JP2015046453A - 光電変換装置の製造方法 - Google Patents

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大輔 下山
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政樹 栗原
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Abstract

【課題】 製造歩留まりを向上する。【解決手段】 光電変換領域および光電変換領域の上に設けられたレンズアレイを含むウエハを、レンズアレイの表面に沿って覆う、レンズアレイとは異なる材料からなるコーティングを形成する工程を有し、ウエハは、分割することで有効チップが得られる有効部分と、有効部分とウエハの縁との間に位置し、分割することで無効チップが得られる無効部分とを有し、ウエハの無効部分に凹凸構造が設けられており、工程では、コーティングを凹凸構造の表面に沿って形成する。【選択図】 図3

Description

本発明は光電変換装置の製造方法に関する。
光電変換装置においては、光電変換部が配列された光電変換領域の上に、各々が光電変換部へ光を集光する複数のレンズ(マイクロレンズ)が配列されたレンズアレイが設けられる。特許文献1には、マイクロレンズ上に反射防止膜を形成すること記載されている。
特開2012−84608号公報
マイクロレンズ上に反射防止膜などのコーティングを形成した場合、コーティングの一部が剥がれて、歩留まりが低下するという課題があった。
上記課題を解決するための光電変換装置の製造方法は、光電変換領域および前記光電変換領域の上に設けられたレンズアレイを含むウエハを、前記レンズアレイの表面に沿って覆う、前記レンズアレイとは異なる材料からなるコーティングを形成する工程を有し、前記ウエハは、分割することで有効チップが得られる有効部分と、前記有効部分と前記ウエハの縁との間に位置し、分割することで無効チップが得られる無効部分とを有し、前記ウエハの前記無効部分に凹凸構造が設けられており、前記工程では、前記コーティングを前記凹凸構造の表面に沿って形成することを特徴とする。
本発明によれば、光電変換装置の製造歩留まりを向上することができる。
ウエハおよびチップの平面模式図。 光電変換装置の製造方法を示す断面模式図。 光電変換装置の製造方法を示す断面模式図。 光電変換装置の製造方法を示す断面模式図。 光電変換装置の製造方法を示す断面模式図。 光電変換装置の製造方法を示す断面模式図。
以下、図面を参照して、本発明を実施するための形態を説明する。なお、以下の説明および図面において、複数の図面に渡って共通の構成については共通の符号を付している。複数の図面を相互に参照して共通する構成を説明し、共通の符号を付した構成については適宜説明を省略する。
図1(a)は光電変換装置の製造に用いられる、ウエハ1000の平面模式図である。ウエハ1000は、有効部分101(第1部分)と、無効部分102(第2部分)とを有する。有効部分101は、図1(a)の短破線Rで囲まれた部分である。無効部分102は図1(a)の短破線Rとウエハ1000の縁103を示す実線Sとの間の部分である。無効部分102は、図1(a)の長破線Tと実線Sとの間の部分である、ウエハベベル104を含む。
光電変換装置の製造においては、ウエハ1000をダイシングなど公知の方法で有効部分101および無効部分102の区画ごとに分割して、複数のチップを形成する。複数のチップのうち、有効部分101からは有効チップ10が得られ、無効部分102からは無効チップ20が得られる。有効チップ10は光電変換装置を構成する。少なくとも有効部分101には、光電変換装置を構成する有効チップ10の光電変換領域(不図示)が、図1(a)において点線で区分した複数の区画の各々に形成されている。これにより、有効部分101からは、各々が光電変換領域を有する、複数の有効チップ10を得ることができる。なお、有効部分101を分割することなく、ウエハ1000の直径と同程度の対角長を有する1つの大型の有効チップのみを得てもよい。
有効チップ10は、パッケージに実装されて、製品(光電変換装置)として出荷される。無効チップ20は光電変換装置を構成することはなく、廃棄されうる。なお、無効チップ20はその形状に応じて、第1種無効チップ21と第2種無効チップ22に分けられる。なお、有効部分101から得られる有効チップ10には、良品が含まれるが、不良品も含まれる可能性がある。不良品は、有効チップ10に対する検査を行うことで、良品と不良品が区別される。これに対し、無効チップ20は、そもそも製品となることを前提としていないため、良品と不良品の区別はない。
図1(b)は、有効チップ10の平面模式図であり、ウエハ1000の状態では、この有効チップ10の構成が有効部分101の各区画に形成されている。
図1(b)において点線で囲んだ領域である光電変換領域11は、複数の光電変換素子50が1次元状または2次元状に配列されている。光電変換装置が撮像装置であれば、1つ以上の所定数の光電変換素子が1画素に対応し、光電変換領域は撮像領域を成す。光電変換領域11には、光電変換素子50で生成された信号電荷から、電気信号を生成するための信号生成回路が設けられる。信号生成回路は、転送トランジスタや増幅トランジスタ、リセットトランジスタなどで構成される。
光電変換領域11の上には、レンズアレイ150が設けられている。図1(b)では、レンズアレイ150も点線で囲んだ領域として示す。レンズアレイ150は、各々が光電変換素子50に対応する複数のマイクロレンズMLが1次元状または2次元状に配列されてなる。光電変換領域11とレンズアレイ150との間には、カラーフィルタアレイ(不図示)を設けることができる。カラーフィルタアレイは、緑色フィルタ、赤色フィルタ、青色フィルタが例えばベイヤー配列に従って配列されてなる。レンズアレイ150の上には、各マイクロレンズMLの表面に沿って、コーティング(不図示)が設けられている。コーティングについては、後で詳細に説明するが、本実施形態の目的の一つは、無効部分102におけるコーティングの剥離を抑制することである。
有効チップ10において、光電変換領域11以外の領域は周辺領域12である。周辺領域12には、ワイヤボンディングが施されるパッド電極70が設けられる。また、周辺領域12には、周辺回路部80が設けられる。周辺回路部80は、光電変換領域11の信号生成回路を駆動する駆動回路や、信号生成回路からの信号を処理する信号処理回路を含む。
図1(c)は、第1種無効チップ21の平面模式図である。第1種無効チップ21は有効チップ10とは、平面的に見て、外形(輪郭)が異なる。有効チップ10の外形が矩形であるのに対し、第1種無効チップ21は4辺の内の一辺が曲線で構成されている。この曲線は、ウエハ1000の縁103の一部である。図示しないが、第2種無効チップ22は、有効チップ10と同じ外形を有する。
第1種無効チップ21および第2種無効チップ22は、第1種無効チップ21および第2種無効チップ22が形成される区画内に、ウエハベベル104が位置している。有効チップ10と、有効チップ10と外形が同じ第1種無効チップ21との違いの一つは、その形成区画内に、ウエハベベル104を含むか否かである。
第1種無効チップ21および第2種無効チップ22は、有効チップ10とは、断面的に見て、異なる構造を有しうる。具体的には、有効チップ10に存在する構造物と同等の構造物が、第1種無効チップ21および第2種無効チップ22は存在しない。ウエハベベル104では様々なプロセスにおいて不良が生じやすいため、仮に有効チップ10と同じ構造を形成したとしても、不良品になる可能性がきわめて高い。従って、予め、ウエハベベル104を含むチップを無効チップ20として扱うのである。
なお、光電変換装置の製造工程において、フォトリソグラフィ技術によって行われるパターニングは、1つのマスクにN個のチップ用のパターンが形成されたフォトマスクを用いて行われる。このフォトマスクを、半導体露光装置(ステッパー)を用いて、チップが形成される区画ごとに、フォトマスクとウエハを相対移動させながら、感光性膜を露光する。そのため、必ずしも、ウエハの全面が露光されるわけではなく工程によっては、フォトマスクを介した露光が行われない区画が生じうる。
感光性膜とは、フォトレジストなどの感光性材料からなる膜である。感光性膜には、レンズ材料やカラーフィルタ材料など、チップの構成部材となるものが含まれる。また、チップの構成部材のパターニングのためのエッチングにおけるマスクとして用いられ、不要となれば除去されるものも感光性膜に含まれる。
なお、上記Nは典型的には1以上の自然数であるが、分割露光やつなぎ露光といわれる、1チップの上下や左右などの複数の部分を、別々のフォトマスクで露光してつなぎ合わせることもできる、その場合には、Nは1未満である。
なお、上述したように、1つのフォトマスクに複数個のチップ用のパターンが形成されたフォトマスクを用いて露光が行われると、有効部分101の無効部分102付近では、次のような場合が生じる。それは、マスク中の一部のパターンが有効チップ10用のパターニングに用いられ、マスク中の別の一部のパターンが無効チップ20用のパターニングに用いられるショットが発生する場合である。一方で、後述する本実施形態では、マスク中の全てのパターンが専ら無効チップ20用のパターニングに用いられる場合がある。
図1(a)では、1つのフォトマスクに2個(N=2)のチップ用のパターンが形成されたフォトマスクを用いた場合を示している。図面上では左右に隣り合う2つ区画が1つのフォトマスクを用いて露光される。図1(a)において、ハッチングが付された区画では、1つのフォトマスクで有効チップ10と無効チップ20の露光が同時に行われる。図1(a)において、ハッチングが付されていない区画は、1つのフォトマスクで専ら有効チップ10と無効チップ20のいずれかが露光される区画である。
本実施形態は、光電変換領域11の面積が100mm以上である光電変換装置を製造する場合に好適であり、300mm以上である場合にはより好適である。光電変換装置の面積は光電変換領域11の面積よりも周辺領域12の分だけ大きいため、上記の面積の場合、有効チップ10の面積も100mm以上であり、300mm以上でありうる。このようなサイズの有効チップ10を得ようとすると、第1種無効チップ21の面積は50mm以上、大きいものでは150mm以上となり得る。略円形のウエハ1000に矩形の有効チップ10を複数形成しようとすると、有効チップ10の面積が大きいほど、無効部分102の面積は増加するためである。
次に、図2〜5を用いて、光電変換装置の製造方法を詳細に説明する。図2(a)〜(d)、図3(e)〜(h)、図4(e)〜(h)、図5(c)〜(f)、図6(a)〜(c)の各々において、左側には図1(a)の有効部分101におけるウエハ1000の断面図として有効チップ10の断面図を、右側には図1(a)の無効部分102におけるウエハ1000の断面図として無効チップ20の断面図を、それぞれ示している。
なお、以下の説明におけるウエハは、基板を少なくとも含み、基板の上に形成された、有効チップ10あるいは無効チップ20を構成する部材を含む複合体である。ウエハに含まれる部材は、工程の進捗に応じて増加する。
図2(a)は、複数の光電変換領域が形成されたウエハを用意する工程A11を示す。シリコンなどの半導体からなる基板100に、公知の素子分離形成法やイオン注入法などにより、光電変換素子50やトランジスタ(不図示)を形成する。なお、本例では、無効部分102には光電変換素子50やトランジスタを形成しないが、無効部分102にこれらを形成してもよい。
図2(b)は、基板100の上に配線構造60を形成する工程B11を経た状態を示す。配線構造60は、配線層61、62、63および層間絶縁膜64を含む。例えば、配線層61、62の主たる材料は銅またはアルミニウムであり、配線層63の主たる材料はアルミニウムである。配線層61、62、63は、基板100の上に形成された導電膜をエッチング法やダマシン法などでパターニングすることで形成できる。
本例では無効チップ20にもパターニングされた配線層61、62、63を含む配線構造60を形成している。無効部分102における配線層61、62、63は、有効部分102との配線層の粗密差を低減して、ウエハの全面における平坦性(グローバル平坦性)を向上するためのダミー部材として機能しうる。しかし、無効部分102において、配線層61、62、63を成す導電膜をパターニングせずに全て残すこともできるし、導電膜を全て除去することもできる。
また、図2(b)は、配線構造60を覆うパッシベーション膜110を形成する工程B21を経た状態を示す。パッシベーション膜110の上面には、配線構造60の最上の配線層63によって凹凸が生じている。配線層63の一部が、パッド電極70を構成している。ここでは、パッシベーション膜110は開口を有し、パッド電極70を露出している。
層間絶縁膜64やパッシベーション膜110は多層膜であってもよいし、単層膜であってもよい。層間絶縁膜64は酸化シリコン層や窒化シリコン層、炭化シリコン層を含む無機材料膜である。典型的なパッシベーション膜110は窒化シリコン層や酸窒化シリコン層を含む無機材料膜である。 図2(c)は、パッシベーション膜110の上に、第1平坦化膜120を形成する工程C11を経た状態を示す。第1平坦化膜120は樹脂などの有機材料をスピンコートによって塗布することで形成することができる。塗布法によって形成された第1平坦化膜120の上面は平坦であり、パッシベーション膜110の表面の凹凸の影響を緩和している。
また、図2(c)は、第1平坦化膜120の上に、カラーフィルタアレイ130を形成する工程C21を経た状態を示す。カラーフィルタアレイ130は、緑色フィルタCFG、赤色フィルタCFR、青色フィルタCFBが例えばベイヤー配列に従って配列されている。本例では、緑色フィルタCFG、赤色フィルタCFR、青色フィルタCFBの順で形成されている。カラーフィルタアレイ130は、無効部分102には形成されていない。カラーフィルタアレイ130の形成には、カラーフィルタ材料からなる感光性膜の3回の露光が必要である。無効部分102にはカラーフィルタアレイ130を形成しないことにより、無効部分102における露光回数を減らして、製造効率(スループット)を向上することができる。
図2(d)は、カラーフィルタアレイ130の上に、第2平坦化膜140を形成する工程D11を経た状態を示す。第2平坦化膜140は樹脂をスピンコートによって塗布することで形成することができる。塗布法によって形成された第2平坦化膜140の上面は平坦であり、カラーフィルタアレイ130の表面の凹凸の影響を緩和している。
典型的な第1平坦化膜120、カラーフィルタアレイ130、第2平坦化膜140は、アクリル樹脂やエポキシ樹脂、ポリイミド樹脂などからなる樹脂膜である。カラーフィルタアレイ130の各カラーフィルタは上記樹脂に分散された顔料を含みうる。
また、図2(d)は、第2平坦化膜140の上に、レンズ材料膜151を形成する工程D21を経た状態を示す。レンズ材料膜151は、樹脂をスピンコートによって塗布することで形成することができる。レンズ材料としては、ポリヒドロキスチレンなどのスチレン樹脂を好適に用いることができる、アクリル樹脂などほかの樹脂であってもよいし、酸化シリコンや窒化シリコンなどの無機材料を用いてもよい。
<参考形態>
図3(e)〜(h)は、本発明の実施形態に対する参考形態を説明する図面である。
図3(e)は、光電変換領域11の上にレンズアレイ150を形成する工程E0を経た状態を示す。レンズアレイ150は、図2(d)に示したレンズ材料膜151を加工することで形成される。加工の方法としては、以下の第1〜第4の方法を例示することができる。第1は、レンズ材料膜151を島状にパターニングして、これを加熱して軟化させてレンズ形状を形成する方法(リフロー法)である。第2は、レンズ材料膜151の上に形成されたレンズパターンおよびレンズ材料膜151をエッチバックして、レンズパターンのレンズ形状をレンズ材料膜151に転写する方法(エッチバック法)である。第3は、レンズ材料膜151に感光性を有する材料を用い、階調マスクを用いてレンズ材料膜151を露光することで、露光量に応じたレンズ形状を得る方法(階調露光法)である。階調マスクには、露光光の解像限界よりも微細な遮光体のドットの粗密や、遮光体の厚みによる濃淡でレンズ形状が表されている。上記第1〜第3のいずれの方法でもよく、また、第4の方法として、第1〜3のいくつかを組み合わせた方法でもよい。
参考形態では、無効部分102におけるレンズ材料膜151は加工されない。階調露光法においてポジ型の感光性材料を用いる場合には、無効部分102におけるレンズ材料膜151は露光されずに、現像の段階で平坦な上面を有したまま残ってしまう。階調露光法においてネガ型の感光性材料を用いる場合には、無効部分102におけるレンズ材料膜151は露光されずに、現像の段階で除去され、平坦な上面を有した第2平坦化膜140が露出する。なお、有効部分101の任意の部分、例えば、パッド電極70に対応した部分においても、レンズ材料膜151が加工されなくてもよい。
図3(f)は、レンズアレイ150の表面に沿ってウエハを覆うコーティング160を形成する工程F0を経た状態を示す。コーティング160は、レンズアレイ150とは異なる材料からなる。コーティング160は単層膜であってもよいし、多層膜であってもよい。このコーティングは、例えば反射防止膜として機能するが、反射防止膜に限らず、防汚や防湿などを目的とした保護膜として機能してもよい。
反射防止膜としてのコーティングは、レンズアレイ150の上方に位置する媒質の屈折率と、レンズアレイ150のマイクロレンズMLの屈折率の間の屈折率を有する中間屈折率層を有する。上記媒質としては典型的には屈折率1.0の空気である。レンズアレイ150のマイクロレンズMLの屈折率は1.4〜2.0程度である。反射防止膜としてのコーティング160としては、酸化シリコン層の単層膜か、酸化シリコン層と窒化シリコン層の多層膜などが挙げられる。
コーティング160の膜厚は50nm以上であることが好ましい。反射防止膜を構成する層の厚みは、光の干渉条件などを考慮して適宜設定される。保護膜としてはフッ素樹脂膜などが挙げられる。コーティング160の下面はレンズアレイ150に接して設けられ得る。従って、コーティング160の下面(レンズアレイ150側の面)はレンズアレイ150のマイクロレンズMLの形状に応じた凹凸を有する。コーティング160の厚みがマイクロレンズMLの高さよりも小さければ、コーティング160の上面(レンズアレイ150とは反対側の面)もまた、レンズアレイ150のマイクロレンズMLの形状に応じた凹凸を有し得る。コーティング160の上面は平坦であってもよいが、レンズアレイ150の表面の形状に応じた凹凸を有することが好ましい。つまり、レンズアレイ150のマイクロレンズMLの上に、コーティング160の上面の凸部が位置するように、コーティング160が形成されるのが好ましい。
コーティング160が無機材料膜である場合、コーティング160の成膜にはCVD法が用いられる。下地層にレンズアレイ150やカラーフィルタアレイ130、平坦化膜140、120などの有機材料膜が存在する場合には、コーティング160は300℃以下の低温の成膜条件で成膜することが望ましい。
図3(g)は、コーティング160の上にパターニングされたレジスト膜170を形成する工程G0を経た状態を示している。
図3(h)は、パッド電極70を露出させる工程H10を経た状態を示している。パッド電極70の露出は、レジスト膜170をマスクとして用いて、コーティング160、第2平坦化膜140、第1平坦化膜120をエッチングすることで行われる。パッド電極70上にレンズ材料膜151が残存している場合には、コーティング160のエッチングに続いて、レンズ材料膜151もエッチングされる。このエッチングの内、コーティング160のエッチングは、CF系ガスを用いたドライエッチングや、フッ酸を用いたウェットエッチングを使用することができる。また、レンズ材料膜151、第2平坦化膜140、第1平坦化膜120のエッチングには、O系ガスを使用したドライエッチングを使用することができる。このように、コーティング160、第2平坦化膜140、第1平坦化膜120をエッチングして、これらがパッド電極70に対応する開口を有するようにパターニングすることで、パッド電極70が露出する。
さらに、図3(h)は、レジスト膜170を除去する工程H20を経た状態を示している。レジスト膜170の除去は、ウェット処理あるいはドライ処理(アッシング)により行われる。
ここで、図3(h)では、無効部分102において、コーティング160に剥離Pが生じている様子を示している。コーティング160は、レンズ材料膜151と異なる材料からなるため、レンズ材料膜151に対する密着性が低いことが一因として考えらえる。特に、レンズ材料膜151とコーティング160の一方が無機材料膜で、他方が有機材料膜であれば、十分な密着性を得るのが困難であるため、剥離が生じやすい。また、コーティング160が無機材料であると、有機材料である場合に比べて、その脆性によって破片(剥片)になりやすく、細かい破片(剥片)が異物となって歩留まりを低下させる可能性がある。
また、レンズアレイ150とは異なる材料からなるコーティング160は、レンズ材料膜151とは熱膨張率が異なるため、レンズ材料膜151との間に応力が生じやすいことも一因として考えられる。
ここでは、無効部分102におけるコーティング160の下地が、レンズ材料膜151である例を示した。しかし、無効部分102においてレンズ材料膜151が除去される場合には、コーティング160の下地は、第2平坦化膜140などの他の膜でありうる。そのような場合でも、同様の理由によって、コーティング160は下地の膜から剥離する可能性がある。
コーティング160の剥離は、平坦面の面積が大きければ大きいほど、生じやすくなる。これは、応力の要因によるところが大きいと考えられる。例えば、上述したような、光電変換領域11の面積が100mm以上、さらには300mm以上である場合、また、有効チップ10の面積が100mm以上、さらには300mm以上である場合には、剥離が生じやすくなる。無効チップ20も有効チップ10の大きさに比例して大きくなるためである。特に、無効チップ20の面積が50mm以上、さらには150mm以上である区画では剥離が生じやすいと云える。
コーティング160の剥離は、レジスト膜170の形成前よりも形成後に生じやすい。その理由としては、パッド電極70の露出のためのエッチング時のダメージや熱サイクルが挙げられる。また、レジスト膜170をウェット処理で除去した場合には、コーティング160の剥離が生じやすくなる。
このようにコーティング160に剥離が生じると、剥離したコーティング160が有効部分101上に異物として付着するなどして、不良品を生じ、製造歩留まりの低下を引き起こす。歩留まりとは、良品数/有効チップ数である。
本発明者は、このような課題を見出して、その解決を図った。その解決手段とは、第1に、コーティング160を形成する工程の前に、無効部分102に凹凸構造を形成することである。第2に、コーティング160がこの凹凸構造の表面に沿ってウエハを覆う様に、コーティング160の形成を行うことである。凹凸構造を形成することにより、無効部分102におけるコーティング160の下地の表面積が大きくなる。その結果、下地とコーティング160との接触面積が増大し、コーティング160の剥離を抑制できると考えられる。また、凹凸構造を形成することにより、コーティング160に生じる応力が緩和され、コーティング160の剥離を抑制できると考えられる。コーティング160が平坦面に形成されると応力は平坦面に沿った方向で強まるが、凹凸構造を形成することで、コーティング160に生じる応力の方向を分散できるためである。
凹凸構造の凹部と凸部との高低差が、コーティング160の厚みより大きいことが好ましい。凹凸構造の具体的な寸法としては、コーティング160の厚みにもよるが、コーティング160の厚みが1μm以下であれば、下記の範囲で十分に、コーティング160の剥離を抑制することができる。凹部と凸部の高低差は、10nm以上であることが好ましく、100nm以上であることがより好ましい。凹部と凸部の高低差は、100μm以下であることが好ましく、10μm以下であることがより好ましい。凹部と凸部の境界は、凹部と凸部の高低差が半分となる高さとする。凸部の幅は、1mm以下であることが好ましく、20μm以下であることがより好ましい。凸部の幅は、10nm以上であることが好ましく、100nm以上であることがより好ましい。凸部の間隔(凸部の頂上間の距離)は、1mm以下であることが好ましく、20μm以下であることがより好ましい。凸部の間隔は、100nm以上であることが好ましく、1μm以上であることがより好ましい。
このコーティング160の剥離は、どの無効チップ20でも生じうるものである。上述したように、1回のショットの露光で有効チップ10用の区画と無効チップ20用の区画の両方が露光される場合には、無効チップ20には有効チップ10と同様のパターンを同じショットで形成することができる。しかし、無効部分102には、有効チップ10用の露光ショットでは、露光されない区画も存在する。例えば、有効部分101に隣接しない区画などである。このような区画に形成される平坦面もコーティング160の剥離の原因となる。そこで、無効部分102の内、有効部分101に隣接しない区画など、有効チップ10の露光と同時に露光されない区画に対しては、無効チップ20のみにパターンを形成するための露光ステップをさらに実行することが好ましい。これにより、無効チップ20となる区画に、上記した、剥離防止のための凹凸構造を形成することが好ましい。つまり、凹凸構造は、ウエハの上に形成された感光性膜の内、無効部分102の上に位置する部分のみ(無効チップ20に対応する区画のみ)を露光するステップを少なくとも経て形成されることが好ましい。
以下、具体的な実施形態を説明する。
<第1実施形態>
第1実施形態における、光電変換装置の製造方法について、図4(e)〜(g)を用いて説明する。ここでは、参考形態と相違する点を主に述べ、参考形態と相違しない点については参考形態と同様に行うものとして、説明を省略する。
図4(e)は、図3(e)で示した工程E0に対応する工程であり、光電変換領域11の上にレンズアレイ150を形成する工程E1を経た状態を示す。本実施形態では、有効部分101においてレンズ材料膜151の加工に用いたフォトマスクを用いて、無効部分102においても、同様にレンズ材料膜151を加工している。これにより、無効部分102には有効部分101と同じレンズ形状によって、凹凸構造201を成すダミーのレンズアレイ250が形成されている。凹凸構造201の形成に、有効部分101と共通のフォトマスクを用いることができるため、大きなコスト増加にはならないので好ましい。
図4(f)は、図3(f)で示した工程F0に対応する工程であり、レンズアレイ150の表面に沿ってウエハを覆うコーティング160を形成する工程F1を経た状態を示す。この工程F1では、コーティング160が凹凸構造201の表面に沿ってウエハを覆う様に、コーティング160を形成する。凹凸構造201を設けたことにより、レンズ材料膜151とコーティング160との密着性が、レンズ材料膜151に凹凸構造201を設けず、その上面が平坦である参考形態に比べて向上する。
図4(g)は、図3(g)で示した工程G0に対応する工程であり、コーティング160の上にパターニングされたレジスト膜170を形成する工程G1を経た状態を示している。
図4(h)は、図3(h)で示した工程H10に対応する工程であり、パッド電極70を露出させる工程H11を経た状態を示している。また、図3(h)は、図3(h)で示した工程H20に対応する工程であり、レジスト膜170を除去する工程H21を経た状態を示している。
第1実施形態によれば、上述したように、レンズ材料膜151とコーティング160との密着性が、参考形態に比べて向上しているため、コーティング160の剥離が抑制される。そのため、歩留まりが向上する。
<第2実施形態>
第2実施形態における、光電変換装置の製造方法について、図5(c)〜(f)を用いて説明する。ここでは、参考形態と相違する点を主に述べ、参考形態と相違しない点については参考形態と同様に行うものとして、説明を省略する。
図5(c)は、図2(c)で示した工程C21に対応する工程であり、第1平坦化膜120の上に、カラーフィルタアレイ130を形成する工程C22を経た状態を示す。本実施形態では、無効部分102に、緑色フィルタCFGのみによって形成されるダミー部材としてのカラーフィルタアレイ230を形成している。これにより、緑色フィルタCFGと同じ材料で構成されたダミーのカラーフィルタアレイ230の厚みに応じた高低差を有する凹凸構造200が形成されている。凹凸構造200の凸部の表面は、緑色フィルタCFGで構成され、凹凸構造201の凹部の表面は、第1平坦化膜120で構成されている。
ここで、ダミー部材としてのカラーフィルタアレイ230のパターニングには、カラーフィルタアレイ230のパターニングにおいて、緑色フィルタCFGをパターニングするのに用いるフォトマスクPMGを用いるのが好ましいし。ベイヤー配列における緑色フィルタCFGは、赤色フィルタCFRや青色フィルタCFBよりも占有面積が2倍程度大きく、1回の露光で市松模様を形成することができる。そのため、一回で市松模様が形成可能なフォトマスクCFGを用いることで、1回の露光で、良好な形状を有する凹凸構造200を形成することができる。なお、このようなフォトマスクPMGを用いて、緑色カラーフィルタCFGではなく、青色フィルタCFBや赤色フィルタCFRをパターニングすることで、ダミー部材としてのカラーフィルタアレイ230を形成しても、同様の効果が得られる。
図5(d)は、図2(d)で示した工程D11に対応する工程であり、カラーフィルタアレイ130の上に、第2平坦化膜140を形成する工程D12を経た状態を示す。第2平坦化膜140は、有効部分101において実質的に平坦な上面を有するのに対して、無効部分102において、凹凸構造200の高低差を反映した凹凸構造202を有している。
これは、無効部分102に設けられた凹凸構造201の高低差が、有効部分101における第2平坦化膜140の下地に生じている、カラーフィルタアレイ130の凹凸の高低差よりも大きいからである。カラーフィルタアレイ130の凹凸の高低差は、緑色フィルタCFG、赤色フィルタCFR、青色フィルタCFBの膜厚差に依存するが、凹凸構造201の高低差は、緑色フィルタCFGの厚みに依存する。カラーフィルタの厚みは、カラーフィルタの膜厚差に比べて大きいため、無効部分102のダミーの部材としてのカラーフィルタアレイ230の高低差は、第2平坦化膜140に凹凸構造202を形成するのに十分である。ただし、第2平坦化膜140を形成することで、凹凸構造202の高低差は、凹凸構造201の高低差に比べて小さくなる。
また、図5(d)は、図2(d)で示した工程D11に対応する工程であり、第2平坦化膜140の上に、レンズ材料膜151を形成する工程D22を経た状態を示す。レンズ材料膜151は凹凸構造202を覆って形成される。レンズ材料膜151の上面は、有効部分101、無効部分102とも実質的に平坦である。つまり、無効部分102において、レンズ材料膜151上面は、凹凸構造202の高低差をほとんど反映していない。
図5(e)は、図3(e)で示した工程E0や図4(e)で示した工程E1に対応する工程であり、光電変換領域11の上にレンズアレイ150を形成する工程E2を経た状態を示す。工程E0では、無効部分102に位置するレンズ材料膜151を残したが、本実施形態では、無効部分102の凹凸構造201の上に位置するレンズ材料膜151を除去している。レンズ材料膜151にポジ型の感光性材料を用いる場合には、無効部分102に位置する部分を露光、現像することで、除去できる。エッチング処理によって、凹凸構造202の上に位置するレンズ材料膜151を除去してもよい。これによって、ウエハの表面には、第2平坦化膜140で形成された凹凸構造202が再び露出する。凹凸構造202は、凹凸構造200の凹凸に応じた凹凸形状を有している。すなわち、凹凸構造202の凸部は、凹凸構造200の凸部の上に位置し、凹凸構造202の凹部は、凹凸構造200の凹部の上に位置している。
図5(f)は、図3(f)で示した工程F0や図4(f)で示した工程F1に対応する工程であり、レンズアレイ150の表面に沿ってウエハを覆うコーティング160を形成する工程F1を経た状態を示す。この工程F1では、コーティング160が凹凸構造201の表面に沿ってウエハを覆う様に、コーティング160を形成する。凹凸構造201を設けたことにより、第2平坦化膜140とコーティング160との密着性が、無効部分102においてコーティング160の下地膜に凹凸構造を設けず、下地膜の上面が平坦である参考形態に比べて向上する。
これにより、この後に、工程G1や工程H1と同様の工程を行っても、コーティング160の剥離が抑制される。
<第3実施形態>
図6(a)は、第1実施形態を変形した、第3実施形態を説明する断面図である。図6(a)は、レンズアレイ150の表面に沿ってウエハを覆うコーティング160を形成する工程F3を経て、さらに、パッド電極70を露出させる工程H13を経た状態を示している。
第1実施形態では、工程E1で凹凸構造201をレンズ材料膜151から構成し、有効部分101のレンズアレイ150と同様のレンズ形状にした。これに対して、第3実施形態では、工程E1と同様の工程E3によって、レンズ材料膜151から構成されるダミー部材156で構成される凹凸構造203を、有効部分101のレンズアレイ150とは異なる形状にした。そのため、凹凸構造203の形成には、有効部分101のレンズアレイ150の形成用とは異なるフォトマスクを用いる。凹凸構造203の凸部の表面は、マイクロレンズMLと同じ材料からなるダミー部材156で構成され、凹凸構造203の凹部の表面は、第2平坦化膜140で構成されている。
本実施形態では、単位面積当たりの凹凸構造203の表面積を、単位面積当たりのレンズアレイ150の表面積よりも大きくなるように、凹凸構造203を設けることができる。これにより、より密着性を向上することができる。
また、本実施形態では、チップが得られる1区域あたりの凹凸構造203の占有面積を、有効部分101のレンズアレイ150の専有面積よりも大きくなるように、凹凸構造203を設けることができる。無効部分102ではパッド電極70の露出は不要であるから、凹凸構造203を周辺領域12上、例えばパッド電極70上にも設けることができる。
<第4実施形態>
図6(b)は、第2実施形態を変形した、第4実施形態を説明する断面図である。図6(a)は、レンズアレイ150の表面に沿ってウエハを覆うコーティング160を形成する工程F4を経て、さらに、パッド電極70を露出させる工程H14を経た状態を示している。
第2実施形態では、無効部分102にカラーフィルタを設けて凹凸構造200を形成し、カラーフィルタの高低差を用いて第2平坦化膜140に凹凸構造202を形成した。これに対して、第3実施形態では、無効部分102の第2平坦化膜140をパターニングすることで、第2平坦化膜140の厚みに対応した高低差を有する凹凸構造204を設けている。凹凸構造204の凸部の表面は、第2平坦化膜140と同じ材料からなるダミー部材146で構成され、凹凸構造204の凹部の表面は、第1平坦化膜120で構成されている。コーティング160は、凹凸構造204の表面に沿って、ウエハを覆っている。
<第5実施形態>
図6(c)は、第5実施形態を説明する断面図である。図6(c)は、図6(a)は、レンズアレイ150の表面に沿ってウエハを覆うコーティング160を形成する工程F4を経て、さらに、パッド電極70を露出させる工程H15を経た状態を示している。
本実施形態では、最上の配線層63と同じ材料からなるダミー部材166によって凹凸構造が形成されている。さらに、ダミー部材166で構成された凹凸構造をパッシベーション膜110が覆う。これにより、配線層63の高低差に応じた高低差を有するパッシベーション膜110によって、無効部分102に凹凸構造205が形成されている。無効部分102において、コーティング160は、凹凸構造205の表面に沿って、ウエハを覆っている。パッシベーション膜110とコーティング160の双方が無機材料膜であれば、有機材料膜と無機材料膜との密着性よりも高い密着性が得られるため、好ましい。本実施形態は、無効部分102において、カラーフィルタアレイを形成せずに、第1平坦化膜120、第2平坦化膜140、レンズ材料膜151をエッチングなどで除去することにより実現が可能である。
10 有効チップ
11 光電変換領域
20 無効チップ
1000 ウエハ
101 有効部分
102 無効部分
103 ウエハの縁
150 レンズアレイ
160 コーティング
200 凹凸構造

Claims (10)

  1. 光電変換領域および前記光電変換領域の上に設けられたレンズアレイを含むウエハを、前記レンズアレイの表面に沿って覆う、前記レンズアレイとは異なる材料からなるコーティングを形成する工程を有し、
    前記ウエハは、分割することで有効チップが得られる有効部分と、前記有効部分と前記ウエハの縁との間に位置し、分割することで無効チップが得られる無効部分とを有し、
    前記ウエハの前記無効部分に凹凸構造が設けられており、前記工程では、前記コーティングを前記凹凸構造の表面に沿って形成することを特徴とする光電変換装置の製造方法。
  2. 前記工程の後に、前記有効部分および前記無効部分に位置する前記コーティングをパターニングする、請求項1に記載の光電変換装置の製造方法。
  3. 前記凹凸構造を、前記ウエハの上に形成された感光性材料からなる膜の内、前記無効部分の上に位置する部分のみを露光するステップを経て形成する、請求項1または2に記載の光電変換装置の製造方法。
  4. 前記凹凸構造は、前記レンズアレイの材料と同じ材料で構成される、請求項1乃至3のいずれか1項に記載の光電変換装置の製造方法。
  5. 前記凹凸構造は、前記レンズアレイと同じ形状を有する、請求項1乃至4のいずれか1項に記載の光電変換装置の製造方法。
  6. 前記光電変換領域と前記レンズアレイとの間にカラーフィルタアレイが設けられており、
    前記凹凸構造は、前記カラーフィルタアレイを構成するカラーフィルタと同じ材料で構成された部材の上に、前記凹凸構造の凸部を有する、請求項1乃至3のいずれか1項に記載の光電変換装置の製造方法。
  7. 前記凹凸構造は、配線構造を覆うパッシベーション膜によって形成される、請求項1乃至3のいずれか1項に記載の光電変換装置の製造方法。
  8. 前記無効チップは前記ウエハの縁を含む、請求項1乃至7のいずれか1項に記載の光電変換装置の製造方法。
  9. 前記レンズアレイは有機材料からなり、前記コーティングは無機材料からなる、請求項1乃至8のいずれか1項に記載の光電変換装置の製造方法。
  10. 前記有効チップの面積は300mm以上であること、および、前記無効チップの面積は150mm以上であることの少なくとも一方を満たす、請求項1乃至9のいずれか1項に記載の光電変換装置の製造方法。
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JP2021081490A (ja) * 2019-11-15 2021-05-27 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置および電子機器

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