JP2015039715A - レーザー加工装置 - Google Patents

レーザー加工装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2015039715A
JP2015039715A JP2013172128A JP2013172128A JP2015039715A JP 2015039715 A JP2015039715 A JP 2015039715A JP 2013172128 A JP2013172128 A JP 2013172128A JP 2013172128 A JP2013172128 A JP 2013172128A JP 2015039715 A JP2015039715 A JP 2015039715A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser beam
angle
laser
workpiece
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2013172128A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6151130B2 (ja
Inventor
龍吾 大庭
Ryugo Oba
龍吾 大庭
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Disco Corp
Original Assignee
Disco Abrasive Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Disco Abrasive Systems Ltd filed Critical Disco Abrasive Systems Ltd
Priority to JP2013172128A priority Critical patent/JP6151130B2/ja
Publication of JP2015039715A publication Critical patent/JP2015039715A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6151130B2 publication Critical patent/JP6151130B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Laser Beam Processing (AREA)
  • Dicing (AREA)

Abstract

【課題】パワーメーターの公差の影響を受けずに、複数のレーザー加工装置の加工条件を設定できるようにする。
【解決手段】1/2波長板61の角度を調整することによりレーザー光線LBの出力を調整して被加工物Wにレーザー光線を集光するレーザー加工装置において、1/2波長板61の角度を順次変更することにより出力が調整されたレーザー光線を被加工物Wの表面側から照射して形成された加工溝の表面からの深さを実測した複数の実測値と、実測値に対応する1/2波長板61の複数の角度との相関関係データを記憶手段82に記憶しておき、入力手段81から被加工物Wの表面からの所望の加工溝深さ情報が入力されると、制御手段80が、記憶手段82に記憶された相関関係データに基づいて、1/2波長板61の角度を、所望の加工溝深さに対応する角度に調整することで、パワーメーターを使用せずに加工溝深さのバラツキが生じるのを防止する。
【選択図】図2

Description

本発明は、被加工物にレーザー光線を照射して加工溝を形成することができるレーザー加工装置に関する。
近年は、半導体ウェーハ等の板状の被加工物を分割する方法として、被加工物に形成された分割予定ラインに沿ってパルスレーザー光線を照射することによりレーザー加工溝を形成し、このレーザー加工溝に沿ってメカニカルブレーキング装置によって割断する加工方法が提案されている(例えば特許文献1参照)。
ウェーハの表面には、様々な機能膜や絶縁膜、TEG(Test Element Group)などの多種の材質が含まれているため、上記加工方法においては、ウェーハの表面から所定深さを有する適切な加工溝を形成するために、レーザー光線の出力(レーザーパワー)を高精度に制御することが求められている。レーザーパワーは、パワーメーターで測定した値を基準に設定されている。
特開2006−120797号公報
しかし、パワーメーター自体が、その個体差により数%の公差を有しているため、同一のパワーメーターを用いて複数のレーザー加工装置のレーザー出力を調整して加工を行っても、加工溝の深さにバラツキが生じるという問題が生じている。
本発明は、上記問題にかんがみなされたもので、その目的は、パワーメーターの公差の影響を受けずに複数のレーザー加工装置の加工条件を設定し、所望深さの加工溝を形成できるようにすることを目的とする。
本発明は、被加工物を保持するチャックテーブルと、レーザー光線を発振するレーザー光線発振器と、1/2波長板の角度を調整することによりレーザー光線発振器から発振されたレーザー光線の出力を調整する出力調整手段と、チャックテーブルに保持された被加工物にレーザー光線を集光する集光器を備えるレーザー光線照射手段と、少なくとも出力調整手段を制御する制御手段と、を具備するレーザー加工装置に関し、出力調整手段の1/2波長板の角度を順次変更することにより出力が調整されたレーザー光線を被加工物の表面側から照射して形成された加工溝の表面からの深さを実測した複数の実測値と、実測値に対応する1/2波長板の順次変更させた複数の角度との相関関係データを記憶する記憶手段と、被加工物の表面からの所望の加工溝深さ情報を入力する入力手段と、を備え、入力手段により所望の加工溝深さ情報が入力されると、制御手段は、記憶手段に記憶された実測値の相関関係データに基づいて、出力調整手段の1/2波長板の角度を、所望の加工溝深さに対応する角度に調整する。
本発明は、レーザー出力を調整する1/2波長板の角度と実際の加工溝深さとの相関関係データをレーザー加工装置ごとに記憶手段に記憶しておき、入力手段によって所望の加工溝深さが入力されると、制御手段が、1/2波長板を所望の加工溝深さに対応する角度に調整するため、装置ごとに加工溝深さのバラツキが生じるのを防止することができる。また、パワーメーターを使用せず、所望の加工溝深さを入力するだけで済むため、加工条件の設定が容易である。
レーザー加工装置を示す斜視図。 レーザー光線照射手段の構成を示すブロック図。 相関関係データを示すグラフ。 被加工物に形成された加工溝を示す断面図。
図1に示すレーザー加工装置1は、チャックテーブル10に保持された被加工物に対してレーザー加工手段40がレーザー加工を施す装置である。
チャックテーブル10は、被加工物を保持して回転可能であるとともに、X軸方向送り手段20によって駆動されて±X方向に移動可能となっている。
X軸方向送り手段20は、X軸方向にのびるボールネジ21と、ボールネジ21の一端に接続されたモータ22と、ボールネジ21と平行にのびる一対のガイドレール23と、図示しない内部のナットがボールネジ21に螺合するとともに下部がガイドレール23に摺接する移動基台24とを備えており、モータ22によって駆動されてボールネジ21が回動することにより、移動基台24がガイドレール23にガイドされて±X方向に移動し、チャックテーブル10を同方向に移動させることができる。
チャックテーブル10及びX軸方向送り手段20は、Y軸方向送り手段30によって駆動されて±Y方向に移動可能となっている。Y軸方向送り手段30は、Y軸方向にのびるボールネジ31と、ボールネジ31の一端に接続されたモータ32と、ボールネジ31と平行に配設された一対のガイドレール33と、図示しない内部のナットがボールネジ31に螺合するとともに下部がガイドレール33に摺接する移動基台34とを備えており、モータ32によって駆動されてボールネジ31が回動することにより、移動基台34がガイドレール33にガイドされて±Y方向に移動し、移動基台34の上にX軸方向送り手段20を介して配設されたチャックテーブル10を同方向に移動させることができる。
図2に示すように、レーザー加工手段40は、レーザー光線を発振するレーザー光線発振器70と、レーザー光線発振器70から発振されたレーザー光線の出力を調整する出力調整手段60と、チャックテーブル10に保持された被加工物にレーザー光線を集光する集光器53を備えるレーザー光線照射手段50と、少なくとも出力調整手段60を制御する制御手段80とを備えている。
レーザー光線発振器70は、所定波長のレーザー光線を発振する発振器であり、例えば、YAGレーザー発振器やYVO4レーザー発振器等からなるレーザー光線発振器、赤外線波長域のレーザー光線を発振する発振器等によって構成されている。
出力調整手段60は、レーザー光線発振器70から発振されたレーザー光線の光路上に配設された1/2波長板61と、1/2波長板を所定角度回転させるモータ62と、1/2波長板61を通過したレーザー光線の光路上に位置する偏光ビームスプリッタ63と、偏光ビームスプリッタ63において分岐したレーザー光線を吸収するアブソーバ64とを備えている。
1/2波長板61は、その回動角度に応じてレーザー光線発振器70が発振したレーザー光線LBの直線偏光方向を変化させる。偏光ビームスプリッタ63は、1/2波長板61を通過したレーザー光線のうち、所定の直線偏光方向を有するレーザー光線をレーザー光線照射手段50に向けて透過させるとともに、所定の直線偏光方向以外の直線偏光方向を有するレーザー光線をアブソーバ64側に分岐させる。アブソーバ64は、偏光ビームスプリッタ63によって分岐されたレーザー光線を吸収するためのものであり、レーザー光線を良好に吸収すべく例えばつや消し黒色系金属によって構成するとよい。
レーザー光線照射手段50は、ビームスプリッタ63を透過したレーザー光線の光路上に位置する偏光方向設定部51と、レーザー光線を反射させてその向きを変えるミラー素子52と、ミラー素子52によって導かれたレーザー光線を集光する集光器53とを備えている。偏光方向設定部51は、回折光学素子等を用いた一般周知のホモジナイザーであり、加工進行方向に直交する方向において断面エネルギー分布がガウシアン分布であるレーザー光線を、加工進行方向に直交する方向において断面エネルギー分布が加工範囲内で一定であるレーザー光線に変換する。ミラー素子52は、1/2波長板61を通過したレーザー光線を集光レンズ53側に向けて反射させるためのものである。集光レンズ53は、被加工物Wと対向するように配設され、被加工物Wの内部に集光点を位置付けてミラー素子52によって反射されたレーザー光線を集光するものである。
制御手段80は、少なくともCPUとメモリ等の記憶素子とを備えており、モータ62を制御することにより、1/2波長板61の角度を調整し、レーザー光線照射手段50に向けて通過させるレーザー光線LBの出力を調整する。制御手段80は、キーボード等の入力手段81と、メモリ等の記憶素子を有する記憶手段82とに接続されており、制御手段80は、入力手段81からの入力を受け付けるとともに、記憶手段82との間でデータの入出力を行うことができる。
記憶手段82には、例えば図3に示すように、1/2波長版61の回転角度と加工溝深さDとの相関関係が記憶される。この相関関係は、1/2波長版61の角度を所定の基準位置から順次変更することにより出力を調整して被加工物の表面側からレーザー光線を照射し、形成された加工溝の被加工物の表面からの深さを実測し、1/2波長版61の回転角度と当該実測値とを対応付けることにより求める。
加工溝深さの実測値は、加工溝形成後に外力を加えて被加工物を分割し、各加工溝の深さを顕微鏡等により実測することにより求める。このような相関関係は、レーザー加工装置1が複数ある場合において、レーザー加工装置1ごとに記憶される。また、各レーザー加工装置1においては、図1に示したチャックテーブル10の±X方向の送り速度ごとに相関関係データを求め、記憶手段82に記憶する。チャックテーブル10の±X方向の送り速度は、グラフの傾きには影響を与えないが、送り速度によって切片の値は異なる。なお、図3の例では、送り速度が100mm/sの場合と120mm/sの場合とが記憶されているが、これには限定されない。
また、被加工物の材質が複数種類ある場合は、被加工物の材質ごとに相関関係データを求めて記憶手段82に記憶する。材質に応じて、図3のグラフの傾きが変化する。
次に、レーザー加工装置1の動作例について説明する。被加工物Wは、チャックテーブル10において保持される。被加工物には、加工溝を形成すべき分割予定ライン(不図示)が形成されており、形成すべき加工溝の所望の加工溝深さ情報は、オペレータによって入力手段81から入力されて記憶手段82に記憶される。
最初に、X軸方向送り手段20が、被加工物Wを保持したチャックテーブル10を−X方向に移動させ、レーザー光線照射手段50の下方に移動させていく。そして、チャックテーブル10を±X方向に移動させながら、レーザー光線照射手段50から、被加工物Wに形成された分割予定ラインに沿ってレーザー光線を照射し、被加工物Wの表面をアブレーション加工する。例えば、被加工物Wがシリコンワークである場合は、シリコンに対して吸収性を有するレーザー光線を照射する。そうすると、図4に示すように、被加工物の表面から深さDを有する加工溝9が形成される。
レーザー光線の照射時、制御手段80は、記憶手段81に記憶された図3に示した相関関係データを読み出し、所望の加工深さ情報に対応する1/2波長版61の角度を求める。そして、制御手段80は、求めた角度分だけ1/2波長板61を回転させる。例えば、チャックテーブル10の送り速度が120mm/sであり、所望の加工溝深さDが25[μm]である場合は、これに対応する1/2波長板61の回転角度が1.2度であるため、制御手段80は、モータ62を制御して1/2波長板61を1.2度回転させる。
このように、レーザー出力を調整する1/2波長板61の角度と実際の加工溝深さとの相関関係データをレーザー加工装置ごとに記憶手段82記憶しておき、入力手段81によって所望の加工溝深さが入力されると、制御手段80が、1/2波長板61を所望の加工溝深さに対応する角度に調整するため、パワーメーターを使用する必要がなく、所望の加工溝深さを入力するだけで、装置ごとに加工溝深さのバラツキが生じるのを防止することができる。
このようにして所望深さの加工溝が形成された後、被加工物Wに対して外力を加えることにより、被加工物Wを個々のチップに分割することができる。
1:レーザー加工装置
10:チャックテーブル
20:X軸方向送り手段 21:ボールネジ 22:モータ 23:ガイドレール
24:移動基台
30:Y軸方向送り手段 31:ボールネジ 32:モータ 33:ガイドレール
34:移動基台
40:レーザー加工手段
50:レーザー光線照射手段
51:偏光方向設定部 52:ミラー素子 53:集光器
60:出力調整手段 61:1/2波長板 62:モータ 63:偏光ビームスプリッタ
64:アブソーバ
70:レーザー光線発振器
80:制御手段 81:入力手段 82:記憶手段
W:被加工物 9:加工溝

Claims (1)

  1. 被加工物を保持するチャックテーブルと、レーザー光線を発振するレーザー光線発振器と、1/2波長板の角度を調整することにより該レーザー光線発振器から発振された該レーザー光線の出力を調整する出力調整手段と、該チャックテーブルに保持された被加工物に該レーザー光線を集光する集光器を備えるレーザー光線照射手段と、少なくとも該出力調整手段を制御する制御手段と、を具備するレーザー加工装置において、
    該出力調整手段の該1/2波長板の角度を順次変更することにより出力が調整されたレーザー光線を被加工物の表面側から照射して形成された加工溝の該表面からの深さを実測した複数の実測値と、該実測値に対応する該1/2波長板の順次変更させた複数の角度との相関関係データを記憶する記憶手段と、
    被加工物の表面からの所望の加工溝深さ情報を入力する入力手段と、を備え、
    該入力手段により所望の加工溝深さ情報が入力されると、該制御手段は、該記憶手段に記憶された該実測値の相関関係データに基づいて、該出力調整手段の該1/2波長板の角度を、所望の加工溝深さに対応する角度に調整すること、を特徴とするレーザー加工装置。
JP2013172128A 2013-08-22 2013-08-22 レーザー加工装置 Active JP6151130B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013172128A JP6151130B2 (ja) 2013-08-22 2013-08-22 レーザー加工装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013172128A JP6151130B2 (ja) 2013-08-22 2013-08-22 レーザー加工装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2015039715A true JP2015039715A (ja) 2015-03-02
JP6151130B2 JP6151130B2 (ja) 2017-06-21

Family

ID=52694179

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013172128A Active JP6151130B2 (ja) 2013-08-22 2013-08-22 レーザー加工装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6151130B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014233727A (ja) * 2013-05-31 2014-12-15 株式会社ディスコ レーザー加工装置
JP2021514839A (ja) * 2019-01-30 2021-06-17 ハンズ レーザー テクノロジー インダストリー グループ カンパニー リミテッド 硬脆材料製品を切断するためのレーザ切断ヘッド及びレーザ切断装置

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001314984A (ja) * 2000-05-01 2001-11-13 Rofin Marubeni Laser Kk レーザによる金型の刻印加工方法およびその装置
JP2002341146A (ja) * 2001-05-21 2002-11-27 Omron Corp 光学部品の加工方法及びその加工品
JP2003010990A (ja) * 2000-09-13 2003-01-15 Hamamatsu Photonics Kk レーザ加工装置
JP2005219077A (ja) * 2004-02-04 2005-08-18 Sumitomo Heavy Ind Ltd レーザエネルギ調整装置、及びレーザエネルギ調整方法、及びレーザ加工機
JP2007268581A (ja) * 2006-03-31 2007-10-18 Sunx Ltd レーザ加工装置
JP2009131876A (ja) * 2007-11-30 2009-06-18 Sunx Ltd レーザ加工装置
JP2010284669A (ja) * 2009-06-10 2010-12-24 Disco Abrasive Syst Ltd レーザ加工装置
JP2010284671A (ja) * 2009-06-10 2010-12-24 Disco Abrasive Syst Ltd レーザ加工装置
JP2013157454A (ja) * 2012-01-30 2013-08-15 Hamamatsu Photonics Kk レーザ加工方法、半導体デバイスの製造方法及びレーザ加工装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001314984A (ja) * 2000-05-01 2001-11-13 Rofin Marubeni Laser Kk レーザによる金型の刻印加工方法およびその装置
JP2003010990A (ja) * 2000-09-13 2003-01-15 Hamamatsu Photonics Kk レーザ加工装置
JP2002341146A (ja) * 2001-05-21 2002-11-27 Omron Corp 光学部品の加工方法及びその加工品
JP2005219077A (ja) * 2004-02-04 2005-08-18 Sumitomo Heavy Ind Ltd レーザエネルギ調整装置、及びレーザエネルギ調整方法、及びレーザ加工機
JP2007268581A (ja) * 2006-03-31 2007-10-18 Sunx Ltd レーザ加工装置
JP2009131876A (ja) * 2007-11-30 2009-06-18 Sunx Ltd レーザ加工装置
JP2010284669A (ja) * 2009-06-10 2010-12-24 Disco Abrasive Syst Ltd レーザ加工装置
JP2010284671A (ja) * 2009-06-10 2010-12-24 Disco Abrasive Syst Ltd レーザ加工装置
JP2013157454A (ja) * 2012-01-30 2013-08-15 Hamamatsu Photonics Kk レーザ加工方法、半導体デバイスの製造方法及びレーザ加工装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014233727A (ja) * 2013-05-31 2014-12-15 株式会社ディスコ レーザー加工装置
JP2021514839A (ja) * 2019-01-30 2021-06-17 ハンズ レーザー テクノロジー インダストリー グループ カンパニー リミテッド 硬脆材料製品を切断するためのレーザ切断ヘッド及びレーザ切断装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP6151130B2 (ja) 2017-06-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8049133B2 (en) Laser beam machining apparatus
JP4977411B2 (ja) レーザー加工装置
JP5199789B2 (ja) レーザー加工装置及びレーザー加工方法
KR101770840B1 (ko) 레이저 광선 조사 기구 및 레이저 가공 장치
KR102418418B1 (ko) 레이저 가공 장치
TWI768091B (zh) 高度檢測裝置及雷射加工裝置
JP2011025279A (ja) 光学系及びレーザ加工装置
JP2009269074A (ja) レーザー加工装置
JP2010052014A (ja) レーザー加工装置
US9044819B2 (en) Laser processing apparatus
JP6955893B2 (ja) レーザー加工装置の高さ位置検出ユニットの評価用治具及びレーザー加工装置の高さ位置検出ユニットの評価方法
JP6632467B2 (ja) レーザー加工装置及びレーザー加工方法
US20160067823A1 (en) Laser machining apparatus
JP6246561B2 (ja) レーザー加工方法およびレーザー加工装置
KR20150128580A (ko) 레이저 가공 장치
JP2010029906A (ja) レーザー加工装置
JP6151130B2 (ja) レーザー加工装置
JP6401943B2 (ja) レーザー加工装置
JP2007190587A (ja) レーザー加工装置
JP6433264B2 (ja) 透過レーザービームの検出方法
JP5340807B2 (ja) 半導体ウエーハの加工方法
JP6101569B2 (ja) レーザー加工装置
KR20150146411A (ko) 레이저 가공 장치
US20180257174A1 (en) Laser processing method and laser processing apparatus
US20160139488A1 (en) Laser oscillation mechanism

Legal Events

Date Code Title Description
RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20150428

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20160620

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20170424

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20170427

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20170524

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6151130

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250