JP2015204310A - Substrate processing device - Google Patents
Substrate processing device Download PDFInfo
- Publication number
- JP2015204310A JP2015204310A JP2014081333A JP2014081333A JP2015204310A JP 2015204310 A JP2015204310 A JP 2015204310A JP 2014081333 A JP2014081333 A JP 2014081333A JP 2014081333 A JP2014081333 A JP 2014081333A JP 2015204310 A JP2015204310 A JP 2015204310A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- holding member
- substrate holding
- processing apparatus
- unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Abstract
Description
本発明は、基板処理装置及びそれに用いられる基板保持部材に関するものである。 The present invention relates to a substrate processing apparatus and a substrate holding member used therefor.
携帯端末のタッチパネルの製造工程には、ガラス基板にカラーフィルタ等となる薬液を塗布処理し、その後、真空乾燥処理、加熱処理、及び冷却処理する工程が含まれている。従来、これらの処理を行う際には、特許文献1、2で示されるように、ロボットハンドを用いて基板を各処理ユニットに搬送していた。
The manufacturing process of a touch panel of a portable terminal includes a process of applying a chemical solution to be a color filter or the like on a glass substrate, and thereafter performing a vacuum drying process, a heating process, and a cooling process. Conventionally, when performing these processes, as shown in
したがって、基板の処理時間には、実際に基板を処理する時間に加えて、ロボットハンドを用いた、各処理ユニットへの基板の受け入れ、各処理ユニットからの基板の取り出し、すなわち基板の搬送時間が含まれることとなっていた。 Therefore, in addition to the time for actually processing the substrate, the substrate processing time includes the time for receiving the substrate into each processing unit and taking out the substrate from each processing unit using the robot hand, that is, the time for transporting the substrate. Was to be included.
そこで、本発明では、基板の処理時間、特に基板の搬送時間を短縮することができる、基板処理装置及び基板保持部材を提供することを目的とする。 Therefore, an object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus and a substrate holding member that can shorten the substrate processing time, particularly the substrate transport time.
本願の第1発明は、基板を処理する基板処理装置であって、
基板を保持する基板保持部材と、
基板を処理する複数の処理ユニットを備える処理部と、
基板を搬送する搬送手段と、を備えており、
前記搬送手段は、前記基板保持部材が基板を保持した状態で、前記基板保持部材を前記各処理ユニット間で水平に搬送するように構成されており、
前記各処理ユニットは、上方及び/又は下方より前記基板保持部材にアクセスするようになっていることを特徴とする。
1st invention of this application is a substrate processing apparatus which processes a board | substrate, Comprising:
A substrate holding member for holding the substrate;
A processing unit comprising a plurality of processing units for processing a substrate;
A transport means for transporting the substrate,
The transport means is configured to transport the substrate holding member horizontally between the processing units in a state where the substrate holding member holds the substrate.
Each processing unit is configured to access the substrate holding member from above and / or below.
前記構成によれば、基板は基板保持部材に保持された状態で、各処理ユニット間で水平に搬送されるので、各処理ユニットにおいて、ロボットハンドによって、基板を基板保持部材に載せる、及び、基板を基板保持部材から取り外すという作業を省略することができ、基板の搬送時間を短縮することができる。 According to the above configuration, since the substrate is horizontally transferred between the processing units while being held by the substrate holding member, the substrate is placed on the substrate holding member by the robot hand in each processing unit, and the substrate The work of removing the substrate from the substrate holding member can be omitted, and the substrate transport time can be shortened.
前記第1発明は、更に、次のような構成を備えるのが好ましい。
(1)前記基板保持部材は、開口部を有する枠体と、前記開口部を覆い前記枠体に取り付けられるフィルム体と、を有しており、
基板は、前記フィルム体上に載置されるようになっており、
前記フィルム体は、通気性を備えたフィルムでできている。
(2)前記処理部は、基板を塗布処理する塗布ユニットを備えており、
前記塗布ユニットは、基板が載置された前記基板保持部材を下方から支持する定盤と、
前記基板の上方から前記基板に対して塗布を行う塗布部材と、を備えており、
前記定盤は、上下方向に移動可能となっている。
(3)前記処理部は、基板を真空乾燥処理する真空乾燥ユニットを備えており、
前記真空乾燥ユニットは、基板が載置された前記基板保持部材の上方から前記基板保持部材に当接し、前記基板保持部材の上方を覆う上チャンバーと、
基板が載置された前記基板保持部材の下方から前記基板保持部材に当接し、前記基板保持部材の下方を覆う下チャンバーと、を備えており、
前記上チャンバー及び前記下チャンバーは、上下方向に移動可能となっている。
(4)前記処理部は、基板を加熱する加熱ユニットを備えており、
前記加熱ユニットは、基板が載置された前記基板保持部材の上方及び/又は下方から前記基板を加熱する加熱部材を備えており、
前記加熱部材は、上下方向に移動可能となっている。
(5)前記処理部は、基板を冷却する冷却ユニットを備えており、
前記冷却ユニットは、基板が載置された前記基板保持部材の上方及び/又は下方から前記基板を冷却する冷却部材を備えており、
前記冷却部材は、上下方向に移動可能となっている。
(6)前記構成(1)において、前記基板処理装置は、前記基板保持部材から基板を取り外す取外手段をさらに備えており、
前記フィルム体は伸縮性を備えており、
前記取外手段は、前記基板保持部材の下方から前記フィルム体及び前記基板を上方に突き上げる突上部材と、前記突上部材が前記フィルム体及び前記基板を突き上げることによって生じた前記フィルム体と前記基板との隙間に挿入され、前記基板が載置される、載置部材と、を備えている。
(7)前記搬送手段は、前記基板保持部材を循環させるように搬送する。
(8)前記基板保持部材及び/又は前記処理ユニットは、前記基板処理装置に対して取り外し可能となっている。
(9)前記構成(7)において、前記搬送手段は、円形形状又は楕円形形状の搬送ベルトと、前記搬送ベルトを作動させる作動機構と、を備えており、
前記搬送ベルトには、複数の基板保持部材が連結されており、
前記基板保持部材の外周側には、さらなる基板保持部材が前記基板保持部材に連結されている。
(10)前記構成(7)において、前記搬送手段は、円形形状の搬送ベルトと、前記搬送ベルトを回転させる作動機構と、前記搬送ベルトの回転中心となる軸と、を備えており、
前記搬送ベルトは、前記軸に着脱自在となっている。
(11)前記搬送手段は、互いに上下方向に位置する複数の搬送ベルトと、前記複数の搬送ベルトを作動させる作動機構と、を備えており、
前記各搬送ベルトには、複数の基板保持部材が連結されており、
前記搬送ベルトに連結されている基板保持部材は、別の前記搬送ベルトに連結されている基板保持部材の上下方向位置に配置されるようになっている。
The first invention preferably further comprises the following configuration.
(1) The substrate holding member includes a frame having an opening, and a film body that covers the opening and is attached to the frame.
The substrate is adapted to be placed on the film body,
The film body is made of a film having air permeability.
(2) The processing unit includes a coating unit for coating the substrate,
The coating unit includes a surface plate that supports the substrate holding member on which the substrate is placed from below,
An application member that applies the application to the substrate from above the substrate,
The surface plate is movable in the vertical direction.
(3) The processing unit includes a vacuum drying unit for vacuum drying the substrate,
The vacuum drying unit is in contact with the substrate holding member from above the substrate holding member on which the substrate is placed, and an upper chamber that covers the upper portion of the substrate holding member;
A lower chamber that contacts the substrate holding member from below the substrate holding member on which the substrate is placed and covers the lower portion of the substrate holding member,
The upper chamber and the lower chamber are movable in the vertical direction.
