit for an ionizing radiation sensor | |
JP2018066701A5 (ru) | ||
JP2013219407A5 (ru) | ||
WO2012066297A3 (en) | Electrolysis apparatus |