JP7103332B2 - 赤外線吸収分光光度計及び赤外線吸収スペクトルの測定方法 - Google Patents

赤外線吸収分光光度計及び赤外線吸収スペクトルの測定方法 Download PDF

Info

Publication number
JP7103332B2
JP7103332B2 JP2019206487A JP2019206487A JP7103332B2 JP 7103332 B2 JP7103332 B2 JP 7103332B2 JP 2019206487 A JP2019206487 A JP 2019206487A JP 2019206487 A JP2019206487 A JP 2019206487A JP 7103332 B2 JP7103332 B2 JP 7103332B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
infrared absorption
infrared
infrared rays
measurement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2019206487A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2021081214A (ja
Inventor
篤史 紅谷
相吾 東
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toyota Central R&D Labs Inc
Original Assignee
Toyota Central R&D Labs Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toyota Central R&D Labs Inc filed Critical Toyota Central R&D Labs Inc
Priority to JP2019206487A priority Critical patent/JP7103332B2/ja
Publication of JP2021081214A publication Critical patent/JP2021081214A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7103332B2 publication Critical patent/JP7103332B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

本明細書は、試料ホルダ、赤外線吸収分光光度計及び赤外線吸収スペクトルの測定方法を開示する。
従来、赤外線吸収分光光度計に用いられる試料ホルダとしては、熱伝導を行う固体状の部材である加熱ブロックの内部に、測定対象のタブレットを保持するホルダが配され、加熱ブロックの本体がヒータと接触するとともに、ホルダがタブレットの全周にわたって厚み全体に接触したものが提案されている(例えば、特許文献1参照)。この試料ホルダでは、ヒータの熱がタブレットの全周にわたって厚み全体に伝わることにより、タブレットの温度を調整することができる、としている。
特開2004-138560号公報
しかしながら、特許文献1の試料ホルダでは、温度変化を制御して赤外吸収スペクトルを得ることは考慮されているが、赤外吸収ピークの感度については考慮されていなかった。例えば、触媒反応など、赤外吸収ピークをより感度よく得ることが望ましい場合があるが、赤外線吸収ピークが小さい場合に、これを増幅する手法が求められていた。
本開示は、このような課題に鑑みなされたものであり、赤外線吸収ピークを増幅することができる試料ホルダ、赤外線吸収分光光度計及び赤外線吸収スペクトルの測定方法を提供することを主目的とする。
上述した目的を達成するために鋭意研究したところ、本発明者らは、格子状の金属メッシュをサンプルホルダに用いると、触媒上に吸着する分子の赤外線吸収ピークが増幅されることを見いだし、本開示の発明を完成するに至った。
即ち、本明細書で開示する試料ホルダは、
赤外線吸収分光光度計に用いられる試料ホルダであって、
測定試料が固定され赤外線が照射される部位に金属メッシュの試料固定部を有するものである。
本明細書で開示する赤外線吸収分光光度計は、
赤外線を照射する照射部と、
