JP2014219423A - 空隙配置構造体が保持された分光測定用デバイス、それに用いられる枠部材、および、分光器 - Google Patents
空隙配置構造体が保持された分光測定用デバイス、それに用いられる枠部材、および、分光器 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2014219423A JP2014219423A JP2014171392A JP2014171392A JP2014219423A JP 2014219423 A JP2014219423 A JP 2014219423A JP 2014171392 A JP2014171392 A JP 2014171392A JP 2014171392 A JP2014171392 A JP 2014171392A JP 2014219423 A JP2014219423 A JP 2014219423A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- arrangement structure
- frame member
- void
- gap
- gap arrangement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 title claims abstract description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 46
- 239000011800 void material Substances 0.000 claims description 38
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 26
- 239000011148 porous material Substances 0.000 claims description 3
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 74
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 74
- 238000000034 method Methods 0.000 description 17
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 14
- 238000000411 transmission spectrum Methods 0.000 description 14
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 13
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 8
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N nickel Substances [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 6
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 6
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 6
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 6
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 6
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 5
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000005323 electroforming Methods 0.000 description 4
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 3
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 3
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 3
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 235000012489 doughnuts Nutrition 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 2
- KERTUBUCQCSNJU-UHFFFAOYSA-L nickel(2+);disulfamate Chemical compound [Ni+2].NS([O-])(=O)=O.NS([O-])(=O)=O KERTUBUCQCSNJU-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 241000894006 Bacteria Species 0.000 description 1
- 229910007709 ZnTe Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 235000013305 food Nutrition 0.000 description 1
- 239000003574 free electron Substances 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 244000005700 microbiome Species 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 229920006122 polyamide resin Polymers 0.000 description 1
- 102000004169 proteins and genes Human genes 0.000 description 1
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0202—Mechanical elements; Supports for optical elements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
- G01J3/0227—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using notch filters
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3581—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using far infrared light; using Terahertz radiation
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
【解決手段】本発明は、枠部材、および、該枠部材によって保持された前記空隙配置構造体を含む分光測定用デバイスであって、前記空隙配置構造体は、複数の空隙を有し、照射された電磁波の中から特定の周波数を選択できるものであり、前記枠部材は、前記空隙配置構造体を張力を持たせた状態で保持することができる、分光測定用デバイスである。
【選択図】図7
Description
上記空隙配置構造体は、複数の空隙を有し、照射された電磁波の中から特定の周波数を選択できるものであり、
上記枠部材は、上記空隙配置構造体を張力を持たせた状態で保持することができる、分光測定用デバイスである。
上記第1の部品および上記第2の部品で上記空隙配置構造体を挟んで保持することのできるものであることが好ましい。
また、本発明は、上記の分光測定用デバイスを備えた分光器にも関する。
(空隙配置構造体)
本発明で取り扱う空隙配置構造体は、照射された電磁波の中から特定の周波数を選択できるものである。例えば、照射された電磁波のうち、特定の周波数の電磁波のみを透過させる構造体や、あるいは、特定の周波数の電磁波の強度を強め、それ以外の周波数の電磁波の強度を弱めるような構造体などの、周波数選択性を有する構造体が挙げられる。本発明の空隙配置構造体は、例えば、空隙を有する空隙配置構造体に被測定物を保持し、上記被測定物が保持された空隙配置構造体に電磁波を照射して、上記空隙配置構造体を透過した電磁波の周波数特性を検出することにより、被測定物の特性を測定する測定方法に用いられるものである。
本発明に用いられる枠部材は、上記空隙配置構造体を張力を持たせた状態で保持することのできる部材である。張力を持たせた状態とは、たわみのない状態であればよい。該枠部材は、空隙配置構造体と別の部材であってもよく、空隙配置構造体と一体化された部材であってもよい。
枠部材は、空隙配置構造体の複数の空隙の配列状態を示す表示部を備えることが好ましい。表示部は、例えば、空隙配置構造体と別の部材である枠部材の各部品のいずれかに設けられていてもよく、空隙配置構造体と一体化された周辺部である枠部材に設けられていてもよい。
さらに、本発明は、上記の分光測定用デバイスを備えた分光器にも関する。通常は、電磁波が照射される部位に取り付けられるステージと呼ばれる金属板等に、分光測定用デバイスが固定される。通常は、ステージの空隙配置構造体を取り付ける面は電磁波の進行方向に対して垂直である。分光測定用デバイスを分光器のステージへ固定する方法としては、特に限定されるものではないが、例えば、圧接部材や接着剤を用いる固定方法、ねじ止めによる固定方法を用いることができる。
<金属メッシュ>
本実施例では、空隙配置構造体として、全体がNiで形成された金属メッシュを使用した。金属メッシュ1の全体の形状は、図2の平面図に示すような直径23mmの円盤状であり、全体に複数の空隙が配置された空隙配置部11(直径15mmの円盤状部分)と、それを囲む外周部12(径方向の幅が4mmであるドーナツ形状(円環形状)部分)とからなる。
図5に、第1の部品3の斜視図(a)、正面図(b)、断面図(c)を示す。第1の部品3は、図5に示されるような内径14mm、外径23mm、厚み1.4mm(突起部を除く)の円環状の部品である。その周縁部には、突起部31が設けられている。突起部31の内径は22mm、外径は23mm、厚み0.1mm(全体として1.5mm)である。
図6に、第2の部品4の斜視図(a)、正面図(b)、断面図(c)を示す。第2の部品4は、図6に示されるような外径25mm、内径14mmの円環状の部品である。
上記金属メッシュの外周部の周縁部を、第2の部品に設けた溝に押し込み、第1の部品3に設けた突起部31を第2の部品4の溝421に嵌合させる。このとき、金属メッシュ1の外周部12に設けられたネジ孔13、第1の部品3に設けられたネジ孔32および第2の部品4に設けられたネジ孔44の位置が一致するように嵌合が行われ、金属メッシュ1、第1の部品3および第2の部品4は、それぞれのネジ孔13、32、44を通じてネジで固定された。このようにして枠部材に保持された金属板および枠部材からなる分光測定用デバイスを得た。
さらに、上記分光測定用デバイスの第2の部品4の外側面46を、分光器内に設置された直径14mmの円形の開口部(この開口部に電磁波が照射される)を有する金属板に、接着剤を用いて接着した。なお、分光測定用デバイスは、金属メッシュの空隙配置部が、金属板の開口部に位置するように配置された。
実施例1と同様の金属メッシュの外周部12を、分光器内に設置された直径14mmの円形の開口部を有する金属板に、直接接着剤で接着することにより固定し、実施例1と同様にして透過率スペクトルを測定した。
に示す。
本実施例では、図4(b)に示すような外周部12の厚みが450μmであること以外は実施例1と同様の金属メッシュを使用し、比較例1と同様にして、透過率スペクトルを測定した。測定結果の透過率スペクトル(平均とエラーバー)を図9(a)に示す。比較のために比較例1で得られた透過率スペクトルを図9(b)に示す。
なお、実施例2で用いた金属メッシュは、以下に説明する製造方法を用いて製造した。
図10(a)に示されるように、枠部材のうち第2の部品4の断面形状が斜めである(外側面46がその反対の面に対して傾斜している)枠部材を作製した。外側面46がその反対の面に対してなす角度は10度とした。この第2の部品を用いて、実施例1と同様の方法で分光測定用デバイスを作製し、電磁波の伝搬方向に対して垂直に配置された固定具(分光器内の金属板)に外側面46を固定して透過率スペクトルを測定した。
Claims (6)
- 枠部材、および、該枠部材によって保持された前記空隙配置構造体を含む分光測定用デバイスであって、
前記空隙配置構造体は、複数の空隙部が配置された空隙配置部と該空隙配置部を囲む外周部とを有し、
前記空隙部は、複数の交差を有する格子の間隙であり、
前記空隙配置構造体の厚さが、照射される電磁波の波長の10倍以下であり、
前記空隙部の格子間隔および孔サイズが、照射される電磁波の波長の10分の1以上、10倍以下であり、
照射された電磁波の中から特定の周波数を選択できるものであり、
前記枠部材が、第1の部品および第2の部品からなり、
前記第1の部品は突起部を有し、前記第2の部品は溝を有し、
前記突起部および前記溝部の間に前記空隙配置構造体の外周部を挟んで、前記突起部と前記溝部とを嵌合させることにより、前記空隙配置構造体が前記枠部材によって保持されている、分光測定用デバイス。 - 前記枠部材が、前記空隙配置構造体の前記複数の空隙の配列状態を示す表示部を備えた、請求項1に記載の分光測定用デバイス。
- 前記枠部材の少なくとも一方の主面が前記空隙配置構造体の主面に対して一定の角度で傾斜している、請求項1に記載の分光測定用デバイス。
- 前記第1部品と前記第2部品と前記空隙配置構造体の前記外周部とには、それぞれネジ孔が設けられており、前記第1の部品および前記第2の部品で前記空隙配置構造体の前記外周部を挟み、前記空隙配置構造体、前記第1の部品および前記第2の部品は、それぞれの前記ネジ孔を通じてネジで固定されている、請求項1に記載の分光測定用デバイス。
- 請求項1〜4のいずれかに記載の分光測定用デバイスに用いられる枠部材。
- 請求項1〜4のいずれかに記載の分光測定用デバイスを備えた分光器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014171392A JP2014219423A (ja) | 2009-12-09 | 2014-08-26 | 空隙配置構造体が保持された分光測定用デバイス、それに用いられる枠部材、および、分光器 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009279238 | 2009-12-09 | ||
JP2009279238 | 2009-12-09 | ||
JP2014171392A JP2014219423A (ja) | 2009-12-09 | 2014-08-26 | 空隙配置構造体が保持された分光測定用デバイス、それに用いられる枠部材、および、分光器 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011545104A Division JP5605372B2 (ja) | 2009-12-09 | 2010-07-28 | 空隙配置構造体が保持された分光測定用デバイス、それに用いられる枠部材、および、分光器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014219423A true JP2014219423A (ja) | 2014-11-20 |
Family
ID=44145371
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011545104A Expired - Fee Related JP5605372B2 (ja) | 2009-12-09 | 2010-07-28 | 空隙配置構造体が保持された分光測定用デバイス、それに用いられる枠部材、および、分光器 |
JP2014171392A Pending JP2014219423A (ja) | 2009-12-09 | 2014-08-26 | 空隙配置構造体が保持された分光測定用デバイス、それに用いられる枠部材、および、分光器 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011545104A Expired - Fee Related JP5605372B2 (ja) | 2009-12-09 | 2010-07-28 | 空隙配置構造体が保持された分光測定用デバイス、それに用いられる枠部材、および、分光器 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (2) | JP5605372B2 (ja) |
WO (1) | WO2011070817A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021081214A (ja) * | 2019-11-14 | 2021-05-27 | 株式会社豊田中央研究所 | 試料ホルダ、赤外線吸収分光光度計及び赤外線吸収スペクトルの測定方法 |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5828899B2 (ja) * | 2011-09-06 | 2015-12-09 | 株式会社村田製作所 | 測定用デバイス、および、それを用いた被測定物の特性測定方法 |
WO2013128707A1 (ja) * | 2012-02-29 | 2013-09-06 | 株式会社村田製作所 | 被測定物の特性を測定するための測定装置 |
JP6024756B2 (ja) * | 2012-09-27 | 2016-11-16 | 株式会社村田製作所 | 空隙配置構造体及びその製造方法、並びに測定装置及び測定方法 |
WO2014132714A1 (ja) * | 2013-02-27 | 2014-09-04 | 株式会社村田製作所 | 空隙配置構造体及び測定方法 |
CN105264356B (zh) * | 2013-05-31 | 2017-10-27 | 株式会社村田制作所 | 测定方法 |
WO2015005088A1 (ja) * | 2013-07-09 | 2015-01-15 | 株式会社村田製作所 | 測定装置及びその製造方法 |
WO2015008618A1 (ja) * | 2013-07-19 | 2015-01-22 | 株式会社村田製作所 | 空隙配置構造体及びその製造方法並びに測定用デバイス |
JPWO2015174162A1 (ja) * | 2014-05-13 | 2017-04-20 | 株式会社村田製作所 | 金属メッシュデバイス |
JP5880803B1 (ja) * | 2014-07-18 | 2016-03-09 | 株式会社村田製作所 | 固定器具および金属メッシュデバイス |
JP6443604B1 (ja) * | 2017-03-10 | 2018-12-26 | 株式会社村田製作所 | 細胞濾過フィルタ |
Citations (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1172607A (ja) * | 1997-07-08 | 1999-03-16 | Nec Corp | 高光透過開口アレイ |
US6280690B1 (en) * | 1997-12-30 | 2001-08-28 | Jay Tadion | Methods and apparatus for obtaining transmission spectra of liquid and solid samples |
JP2004219916A (ja) * | 2003-01-17 | 2004-08-05 | Pentax Corp | ファインダのスーパーインポーズ板 |
JP2005015887A (ja) * | 2003-06-27 | 2005-01-20 | Taiyo Kagaku Kogyo Kk | バレルメッキ装置及びバレルメッキシステム |
JP2005345191A (ja) * | 2004-06-01 | 2005-12-15 | Pola Chem Ind Inc | 角層細胞の非染色観察方法 |
JP2006256335A (ja) * | 2001-01-16 | 2006-09-28 | Hirotake Kasuya | 印刷用スクリーン版及び印刷用スクリーン版製造方法 |
JP2006343572A (ja) * | 2005-06-09 | 2006-12-21 | Wintek Corp | 光学フィルム |
JP2007038191A (ja) * | 2005-08-05 | 2007-02-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | フィルター |
JP2007163181A (ja) * | 2005-12-09 | 2007-06-28 | Advantest Corp | 測定用構造体、測定装置、方法およびプログラム |
JP2007264610A (ja) * | 2006-02-28 | 2007-10-11 | Canon Inc | 光透過装置の設計方法、光学素子、撮像素子、光スイッチング素子、及び化学センサ装置 |
JP2008083020A (ja) * | 2006-03-17 | 2008-04-10 | Institute Of Physical & Chemical Research | 分析方法及び分析装置 |
JP2008185552A (ja) * | 2007-01-31 | 2008-08-14 | Tohoku Univ | 測定装置および測定方法 |
JP2009019925A (ja) * | 2007-07-10 | 2009-01-29 | Iwate Prefectural Univ | 分光測定試料、分光測定基板、及び、分光測定方法 |
JP2009052920A (ja) * | 2007-08-23 | 2009-03-12 | Murata Mfg Co Ltd | ワイヤーグリッドおよびその製造方法 |
JP2009115887A (ja) * | 2007-11-02 | 2009-05-28 | Seiko Epson Corp | プロジェクタ |
JP2009128086A (ja) * | 2007-11-21 | 2009-06-11 | Japan Aviation Electronics Industry Ltd | 表面プラズモンセンサ |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6040936A (en) * | 1998-10-08 | 2000-03-21 | Nec Research Institute, Inc. | Optical transmission control apparatus utilizing metal films perforated with subwavelength-diameter holes |
JP3550381B2 (ja) * | 2001-06-27 | 2004-08-04 | 松下電器産業株式会社 | 偏光解析装置及び偏光解析方法 |
JP2004029153A (ja) * | 2002-06-21 | 2004-01-29 | Osaka Industrial Promotion Organization | 光学素子及び光学素子の製造方法 |
JP2005221373A (ja) * | 2004-02-05 | 2005-08-18 | Toshiba Corp | 元素分析装置 |
JP4650931B2 (ja) * | 2004-12-14 | 2011-03-16 | 大日本印刷株式会社 | 偏光分離素子 |
JP2007232456A (ja) * | 2006-02-28 | 2007-09-13 | Canon Inc | 光学素子、屈折率センサ、および化学センサ |
JP4905454B2 (ja) * | 2006-05-31 | 2012-03-28 | 株式会社村田製作所 | ワイヤーグリッド用金属板、ワイヤーグリッド、およびワイヤーグリッド用金属板の製造方法 |
JP2008047777A (ja) * | 2006-08-18 | 2008-02-28 | Dainippon Printing Co Ltd | 電磁波遮蔽フィルタ、複合フィルタ、及びディスプレイ |
WO2008075624A1 (ja) * | 2006-12-19 | 2008-06-26 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | テラヘルツ帯用光学部品 |
JP2008209493A (ja) * | 2007-02-23 | 2008-09-11 | Kyoto Univ | テラヘルツ波用光学素子とその製造方法 |
-
2010
- 2010-07-28 WO PCT/JP2010/062678 patent/WO2011070817A1/ja active Application Filing
- 2010-07-28 JP JP2011545104A patent/JP5605372B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2014
- 2014-08-26 JP JP2014171392A patent/JP2014219423A/ja active Pending
Patent Citations (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1172607A (ja) * | 1997-07-08 | 1999-03-16 | Nec Corp | 高光透過開口アレイ |
US6280690B1 (en) * | 1997-12-30 | 2001-08-28 | Jay Tadion | Methods and apparatus for obtaining transmission spectra of liquid and solid samples |
JP2006256335A (ja) * | 2001-01-16 | 2006-09-28 | Hirotake Kasuya | 印刷用スクリーン版及び印刷用スクリーン版製造方法 |
JP2004219916A (ja) * | 2003-01-17 | 2004-08-05 | Pentax Corp | ファインダのスーパーインポーズ板 |
JP2005015887A (ja) * | 2003-06-27 | 2005-01-20 | Taiyo Kagaku Kogyo Kk | バレルメッキ装置及びバレルメッキシステム |
JP2005345191A (ja) * | 2004-06-01 | 2005-12-15 | Pola Chem Ind Inc | 角層細胞の非染色観察方法 |
JP2006343572A (ja) * | 2005-06-09 | 2006-12-21 | Wintek Corp | 光学フィルム |
JP2007038191A (ja) * | 2005-08-05 | 2007-02-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | フィルター |
JP2007163181A (ja) * | 2005-12-09 | 2007-06-28 | Advantest Corp | 測定用構造体、測定装置、方法およびプログラム |
JP2007264610A (ja) * | 2006-02-28 | 2007-10-11 | Canon Inc | 光透過装置の設計方法、光学素子、撮像素子、光スイッチング素子、及び化学センサ装置 |
JP2008083020A (ja) * | 2006-03-17 | 2008-04-10 | Institute Of Physical & Chemical Research | 分析方法及び分析装置 |
JP2008185552A (ja) * | 2007-01-31 | 2008-08-14 | Tohoku Univ | 測定装置および測定方法 |
JP2009019925A (ja) * | 2007-07-10 | 2009-01-29 | Iwate Prefectural Univ | 分光測定試料、分光測定基板、及び、分光測定方法 |
JP2009052920A (ja) * | 2007-08-23 | 2009-03-12 | Murata Mfg Co Ltd | ワイヤーグリッドおよびその製造方法 |
JP2009115887A (ja) * | 2007-11-02 | 2009-05-28 | Seiko Epson Corp | プロジェクタ |
JP2009128086A (ja) * | 2007-11-21 | 2009-06-11 | Japan Aviation Electronics Industry Ltd | 表面プラズモンセンサ |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021081214A (ja) * | 2019-11-14 | 2021-05-27 | 株式会社豊田中央研究所 | 試料ホルダ、赤外線吸収分光光度計及び赤外線吸収スペクトルの測定方法 |
JP7103332B2 (ja) | 2019-11-14 | 2022-07-20 | 株式会社豊田中央研究所 | 赤外線吸収分光光度計及び赤外線吸収スペクトルの測定方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPWO2011070817A1 (ja) | 2013-04-22 |
WO2011070817A1 (ja) | 2011-06-16 |
JP5605372B2 (ja) | 2014-10-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5605372B2 (ja) | 空隙配置構造体が保持された分光測定用デバイス、それに用いられる枠部材、および、分光器 | |
JP5761416B2 (ja) | 平板状の周期的構造体 | |
JP5582192B2 (ja) | 被測定物の特性を測定する方法 | |
US9075006B2 (en) | Measurement device and feature measurement method of object to be measured employing same | |
US9366620B2 (en) | Specimen measuring method | |
JP5609654B2 (ja) | 被測定物の測定方法 | |
WO2011013452A1 (ja) | 被測定物の特性を測定する方法、測定装置およびフィルタ装置 | |
US8912497B2 (en) | Measurement structure, method of manufacturing same, and measuring method using same | |
US20130062524A1 (en) | Method of measuring characteristics of specimen, and aperture array structure and measuring device used in same | |
JP5880803B1 (ja) | 固定器具および金属メッシュデバイス | |
JP5384648B2 (ja) | 被測定物の特性を測定する方法 | |
WO2015174162A1 (ja) | 金属メッシュデバイス | |
Baragwanath et al. | Time-of-flight model for the extraordinary transmission through periodic arrays of subwavelength apertures at THz frequencies | |
WO2015005156A1 (ja) | 被測定物の測定方法 | |
JP2015017941A (ja) | 被測定物の測定方法および測定装置 | |
WO2015151563A1 (ja) | 被測定物の測定方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140826 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20150422 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150507 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150623 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20151117 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20160405 |