(4) The processing unit includes a heating unit for heating the substrate,
The heating unit includes a heating member that heats the substrate from above and / or below the substrate holding member on which the substrate is placed.
The heating member is movable in the vertical direction.
(5) The processing unit includes a cooling unit for cooling the substrate,
The cooling unit includes a cooling member that cools the substrate from above and / or below the substrate holding member on which the substrate is placed.
The cooling member is movable in the vertical direction.
(6) In the configuration (1), the substrate processing apparatus further includes removal means for removing the substrate from the substrate holding member,
The film body has elasticity,
The removing means includes a protruding member that pushes the film body and the substrate upward from below the substrate holding member, the film body that is generated when the protruding member pushes the film body and the substrate, and the A mounting member that is inserted into a gap with the substrate and on which the substrate is mounted.
(7) The transport means transports the substrate holding member so as to circulate.
(8) The substrate holding member and / or the processing unit can be detached from the substrate processing apparatus.
(9) In the configuration (7), the transport unit includes a circular or elliptical transport belt, and an operating mechanism that operates the transport belt.
A plurality of substrate holding members are coupled to the transport belt,
A further substrate holding member is connected to the substrate holding member on the outer peripheral side of the substrate holding member.
(10) In the configuration (7), the transport unit includes a circular transport belt, an operation mechanism that rotates the transport belt, and a shaft that serves as a rotation center of the transport belt.
The conveyor belt is detachable from the shaft.
(11) The transport unit includes a plurality of transport belts positioned in the vertical direction, and an operating mechanism that operates the plurality of transport belts.
A plurality of substrate holding members are connected to each of the transport belts,
The substrate holding member connected to the transport belt is arranged at the vertical position of the substrate holding member connected to another transport belt.
前記構成(1)によれば、基板を、通気性を備えたフィルムでできたフィルム体上に載置することによって、基板を基板保持部材に保持した状態で、各処理ユニット間で搬送させることができる。 According to the configuration (1), by placing the substrate on a film body made of a film having air permeability, the substrate is transported between the processing units while being held by the substrate holding member. Can do.
前記構成(2)によれば、塗布ユニットによって、基板保持部材上に載置された基板に塗布を行うことができる。 According to said structure (2), it can apply | coat to the board | substrate mounted on the board | substrate holding member by the application unit.
前記構成(3)によれば、真空乾燥ユニットによって、基板保持部材上に載置された基板の真空乾燥を行うことができる。 According to the configuration (3), the substrate placed on the substrate holding member can be vacuum dried by the vacuum drying unit.
前記構成(4)によれば、加熱ユニットによって、基板保持部材上に載置された基板の加熱を行うことができる。 According to the configuration (4), the substrate placed on the substrate holding member can be heated by the heating unit.
前記構成(5)によれば、冷却ユニットによって、基板保持部材上に載置された基板の冷却を行うことができる。 According to the configuration (5), the substrate placed on the substrate holding member can be cooled by the cooling unit.
前記構成(6)によれば、取外手段によって、基板保持部材上の載置された基板を基板保持部材から取り外すことができる。 According to the configuration (6), the substrate placed on the substrate holding member can be detached from the substrate holding member by the removing means.
前記構成(7)によれば、基板保持部材を循環させることによって、基板処理装置の設置面積を小さくすることができる。 According to the configuration (7), the installation area of the substrate processing apparatus can be reduced by circulating the substrate holding member.
前記構成(8)によれば、必要な基板保持部材及び/又は処理ユニットを基板処理装置に取り付け、不要な基板保持部材及び/又は処理ユニットを取り外すことができるので、基板処理内容に応じた合理的な基板処理装置を構成できる。 According to the configuration (8), a necessary substrate holding member and / or processing unit can be attached to the substrate processing apparatus, and an unnecessary substrate holding member and / or processing unit can be removed. A typical substrate processing apparatus can be configured.
前記構成(9)によれば、基板処理装置は、基板保持部材の外周に、さらに、基板保持部材を備えているので、基板処理装置の基板処理量を増大させることができる。 According to the configuration (9), since the substrate processing apparatus further includes the substrate holding member on the outer periphery of the substrate holding member, the substrate processing amount of the substrate processing apparatus can be increased.
前記構成(10)によれば、搬送ベルトが着脱自在となっているので、取り付けられる搬送ベルトの大きさを変化させることによって、基板処理装置の生産量や設置面積を調整することができる。 According to the configuration (10), since the conveyor belt is detachable, the production amount and installation area of the substrate processing apparatus can be adjusted by changing the size of the conveyor belt to be attached.
前記構成(11)によれば、基板処理装置は、基板保持部材の上下方向位置に、さらに、基板保持部材を備えているので、基板処理装置の設置面積をほとんど増加させることなく、基板処理装置の基板処理量を増加させることができる。 According to the configuration (11), since the substrate processing apparatus further includes the substrate holding member at the vertical position of the substrate holding member, the substrate processing apparatus hardly increases the installation area of the substrate processing apparatus. The substrate throughput can be increased.
本願の第2発明は、基板処理装置に用いられる基板保持部材であって、
前記基板保持部材は、開口部を有する枠体と、前記開口部を覆い前記枠体に取り付けられるフィルム体と、を有しており、
基板は、前記フィルム体上に載置されるようになっており、
前記フィルム体は、通気性を備えたフィルムでできていることを特徴とする。
A second invention of the present application is a substrate holding member used in a substrate processing apparatus,
The substrate holding member includes a frame having an opening, and a film body that covers the opening and is attached to the frame.
The substrate is adapted to be placed on the film body,
The film body is made of a film having air permeability.
前記構成によれば、基板を、通気性を備えたフィルムでできたフィルム体上に載置することによって、基板を基板保持部材に保持した状態で、各処理ユニット間で搬送させることができる。その結果、各処理ユニットにおいて、基板を基板保持部材に載せる、及び、基板を基板保持部材から取り外す作業を省略することができ、基板の搬送時間を短縮することができる。 According to the said structure, by mounting a board | substrate on the film body made from the film provided with air permeability, it can be made to convey between each processing unit in the state hold | maintained to the board | substrate holding member. As a result, in each processing unit, the operations of placing the substrate on the substrate holding member and removing the substrate from the substrate holding member can be omitted, and the substrate transport time can be shortened.
要するに、本発明によると、基板の搬送時間を短縮することが可能な、基板処理装置及び基板保持部材を提供することができる。 In short, according to the present invention, it is possible to provide a substrate processing apparatus and a substrate holding member capable of shortening the substrate transport time.
(全体構成)
図1は、本発明の実施形態に係る基板処理装置10の概略上面図である。基板処理装置10は、基板を処理する複数の処理ユニットを備える処理部を備えており、前記処理部は、基板の表面に処理液を塗布する塗布ユニット1と、基板に塗布された処理液を乾燥させる真空乾燥ユニット2と、基板を加熱処理する加熱ユニット3と、基板を冷却処理する冷却ユニット4と、を備えている。各処理ユニットは、基板が載置されている基板保持部材5を受け入れ可能となっており、基板を基板保持部材5上に載置した状態で基板に所定の処理を行うことが可能となっている。
(overall structure)
FIG. 1 is a schematic top view of a
基板処理装置10は、さらに、基板が載置されている基板保持部材5を各処理ユニット間で水平に搬送する搬送手段11を備えている。搬送手段11は、円形形状の搬送ベルト12と、軸13を中心として搬送ベルト12を一定方向(R方向)に回転させる回転機構(図示せず)と、を備えている。搬送ベルト12には、複数(12体)の基板保持部材5が等間隔に連結されている。すなわち、基板保持部材5は、搬送ベルト12が回転する搬送ライン14において、30度毎に配置されている。そして、回転機構は、例えば、20秒毎に30度、搬送ベルト12をR方向に回転させるようになっている。
The
各処理ユニットは、搬送ライン14に沿って、且つ、搬送ベルト12の回転方向(R方向)に向かって基板の処理工程の順となるように、配置されている。すなわち、搬送ライン14において、R方向の上流側から順に、塗布ユニット1、真空乾燥ユニット2、加熱ユニット3、そして冷却ユニット4が配置されている。また、塗布ユニット1に対して、R方向の上流側には、基板保持部材5に基板を載置する作業を行う、載置手段6が設けられている。載置手段6は、例えば、ロボットアームである。また、冷却ユニット4に対して、R方向の下流側には、基板保持部材5から基板を取り外す、取外手段7が設けられている。本実施形態では、取外手段7は、載置手段6のロボットアームを兼用している。
Each processing unit is arranged along the
各処理ユニットの処理時間は、基板保持部材5の数に対応するステージの数で調整されている。例えば、塗布処理時間が20秒、真空乾燥処理時間が60秒、加熱処理時間が120秒、冷却処理時間が20秒である場合、塗布ユニット1はステージを1つ占有し、真空乾燥ユニット2はステージを3つ占有し、加熱ユニット3はステージを6つ占有し、冷却ユニット4はステージを1つ占有する。なお、基板保持部材5に基板を載置する載置ステージ及び基板保持部5から基板を取り外す取外ステージにもステージが必要となる。載置ステージと取外ステージとは別々に設けても良いが、本実施形態では、載置ステージと取外ステージとは共通となっており、ステージを1つ占有している。すなわち、12の基板保持部材5が12のステージに対応している。以降、便宜上、基板を基板保持部材に載置するステージをS0、基板に塗布処理を行うステージをS1、基板を真空乾燥処理するステージをS2〜S4、基板を加熱処理するステージをS5〜S10、基板を冷却処理するステージをS11、基板を基板保持部材から取り出すステージをS12とする。搬送ライン14が円周となっている関係上、ステージS0とステージS12とは同じ位置となっている。なお、各ステージに各処理ユニットが配置されていることから、本実施形態では、基板処理装置10は、1つの塗布ユニット1、3つの真空乾燥ユニット2、6つの加熱ユニット3、1つの冷却ユニット4を備えている。なお、上記処理時間は、各ステージにおける各処理ユニットのアクセス時間を含んでおり、実際の処理時間は上記処理時間より短いが、ここでは便宜上、処理時間と記載する。
The processing time of each processing unit is adjusted by the number of stages corresponding to the number of
(基板保持部材)
図2は、基板保持部材5の概略上面図であり、図3は、図2のIII−III断面図である。図2及び図3に示されるように、基板保持部材5は、開口部51aを有する枠体51と、開口部51aを覆い枠体51に取り付けられるフィルム体52と、を有している。そして、基板は、フィルム体52上に載置されるようになっている。枠体51は、金属でできており、矩形状の載置部51bと、載置部51bの一辺から側方外方に延びている棒状の支持部51cと、を備えている。載置部51bの中央部には開口部51aが形成されている。上述したように、支持部51cの一端は載置部51aと一体となっており、その他端は搬送ベルト12に連結されている。フィルム体52は、通気性を備えている。
(Substrate holding member)
2 is a schematic top view of the
(塗布ユニット)
図4及び図5は、塗布ユニット1によって基板100に塗布処理を行う作業を示す概略断面図である。図4及び図5に示されるように、塗布ユニット1は、基板保持部材5を下方から支持する定盤16と、基板保持部材5の上方から基板100に対して塗布を行う塗布部材(ノズル)17と、を備えている。定盤16には上下方向に貫通する、複数のポーラスな貫通孔161が設けられている。そして、塗布ユニット1は、定盤16の下方に、貫通孔161を介して基板保持部材5及び基板100を吸引する吸引部材18を備えている。定盤16及び吸引部材18は、一体として、上下方向(Z方向)に移動可能となっている。塗布部材17は、上下方向(Z方向)に移動可能となっており、さらに塗布方向(X方向)にも移動可能となっている。
(Coating unit)
FIG. 4 and FIG. 5 are schematic cross-sectional views showing the operation of performing the coating process on the
塗布ユニット1は、以下のとおり基板100に塗布処理を行うようになっている。ステージS1に基板100を保持した基板保持部材5が位置すると、図4に示されるように、下方に位置していた定盤16及び吸引部材18は、定盤16の上面が基板保持部材5の下面に当接するまで上方に移動する。同時に、上方に位置していた塗布部材17は、基板保持部材5に載置された基板100に対して一定の隙間を有するように、下方に移動する。そして、図5に示されるように、吸引部材18は、基板保持部材5及び基板100の吸引を開始し、基板100を固定した後、塗布部材17は、基板100への塗布処理を開始する。塗布部材17は、X方向に移動しながら基板100への塗布処理を行う。塗布処理が終了すると、吸引部材18は吸引を中止し、定盤16及び吸引部材18は下方に移動する。同時に、塗布部材17は上方に移動する。
The
(真空乾燥ユニット)
図6及び図7は、真空乾燥ユニット2によって基板100に真空乾燥処理を行う作業を示す概略断面図である。図6及び図7に示されるように、真空乾燥ユニット2は、基板保持部材5の上方から枠体51に当接し、基板保持部材5の上方を覆う上チャンバー21と、基板保持部材5の下方から枠体51に当接し、基板保持部材5の下方を覆う下チャンバー22と、を備えている。上チャンバー21は、枠体51との当接面にOリング211を備えている。同様に、下チャンバー22は、枠体51との当接面にOリング221を備えている。下チャンバー22には上下方向に貫通する、貫通孔222が設けられている。そして、真空乾燥ユニット2は、下チャンバー22の下方に、貫通孔222を介して上チャンバー21、基板保持部材5及び下チャンバー22で形成された空間から空気を吸引する吸引部材23を備えている。上チャンバー21及び下チャンバー22は、それぞれ個別に、上下方向(Z方向)に移動可能となっている。なお、下チャンバー22及び吸引部材23は、一体として、上下方向(Z方向)に移動可能となっている。また、下チャンバー22の上面には、基板100を加熱する加熱板24が設けられている。
(Vacuum drying unit)
FIG. 6 and FIG. 7 are schematic cross-sectional views showing an operation of performing a vacuum drying process on the
真空乾燥ユニット2は、以下のとおり基板100に真空乾燥処理を行うようになっている。ステージS2、S3又はS4に基板100を保持した基板保持部材5が位置すると、図6に示されるように、下方に位置していた下チャンバー22及び吸引部材23は、下チャンバー22が枠体51に当接するまで上方に移動する。同時に、上方に位置していた上チャンバー21は、上チャンバー21が枠体51に当接するまで下方に移動する。そして、図7に示されるように、吸引部材23が、上チャンバー21、基板保持部材5及び下チャンバー22で形成された空間の吸引を行うことによって、真空乾燥ユニット2は、基板100に真空乾燥処理を行う。なお、真空乾燥処理では、通気性を有するフィルム体52を通じて、上チャンバー21の内部も吸引される。真空乾燥処理と同時に、加熱板24は、下方から基板100を加熱して乾燥を促進させる。真空乾燥処理が終了すると、吸引部材23は吸引を中止し、下チャンバー22及び吸引部材23は下方に移動する。同時に、上チャンバー21は上方に移動する。
The
(加熱ユニット)
