JP6023184B2 - 表面電荷測定 - Google Patents
表面電荷測定 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6023184B2 JP6023184B2 JP2014515284A JP2014515284A JP6023184B2 JP 6023184 B2 JP6023184 B2 JP 6023184B2 JP 2014515284 A JP2014515284 A JP 2014515284A JP 2014515284 A JP2014515284 A JP 2014515284A JP 6023184 B2 JP6023184 B2 JP 6023184B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- electrodes
- sample holder
- flat surface
- measurement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/24—Arrangements for measuring quantities of charge
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/416—Systems
- G01N27/447—Systems using electrophoresis
- G01N27/44704—Details; Accessories
- G01N27/44717—Arrangements for investigating the separated zones, e.g. localising zones
- G01N27/44721—Arrangements for investigating the separated zones, e.g. localising zones by optical means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume, or surface-area of porous materials
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/49—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
- G01N21/51—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid inside a container, e.g. in an ampoule
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/49—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
- G01N21/51—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid inside a container, e.g. in an ampoule
- G01N2021/513—Cuvettes for scattering measurements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/416—Systems
- G01N27/447—Systems using electrophoresis
Description
本発明は、表面の特性を判定する方法及び装置に関する。例示的な実施形態は、ディップセル構成における電気浸透流の測定によって表面ゼータ電位を判定する方法及び装置を含む。
電解液中で物質の表面電位又は電荷を測定するのに、公知である流動電位の現象が通常用いられる。キャピラリーフローの微細粒子分散液での測定結果が、表面電荷を判定するのに用いられ得る。測定技術は、そのような測定に専ら特化された専門的な装置を通常用いる。キャピラリーフロー又は分散粒子を用いた測定では、試料物質が、便利に又は簡単に準備できるとは限らない特定のフォーマットであることが必要とされ得る。
[発明の概要]
本発明のいくつかの態様が、本出願において提示される。本発明の態様のうち少なくとも一部に係るシステムは、それらのシステムが、便利、正確、かつ信頼性のある、試料の表面電位の測定方法を提供し得るという点において有利となり得る。
対向する一対の電極を有する試料ホルダであって、試料の平坦な表面が電極表面と直角に位置合わせされるように、電極間の測定ボリューム内の位置に試料を保持する構成にされる試料ホルダと、
液体電解質を収容するための測定チャンバであって、試料ホルダを受容して電極を事前設定された向きに配置するように構成された開口端を有する測定チャンバと、
試料ホルダが測定チャンバに受容される際に、測定チャンバを通る光線を、電極間に、かつ試料の平坦な表面に平行に向けるように配置及び構成されたレーザ光源と、
測定ボリュームからの散乱光を検出するように配置及び構成された検出器と、を備え、
この装置は、試料の表面からの複数距離の範囲にわたって、検出器による散乱光の検出を可能とするように構成される。
対向する一対の電極を有する試料ホルダであって、試料の平坦な表面が電極表面と直角に位置合わせされるように、電極間の測定ボリューム内の位置に保持された試料を有する試料ホルダを提供するステップと、
液体電解質を収容する測定チャンバの開口端に、試料ホルダを受容して、事前設定された向きに電極を配置するステップと、
試料ホルダが測定チャンバに受容された状態で測定チャンバを通るレーザ光源からの光線を、電極間に、かつ試料の平坦な表面に平行に向けるステップと、
測定ボリュームにおいて、液体電解質中に懸濁したトレーサ粒子からの散乱光を、検出器を用いて検出するステップと、を含み、
レーザ光線と試料の平坦な表面との間の複数距離の範囲にわたって、散乱光が検出器によって検出される。
本発明のさらなる態様に従って提供されるのは、トレーサ粒子を用いて試料の表面のゼータ電位を測定するゼータ電位測定装置であって、この装置は、
第1の電極表面と、
第1の電極表面から第1の軸に沿って隔てられた第2の電極表面と、
第1及び第2の電極間の測定ボリュームを規定する容器と、
