JP2015013107A - フォトンカウンティング装置 - Google Patents
フォトンカウンティング装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2015013107A JP2015013107A JP2014113447A JP2014113447A JP2015013107A JP 2015013107 A JP2015013107 A JP 2015013107A JP 2014113447 A JP2014113447 A JP 2014113447A JP 2014113447 A JP2014113447 A JP 2014113447A JP 2015013107 A JP2015013107 A JP 2015013107A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- energy
- unit
- photon counting
- ray
- period
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000013480 data collection Methods 0.000 claims abstract description 47
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 37
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 37
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 31
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 20
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 5
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 3
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 38
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 19
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 15
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 15
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 12
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 11
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 9
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 5
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 5
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 229910004613 CdTe Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910004611 CdZnTe Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007476 Maximum Likelihood Methods 0.000 description 1
- 239000010405 anode material Substances 0.000 description 1
- 101150049912 bin3 gene Proteins 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/24—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
- G01T1/247—Detector read-out circuitry
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/03—Computed tomography [CT]
- A61B6/032—Transmission computed tomography [CT]
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4208—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector
- A61B6/4241—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector using energy resolving detectors, e.g. photon counting
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/48—Diagnostic techniques
- A61B6/482—Diagnostic techniques involving multiple energy imaging
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/29—Measurement performed on radiation beams, e.g. position or section of the beam; Measurement of spatial distribution of radiation
- G01T1/2914—Measurement of spatial distribution of radiation
- G01T1/2985—In depth localisation, e.g. using positron emitters; Tomographic imaging (longitudinal and transverse section imaging; apparatus for radiation diagnosis sequentially in different planes, steroscopic radiation diagnosis)
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14643—Photodiode arrays; MOS imagers
- H01L27/14658—X-ray, gamma-ray or corpuscular radiation imagers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/148—Charge coupled imagers
- H01L27/14806—Structural or functional details thereof
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Pathology (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
- Public Health (AREA)
- Surgery (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Pulmonology (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
Description
図1は、第1実施形態に係るフォトンカウンティングCT装置の構成を示す図である。
上記の実施形態においてフォトンカウンティング装置は、X線CTタイプの装置(フォトンカウンティングCT装置)であるとした。しかしながら、本実施形態に係るフォトンカウンティング装置は、X線撮影タイプの装置(フォトンカウンティングXR装置)でも良い。以下、第1実施形態の変形例について説明する。なお以下の説明において、第1実施形態と略同一の機能を有する構成要素については、同一符号を付し、必要な場合にのみ重複説明する。
次に、リストモードで動作するフォトンカウンティングCT装置について説明する。なお以下の説明において、第1実施形態と略同一の機能を有する構成要素については、同一符号を付し、必要な場合にのみ重複説明する。
上記の実施形態においてフォトンカウンティング装置は、X線CTタイプの装置(フォトンカウンティングCT装置)であるとした。しかしながら、本実施形態に係るフォトンカウンティング装置は、X線撮影タイプの装置(フォトンカウンティングXR装置)でも良い。以下、第2実施形態の変形例について説明する。なお以下の説明において、第1実施形態と略同一の機能を有する構成要素については、同一符号を付し、必要な場合にのみ重複説明する。
Claims (19)
- X線を発生するX線管と、
前記X線管から発生されたX線フォトンを繰り返し検出し、前記繰り返し検出されたX線フォトンに応じた電気信号を繰り返し発生するX線検出器と、
前記X線管を回転軸回りに回転可能に支持する支持機構と、
前記X線管から発生されるX線に関する複数のエネルギー帯域の各々についての基準カウント数に基づいて、前記電気信号のための単位時間当りの読み出し期間の時間長又は読み出し周期を設定する設定部と、
前記複数のエネルギー帯域の各々について、前記設定された時間長又は読み出し周期に従って前記X線検出器からの電気信号のカウント数を計数するデータ収集部と、
を具備するフォトンカウンティング装置。 - 前記複数のエネルギー帯域の各々ついて前記カウント数に基づいて投影データを生成する投影データ生成部と、
前記複数のエネルギー帯域のうちの所定のエネルギー帯域に関する前記投影データに基づいて画像データを再構成する再構成部と、
をさらに備える請求項1記載のフォトンカウンティング装置。 - 前記設定部は、前記基準カウント数が多いエネルギー帯域についての前記読み出し周期を、前記基準カウント数が少ないエネルギー帯域についての前記読み出し周期に比して短い値に設定する、請求項1記載のフォトンカウンティング装置。
- 前記設定部は、前記基準カウント数が多いエネルギー帯域についての前記読み出し期間の時間長を、前記基準カウント数が少ないエネルギー帯域についての前記読み出し期間の時間長に比して短い値に設定する、請求項1記載のフォトンカウンティング装置。
- 前記設定部は、前記複数のエネルギー帯域の各々について再構成法を設定し、
前記再構成部は、前記所定のエネルギー帯域に設定された再構成法を利用して前記画像データを再構成する、
請求項2記載のフォトンカウンティング装置。 - 前記設定部は、前記複数のエネルギー帯域のうちの前記基準カウント数が多いエネルギー帯域に解析学的画像再構成法を設定し、前記複数のエネルギー帯域のうちの前記基準カウント数が少ないエネルギー帯域に統計的画像再構成法を設定する、請求項1記載のフォトンカウンティング装置。
- 前記設定部は、前記複数のエネルギー帯域の各々について再構成パラメータを設定し、
前記再構成部は、前記所定のエネルギー帯域に設定された再構成パラメータを利用して前記画像データを再構成する、
請求項2記載のフォトンカウンティング装置。 - 前記設定部は、前記読み出し期間の時間長をビューの時間長に対応した時間長に設定する、請求項1記載のフォトンカウンティング装置。
- 前記設定部は、前記読み出し期間の時間長をビューの時間長よりも短い値に設定する、請求項1記載のフォトンカウンティング装置。
- 前記設定部は、前記複数のエネルギー帯域の各々に関する前記基準カウント数を、前記データ収集部により対象スキャンの前段のスカウト撮像において収集されたカウント数に基づいて設定する、請求項1記載のフォトンカウンティング装置。
- 前記設定部は、前記複数のエネルギー帯域の各々に関する前記基準カウント数を、前記データ収集部により対象スキャンにおいて収集された所定番目のビューに関するカウント数に基づいて設定する、請求項1記載のフォトンカウンティング装置。
- 前記複数のエネルギー帯域の各々に関する基準カウント数の候補値を撮像部位又は撮像物質毎に記憶する記憶部をさらに備え、
前記設定部は、前記記憶部に記憶された候補値のうちの、ユーザ指定の撮像部位又は撮像物質に関する候補値を前記基準カウント数に設定する、
請求項1記載のフォトンカウンティング装置。 - X線を発生するX線管と、
前記X線管から発生されたX線フォトンを繰り返し検出し、前記繰り返し検出されたX線フォトンに応じた電気信号を繰り返し発生するX線検出器と、
前記X線管を回転軸回りに回転可能に支持する支持機構と、
前記X線検出器からの前記電気信号に応じて前記検出されたX線フォトンのエネルギーと検出時刻とを表現するイベントデータをイベント毎に生成するデータ収集部と、
前記X線管から発生されるX線における複数のエネルギー帯域の各々について、前記複数のエネルギー帯域の各々における基準カウント数に基づいて、前記電気信号に対する単位時間当りの読み出し期間の時間長又は読み出し周期を設定する設定部と、
前記複数のエネルギー帯域の各々について、前記イベントデータを前記設定された時間長又は読み出し周期に従って時系列のビューに分類し、前記分類されたイベントデータに基づいて投影データを生成する投影データ生成部と、
を具備するフォトンカウンティング装置。 - 前記複数のエネルギー帯域のうちの所定のエネルギー帯域に関する投影データに基づいて画像データを再構成する再構成部、をさらに備える請求項13記載のフォトンカウンティング装置。
- 前記設定部は、前記基準カウント数が多いエネルギー帯域についての前記読み出し周期を、前記基準カウント数が少ないエネルギー帯域についての前記読み出し周期に比して短い値に設定する、請求項13記載のフォトンカウンティング装置。
- 前記設定部は、前記基準カウント数が多いエネルギー帯域についての前記読み出し期間の時間長を、前記基準カウント数が少ないエネルギー帯域についての前記読み出し期間の時間長に比して短い値に設定する、請求項13記載のフォトンカウンティング装置。
- 前記設定部は、前記複数のエネルギー帯域の各々について再構成法を設定し、
前記再構成部は、前記所定のエネルギー帯域に設定された再構成法を利用して前記画像データを再構成する、
請求項14記載のフォトンカウンティング装置。 - 前記設定部は、前記複数のエネルギー帯域のうちの前記基準カウント数が多いエネルギー帯域に解析学的画像再構成法を設定し、前記複数のエネルギー帯域のうちの前記基準カウント数が少ないエネルギー帯域に統計的画像再構成法を設定する、請求項17記載のフォトンカウンティング装置。
- 前記設定部は、前記複数のエネルギー帯域の各々について再構成パラメータを設定し、
前記再構成部は、前記所定のエネルギー帯域に設定された再構成パラメータを利用して前記画像データを再構成する、
請求項14記載のフォトンカウンティング装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014113447A JP6355973B2 (ja) | 2013-06-06 | 2014-05-30 | フォトンカウンティング装置 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013119708 | 2013-06-06 | ||
JP2013119708 | 2013-06-06 | ||
JP2014113447A JP6355973B2 (ja) | 2013-06-06 | 2014-05-30 | フォトンカウンティング装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015013107A true JP2015013107A (ja) | 2015-01-22 |
JP6355973B2 JP6355973B2 (ja) | 2018-07-11 |
Family
ID=52008123
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014113447A Expired - Fee Related JP6355973B2 (ja) | 2013-06-06 | 2014-05-30 | フォトンカウンティング装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10185044B2 (ja) |
JP (1) | JP6355973B2 (ja) |
WO (1) | WO2014196479A1 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017144213A (ja) * | 2016-02-19 | 2017-08-24 | 東芝メディカルシステムズ株式会社 | X線診断装置及びx線ct装置 |
JP2019503215A (ja) * | 2016-01-14 | 2019-02-07 | プリズマティック、センサーズ、アクチボラグPrismatic Sensors Ab | X線検出器用の測定回路、ならびに対応する方法およびx線撮像システム |
US10524745B2 (en) | 2015-11-02 | 2020-01-07 | Canon Medical Systems Corporation | Data acquisition device, X-ray CT apparatus, and nuclear medicine diagnostic apparatus |
JP2020044328A (ja) * | 2018-08-31 | 2020-03-26 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | 被写体を撮像するためのシステムおよび方法 |
JP2020143933A (ja) * | 2019-03-04 | 2020-09-10 | 株式会社リガク | 放射線検出器および放射線検出方法 |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2871496B1 (en) * | 2013-11-12 | 2020-01-01 | Samsung Electronics Co., Ltd | Radiation detector and computed tomography apparatus using the same |
JP6106343B2 (ja) | 2014-06-16 | 2017-03-29 | 日東電工株式会社 | 水素排出膜 |
US10451568B2 (en) * | 2014-08-22 | 2019-10-22 | Canon Medical Systems Corporation | Photon counting X-ray CT apparatus |
KR101725099B1 (ko) * | 2014-12-05 | 2017-04-26 | 삼성전자주식회사 | 컴퓨터 단층 촬영장치 및 그 제어방법 |
WO2017083026A1 (en) * | 2015-11-13 | 2017-05-18 | Flir Detection, Inc. | Dose rate measurement systems and methods |
US10721082B2 (en) * | 2016-07-18 | 2020-07-21 | International Business Machines Corporation | Screen printed phosphors for intrinsic chip identifiers |
CN109475334B (zh) * | 2016-08-18 | 2023-03-14 | 深圳帧观德芯科技有限公司 | 专用乳房电脑断层摄影系统 |
CN107871166B (zh) * | 2016-09-27 | 2020-08-21 | 第四范式(北京)技术有限公司 | 针对机器学习的特征处理方法及特征处理系统 |
US11039801B2 (en) * | 2019-07-02 | 2021-06-22 | GE Precision Healthcare LLC | Systems and methods for high-resolution spectral computed tomography imaging |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007333734A (ja) * | 2006-06-16 | 2007-12-27 | General Electric Co <Ge> | 調節自在型の作用面積を有する電極アセンブリを備えたx線検出器 |
JP2009078143A (ja) * | 2007-09-26 | 2009-04-16 | General Electric Co <Ge> | エネルギ識別データを自在にまとめる方法及び装置 |
JP2012189391A (ja) * | 2011-03-09 | 2012-10-04 | Toshiba Corp | 陽電子放出コンピュータ断層撮影装置 |
JP2013007585A (ja) * | 2011-06-22 | 2013-01-10 | Toshiba Corp | 陽電子放出コンピュータ断層撮影装置及びX線CT(ComputedTomography)装置 |
WO2013030708A2 (en) * | 2011-08-30 | 2013-03-07 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Photon counting detector |
WO2013157448A1 (ja) * | 2012-04-20 | 2013-10-24 | ソニー株式会社 | 半導体光検出装置および放射線検出装置 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6362482B1 (en) * | 1997-09-16 | 2002-03-26 | Advanced Scientific Concepts, Inc. | High data rate smart sensor technology |
EP2028509A1 (en) * | 2007-08-09 | 2009-02-25 | European Organisation for Nuclear Research CERN | Radiation monitoring device |
US8198577B2 (en) * | 2009-02-25 | 2012-06-12 | Caeleste Cvba | High dynamic range analog X-ray photon counting |
-
2014
