JP2014525516A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2014525516A5
JP2014525516A5 JP2014528522A JP2014528522A JP2014525516A5 JP 2014525516 A5 JP2014525516 A5 JP 2014525516A5 JP 2014528522 A JP2014528522 A JP 2014528522A JP 2014528522 A JP2014528522 A JP 2014528522A JP 2014525516 A5 JP2014525516 A5 JP 2014525516A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
target
coupled
cooling ring
cap
refrigerant
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2014528522A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2014525516A (ja
Filing date
Publication date
Priority claimed from US13/584,972 external-priority patent/US9096927B2/en
Application filed filed Critical
Publication of JP2014525516A publication Critical patent/JP2014525516A/ja
Publication of JP2014525516A5 publication Critical patent/JP2014525516A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Description

いくつかの実施形態においては、キャップ122が、冷媒チャネル116、117を覆うために本体125に結合されてもよい。キャップ122は、冷媒の漏れを防止するのに適した任意の態様で本体125に結合されてもよい。いくつかの実施形態においては、キャップ122は、真空ろう付けもしくは非真空ろう付け、電子ビーム溶接、または接着剤もしくは他の結合剤等々により、本体125に結合されてもよい。いくつかの実施形態においては、キャップ122は、マグネトロンアセンブリ136のシャフト170を受けるのを容易にするための中央穴124を有するプレートまたはディスクであってもよい。代替的には、インサート(図示せず)が、1つまたは複数の冷媒チャネル116、117を封止するために用意されてもよい。いくつかの実施形態においては、インサートは、電子ビーム溶接、TIG溶接、レーザ溶接、またはろう付け等々の任意の適切な方法により、キャップ122の下方の1つまたは複数の冷媒チャネル116、117内に溶接されてもよい。
いくつかの実施形態においては、本体125およびキャップ122は、銅、アルミニウム、青銅、真鍮、ステンレス鋼、またはそれらの合金(銅クロム合金など)等々の中の少なくとも1つから製造されてもよい。本体125およびキャップ122は、同一の材料から作製されてもよく、または異なる材料から作製されてもよい。本体125および/またはキャップがアルミニウムから作製される実施形態においては、腐食防止コーティングが、冷媒による腐食を防止するために、冷媒チャネル116、117に対して施されてもよく、また任意で冷媒チャネル116、117に接するキャップ122の表面に対して施されてもよい。1つのかかるコーティングの一例は、Henkel Technologiesの登録商標であるAlodine(登録商標)である。いくつかの実施形態においては、本体125およびキャップ122の外側表面には、例えば本体125およびキャップ122のRF伝導性を向上させるために、銀めっきが施されてもよい。
図2Aは、本発明のいくつかの実施形態による、冷媒チャネル116を備える冷却リング118の概略底面図を示す。図2Bは、本発明のいくつかの実施形態による、冷媒チャネル116を備える冷却リング118の側方断面図を示す。
例えば、回転自在マグネトロンアセンブリ136は、ターゲット106(または存在する場合にはバッキングプレート)の裏面(例えばキャップ側表面132)の近傍に位置決めされてもよい。回転自在マグネトロンアセンブリ136は、ベースプレート上に配置された複数の磁石を備える回転磁石アセンブリ168を備える。回転磁石アセンブリ168は、回転を実現するためにシャフト170に結合される。いくつかの実施形態においては、シャフト170は、PVDチャンバ100の中心軸と合致してもよい。いくつかの実施形態(図示せず)においては、回転シャフト170は、PVDチャンバ100の中心軸に対して偏心的に配設されてもよい。モータ172が、マグネトロンアセンブリ136の回転を駆動するために回転シャフト170の上方端部に結合され得る。接地シールド140は、回転シャフト170をキャップ122の穴124に貫通させベースプレートに連結させるための中央開口115を有する。いくつかの実施形態においては、回転シャフト170は、RFエネルギーがシャフト170を上ってモータ172へと伝搬するのを防止するために、絶縁体120を備える。回転磁石アセンブリ168は、PVDチャンバ100内においてターゲット106の表面に対してほぼ平行な近傍位置に磁場を発生させて、電子を捕獲し局所プラズマ密度を上昇させ、それによって、スパッタリング速度を上昇させる。回転磁石アセンブリ168は、PVDチャンバ100の上部の周囲に電磁場を発生させ、回転磁石アセンブリ168は、ターゲット106をより均一にスパッタするようにプロセスのプラズマ密度に影響を及ぼす電磁場が回転するように回転される。

Claims (15)

  1. 物理気相堆積チャンバ内のターゲットを冷却するための冷却リングであって、
    中央開口を有する環状本体と、
    前記本体に結合された入口ポートと、
    前記本体に結合された出口ポートと、
    前記冷媒リングを通して冷媒を流すために前記本体内に配設され、前記入口ポートに結合された第1の端部および前記出口ポートに結合された第2の端部を有する、冷媒チャネルと、
    前記本体に結合され、前記中央開口にわたって実質的に広がり、中央穴を備えるキャップと
    を備える、冷却リング。
  2. 前記本体は、銅、アルミニウム、または青銅の中の少なくとも1つから作製される、請求項1に記載の冷却リング。
  3. 前記キャップは、銅、アルミニウム、または青銅の中の少なくとも1つから作製される、請求項2に記載の冷却リング。
  4. 前記本体および前記キャップは、銀めっきを施される、請求項3に記載の冷却リング。
  5. 前記冷媒チャネルは、前記本体の外方周囲に沿って配設される、請求項1に記載の冷却リング。
  6. 前記本体内に配設された複数の冷媒チャネル
    をさらに備える、請求項1に記載の冷却リング。
  7. 前記キャップは、前記冷媒チャネルを封止するのに十分なように前記本体に結合される、請求項1に記載の冷却リング。
  8. 物理気相堆積システムにおいて使用するためのターゲットアセンブリであって、
    基板上に堆積される原料を含むターゲットと、
    前記ターゲットに結合された、請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の冷却リングと、
    前記ターゲットの裏側に隣接し、前記冷却リングの内側壁部により少なくとも部分的に画成された中央空洞部であって、回転自在磁石アセンブリを収容するようにサイズ設定された中央空洞部と
    を備える、ターゲットアセンブリ。
  9. 前記ターゲットは、前記原料に結合され前記原料を支持するバッキングプレートを備え、前記冷却リングは、前記ターゲットの前記バッキングプレートに結合される、請求項8に記載のターゲットアセンブリ。
  10. 前記空洞部は、前記キャップのターゲット側表面と、前記ターゲットのキャップ側表面と、前記冷却リングの前記本体とにより画成される、請求項8に記載のターゲットアセンブリ。
  11. 前記冷媒入口ポートに結合された冷媒源をさらに備える、請求項8に記載のターゲットアセンブリ。
  12. 前記ターゲットアセンブリに結合されたRF源をさらに備える、請求項8に記載のターゲットアセンブリ。
  13. 前記空洞部内に配設された回転自在磁石アセンブリと、
    前記回転自在磁石アセンブリに結合されたシャフトであって、前記キャップの中央穴を貫通して配設されるシャフトと
    をさらに備える、請求項8に記載のターゲットアセンブリ。
  14. 物理気相堆積チャンバ内において基板を処理する方法であって、
    前記物理気相堆積チャンバ内に配設されたターゲットから材料をスパッタさせることにより、前記物理気相堆積チャンバ内に支持された前記基板の上に前記材料を堆積させることと、
    前記基板の対向側の前記ターゲットの側部に結合された冷却リングの本体内に配設された冷媒チャネルを通して冷媒を流すことと
    を含む、方法。
  15. 前記冷媒チャネルは、前記冷却リングの前記本体の周囲部に前記冷媒を循環させる、請求項14に記載の方法。
JP2014528522A 2011-09-02 2012-08-28 物理気相堆積チャンバターゲット用の冷却リング Pending JP2014525516A (ja)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201161530922P 2011-09-02 2011-09-02
US61/530,922 2011-09-02
US13/584,972 2012-08-14
US13/584,972 US9096927B2 (en) 2011-09-02 2012-08-14 Cooling ring for physical vapor deposition chamber target
PCT/US2012/052680 WO2013033102A1 (en) 2011-09-02 2012-08-28 Cooling ring for physical vapor deposition chamber target

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017082646A Division JP2017133111A (ja) 2011-09-02 2017-04-19 物理気相堆積チャンバターゲット用の冷却リング

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014525516A JP2014525516A (ja) 2014-09-29
JP2014525516A5 true JP2014525516A5 (ja) 2015-09-10

Family

ID=47752280

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014528522A Pending JP2014525516A (ja) 2011-09-02 2012-08-28 物理気相堆積チャンバターゲット用の冷却リング
JP2017082646A Pending JP2017133111A (ja) 2011-09-02 2017-04-19 物理気相堆積チャンバターゲット用の冷却リング

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017082646A Pending JP2017133111A (ja) 2011-09-02 2017-04-19 物理気相堆積チャンバターゲット用の冷却リング

Country Status (6)

Country Link
US (1) US9096927B2 (ja)
JP (2) JP2014525516A (ja)
KR (2) KR20140057376A (ja)
CN (1) CN103764869B (ja)
TW (1) TWI557251B (ja)
WO (1) WO2013033102A1 (ja)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20140147593A1 (en) * 2012-11-27 2014-05-29 Intermolecular, Inc. Liquid Cooled Sputter Apertured Shields
US20150354054A1 (en) * 2014-06-06 2015-12-10 Applied Materials, Inc. Cooled process tool adapter for use in substrate processing chambers
US10546733B2 (en) * 2014-12-31 2020-01-28 Applied Materials, Inc. One-piece process kit shield
US10662529B2 (en) * 2016-01-05 2020-05-26 Applied Materials, Inc. Cooled gas feed block with baffle and nozzle for HDP-CVD
US10471542B1 (en) * 2017-06-27 2019-11-12 United States Of America As Represented By The Administrator Of Nasa Cladding and freeform deposition for coolant channel closeout
US11189472B2 (en) 2017-07-17 2021-11-30 Applied Materials, Inc. Cathode assembly having a dual position magnetron and centrally fed coolant
US10513432B2 (en) 2017-07-31 2019-12-24 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Anti-stiction process for MEMS device
WO2020160757A1 (en) * 2019-02-05 2020-08-13 Applied Materials, Inc. Deposition apparatus and method for monitoring the same
US11492697B2 (en) 2020-06-22 2022-11-08 Applied Materials, Inc. Apparatus for improved anode-cathode ratio for rf chambers
US11948784B2 (en) 2021-10-21 2024-04-02 Applied Materials, Inc. Tilted PVD source with rotating pedestal

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4060470A (en) * 1974-12-06 1977-11-29 Clarke Peter J Sputtering apparatus and method
ATE10512T1 (de) * 1980-08-08 1984-12-15 Battelle Development Corporation Vorrichtung zur beschichtung von substraten mittels hochleistungskathodenzerstaeubung sowie zerstaeuberkathode fuer diese vorrichtung.
JPH02285069A (ja) * 1989-04-25 1990-11-22 Tokyo Electron Ltd スパッタ装置
JPH02301558A (ja) * 1989-05-15 1990-12-13 Tokyo Electron Ltd スパッタ装置
JP2746695B2 (ja) * 1989-10-20 1998-05-06 東京エレクトロン株式会社 スパッタ装置及びスパッタ方法
US6689254B1 (en) 1990-10-31 2004-02-10 Tokyo Electron Limited Sputtering apparatus with isolated coolant and sputtering target therefor
US5267607A (en) * 1991-05-28 1993-12-07 Tokyo Electron Limited Substrate processing apparatus
JP3036895B2 (ja) * 1991-05-28 2000-04-24 東京エレクトロン株式会社 スパッタ装置
JPH06172988A (ja) * 1992-12-01 1994-06-21 Nissin Electric Co Ltd スパッタターゲットのバッキングプレート
US5487822A (en) * 1993-11-24 1996-01-30 Applied Materials, Inc. Integrated sputtering target assembly
WO1997003221A1 (en) * 1995-07-10 1997-01-30 Cvc Products, Inc. Magnetron cathode apparatus and method for sputtering
US6039848A (en) 1995-07-10 2000-03-21 Cvc Products, Inc. Ultra-high vacuum apparatus and method for high productivity physical vapor deposition.
JPH10287975A (ja) 1997-04-16 1998-10-27 Sony Corp スパッタリング装置及びスパッタリング装置用バッキングプレート
US5953827A (en) 1997-11-05 1999-09-21 Applied Materials, Inc. Magnetron with cooling system for process chamber of processing system
US6117245A (en) * 1998-04-08 2000-09-12 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for controlling cooling and heating fluids for a gas distribution plate
JP4435896B2 (ja) * 1999-03-17 2010-03-24 キヤノンアネルバ株式会社 高周波スパッタリング装置及び薄膜作成方法
US6228236B1 (en) 1999-10-22 2001-05-08 Applied Materials, Inc. Sputter magnetron having two rotation diameters
US6641701B1 (en) * 2000-06-14 2003-11-04 Applied Materials, Inc. Cooling system for magnetron sputtering apparatus
TW200300951A (en) * 2001-12-10 2003-06-16 Tokyo Electron Ltd Method and device for removing harmonics in semiconductor plasma processing systems
JP4563760B2 (ja) * 2004-09-24 2010-10-13 株式会社日立国際電気 半導体製造装置及び半導体装置の製造方法
JP4957992B2 (ja) * 2006-12-26 2012-06-20 株式会社Jvcケンウッド マグネトロンスパッタリング装置及びそれを用いた成膜方法
JP5427572B2 (ja) * 2009-12-01 2014-02-26 昭和電工株式会社 マグネトロンスパッタ装置、インライン式成膜装置、磁気記録媒体の製造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2014525516A5 (ja)
US9096927B2 (en) Cooling ring for physical vapor deposition chamber target
US9812303B2 (en) Configurable variable position closed track magnetron
US8968536B2 (en) Sputtering target having increased life and sputtering uniformity
CN101855383B (zh) 溅镀装置及溅镀成膜方法
CN105408514A (zh) 具有背部冷却槽的溅射靶材
US20080264783A1 (en) Sputtering target fixture
TWI468539B (zh) 用於支撐可旋轉靶材的裝置及濺射設備
US9754771B2 (en) Encapsulated magnetron
JP5390796B2 (ja) マグネトロンスパッタ方法及びマグネトロンスパッタ装置
TW201610195A (zh) 用於可旋轉陰極之遮蔽裝置及可旋轉靶及用於遮蔽在沈積設備中的暗區區域之方法
US8052852B2 (en) Magnetron sputtering cathode mechanism
WO2020137027A1 (ja) スパッタリング装置及びスパッタリング方法
CN207581908U (zh) 一种用于铝板加工防偏转多弧离子复合镀膜机
CN204918740U (zh) 一种真空镀膜设备
JP2001064773A (ja) 強磁性体のマグネトロンスパッタ装置
TW202013431A (zh) 用於半導體處理室中的磁控管組件的方法及裝置
TW202045751A (zh) 物理氣相沉積裝置
CN105018883A (zh) 一种真空镀膜设备
KR20070059514A (ko) 이온 플레이팅장치의 금속타겟용 자속유도구