測定ボリュームに隣接する試料を、第1及び第2の電極間の位置で保持するためのホルダと、
測定ボリューム内の1以上の位置に応答する光検出器であって、測定ボリューム内の複数の異なる位置におけるトレーサ粒子の動きを検出するように機能する光検出器と、を備える。
電極表面は平行であってもよく、複数の位置は、第1の軸に直交する第2の軸に沿って配置されてもよい。
本発明のさらなる態様に従って提供されるのは、トレーサ粒子を用いて試料の表面のゼータ電位測定値を得る方法であって、この方法は、
試料を電解液に接触させるステップと、
トレーサ粒子を電解液に導入するステップと、
電解液を横断する電界を印加するステップと、
電解液内の1以上の位置におけるトレーサ粒子の変位を測定するステップと、を含む。
この方法は、塑性(plastic)物質を含む試料に適用されてもよい。この方法は、固体の生物系物質を含む試料に適用されてもよい。
本発明のさらなる態様に従って提供されるのは、トレーサ粒子を用いて試料の表面のゼータ電位測定値を得る方法であって、この方法は、
懸濁したトレーサ粒子を有する電解液に試料を接触させる手段と、
電解液を横断する電界を印加する手段と、
電解液内の1以上の位置におけるトレーサ粒子の変位を測定する手段と、を含む。
本発明の態様及び実施形態を、例として、以下の添付図面を参照しながら、以下に更に詳細に説明する。
[1] C. Werner, H. Korber, R. Zimmerman, S. Dukhin, H.-J. Jacobasch, “Extended electrokinetic characterisation of flat solid surfaces”, J. Colloid Interface Sci. 208 (1998) 329-346.
[2] T. Ishido, H.J. Mizutanio, J. Geophys. Res. 86 (1981) 1763-1775.
[3] I. Gusev, C.J. Horvath, J. Chromatogr. A 948 (2002) 203-223.
[4] J. Hoggard, P. Sides, D. Prieve, Langmuir 21 (16) (2005) 7433-7438.
[5] C.J. Evenhuis, R.M. Guijt, M. Macka, P.J. Marriot, P.R. Haddad, Electrophoresis 27 (2006) 672-676.
[6] J.C. Reijenga, G.V.A. Aben, T.P.M. Verheggen, F.M. Everaerts, J. Chromatogr. A 260 (1983) 241-254.
[7] W. Schutzner, E. Kenndler, Anal. Chem. 64 (1992) 1991-1995.
[8] M. Kosmulski, E. Matijevic, Langmuir 8 (1992) 1060-1064.
[9] A. Doren, J. Lemaitre, P.G. Rouxhet, J. Colloid Interface Sci. 130 (1989) 1.
[10] S. Nakamura, Membrane 30 (6) (2005) 344-347.
[11] R.J. Hunter, Zeta Potential in Colloid Science, Academic Press, 1981.
[12] K. Schatzel, J. Merz, “Measurement of small electrophoretic mobilites by light scattering and analysis of the amplitude weighted phase structure function”, J. Q3 Chem. Phys. 81 (5).
[13] B.J. Berne, R. Pecora, Dynamic Light Scattering, Dover, 2000.
[14] K. Schatzel, W. Wiese, A. Sobotta, M. Drewel, “Electroosmosis in an oscillating field: avoiding distortions in measured electrophoretic mobilities”, J. Colloid Interface Sci. 143 (1991) 287-293.
[15] M. Minor, A.J. van der Linde, H.P. van Leeuwen, J. Lyklema, “Dynamic aspects of electrophoresis and electroosmosis: a new fast method for measuring particle mobilities”, J. Colloid Interface Sci. 189 (1997) 370-375.
[16] P.J. Scales, F. Grieser, T.W. Healy, Langmuir 8 (1992) 965-974.
[17] J.Y. Chen, C.-H. Ko, S. Bhattacharjee, M. Elimelech, Colloids Surf. A: Phys. Eng. Aspects 191 (2001) 3.
[18] P.J. Sides, J. Newman, J.D. Hoggard, D. Prieve, Langmuir 22 (2006) 9765.
[19] P.J. Sides, D. Faruqui, A.J. Gellman, Langmuir 25 (2009) 1475-1481.
[20] S. Nishimura, P.J. Scales, H. Tateyama, K. Tsunematsu, T.W. Healy, Langmuir 11 (1995) 291.
[21] K.D. Lukacs, J.W. Jorgensen, J. High Resolut. Chromatogr. 8 (1985) 407-411.
[22] B. Kirby, E.F. Hasselbrink Jr., Electrophoresis 25 (2004) 187-202.
[23] M.A. Roberts, J.S. Rossier, P. Bercier, H. Girault, Anal. Chem. 69 (1997) 2035-2042.
[24] B. Kirby, E.F. Hasselbrink Jr., Electrophoresis 25 (2004) 203-213.
[25] S.A. Soper, A.C. Henry, B. Vaidya, M. Galloway, M. Wabuyele, R.L. McCarley, Anal. Chim. Acta 470 (2002) 87-99.
[26] Somasundaran P, Kulkani RD, J. Colloid Interface Sci., 45, (1973), 591-600.
[27] US 7,217,350
[28] US 7,449,097
[29] US 2011/0210002
[30] EP 2423671
[31] WO/2010/041082
[32] US 7,217,350
[33] US 7,295,311
[34] EP 0990888
[35] J.C.W. Corbett et al, “Measuring surface zeta potential using phase analysis light scattering in a simple dip cell arrangement”, Colloids and Surfaces A: Physicochemical and Engineering Aspects, Volume 396, 20 February 2012, Pages 169-176.
Claims (21)
- 試料の平坦な表面の電位を測定する装置であって、
対向する一対の電極を有する試料ホルダであって、前記試料の前記平坦な表面が前記電極表面と直角に位置合わせされるように、前記電極間の測定ボリューム内の位置に前記試料を保持する構成にされる試料ホルダと、
液体電解質を収容するための測定チャンバであって、前記試料ホルダを受容して前記電極を事前設定された向きに配置するように構成された開口端を有する測定チャンバと、
前記試料ホルダが前記測定チャンバに受容される際に、前記測定チャンバを通るレーザ光線を、前記電極間に、かつ前記試料の前記平坦な表面に平行に向けるように配置及び構成されたレーザ光源と、
前記測定ボリュームからの散乱光を検出するように配置及び構成された検出器と、
を備え、
前記装置は、前記試料の前記平坦な表面からの複数距離の範囲にわたって、前記検出器による前記散乱光の検出を可能とするように構成され、
前記試料ホルダは、静止部によって支持された作動機構を備え、前記作動機構が、前記静止部に対する前記試料の前記平坦な表面の位置を、前記平坦な表面に直交する方向に調整する装置。 - 請求項1に記載の装置であって、
前記装置は、前記検出器によって前記レーザ光線と前記試料の前記平坦な表面との間の複数距離の範囲にわたって散乱光を検出するために、前記レーザ光線と試料ホルダとの相対運動を可能とする構成にされる装置。 - 請求項1に記載の装置であって、
前記レーザ光源は、前記試料表面からの複数距離の前記範囲にわたって広がる、幅を有する前記光線を提供するように構成される装置。 - 請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の装置であって、
前記レーザ光源は、前記測定チャンバを通る複数の光線を提供するように構成される装置。 - 請求項1〜請求項4のいずれか一項に記載の装置であって、
前記検出器は、前記試料表面からの複数距離の前記範囲にわたる複数の検出地点からの散乱光を検出するように構成される装置。 - 請求項1〜請求項5のいずれか一項に記載の装置であって、
前記試料ホルダは、第1の部分と第2の部分とを備え、前記一対の電極は、前記第2の部分の遠位端に配置される装置。 - 請求項6に記載の装置であって、
前記作動機構は、前記第2の部分を前記第1の部分に対して移動させるように構成される装置。 - 請求項7に記載の装置であって、
前記作動機構は、前記電極表面に平行な方向、すなわち前記試料の前記表面に直交する方向に、前記第2の部分を前記第1の部分に対して移動させるように構成される装置。 - 請求項7又は請求項8に記載の装置であって、
前記作動機構は、前記第1の部分に対する前記第2の部分の直線移動のための回転可能な要素を備える装置。 - 請求項9に記載の装置であって、
前記回転可能な要素は、校正済みマイクロメータねじである装置。 - 請求項1〜請求項10のいずれか一項に記載の装置であって、
前記試料ホルダは、前記試料が前記測定チャンバに対して2以上の異なる位置の夫々に配置されるように、2以上の異なる向きで前記測定チャンバに配置される構成にされる装置。 - 請求項11に記載の装置であって、
前記試料ホルダは、第1及び第2の互いに異なる向きの間で前記電極が180度回転するように構成される装置。 - 請求項11又は請求項12に記載の装置であって、
前記試料ホルダ及び測定チャンバは、対応する形状の階段状係合面を備え、前記階段状係合面が互いに係合される時に前記2以上の異なる向きを提供する装置。 - 請求項1〜請求項13のいずれか一項に記載の装置であって、
校正用治具を備え、前記校正用治具は、前記試料ホルダを所定位置に保持するように構成され、前記電極間の位置にある前記試料の平坦な表面は、前記校正用治具によって規定される前記試料ホルダの前記第1の部分に対して所定の位置に移動可能である装置。 - 請求項1〜請求項14のいずれか一項に記載の装置であって、
前記装置は、前記電極間の前記測定ボリュームにおける、前記液体電解質中に懸濁したトレーサ粒子の動きの大きさを、前記検出器によって検出された散乱光から測定するように構成される装置。 - 請求項15に記載の装置であって、
粒子の動きの測定値は、前記散乱光のドップラー解析によって求められる装置。 - 請求項15又は請求項16に記載の装置であって、
前記レーザ光線と前記試料表面との間の異なる複数の相対距離での、トレーサ粒子の動きの2以上の測定値の外挿によって、前記試料の平坦な表面のゼータ電位を測定するように構成される装置。 - 請求項1〜請求項17のいずれか一項に記載の装置であって、
前記対向する一対の電極に交流電圧を印加するように構成されて、前記検出器による前記散乱光の検出の間、前記電極間に前記試料の前記平坦な表面を横断する交番電界を提供する装置。 - 請求項18に記載の装置であって、