図8及び図9は、加熱ユニット3によって基板100に加熱処理を行う作業を示す概略断面図である。図8及び図9に示されるように、加熱ユニット3は、基板保持部材5の下方から基板を加熱する加熱部材31を備えている。加熱部材31は、例えば、ヒーターである。加熱部材31は、上下方向(Z方向)に移動可能となっている。
(Heating unit)
FIG. 8 and FIG. 9 are schematic cross-sectional views showing the operation of performing the heat treatment on the
加熱ユニット3は、以下のとおり基板100に加熱処理を行うようになっている。ステージS5、S6、S7、S8、S9、S10に基板100を保持した基板保持部材5が位置すると、図8に示されるように、下方に位置していた加熱部材31は、加熱部材31の上面が基板保持部材5の下面に当接するまで上方に移動する。そして、図9に示されるように、加熱部材31は、基板保持部材5を介して、基板100への加熱処理を行う。加熱処理が終了すると、加熱部材31は加熱を中止し、下方に移動する。
The
(冷却ユニット)
図10及び図11は、冷却ユニット4によって基板100に冷却処理を行う作業を示す概略断面図である。図10及び図11に示されるように、冷却ユニット4は、基板保持部材5の下方から基板を冷却する冷却部材41を備えている。冷却部材41は、例えば、水冷板である。冷却部材41は、上下方向(Z方向)に移動可能となっている。
(Cooling unit)
FIG. 10 and FIG. 11 are schematic cross-sectional views showing an operation for performing a cooling process on the
冷却ユニット4は、以下のとおり基板100に冷却処理を行うようになっている。ステージS11に基板100を保持した基板保持部材5が位置すると、図10に示されるように、下方に位置していた冷却部材41は、冷却部材41の上面が基板保持部材5の下面に当接するまで上方に移動する。そして、図11に示されるように、冷却部材31は、基板保持部材5を介して、基板100への冷却処理を行う。冷却処理が終了すると、冷却部材41は冷却を中止し、下方に移動する。
The
(取外手段)
図12、図13、図15は、取外手段7によって基板保持部材5から基板100を取り外す作業を示す概略断面図である。また、図14は、取外手段7によって基板保持部材5から基板100を取り外す作業を示す概略斜視図である。図12〜図15に示されるように、取外手段7は、基板保持部材5の下方からフィルム体52及び基板100を上方に突き上げる突上部材71と、突上部材71がフィルム体52及び基板100を突き上げることによって生じたフィルム体52と基板100との隙間D1に挿入され、基板100が載置される、載置部材72(本実施形態では載置手段6と兼用)と、を備えている。突上部材71は、上下方向(Z方向)に移動可能となっている。また、載置部材72は、上面視でコの字形状を有しており、挿入方向(X方向)及び上下方向(Z方向)に移動可能となっている。
(Removal means)
12, 13, and 15 are schematic cross-sectional views illustrating an operation of removing the
取外手段7は、以下のとおり基板保持部材5から基板100を取り外すようになっている。ステージS12に基板100を保持した基板保持部材5が位置すると、図12に示されるように、下方に位置していた突上部材71は、枠体51に対してフィルム体52を伸ばしながら基板100を上方に突き上げるまで、上方に移動する。そして、図13及び図14に示されるように、載置部材72は、挿入方向に移動し、突上部材71がフィルム体52及び基板100を突き上げることによって生じたフィルム体52と基板100との隙間D1に挿入される。そして、図15に示されるように、載置部材72が上方に移動する。その結果、基板100は、載置部材72の上に載置され、基板保持部材5から取り外される。その後、載置部材72は、基板100が載置された状態で、次の工程へと基板100を移し、突上部材71は下方に移動する。
The removing means 7 is configured to remove the
基板処理装置10は、次のように作動するようになっている。
The
まず、ステージS0において、載置手段6のロボットアームは、基板保持部材5の上に基板を載置する。その後(ステージS0に基板保持部材5が20秒間位置すると)、回転機構は、搬送ベルト12をR方向に30度回転させる。搬送ベルト12に基板保持部材5が連結されているので、ステージS0に位置していた基板保持部材5は、ステージS1に移動する。なお、本実施形態では、後述のステージS12と兼用であるので、ステージS0は、ステージS12での基板取り外し時間を含めて20秒となる。
First, on the stage S <b> 0, the robot arm of the
ステージS1には、塗布ユニット1が配置されている。基板保持部材5がステージS1に位置すると、塗布ユニット1は、基板保持部材5上の基板に塗布処理を行う。塗布処理が終了する(ステージS1に基板保持部材5が20秒間位置する)と、回転機構は、搬送ベルト12をR方向に30度回転させる。ステージS1に位置していた基板保持部材5は、ステージS2に移動する。
The
ステージS2には、真空乾燥ユニット2が配置されている。なお、上述したように、真空乾燥処理は、60秒間行われるので、ステージS2〜S4のそれぞれに真空乾燥ユニット2が配置されている。基板保持部材5がステージS2に位置すると、真空乾燥ユニット2は、基板保持部材5上の基板に真空乾燥処理(1回目)を行う。ステージS2に基板保持部材5が20秒間位置すると、真空乾燥ユニット2は真空乾燥処理を終了し、回転機構は、搬送ベルト12をR方向に30度回転させる。ステージS2に位置していた基板保持部材5は、ステージS3に移動する。
A
ステージS3にも、真空乾燥ユニット2が配置されている。基板保持部材5がステージS3に位置すると、真空乾燥ユニット2は、基板保持部材5上の基板に真空乾燥処理(2回目)を行う。ステージS3に基板保持部材5が20秒間位置すると、真空乾燥ユニット2は真空乾燥処理を終了し、回転機構は、搬送ベルト12をR方向に30度回転させる。ステージS3に位置していた基板保持部材5は、ステージS4に移動する。
The
ステージS4にも、真空乾燥ユニット2が配置されている。基板保持部材5がステージS4に位置すると、真空乾燥ユニット2は、基板保持部材5上の基板に真空乾燥処理(3回目)を行う。ステージS4に基板保持部材5が20秒間位置すると、真空乾燥ユニット2は真空乾燥処理を終了し、回転機構は、搬送ベルト12をR方向に30度回転させる。なお、これで真空乾燥処理全体も終了する。ステージS4に位置していた基板保持部材5は、ステージS5に移動する。
The
ステージS5には、加熱ユニット3が配置されている。なお、上述したように、加熱処理は、120秒間行われるので、ステージS5〜S10のそれぞれに加熱ユニット3が配置されている。基板保持部材5がステージS5に位置すると、加熱ユニット3は、基板保持部材5上の基板に加熱処理(1回目)を行う。ステージS5に基板保持部材5が20秒間位置すると、加熱ユニット3は加熱処理を終了し、回転機構は、搬送ベルト12をR方向に30度回転させる。ステージS5に位置していた基板保持部材5は、ステージS6に移動する。
The
ステージS6にも、加熱ユニット3が配置されている。基板保持部材5がステージS6に位置すると、加熱ユニット3は、基板保持部材5上の基板に加熱処理(2回目)を行う。ステージS6に基板保持部材5が20秒間位置すると、加熱ユニット3は加熱処理を終了し、回転機構は、搬送ベルト12をR方向に30度回転させる。ステージS6に位置していた基板保持部材5は、ステージS7に移動する。
The
ステージS7にも、加熱ユニット3が配置されている。基板保持部材5がステージS7に位置すると、加熱ユニット3は、基板保持部材5上の基板に加熱処理(3回目)を行う。ステージS7に基板保持部材5が20秒間位置すると、加熱ユニット3は加熱処理を終了し、回転機構は、搬送ベルト12をR方向に30度回転させる。ステージS7に位置していた基板保持部材5は、ステージS8に移動する。
The
ステージS8にも、加熱ユニット3が配置されている。基板保持部材5がステージS8に位置すると、加熱ユニット3は、基板保持部材5上の基板に加熱処理(4回目)を行う。ステージS8に基板保持部材5が20秒間位置すると、加熱ユニット3は加熱処理を終了し、回転機構は、搬送ベルト12をR方向に30度回転させる。ステージS8に位置していた基板保持部材5は、ステージS9に移動する。
The
ステージS9にも、加熱ユニット3が配置されている。基板保持部材5がステージS9に位置すると、加熱ユニット3は、基板保持部材5上の基板に加熱処理(5回目)を行う。ステージS9に基板保持部材5が20秒間位置すると、加熱ユニット3は加熱処理を終了し、回転機構は、搬送ベルト12をR方向に30度回転させる。ステージS9に位置していた基板保持部材5は、ステージS10に移動する。
The
