JP2014508925A5

JP2014508925A5 - 電気光学流量測定装置

Info

Publication number: JP2014508925A5
Application number: JP2013552238A
Authority: JP
Filing date: 2011-11-15
Publication date: 2014-11-20
Anticipated expiration: 2031-11-15

Claims

特性化すべき流体の流れが循環する測定チャンバ（ＣＵＭ）と、別々のスペクトルの少なくとも２つの光源（Ｓ１，Ｓ２）と、抵抗率を測定するための装置（ＲＥＳ）と、各々が、光学パラメータの測定を可能にする少なくとも３つの他の検出器（Ｄ１，Ｄ２，Ｄ３）であって、それらの光学パラメータは、蛍光性（ＦＬ）、吸光度（ＥＸＴ）、広角回折（ＳＳＣ）および小角回折（ＦＳＣ）から選択されるようにした前記検出器とを具備する、微粒子の特性化のための電気光学流量測定装置であって、
前記電気光学流量測定装置は、
最長の波長を有し、かつ、最小のコヒーレントの第１の光源（Ｓ１）が、粒子の流れに直角な主光軸を画成し、前記主光軸は前記測定チャンバの両側に配置された２つの光学アセンブリを有し、そのうちの一方が、第１の光源（Ｓ１）によって放射されたビームを成形できる放射ガン（ＣＥ）であり、他方が、前記第１の光源（Ｓ１）によって放射された信号を集め、かつ、前記測定チャンバ（ＣＵＭ）の後方に配置される受光ガン（ＣＲ）であり、
最短の波長を有し、かつ、最大のコヒーレントの第２の光源（Ｓ２）が、前記主光軸と交差するとともに、前記粒子の流れに垂直である第２の光軸を画成し、
第１の検出器（Ｄ１）が、前記受光ガン（ＣＲ）の先端において、前記第１の光源（Ｓ１）に対向して配置されて光照射野機能を有しており、
前記受光ガン（ＣＲ）が、前記第１の光源（Ｓ１）と前記第１の検出器（Ｄ１）に向かう前記流れ中の前記粒子との相互作用によって生じたビームを集める集光光学系（ＯＣ）を具備し、それにより、伝達される光ビームがその光路の一部（ＣＣ）にわたって平行になるものであり、
第１のダイクロイックミラー（ＭＲ）が、前記第２の光源（Ｓ２）と、部分的に反射したビームの光路上に配置された前記第２の検出器（Ｄ２）に向かう前記流れの中の前記粒子との相互作用によって生じた前記光ビームを部分的に反射するように、前記光ビームが平行になる前記光路の部分（ＣＣ）に、前記第１のダイクロイックミラー（ＭＲ）が前記受光ガン（ＣＲ）内に配置され、
前記放射ガン（ＣＥ）は、前記第１の光源（Ｓ１）によって放射された前記ビームを成形するビーム成形光学系（ＯＭ）を具備し、それにより、前記光ビームがその光路の一部（ＣＭ）にわたって平行になり、
前記第２の光源（Ｓ２）と、前記部分的に反射したビームの光路上に配置された第３の検出器（Ｄ３）に向かう前記流れの中の前記粒子との相互作用によって生じたビームを部分的に反射するように、前記光ビームが平行になる前記光路の部分（ＣＭ）において、前記第１の光源（Ｓ１）と前記チャンバ（ＣＵＭ）との間の前記放射ガン（ＣＥ）内に第２のダイクロイックミラー（ＭＥ）が配置される装置。
回折／散乱検出器が、前記測定チャンバ（ＣＵＭ）の他方の側で前記第２の光源（Ｓ２）に対向して配置されることを特徴とする請求項１に記載の装置。
前記第１の検出器（Ｄ１）は、一方が吸光度測定（ＥＸＴ）であり、他方が回折（ＳＳＣ，ＦＳＣ）および蛍光性（ＦＬ）の中から選択される２種類の測定を実行することを可能にする切り替え可能な利得を有することを特徴とする請求項１又は２に記載の装置。
前記第１の検出器（Ｄ１）は吸光度測定（ＥＸＴ）を実行し、前記第２の検出器（Ｄ２）は広角回折測定（ＳＳＣ）を実行し、前記第３の検出器（Ｄ３）は蛍光性測定（ＦＬ１）を実行することを特徴とする請求項１から３の何れか一項に記載の装置。
前記第１の検出器（Ｄ１）は吸光度測定（ＥＸＴ）を実行し、前記第２の検出器（Ｄ２）は蛍光性測定（ＦＬ２）を実行し、前記第３の検出器（Ｄ３）は蛍光性測定（ＦＬ１）を実行することを特徴とする請求項１から請求項３の何れか一項に記載の装置。
前記２つのダイクロイックミラー（ＭＲ，ＭＥ）は、前記第２の光源（Ｓ２）の前記波長よりも長くかつ前記第１の光源（Ｓ１）の前記波長よりも短い波長の全反射を生じさせる同一の光学特性を有する請求項１から５の何れか一項に記載の装置。
少なくとも１つの他のダイクロイックミラーが、前記放射ガン（ＣＥ）および前記受光ガン（ＣＲ）のうちの少なくとも一方の内に付加されることを特徴とする請求項１から６の何れか一項に記載の装置。