JP2015010845A5 - - Google Patents

Description

本発明の目的を達成するために、例えば、本発明の情報処理装置は以下の構成を備える。すなわち、
所定パターンの投影光を測定対象物体上に投影する投影装置と、前記投影光が投影された前記測定対象物体を撮像する撮像装置と、前記撮像装置が撮像した撮像画像を用いて前記測定対象物体の距離情報を計測する計測手段とを備える計測システムにおける、前記投影装置による投影光量を決定する情報処理装置であって、
前記投影装置に対する測定対象物体の概略的な位置を示す位置情報を取得する位置情報取得手段と、
前記位置情報に従い、前記投影光の前記測定対象物体への入射領域を推定し、当該推定された入射領域から前記撮像装置へと向かう反射光の光量が所定範囲に入るように、前記投影光の領域ごとに投影光量を決定する決定手段と、
を備えることを特徴とする。

Claims (15)

1. 所定パターンの投影光を測定対象物体上に投影する投影装置と、前記投影光が投影された前記測定対象物体を撮像する撮像装置と、前記撮像装置が撮像した撮像画像を用いて前記測定対象物体の距離情報を計測する計測手段とを備える計測システムにおける、前記投影装置による投影光量を決定する情報処理装置であって、
   前記投影装置に対する測定対象物体の概略的な位置を示す位置情報を取得する位置情報取得手段と、
   前記位置情報に従い、前記投影光の前記測定対象物体への入射領域を推定し、当該推定された入射領域から前記撮像装置へと向かう反射光の光量が所定範囲に入るように、前記投影光の領域ごとに投影光量を決定する決定手段と、
   を備えることを特徴とする情報処理装置。
2. 前記決定手段は、前記投影光の入射位置における前記測定対象物体の反射率の大きさを示す情報に従って、前記投影光量を決定することを特徴とする、請求項１に記載の情報処理装置。
3. 前記決定手段は、前記測定対象物体の領域ごとに予め用意された反射率の大きさを示す情報のうち、前記投影光の入射位置に対応する入射領域についての反射率の大きさを示す情報に従って、前記投影光量を決定することを特徴とする、請求項１に記載の情報処理装置。
4. 前記決定手段は、前記投影光の入射領域と前記投影装置との間の距離に従って、前記投影光量を決定することを特徴とする、請求項１乃至３の何れか１項に記載の情報処理装置。
5. 前記決定手段は、前記投影光の入射領域における前記測定対象物体への前記投影光の入射角度に従って、前記投影光量を決定することを特徴とする、請求項１乃至３の何れか１項に記載の情報処理装置。
6. 前記決定手段は、前記投影光の入射領域における前記測定対象物体への前記投影光の入射角度と、前記入射領域からの前記撮像装置への反射光の反射角度と、に従って前記投影光量を決定することを特徴とする、請求項１乃至３の何れか１項に記載の情報処理装置。
7. 前記投影光が入射していない状態で、前記測定対象物体上の各領域から前記撮像装置へと向かう、環境光の反射光の光量を取得する環境光量取得手段をさらに備え、
   前記決定手段は、前記入射領域から前記撮像装置へと向かう、前記投影光の反射光の光量と前記環境光の反射光の光量との和が前記所定範囲に入るように、前記投影光の領域ごとに投影光量を決定することを特徴とする、請求項１乃至６の何れか１項に記載の情報処理装置。
8. 前記位置情報は、前記測定対象物体の形状及び位置姿勢に関する情報を示すことを特徴とする、請求項１乃至７の何れか１項に記載の情報処理装置。
9. 前記位置情報は、前記測定対象物体上の各点への概略距離を示すことを特徴とする、請求項１乃至７の何れか１項に記載の情報処理装置。
10. 所定パターンの投影光を測定対象物体上に投影する投影装置と、前記投影光が投影された前記測定対象物体を撮像する撮像装置と、前記撮像装置が撮像した撮像画像を用いて前記測定対象物体の距離情報を計測する計測手段とを備える計測システムにおける、前記投影装置による投影光量を決定する情報処理装置であって、
    前記投影装置に対する測定対象物体の概略的な位置を示す位置情報を取得する位置情報取得手段と、
    前記位置情報に従い、前記投影光の前記測定対象物体への入射領域を推定し、当該投影光の入射領域において予め用意された測定対象物体の反射率と、当該投影光の入射領域から前記投影装置への距離と、当該投影光の入射領域への入射角度と、当該投影光の入射領域から前記撮像装置への反射角度と、前記投影光の入射領域から前記撮像装置へと向かう環境光の反射光の光量と、のうちの少なくとも１つを参照して、前記投影光の領域ごとに投影光量を決定する決定手段と、
    を備えることを特徴とする情報処理装置。
11. 所定パターンの投影光を測定対象物体上に投影する投影装置と、
    前記投影光が投影された前記測定対象物体を撮像する撮像装置と、
    前記撮像装置が撮像した撮像画像を用いて前記測定対象物体の距離情報を計測する計測手段と、
    前記投影装置による投影光量を決定する、請求項１乃至１０の何れか１項に記載の情報処理装置と、
    を備えることを特徴とする計測システム。
12. 請求項１１に記載の計測システムと、
    可動軸を有するロボットと、
    前記計測手段が計測した距離に従って前記ロボットの位置姿勢を制御する制御手段と、
    を備えることを特徴とする制御システム。
13. 所定パターンの投影光を測定対象物体上に投影する投影装置と、前記投影光が投影された前記測定対象物体を撮像する撮像装置と、前記撮像装置が撮像した撮像画像を用いて前記測定対象物体の距離情報を計測する計測手段とを備える計測システムにおける、前記投影装置による投影光量を決定する情報処理装置が行う情報処理方法であって、
    前記投影装置に対する測定対象物体の概略的な位置を示す位置情報を取得する位置情報取得工程と、
    前記位置情報に従い、前記投影光の前記測定対象物体への入射領域を推定し、当該推定された入射領域から前記撮像装置へと向かう反射光の光量が所定範囲に入るように、前記投影光の領域ごとに投影光量を決定する決定工程と、
    を備えることを特徴とする情報処理方法。
14. 所定パターンの投影光を測定対象物体上に投影する投影装置と、前記投影光が投影された前記測定対象物体を撮像する撮像装置と、前記撮像装置が撮像した撮像画像を用いて前記測定対象物体の距離情報を計測する計測手段とを備える計測システムにおける、前記投影装置による投影光量を決定するコンピュータに、
    前記投影装置に対する測定対象物体の概略的な位置を示す位置情報を取得する位置情報取得工程と、
    前記位置情報に従い、前記投影光の前記測定対象物体への入射領域を推定し、当該推定された入射領域から前記撮像装置へと向かう反射光の光量が所定範囲に入るように、前記投影光の領域ごとに投影光量を決定する決定工程と、
    を実行させるためのプログラム。
15. 請求項１４に記載のプログラムを格納した、コンピュータが読み取り可能な記憶媒体。