JP2015004533A - 光学干渉計 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光学干渉計100は、光源101と、第1のワイヤーグリッド偏光板111と、第2のワイヤーグリッド偏光板112と、を有する。第1のワイヤーグリッド偏光板111は、p偏光の光を透過させ、s偏光の光を反射する。第2のワイヤーグリッド偏光板112は、p偏光の光を透過させ、s偏光の光を反射する。導光手段(121、122、131、132)により、ワークWの第1の面S1により反射されたp偏光の光L1、及び、第1のワイヤーグリッド偏光板111により反射されたs偏光の光L2を第2のワイヤーグリッド偏光板112に導く。
【選択図】図1
Description
干渉性の高い光を発する光源と、
前記光源からの第1の偏光方向の光を透過させ、かつ、前記第1の偏光方向に直交する第2の偏光方向の光を反射させる特性を有し、ワークの第1の面側に配設された第1の偏光分離手段と、
前記第1の偏光方向の光を透過させ、かつ、前記第2の偏光方向の光を反射させる特性を有し、前記ワークの第2の面側に配設された第2の偏光分離手段と、
前記第1の偏光分離手段を透過した後に前記ワークの第1の面により反射された第1反射光と、前記第1の偏光分離手段により反射された第2反射光とを前記第2の偏光分離手段へと導く導光手段と、
前記第1反射光が前記第2の偏光分離手段を透過した後に前記ワークの第2の面により反射された第3反射光と、前記第2反射光が前記第2の偏光分離手段により反射された第4反射光とを、干渉させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、
前記干渉光生成手段によって生成された干渉光を検出する干渉光検出手段と、
を有する。
干渉性の高い光を発する光源と、
前記光源からの第1の偏光方向の光を透過させ、かつ、前記第1の偏光方向に直交する第2の偏光方向の光を反射させる特性を有し、ワークの第1の面側に配設された第1の偏光分離手段と、
前記第1の偏光方向の光を反射させ、かつ、前記第2の偏光方向の光を透過させる特性を有し、前記ワークの第2の面側に配設された第2の偏光分離手段と、
前記第1の偏光分離手段を透過した後に前記ワークの第1の面により反射された第1反射光と、前記第1の偏光分離手段により反射された第2反射光とを前記第2の偏光分離手段へと導く導光手段と、
前記第2反射光が前記第2の偏光分離手段を透過した後に前記ワークの第2の面により反射された第3反射光と、前記第1反射光が前記第2の偏光分離手段により反射された第4反射光とを、干渉させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、
前記干渉光生成手段によって生成された干渉光を検出する干渉光検出手段と、
を有する。
前記第1の偏光分離手段及び前記第2の偏光分離手段の少なくとも一方が、光軸を回転中心として回転可能に設けられていることを特徴とする光学干渉計
であってもよい。
前記第1の偏光分離手段及び前記第2の偏光分離手段がワイヤーグリッド偏光板であることを特徴とするものであってもよい。
[実施の形態1]
図1に示すように、本発明の実施の形態1にかかる光学干渉計100は、光源101と、第1のワイヤーグリッド偏光板111と、第2のワイヤーグリッド偏光板112と、第1のビームスプリッタ121と、第2のビームスプリッタ122と、第1のミラー131と、第2のミラー132と、干渉光生成手段140と、干渉光検出手段150と、を備える。
また、第1の導光手段により光源101から第1の偏光分離手段へと導かれた後に、第1の偏光分離手段を透過してワークWの第1の面S1により反射された光を第1反射光L1、第1の導光手段により光源101から第1の偏光分離手段へと導かれた後に、第1の偏光分離手段により反射された光を第2反射光L2とする。第1のミラー131、第1のビームスプリッタ121、第2のビームスプリッタ122及び第2のミラー132は、第1反射光L1及び第2反射光L2を第2のワイヤーグリッド偏光板(第2の偏光分離手段)112へと導く、第2の導光手段として機能する。
また、第3のワイヤーグリッド偏光板を紙面垂直方向から光軸を中心として45°ワイヤーを傾けて固定することにより、第3のワイヤーグリッド偏光板の第3反射光L3の透過率と第4反射光L4の透過率を等しくできる。これにより、効率よく干渉光を生成できる。
この場合、第1反射光L1と第2反射光L2との間には、ワークWの第1の面S1と第1のワイヤーグリッド偏光板111との間隔pRの2倍の光路差が生じる。
この場合、第3反射光L3と第4反射光L4との間には、ワークWの第2の面S2と第2のワイヤーグリッド偏光板112との間隔pLの2倍の光路差が新たに生じる。
光学干渉計100の厚み測定モードから変位測定モードに切り替える際に、第2のワイヤーグリッド偏光板112が回転する様子を、図4に模式図として示す。
図5(a)は、ワークWの厚みがゼロで、かつ、第1のワイヤーグリッド偏光板111及び第2のワイヤーグリッド偏光板112を透過してワークWの両面で反射される光線を仮定した場合の光路長P00を示す。図5(b)は、第1のワイヤーグリッド偏光板111により反射された後に、第2のワイヤーグリッド偏光板112を透過して、ワークWの第2の面S2により反射されたs偏光成分の光路長P23を示す。図5(c)は、第1のワイヤーグリッド偏光板111を透過してワークWの第1の面S1により反射された後に、第2のワイヤーグリッド偏光板112により反射されたp偏光成分の光路長P14を示す。
=2{pR0−α−(pL0+α)}
=2(pR0−pL0−2α)・・・・・(5)
次に、本発明の第2実施形態を説明する。図7に第2実施形態にかかる光学干渉計700を示す。光学干渉計700は、光源101と、第1のワイヤーグリッド偏光板111と、第2のワイヤーグリッド偏光板112と、第1のビームスプリッタ121と、第2のビームスプリッタ122と、第1のミラー131と、干渉光生成手段140と、干渉光検出手段150と、を備える。
また、第1の導光手段により光源101から第1の偏光分離手段へと導かれた後に、第1の偏光分離手段を透過してワークWの第1の面S1により反射された光を第1反射光L1、第1の導光手段により光源101から第1の偏光分離手段へと導かれた後に、第1の偏光分離手段により反射された光を第2反射光L2とする。第1のビームスプリッタ121、第1のミラー131、及び第2のビームスプリッタ122は、第1反射光L1及び第2反射光L2を第2のワイヤーグリッド偏光板(第2の偏光分離手段)112へと導く、第2の導光手段として機能する。
この場合、第1反射光L1と第2反射光L2との間には、ワークWの第1の面S1と第1のワイヤーグリッド偏光板111との間隔pRの2倍の光路差が生じる。
この場合、第3反射光L3と第4反射光L4との間には、ワークWの第2の面S2と第2のワイヤーグリッド偏光板112との間隔pLの2倍の光路差が新たに生じる。
ワイヤーグリッド偏光板111、112が光軸を中心として傾いた透過軸を持つ場合であっても、第1のワイヤーグリッド偏光板111のワイヤーと第2のワイヤーグリッド偏光板112のワイヤーとが直交した状態に配置されているときには、実施の形態と同様に本発明は成立する。
また、図8に示すように、ワイヤーグリッド偏光板111、112に代えて、偏光ビームスプリッタ801と反射鏡802とを組み合わせて、偏光分離手段として用いてもよい。
101 光源
111 第1のワイヤーグリッド偏光板
112 第2のワイヤーグリッド偏光板
121 第1のビームスプリッタ
122 第2のビームスプリッタ
131 第1のミラー
132 第2のミラー
140 干渉光生成手段
150 干渉光検出手段
700 実施の形態2にかかる光学干渉計
Claims (4)
- 干渉性の高い光を発する光源と、
前記光源からの第1の偏光方向の光を透過させ、かつ、前記第1の偏光方向に直交する第2の偏光方向の光を反射させる特性を有し、ワークの第1の面側に配設された第1の偏光分離手段と、
前記第1の偏光方向の光を透過させ、かつ、前記第2の偏光方向の光を反射させる特性を有し、前記ワークの第2の面側に配設された第2の偏光分離手段と、
前記第1の偏光分離手段を透過した後に前記ワークの第1の面により反射された第1反射光と、前記第1の偏光分離手段により反射された第2反射光とを前記第2の偏光分離手段へと導く導光手段と、
前記第1反射光が前記第2の偏光分離手段を透過した後に前記ワークの第2の面により反射された第3反射光と、前記第2反射光が前記第2の偏光分離手段により反射された第4反射光とを、干渉させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、
前記干渉光生成手段によって生成された干渉光を検出する干渉光検出手段と、
を有する光学干渉計。 - 干渉性の高い光を発する光源と、
前記光源からの第1の偏光方向の光を透過させ、かつ、前記第1の偏光方向に直交する第2の偏光方向の光を反射させる特性を有し、ワークの第1の面側に配設された第1の偏光分離手段と、
前記第1の偏光方向の光を反射させ、かつ、前記第2の偏光方向の光を透過させる特性を有し、前記ワークの第2の面側に配設された第2の偏光分離手段と、
前記第1の偏光分離手段を透過した後に前記ワークの第1の面により反射された第1反射光と、前記第1の偏光分離手段により反射された第2反射光とを前記第2の偏光分離手段へと導く導光手段と、
前記第2反射光が前記第2の偏光分離手段を透過した後に前記ワークの第2の面により反射された第3反射光と、前記第1反射光が前記第2の偏光分離手段により反射された第4反射光とを、干渉させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、
前記干渉光生成手段によって生成された干渉光を検出する干渉光検出手段と、
を有する光学干渉計。 - 請求項1又は2に記載の光学干渉計であって、前記第1の偏光分離手段及び前記第2の偏光分離手段の少なくとも一方が、光軸を回転中心として回転可能に設けられていることを特徴とする光学干渉計。
- 前記第1の偏光分離手段及び前記第2の偏光分離手段がワイヤーグリッド偏光板であることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の光学干渉計。
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---|---|---|---|---|
JP2003329422A (ja) * | 2002-05-13 | 2003-11-19 | Kobe Steel Ltd | 形状測定装置 |
JP2007017178A (ja) * | 2005-07-05 | 2007-01-25 | Mitsutoyo Corp | 厚み測定機 |
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2013
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