前記交流電圧は、持続時間が75ms以上の半サイクルを備える装置。 - 請求項19に記載の装置であって、
前記半サイクルは、持続時間が75msと1200msとの間である装置。 - 試料の平坦な表面のゼータ電位を測定する方法であって、
対向する一対の電極を有し、前記試料の前記平坦な表面が前記電極表面と直角に位置合わせされるように、前記電極間の測定ボリューム内の位置に保持された前記試料を有する試料ホルダであって、静止部によって支持された作動機構を備え、前記作動機構が、前記静止部に対する前記試料の前記平坦な表面の位置を、前記平坦な表面に直交する方向に調整するように構成された試料ホルダを提供するステップと、
液体電解質を収容する測定チャンバの開口端に、前記試料ホルダを受容して、事前設定された向きに前記電極を配置するステップと、
前記試料ホルダが前記測定チャンバに受容された状態で前記測定チャンバを通るレーザ光源からの光線を、前記電極間に、かつ前記試料の前記平坦な表面に平行に向けるステップと、
前記測定ボリュームにおいて、前記液体電解質中に懸濁したトレーサ粒子からの散乱光を、検出器を用いて検出するステップと、
を含み、
前記レーザ光線と前記試料の前記平坦な表面との間の複数距離の範囲にわたって、散乱光が前記検出器によって検出される方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201161497385P | 2011-06-15 | 2011-06-15 | |
US61/497,385 | 2011-06-15 | ||
PCT/GB2012/051336 WO2012172330A1 (en) | 2011-06-15 | 2012-06-13 | Surface charge measurement |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014518379A JP2014518379A (ja) | 2014-07-28 |
JP2014518379A5 JP2014518379A5 (ja) | 2015-06-25 |
JP6023184B2 true JP6023184B2 (ja) | 2016-11-09 |
Family
ID=46582723
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014515284A Active JP6023184B2 (ja) | 2011-06-15 | 2012-06-13 | 表面電荷測定 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (4) | US9829525B2 (ja) |
EP (1) | EP2721399B1 (ja) |
JP (1) | JP6023184B2 (ja) |
CN (2) | CN103608671B (ja) |
DK (1) | DK2721399T3 (ja) |
WO (1) | WO2012172330A1 (ja) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103954850B (zh) * | 2014-04-22 | 2017-01-04 | 重庆大学 | 一种运动控制机构外置的表面电荷测量系统和测量方法 |
EP3353527B1 (en) | 2015-09-23 | 2022-12-28 | Malvern Panalytical Limited | Particle characterisation |
US11002655B2 (en) | 2015-09-23 | 2021-05-11 | Malvern Panalytical Limited | Cuvette carrier |
CN105628685B (zh) * | 2015-12-30 | 2019-04-23 | 宁德时代新能源科技股份有限公司 | 一种锂离子电池芯中电解液分布的测定方法 |
GB201604460D0 (en) | 2016-03-16 | 2016-04-27 | Malvern Instr Ltd | Dynamic light scattering |
US10365198B2 (en) | 2016-04-21 | 2019-07-30 | Malvern Panalytical Limited | Particle characterization |
US11130686B2 (en) | 2017-01-10 | 2021-09-28 | Vermeer Manufacturing Company | Systems and methods for dosing slurries to remove suspended solids |
EP3379232A1 (en) | 2017-03-23 | 2018-09-26 | Malvern Panalytical Limited | Particle characterisation |
CN106950438B (zh) * | 2017-04-28 | 2023-06-02 | 中国科学院地球化学研究所 | 非接触式空间粒子带电检测装置及方法 |
CN109358239A (zh) * | 2018-10-17 | 2019-02-19 | 国网天津市电力公司电力科学研究院 | 一种用于交流电缆空间电荷测试的相位匹配电路 |
CN109557388A (zh) * | 2018-11-23 | 2019-04-02 | 国网天津市电力公司电力科学研究院 | 基于lipp法的高分辨率空间电荷测试系统 |
CN110346657B (zh) * | 2019-06-28 | 2021-09-03 | 同济大学 | 一种自适应调整电极夹具装置 |
CN110456171B (zh) * | 2019-08-05 | 2020-11-06 | 清华大学 | 电晕放电导体表面电场强度的测量方法及装置 |
JP7440331B2 (ja) | 2020-04-16 | 2024-02-28 | 大塚電子株式会社 | ゼータ電位測定用治具 |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5214342A (en) * | 1991-10-21 | 1993-05-25 | Yang Kei Wean C | Two-dimensional walker assembly for a scanning tunneling microscope |
JP2924815B2 (ja) * | 1996-09-27 | 1999-07-26 | 日本電気株式会社 | ゼータ電位測定装置 |
EP0990888B1 (en) | 1998-09-29 | 2008-07-02 | Horiba, Ltd. | Apparatus and method for measuring a particle size distribution |
JP2001264282A (ja) * | 2000-03-16 | 2001-09-26 | Kobe Steel Ltd | 金属材表面のゼータ電位測定方法およびゼータ電位測定装置、金属材の表面特性の評価方法 |
GB2361772B (en) | 2000-04-29 | 2004-05-19 | Malvern Instr Ltd | Mobility and effects arising from surface charge |
JP4456301B2 (ja) * | 2001-07-18 | 2010-04-28 | 株式会社堀場製作所 | 粒子径分布測定装置 |
KR100486730B1 (ko) | 2003-01-21 | 2005-05-03 | 삼성전자주식회사 | 교류 전압과 t 채널을 이용하여 제타 포텐셜을 측정하는방법 |
JP4334899B2 (ja) | 2003-02-25 | 2009-09-30 | 大塚電子株式会社 | 電気泳動速度測定装置 |
US7135674B2 (en) * | 2004-01-22 | 2006-11-14 | Thermo Finnigan Llc | Method and apparatus for FAIMS with a laser-based ionization source |
US20080208511A1 (en) * | 2005-03-07 | 2008-08-28 | Michael Trainer | Methods and apparatus for determining characteristics of particles |
JP4528014B2 (ja) * | 2004-04-05 | 2010-08-18 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 試料検査方法 |
BRPI0402805A (pt) * | 2004-05-25 | 2006-01-17 | Jose Augusto Pedro Lima | Sistema para medição de propriedades térmicas de fluidos |
US7295311B2 (en) * | 2004-12-01 | 2007-11-13 | Particle Sizing Systems, Inc. | Methods and apparatus for electrophoretic mobility determination using phase light scattering analysis |
JP4944859B2 (ja) | 2008-09-26 | 2012-06-06 | 株式会社堀場製作所 | 粒子物性測定装置 |
WO2010041082A2 (en) | 2008-10-09 | 2010-04-15 | Malvern Instruments Limited | Apparatus for high-throughput suspension measurements |
JP2010101705A (ja) * | 2008-10-22 | 2010-05-06 | Horiba Ltd | 粒子物性測定装置 |
US8441638B2 (en) | 2010-02-26 | 2013-05-14 | Wyatt Technology Corporation | Apparatus to measure particle mobility in solution with scattered and unscattered light |
JP5411096B2 (ja) | 2010-08-31 | 2014-02-12 | 株式会社堀場製作所 | 粒子物性測定セル及び粒子物性測定装置 |
-
2012
- 2012-06-13 JP JP2014515284A patent/JP6023184B2/ja active Active
- 2012-06-13 WO PCT/GB2012/051336 patent/WO2012172330A1/en active Application Filing
- 2012-06-13 CN CN201280027695.1A patent/CN103608671B/zh active Active
- 2012-06-13 US US14/126,673 patent/US9829525B2/en active Active
- 2012-06-13 CN CN201610324224.7A patent/CN105891304B/zh active Active
- 2012-06-13 DK DK12740387.1T patent/DK2721399T3/en active
- 2012-06-13 EP EP12740387.1A patent/EP2721399B1/en active Active
-
2017
- 2017-01-25 US US15/415,852 patent/US20170356943A1/en not_active Abandoned
- 2017-10-21 US US15/789,984 patent/US10274528B2/en active Active
-
2019
- 2019-04-29 US US16/397,925 patent/US11079420B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2721399B1 (en) | 2017-04-19 |
US9829525B2 (en) | 2017-11-28 |
CN105891304B (zh) | 2018-10-23 |
DK2721399T3 (en) | 2017-07-10 |
