JP2014518379A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2014518379A5
JP2014518379A5 JP2014515284A JP2014515284A JP2014518379A5 JP 2014518379 A5 JP2014518379 A5 JP 2014518379A5 JP 2014515284 A JP2014515284 A JP 2014515284A JP 2014515284 A JP2014515284 A JP 2014515284A JP 2014518379 A5 JP2014518379 A5 JP 2014518379A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
electrodes
detector
sample holder
tracer particles
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2014515284A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2014518379A (ja
JP6023184B2 (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority claimed from PCT/GB2012/051336 external-priority patent/WO2012172330A1/en
Publication of JP2014518379A publication Critical patent/JP2014518379A/ja
Publication of JP2014518379A5 publication Critical patent/JP2014518379A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6023184B2 publication Critical patent/JP6023184B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Claims (38)

  1. 試料の表面電荷を測定する装置であって、
    対向する一対の電極を有する試料ホルダであって、前記試料の平坦な表面が前記電極表面と直角に位置合わせされるように、前記電極間の測定ボリューム内の位置に前記試料を保持する構成にされる試料ホルダと、
    液体電解質を収容するための測定チャンバであって、前記試料ホルダを受容して前記電極を事前設定された向きに配置するように構成された開口端を有する測定チャンバと、
    前記試料ホルダが前記測定チャンバに受容される際に、前記測定チャンバを通るレーザ光線を、前記電極間に、かつ前記試料の前記平坦な表面に平行に向けるように配置及び構成されたレーザ光源と、
    前記測定ボリュームからの散乱光を検出するように配置及び構成された検出器と、
    を備え、
    前記装置は、前記試料の前記表面からの複数距離の範囲にわたって、前記検出器による前記散乱光の検出を可能とするように構成される装置。
  2. 請求項1に記載の装置であって、
    前記装置は、前記検出器によって前記レーザ光線と前記試料の前記平坦な表面との間の複数距離の範囲にわたって散乱光を検出するために、前記レーザ光線と試料ホルダとの相対運動を可能とする構成にされる装置。
  3. 請求項1に記載の装置であって、
    前記レーザ光源は、前記試料表面からの複数距離の前記範囲にわたって広がる、幅を有する前記光線を提供するように構成される装置。
  4. 求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の装置であって、
    前記レーザ光源は、前記測定チャンバを通る複数の光線を提供するように構成される装置。
  5. 求項1〜請求項4のいずれか一項に記載の装置であって、
    前記検出器は、前記試料表面からの複数距離の前記範囲にわたる複数の検出地点からの散乱光を検出するように構成される装置。
  6. 求項1〜請求項5のいずれか一項に記載の装置であって、
    前記試料ホルダは、第1の部分と第2の部分とを備え、前記一対の電極は、前記第2の部分の遠位端に配置される装置。
  7. 請求項6に記載の装置であって、
    前記試料ホルダは、前記第2の部分を前記第1の部分に対して移動させるための作動機構を備える装置。
  8. 請求項7に記載の装置であって、
    前記作動機構は、前記電極表面に平行な方向、すなわち前記試料の前記表面に直交する方向に、前記第2の部分を前記第1の部分に対して移動させるように構成される装置。
  9. 請求項7又は請求項8に記載の装置であって、
    前記作動機構は、前記第1の部分に対する前記第2の部分の直線移動のための回転可能な要素を備える装置。
  10. 請求項9に記載の装置であって、
    前記回転可能な要素は、校正済みマイクロメータねじである装置。
  11. 求項1〜請求項10のいずれか一項に記載の装置であって、
    前記試料ホルダは、前記試料が前記測定チャンバに対して2以上の異なる位置の夫々に配置されるように、2以上の異なる向きで前記測定チャンバに配置される構成にされる装置。
  12. 請求項11に記載の装置であって、
    前記試料ホルダは、第1及び第2の互いに異なる向きの間で前記電極が180度回転するように構成される装置。
  13. 請求項11又は請求項12に記載の装置であって、
    前記試料ホルダ及び測定チャンバは、対応する形状の階段状係合面を備え、前記階段状係合面が互いに係合される時に前記2以上の異なる向きを提供する装置。
  14. 求項1〜請求項13のいずれか一項に記載の装置であって、
    校正用治具を備え、前記校正用治具は、前記試料ホルダを所定位置に保持するように構成され、前記電極間の位置にある前記試料表面は、前記校正用治具によって規定される前記試料ホルダの前記第1の部分に対して所定の位置に移動可能である装置。
  15. 求項1〜請求項14のいずれか一項に記載の装置であって、