ステージS10にも、加熱ユニット3が配置されている。基板保持部材5がステージS10に位置すると、加熱ユニット3は、基板保持部材5上の基板に加熱処理(6回目)を行う。ステージS10に基板保持部材5が20秒間位置すると、加熱ユニット3は加熱処理を終了し、回転機構は、搬送ベルト12をR方向に30度回転させる。なお、これで加熱処理全体も終了する。ステージS10に位置していた基板保持部材5は、ステージS11に移動する。
The
ステージS11には、冷却ユニット4が配置されている。基板保持部材5がステージS11に位置すると、冷却ユニット4は、基板保持部材5上の基板に冷却処理を行う。冷却処理が終了する(ステージS11に基板保持部材5が20秒間位置する)と、回転機構は、搬送ベルト12をR方向に30度回転させる。ステージS11に位置していた基板保持部材5は、ステージS12に移動する。
The
ステージS12には、取外手段7が配置されている。基板保持部材5がステージS12に位置すると、取外手段7は、基板保持部材5から基板を取り外す。
Removal means 7 is arranged on stage S12. When the
前記構成の基板処理装置10によれば、次のような効果を発揮できる。
According to the
(1)搬送手段11は、基板保持部材5が基板を保持した状態で、基板保持部材5を各処理ユニット間で水平に搬送するように構成されているので、各処理ユニットにおいて、ロボットハンドによって、基板を基板保持部材5に載せる、及び、基板を基板保持部材5から取り外すという作業を省略することができ、基板の搬送時間を短縮することができる。
(1) The
(2)基板を、通気性を備えたフィルムでできたフィルム体52上に載置することによって、基板を基板保持部材5に保持した状態で、各処理ユニット間で搬送させることができる。なお、フィルム体52は通気性を備えているので、基板保持部材5の下方から基板を吸引することによって、基板保持部材5の基板保持性をより向上させることができる。また、フィルム体52は通気性を備えているので、基板をフィルム体52上に載置した状態で、基板の真空乾燥や加熱、冷却を効率よく行うことができる。
(2) By placing the substrate on the
(3)基板は、フィルム体52上に載置されているだけであるので、基板を基板保持部材5から昇降させる昇降ピンや、昇降ピン取り付けに伴って、基板保持部材5に対する基板の位置決めを行う基板位置決め機構や、フィルム体52における昇降ピン用の孔を不要とすることができる。その結果、フィルム体52より小さい基板であれば、どのような寸法の基板であっても基板保持部材5で取り扱うことができる。
(3) Since the substrate is merely placed on the
(4)塗布ユニット1によって、基板保持部材5上に載置された基板に塗布を行うことができる。なお、塗布ユニット1が吸引部材18を備えることによって、基板に塗布を行う際、吸引部材18によって、基板保持部材5の下方から基板を吸引することで、基板保持部材5の基板保持性をより向上させ、それによって、塗布厚さの精度を向上させることができる。
(4) The
(5)真空乾燥ユニット2によって、基板保持部材5上に載置された基板の真空乾燥を行うことができる。
(5) The substrate placed on the
(6)上チャンバー21は、枠体51との当接面にOリング211を備えており、下チャンバー22は、枠体51との当接面にOリング221を備えているので、上チャンバー21、基板保持部材5及び下チャンバー22で形成された空間の密封性を容易に確保することができる。
(6) Since the
(7)下チャンバー22の上面には、基板100を加熱する加熱板24が設けられているので、真空乾燥時における基板の乾燥をより効果的に行うことができる。
(7) Since the
(8)加熱ユニット3によって、基板保持部材5上に載置された基板の加熱を行うことができる。
(8) The substrate placed on the
(9)冷却ユニット4によって、基板保持部材5上に載置された基板の冷却を行うことができる。
(9) The substrate placed on the
(10)取外手段7によって、基板保持部材上の載置された基板を基板保持部材から取り外すことができる。特に、基板を基板保持部材から昇降させる昇降ピンや、昇降ピン取り付けに伴う基板位置決め機構を不要としながら、基板を基板保持部材から取り外すことができる。その結果、フィルム体より小さい基板であれば、どのような寸法の基板であっても取り扱うことができる。
(10) The substrate placed on the substrate holding member can be removed from the substrate holding member by the removing
通気性を備えたフィルム体は、例えば、通気性の樹脂フィルムや金属メッシュフィルムである。通気性を備えるための構成としては、フィルム体に多数の小さな貫通孔が設けられている、あるいはフィルム体自体がポーラス(多孔質)な材料でできていることが挙げられるが、それらに限定されず、その他の構成で通気性を備えても良い。樹脂フィルムの材料としては、例えば、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)等を使用することができる。また、金属メッシュフィルムとは、例えば印刷用の金属スクリーンであり、金属メッシュフィルムの材料としては、例えば、ステンレスやアルミニウム等を使用することができる。フィルム体の厚さは、樹脂フィルムの場合で200〜500マイクロメートル程度であり、金属メッシュフィルムの場合で20〜100マイクロメートル程度である。フィルム体として樹脂フィルムを使用する場合、金属メッシュフィルムと比べて、フィルム体の費用を低減することができる。また、フィルム体として金属メッシュフィルムを使用する場合、樹脂フィルムと比べて熱伝導性が良く、より薄い加工が可能となるので、フィルム体の熱容量を小さくし、基板の加熱、冷却を効率良く行うことができる。そして、金属メッシュフィルムを使用することで、フィルム体を均一に薄くすることができ、その結果、基板に塗布を行う際、塗布厚さの精度をより向上させることができる。 The film body provided with air permeability is, for example, an air-permeable resin film or a metal mesh film. Examples of the structure for providing air permeability include that the film body has a large number of small through holes, or that the film body itself is made of a porous material, but is not limited thereto. Alternatively, air permeability may be provided in other configurations. As a material of the resin film, for example, polytetrafluoroethylene (PTFE) can be used. Moreover, a metal mesh film is a metal screen for printing, for example, As a material of a metal mesh film, stainless steel, aluminum, etc. can be used, for example. The thickness of the film body is about 200 to 500 micrometers in the case of a resin film, and about 20 to 100 micrometers in the case of a metal mesh film. When using a resin film as a film body, the cost of a film body can be reduced compared with a metal mesh film. Also, when using a metal mesh film as the film body, it has better thermal conductivity than a resin film and enables thinner processing, so the heat capacity of the film body is reduced, and the substrate is heated and cooled efficiently. be able to. And by using a metal mesh film, a film body can be made thin uniformly, As a result, when performing application | coating to a board | substrate, the precision of application | coating thickness can be improved more.
なお、フィルム体の表面には、載置される基板がフィルム体上を滑って移動することがないように、滑り止め加工をしておいても良い。フィルム体として樹脂フィルムを使用する場合には、樹脂フィルムの表面に通気性を阻害しない程度に粘着材を塗布しても良い。 The surface of the film body may be anti-slip so that the substrate to be placed does not slide on the film body. When a resin film is used as the film body, an adhesive material may be applied to the surface of the resin film to the extent that air permeability is not hindered.
上記実施形態では、基板処理装置10は、1つの塗布ユニット1、3つの真空乾燥ユニット5、6つの加熱ユニット3、1つの冷却ユニット4を備えているが、各処理ユニットの処理時間に合わせて、処理ユニットの数は変更される。例えば、塗布処理時間が20秒、真空乾燥処理時間が40秒、加熱処理時間が100秒、冷却処理時間が60秒である場合、基板処理装置10は、1つの塗布ユニット、2つの真空乾燥ユニット、5つの加熱ユニット3、3つの冷却ユニット4を備えることになる。また、塗布処理時間が20秒、真空乾燥処理時間が40秒、加熱処理時間が100秒、冷却処理時間が40秒である場合、基板処理装置10は、1つの塗布ユニット、2つの真空乾燥ユニット、5つの加熱ユニット3、2つの冷却ユニット4を備えることになり、12あるステージの1つが余ることとなるが、この場合、この余ったステージには処理ユニットは配置されない。
In the above embodiment, the
上記実施形態では、基板保持部材5の支持部51cは1つで図示されているが、支持部は複数設けられても良い。
In the above embodiment, the
上記実施形態では、上チャンバー21と下チャンバー22はそれぞれ枠体51に当接するようになっているが、フィルム体52に当接しても良い。この場合、フィルム体52の当該当接部には上チャンバー21及び下チャンバー22と当接して真空を維持できるよう、空気が漏れない加工を行う必要がある。例えば、図16に示されるように、フィルム体の当該当接部のみ通気性の無い金属や樹脂25とすることが考えられる。
In the above embodiment, the
上記実施形態では、上チャンバー21及び下チャンバー22は、それぞれ個別に、上下方向に移動可能となっているが、上チャンバー21と下チャンバー22とが連動して上下方向に移動可能となっていてもよい。この場合、上チャンバー21が下方に移動する際には、下チャンバー22は上方に移動し、上チャンバー21が上方に移動する際には、下チャンバー22は下方に移動する。
In the above embodiment, the
上記実施形態では、下チャンバー22に吸引用の貫通孔222、下チャンバー22の下方に吸引部材23が設けられているが、上チャンバー21に吸引用の貫通孔、上チャンバー21の上方に吸引部材が設けられても良く、下チャンバー22と上チャンバー21との両方に吸引用の貫通孔及び吸引部材が設けられても良い。また、吸引部材18や吸引部材23を別の場所に配置し、吸引部材と定盤16や下チャンバー22との間を、伸縮性を有する配管で接続して吸引を行っても良い。
In the above embodiment, the
上記実施形態では、下チャンバー22の上面に加熱板24が設けられているが、上チャンバー21の下面に加熱板が設けられていても良く、下チャンバー22の上面及び上チャンバー21の下面の両方に加熱板が設けられていても良い。
In the above embodiment, the
上記実施形態では、加熱部材31は下方から基板100を加熱するようになっているが、上方から基板を加熱するようになっていても良い。この場合、加熱部材は、基板から一定の隙間を有して上方に位置して、塗布面に触れないように基板を加熱することになる。また、基板の上方及び下方の両方に加熱部材が位置して、基板を上下から加熱するようになっていても良い。
In the above embodiment, the
上記実施形態では、冷却部材41は下方から基板100を冷却するようになっているが、上方から基板を冷却するようになっていても良い。この場合、冷却部材は、基板から一定の隙間を有して上方に位置して、塗布面に触れないように基板を冷却することになる。また、基板の上方及び下方の両方に冷却部材が位置して、基板を上下から冷却するようになっていても良い。
In the above embodiment, the cooling
上記実施形態では、突上部材71と載置部材72によって、基板を基板保持部材5から取り外すようになっているが、基板保持部材のフィルム体に昇降ピンが挿入される複数の挿入孔を形成し、昇降ピンを挿入孔から挿入し、基板を基板保持部材から持ち上げることによって、基板を基板保持部材から取り外すようにしても良い。
In the above embodiment, the substrate is removed from the
上記実施形態では、基板保持部材5への基板の載置は、載置手段6であるロボットアームで行われるようになっているが、本作業は、ロボットアームに限定されず、その他各種の方法によって、行われても良い。
In the above embodiment, the placement of the substrate on the
上記実施形態では、搬送ライン14は円形形状を有しているが、搬送ライン14は円形形状に限定されず、図17に示されるような楕円形形状、又は、U字形状、直線形状等、様々な形状を有することができる。
In the above embodiment, the
上記実施形態では、各処理ユニットの数と基板保持部材5の数とを同じとし、搬送手段11によって、全ての基板保持部材5を一度に同じ角度だけ回転させるようになっているが、それに限定されない。図18は、別の実施形態に係る基板処理装置の概略上面図である。上記実施形態と同じ部品及び部分には同じ符号を付し、それらの内容については詳しい説明は省略する。図18に示されるように、ステージSの数よりも基板保持部材5の数を少なくし、基板保持部材5がそれぞれ独立して回転するようにしても良い。そして、処理時間の調整のために、処理ユニットの存在しない待機ステージPを設けても良い。このようにして、各処理ユニットでの処理をバッチ式とすることもできる。その結果、ユニットの数を少なくすることができ、基板処理装置の設置面積を小さくすることができる。そして、小規模な生産や実験用として基板処理装置を安価に製作することができる。
In the above embodiment, the number of processing units and the number of
また、図18に示されるように、基板を載置するステージS0と基板を取り外すステージS12とを別にしても良い。また、各処理ユニットは、基板処理装置に固定して設置されるのではなく、移動が可能となっていても良い。その結果、処理内容や処理時間に応じて処理ユニットを自由に組み替えることができる。予備の処理ユニット81として、任意の処理ユニットを待機させておくことも可能である。また、搬送ベルト12に対して、基板保持部材5を自由に取り外し可能な構造とし、予備の基板保持部材82として待機させておいても良い。
Further, as shown in FIG. 18, the stage S0 on which the substrate is placed and the stage S12 from which the substrate is removed may be separated. Further, each processing unit may be movable instead of being fixedly installed on the substrate processing apparatus. As a result, the processing units can be freely rearranged according to the processing content and processing time. An arbitrary processing unit can be kept on standby as the
また、搬送ベルト12は、軸13に着脱自在となっていても良い。搬送ベルト12が軸13に着脱自在となっていれば、図1に示されるような直径の大きい搬送ベルト12と、図18に示されるような直径の小さい搬送ベルト12とを交換可能とすることができ、その結果、取り付けられる搬送ベルトの大きさを変化させることによって、基板処理装置の生産量や設置面積を調整することができる。
Further, the
図19は、別の実施形態に係る基板処理装置の概略上面図である。上記実施形態と同じ部品及び部分には同じ符号を付し、それらの内容については詳しい説明は省略する。図19に示されるように、基板処理装置10は、基板保持部材5及びステージSの外周に、さらに、基板保持部材5’及びステージS’を備えている。そして、基板保持部材5’は、基板保持部材5に連結されており、作動機構(回転機構)によって搬送ベルト12が回転すると、搬送ベルト12に連結された基板保持部材5が回転し、基板保持部材5が回転すると、基板保持部材5に連結された基板保持部材5’が回転するようになっている。本構成によれば、基板処理装置の基板処理量を増大させることができる。
FIG. 19 is a schematic top view of a substrate processing apparatus according to another embodiment. The same parts and portions as those in the above embodiment are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted. As shown in FIG. 19, the
図20は、別の実施形態に係る基板処理装置の概略側面図である。上記実施形態と同じ部品及び部分には同じ符号を付し、それらの内容については詳しい説明は省略する。図20に示されるように、基板処理装置10は、搬送ベルト12の上方に搬送ベルト12”を備えている。そして、作動機構(回転機構)は、軸13を中心として搬送ベルト12及び搬送ベルト12”を一定方向に回転させるようになっている。搬送ベルト12”には、基板保持部材5”が連結されており、基板保持部材5”は、基板保持部材5の上方に位置するようになっている。本構成によれば、基板処理装置の設置面積をほとんど増加させることなく、基板処理装置の基板処理量を増加させることができる。なお、本構成では、さらなる基板保持部材5”は、基板保持部材5の上方に位置するようになっているが、基板保持部材5の下方に位置しても良い。この場合、搬送ベルト12”は、搬送ベルト12の下方に位置する。また、3以上の搬送ベルトを上下方向に間隔をおいて設け、上下方向に3以上の基板保持部材を配置するようにしても良い。
FIG. 20 is a schematic side view of a substrate processing apparatus according to another embodiment. The same parts and portions as those in the above embodiment are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted. As shown in FIG. 20, the
上記実施形態の基板処理装置は、フラットパネルディスプレイ用の種々の基板や半導体基板を製造する装置として利用することも可能である。 The substrate processing apparatus of the said embodiment can also be utilized as an apparatus which manufactures the various board | substrate for flat panel displays, and a semiconductor substrate.
