JP2015018894A - めっき装置 - Google Patents

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洋一 中川
向山 佳孝
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佳孝 向山
純逸 山川
Sumiyasu Yamakawa
純逸 山川
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Abstract

【課題】めっき装置のスループットを保ちながら、作業員がめっき装置の構成要素に容易にアクセスすることができ、めっき装置のメンテナンスを容易に行うことを可能とするめっき装置を提供する。
【解決手段】めっき装置は、基板Wを保持する基板ホルダ42と、並列に配置された複数のめっき処理部31とを備え、複数のめっき処理部31は、それぞれ、基板Wのめっきに使用される複数の処理槽29と、複数の処理槽29間で基板Wを保持した基板ホルダ42を搬送する基板ホルダ搬送機30とを備えており、複数のめっき処理部31の間にはメンテナンススペース100が設けられている。
【選択図】図1

Description

本発明は、ウェハなどの基板の表面をめっきするめっき装置に関するものである。
無電解めっきは、めっき液中に電気を流すことなく、めっき液中の金属イオンを化学的に還元して基板の被めっき面に金属膜を形成する技術である。このような無電解めっきは、ニッケル−りんめっき、ニッケル−ほう素めっき、プリント配線基板用銅めっきなどに広く用いられている。特に、ワイヤボンディングまたははんだバンプに電気接続するための導電性パッドの表面にCo(コバルト)やNi(ニッケル)などの金属を形成する際に、無電解めっきが適用されている(特許文献1参照)。
めっき装置は、一般に枚葉処理型とバッチ処理型に大別される。枚葉処理型の無電解めっき装置は、基板を水平に保持して回転させながら処理を行うものが知られている(例えば特許文献2参照)。しかしながら、導電性パッド上への金属層の形成に無電解めっきを適用すると、めっき時間が長くなることがあり、めっき装置のスループットを上げられないという欠点がある。またバッチ処理型のめっき装置では、近年の基板の大口径化に伴って基板をバッチで保持するキャリアの搬送機構が大型化し、めっき装置の設置面積が大きくなる傾向がある。
さらに、基板の大口径化が進み、めっき装置全体が大型化すると、めっき装置の構成要素(例えばめっき槽、基板洗浄機など)へ作業員がアクセスすることが困難となり、結果としてめっき装置のメンテナンスを行うことが困難になるという問題があった。
また、めっき処理を行う処理ラインを複数設けることにより、めっき処理を同時並行で行ってスループットを高めたり、汎用性の高いシステムにすることは従来から知られていたが(例えば特許文献3,4参照)、めっき装置が大型化するため、めっき装置のメンテナンスが困難であった。
特開2001−267356号公報 特開2002−129344号公報 特開平06−158395号公報 特開2001−335995号公報
本発明は、上述した従来の問題点に鑑みてなされたもので、めっき装置のスループットを保ちながら、作業員がめっき装置の構成要素に容易にアクセスすることができ、めっき装置のメンテナンスを容易に行うことを可能とするめっき装置を提供することを目的とする。
上述した目的を達成するために、本発明の一態様は、基板をめっきするめっき装置であって、前記基板を保持する基板ホルダと、並列に配置された複数のめっき処理部とを備え、前記複数のめっき処理部は、それぞれ、前記基板のめっきに使用される複数の処理槽と、前記複数の処理槽間で前記基板を保持した前記基板ホルダを搬送する基板ホルダ搬送機とを備えており、前記複数のめっき処理部の間にはメンテナンススペースが設けられていることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記メンテナンススペースは前記基板ホルダ搬送機と平行に延びていることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記メンテナンススペースの下方には、前記複数の処理槽で使用される処理液を移送するための配管が設置される配管スペースが形成されていることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記メンテナンススペースの下方に、めっき装置を運転するために必要なユーティリティ流体を前記複数のめっき処理部に供給するためのユーティリティ流体導入ポートを設けたことを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記基板を前記基板ホルダ搬送機に受け渡す基板受け渡し部をさらに備えており、前記基板受け渡し部は前記メンテナンススペースに隣接して配置されていることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記基板受け渡し部は、前記基板を回転させて乾燥させるスピン・リンス・ドライヤを備えており、前記スピン・リンス・ドライヤは前記メンテナンススペースに隣接して配置されていることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記めっき処理部は、無電解めっき処理部であることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記めっき処理部は、電解めっき処理部であることを特徴とする。
本発明によれば、めっき処理部の間にメンテナンススペースが設けられる。作業員はメンテナンススペースからめっき装置の構成要素へ簡単にアクセスすることができ、めっき装置のメンテナンスを容易に行うことができる。
本発明の一実施形態に係る無電解めっき装置を模式的に示す平面図である。 基板ホルダを示す図である。 基板ホルダの保持アームを示す図である。 図1のA線矢視図である。 図1のB−B線断面模式図である。 本発明の他の実施形態に係る無電解めっき装置を模式的に示す平面図である。
以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。なお、図1から図6において、同一または相当する構成要素には、同一の符号を付して重複した説明を省略する。
図1は、本発明の一実施形態に係る無電解めっき装置を模式的に示す平面図である。図1に示すように、めっき装置は、装置フレーム1と、ウェハなどの基板Wを収納したカセットを搭載するロードポート2と、めっき装置の動作を制御する制御部3と、基板Wのオリエンテーションフラットまたはノッチの位置を所定の方向に合わせるアライナ4とを備えている。さらに、めっき装置は、めっき処理後の基板Wを高速回転させて乾燥させるスピン・リンス・ドライヤ(SRD)6と、めっき前の基板Wを基板ホルダ42(後述する)に搭載し、めっき後の基板Wを基板ホルダ42から取り出す基板着脱機構10と、基板Wを搬送する基板搬送ロボット12とを備えている。
ロードポート2の並びに沿って走行機構5が敷設されており、この走行機構5上に基板搬送ロボット12が設置されている。基板搬送ロボット12は走行機構5上を移動することによってロードポート2に搭載されたウェハカセットにアクセスし、めっき前の基板Wをウェハカセットから取り出し、基板着脱機構10において基板Wを基板ホルダ42に渡すようになっている。これらアライナ4、スピン・リンス・ドライヤ6、基板着脱機構10、および基板搬送ロボット12は、装置フレーム1内に配置されている。
装置フレーム1内には、基板Wのめっき処理に使用される複数の処理槽29と、基板Wを搬送するトランスポータ(基板ホルダ搬送機)30とが配置されている。トランスポータ30は、グリッパ34を備えたアーム32を有している。トランスポータ30は、基板Wを保持した基板ホルダ42を基板着脱機構10と処理槽29との間で搬送し、さらに基板ホルダ42を基板Wとともに上下動させることが可能となっている。
処理槽29は直列に配置されており、トランスポータ30は処理槽29の並び方向に沿って配置されている。これら処理槽29およびトランスポータ30により、めっき処理部31が構成される。本実施形態に係るめっき装置は、並列に配置された2つのめっき処理部31,31を備えている。本実施形態に係るめっき処理部31,31は、めっき液に電流を流すことなく基板Wの表面を金属でめっきする無電解めっき処理部である。しかしながら、めっき処理部31,31は、めっき液に電流を流すことで基板Wの表面を金属でめっきする電解めっき処理部であってもよい。
複数の処理槽29には、基板ホルダ42を保管するストック槽14、基板Wを前処理液で前処理する前処理槽60、基板Wの前処理の後、基板Wを処理液(純水)で洗浄する水洗槽62、基板Wの表面に例えばパラジウム核を形成する核形成槽64、核形成槽64に浸漬された基板Wを処理液(純水)で洗浄する水洗槽66が含まれている。さらに、複数の処理槽29には、基板Wの表面に例えばコバルト(Co)層あるいはニッケル(Ni)層を無電解めっきにより形成する第一のめっき槽68、第一のめっき槽68に浸漬された基板Wを処理液(純水)で洗浄する水洗槽70、さらに、基板Wの表面に無電解めっきにより例えば金(Au)層を形成する第二のめっき槽72、第二のめっき槽72に浸漬された基板Wを処理液(純水)で洗浄する水洗槽74、洗浄された基板Wの水切りを行うブロー槽75が含まれる。第一のめっき槽68は、複数のめっきセル68aから構成されている。これら前処理槽60、水洗槽62、核形成槽64、水洗槽66、第一のめっき槽68、水洗槽70、第二のめっき槽72、水洗槽74、ブロー槽75、およびストック槽14は、この順に直列に配置されている。
前処理槽60、核形成槽64、第一のめっき槽68、第二のめっき槽72、および各水洗槽62,66,70,74は、内部に各処理液を保持できる断面矩形形状の処理槽であり、それぞれオーバーフロー槽(図示しない)を備える。オーバーフローした処理液はポンプにより循環ラインを通って循環され、再び処理槽に供給される。循環ラインにはフィルターやめっき液の温度調節部が設けられる。
めっき処理部31,31の一端部には、めっき液など基板Wのめっき処理に必要な薬液を供給する2つの薬液供給ユニット90,90が配置されている。めっき処理部31,31の他端部には基板受け渡し部102が配置されている。基板受け渡し部102は、2つの基板着脱機構10,10、2つのスピン・リンス・ドライヤ6、1つのアライナ4、1つの走行機構5、および1つの基板搬送ロボット12を備えている。なお、2つのスピン・リンス・ドライヤ6は重なって配置されているため、図1では1つのスピン・リンス・ドライヤ6が示されている。
基板着脱機構10はストック槽14に隣接して配置されており、基板ホルダ42が水平に載置されるテーブル80と、基板ホルダ42を起倒させる基板ホルダ起倒機構82とを備えている。基板ホルダ起倒機構82はテーブル80の側方に設けられている。基板着脱機構10は、基板ホルダ起倒機構82により基板ホルダ42を鉛直姿勢から水平姿勢に転換し、基板ホルダ42をテーブル80の上に載置するように構成されている。
ロードポート2とスピン・リンス・ドライヤ6との間には、ロードポート2の並び方向に沿って走行機構5が敷設されており、この走行機構5上に基板搬送ロボット12が設置されている。走行機構5に隣接してアライナ4が配置されている。
トランスポータ30は、装置フレーム1に固定されて基板着脱機構10から前処理槽60まで水平方向に延びる固定ベース40と、固定ベース40上を水平方向に移動可能に構成されたリフタ33と、リフタ33に連結されたアーム32とを備えている。アーム32とリフタ33は一体に水平方向に移動し、アーム32はリフタ33によって上昇および下降されるようになっている。リフタ33およびアーム32を水平方向に移動させる駆動源としてはリニアモータまたはラックピニオンなどを採用することができる。アーム32は1つのグリッパ34を有しており、グリッパ34は1つの基板ホルダ42を把持するように構成されている。
基板ホルダ42について、図2を参照しつつ説明する。図2は、基板ホルダ42を示す図である。図2に示すように、基板ホルダ42は、基板Wを把持する保持アーム44,44と、保持アーム44,44を支持する支持部材46とから構成されている。保持アーム44は、第1のスリット44a、第2のスリット44b、および第3のスリット44cを有している。図3は保持アーム44のスリット44a〜44cに挟持された基板Wを示す図である。図3では1つの保持アーム44が示されている。図3に示すように、基板Wの周縁部がこれらスリット44a〜44cに挟持されることにより、基板Wが基板ホルダ42に保持される。図1に示すように、基板搬送ロボット12またはテーブル80に搭載された基板スライド機構(図示しない)が基板Wを点線で示す位置から実線で示す位置までスライドさせることにより、基板Wは2つの保持アーム44,44のスリット44a〜44cに挟持される。
次に、本実施形態に係る無電解めっき装置の装置フレーム1内のレイアウトについて図1を参照しつつ説明する。図1に示すように、本実施形態に係る無電解めっき装置は2つのめっき処理部(無電解めっき処理部)31,31を備えており、これらめっき処理部31,31は装置フレーム1内において並列に配置され、かつ互いに離間している。これらめっき処理部31,31の間には、めっき装置の構成要素にアクセス可能なメンテナンススペース100が設けられている。図1の網掛け部分はメンテナンススペース100を表している。メンテナンススペース100はトランスポータ30,30と平行に延びており、かつトランスポータ30,30に隣接して配置されている。このような配置により、作業員はトランスポータ30,30に容易にアクセスすることができ、トランスポータ30,30のメンテナンスを容易に行うことができる。メンテナンススペース100の一部は薬液供給ユニット90,90の間に位置している。
めっき処理部31,31は、メンテナンススペース100の両側に配置されている。このような配置により、作業者は、メンテナンススペース100から両方のめっき処理部31,31を速やかに視認することができる。さらに、2つのめっき処理部31,31を備えためっき装置は、様々なめっき条件に従って運転することが可能である。例えば、一方のめっき処理部31の運転を停止し、このめっき処理部31のメンテナンスを行いつつ、他方のめっき処理部31を運転することができる。さらに、それぞれのめっき処理部31,31で異なる処理液を使用することにより、それぞれ異なっためっき処理を行うことができる。
スピン・リンス・ドライヤ6は基板着脱機構10,10の間に配置されており、メンテナンススペース100の端部に隣接して配置されている。このため、作業員はスピン・リンス・ドライヤ6へ容易にアクセスすることができ、スピン・リンス・ドライヤ6のメンテナンスを容易に行うことができる。
図4は、図1のA線矢視図である。図4に示すように、装置フレーム1の外壁面上部には、処理液に含まれる不要物の通過を許容しないフィルター104と、このフィルター104を収容するフィルターボックス105とが配置されている。従来のめっき装置では、フィルター104は装置フレーム1の外壁面下部に配置されていたため、フィルター104の修理または交換する作業には多大な労力を要していた。本実施形態に係るめっき装置では、フィルター104は装置フレーム1の外壁面上部に配置されているため、作業員がフィルター104に容易にアクセスすることができる。その結果、フィルター104のメンテナンス(修理や交換など)を容易に行うことができる。
図5は図1のB−B線断面模式図である。図5において、薬液供給ユニット90は図を見やすくするために模式的に示されている。図5に示すように、めっき処理部31,31の間には、作業者の足場となる架台100aと、架台100aを支持する支持脚100b,100bが設けられている。架台100aの上方にメンテナンススペース100が形成され、架台100aの下方に配管スペース106が形成されている。配管スペース106にはめっき処理に使用される処理液を移送するための配管が集中配置されている。これら配管は、例えばフィルター104や薬液供給ユニット90,90に接続されている配管である。
無電解めっき装置を運転するために必要な純水や窒素(N)などのユーティリティ流体をユーティリティ供給設備から受け取り、めっき処理部31,31に供給するためのユーティリティ流体導入ポート(継手)108を架台100aの下方(配管スペース106)に設けてもよい。ユーティリティ流体は、図5に示すようにめっき装置が設置される階下から配管を通じて供給されてもよい。
本実施形態によれば、作業員は、めっき処理部31,31の間に設けられたメンテナンススペース100から処理槽29内の状態を容易に視認することができる。また、めっき装置の外壁面上部にフィルター104およびフィルターボックス105が配置されているので、めっき装置の外部からフィルター104の交換を行うことができる。フィルターボックス105をめっき装置の外壁面上部に配置したことにより、めっき装置外側からめっき装置内部のメンテナンスを行うことはある程度制限されるが、メンテナンススペース100を設けたことにより、容易にめっき装置内部のメンテナンスを行うことができる。さらに、メンテナンススペース100の下に配管スペース106を設けたことにより、空間を効率的に利用できる。
次に、上記のように構成されためっき装置による処理動作を説明する。まず、トランスポータ30のアーム32により、ストック槽14から鉛直姿勢の基板ホルダ42を取り出す。基板ホルダ42を把持したアーム32は、水平方向に移動して、基板着脱機構10に基板ホルダ42を渡す。基板着脱機構10は、基板ホルダ起倒機構82により基板ホルダ42を鉛直姿勢から水平姿勢に転換し、テーブル80の上に載置する。
基板搬送ロボット12は、ロードポート2に搭載されたカセットから基板Wを1枚取り出し、アライナ4に載せる。アライナ4はオリエンテーションフラットまたはノッチの位置を所定の方向に合わせる。基板搬送ロボット12は、基板Wをアライナ4から取り出し、テーブル80上に載置された基板ホルダ42に基板Wを挿入する。より具体的には、基板搬送ロボット12は、基板Wを保持アーム44のスリット44a〜44cに挟持させるように所定の位置まで基板Wを水平に移動させ、基板Wを図2の点線で示す位置から実線で示す位置までスライドさせることにより、基板Wを基板ホルダ42に装填する。これに代えて、テーブル80に基板Wを平行にスライドさせる基板スライド機構(図示せず)を設け、基板搬送ロボット12が基板Wを基板スライド機構に渡し、基板スライド機構が基板Wを基板ホルダ42に装着するようにしてもよい。
次に、基板ホルダ起倒機構82は、基板ホルダ42を水平姿勢から鉛直姿勢に転換する。アーム32のグリッパ34は、この起立した状態の基板ホルダ42を把持し、この状態で、トランスポータ30は基板Wおよび基板ホルダ42を前処理槽60の上方の所定位置まで水平方向に移動させる。そして、リフタ33がアーム32を下降させて、基板Wおよび基板ホルダ42を前処理槽60内の処理液に浸漬させることで、基板Wの表面を清浄化する。基板Wの前処理後、リフタ33はアーム32を上昇させ、基板Wおよび基板ホルダ42を前処理槽60内の処理液から引き上げる。
次に、アーム32は、基板ホルダ42を水洗槽62の上方の所定位置に移動させる。そして、リフタ33がアーム32を下降させて、基板Wおよび基板ホルダ42を水洗槽62内の処理液(通常は純水)に浸漬させることで、基板Wおよび基板ホルダ42の表面が洗浄される。基板Wの水洗後、リフタ33はアーム32を上昇させ、基板Wおよび基板ホルダ42を水洗槽62内の処理液から引き上げる。
次に、アーム32は、基板ホルダ42を核形成槽64の上方の所定位置に移動させる。そして、リフタ33がアーム32を下降させて、基板Wおよび基板ホルダ42を核形成槽64内の処理液に浸漬させることで、基板Wの表面に例えばパラジウム核(パラジウム触媒)が形成される。その後、リフタ33はアーム32を上昇させ、基板Wおよび基板ホルダ42を核形成槽64の処理液から引き上げる。
次に、アーム32は、基板ホルダ42を水洗槽66の上方の所定位置に移動させる。そして、リフタ33がアーム32を下降させて、基板Wおよび基板ホルダ42を水洗槽66内の処理液(通常は純水)に浸漬させることで、基板Wおよび基板ホルダ42の表面が洗浄される。その後、リフタ33はアーム32を上昇させ、基板Wおよび基板ホルダ42を水洗槽66の処理液から引き上げる。
次に、アーム32は、基板ホルダ42を第一のめっき槽68の上方の所定位置に移動させる。そして、リフタ33がアーム32を下降させて、基板Wおよび基板ホルダ42を第一のめっき槽68の複数のめっきセル68aのうちの1つに保持されているめっき液(処理液)に浸漬させ、基板Wの表面に例えばコバルト(Co)またはニッケル(Ni)の無電解めっきを行う。さらに、複数の基板Wについて同様の動作を繰り返して、すべてのめっきセル68a内のめっき液(処理液)に基板Wを浸漬させる。所定のめっき時間が経過した後、トランスポータ30は、基板Wおよび基板ホルダ42を第一のめっき槽68のめっき液から1つずつ引き上げる。
次に、トランスポータ30のアーム32は、基板ホルダ42を水洗槽70の上方の所定位置に移動させる。そして、リフタ33がアーム32を下降させて、基板Wおよび基板ホルダ42を水洗槽70内の処理液(通常は純水)に浸漬させることで、基板Wおよび基板ホルダ42の表面が洗浄される。その後、リフタ33はアーム32を上昇させ、基板Wおよび基板ホルダ42を水洗槽70の処理液から引き上げる。
次に、アーム32は、基板ホルダ42を第二のめっき槽72の上方の所定位置に移動させる。そして、リフタ33がアーム32を下降させて、基板Wおよび基板ホルダ42を第二のめっき槽72内のめっき液(処理液)に浸漬させることで、基板Wの表面に金(Au)層を無電解めっきにより形成する。その後、リフタ33はアーム32を上昇させ、基板Wおよび基板ホルダ42を第二のめっき槽72のめっき液から引き上げる。
次に、アーム32は、基板Wおよび基板ホルダ42を水洗槽74の上方の所定位置に移動させる。そして、リフタ33がアーム32を下降させて、基板Wおよび基板ホルダ42を水洗槽74内の処理液(通常は純水)に浸漬させることで、基板Wの表面が洗浄される。その後、リフタ33はアーム32を上昇させ、基板Wおよび基板ホルダ42を水洗槽74の処理液から引き上げる。
基板Wのめっき後、アーム32は、基板Wおよび基板ホルダ42をブロー槽75の上方位置まで水平方向に移動させる。リフタ33がアーム32を下降させることで基板Wおよび基板ホルダ42はブロー槽75内の所定の位置にセットされる。ブロー槽75は、エアの吹き付けによって、基板ホルダ42、および基板ホルダ42で保持した基板Wの表面に付着した水滴を除去し乾燥させる。ブロー処理が終了した後、アーム32のグリッパ34は基板ホルダ42を把持し、リフタ33がアーム32を上昇させることで、基板ホルダ42はブロー槽75から引き上げられる。
アーム32は、水平方向に移動して、基板ホルダ42を基板ホルダ起倒機構82に渡す。基板ホルダ起倒機構82は、前述と同様にして、基板ホルダ42をテーブル80の上に水平に載置する。基板搬送ロボット12は、基板Wを図2の実線で示す位置から点線で示す位置までスライドさせることにより、基板Wを基板ホルダ42から取り出す。これに代えて、テーブル80に設けた基板スライド機構(図示せず)が基板Wを基板ホルダ42の基板保持位置からスライドさせ、その後基板搬送ロボット12が基板スライド機構から基板Wを取り出してもよい。その後、基板搬送ロボット12はめっき処理後の基板Wをスピン・リンス・ドライヤ6に搬送する。スピン・リンス・ドライヤ6は基板Wを高速で回転させることで基板を乾燥させる。基板搬送ロボット12は、乾燥された基板をスピン・リンス・ドライヤ6から取り出し、ロードポート2のカセットに戻す。これによって、1枚の基板に対する処理が終了する。
図6は、本発明の他の実施形態に係るめっき装置を模式的に示す平面図である。図6に示す処理槽29は図1に示す処理槽29と同一の構成を有しているため、簡略化して表示されている。図6の網掛け部分がメンテナンススペース100を示す。図6に示すめっき装置と図1に示すめっき装置との違いは、メンテナンススペース100に隣接して、スピン・リンス・ドライヤ6および基板着脱機構10,10が配置されている点である。このような配置により、作業員はスピン・リンス・ドライヤ6および基板着脱機構10に容易にアクセスすることができ、スピン・リンス・ドライヤ6および基板着脱機構10のメンテナンスを容易に行うことができる。本実施形態では、めっき処理部31,31のトランスポータ30,30はメンテナンススペース100に隣接して配置されていないが、図1に示すように、トランスポータ30,30をメンテナンススペース100に隣接して配置してもよい。
上述した2つの実施形態では、トランスポータ30のリフタ33が基板ホルダ42を水平方向に移動させ、かつ上下動させる例を示したが、リフタをトランスポータ30から切り離して設けてもよい。この場合、複数のリフタがそれぞれ処理槽29に隣接して設けられ、トランスポータ30はアーム32を水平方向にのみ移動させるように構成される。
これまで本発明の実施形態について説明したが、本発明は上述の実施形態に限定されず、その技術思想の範囲内において、種々の異なる形態で実施されてよいことは勿論である。例えば、上述した実施形態は、メンテナンススペース100を無電解めっき装置に設けた例であるが、メンテナンススペース100を電解めっき装置に設けてもよい。メンテナンススペース100を電解めっき装置に設けても上記と同様の効果が得られる。
1 装置フレーム
2 ロードポート
3 制御部
4 アライナ
5 走行機構
6 スピン・リンス・ドライヤ(SRD)
10 基板着脱機構
12 基板搬送ロボット
14 ストック槽
29 処理槽
30 トランスポータ(基板ホルダ搬送機)
31 めっき処理部
32 アーム
33 リフタ
34 グリッパ
42 基板ホルダ
44 保持アーム
46 支持部材
60 前処理槽
62,66,70,74 水洗槽
64 核形成槽
68 第一のめっき槽
72 第二のめっき槽
75 ブロー槽
80 テーブル
82 基板ホルダ起倒機構
90 薬液供給ユニット
100 メンテナンススペース
100a 架台
100b 支持脚
102 基板受け渡し部
104 フィルター
105 フィルターボックス
106 配管スペース
108 ユーティリティ流体導入ポート

Claims (8)

  1. 基板をめっきするめっき装置であって、
    前記基板を保持する基板ホルダと、
    並列に配置された複数のめっき処理部とを備え、
    前記複数のめっき処理部は、それぞれ、
    前記基板のめっきに使用される複数の処理槽と、
    前記複数の処理槽間で前記基板を保持した前記基板ホルダを搬送する基板ホルダ搬送機とを備えており、
    前記複数のめっき処理部の間にはメンテナンススペースが設けられていることを特徴とするめっき装置。
  2. 前記メンテナンススペースは前記基板ホルダ搬送機と平行に延びていることを特徴とする請求項1に記載のめっき装置。
  3. 前記メンテナンススペースの下方には、前記複数の処理槽で使用される処理液を移送するための配管が設置される配管スペースが形成されていることを特徴とする請求項1または2に記載のめっき装置。
  4. 前記メンテナンススペースの下方に、めっき装置を運転するために必要なユーティリティ流体を前記複数のめっき処理部に供給するためのユーティリティ流体導入ポートを設けたことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載のめっき装置。
  5. 前記基板を前記基板ホルダ搬送機に受け渡す基板受け渡し部をさらに備えており、
    前記基板受け渡し部は前記メンテナンススペースに隣接して配置されていることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載のめっき装置。
  6. 前記基板受け渡し部は、前記基板を回転させて乾燥させるスピン・リンス・ドライヤを備えており、
    前記スピン・リンス・ドライヤは前記メンテナンススペースに隣接して配置されていることを特徴とする請求項5に記載のめっき装置。
  7. 前記めっき処理部は、無電解めっき処理部であることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載のめっき装置。
  8. 前記めっき処理部は、電解めっき処理部であることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載のめっき装置。
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