CN103608671B (zh) | 2016-05-18 |
US20150022212A1 (en) | 2015-01-22 |
US20170356943A1 (en) | 2017-12-14 |
US20180059160A1 (en) | 2018-03-01 |
CN105891304A (zh) | 2016-08-24 |
US20200072888A1 (en) | 2020-03-05 |
EP2721399A1 (en) | 2014-04-23 |
US10274528B2 (en) | 2019-04-30 |
US11079420B2 (en) | 2021-08-03 |
CN103608671A (zh) | 2014-02-26 |
JP2014518379A (ja) | 2014-07-28 |
WO2012172330A1 (en) | 2012-12-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6023184B2 (ja) | 表面電荷測定 | |
Corbett et al. | Measuring surface zeta potential using phase analysis light scattering in a simple dip cell arrangement | |
EP2365327B1 (en) | Method and apparatus to measure the electrophoretic mobility of particles in solution | |
JP2014518379A5 (ja) | ||
Uzgiris | Laser Doppler methods in electrophoresis | |
US3870612A (en) | Analysis for polymer mixtures in solution utilizing electrophoretic light scattering apparatus | |
JP4727064B2 (ja) | 表面電荷に起因する移動度及び効果 | |
US3783117A (en) | Measurements of particles and molecules | |
JP6661198B2 (ja) | 粒子分析装置 | |
Smith et al. | Apparatus and methods for laser Doppler electrophoresis | |
Uzgiris | Laser doppler spectroscopy: Applications to cell and particle electrophoresis | |
Mohan et al. | Laser Doppler spectroscopy as applied to electrophoresis in protein solutions | |
JP3692983B2 (ja) | 蛍光測定方法及び蛍光測定装置 | |
GB2374148A (en) | Evaluating the glass transition temperature of a polymer part during use | |
Xu | Electrophoretic light scattering: Zeta potential measurement | |
JP2010101705A (ja) | 粒子物性測定装置 | |
Pesce et al. | Mapping electric fields generated by microelectrodes using optically trapped charged microspheres | |
JP2006153535A (ja) | 力学物性の計測方法および装置 | |
Haas et al. | Electrophoretic mobilities and diffusion coefficients of hemoglobin at high pH | |
CN212433045U (zh) | 一种液流电池电极活性面积检测装置 | |
Ware | THE INVENTION AND DEVELOPMENT OF ELECTROPHORETIC LIGHT-SCATTERING. | |
JPH10221307A (ja) | 表面探傷装置及び表面探傷方法 | |
Uyanik et al. | Electrocapillary curves for the polarisable liquid–liquid interface in presence of the peptide melittin | |
Zhao et al. | Counting Organelles: Direct Counting of Mitochondrial Numbers | |
Konstantinov et al. | Sample analysis and process visualization at liquid analytical electrophoresis in a flat capillary |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150501 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20150501 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160223 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20160224 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160523 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20160920 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20161006 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6023184 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |