JP5609654B2 - 被測定物の測定方法 - Google Patents
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Description
上記空隙配置構造体に電磁波を照射し、
上記空隙配置構造体で前方散乱または後方散乱された電磁波を検出し、
上記前方散乱された電磁波の周波数特性に生じるディップ波形、または、上記後方散乱された電磁波の周波数特性に生じるピーク波形が、上記被測定物の存在により変化することに基づいて被測定物の特性を測定する測定方法であって、
上記電磁波は、上記空隙配置構造体の主面に対して垂直な方向から照射され、
上記空隙配置構造体の主面の面積に対して、上記空隙配置構造体の主面を含む平面上における上記電磁波のビームスポットの面積の比率が10%以上であることを特徴とする、測定方法である。
d(sin i −sin θ)=nλ …(1)
と表すことができる。上記「0次方向」の0次とは、上記式(1)のnが0の場合を指す。dおよびλは0となり得ないため、n=0が成立するのは、sin i− sin θ=0の場合のみである。従って、上記「0次方向」とは、入射角と回折角が等しいとき、つまり電磁波の進行方向が変わらないような方向を意味する。
本実施例では、図2に示されるような、平板状の構造体を貫通する正方形状の空隙領域が平板状の構造体の主面方向に正方格子状に周期配置された構造体(空隙)を例にして、FDTD法(Finite-difference time-domain method:時間領域差分法)による電磁界シミュレーションを行った。
本実施例では、図2に示すような空隙配置構造体を以下の方法で作製し、その特性評価を行った。以下に作製手順を示す。
THz−TDSからの入射電磁波を金属性のアパーチャを通して平板状の空隙配置構造体の主面に入射する構成に変更した以外は、実施例2と同様の方法で、図9に示すように、ビームスポットが空隙配置構造体1よりも小さく、空隙配置構造体の主面に対するビームスポットの面積比率が10%以上である場合において、透過率の周波数特性を測定した。アパーチャー径を変えることで表1のようにビームスポットの面積を変化させ、それによるディップ波形の変化を調べた。
Claims (3)
- 複数の空隙部が配列されている平板状の空隙配置構造体に被測定物を保持し、
前記空隙配置構造体に電磁波を照射し、
前記空隙配置構造体で前方散乱または後方散乱された電磁波を検出し、
前記前方散乱された電磁波の周波数特性に生じるディップ波形、または、前記後方散乱された電磁波の周波数特性に生じるピーク波形が、前記被測定物の存在により変化することに基づいて被測定物の特性を測定する測定方法であって、
前記空隙配置構造体に配列された前記空隙部の格子間隔が、前記電磁波の波長の10分の1以上、10倍以下であり、
前記電磁波は、前記空隙配置構造体の主面に対して垂直な方向から照射される平行な電磁波であり、
前記空隙配置構造体の前記空隙部を含む主面の面積に対して、前記空隙配置構造体の主面を含む平面上における前記電磁波のビームスポットの面積の比率が10%以上であり、
前記ビームスポット内に少なくとも1つの前記空隙部が含まれていることを特徴とする、測定方法。 - 前記電磁波は、無偏波、または、直線偏波で任意の偏波方向を有する電磁波である、請求項1に記載の測定方法。
- 前記前方散乱された電磁波の周波数特性に生じるディップ波形、または、前記後方散乱された電磁波の周波数特性に生じるピーク波形が、前記平板状の空隙配置構造体のTE11モード様共振により生じたものである、請求項1に記載の測定方法。
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