- 2014-05-30 WO PCT/JP2014/064489 patent/WO2014196479A1/ja active Application Filing
- 2014-05-30 JP JP2014113447A patent/JP6355973B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2015
- 2015-12-02 US US14/956,983 patent/US10185044B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007333734A (ja) * | 2006-06-16 | 2007-12-27 | General Electric Co <Ge> | 調節自在型の作用面積を有する電極アセンブリを備えたx線検出器 |
JP2009078143A (ja) * | 2007-09-26 | 2009-04-16 | General Electric Co <Ge> | エネルギ識別データを自在にまとめる方法及び装置 |
JP2012189391A (ja) * | 2011-03-09 | 2012-10-04 | Toshiba Corp | 陽電子放出コンピュータ断層撮影装置 |
JP2013007585A (ja) * | 2011-06-22 | 2013-01-10 | Toshiba Corp | 陽電子放出コンピュータ断層撮影装置及びX線CT(ComputedTomography)装置 |
WO2013030708A2 (en) * | 2011-08-30 | 2013-03-07 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Photon counting detector |
WO2013157448A1 (ja) * | 2012-04-20 | 2013-10-24 | ソニー株式会社 | 半導体光検出装置および放射線検出装置 |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10524745B2 (en) | 2015-11-02 | 2020-01-07 | Canon Medical Systems Corporation | Data acquisition device, X-ray CT apparatus, and nuclear medicine diagnostic apparatus |
JP2019503215A (ja) * | 2016-01-14 | 2019-02-07 | プリズマティック、センサーズ、アクチボラグPrismatic Sensors Ab | X線検出器用の測定回路、ならびに対応する方法およびx線撮像システム |
JP2017144213A (ja) * | 2016-02-19 | 2017-08-24 | 東芝メディカルシステムズ株式会社 | X線診断装置及びx線ct装置 |
JP2020044328A (ja) * | 2018-08-31 | 2020-03-26 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | 被写体を撮像するためのシステムおよび方法 |
JP2020143933A (ja) * | 2019-03-04 | 2020-09-10 | 株式会社リガク | 放射線検出器および放射線検出方法 |
JP7088555B2 (ja) | 2019-03-04 | 2022-06-21 | 株式会社リガク | 放射線検出器および放射線検出方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US10185044B2 (en) | 2019-01-22 |
JP6355973B2 (ja) | 2018-07-11 |
US20160081637A1 (en) | 2016-03-24 |
WO2014196479A1 (ja) | 2014-12-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6355973B2 (ja) | フォトンカウンティング装置 | |
JP6242683B2 (ja) | X線ct装置及び制御方法 | |
JP6289108B2 (ja) | フォトンカウンティングct装置及びフォトンカウンティングctデータ処理方法 | |
JP5917157B2 (ja) | X線ct装置 | |
US8160200B2 (en) | Method and system for image data acquisition | |
JP6289223B2 (ja) | X線コンピュータ断層撮影装置 | |
JP6415867B2 (ja) | X線ct装置及び医用画像診断装置 | |
US9778379B2 (en) | Photon-counting X-ray CT apparatus and photon-counting X-ray diagnostic apparatus | |
JP6104528B2 (ja) | X線コンピュータ断層撮影装置 | |
JP5653121B2 (ja) | X線ct装置、方法およびプログラム | |
JP2005305026A (ja) | X線コンピュータ断層撮影装置 | |
CN104039230A (zh) | X射线ct装置 | |
JP6933471B2 (ja) | 光子計数型検出器及びx線ct装置 | |
JP6580836B2 (ja) | フォトンカウンティングct装置 | |
JP2018139760A (ja) | X線撮像装置 | |
JP6466119B2 (ja) | X線コンピュータ断層撮影装置、医用画像処理装置および医用画像処理方法 | |
JP2022013739A (ja) | X線ct装置及び方法 | |
JP6873739B2 (ja) | X線コンピュータ断層撮影装置およびx線検出器 | |
JP7337596B2 (ja) | X線撮影装置、医用情報処理装置、x線検出器及びx線検出器の補正方法 | |
US20160274251A1 (en) | Photon detector, radiation analyzer, and computer program product | |
US20230277152A1 (en) | Adaptive data acquisition for computed tomography systems | |
JP2020022669A (ja) | 放射線撮像装置および放射線撮像装置の制御方法 | |
JP2014226410A (ja) | X線コンピュータ断層撮影装置 | |
CN117179799A (zh) | 用于计算机断层摄影的系统和方法 | |
JP2020078462A (ja) | X線診断システム及び再構成処理システム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20160512 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20170516 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20180515 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20180613 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6355973 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |