JP2015040467A - 開度表示システム - Google Patents

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Abstract

【課題】水門の開度に関する精密なデータの表示をできるだけ長い期間実現することを課題とする。
【解決手段】水門の開度を測定する開度計と、前記開度計による測定結果を出力する信号変換器と、前記信号変換器から出力される前記測定結果を表示する表示器とを有する開度表示システムであって、前記開度計は、パルス電流を導通する磁歪線を備える検出素子と、前記パルス電流の導通により前記磁歪線上に発生する磁界と、前記水門の開閉に連動して前記検出素子内を移動する磁性体の磁界とが交差することによって、前記磁歪線上に発生する振動波が当該磁歪線上を伝播する時間に基づいて、前記開度を測定する測定部とを有し、前記信号変換器は、前記測定結果として入力される入力信号を2進化10進数の表現に変換する変換回路と、前記変換回路により前記2進化10進数の表現に変換された信号を出力する半導体絶縁素子とを有する。
【選択図】図1

Description

本発明は、開度表示システムに関する。
従来、ダム、貯水池などの貯水量を調整することを目的として、水門の開度を制御する技術の運用が行われている(例えば、特許文献1参照)。例えば、水門の開度を測定する開度計の測定結果をリレー接点出力により中継し、この測定結果に基づいて水門の開度の制御が行われる。
特許第3599395号公報
近年、水資源の有効利用の観点等から、水門の開度について精密な制御が求められつつある。従来のリレー接点出力の場合、機械的に接点を開閉する構造を採用している。このため、水門の開度の精密な測定に必要とされる応答速度に対応させようとすると、開閉する構造部分の消耗が激しくなり、機器の寿命が短くなってしまうという問題がある。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、水門の開度に関する精密なデータの表示をできるだけ長い期間に渡って実現することができる開度表示システムを提供することを目的とする。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明は、水門の開度を測定する開度計と、前記開度計による測定結果を出力する信号変換器と、前記信号変換器から出力される前記測定結果を表示する表示器とを有する開度表示システムであって、前記開度計は、パルス電流を導通する磁歪線を備える検出素子と、前記パルス電流の導通により前記磁歪線上に発生する磁界と、前記水門の開閉に連動して前記検出素子内を移動する磁性体の磁界とが交差することによって、前記磁歪線上に発生する振動波が当該磁歪線上を伝播する時間に基づいて、前記開度を測定する測定部とを有し、前記信号変換器は、前記測定結果として入力される入力信号を2進化10進数の表現に変換する変換回路と、前記変換回路により前記2進化10進数の表現に変換された信号を出力する半導体絶縁素子とを有することを特徴とする。
また、本発明は、水門の開度を測定する開度計と、前記開度計による測定結果を出力する第1信号変換器及び第2信号変換器と、前記第1信号変換器から出力される前記測定結果及び前記第2信号変換器から出力される前記測定結果のいずれか一方を出力対象として選択する信号切替器と、前記信号切替器から出力される前記測定結果を表示する表示器とを有する開度表示システムであって、前記開度計は、パルス電流を導通する磁歪線を備える検出素子と、前記パルス電流の導通により前記磁歪線上に発生する磁界と、前記水門の開閉に連動して前記検出素子内を移動する磁性体の磁界とが交差することによって、前記磁歪線上に発生する振動波が当該磁歪線上を伝播する時間に基づいて、前記開度を測定する測定部とを有し、前記第1信号変換器及び前記第2信号変換器は、前記測定結果として入力される入力信号を2進化10進数の表現に変換する変換回路と、前記変換回路により前記2進化10進数の表現に変換された信号を出力する半導体絶縁素子とを有し、前記信号切替器は、切替信号に従って、前記第1信号変換器から出力される信号及び前記第2信号変換器から出力される信号のいずれか一方を、前記表示器に表示させる信号に決定する切替回路と、前記切替回路により決定された信号を出力する半導体絶縁素子とを有することを特徴とする。
本発明に係る開度表示システムは、水門の開度に関する精密なデータの表示をできるだけ長い期間に渡って実現することができるという効果を奏する。
図1は、実施例1に係る開度表示システムの概念的な構成の一例を示す図である。 図2は、信号変換器の機能構成を示すブロック図である。 図3は、実施例1に係る信号変換器による処理の流れを示すフローチャートである。 図4は、実施例2に係る開度表示システムの概念的な構成の一例を説明する。 図5は、信号切替器の機能構成を示すブロック図である。 図6は、実施例2に係る信号切替器による処理の流れを示すフローチャートである。
以下に、本発明に係る開度表示システムの実施例を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施例によりこの発明が限定されるものではない。さらに、この実施例における構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のもの、いわゆる均等の範囲のものが含まれる。
[全体構成]
図1を参照しつつ、実施例1に係る開度表示システムの概念的な構成の一例を説明する。図1は、実施例1に係る開度表示システムの概念的な構成の一例を示す図である。なお、図1は、実施例1に係る開度表示システムを説明する上で必要となる構成部分のみを示し、その他の構成部分については図示を省略する。
図1に示すように、水門10には、水門10を開閉させるための動力を伝えるシャフト20と、水門10の開度を測定するための棒30が接続される。シャフト20には、シャフト20を上下動させるシリンダ40に接続される。棒30には、シャフト20の動き(水門10の開閉)に連動して、後述する開度計100内を移動する磁性体31が取り付けられる。
図1に示すように、開度表示システム1は、開度計100と、パラレル変換器200と、信号変換器300と、表示器500とを有する。
開度計100は、ヴィーデマン効果に基づく磁歪式の位置検出方式を利用することにより、水門の開度を測定する。開度計100は、検出素子101及び測定部102を有する。検出素子101は、パルス電流を導通する磁歪線を内部に備える。検出素子101は、磁歪線上に発生する振動波を検出する。振動波は、パルス電流の導通により磁歪線上に発生する磁界と、検出素子101の近傍に位置する磁性体31の磁界とが交差することにより発生し、磁歪線上を伝播する。
測定部102は、検出素子101により検出された振動波が、前記磁歪線上を伝播する時間に基づいて、水門10の開度を測定する。振動波が伝播する時間は、振動波が伝播する距離に比例して大きくなる。測定部102は、水門10の開度に関する測定値を出力する。測定部102は、測定値を出力する際に、測定値に属性に関する情報(警報ビット)を書き込む。例えば、測定部102は、測定値に警報に関する情報を書き込む。測定部102は、測定値に関する情報にパリティ(誤り訂正符号)を追加する。測定部102から出力される測定値は、シリアルデータとなっている。
パラレル変換器200は、開度計100から出力された水門10の開度に関する測定値をパラレルデータに変換する。パラレル変換器200は、水門10の開度に関する測定値の測定結果として、水門10の開度に関する測定値に対応するパラレルデータを信号変換器300に出力する。
信号変換器300は、パラレル変換器200から出力されたパラレルデータ(以下、適宜、入力信号と表記する)を2進化10進数の表現(BCD:Bainary−Coded Decimal、以下、適宜、BCDと表記する)に変換する。図2は、信号変換器の機能構成を示すブロック図である。
図2に示すように、信号変換器300は、半導体絶縁素子301と、入力回路302と、変換回路303と、出力回路304と、半導体絶縁出力素子305と、半導体絶縁出力素子306と、警報出力回路307と、絶縁リレー308と、設定表示回路309と、電源回路310とを有する。
半導体絶縁素子301は、水門10の開度に関する測定値の測定結果としてパラレル変換器200から入力される入力信号(バイナリ入力)を入力回路302に送り出す。半導体絶縁素子301は、例えば、フォトカプラにより実装される。半導体絶縁素子301は、フォトMOS(Metal−Oxide−Semiconductor)により実装されてもよい。入力回路302は、入力信号を変換回路303に送り出す。
変換回路303は、入力信号をBCDに変換する。変換回路303は、入力信号に含まれるパリティビット(エラーチェック符合)を奇数パリティに変換する。続いて、変換回路303は、入力信号の属性が警報であるか(警報ビットが含まれるか及びパリティが合っているか)を判定する。変換回路303は、判定の結果、パリティが合っていて、警報ではない場合には、BCDに変換した信号を出力回路304に送り出す。一方、変換回路303は、判定の結果、パリティが合っていて、警報である場合には、BCDに変換した信号を警報出力回路307に送り出すとともに、警報信号を警報出力回路307に送り出す。なお、変換回路303は、パリティが合っていない場合には、信号の再送を要求してもよいし、ECC(Error Correcting Code)を備える場合には、信号の再送を要求せずにECCを用いて信号の誤り訂正を行ってもよい。変換回路303は、例えば、CPU(Central Prsccessing Unit)、MPU(Micro−Proccessing Unit)等により実装される。
変換回路303は、上記入力信号をBCDに変換するだけでなく、水門10の測定値の0.001ミリメートル単位の入力から1ミリメートル単位の出力への変換、ZERO調整、ホールド処理、出力値や設定値のLED表示、設定値の変更や記憶などを実行する。
出力回路304は、変換回路303からの信号を半導体絶縁出力素子305及び半導体絶縁出力素子306に送り出す。半導体絶縁出力素子305及び半導体絶縁出力素子306は、出力回路304からの信号を表示器500などに出力する。半導体絶縁出力素子305及び半導体絶縁出力素子306は、例えば、半導体絶縁出力素子305及び半導体絶縁出力素子306は、例えば、出力先の機器のハード仕様に応じて、信号を出力する際の電流及び電圧などを調整する。フォトMOS(Metal−Oxide−Semiconductor)により実装される。半導体絶縁出力素子305及び半導体絶縁出力素子306は、フォトカプラにより実装されてもよい。なお、フォトカプラは、ON時の電圧が大きく信号にノイズが乗りやすいので、ON時の電圧が小さいフォトMOSにより実装する方が望ましい。
警報出力回路307は、変換回路303からの警報信号を絶縁リレー308に出力する。絶縁リレー308は、警報出力回路307からの警報信号を表示器500などに出力する。
設定表示回路309は、信号変換器300における各種情報の表示、及び変換回路303への設定入力を行う。
電源回路310は、電源を信号変換器300の各部に供給する。
表示器500は、水門10の開度に関する測定値を表示する。
[実施例1による処理]
図3を用いて、実施例1に係る信号変換器による処理の流れを説明する。図3は、実施例1に係る信号変換器による処理の流れを示すフローチャートである。図3に示す処理は、信号変換器300が有する変換回路303により実行される。
図3に示すように、変換回路303は、入力回路302から送出された入力信号を取得すると(ステップS101)、入力信号をBCDに変換する(ステップS102)。続いて、変換回路303は、入力信号の属性が警報であるか否か(警報ビットが含まれるか否か)を判定する(ステップS103)。なお、以下の説明では、入力信号のパリティがあっているものとする。
変換回路303は、判定の結果、入力信号の属性が警報ではない場合には(ステップS103,No)、入力信号をBCDに変換した信号を出力回路304に送り出し(ステップS104)、図3に示す処理を修了する。
一方、変換回路303は、判定の結果、入力信号の属性が警報である場合には(ステップS103,Yes)、入力信号をBCDに変換した信号を出力回路304に送り出すとともに、警報信号を警報出力回路307に送り出し(ステップS105)、図3に示す処理を修了する。
上述してきたように、実施例1では、開度表示システム1が、ヴィーデマン効果を利用した磁歪式の検出方式により、水門の開度を測定する開度計100を有する。さらに、実施例1では、開度表示システム1が、開度計100による測定値に対応する信号を半導体絶縁素子により外部出力する信号変換器300を有する。このため、実施例1に係る開度表示システム1は、開度計100により水門の開度に関する精密なデータを取得でき、取得した精密なデータの表示を信号変換器により長期間に渡って実現することができる。
すなわち、磁歪式の位置検出方式を利用する開度計100は、高速応答の機器である。このため、信号変換器300において、開度計100からの信号をリレー接点出力により出力する場合、リレーが機械的な可動部分を持つ為、可動部分の消耗が激しくなり、どうしてもリレーの寿命が短くなってしまう。例えば、開度計100において1秒間に10回の処理速度でデータ更新が行われる場合、リレーの寿命は、約0.16年となる。従って、磁歪式の位置検出方式を利用する開度計100の高速応答に対応しつつ、製品寿命を延ばす為には、機械的な可動部分を持たない出力方法を適用することがある。信号の出力を行う必要がる。このような事情に鑑み、実施例1に係る信号変換器300は、リレーの代わりに、半導体絶縁素子により出力を行うので、リレー接点出力を利用する従来技術よりも、製品寿命を延ばすだけでなく、高速な応答を実現できる。
また、実施例1では、信号変換器300は、信号に含まれるパリティを奇数パリティに変換するので、例えば、偶数パリティに対応している新たな機器を導入することなく、業界的に奇数パリティを標準使用している既存の機器をそのまま利用することができる。
また、実施例1では、信号変換器300は、警報に対応する信号については、従来どおり、絶縁リレー308によりリレー接点出力を行うので、使用頻度が高くないと考えられる部分のコスト負担を抑えることができる。
また、実施例1において、信号変換器300から送出される2つの出力信号のうち、一方の信号(例えば、OUTPUT1、図2参照)の送り先を表示器500に設定し、他方の信号(例えば、OUTPUT2、図2参照)の送り先をダム、貯水池などの貯水量を監視する中央制御室の制御コンピュータに設定するなど、信号変換器から送出される出力信号の送り先を必要に応じて任意に変更してもよい。
図4は、実施例2に係る開度表示システムの概念的な構成の一例を説明する。図4は、実施例2に係る開度表示システムの概念的な構成の一例を示す図である。実施例2に係る開度表示システムは、信号変換器が冗長構成されている点、及び信号切替器を有する点が実施例1とは異なる。
すなわち、図4に示すように、実施例2に係る開度表示システムは、開度計100と、第1系統に属するパラレル変換器200A及び信号変換器300Aと、第2系統に属するパラレル変換器200B及び信号変換器300Bと、信号切替器400と、表示器500とを有する。パラレル変換器200A及びパラレル変換器200Bは、実施例1に係るパラレル変換器200と同様の機能を有する。信号変換器300A及び信号変換器300Bは、実施例1に係る信号変換器300と同様の機能を有する。
信号切替器400は、第1系統に属する信号変換器300Aからの入力信号及び第2系統に属する信号変換器300Bからの入力信号のいずれか一方を選択する。図5は、信号切替器400の機能構成を示すブロック図である。
図5に示すように、信号切替器400は、半導体絶縁素子401と、入力回路402と、半導体絶縁素子403と、入力回路404と、半導体絶縁素子405と、入力回路406と、切替回路407と、出力回路408と、半導体絶縁出力素子409と、半導体絶縁出力素子410と、パリティチェック回路411と、警報出力回路412と、絶縁リレー413と、状態出力回路414と、絶縁リレー415と、電源回路416とを有する。
半導体絶縁素子401は、例えば、第1系統に属する信号変換器300Aからの入力信号を入力回路402に送り出す。入力回路402は、入力信号を切替回路407に送り出す。
半導体絶縁素子403は、例えば、第2系統に属する信号変換器300Bからの入力信号を入力回路404に送り出す。入力回路404は、入力信号を切替回路407に送り出す。
半導体絶縁素子405は、例えば、操作盤などで作業員により手入力される切替信号を入力回路406に送り出す。入力回路406は、切替信号を切替回路407に送り出す。
半導体絶縁素子401、半導体絶縁素子403及び半導体絶縁素子405は、実施例1と同様に、例えば、フォトカプラにより実装される。半導体絶縁素子401、半導体絶縁素子403及び半導体絶縁素子405は、フォトMOS(Metal−Oxide−Semiconductor)により実装されてもよい。
切替回路407は、切替信号に従って、第1系統に属する信号変換器300Aからの入力信号及び第2系統に属する信号変換器300Bからの入力信号のいずれか一方を、表示器500に表示させる信号に決定する。
すなわち、切替回路407は、入力回路402、入力回路404及び入力回路406から送出される信号を取得する。続いて、切替回路407は、取得した信号の中に切替信号が含まれるかを判定する。切替回路407は、判定の結果、切替信号が含まれる場合には、切替信号に合致する系統の信号を表示器500に表示させる信号に決定する。一方、切替回路407は、判定の結果、切替信号が含まれない場合には、表示器500に表示させる信号の切替を行わず、現在選択中の系統の信号を表示器500に表示させる信号として維持する。続いて、切替回路407は、表示器500に表示させる信号を出力回路408、パリティチェック回路411及び状態出力回路414に送り出す。切替回路407は、例えば、CPU(Central Prsccessing Unit)、MPU(Micro−Proccessing Unit)等により実装される。
出力回路408は、切替回路407からの信号を半導体絶縁出力素子409及び半導体絶縁出力素子410に送り出す。半導体絶縁出力素子409及び半導体絶縁出力素子410は、出力回路408からの信号を表示器500などに出力する。半導体絶縁出力素子409及び半導体絶縁出力素子410は、例えば、フォトMOS(Metal−Oxide−Semiconductor)により実装される。半導体絶縁出力素子409及び半導体絶縁出力素子410は、フォトカプラにより実装されてもよい。
パリティチェック回路411は、切替回路407からの信号のパリティチェックを行い、信号の属性が警報であるか(警報ビットが含まれるか及びパリティが合っているか)を判定する。パリティチェック回路411は、判定の結果、パリティが合っていて、警報である場合には、警報信号を警報出力回路412に送り出す。一方、パリティチェック回路411は、判定の結果、パリティが合っていて、警報ではない場合には、警報信号を警報出力回路412に送出しない。なお、パリティチェック回路411は、パリティが合っていない場合には、信号の再送を要求してもよいし、ECC(Error Correcting Code)を備える場合には、信号の再送を要求せずにECCを用いて信号の誤り訂正を行ってもよい。
警報出力回路412は、パリティチェック回路411からの警報信号を絶縁リレー413に出力する。絶縁リレー413は、警報出力回路412からの警報信号を表示器500などに出力する。
状態出力回路414は、切替回路407からの信号に基づいて、現在選択中の系統が第1系統か第2系統かを示す系統信号を絶縁リレー415に出力する。絶縁リレー415は、状態出力回路414からの系統信号を表示器500などに出力する。
電源回路416は、電源を信号切替器400の各部に供給する。
[実施例2による処理]
図6を用いて、実施例2に係る信号切替器による処理の流れを説明する。図6は、実施例2に係る信号切替器による処理の流れを示すフローチャートである。図6に示す処理は、信号切替器400が有する切替回路407により実行される。
図6に示すように、切替回路407は、入力回路402、入力回路404及び入力回路406の各入力回路から送出される信号を取得する(ステップS201)。続いて、切替回路407は、取得した信号の中に切替信号が含まれるか否かを判定する(ステップS202)。
切替回路407は、判定の結果、切替信号が含まれる場合には(ステップS202,Yes)、切替信号に合致する系統の信号を表示器500に表示させる信号に決定する(ステップS203)。これとは反対に、切替回路407は、切替信号が含まれない場合には(ステップS202,No)、表示器500に表示させる信号の切替を行わず、現在選択中の系統の信号を表示器500に表示させる信号として維持する。
続いて、切替回路407は、ステップS201で取得した信号を出力回路408及びパリティチェック回路411に送り出し(ステップS204)、図6に示す処理を修了する。
上述してきたように、実施例2では、開度表示システムが、信号変換器300A及び信号変換器300Bから送出された信号を、半導体絶縁素子により外部出力する信号切替器400を有する。このため、信号変換器が冗長構成されている場合であっても、開度計100により水門の開度に関する精密なデータの表示を長期間に渡って実現することができる。
図2に示す信号変換器300の各構成要素、及び図5に示す信号切替器400の各構成要素は機能概念的なものであり、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。例えば、図2に示す信号変換器300の各構成要素、及び図5に示す信号切換器400の各構成要素の全部または一部を、各種の負荷や使用状況などに応じて、任意の単位で機能的または物理的に分散・統合して構成してもよい。
また、図2に示す信号変換器300の変換回路303は、CPU(Central Prsccessing Unit)、MPU(Micro−Proccessing Unit)の代わりに、PLC(Programable Logic Controller)などにより実装してもよい。PLCにより実装する場合、信号変換器300(300A,300B)と同様の処理を行うように設計したプログラムをPLC組む込むことにより、フォトカプラ入力ユニットからバイナリ信号を取り込んで、フォトカプラ絶縁出力ユニットからBCDを出力する処理を実現させる。
1 開度表示システム
10 水門
20 シャフト
30 棒
40 シリンダ
100 開度計
200 パラレル変換器
300 信号変換器
400 信号切替器
500 表示器

Claims (5)

  1. 水門の開度を測定する開度計と、前記開度計による測定結果を出力する信号変換器と、前記信号変換器から出力される前記測定結果を表示する表示器とを有する開度表示システムであって、
    前記信号変換器は、
    前記開度計による測定結果として入力される入力信号を2進化10進数の表現に変換する変換回路と、
    前記変換回路により前記2進化10進数の表現に変換された信号を出力する半導体絶縁素子と
    を有することを特徴とする開度表示システム。
  2. 前記開度計は、
    磁歪式の位置検出方式に基づいて前記水門の開度を測定する機器であって、
    パルス電流を導通する磁歪線を備える検出素子と、
    前記パルス電流の導通により前記磁歪線上に発生する磁界と、前記水門の開閉に連動して前記検出素子内を移動する磁性体の磁界とが交差することによって、前記磁歪線上に発生する振動波が当該磁歪線上を伝播する時間に基づいて、前記開度を測定する測定部と
    を有することを特徴とする請求項1に記載の開度表示システム。
  3. 前記変換回路は、前記入力信号に含まれるパリティを奇数パリティに変換することを特徴とする請求項1または2に記載の開度表示システム。
  4. 前記信号変換器は、前記入力信号のうち警報に関する信号のみを出力するリレー素子をさらに有することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記載の開度表示システム。
  5. 水門の開度を測定する開度計と、前記開度計による測定結果を出力する第1信号変換器及び第2信号変換器と、前記第1信号変換器から出力される前記測定結果及び前記第2信号変換器から出力される前記測定結果のいずれか一方を出力対象として選択する信号切替器と、前記信号切替器から出力される前記測定結果を表示する表示器とを有する開度表示システムであって、
    前記開度計は、
    パルス電流を導通する磁歪線を備える検出素子と、
    前記パルス電流の導通により前記磁歪線上に発生する磁界と、前記水門の開閉に連動して前記検出素子内を移動する磁性体の磁界とが交差することによって、前記磁歪線上に発生する振動波が当該磁歪線上を伝播する時間に基づいて、前記開度を測定する測定部と
    を有し、
    前記第1信号変換器及び前記第2信号変換器は、
    前記測定結果として入力される入力信号を2進化10進数の表現に変換する変換回路と、
    前記変換回路により前記2進化10進数の表現に変換された信号を出力する半導体絶縁素子と
    を有し、
    前記信号切替器は、
    切替信号に従って、前記第1信号変換器から出力される信号及び前記第2信号変換器から出力される信号のいずれか一方を、前記表示器に表示させる信号に決定する切替回路と、
    前記切替回路により決定された信号を出力する半導体絶縁素子と
    を有することを特徴とする開度表示システム。
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