特許請求の範囲に記載された本発明の精神及び範囲から逸脱することなく、各種変形及び変更を行うことも可能である。 Various modifications and changes can be made without departing from the spirit and scope of the invention as set forth in the appended claims.
本発明では、基板の搬送時間を短縮することが可能な、基板処理装置及び基板保持部材を提供することができるので、産業上の利用価値が大である。 In the present invention, a substrate processing apparatus and a substrate holding member capable of shortening the substrate transport time can be provided, and thus the industrial utility value is great.
1 塗布ユニット
2 真空乾燥ユニット
21 上チャンバー 22 下チャンバー
211 Oリング 221 Oリング 222 貫通孔
23 吸引部材 24 加熱板 25 通気性の無い樹脂や金属
3 加熱ユニット 31 加熱部材
4 冷却ユニット 41 冷却部材
5 基板保持部材
51 枠体 52 フィルム体
51a 開口部 51b 載置部 51c 支持部
6 載置手段
7 取外手段
71 突上部材 72 載置部材
81 予備の処理ユニット 82 予備の基板保持部材
10 基板処理装置
11 搬送手段
12 搬送ベルト 13 軸
14 搬送ライン
16 定盤 17 塗布部材 18 吸引部材
100 基板
DESCRIPTION OF
Claims (13)
基板を保持する基板保持部材と、
基板を処理する複数の処理ユニットを備える処理部と、
基板を搬送する搬送手段と、を備えており、
前記搬送手段は、前記基板保持部材が基板を保持した状態で、前記基板保持部材を前記各処理ユニット間で水平に搬送するように構成されており、
前記各処理ユニットは、上方及び/又は下方より前記基板保持部材にアクセスするようになっていることを特徴とする、基板処理装置。 A substrate processing apparatus for processing a substrate,
A substrate holding member for holding the substrate;
A processing unit comprising a plurality of processing units for processing a substrate;
A transport means for transporting the substrate,
The transport means is configured to transport the substrate holding member horizontally between the processing units in a state where the substrate holding member holds the substrate.
Each of the processing units is configured to access the substrate holding member from above and / or below.
前記フィルム体は、通気性を備えたフィルムでできている、請求項1記載の基板処理装置。 The substrate holding member has a frame body having an opening and a film body that covers the opening and is attached to the frame body, and the substrate is placed on the film body by placing the substrate on the film body. To hold,
The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the film body is made of a film having air permeability.
前記塗布ユニットは、前記基板保持部材を下方から支持する定盤と、
前記基板保持部材の上方から基板に対して塗布を行う塗布部材と、を備えており、
前記定盤は、上下方向に移動可能となっている、請求項1又は2に記載の基板処理装置。 The processing unit includes a coating unit that coats a substrate as the processing unit,
The coating unit includes a surface plate that supports the substrate holding member from below;
An application member that performs application on the substrate from above the substrate holding member,
The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the surface plate is movable in a vertical direction.
前記真空乾燥ユニットは、前記基板保持部材の上方から前記基板保持部材に当接し、前記基板保持部材の上方を覆う上チャンバーと、
前記基板保持部材の下方から前記基板保持部材に当接し、前記基板保持部材の下方を覆う下チャンバーと、を備えており、
前記上チャンバー及び前記下チャンバーは、上下方向に移動可能となっている、請求項1〜3のいずれか1つに記載の基板処理装置。 The processing unit includes, as the processing unit, a vacuum drying unit that vacuum-drys the substrate,
The vacuum drying unit is in contact with the substrate holding member from above the substrate holding member, and covers the upper portion of the substrate holding member;
A lower chamber that comes into contact with the substrate holding member from below the substrate holding member and covers the lower portion of the substrate holding member,
The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the upper chamber and the lower chamber are movable in a vertical direction.
前記加熱ユニットは、前記基板保持部材の上方及び/又は下方から基板を加熱する加熱部材を備えており、
前記加熱部材は、上下方向に移動可能となっている、請求項1〜4のいずれか1つに記載の基板処理装置。 The processing unit includes a heating unit that heats the substrate as the processing unit,
The heating unit includes a heating member that heats the substrate from above and / or below the substrate holding member,
The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the heating member is movable in a vertical direction.
前記冷却ユニットは、前記基板保持部材の上方及び/又は下方から基板を冷却する冷却部材を備えており、
前記冷却部材は、上下方向に移動可能となっている、請求項1〜5のいずれか1つに記載の基板処理装置。 The processing unit includes a cooling unit that cools the substrate as the processing unit.
The cooling unit includes a cooling member that cools the substrate from above and / or below the substrate holding member,
The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the cooling member is movable in a vertical direction.
前記フィルム体は伸縮性を備えており、
前記取外手段は、前記基板保持部材の下方から前記フィルム体及び前記基板を上方に突き上げる突上部材と、前記突上部材が前記フィルム体及び前記基板を突き上げることによって生じた前記フィルム体と前記基板との隙間に挿入され、前記基板が載置される、載置部材と、を備えている、請求項2記載の基板処理装置。 The substrate processing apparatus further includes removal means for removing the substrate from the substrate holding member,
The film body has elasticity,
The removing means includes a protruding member that pushes the film body and the substrate upward from below the substrate holding member, the film body that is generated when the protruding member pushes the film body and the substrate, and the The substrate processing apparatus according to claim 2, further comprising: a mounting member that is inserted into a gap between the substrate and the substrate.
前記搬送ベルトには、複数の基板保持部材が連結されており、
前記基板保持部材の外周側には、さらなる基板保持部材が前記基板保持部材に連結されている、請求項8記載の基板処理装置。 The transport means includes a circular or elliptical transport belt, and an operating mechanism that operates the transport belt.
