JP2015204302A - 液供給装置およびフィルタ洗浄方法 - Google Patents

液供給装置およびフィルタ洗浄方法 Download PDF

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Abstract

【課題】フィルタの洗浄を効率良く行うこと。
【解決手段】実施形態の一態様に係る液供給装置は、タンクと、供給ラインと、送給機構と、フィルタと、洗浄流体供給機構と、排出ラインと、バイパスラインとを備える。洗浄流体供給機構は、フィルタのフィルタ部材を洗浄する洗浄用流体をフィルタ部材の下流側から上流側へ流す。排出ラインは、送給機構よりも下流側かつフィルタ部材よりも上流側に設けられる。バイパスラインは、供給ラインにおける送給機構よりも下流側かつ排出ラインよりも上流側に一端が接続され、他端がフィルタ部材よりも下流側に接続される。そして、液供給装置は、タンク内の処理液をバイパスラインを介してフィルタ部材の下流側から上流側へ流す。
【選択図】図3

Description

開示の実施形態は、液供給装置およびフィルタ洗浄方法に関する。
従来、半導体ウェハ等の基板の液処理を行う処理ユニットに対し、処理液を供給する液供給装置が知られている。
この種の液供給装置においては、処理ユニットにおいて使用された処理液を回収して再利用する場合がある。回収した処理液には、ポリマー残渣などの異物が混在しているおそれがある。このため、処理液の供給ラインには、処理液に含まれる異物を除去するフィルタが設けられる。
フィルタを長期間継続して使用した場合、フィルタが目詰まりを起こす可能性がある。そこで、特許文献1では、フィルタに対してフィルタ洗浄用の液体を逆流させることにより、フィルタに付着した異物を取り除くことが提案されている。フィルタ洗浄用の液体としては、処理ユニットへ供給する処理液の他、IPAや純水などが挙げられている。
特開2003−203894号公報
しかしながら、特許文献1に記載の技術において、たとえば処理ユニットへ供給する処理液自体を用いてフィルタの洗浄を行うこととすると、処理液の消費量が増大するという問題がある。また、処理液以外の液体を用いてフィルタの洗浄を行うこととすると、処理ユニットへの処理液の供給を開始する前に、残存する処理液以外の液体を処理液に置換する処理が必要となる。
実施形態の一態様は、フィルタの洗浄を効率良く行うことのできる液供給装置およびフィルタ洗浄方法を提供することを目的とする。
実施形態の一態様に係る液供給装置は、処理液を用いて基板を処理する処理ユニットに対して処理液を供給する液供給装置であって、タンクと、供給ラインと、送給機構と、フィルタと、洗浄流体供給機構と、排出ラインと、バイパスラインとを備える。タンクは、処理液を貯留する。供給ラインは、タンクに一端が接続され、他端が処理ユニットに接続される。送給機構は、タンクに貯留された処理液を供給ラインを介して処理ユニットへ送給する。フィルタは、供給ラインに設けられ、供給ラインを流れる処理液から異物を除去する。洗浄流体供給機構は、フィルタのフィルタ部材を洗浄する洗浄用流体をフィルタ部材の下流側から上流側へ流す。排出ラインは、送給機構よりも下流側かつフィルタ部材よりも上流側に設けられる。バイパスラインは、供給ラインにおける送給機構よりも下流側かつ排出ラインよりも上流側に一端が接続され、他端がフィルタ部材よりも下流側に接続される。そして、液供給装置は、タンク内の処理液をバイパスラインを介してフィルタ部材の下流側から上流側へ流す。
実施形態の一態様によれば、フィルタの洗浄を効率良く行うことができる。
図1は、本実施形態に係る液処理装置の概略構成を示す図である。 図2は、処理流体供給源の構成を示す図である。 図3は、処理流体供給源の具体的な構成の一例を示す図である。 図4は、第1洗浄処理の動作例を示す図である。 図5は、第2洗浄処理の動作例を示す図である。 図6は、フィルタの洗浄処理の他の例を示す図である。 図7は、処理流体供給源の他の構成例を示す図である。
以下、添付図面を参照して、本願の開示する液供給装置およびフィルタ洗浄方法の実施形態を詳細に説明する。なお、以下に示す実施形態によりこの発明が限定されるものではない。
図1は、本実施形態に係る液処理装置の概略構成を示す図である。以下では、位置関係を明確にするために、互いに直交するX軸、Y軸およびZ軸を規定し、Z軸正方向を鉛直上向き方向とする。
図1に示すように、液処理装置1は、搬入出ステーション2と、処理ステーション3とを備える。搬入出ステーション2と処理ステーション3とは隣接して設けられる。
搬入出ステーション2は、キャリア載置部11と、搬送部12とを備える。キャリア載置部11には、複数枚の基板、本実施形態では半導体ウェハ(以下ウェハW)を水平状態で収容する複数のキャリアCが載置される。
搬送部12は、キャリア載置部11に隣接して設けられ、内部に基板搬送装置13と、受渡部14とを備える。基板搬送装置13は、ウェハWを保持するウェハ保持機構を備える。また、基板搬送装置13は、水平方向および鉛直方向への移動ならびに鉛直軸を中心とする旋回が可能であり、ウェハ保持機構を用いてキャリアCと受渡部14との間でウェハWの搬送を行う。
処理ステーション3は、搬送部12に隣接して設けられる。処理ステーション3は、搬送部15と、複数の処理ユニット16とを備える。複数の処理ユニット16は、搬送部15の両側に並べて設けられる。
搬送部15は、内部に基板搬送装置17を備える。基板搬送装置17は、ウェハWを保持するウェハ保持機構を備える。また、基板搬送装置17は、水平方向および鉛直方向への移動ならびに鉛直軸を中心とする旋回が可能であり、ウェハ保持機構を用いて受渡部14と処理ユニット16との間でウェハWの搬送を行う。
処理ユニット16は、基板搬送装置17によって搬送されるウェハWに対して処理液を用いた液処理を行う。
また、液処理装置1は、制御装置4を備える。制御装置4は、たとえばコンピュータであり、制御部18と記憶部19とを備える。記憶部19には、液処理装置1において実行される各種の処理を制御するプログラムが格納される。制御部18は、記憶部19に記憶されたプログラムを読み出して実行することによって液処理装置1の動作を制御する。
なお、かかるプログラムは、コンピュータによって読み取り可能な記憶媒体に記録されていたものであって、その記憶媒体から制御装置4の記憶部19にインストールされたものであってもよい。コンピュータによって読み取り可能な記憶媒体としては、たとえばハードディスク(HD)、フレキシブルディスク(FD)、コンパクトディスク(CD)、マグネットオプティカルディスク(MO)、メモリカードなどがある。
上記のように構成された液処理装置1では、まず、搬入出ステーション2の基板搬送装置13が、キャリア載置部11に載置されたキャリアCからウェハWを取り出し、取り出したウェハWを受渡部14に載置する。受渡部14に載置されたウェハWは、処理ステーション3の基板搬送装置17によって受渡部14から取り出されて、処理ユニット16へ搬入される。
処理ユニット16へ搬入されたウェハWは、処理ユニット16によって処理液による液処理が施された後、基板搬送装置17によって処理ユニット16から搬出されて、受渡部14に載置される。そして、受渡部14に載置された処理済のウェハWは、基板搬送装置13によってキャリア載置部11のキャリアCへ戻される。
液処理装置1は、処理ユニット16に対して処理液を供給する処理流体供給源(「液供給装置」の一例に相当)をさらに備える。ここで、処理流体供給源の構成について図2を参照して説明する。図2は、処理流体供給源の構成を示す図である。
図2に示すように、液処理装置は、基板に対して液処理を行う複数の処理ユニット(液処理ユニット)16と、処理ユニット16に処理液を供給する処理流体供給源70を有している。
処理流体供給源70は、処理液を貯留するタンク102と、タンク102から出てタンク102に戻る循環ライン104とを有している。循環ライン104にはポンプ106が設けられている。ポンプ106は、タンク102から出て循環ライン104を通りタンク102に戻る循環流を形成する。ポンプ106の下流側において循環ライン104には、処理液に含まれるパーティクル等の汚染物質を除去するフィルタ108が設けられている。必要に応じて、循環ライン104に補機類(例えばヒータ等)をさらに設けてもよい。
循環ライン104に設定された接続領域110に、1つまたは複数の分岐ライン112が接続されている。各分岐ライン112は、循環ライン104を流れる処理液を対応する処理ユニット16に供給する。各分岐ライン112には、必要に応じて、流量制御弁等の流量調整機構、フィルタ等を設けることができる。
液処理装置は、タンク102に、処理液または処理液構成成分を補充するタンク液補充部116を有している。タンク102には、タンク102内の処理液を廃棄するためのドレン部118が設けられている。
処理流体供給源70の具体的な構成について図3を参照して説明する。図3は、処理流体供給源70の具体的な構成の一例を示す図である。
図3に示すように、処理流体供給源70は、排出ライン120と、バイパスライン130と、洗浄流体供給機構140とをさらに備える。
排出ライン120は、循環ライン104におけるポンプ106よりも下流側かつフィルタ108よりも上流側の位置に接続される。排出ライン120には、バルブ121が設けられる。
ここで、ポンプ106は、タンク102に貯留された処理液を循環ライン104および分岐ライン112を介して処理ユニット16へ送給する送給機構の一例に相当する。なお、送給機構は、ポンプ106に限らず、たとえばタンク102内に圧力を加えることによってタンク102内の処理液を循環ライン104へ送り出す圧送機構であってもよい。また、循環ライン104および分岐ライン112は、タンク102に一端が接続され、他端が処理ユニット16に接続される供給ラインの一例に相当する。
バイパスライン130は、循環ライン104におけるポンプ106よりも下流側かつ排出ライン120よりも上流側に一端が接続され、他端が循環ライン104におけるフィルタ108よりも下流側かつ後述するバルブ152よりも上流側に接続される。
バイパスライン130には、バルブ131,132が設けられる。バルブ131(「第3開閉弁」の一例に相当)は、バルブ132(「第4開閉弁」の一例に相当)よりも上流側に設けられる。
洗浄流体供給機構140は、洗浄用流体供給源141と、配管142と、バルブ143とを備える。配管142は、バイパスライン130におけるバルブ131よりも下流側かつバルブ132よりも上流側の位置に接続される。バルブ143は、配管142に設けられる。
洗浄流体供給機構140は、洗浄用流体供給源141から供給される洗浄用流体を配管142および循環ライン104を介してフィルタ108の下流側から上流側へ流す。すなわち、洗浄流体供給機構140は、フィルタ108に対して洗浄用流体を逆流させる。
洗浄用流体は、フィルタ108のフィルタ部材182を洗浄する流体である。本実施形態では、洗浄用流体として純水が用いられる。
フィルタ108は、円筒状のハウジング181と、ハウジング181の内部に配置される円筒状のフィルタ部材182とを備える。フィルタ部材182は、たとえば濾材である。フィルタ108よりも上流側の循環ライン104は、フィルタ部材182の外側(上流側)に位置するハウジング181の外周部に接続される。また、フィルタ108よりも下流側の循環ライン104は、フィルタ部材182の内側(下流側)に位置するハウジング181の底部に接続される。
また、フィルタ108は、第1フィルタドレン183と、第2フィルタドレン184とを備える。第1フィルタドレン183(「フィルタドレン」の一例に相当)は、フィルタ部材182の外側(上流側)に位置するハウジング181の外周部に接続される。また、第2フィルタドレン184は、フィルタ部材182の内側(下流側)に位置するハウジング181の底部に接続される。第1フィルタドレン183にはバルブ185が、第2フィルタドレン184にはバルブ186がそれぞれ設けられる。
第1フィルタドレン183は、フィルタ108のフィルタ部材182よりも外側の空間に溜まった処理液を排出する。また、第2フィルタドレン184は、フィルタ108のフィルタ部材182よりも内側の空間に溜まった処理液を排出する。第1フィルタドレン183および第2フィルタドレン184には、排出ライン120よりも小径の管が用いられる。
循環ライン104には、バルブ151,152が設けられる。バルブ151(「第1開閉弁」の一例に相当)は、循環ライン104におけるバイパスライン130の上流側の端部よりも下流側かつ排出ライン120よりも上流側の位置に設けられる。また、バルブ152(「第2開閉弁」の一例に相当)は、循環ライン104におけるバイパスライン130の下流側の端部よりも下流側かつ処理ユニット16よりも上流側の位置に設けられる。
また、処理流体供給源70は、回収ライン113を備える。回収ライン113は、各処理ユニット16に一端が接続されるとともに、他端がタンク102へ接続される。各処理ユニット16において使用された処理液は、かかる回収ライン113を通ってタンク102に回収される。このようにして回収された処理液には、ポリマー残渣などの異物が混在している可能性がある。
次に、処理流体供給源70の具体的動作について説明する。まず、タンク102に貯留された処理液を処理ユニット16へ供給する場合の動作例について図3を参照して説明する。
なお、処理流体供給源70は、制御装置4が備える制御部18によって制御される。制御部18は、たとえばCPU(Central Processing Unit)であり、記憶部19に記憶された図示しないプログラムを読み出して実行することによって処理流体供給源70の動作を制御する。なお、制御部18は、プログラムを用いずにハードウェアのみで構成されてもよい。
タンク102に貯留された処理液を処理ユニット16へ供給する場合、制御部18は、まず、バルブ151,152を開き、バルブ121,131,132,143,185,186を閉じた状態とする。つづいて、制御部18は、ポンプ106を用いてタンク102内の処理液を循環ライン104へ送り出す。
循環ライン104へ送り出された処理液は、フィルタ108を通過する。このとき、処理液に含まれる異物がフィルタ部材182によって除去される。異物が除去された処理液は、循環ライン104および分岐ライン112を通って処理ユニット16へ供給される。そして、処理ユニット16において使用された処理液は、回収ライン113を通ってタンク102に回収される。
このように、処理流体供給源70では、循環ライン104にフィルタ108を設けることにより、処理ユニット16から回収された処理液に含まれるポリマー残渣などの異物を除去して再利用する。
ここで、フィルタ部材182は、長期間継続的に使用によって異物が付着して目詰まりを起こすことがある。そこで、本実施形態に係る液処理装置1は、フィルタ108の洗浄処理を行ってフィルタ部材182に付着した異物を除去する。
以下、フィルタ108の洗浄処理の具体的内容について図4および図5を参照して説明する。図4は、第1洗浄処理の動作例を示す図である。また、図5は、第2洗浄処理の動作例を示す図である。
なお、フィルタ108の洗浄処理は、たとえばタンク102内の処理液を新しい処理液に入れ替える作業を行った後に行われる。具体的には、フィルタ108の洗浄処理は、タンク102内の処理液をドレン部118から全て排出し、フィルタ108内の処理液を第1フィルタドレン183および第2フィルタドレン184から排出して、タンク液補充部116からタンク102へ処理液を補充した後に行われる。ただし、これに限らず、フィルタ108の洗浄処理は、たとえば処理ユニット16の待機中、すなわち、タンク102から処理ユニット16への処理液の供給が行われない期間に行ってもよい。
制御部18は、まず、フィルタ部材182に対して洗浄流体供給機構140から供給される洗浄用流体を逆流させることによってフィルタ部材182を洗浄する第1洗浄処理を行う。
第1洗浄処理において、制御部18は、バルブ121,132,143を開き、バルブ131,151,152,185,186を閉じた状態とする。そして、制御部18は、洗浄流体供給機構140を制御して、洗浄用流体供給源141からフィルタ108への洗浄用流体である純水の供給を開始する。
図4に示すように、洗浄用流体供給源141から供給される純水は、配管142および循環ライン104を通ってフィルタ108の下流側へ到達した後、フィルタ部材182の内側(下流側)から外側(上流側)を通過して、ハウジング181から上流側の循環ライン104へと流れる。
このように、フィルタ部材182に対して洗浄用流体である純水を逆流させることにより、フィルタ部材182に付着した異物は、純水によって押し流されてフィルタ部材182から除去される。
循環ライン104には、バルブ151とバルブ152とが設けられている。したがって、これらのバルブ151,152を閉じておくことにより、第1洗浄処理中に純水がポンプ106や処理ユニット16へ流れることを防止することができる。
純水は、フィルタ108から上流側の循環ライン104へ出た後、排出ライン120から外部へ排出される。
つづいて、制御部18は、フィルタ部材182に対してタンク102内の処理液を逆流させることによってフィルタ部材182を洗浄する第2洗浄処理を行う。
第2洗浄処理において、制御部18は、バルブ121,131,132を開き、バルブ143,151,152,185,186を閉じた状態とする。そして、制御部18は、ポンプ106を制御して、タンク102からフィルタ108への処理液の供給を開始する。
図5に示すように、タンク102から供給される処理液は、バイパスライン130を通ってフィルタ108の下流側へ到達した後、フィルタ部材182の内側(下流側)から外側(上流側)を通過して、ハウジング181から上流側の循環ライン104へと流れる。
このように、フィルタ部材182に対してタンク102内の処理液を逆流させることにより、フィルタ部材182に付着した異物は、処理液によって押し流されてフィルタ部材182から除去される。
ここで、本実施形態に係る処理流体供給源70は、処理液として、DHF(希フッ酸)などの薬液を処理ユニット16へ供給する。すなわち、第2洗浄処理では、かかる薬液を用いてフィルタ部材182が洗浄されることとなるため、純水だけでは除去しづらい異物を除去することができる。
また、処理流体供給源70では、純水を用いた第1洗浄処理の後に、処理液を用いた第2洗浄処理を行うこととしている。このため、処理流体供給源70によれば、第1洗浄処理後のフィルタ108周辺に残留する純水を処理液に置換しつつ、フィルタ108の逆流洗浄を行うことができる。したがって、フィルタ108周辺に残留する純水を処理液に置換する作業を別途行う必要がなくなり、処理液の無駄な消費を抑えることができる。
また、処理流体供給源70では、洗浄流体供給機構140の配管142をバイパスライン130に接続し、洗浄流体供給機構140から供給される純水を配管142およびバイパスライン130を介してフィルタ108へ供給することとした。これにより、たとえば洗浄流体供給機構140の配管142を循環ライン104に直接接続した場合と比べて配管142の長さを短くすることができるため、配管142内に残留する純水の量を少なくすることができ、処理液への置換を容易に行うことが可能となる。
また、処理流体供給源70は、処理液のみを用いてフィルタ108の洗浄を行う場合と比較して、処理液の消費量を抑えることができる。
このように、処理流体供給源70は、フィルタ部材182に対して純水を逆流させてフィルタ部材182を洗浄する第1洗浄処理を行った後に、フィルタ部材182に対して処理液を逆流させてフィルタ部材182を洗浄する第2洗浄処理を行うこととしたため、フィルタ108の洗浄を効率良く行うことができる。
その後、制御部18は、バルブ151,152を開き、バルブ121,131,132,143,185,186を閉じて、処理ユニット16への処理液の供給が可能な状態としたうえで、フィルタ108の洗浄処理を終える。
なお、処理流体供給源70は、処理液の消費量を節約するために、処理液の流量を純水よりも少なくしてもよい。また、処理流体供給源70は、処理液の供給時間を純水の供給時間よりも短くしてもよい。
上述してきたように、本実施形態に係る処理流体供給源70は、タンク102と、循環ライン104および分岐ライン112と、ポンプ106と、フィルタ108と、洗浄流体供給機構140と、排出ライン120と、バイパスライン130とを備える。タンク102は、処理液を貯留する。循環ライン104および分岐ライン112は、タンク102に一端が接続され、他端が処理ユニット16に接続される。ポンプ106は、タンク102に貯留された処理液を循環ライン104および分岐ライン112を介して処理ユニット16へ送給する。フィルタ108は、循環ライン104に設けられ、循環ライン104を流れる処理液から異物を除去する。洗浄流体供給機構140は、フィルタ108のフィルタ部材182を洗浄する洗浄用流体をフィルタ部材182の下流側から上流側へ流す。排出ライン120は、ポンプ106よりも下流側かつフィルタ部材182よりも上流側に設けられる。バイパスライン130は、循環ライン104におけるポンプ106よりも下流側かつ排出ライン120よりも上流側に一端が接続され、他端がフィルタ部材182よりも下流側に接続される。そして、処理流体供給源70は、タンク102内の処理液をバイパスライン130を介してフィルタ部材182の下流側から上流側へ流す。
したがって、本実施形態に係る処理流体供給源70によれば、フィルタ108の洗浄を効率良く行うことができる。
(その他の実施形態)
フィルタ108の洗浄処理の他の例について図6を参照して説明する。図6は、フィルタ108の洗浄処理の他の例を示す図である。なお、以下の説明では、既に説明した部分と同様の部分については、既に説明した部分と同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
上述した実施形態では、第1洗浄処理で用いた純水および第2洗浄処理で用いた処理液を排出ライン120から外部へ排出する場合の例について説明した。しかし、使用済みの純水や処理液の排出先は、排出ライン120に限定されない。
たとえば、図6に示すように、制御部18は、第2洗浄処理において、処理液を第1フィルタドレン183(「排出ライン」の他の一例に相当)から外部へ排出してもよい。かかる場合、制御部18は、バルブ131,132,185を開き、バルブ121,143,151,152,186を閉じた状態としたうえで、タンク102からフィルタ108への処理液の供給を開始すればよい。
上述したように、処理液の消費量はできるだけ抑えることが好ましい。このため、第1洗浄処理では、多量の純水を用いてフィルタ108を洗浄し、使用済みの純水を大径の排出ライン120から排出しつつ、第2洗浄処理では、純水よりも少ない流量の処理液を用いてフィルタ108を洗浄し、使用済みの処理液を排出ライン120よりも小径の第1フィルタドレン183から排出することとしてもよい。
また、たとえば第1洗浄処理において純水の流量を増やしたい場合、制御部18は、バルブ121およびバルブ185の両方を開き、排出ライン120および第1フィルタドレン183の両方から純水を排出してもよい。
また、たとえば第1洗浄処理および第2洗浄処理を定期的に行う場合など、純水の流量が比較的少なくてもよい場合には、純水および処理液をともに第1フィルタドレン183(「排出ライン」の他の一例に相当)から外部へ排出することとしてもよい。かかる場合、排出ライン120およびバルブ121は、必ずしも設けられることを要しない。
次に、処理流体供給源の他の構成例について図7を参照して説明する。図7は、処理流体供給源の他の構成例を示す図である。
上述した実施形態では、洗浄流体供給機構140の配管142が、バイパスライン130に接続され、洗浄用流体供給源141から供給される純水を配管142およびバイパスライン130を介してフィルタ108へ供給する場合の例について説明した。しかし、洗浄流体供給機構140は、循環ライン104に対して直接接続されてもよい。
たとえば、図7に示す処理流体供給源70Aのように、洗浄流体供給機構140の配管142は、フィルタ108よりも下流側かつバルブ152よりも上流側の循環ライン104に直接接続されてもよい。
また、洗浄流体供給機構140の配管142は、フィルタ108に対して直接接続されてもよい。具体的には、洗浄流体供給機構140の配管142は、フィルタ部材182の内側(下流側)に位置するハウジング181の底部に接続されてもよい。また、バイパスライン130の下流側の端部も、フィルタ108に直接接続されてもよい。
さらなる効果や変形例は、当業者によって容易に導き出すことができる。このため、本発明のより広範な態様は、以上のように表しかつ記述した特定の詳細および代表的な実施形態に限定されるものではない。したがって、添付の特許請求の範囲およびその均等物によって定義される総括的な発明の概念の精神または範囲から逸脱することなく、様々な変更が可能である。
1 液処理装置
16 処理ユニット
18 制御部
70 処理流体供給源
102 タンク
104 循環ライン
106 ポンプ
108 フィルタ
181 ハウジング
182 フィルタ部材
183 第1フィルタドレン
184 第2フィルタドレン
112 分岐ライン
120 排出ライン
130 バイパスライン
140 洗浄流体供給機構
141 洗浄用流体供給源

Claims (8)

  1. 処理液を用いて基板を処理する処理ユニットに対して前記処理液を供給する液供給装置であって、
    前記処理液を貯留するタンクと、
    前記タンクに一端が接続され、他端が前記処理ユニットに接続される供給ラインと、
    前記タンクに貯留された処理液を前記供給ラインを介して前記処理ユニットへ送給する送給機構と、
    前記供給ラインに設けられ、前記供給ラインを流れる前記処理液から異物を除去するフィルタと、
    前記フィルタのフィルタ部材を洗浄する洗浄用流体を前記フィルタ部材の下流側から上流側へ流す洗浄流体供給機構と、
    前記送給機構よりも下流側かつ前記フィルタ部材よりも上流側に設けられる排出ラインと、
    前記供給ラインにおける前記送給機構よりも下流側かつ前記排出ラインよりも上流側に一端が接続され、他端が前記フィルタ部材よりも下流側に接続されるバイパスラインと
    を備え、
    前記タンク内の処理液を前記バイパスラインを介して前記フィルタ部材の下流側から上流側へ流すことを特徴とする液供給装置。
  2. 前記洗浄流体供給機構を制御して、前記洗浄用流体を前記フィルタ部材の下流側から上流側へ流して前記排出ラインから排出する第1洗浄処理と、前記第1洗浄処理後、前記送給機構を制御して、前記タンク内の処理液を前記バイパスラインを介して前記フィルタ部材の下流側から上流側へ流して前記排出ラインから排出する第2洗浄処理とを実行する制御部
    を備えることを特徴とする請求項1に記載の液供給装置。
  3. 前記供給ラインは、
    前記バイパスラインの上流側の端部よりも下流側かつ前記排出ラインよりも上流側に設けられる第1開閉弁と、
    前記バイパスラインの下流側の端部よりも下流側かつ前記処理ユニットよりも上流側に設けられる第2開閉弁と
    を備え、
    前記制御部は、
    前記第1開閉弁および前記第2開閉弁を閉じた状態で、前記第1洗浄処理および前記第2洗浄処理を実行すること
    を特徴とする請求項2に記載の液供給装置。
  4. 前記洗浄流体供給機構は、
    前記バイパスラインに接続される配管を備え、該配管および前記バイパスラインを介して前記洗浄用流体を前記フィルタ部材の下流側から上流側へ流すこと
    を特徴とする請求項1〜3のいずれか一つに記載の液供給装置。
  5. 前記バイパスラインは、
    前記洗浄流体供給機構が備える前記配管との接続部よりも上流側に設けられる第3開閉弁と、
    前記配管との接続部よりも下流側に設けられる第4開閉弁と
    を備え、
    前記制御部は、
    前記第3開閉弁を閉じ、前記第4開閉弁を開いた状態で、前記第1洗浄処理を実行した後、前記第3開閉弁および前記第4開閉弁を開いた状態で、前記第2洗浄処理を実行すること
    を特徴とする請求項4に記載の液供給装置。
  6. 前記フィルタは、
    前記フィルタ部材と、
    前記フィルタ部材を収容するハウジングと、
    前記フィルタ部材よりも上流側において前記ハウジングに接続されるフィルタドレンと
    を備え、
    前記排出ラインは、
    前記フィルタドレンよりも大径であること
    を特徴とする請求項1〜5のいずれか一つに記載の液供給装置。
  7. 前記フィルタは、
    前記フィルタ部材と、
    前記フィルタ部材を収容するハウジングと、
    前記フィルタ部材よりも上流側において前記ハウジングに接続されるフィルタドレンと
    を備え、
    前記制御部は、
    前記第2洗浄処理において、前記タンク内の処理液を前記排出ラインに代えて前記フィルタドレンから排出すること
    を特徴とする請求項2〜5のいずれか一つに記載の液供給装置。
  8. 処理液を貯留するタンクと、前記タンクに一端が接続され、前記処理液を用いて基板を処理する処理ユニットに他端が接続される供給ラインと、前記タンクに貯留された処理液を前記供給ラインを介して前記処理ユニットへ送給する送給機構と、前記供給ラインに設けられ、前記供給ラインを流れる前記処理液から異物を除去するフィルタとを備える液供給装置の前記フィルタを洗浄するフィルタ洗浄方法であって、
    前記フィルタのフィルタ部材を洗浄する洗浄用流体を前記フィルタ部材の下流側から上流側へ流す洗浄流体供給機構を用い、前記洗浄用流体を前記フィルタ部材の下流側から上流側へ流して、前記送給機構よりも下流側かつ前記フィルタ部材よりも上流側に設けられる排出ラインから排出する第1洗浄工程と、
    前記第1洗浄工程後、前記供給ラインにおける前記送給機構よりも下流側かつ前記排出ラインよりも上流側に一端が接続され、他端が前記フィルタ部材よりも下流側に接続されるバイパスラインを介して前記タンク内の処理液を前記フィルタ部材の下流側から上流側へ流して、前記排出ラインから排出する第2洗浄工程と
    を含むことを特徴とするフィルタ洗浄方法。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018032688A (ja) * 2016-08-23 2018-03-01 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置、基板処理方法及び記録媒体
WO2020096136A1 (ko) * 2018-11-05 2020-05-14 (주)에스티아이 케미컬 필터 교체장치 및 교체방법
JP2023099286A (ja) * 2021-12-30 2023-07-12 セメス株式会社 基板処理装置および方法
WO2024062739A1 (ja) * 2022-09-21 2024-03-28 株式会社Screenホールディングス 基板処理装置およびパーティクル除去方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001276514A (ja) * 2000-03-30 2001-10-09 Kawasaki Steel Corp 金属粉除去フィルタの逆洗方法及び逆洗装置
JP2003203894A (ja) * 2001-11-05 2003-07-18 Tokyo Electron Ltd 基板処理装置及び基板処理方法
JP2007234862A (ja) * 2006-03-01 2007-09-13 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 高圧処理装置および高圧処理方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001276514A (ja) * 2000-03-30 2001-10-09 Kawasaki Steel Corp 金属粉除去フィルタの逆洗方法及び逆洗装置
JP2003203894A (ja) * 2001-11-05 2003-07-18 Tokyo Electron Ltd 基板処理装置及び基板処理方法
JP2007234862A (ja) * 2006-03-01 2007-09-13 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 高圧処理装置および高圧処理方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018032688A (ja) * 2016-08-23 2018-03-01 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置、基板処理方法及び記録媒体
WO2020096136A1 (ko) * 2018-11-05 2020-05-14 (주)에스티아이 케미컬 필터 교체장치 및 교체방법
CN112996583A (zh) * 2018-11-05 2021-06-18 系统科技公司 化学品过滤器更换装置及更换方法
JP2023099286A (ja) * 2021-12-30 2023-07-12 セメス株式会社 基板処理装置および方法
JP7368572B2 (ja) 2021-12-30 2023-10-24 セメス株式会社 基板処理装置および方法
WO2024062739A1 (ja) * 2022-09-21 2024-03-28 株式会社Screenホールディングス 基板処理装置およびパーティクル除去方法

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