    前記装置は、前記電極間の前記測定ボリュームにおける、前記液体電解質中に懸濁したトレーサ粒子の動きの大きさを、前記検出器によって検出された散乱光から測定するように構成される装置。
  16. 請求項15に記載の装置であって、
    粒子の動きの測定値は、前記散乱光のドップラー解析によって求められる装置。
  17. 請求項15又は請求項16に記載の装置であって、
    前記レーザ光線と前記試料表面との間の異なる複数の相対距離での、トレーサ粒子の動きの2以上の測定値の外挿によって、前記試料の表面電位の大きさを測定するように構成される装置。
  18. 求項1〜請求項17のいずれか一項に記載の装置であって、
    前記対向する一対の電極に交流電圧を印加するように構成されて、前記検出器による前記散乱光の検出の間、前記電極間に前記試料の前記平坦な表面を横断する交番電界を提供する装置。
  19. 請求項18に記載の装置であって、
    前記交流電圧は、持続時間が75ms以上の半サイクルを備える装置。
  20. 請求項19に記載の装置であって、
    前記半サイクルは、持続時間が75msと1200msとの間である装置。
  21. 試料の表面電荷を測定する方法であって、
    対向する一対の電極を有する試料ホルダであって、前記試料の平坦な表面が前記電極表面と直角に位置合わせされるように、前記電極間の測定ボリューム内の位置に保持された前記試料を有する試料ホルダを提供するステップと、
    液体電解質を収容する測定チャンバの開口端に、前記試料ホルダを受容して、事前設定された向きに前記電極を配置するステップと、
    前記試料ホルダが前記測定チャンバに受容された状態で前記測定チャンバを通るレーザ光源からの光線を、前記電極間に、かつ前記試料の前記平坦な表面に平行に向けるステップと、
    前記測定ボリュームにおいて、前記液体電解質中に懸濁したトレーサ粒子からの散乱光を、検出器を用いて検出するステップと、
    を含み、
    前記レーザ光線と前記試料の前記平坦な表面との間の複数距離の範囲にわたって、散乱光が前記検出器によって検出される方法。
  22. トレーサ粒子を用いて試料の表面のゼータ電位を測定するゼータ電位測定装置であって、
    第1の電極表面と、
    前記第1の電極表面から第1の軸に沿って隔てられた第2の電極表面と、
    前記第1及び第2の電極間の測定ボリュームを規定する容器と、
    前記測定ボリュームに隣接する前記試料を、前記第1及び第2の電極間の位置で保持するためのホルダと、
    前記測定ボリューム内の1以上の位置に応答する光検出器であって、前記測定ボリューム内の前記複数の異なる位置における前記トレーサ粒子の動きを検出するように機能する光検出器と、
    を備える装置。
  23. 請求項22に記載の装置であって、
    前記試料と前記検出器との間に設けられた動力機構を更に備えて、前記試料と前記検出器との間の相対運動を引き起こし、前記検出器を複数の前記位置に対して応答可能にする装置。
  24. 請求項23に記載の装置であって、
    前記動力機構は、手動で駆動される装置。
  25. 請求項24に記載の装置であって、
    前記動力機構は、ジョグルベースである装置。
  26. 請求項23に記載の装置であって、
    前記動力機構は、電気的に駆動される装置。
  27. 請求項22に記載の装置であって、
    前記検出器は、自己相関PALS検出器である装置。
  28. 請求項22に記載の装置であって、
    前記複数の異なる位置で記録された電位及び変位の差異に基づいて、前記ゼータ電位を計算するように機能するプロセッサを更に備える装置。
  29. 請求項22に記載の装置であって、
    前記電極表面は平行であり、
    前記複数の位置は、前記第1の軸に直交する第2の軸に沿って配置される装置。
  30. 請求項22に記載の装置であって、
    前記第1及び第2の電極、前記容器、及び前記ホルダは全て、前記検出器を備える計器内に位置するように構成された、取り外し可能なキュベットに保持される装置。
  31. トレーサ粒子を用いて試料の表面のゼータ電位測定値を得る方法であって、
    前記試料を電解液に接触させるステップと、
    トレーサ粒子を前記電解液に導入するステップと、
    前記電解液を横断する電界を印加するステップと、
    前記電解液内の1以上の位置における前記トレーサ粒子の変位を測定するステップと、
    を含む方法。
  32. 請求項31に記載の方法であって、
    前記測定するステップの結果から、前記ゼータ電位を導出するステップを更に備える方法。
  33. 請求項31に記載の方法であって、
    前記方法は、塑性物質を含む試料に適用される方法。
  34. 請求項31に記載の方法であって、
    前記方法は、固体の生物系物質を含む試料に適用される方法。
  35. 請求項31に記載の方法であって、
    前記変位を測定するステップは、前記電解液内の少なくとも2つの位置において変位を測定する方法。
  36. 請求項31に記載の方法であって、
    前記変位を測定するステップは、前記電解液内の少なくとも3つの位置において変位を測定する方法。
  37. トレーサ粒子を用いて試料の表面のゼータ電位測定値を得る方法であって、
    懸濁したトレーサ粒子を有する電解液に前記試料を接触させる手段と、
    前記電解液を横断する電界を印加する手段と、
    前記電解液内の1以上の位置における前記トレーサ粒子の変位を測定する手段と、
    を含む方法。
  38. 請求項37に記載の方法であって、
    前記接触させる手段は、懸濁したトレーサ粒子を有する前記電解液を保持する手段と、前記保持する手段において所定位置で前記試料を保持する手段と、を含むディップセルを含む方法。
JP2014515284A 2011-06-15 2012-06-13 表面電荷測定 Active JP6023184B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201161497385P 2011-06-15 2011-06-15
US61/497,385 2011-06-15
PCT/GB2012/051336 WO2012172330A1 (en) 2011-06-15 2012-06-13 Surface charge measurement

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2014518379A JP2014518379A (ja) 2014-07-28
JP2014518379A5 true JP2014518379A5 (ja) 2015-06-25
JP6023184B2 JP6023184B2 (ja) 2016-11-09

Family

ID=46582723

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014515284A Active JP6023184B2 (ja) 2011-06-15 2012-06-13 表面電荷測定

Country Status (6)

Country Link
US (4) US9829525B2 (ja)
EP (1) EP2721399B1 (ja)
JP (1) JP6023184B2 (ja)
CN (2) CN103608671B (ja)
DK (1) DK2721399T3 (ja)
WO (1) WO2012172330A1 (ja)

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103954850B (zh) * 2014-04-22 2017-01-04 重庆大学 一种运动控制机构外置的表面电荷测量系统和测量方法
US11002655B2 (en) 2015-09-23 2021-05-11 Malvern Panalytical Limited Cuvette carrier
EP3353527B1 (en) 2015-09-23 2022-12-28 Malvern Panalytical Limited Particle characterisation
CN105628685B (zh) * 2015-12-30 2019-04-23 宁德时代新能源科技股份有限公司 一种锂离子电池芯中电解液分布的测定方法
GB201604460D0 (en) 2016-03-16 2016-04-27 Malvern Instr Ltd Dynamic light scattering
US10365198B2 (en) 2016-04-21 2019-07-30 Malvern Panalytical Limited Particle characterization
WO2018132306A1 (en) 2017-01-10 2018-07-19 Vermeer Manufacturing Company Systems and methods for dosing slurries to remove suspended solids
EP3379232A1 (en) 2017-03-23 2018-09-26 Malvern Panalytical Limited Particle characterisation
CN106950438B (zh) * 2017-04-28 2023-06-02 中国科学院地球化学研究所 非接触式空间粒子带电检测装置及方法
CN109358239A (zh) * 2018-10-17 2019-02-19 国网天津市电力公司电力科学研究院 一种用于交流电缆空间电荷测试的相位匹配电路
CN109557388A (zh) * 2018-11-23 2019-04-02 国网天津市电力公司电力科学研究院 基于lipp法的高分辨率空间电荷测试系统
CN110346657B (zh) * 2019-06-28 2021-09-03 同济大学 一种自适应调整电极夹具装置
CN110456171B (zh) * 2019-08-05 2020-11-06 清华大学 电晕放电导体表面电场强度的测量方法及装置
JP7440331B2 (ja) * 2020-04-16 2024-02-28 大塚電子株式会社 ゼータ電位測定用治具

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5214342A (en) * 1991-10-21 1993-05-25 Yang Kei Wean C Two-dimensional walker assembly for a scanning tunneling microscope
JP2924815B2 (ja) 1996-09-27 1999-07-26 日本電気株式会社 ゼータ電位測定装置
US6191853B1 (en) 1998-09-29 2001-02-20 Horiba, Ltd. Apparatus for measuring particle size distribution and method for analyzing particle size distribution
JP2001264282A (ja) * 2000-03-16 2001-09-26 Kobe Steel Ltd 金属材表面のゼータ電位測定方法およびゼータ電位測定装置、金属材の表面特性の評価方法
GB2361772B (en) * 2000-04-29 2004-05-19 Malvern Instr Ltd Mobility and effects arising from surface charge
JP4456301B2 (ja) * 2001-07-18 2010-04-28 株式会社堀場製作所 粒子径分布測定装置
KR100486730B1 (ko) * 2003-01-21 2005-05-03 삼성전자주식회사 교류 전압과 t 채널을 이용하여 제타 포텐셜을 측정하는방법
JP4334899B2 (ja) 2003-02-25 2009-09-30 大塚電子株式会社 電気泳動速度測定装置
US7217921B2 (en) * 2004-01-22 2007-05-15 Thermo Finnigan Llc Method and apparatus for FAIMS for in-line analysis of multiple samples
US20080208511A1 (en) * 2005-03-07 2008-08-28 Michael Trainer Methods and apparatus for determining characteristics of particles
JP4528014B2 (ja) * 2004-04-05 2010-08-18 株式会社日立ハイテクノロジーズ 試料検査方法
BRPI0402805A (pt) * 2004-05-25 2006-01-17 Jose Augusto Pedro Lima Sistema para medição de propriedades térmicas de fluidos
US7295311B2 (en) * 2004-12-01 2007-11-13 Particle Sizing Systems, Inc. Methods and apparatus for electrophoretic mobility determination using phase light scattering analysis
JP4944859B2 (ja) * 2008-09-26 2012-06-06 株式会社堀場製作所 粒子物性測定装置
US9341564B2 (en) 2008-10-09 2016-05-17 Malvern Instruments, Ltd. Apparatus for high-throughput suspension measurements
JP2010101705A (ja) * 2008-10-22 2010-05-06 Horiba Ltd 粒子物性測定装置
US8441638B2 (en) 2010-02-26 2013-05-14 Wyatt Technology Corporation Apparatus to measure particle mobility in solution with scattered and unscattered light
JP5411096B2 (ja) 2010-08-31 2014-02-12 株式会社堀場製作所 粒子物性測定セル及び粒子物性測定装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2014518379A5 (ja)
US11079420B2 (en) Surface charge measurement
Otto et al. Optical tweezers with 2.5 kHz bandwidth video detection for single-colloid electrophoresis
JP6661198B2 (ja) 粒子分析装置
ES2126591T3 (es) Metodos y aparato para ensayos mejorados de electroquimioluminiscencia.
ATE430313T1 (de) Testelement-analysesystem mit hartstoffbeschichteten kontaktflächen
CN105388127A (zh) 一种全钒液流电池各离子浓度的在线检测方法和系统
RU2017109736A (ru) Способы и системы обнаружения аналитов
CN104076053A (zh) 异物检测装置
RU2011134865A (ru) Протокол смешанного возбуждения для устройства магнитного биодатчика
JP4019379B2 (ja) 力学物性の計測方法および装置
JP2010276338A (ja) 粒子測定方法および装置
JP2016133408A (ja) コンクリート比抵抗測定装置
JP5381941B2 (ja) 粒度分布測定装置
JP4826780B2 (ja) ナノ粒子の測定方法および装置
CN110057788B (zh) 纳米材料吸光度测试装置、稳定期测试方法、系统及装置
CN203025127U (zh) 一种双光路x射线无损检测装置
TWI418817B (zh) Hall effect measurement device with light measurement function
CN203870009U (zh) 一种用于太赫兹时域光谱测量装置中的插片式夹具
CN212433045U (zh) 一种液流电池电极活性面积检测装置
JP5720504B2 (ja) 粒子径測定装置
KR20220047420A (ko) 개별 나노입자 특성 검출 장치 및 개별 나노입자 특성 검출 방법
TW201712330A (zh) 電化學感測試片之檢測方法及檢測裝置
JPH01316659A (ja) チタン材中の水素吸蔵量検出方法
JP2012117988A5 (ja)