A plurality of substrate holding members are coupled to the transport belt,
The substrate processing apparatus according to claim 8, wherein a further substrate holding member is coupled to the substrate holding member on an outer peripheral side of the substrate holding member.
前記搬送ベルトは、前記軸に着脱自在となっている、請求項8記載の基板処理装置。 The transport means includes a circular transport belt, an operating mechanism for rotating the transport belt, and a shaft serving as a rotation center of the transport belt,
The substrate processing apparatus according to claim 8, wherein the transport belt is detachably attached to the shaft.
前記各搬送ベルトには、複数の基板保持部材が連結されており、
前記搬送ベルトに連結されている基板保持部材は、別の前記搬送ベルトに連結されている基板保持部材の上下方向位置に配置されるようになっている、請求項1記載の基板処理装置。 The transport means includes a plurality of transport belts positioned in the vertical direction with respect to each other, and an operation mechanism that operates the plurality of transport belts.
A plurality of substrate holding members are connected to each of the transport belts,
The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the substrate holding member connected to the transport belt is arranged at a vertical position of a substrate holding member connected to another transport belt.
前記基板保持部材は、開口部を有する枠体と、前記開口部を覆い前記枠体に取り付けられたフィルム体と、を有しており、前記フィルム体上に基板を載置することによって基板を保持するようになっており、
前記フィルム体は、通気性を備えたフィルムでできていることを特徴とする、基板保持部材。 A substrate holding member that is used in a substrate processing apparatus for processing a substrate and holds a substrate,
The substrate holding member includes a frame body having an opening and a film body that covers the opening and is attached to the frame body, and the substrate is placed on the film body by placing the substrate on the film body. To hold,
The substrate holding member, wherein the film body is made of a film having air permeability.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014081333A JP5767361B1 (en) | 2014-04-10 | 2014-04-10 | Substrate processing equipment |
TW103124252A TWI605535B (en) | 2014-04-10 | 2014-07-15 | Substrate processing apparatus and substrate holding member |
KR1020140095721A KR102250506B1 (en) | 2014-04-10 | 2014-07-28 | Substrate processing apparatus and substrate holding member |
CN201410386624.1A CN104979239B (en) | 2014-04-10 | 2014-08-07 | Substrate processing apparatus and substrate holding member |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014081333A JP5767361B1 (en) | 2014-04-10 | 2014-04-10 | Substrate processing equipment |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP5767361B1 JP5767361B1 (en) | 2015-08-19 |
JP2015204310A true JP2015204310A (en) | 2015-11-16 |
Family
ID=53888040
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014081333A Expired - Fee Related JP5767361B1 (en) | 2014-04-10 | 2014-04-10 | Substrate processing equipment |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5767361B1 (en) |
KR (1) | KR102250506B1 (en) |
CN (1) | CN104979239B (en) |
TW (1) | TWI605535B (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021072445A (en) * | 2019-10-31 | 2021-05-06 | サムス カンパニー リミテッド | Substrate treatment apparatus |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108346598A (en) * | 2018-01-03 | 2018-07-31 | 佛山杰致信息科技有限公司 | One kind being used for the cured heating device of Electronic Packaging |
JP7289881B2 (en) * | 2021-08-27 | 2023-06-12 | 株式会社Screenホールディングス | SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS AND SUBSTRATE PROCESSING METHOD |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0555764B1 (en) * | 1992-02-12 | 1997-06-11 | Balzers Aktiengesellschaft | Vacuum-processing apparatus |
JP2003100727A (en) * | 2001-09-20 | 2003-04-04 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | Sheet film holder, cassette, carrier, thin film forming apparatus and method of carrying the sheet film |
JP4502683B2 (en) * | 2003-03-31 | 2010-07-14 | 日本タングステン株式会社 | Porous alumina sintered body and method for producing the same |
JP2007120894A (en) * | 2005-10-31 | 2007-05-17 | Ngk Insulators Ltd | Continuous heat treatment furnace and heat treatment method of substrate using the same |
JP4312805B2 (en) * | 2007-03-27 | 2009-08-12 | Okiセミコンダクタ株式会社 | Semiconductor manufacturing apparatus, semiconductor wafer manufacturing method using the same, and recording medium recording the program |
JP2010080856A (en) | 2008-09-29 | 2010-04-08 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | Substrate treating device |
JP5489280B2 (en) * | 2010-04-07 | 2014-05-14 | 信越化学工業株式会社 | Epoxy composition for optical semiconductor encapsulation |
JP2012129228A (en) * | 2010-12-13 | 2012-07-05 | Toppan Printing Co Ltd | Substrate transfer apparatus, method for taking out substrates, and method for housing the substrates |
JP5161335B2 (en) | 2011-04-06 | 2013-03-13 | 中外炉工業株式会社 | Substrate transport apparatus and substrate processing apparatus provided with the same |
-
2014
- 2014-04-10 JP JP2014081333A patent/JP5767361B1/en not_active Expired - Fee Related
- 2014-07-15 TW TW103124252A patent/TWI605535B/en not_active IP Right Cessation
- 2014-07-28 KR KR1020140095721A patent/KR102250506B1/en active IP Right Grant
- 2014-08-07 CN CN201410386624.1A patent/CN104979239B/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021072445A (en) * | 2019-10-31 | 2021-05-06 | サムス カンパニー リミテッド | Substrate treatment apparatus |
JP7244171B2 (en) | 2019-10-31 | 2023-03-22 | サムス カンパニー リミテッド | Substrate processing equipment |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI605535B (en) | 2017-11-11 |
JP5767361B1 (en) | 2015-08-19 |
CN104979239B (en) | 2020-01-14 |
CN104979239A (en) | 2015-10-14 |
KR20150117586A (en) | 2015-10-20 |
KR102250506B1 (en) | 2021-05-10 |
TW201539633A (en) | 2015-10-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101617650B1 (en) | Developing method, computer storage medium and developing system | |
KR102331827B1 (en) | Substrate processing apparatus | |
KR20110015372A (en) | Liquid processing apparatus for substrate and liquid processing method | |
KR101605721B1 (en) | Bake apparatus and Apparatus for treating substrate | |
JP5767361B1 (en) | Substrate processing equipment | |
KR20080068581A (en) | Substrate conveying apparatus | |
JP4969138B2 (en) | Substrate processing equipment | |
JP2008198882A (en) | Substrate-treating device | |
JP2011146705A (en) | Substrate-processing apparatus | |
US9890998B2 (en) | Substrate heating apparatus | |
JP2013033925A (en) | Cleaning method, program, computer storage medium, cleaning device, and peeling system | |
US20130160260A1 (en) | Apparatus for treating surfaces of wafer-shaped articles | |
JP2017183579A (en) | Substrate processing apparatus | |
JPH0574699A (en) | Treating device | |
JP4665037B2 (en) | Substrate processing system | |
JP3874960B2 (en) | Substrate processing equipment | |
KR101706735B1 (en) | Transfer unit, apparatus for treating substrate including the same and method for treating substrate | |
KR102444876B1 (en) | Substrate treating apparatus | |
JP5451662B2 (en) | Liquid processing apparatus and liquid processing method | |
KR20160072545A (en) | Apparatus for treating substrate | |
JP5385965B2 (en) | Substrate processing equipment | |
JP2015195276A (en) | Device and system for substrate processing | |
JP5778944B2 (en) | Substrate processing equipment | |
JP3892327B2 (en) | Substrate processing equipment | |
JP6196054B2 (en) | Pattern transfer system and pattern transfer method |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20150113 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150616 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150618 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5767361 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |