JP2015050302A - 発光装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】信頼性を高めた発光装置を提供する。
【解決手段】実施形態によれば、基板と、複数の半導体素子と、波長変換層と、を含む発光装置が提供される。前記複数の半導体発光素子は、前記基板上に設けられる。前記波長変換層は、前記複数の半導体発光素子を覆い前記複数の半導体発光素子から放出される光の波長を変換する。前記複数の半導体発光素子のうちの隣り合う2つの前記半導体発光素子の間の第1領域における前記波長変換層の上面と、前記基板と、の間の第1距離は、前記隣り合う2つの前記半導体発光素子の上の第2領域における前記波長変換層の上面と前記基板との間の第2距離よりも短い。
【選択図】図1
【解決手段】実施形態によれば、基板と、複数の半導体素子と、波長変換層と、を含む発光装置が提供される。前記複数の半導体発光素子は、前記基板上に設けられる。前記波長変換層は、前記複数の半導体発光素子を覆い前記複数の半導体発光素子から放出される光の波長を変換する。前記複数の半導体発光素子のうちの隣り合う2つの前記半導体発光素子の間の第1領域における前記波長変換層の上面と、前記基板と、の間の第1距離は、前記隣り合う2つの前記半導体発光素子の上の第2領域における前記波長変換層の上面と前記基板との間の第2距離よりも短い。
【選択図】図1
Description
本発明の実施形態は、発光装置に関する。
例えば、青色光を発光する半導体発光素子と、光の波長を変換する蛍光体と、を組み合わせて白色光を発光する発光装置がある。このような発光装置において、信頼性を高めることが望まれる。
本発明の実施形態は、信頼性を高めた発光装置を提供する。
本発明の実施形態によれば、基板と、複数の半導体素子と、波長変換層と、を含む発光装置が提供される。前記複数の半導体発光素子は、前記基板上に設けられる。前記波長変換層は、前記複数の半導体発光素子を覆い前記複数の半導体発光素子から放出される光の波長を変換する。前記複数の半導体発光素子のうちの隣り合う2つの前記半導体発光素子の間の第1領域における前記波長変換層の上面と、前記基板と、の間の第1距離は、前記隣り合う2つの前記半導体発光素子の上の第2領域における前記波長変換層の上面と前記基板との間の第2距離よりも短い。
本発明の実施形態によれば、信頼性を高めた発光装置が提供される。
以下に、本発明の各実施の形態について図面を参照しつつ説明する。
なお、図面は模式的または概念的なものであり、各部分の厚みと幅との関係、部分間の大きさの比率などは、必ずしも現実のものと同一とは限らない。また、同じ部分を表す場合であっても、図面により互いの寸法や比率が異なって表される場合もある。
なお、本願明細書と各図において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には同一の符号を付して詳細な説明は適宜省略する。
なお、図面は模式的または概念的なものであり、各部分の厚みと幅との関係、部分間の大きさの比率などは、必ずしも現実のものと同一とは限らない。また、同じ部分を表す場合であっても、図面により互いの寸法や比率が異なって表される場合もある。
なお、本願明細書と各図において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には同一の符号を付して詳細な説明は適宜省略する。
(第1の実施形態)
図1(a)〜図1(c)は、第1の実施形態に係る発光装置及び照明装置を例示する模式図である。
図1(a)は平面図である。図1(b)は、図1(a)のA1−A2線断面の一部を例示す断面図である。
図1(a)及び図1(b)に表したように、本実施形態に係る発光装置110は、ベース部材71と、グリス層53と、金属板51と、接合層52と、実装基板部15と、複数の半導体発光素子20と、を含む。発光装置110は、例えば、照明装置210に用いられる。
図1(a)〜図1(c)は、第1の実施形態に係る発光装置及び照明装置を例示する模式図である。
図1(a)は平面図である。図1(b)は、図1(a)のA1−A2線断面の一部を例示す断面図である。
図1(a)及び図1(b)に表したように、本実施形態に係る発光装置110は、ベース部材71と、グリス層53と、金属板51と、接合層52と、実装基板部15と、複数の半導体発光素子20と、を含む。発光装置110は、例えば、照明装置210に用いられる。
ベース部材71から実装基板部15に向かう方向を積層方向(Z軸方向)とする。Z軸方向に対して垂直な1つの方向をX軸方向とする。Z軸方向とX軸方向とに対して垂直な方向をY軸方向とする。
ベース部材71の上に、グリス層53、金属板51、接合層52、実装基板部15、及び、複数の半導体発光素子20が、この順で配置される。
すなわち、複数の半導体発光素子20は、ベース部材71と、Z軸方向において離間する。実装基板部15は、基板10を含む。基板10は、上面10ueを有する。基板10には、例えば、セラミック、または、セラミックと樹脂の複合セラミックなどから形成される部材が用いられる。セラミックとしては、例えば、酸化アルミニウム(Al2O3)、窒化アルミニウム(AlN)、酸化ベリリウム(BeO)、ステアタイト(MgO・SiO2)、ジルコン(ZrSiO4)、または、窒化ケイ素(Si3N4)などが用いられる。基板10は、ベース部材71と複数の半導体発光素子との間に設けられる。金属板51は、ベース部材71と実装基板部15との間に設けられる。
図1(b)に例示したように、接合層52は、実装基板部15と金属板51との間に設けられる。接合層52は、実装基板部15と金属板51とを接合する。
グリス層53は、ベース部材71と金属板51との間に設けられる。グリス層53は、金属板51の熱をベース部材71に伝達する。
以下、図1(a)及び図1(b)に示した発光装置110(及び照明装置210)の例について、説明する。
発光装置110において、発光部40が設けられる。金属板51の上に、発光部40が設けられる。金属板51と発光部40との間に、接合層52が設けられる。
本願明細書において、上に設けられる状態は、直接的に上に設けられる状態の他に、間に別の要素が挿入される状態も含む。
金属板51から発光部40に向かう方向が積層方向に対応する。本願明細書において、積層される状態は、直接接して重ねられる状態の他に、間に別の要素が挿入されて重ねられる状態も含む。
金属板51は、例えば板状である。金属板51の主面は、例えば、X−Y平面に対して実質的に平行である。金属板51の平面形状は、例えば矩形である。金属板51は、例えば、第1〜第4辺55a〜55dを有する。第2辺55bは、第1辺55aから離間する。第3辺55cは、第1辺55aの一端と、第2辺55bの一端と、を接続する。第4辺55dは、第3辺55cと離間し、第1辺55aの他端と、第2辺55bの他端と、を接続する。金属板51の平面形状のコーナ部は、曲線状でも良い。金属板51の平面形状は、矩形でなくても良く、任意である。
金属板51には、例えば、銅やアルミニウムなどの金属材や、金属とセラミックの複合材などの基板が用いられる。金属板51の表面には、部材の酸化防止やはんだの濡れ性向上の観点から、Niめっきなどの別の金属層が形成されていても良い。
発光部40は、光を放出する。それと同時に、発光部40は熱を発生する。接合層52は、発光部40で発生した熱を、金属板51に効率良く伝導する。接合層52には、例えば、はんだなどが用いられる。すなわち、接合層52は、はんだを含む。例えば、接合層52には、錫をベースにし、金、銀、銅、ビスマス、ニッケル、インジウム、亜鉛、アンチモン、ゲルマニウム及びシリコンのいずれかを少なくとも1種類以上含むはんだを用いることができる。例えば、SnAgCu合金などが用いられる。
発光部40は、実装基板部15と、発光素子部35と、を含む。
実装基板部15は、基板10と、第1金属層11と、第2金属層12と、を含む。
実装基板部15は、基板10と、第1金属層11と、第2金属層12と、を含む。
基板10は、第1主面10aと、第2主面10bと、を有する。第2主面10bは、第1主面10aとは反対側の面である。金属板51は、基板10の第2主面に対向している。換言すると、第2主面10bは、金属板51側の面である。すなわち、第2主面10bは、接合層52の側の面である。
本願明細書において、対向している状態は、直接面している状態に加え、間に別の要素が挿入されている状態も含む。
第1主面10aは、実装領域16を含む。例えば、実装領域16は、第1主面10aの外縁10rから離間している。この例では、実装領域16は、第1主面10aの中央部分に設けられる。第1主面10aは、周辺領域17をさらに含む。周辺領域17は、実装領域16の周りに設けられる。
基板10は、例えば、アルミナを含む。基板10には、例えば、アルミナを主成分とするセラミックが用いられる。高い熱伝導性と、高い絶縁性と、が得られる。高い信頼性が得られる。
第1金属層11は、第1主面10a上に設けられる。第1金属層11は、複数の実装パターン11pを含む。複数の実装パターン11pは、実装領域16に設けられる。複数の実装パターン11pの少なくともいずれか2つ以上は、互いに離間している。例えば、複数の実装パターン11pの少なくともいずれかは、島状である。複数の実装パターン11pの2つは、互いに独立している。複数の実装パターン11pは、例えば、第1実装パターン11pa及び第2実装パターン11pbなどを含む。
複数の実装パターン11pのそれぞれは、例えば、第1実装部分11aと、第2実装部分11bと、を含む。この例では、実装パターン11pは、第3実装部分11cをさらに含む。第3実装部分11cは、第1実装部分11aと第2実装部分11bとの間に設けられ、第1実装部分11aと第2実装部分11bとを繋ぐ。これらの実装部分の例については、後述する。
第1金属層11は、複数の実装パターン11pを互いに接続する接続部44をさらに含んでも良い。この例では、第1金属層11は、第1コネクタ用電極部45eと第2コネクタ用電極部46eとをさらに含む。第1コネクタ用電極部45eは、複数の実装パターン11pの1つと電気的に接続される。第2コネクタ用電極部46eは、複数の実装パターン11pのその1つとは別の1つと電気的に接続される。例えば、1つの実装パターン11pの一部の上に半導体発光素子20が配置される。この半導体発光素子20により、第1コネクタ用電極部45eが、実装パターン11pの1つと電気的に接続される。さらに、別の1つの実装パターン11pの一部の上に半導体発光素子20が配置される。この半導体発光素子20により、第2コネクタ用電極部46eが、別の1つの実装パターン11pの1つと電気的に接続される。
この例では、発光部40は、第1主面10a上に設けられた第1コネクタ45と、第2コネクタ46と、をさらに含む。第1コネクタ45は、第1コネクタ用電極部45eと電気的に接続される。第2コネクタ46は、第2コネクタ用電極部46eと電気的に接続される。この例では、第1コネクタ用電極部45eの上に、第1コネクタ45が設けられている。第2コネクタ用電極部46eの上に、第2コネクタ46が設けられている。第1コネクタ45と、第2コネクタ46と、の間に発光素子部35が配置される。これらのコネクタを介して、発光部40に電力が供給される。
第2金属層12は、第2主面10b上に設けられる。第2金属層12は、第1金属層11と電気的に絶縁されている。第2金属層12の少なくとも一部は、X−Y平面(第1主面10aに対して平行な第1平面)に投影したときに、実装領域16と重なる。
図1(c)は、発光装置110の一部を例示する透視平面図である。
第2金属層12は、外縁10rから離れている。第2金属層12の平面形状は、例えば矩形である。第2金属層12は、第1〜第4辺12i〜12lを有する。第2辺12jは、第1辺12iから離間する。第3辺12kは、第1辺12iの一端と、第2辺12jの一端と、を接続する。第4辺12lは、第3辺12kと離間し、第1辺12iの他端と、第2辺12jの他端と、を接続する。各辺の交点、すなわちコーナ部は、曲線状(アール形状)でも良い。第2金属層12の平面形状は、矩形でなくても良く、任意である。
第2金属層12は、外縁10rから離れている。第2金属層12の平面形状は、例えば矩形である。第2金属層12は、第1〜第4辺12i〜12lを有する。第2辺12jは、第1辺12iから離間する。第3辺12kは、第1辺12iの一端と、第2辺12jの一端と、を接続する。第4辺12lは、第3辺12kと離間し、第1辺12iの他端と、第2辺12jの他端と、を接続する。各辺の交点、すなわちコーナ部は、曲線状(アール形状)でも良い。第2金属層12の平面形状は、矩形でなくても良く、任意である。
このように、基板10の上面(第1主面10a)に第1金属層11が設けられ、基板10の下面(第2主面10b)に第2金属層12が設けられる。
発光素子部35は、基板10の第1主面10a上に設けられる。発光素子部35は、複数の半導体発光素子20と、波長変換層31と、を含む。
この例では、複数の半導体発光素子20はアレイ状に配置される。半導体発光素子20は、例えば、略円形状に配置される。例えば、半導体発光素子20は、略等ピッチで配置される。
複数の半導体発光素子20は、第1主面10a上に設けられる。複数の半導体発光素子20のそれぞれは、光を放出する。半導体発光素子20は、例えば窒化物半導体を含む。半導体発光素子20は、例えば、InyAlzGa1−x−yN(0≦x≦1,0≦y≦1,x+y≦1)を含む。ただし、実施形態において、半導体発光素子20は任意である。
複数の半導体発光素子20は、例えば、第1半導体発光素子20a及び第2半導体発光素子20bなどを含む。
複数の半導体発光素子20のそれぞれは、複数の実装パターン11pのうちのいずれかの実装パターン11pと、複数の実装パターン11pのうちの上記のいずれかの隣の別の実装パターン11pと、電気的に接続されている。
例えば、第1半導体発光素子20aは、複数の実装パターン11pのうちの第1実装パターン11paと、第2実装パターン11pbと、電気的に接続されている。第2実装パターン11pbは、第1実装パターン11paの隣の別の実装パターン11pに相当する。
例えば、複数の半導体発光素子20のそれぞれは、第1導電形の第1半導体層21と、第2導電形の第2半導体層22と、発光層23と、を含む。例えば、第1導電形はn形であり、第2導電形はp形である。第1導電形がp形であり、第2導電形がn形でも良い。
第1半導体層21は、第1の部分(第1半導体部分21a)と、第2の部分(第2半導体部分21b)と、を含む。第2半導体部分21bは、積層方向(金属板51から発光部40に向かうZ軸方向)に対して交差する方向(例えば、X軸方向)において、第1半導体部分21aと並ぶ。
第2半導体層22は、第2半導体部分21bと実装基板部15との間に設けられる。発光層23は、第2半導体部分21bと第2半導体層22との間に設けられる。
半導体発光素子20は、例えば、フリップチップ型のLEDである。
半導体発光素子20は、例えば、フリップチップ型のLEDである。
例えば、第1半導体層21の第1半導体部分21aが、実装パターン11pの第1実装部分11aと対向している。第2半導体層22が、実装パターン11pの第2実装部分11bと対向している。第1半導体層21の第1半導体部分21aは、実装パターン11pと電気的に接続される。第2半導体層22は、別の実装パターン11pと電気的に接続される。この接続には、例えば、電気伝導率及び熱伝導率が高いはんだや金バンプなどが用いられる。この接続は、例えば、金属溶融はんだ接合により行われる。または、この接続は、例えば、金バンプを用いた超音波熱圧着法により行われる。
すなわち、例えば、発光素子部35は、第1接合金属部材21eと、第2接合金属部材22eと、をさらに含む。第1接合金属部材21eは、第1半導体部分21aと、いずれかの実装パターン11p(例えば第1実装部分11a)と、の間に設けられる。第2接合金属部材22eは、第2半導体層22と、別の実装パターン11p(例えば、第2実装パターン11pb)と、の間に設けられる。第1接合金属部材21e及び第2接合金属部材22eの少なくともいずれかは、はんだ、または、金バンプを含む。これにより、第1接合金属部材21e及び第2接合金属部材22eのそれぞれの断面積(X−Y平面で切断したときの断面積)を大きくできる。これにより、第1接合金属部材21e及び第2接合金属部材22eを介して、熱を効率良く、実装基板部15に伝えることができ、放熱性が高まる。
例えば、半導体発光素子20と実装基板部15との間に、別の金属層を設けても良い。これにより、第1の金属層の酸化を抑制したり、はんだとの濡れ性を高めたりすることができる。この金属層は、半導体発光素子20及び実装パターン11pと電気的に接続されない。この金属層は回路に関係しない。
波長変換層31は、複数の半導体発光素子20の少なくとも一部を覆う。波長変換層31は、複数の半導体発光素子20から放出される光(例えば第1光)の少なくとも一部を吸収し、第2光を放出する。第2光の波長(例えばピーク波長)は、第1光の波長(例えばピーク波長)とは、異なる。波長変換層31には、例えば、蛍光体などの複数の波長変換粒子と、複数の波長変換粒子が分散された光透過性樹脂と、を含む。第1光は、例えば青色光を含む。第2光は、第1光よりも波長が長い光を含む。第2光は、例えば、黄色光及び赤色光の少なくともいずれかを含む。
この例では、発光素子部35は、反射層32をさらに含む。反射層32は、X−Y平面内で波長変換層31を囲む。反射層32には、例えば、金属酸化物などの複数の粒子と、その粒子が分散された光透過性樹脂と、を含む。金属酸化物などの粒子は、光反射性を有する。この金属酸化物などの粒子として、例えば、TiO2及びAl2O3の少なくともいずれか用いることができる。反射層32を設けることで、半導体発光素子20から放出された光が、積層方向に沿った方向(例えば上方向)に沿って効率良く出射できる。
発光部40は、例えば、チップオンボード(COB)型のLEDモジュールである。
本実施形態においては、発光素子部35(複数の半導体発光素子20)から放出される光の光束発散度は、10lm/mm2(ルーメン/平方ミリメートル)以上、100lm/mm2以下である。望ましくは、20lm/mm2以上である。すなわち、本実施形態においては、発光素子部35から放出される光の発光面積に対する比(光束発散度)が、非常に高い。本願明細書においては、発光面積は、実質的に実装領域16の面積に対応する。
本実施形態に係る発光装置110は、例えば、投光器などの照明装置210に利用される。
グリス層53には、液体状または固体状の潤滑油(グリス)などが用いられる。グリス層53には、例えば、絶縁性を有する潤滑油(絶縁性グリス)や、導電性を有する潤滑油(導電性グリス)などを用いても良い。絶縁性グリスは、例えば、シリコーンと、そのシリコーンに分散されたセラミック粒子と、を含む。導電性グリスは、例えば、シリコーンと、そのシリコーンに分散された金属粒子と、を含む。導電性グリスにおいては、例えば、絶縁性グリスよりも高い熱伝導率が得られる。例えば、発光素子部35の熱は、グリス層53により、ベース部材71に伝導されて、放熱される。
本実施形態に係る発光装置110においては、例えば、金属板51をX−Y平面に投影したときに、金属板51は、実装領域16の面積の5倍以上の面積を有する。すなわち、本実施形態においては、実装領域16の面積に対して、金属板51の面積が非常に大きく設定されている。これにより、実装領域16の上に設けられた発光素子部35で生じる熱を、面積の大きい金属板51により、面内方向(X−Y面内方向)に広げる。そして、面内方向に拡がった熱が、例えば、ベース部材71に向けて、伝達され、効率良く放熱される。
図2は、第1の実施形態に係る発光装置を例示する模式的断面図である。
図2は、実装領域16の上に設けられた発光素子部35を例示している。
図2に例示したように、波長変換層31は、上面(波長変換層上面31u)を有する。図2に表したように、この例では、複数の半導体発光素子20の間の領域において、波長変換層上面31uは凹状である。
図2は、実装領域16の上に設けられた発光素子部35を例示している。
図2に例示したように、波長変換層31は、上面(波長変換層上面31u)を有する。図2に表したように、この例では、複数の半導体発光素子20の間の領域において、波長変換層上面31uは凹状である。
半導体発光素子20の上の領域における波長変換層上面31uは、隣り合う半導体発光素子20の間の領域における波長変換層上面31uよりも上方に位置する。
例えば、複数の半導体発光素子20のうちの隣り合う2つの半導体発光素子20の間の領域を第1領域R1とする。隣り合う2つの半導体発光素子20の上の領域を第2領域R2とする。
例えば、複数の半導体発光素子20のうちの隣り合う2つの半導体発光素子20の間の領域を第1領域R1とする。隣り合う2つの半導体発光素子20の上の領域を第2領域R2とする。
第1領域R1における波長変換層上面31uと、基板10と、の間の距離を第1距離L1とする。第2領域R2における波長変換層上面31uと基板10との間の距離を第2距離L2とする。
実施形態においては、第1距離L1は、第2距離L2よりも短い。
すなわち、複数の半導体発光素子20の間の領域において、波長変換層上面31uに凹部が設けられている。
実施形態においては、例えば、第1距離L1は、0.55mm以上0.65mm以下である。第2距離L2は、例えば、0.6mm以上0.7mm以下である。第1距離L1と第2距離L2との差の絶対値は、例えば、第2距離L2の0.07倍以上0.83倍以下である。半導体発光素子20の高さは、0.05mm〜0.60mmである。
隣り合う半導体発光素子20の間の第1領域R1における波長変換層31の高さは、第1距離L1に対応する。半導体発光素子20の上の第2領域における波長変換層31の高さは、第2距離L2に対応する。例えば、複数の半導体発光素子20は、X−Y面内にアレイ状に設けられる。波長変換層31の表面形状は、例えば鱗状に観察される場合もある。
発光素子部35で生じる熱の一部は、例えば、波長変換層31に蓄積される。波長変換層31に蓄積された熱は、例えば、半導体発光素子20に伝達され、実装基板部15へ向けて放熱される。例えば、半導体発光素子20の間の領域における波長変換層31において、熱が蓄積される。本実施形態では、半導体発光素子20の間の領域における波長変換層31の高さが低い。これにより、半導体発光素子20の間の熱の蓄積を抑制することができ、放熱性を高めることができる。
本実施形態によれば、放熱性を高めた高信頼性の発光装置が提供される。
本実施形態によれば、放熱性を高めた高信頼性の発光装置が提供される。
(第2の実施形態)
図3は、第2の実施形態に係る発光装置を例示する模式的断面図である。
図3は、発光装置110のY軸に対して垂直な面における模式的断面図である。実装領域16は、中央部16cと外周部16eとを含む。
図3は、第2の実施形態に係る発光装置を例示する模式的断面図である。
図3は、発光装置110のY軸に対して垂直な面における模式的断面図である。実装領域16は、中央部16cと外周部16eとを含む。
距離L2cは、中央部16cに設けられた半導体発光素子20の上の領域において、波長変換層上面31uから基板10までの距離である。
距離L1cは、中央部16cに設けられた隣り合う半導体発光素子20の間の領域において、波長変換層上面31uから基板10までの距離である。距離L1cは、距離L2cよりも短い。
距離L2eは、外周部16eに設けられた半導体発光素子20の上の領域において、波長変換層上面31uから基板10までの距離である。
距離L1eは、外周部16eに設けられた隣り合う半導体発光素子20の間の領域において、波長変換層上面31uから基板10までの距離である。距離L1eは、距離L2eよりも短い。
本実施形態において、距離L1cは、距離L1eよりも短い。すなわち、実装領域16の中央部16cに位置する半導体発光素子20についての第1距離L1(すなわち距離L1c)は、外周部16eに位置する半導体発光素子20についての第1距離L1(すなわち距離L1e)よりも短い。
例えば、距離L1cは、0.54mm以上0.67mm以下である。距離L1eは0.7mm以上0.8mm以下である。距離L1cと距離L1eとの差の絶対値は、例えば距離L1cの0.3倍以上0.45倍以下である。
本実施形態において、距離L2cは、距離L2eよりも短い。すなわち、実装領域16の中央部16cに位置する半導体発光素子20についての第2距離L2(すなわち距離L2c)は、外周部16eに位置する半導体発光素子20についての第2距離L2(すなわち距離L2e)よりも短い。
例えば、距離L2cは、0.6mm以上0.7mm以下である。距離L2eは0.75mm以上0.85mm以下である。距離L2cと距離L2eとの差の絶対値は、例えば距離L2cの0.2倍以上0.25倍以下である。
発光素子部35で生じる熱の一部は、例えば、波長変換層31に蓄積される。例えば、中央部16cの上の領域における波長変換層31において、熱が蓄積しやすい。本実施形態においては、中央部16cの上の領域における波長変換層31の高さ(距離L1c)は、外周部16eの上の領域における波長変換層31の高さ(距離L2c)よりも低い。そして、距離L2cは、距離L2eよりも短い。これにより、中央部16cの上の領域における波長変換層31への熱の蓄積を抑制することができる。例えば、中央部16cの上の領域における半導体発光素子20の温度と、外周部16eの上の領域における半導体発光素子20の温度との、差が小さくなる。本実施形態によると、熱の蓄積を抑制し、放熱性を高めた高信頼性の発光装置が提供される。
(第3の実施形態)
図4(a)〜図4(g)は、第3の実施形態に係る発光装置を例示する模式図である。 図4(a)は、第3の実施形態に係る発光装置110aの実装領域16の一部の平面図である。
図4(b)は、図4(a)のB1−B2線断面を例示する模式的断面図である。
図4(c)は、図4(a)のC1−C2線断面を例示する模式的断面図である。
図4(d)は、図4(a)のD1−D2線断面を例示する模式的断面図である。
図4(e)は、図4(a)のE1−E2線断面を例示する模式的断面図である。
図4(f)は、図4(a)のF1−F2線断面を例示する模式的断面図である。
図4(g)は、図4(a)のG1−G2線断面を例示する模式的断面図である。
図4(a)〜図4(g)は、第3の実施形態に係る発光装置を例示する模式図である。 図4(a)は、第3の実施形態に係る発光装置110aの実装領域16の一部の平面図である。
図4(b)は、図4(a)のB1−B2線断面を例示する模式的断面図である。
図4(c)は、図4(a)のC1−C2線断面を例示する模式的断面図である。
図4(d)は、図4(a)のD1−D2線断面を例示する模式的断面図である。
図4(e)は、図4(a)のE1−E2線断面を例示する模式的断面図である。
図4(f)は、図4(a)のF1−F2線断面を例示する模式的断面図である。
図4(g)は、図4(a)のG1−G2線断面を例示する模式的断面図である。
図4(a)に表したように、発光装置110aには、基板10の上面に複数の半導体発光素子20が設けられる。複数の半導体発光素子20は、第1半導体素子20iと第2半導体素子20jと第3半導体素子20kと第4半導体素子20lと、を含む。
第2半導体素子20jは、基板10の上面に対し平行な第1方向(例えば、X軸方向)において、第1半導体素子20iと離間する。
第3半導体素子20kは、基板10の上面に対し平行で、第1方向と交差する第2方向(例えば、Y軸方向)において第1半導体素子20iと離間する。
第4半導体素子20lは、X軸方向において第3半導体素子20kと離間し、Y軸方向において第2半導体素子20jと離間する。
第2半導体素子20jは、基板10の上面に対し平行な第1方向(例えば、X軸方向)において、第1半導体素子20iと離間する。
第3半導体素子20kは、基板10の上面に対し平行で、第1方向と交差する第2方向(例えば、Y軸方向)において第1半導体素子20iと離間する。
第4半導体素子20lは、X軸方向において第3半導体素子20kと離間し、Y軸方向において第2半導体素子20jと離間する。
波長変換層31は、複数の半導体発光素子20を覆う。波長変換層31は、第1部分P1と第2部分P2と第3部分P3と第4部分P4と第5部分P5とを含む。
第1部分P1は、第1半導体素子20iと第2半導体素子20jとの間の領域である。 第2部分P2は、第1半導体素子20iと第3半導体素子20kとの間の領域である。 第3部分P3は、第2半導体素子20jと第4半導体素子20lとの間の領域である。 第4部分P4は、第3半導体素子20kと第4半導体素子20lとの間の領域である。 第5部分P5は、第1部分P1と第4部分P4との間の、及び、第2部分P2と第3部分P3との間の領域である。
第1部分P1は、第1半導体素子20iと第2半導体素子20jとの間の領域である。 第2部分P2は、第1半導体素子20iと第3半導体素子20kとの間の領域である。 第3部分P3は、第2半導体素子20jと第4半導体素子20lとの間の領域である。 第4部分P4は、第3半導体素子20kと第4半導体素子20lとの間の領域である。 第5部分P5は、第1部分P1と第4部分P4との間の、及び、第2部分P2と第3部分P3との間の領域である。
第1部分P1、第2部分P2、第3部分P3及び第4部分P4は、隣り合う半導体発光素子20の間の領域に設けられた領域R1である。
図4(b)に表したように、第4部分P4における波長変換層上面31uと基板10との間の距離は、第1距離L1である。
図4(c)に表したように、第1部分P1における波長変換層上面31uと基板10との間の距離は、第1距離L1である。
図4(d)に表したように、第2部分P2における波長変換層上面31uと基板10との間の距離は、第1距離L1である。
図4(e)に表したように、第3部分P3における波長変換層上面31uと基板10との間の距離は、第1距離L1である。
図4(f)及び図4(g)に表したように、第5部分における波長変換層上面31uと基板10との間の距離を、第3距離L3とする。
本実施形態に係る発光装置110aにおいては、第3距離L3は、第1距離L1よりも短い。
図4(c)に表したように、第1部分P1における波長変換層上面31uと基板10との間の距離は、第1距離L1である。
図4(d)に表したように、第2部分P2における波長変換層上面31uと基板10との間の距離は、第1距離L1である。
図4(e)に表したように、第3部分P3における波長変換層上面31uと基板10との間の距離は、第1距離L1である。
図4(f)及び図4(g)に表したように、第5部分における波長変換層上面31uと基板10との間の距離を、第3距離L3とする。
本実施形態に係る発光装置110aにおいては、第3距離L3は、第1距離L1よりも短い。
第3距離L3が第1距離L1よりも短いことによって、半導体発光素子20の間の波長変換層31における熱の蓄積を抑制することができる。これにより、放熱性を高めた高信頼性の発光装置が提供される。
例えば、第1部分P1〜第4部分P4は、2つの半導体発光素子によって挟まれている。従って、これらの部分の熱の一部は、その半導体発光素子を介した経路により放熱される。これに対して、第5部分P5は、半導体発光素子ではなく、第1部分P1〜第4部分P4に挟まれている。このため、第5部分P5の熱は、放熱し難い。第5部分P5における波長変換層31の高さを、他の部分よりも低くすることで、第5部分P5の熱を効果的に放熱することができる。
図5(a)〜図5(c)は、実施形態に係る発光装置を例示する模式図である。
図5(a)は、発光装置110aのX−Y平面における波長変換層上面31uの凹凸を例示するグラフ図である。
図5(a)の縦軸は、波長変換層31の高さhである。図5(a)の横軸は、例えば、X−Y平面内における位置xである。高さhは、Z軸方向における位置である。
図5(a)は、発光装置110aのX−Y平面における波長変換層上面31uの凹凸を例示するグラフ図である。
図5(a)の縦軸は、波長変換層31の高さhである。図5(a)の横軸は、例えば、X−Y平面内における位置xである。高さhは、Z軸方向における位置である。
この例では、半導体発光素子の高さは、0.40mm、波長変換層31の厚さ(半導体発光素子から波長変換層の上面までの距離)の平均値は、0.25mmである。この例では、外周部16eは、位置xが0〜7.0mm付近の領域、及び、7.0mm〜14.0mm付近の領域である。中央部16cは、位置xが13.0mm〜20.0mm付近の領域である。中央部16cにおいて、凹部の深さは、0.045mm〜0.060mm程度である。
図5(b)は、発光装置110aの波長変換層31の模式的斜視図である。なお、この図は、発光素子部に光学レーザーの光を照射しながら位置xを変え、その反射光を測定することで得たものである。
図5(c)は、発光装置110aの波長変換層31の模式的平面図である。
図5(b)及び図5(c)に表すように、波長変換層上面31uには、凹部31ua及び凸部31ubが設けられている。波長変換層上面31uの形状は鱗状に観察される場合がある。これにより、放熱性を高めた高信頼性の発光装置が提供される。
図5(c)は、発光装置110aの波長変換層31の模式的平面図である。
図5(b)及び図5(c)に表すように、波長変換層上面31uには、凹部31ua及び凸部31ubが設けられている。波長変換層上面31uの形状は鱗状に観察される場合がある。これにより、放熱性を高めた高信頼性の発光装置が提供される。
図6は、実施形態に係る発光装置の特性を例示するグラフ図である。
図6は、実装領域16の温度を例示している。図6の横軸は、波長変換層31の凹凸の凹部の深さR1である。深さR1は、第1距離L1と第2距離L2との差の絶対値の、第2距離L2に対する比である。すなわち、深さR1は、|L2−L1|/L2である。図6の縦軸は、発光時における実装領域16の中心部の温度T1である。
図6は、実装領域16の温度を例示している。図6の横軸は、波長変換層31の凹凸の凹部の深さR1である。深さR1は、第1距離L1と第2距離L2との差の絶対値の、第2距離L2に対する比である。すなわち、深さR1は、|L2−L1|/L2である。図6の縦軸は、発光時における実装領域16の中心部の温度T1である。
深さR1が0.76のときに、温度T1は96.1℃である。
深さR1が0.69のときに、温度T1は96.3℃である。
深さR1が0.62のときに、温度T1は97.8℃である。
深さR1は、例えば0.69以上であることが望ましい。上限は0.90である。深さR1が0.90より大きくなると、隣接する領域間で熱の移動が抑制され、熱の不均衡が生じたりする恐れがあるためである。
深さR1が0.69のときに、温度T1は96.3℃である。
深さR1が0.62のときに、温度T1は97.8℃である。
深さR1は、例えば0.69以上であることが望ましい。上限は0.90である。深さR1が0.90より大きくなると、隣接する領域間で熱の移動が抑制され、熱の不均衡が生じたりする恐れがあるためである。
なお、凹部は、例えば、製造時にフリップチップ型のLEDの下側の電極間に樹脂を流し込んだり、その流し込む樹脂の粘度等によって生じさせることができる。凹部の深さは、それらの条件や使用する半導体発光素子の高さ等に影響する。
実施形態によれば、信頼性を高めた発光装置が提供される。
なお、本願明細書において、「垂直」及び「平行」は、厳密な垂直及び厳密な平行だけではなく、例えば製造工程におけるばらつきなどを含むものであり、実質的に垂直及び実質的に平行であれば良い。
以上、具体例を参照しつつ、本発明の実施の形態について説明した。しかし、本発明は、これらの具体例に限定されるものではない。例えば、半導体発光素子、波長変換層及び基板などの各要素の具体的な構成に関しては、当業者が公知の範囲から適宜選択することにより本発明を同様に実施し、同様の効果を得ることができる限り、本発明の範囲に包含される。
また、各具体例のいずれか2つ以上の要素を技術的に可能な範囲で組み合わせたものも、本発明の要旨を包含する限り本発明の範囲に含まれる。
また、各具体例のいずれか2つ以上の要素を技術的に可能な範囲で組み合わせたものも、本発明の要旨を包含する限り本発明の範囲に含まれる。
その他、本発明の思想の範疇において、当業者であれば、各種の変更例及び修正例に想到し得るものであり、それら変更例及び修正例についても本発明の範囲に属するものと了解される。
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
10…基板、 10a…第1主面、 10b…第2主面、 10r…外縁、 11…金属層、 11a…第1実装部分、 11b…第2実装部分、 11c…第3実装部分、
11p…実装パターン、 11pa…第1実装パターン、 11pb…第2実装パターン、 12…金属層、 12i〜12l…第1〜第4辺、 15…実装基板部、 16…実装領域、 16c…中央部、 16e…外周部、 17…周辺領域、 20…半導体発光素子、 20a…第1半導体発光素子、 20b…第2半導体発光素子、 20i…第1半導体素子、 20j…第2半導体素子、 20k…第3半導体素子、 20l…第4半導体素子、 21…第1半導体層、 21a…第1半導体部分、 21b…第2半導体部分、 21e…第1接合金属部材、 22…第2半導体層、 22e…第2接合金属部材、 23…発光層、 31…波長変換層、 31u…波長変換層上面、 31ua…凹部、 31ub…凸部、 32…反射層、 35…発光素子部、 40…発光部、 44…接続部、 45…第1コネクタ、 45e…第1コネクタ用電極部、 46…第2コネクタ、 46e…第2コネクタ用電極部、 51…金属板、 52…接合層、 53…グリス層、 55a、55b、55c、55d…辺、 71…ベース部材、 110、110a、…発光装置、 210…照明装置、 L1…第1距離、 L2…第2距離、 L3…第3距離、 L1c、L1e、L2c、L2e…距離、 P1…第1部分、 P2…第2部分、 P3…第3部分、 P4…第4部分、 P5…第5部分、 R1…深さ、 T1…温度、 h…高さ、 x…位置
11p…実装パターン、 11pa…第1実装パターン、 11pb…第2実装パターン、 12…金属層、 12i〜12l…第1〜第4辺、 15…実装基板部、 16…実装領域、 16c…中央部、 16e…外周部、 17…周辺領域、 20…半導体発光素子、 20a…第1半導体発光素子、 20b…第2半導体発光素子、 20i…第1半導体素子、 20j…第2半導体素子、 20k…第3半導体素子、 20l…第4半導体素子、 21…第1半導体層、 21a…第1半導体部分、 21b…第2半導体部分、 21e…第1接合金属部材、 22…第2半導体層、 22e…第2接合金属部材、 23…発光層、 31…波長変換層、 31u…波長変換層上面、 31ua…凹部、 31ub…凸部、 32…反射層、 35…発光素子部、 40…発光部、 44…接続部、 45…第1コネクタ、 45e…第1コネクタ用電極部、 46…第2コネクタ、 46e…第2コネクタ用電極部、 51…金属板、 52…接合層、 53…グリス層、 55a、55b、55c、55d…辺、 71…ベース部材、 110、110a、…発光装置、 210…照明装置、 L1…第1距離、 L2…第2距離、 L3…第3距離、 L1c、L1e、L2c、L2e…距離、 P1…第1部分、 P2…第2部分、 P3…第3部分、 P4…第4部分、 P5…第5部分、 R1…深さ、 T1…温度、 h…高さ、 x…位置
Claims (7)
- 基板と、
前記基板上に設けられた複数の半導体発光素子と、
前記複数の半導体発光素子を覆い前記複数の半導体発光素子から放出される光の波長を変換する波長変換層と、
を備え、
前記複数の半導体発光素子のうちの隣り合う2つの前記半導体発光素子の間の第1領域における前記波長変換層の上面と、前記基板と、の間の第1距離は、前記半導体発光素子の上の第2領域における前記波長変換層の上面と前記基板との間の第2距離よりも短い発光装置。 - 第1領域には、前記波長変換層の上面から前記基板方向に凹む凹部が形成されており、前記凹部の最も深い部分と、前記基板との間の前記第1距離は、前記第2距離よりも短い請求項1に記載の発光装置。
- 前記第1距離と前記第2距離との差の絶対値は、前記第2距離の0.69倍以上0.9倍以下である請求項1または2に記載の発光装置。
- 前記複数の半導体発光素子は、前記基板に設けられた実装領域上に設けられ、
前記実装領域の中央部に位置する前記半導体発光素子についての前記第2距離は、前記実装領域の外側部に位置する半導体発光素子についての第2距離よりも短く、項 前記実装領域の中央部に位置する前記半導体発光素子についての前記第1距離は、前記実装領域の外側部に位置する半導体発光素子についての第1距離よりも、短い請求項1〜3のいずれか1つに記載の発光装置。 - 前記中央部の前記凹部の深さは、前記外側部の前記凹部の深さよりも深い請求項2〜4のいずれか1つに記載の発光装置。
- 前記複数の半導体発光素子は、
第1半導体素子と、
前記基板の上面に対して平行な第1方向において前記第1半導体素子と離間した第2半導体素子と、
前記上面に対して平行で前記第1方向と交差する第2方向において前記第1半導体素子と離間した第3半導体素子と、
前記第1方向において前記第3半導体素子と離間し前記第2方向において前記第2半導体素子と離間した第4半導体素子と、
を含み、
前記波長変換層は、
前記第1半導体素子と前記第2半導体層との間に設けられた第1部分と、
前記第1半導体素子と前記第3半導体層との間に設けられた第2部分と、
前記第2半導体素子と前記第4半導体層との間に設けられた第3部分と、
前記第3半導体素子と前記第4半導体層との間に設けられた第4部分と、
前記第1部分と前記第4部分との間、及び、前記第2部分と前記第3部分との間に設けられた第5部分と、
を含み、前記第5部分における前記波長変換層の上面と、前記基板と、の間の第3距離は、前記第1距離よりも短い請求項1〜5のいずれか1つに記載の発光装置。 - 前記第1部分〜前記第4部分における前記凹部は溝状、前記第5部分における前記凹部は略円錐上である請求項6に記載の発光装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013180679A JP2015050302A (ja) | 2013-08-30 | 2013-08-30 | 発光装置 |
EP14156546.5A EP2843701A1 (en) | 2013-08-30 | 2014-02-25 | Light emitting device |
US14/191,616 US20150060894A1 (en) | 2013-08-30 | 2014-02-27 | Light Emitting Device |
CN201420125850.XU CN203836646U (zh) | 2013-08-30 | 2014-03-19 | 发光装置 |
TW103110402A TW201508958A (zh) | 2013-08-30 | 2014-03-20 | 發光裝置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013180679A JP2015050302A (ja) | 2013-08-30 | 2013-08-30 | 発光装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015050302A true JP2015050302A (ja) | 2015-03-16 |
Family
ID=50156646
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013180679A Pending JP2015050302A (ja) | 2013-08-30 | 2013-08-30 | 発光装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20150060894A1 (ja) |
EP (1) | EP2843701A1 (ja) |
JP (1) | JP2015050302A (ja) |
CN (1) | CN203836646U (ja) |
TW (1) | TW201508958A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020025063A (ja) * | 2018-08-06 | 2020-02-13 | 日亜化学工業株式会社 | 発光装置及びその製造方法 |
US10794558B2 (en) | 2018-08-06 | 2020-10-06 | Nichia Corporation | Light emitting device |
JP2020167266A (ja) * | 2019-03-29 | 2020-10-08 | 日亜化学工業株式会社 | 発光装置 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20080038878A (ko) * | 2006-10-31 | 2008-05-07 | 삼성전자주식회사 | 광원장치와 이를 포함하는 액정표시장치 |
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JP5390516B2 (ja) * | 2008-05-19 | 2014-01-15 | 株式会社東芝 | 線状白色光源ならびにそれを用いたバックライトおよび液晶表示装置 |
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US9698563B2 (en) * | 2010-11-03 | 2017-07-04 | 3M Innovative Properties Company | Flexible LED device and method of making |
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JP5983603B2 (ja) * | 2011-05-16 | 2016-08-31 | 日亜化学工業株式会社 | 発光装置及びその製造方法 |
-
2013
- 2013-08-30 JP JP2013180679A patent/JP2015050302A/ja active Pending
-
2014
- 2014-02-25 EP EP14156546.5A patent/EP2843701A1/en not_active Withdrawn
- 2014-02-27 US US14/191,616 patent/US20150060894A1/en not_active Abandoned
- 2014-03-19 CN CN201420125850.XU patent/CN203836646U/zh not_active Expired - Fee Related
- 2014-03-20 TW TW103110402A patent/TW201508958A/zh unknown
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US11137123B2 (en) | 2018-08-06 | 2021-10-05 | Nichia Corporation | Method of manufacturing light emitting device |
JP6989782B2 (ja) | 2018-08-06 | 2022-02-03 | 日亜化学工業株式会社 | 発光装置及びその製造方法 |
JP2020167266A (ja) * | 2019-03-29 | 2020-10-08 | 日亜化学工業株式会社 | 発光装置 |
JP7227482B2 (ja) | 2019-03-29 | 2023-02-22 | 日亜化学工業株式会社 | 発光装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2843701A1 (en) | 2015-03-04 |
TW201508958A (zh) | 2015-03-01 |
CN203836646U (zh) | 2014-09-17 |
US20150060894A1 (en) | 2015-03-05 |
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