前記測定試料を固定した上述の試料ホルダを収容する試料室と、
前記測定試料を介した赤外線を検出する検出部と、
を備えたものである。
本明細書で開示する赤外線吸収スペクトルの測定方法は、
赤外線吸収スペクトルの測定方法であって、
上述の試料ホルダに固定された測定試料に赤外線を照射し、該測定試料を介した赤外線を検出する測定工程、
を含むものである。
本開示では、赤外線吸収ピークを増幅することができる。このような効果が得られる理由は、以下のように考えられる。例えば、赤外光を金属メッシュの開口部の表面で反射させる事で、メッシュ表面近傍に増強された赤外光の電場が形成されることにより、金属メッシュに付着した触媒層などに由来する赤外線吸収を選択的に増幅することができるものと推察される。
赤外吸収分光光度計10の構成の概略の一例を示す説明図。 試料ホルダ20の構成の概略の一例を示す説明図。 実験例1~3の測定試料と赤外線吸収スペクトルの測定例。 実験例1、3の赤外線吸収スペクトルが得られる説明図。
本実施形態を図面を参照しながら以下に説明する。図1は、赤外吸収分光光度計10の構成の概略の一例を示す説明図である。図2は、試料ホルダ20の構成の概略の一例を示す説明図である。赤外吸収分光光度計10は、固体の測定試料の赤外線吸収を測定する装置であり、分散型としてもよいし、フーリエ変換型としてもよいが、フーリエ変換型の方が好ましい。この赤外吸収分光光度計10は、例えば、触媒成分に反応物質が吸着した状態での赤外線吸収スペクトルを得る場合などに用いられる。赤外吸収分光光度計10は、照射部11と、試料室12と、検出部13と、温度調節部14と、制御部15と、試料ホルダ20とを備えている。
照射部11は、赤外線を測定試料が固定された試料ホルダ20に照射するものである。試料室12は、試料ホルダ20を収容する空間を有する筐体である。試料室12の内側には、試料ホルダ20を固定する固定部材18が配設されている。また、試料室12には、化学成分を導入する導入管16と、この化学成分などを排出する排出管17とが接続されている。導入管16は、測定試料に含まれる触媒成分に吸着するガスや、反応に関与するガスなどを導入するものとしてもよい。検出部13は、測定試料を介した赤外線を検出するものである。検出部13は、検出した信号を制御部15へ出力する。温度調節部14は、測定試料や試料室12内に存在するガスの温度を調整するものであり、加熱部や冷却部を有する。制御部15は、装置全体を制御するものであり、図示しないCPUや記憶部を有する。制御部15は、検出部13から入力した信号を変換し、赤外線吸収スペクトルとして出力する。また、制御部15は、温度調節部14へ信号を出力し、試料室12の内部温度を調整する。
試料ホルダ20は、赤外線吸収分光光度計に用いられるものである。この試料ホルダ20は、図2に示すように、測定試料が固定され赤外線が照射される部位に金属メッシュの試料固定部21を有する。試料ホルダ20は、試料固定部21と接続し試料室12の固定部材18に係合する係合部28を含むものとしてもよいが、試料固定部21のみで構成されてもよい。試料固定部21は、板状の部材であり、試料保持面22を有する。試料固定部21の外形は特に限定されないが、例えば、多角形や円、楕円形状としてもよい。この試料固定部21は、隔壁状またはワイヤ状の金属部材23により形成されており、複数の開口部24を有している。開口部24の形状は、特に限定されないが、例えば、多角形や円、楕円形状としてもよい。図2には、外形が円板であり、開口部24が矩形である試料固定部21を一例として示した。
試料固定部21は、測定試料に用いられる反応ガスとは不活性な金属で形成されていればよく、例えば、遷移金属、典型金属などが挙げられ、特に不活性であるAuであることが好ましい。試料固定部21は、金属メッシュの領域全体に対しする開口部24の面積割合が30%以上70%以下の範囲であることが好ましい。この範囲では、赤外線吸収ピークをより増幅することができる。この開口部24の面積割合は、40%以上がより好ましく、50%以上が更に好ましい。また、開口部24の面積割合は、60%以下がより好ましい。なお、開口部24の面積割合は、90%以下や80%以下としてもよい。
試料固定部21は、金属メッシュの金属部材23の幅Xが0.02mm以上0.2mm以下の範囲であることが好ましい。なお、幅Xは、金属部材23がワイヤの場合、太さをいうものとする。試料固定部21は、開口部24の開口長さLが0.1mm以上0.5mm以下の範囲であることが好ましい。開口長さLは、開口部24が矩形の場合は一辺の長さをいい、他の多角形の場合は内接円の直径をいい、円の場合は直径をいい、楕円の場合は長径をいうものとする。また、試料固定部21は、金属メッシュの外形Dが2mm以上10mm以下の範囲であることが好ましい。外形Dは、金属メッシュの外形が矩形の場合は一辺の長さをいい、他の多角形の場合は内接円の直径をいい、円の場合は直径をいい、楕円の場合は長径をいうものとする。また、試料固定部21は、金属メッシュの厚さTが0.2mm以上1.0mm以下の範囲であることが好ましい。
次に、赤外吸収分光光度計10の動作、特に試料ホルダ20に触媒成分を含む測定試料を固定し、試料室12内に反応ガスを導入して測定する動作について説明する。まず、作業者は、試料固定部21に測定試料を固定する。例えば、触媒材料であれば、担体に金属を分散担持したものなどが挙げられる。作業者は、この触媒材料を試料固定部21の金属メッシュに固着させる。このとき、試料固定部21には開口部24が閉塞されるよう全面に亘って試料を固着してもよいが、開口部24に貫通孔が存在するように試料を固着することが好ましい。貫通孔が残るように試料を固着すると、反応ガスと試料である触媒層との接触面積が増えるため、より好適な測定結果を得ることができる。次に、作業者は、試料固定部21を試料室12の内部にセットし、導入管16から反応ガスを導入する。ガスを流通させる場合は、排出管17からガスを排出させる。そして、作業者は測定を開始し、制御部15は、測定試料に対して赤外線を照射部11から照射し、検出部13で検出した信号を入力した制御部15が赤外線吸収スペクトルとしてモニターやファイルに出力する。この試料ホルダ20では、格子状の開口部24を有しており、この内表面で反射、散乱した赤外線が検出部13で検出されることによって、反応ガスの吸着に基づく赤外線吸収ピークがより増幅される。
以上詳述した試料ホルダ20では、赤外線吸収ピークを増幅することができる。このような効果が得られる理由は、以下のように考えられる。例えば、赤外光を金属メッシュの内表面で反射させる事で、金属メッシュの表面近傍に増強された赤外光の電場が形成されることにより、金属メッシュに付着した触媒層などに由来する赤外線吸収を選択的に増幅することができるものと推察される。また、試料ホルダ20では、金属メッシュにより形成される開口部の面積割合が30%以上70%以下の範囲であることが赤外線吸収ピークの増幅においては好ましいと推察される。更に、金属メッシュの幅Xが0.02mm以上0.2mm以下の範囲であり、開口部の長さLが0.1mm以上0.5mm以下の範囲であることが好ましいと推察される。更にまた、金属メッシュの外形Dが2mm以上10mm以下の範囲であり、金属メッシュの厚さTが0.2mm以上1.0mm以下の範囲であることが好ましいと推察される。このような試料ホルダ20のサイズ範囲では、照射部11や検出部13からの赤外線の照射を受けやすく、赤外線の検出もしやすく、好ましい。そしてまた、赤外線吸収ピークの増幅においては、試料ホルダの試料保持面に対して垂直方向から赤外線を照射し、赤外線の照射方向に対して試料ホルダの後方で赤外線を検出することが好ましいと推察される。
なお、本開示は上述した実施形態に何ら限定されることはなく、本開示の技術的範囲に属する限り種々の態様で実施し得ることはいうまでもない。
例えば、上述した実施形態では、試料ホルダ20及び赤外吸収分光光度計10として本開示を説明したが、赤外線吸収スペクトルの測定方法としてもよい。この測定方法は、上述したいずれかの試料ホルダ20に固定された測定試料に赤外線を照射し、この測定試料を介した赤外線を検出する測定工程、を含むものとすればよい。また、この赤外線吸収スペクトルの測定方法において、測定工程では、試料ホルダ20の試料保持面22に対して垂直方向から赤外線を照射し、赤外線の照射方向に対して試料ホルダ20の後方で赤外線を検出するものとしてもよい。この赤外線吸収スペクトルの測定方法によっても、赤外線吸収ピークを増幅することができる。
以下には、試料ホルダ20を用いて赤外吸収ピークを検討した例を実験例として説明する。実験例1,2が本開示の実施例に相当し、実験例3が比較例に相当する。
図1で説明した赤外吸収分光光度計10を用いて触媒成分上に吸着した一酸化炭素(CO)の吸収スペクトルをインサイチューで測定した。測定条件は、25℃、2300cm-1~2000cm-1の範囲で、試料ホルダ20の試料保持面22に対して垂直方向から赤外線を照射し、赤外線の照射方向に対して試料ホルダ20の後方で赤外線を検出した。
(実験例1、2)
図3は、実験例1~3の測定試料及び赤外線吸収スペクトルの測定例であり、図3Aが実験例1の試料固定部21の説明図、図3Bが実験例1の赤外線吸収スペクトルの一例、図3Cが実験例2の試料固定部21の説明図、図3Dが実験例2の赤外線吸収スペクトルの一例、図3Eが実験例3のペレット121の説明図、図3Fが実験例3の赤外線吸収スペクトルの一例である。実験例1の試料固定部21は、Auの金属部材からなり、外形は、外形D(直径)が5mm、厚さTが0.5mmであり、金属部材の幅X(太さ)が0.05mm、開口長さLが0.22mmとした。実験例2の試料固定部21は、Auの金属部材からなり、外形は、外形D(直径)が5mm、厚さTが0.1mmであり、金属部材の幅X(太さ)が0.5mm、開口長さLが0.5mmとした。触媒成分をPtとし、担体としてのアルミナに対して2質量%担持したものを測定試料とした。実験例1、2では、測定試料8.3mgを試料固定部21に押圧して固定した。
(実験例3)
実験例3のペレット121は、担体としてのアルミナに触媒成分としてPtを2質量%担持したものであり、外形は、外形D(直径)を5mm、厚さTを0.1mmとした。実験例3では、上記測定試料をペレット状にプレス成形した。
(結果と考察)
図4は、実験例1、3の赤外線吸収スペクトルが得られる説明図であり、図4Aが実験例1の説明図、図4Bが実験例2の説明図である。図3に示すように、金属メッシュの試料固定部を有する試料ホルダを用いた実験例1、2では、実験例3に比してより大きな吸着COの赤外線吸収ピークが得られることがわかった。特に、金属部材と開口部との全体の面積に対する開口面積の比が14%の実験例2に比して66%である実験例1の方がより大きな吸収ピークが得られることがわかった。この理由は、例えば、図4Aに示すように、実験例1では、金属メッシュの内表面において、入射光Riが触媒26を介して反射光Rrとなり検出されるが、このとき、金属メッシュの内側面の近傍に増強された赤外光Rの電場が形成され、これにより、金属メッシュに付着した触媒成分に由来する吸収ピークを選択的に増幅することができるものと推察された。一方、実験例3では、入射光Riを透過又は散乱した透過光Rtでは、そのような増幅が起きないため、吸着COの吸収ピークは気相COの吸収ピークに比して小さいものとなると推察された。実験例1では、より大きな吸収ピークが得られていることから、金属メッシュの開口面積の比は、30%~70%の範囲が好ましいものと推察された。
また、このような試料ホルダにおいて、金属メッシュにより形成される開口部の面積割合が30%以上70%以下の範囲であることが赤外線吸収ピークの増幅においては好ましいと推察された。更に、金属メッシュの幅Xが0.02mm以上0.2mm以下の範囲であり、開口部の長さLが0.1mm以上0.5mm以下の範囲であることが好ましいと推察された。更にまた、金属メッシュの外形Dが2mm以上10mm以下の範囲であり、金属メッシュの厚さTが0.2mm以上1.0mm以下の範囲であることが好ましいと推察された。このような赤外吸収分光光度計において、赤外線吸収ピークの増幅においては、試料ホルダの試料保持面に対して垂直方向から赤外線を照射し、赤外線の照射方向に対して試料ホルダの後方で赤外線を検出することが好ましいと推察された。
なお、本明細書で開示する試料ホルダ、赤外吸収分光光度計及び赤外線吸収スペクトルの測定方法は上述した実施例に何ら限定されることはなく、本開示の技術的範囲に属する限り種々の態様で実施し得ることはいうまでもない。
本開示は、赤外線吸収スペクトルの測定分野に利用可能である。
10 赤外吸収分光光度計、11 照射部、12 試料室、13 検出部、14 温度調節部、15 制御部、16 導入管、17 排出管、18 固定部材、20 試料ホルダ、21 試料固定部、22 試料保持面、23 金属部材、24 開口部、25 担体、26 触媒、28 係合部、121 ペレット、D 外形、L 開口長さ、R 赤外光、Ri 入射光、Rr 反射光、Rt 透過光、T 厚さ、X 幅。

Claims (9)

  1. 赤外線を照射する照射部と、
    赤外線吸収分光光度計に用いられる試料ホルダであって、測定試料が固定され赤外線が照射される部位に金属メッシュの試料固定部を有する試料ホルダを収容する試料室と、
    前記測定試料を介した赤外線を検出する検出部と、
    を備え
    前記測定試料には触媒成分を含み、
    前記試料室には前記触媒に吸着する化学成分を導入する導入管が接続されており、
    前記触媒成分に前記化学成分としての反応物質が吸着した状態での赤外線吸収スペクトルを測定する、赤外線吸収分光光度計。
  2. 前記試料固定部は、Auで形成されている、請求項1に記載の赤外線吸収分光光度計
  3. 前記試料固定部は、前記金属メッシュにより形成される開口部の面積割合が30%以上70%以下の範囲である、請求項1又は2に記載の赤外線吸収分光光度計
  4. 前記試料固定部は、前記金属メッシュの幅が0.02mm以上0.2mm以下の範囲であり、前記開口部の長さが0.1mm以上0.5mm以下の範囲である、請求項1~3のいずれか1項に記載の赤外線吸収分光光度計
  5. 前記試料固定部は、前記金属メッシュの外形が2mm以上10mm以下の範囲であり、前記金属メッシュの厚さが0.2mm以上1.0mm以下の範囲である、請求項1~4のいずれか1項に記載の赤外線吸収分光光度計
  6. 前記試料室には、前記測定試料の温度を制御する温度調整部が収容されている、請求項1~5のいずれか1項に記載の赤外線吸収分光光度計。
  7. 前記照射部は、前記試料ホルダの試料保持面に対して垂直方向から赤外線を照射し、
    前記検出部は、前記赤外線の照射方向に対して前記試料ホルダの後方で赤外線を検出する、請求項1~6のいずれか1項に記載の赤外線吸収分光光度計。
  8. 請求項1~7のいずれか1項に記載の赤外線吸収分光光度計を用いた赤外線吸収スペクトルの測定方法であって、
    前記試料ホルダに固定された測定試料に赤外線を照射し、該測定試料を介した赤外線を検出する測定工程、
    を含む赤外線吸収スペクトルの測定方法。
  9. 前記測定工程では、前記試料ホルダの試料保持面に対して垂直方向から赤外線を照射し、前記赤外線の照射方向に対して前記試料ホルダの後方で赤外線を検出する、請求項に記載の赤外線吸収スペクトルの測定方法。
JP2019206487A 2019-11-14 2019-11-14 赤外線吸収分光光度計及び赤外線吸収スペクトルの測定方法 Active JP7103332B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019206487A JP7103332B2 (ja) 2019-11-14 2019-11-14 赤外線吸収分光光度計及び赤外線吸収スペクトルの測定方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019206487A JP7103332B2 (ja) 2019-11-14 2019-11-14 赤外線吸収分光光度計及び赤外線吸収スペクトルの測定方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2021081214A JP2021081214A (ja) 2021-05-27
JP7103332B2 true JP7103332B2 (ja) 2022-07-20

Family

ID=75964762

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019206487A Active JP7103332B2 (ja) 2019-11-14 2019-11-14 赤外線吸収分光光度計及び赤外線吸収スペクトルの測定方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7103332B2 (ja)

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001511882A (ja) 1996-01-12 2001-08-14 ミネソタ マイニング アンド マニュファクチャリング カンパニー 分光分析サンプルホルダー
JP2004138560A (ja) 2002-10-18 2004-05-13 Nippon Shokubai Co Ltd 赤外スペクトル測定用試料保持加熱装置、固体試料の赤外スペクトル分析方法および触媒成分を含む担体の開発方法
JP2007010366A (ja) 2005-06-28 2007-01-18 Advantest Corp 一体型構造体、測定装置、方法およびプログラム
WO2007072418A3 (en) 2005-12-22 2007-10-11 Koninkl Philips Electronics Nv Increasing energy density in sub-wavelength wire-grids
WO2013035371A1 (ja) 2011-09-06 2013-03-14 株式会社村田製作所 測定用デバイス、および、それを用いた被測定物の特性測定方法
WO2013128707A1 (ja) 2012-02-29 2013-09-06 株式会社村田製作所 被測定物の特性を測定するための測定装置
WO2014017430A1 (ja) 2012-07-25 2014-01-30 株式会社村田製作所 被測定物の測定方法
JP2014219423A (ja) 2009-12-09 2014-11-20 株式会社村田製作所 空隙配置構造体が保持された分光測定用デバイス、それに用いられる枠部材、および、分光器
WO2016009806A1 (ja) 2014-07-18 2016-01-21 株式会社村田製作所 固定器具および金属メッシュデバイス

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IT991174B (it) * 1972-07-14 1975-07-30 Grace W R & Co Catalizzatore per il trattamento di gas di scarico

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001511882A (ja) 1996-01-12 2001-08-14 ミネソタ マイニング アンド マニュファクチャリング カンパニー 分光分析サンプルホルダー
JP2004138560A (ja) 2002-10-18 2004-05-13 Nippon Shokubai Co Ltd 赤外スペクトル測定用試料保持加熱装置、固体試料の赤外スペクトル分析方法および触媒成分を含む担体の開発方法
JP2007010366A (ja) 2005-06-28 2007-01-18 Advantest Corp 一体型構造体、測定装置、方法およびプログラム
WO2007072418A3 (en) 2005-12-22 2007-10-11 Koninkl Philips Electronics Nv Increasing energy density in sub-wavelength wire-grids
JP2014219423A (ja) 2009-12-09 2014-11-20 株式会社村田製作所 空隙配置構造体が保持された分光測定用デバイス、それに用いられる枠部材、および、分光器
WO2013035371A1 (ja) 2011-09-06 2013-03-14 株式会社村田製作所 測定用デバイス、および、それを用いた被測定物の特性測定方法
WO2013128707A1 (ja) 2012-02-29 2013-09-06 株式会社村田製作所 被測定物の特性を測定するための測定装置
WO2014017430A1 (ja) 2012-07-25 2014-01-30 株式会社村田製作所 被測定物の測定方法
WO2016009806A1 (ja) 2014-07-18 2016-01-21 株式会社村田製作所 固定器具および金属メッシュデバイス

Also Published As

Publication number Publication date
JP2021081214A (ja) 2021-05-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Fischer-Wolfarth et al. An improved single crystal adsorption calorimeter for determining gas adsorption and reaction energies on complex model catalysts
US11002684B2 (en) Chemiluminescent detector having coating to reduce excited species adsorption
Hamadeh et al. Heatable-evacuable cell and optical system for diffuse reflectance FT-IR spectrometry of adsorbed species
JP2011149954A (ja) 入力ガス流中の不純物の濃度レベルを測定する装置およびその方法、入力ガス流中の酸素の濃度レベルを測定する装置およびその方法
CN104833687B (zh) 一种用于小角散射实验的热台
EP2887051A1 (en) Surface plasmon resonance gas sensor, gas sensing system, and gas sensing method
Han et al. Low temperature CO sensor based on cataluminescence from plasma-assisted catalytic oxidation on Ag doped alkaline-earth nanomaterials
CN110967301B (zh) 一种具备激光加热的原位和频振动光谱检测装置
CN106170689B (zh) 气体探测器堵塞探测
US20050173635A1 (en) Gas detector
JP2006281208A (ja) マイクロ波支援化学反応のための分光器に基づくリアルタイム制御
JP7103332B2 (ja) 赤外線吸収分光光度計及び赤外線吸収スペクトルの測定方法
EP2510341B1 (fr) Procédé et installation de caractérisation de surface de matériaux solides
WO2001027596A1 (fr) Capteur de co
Köck et al. A high-temperature, ambient-pressure ultra-dry operando reactor cell for Fourier-transform infrared spectroscopy
EP3500839B1 (en) Application profile reactor for operando measurements
JP4885110B2 (ja) 試料導入装置及び試料分析システム
US9448177B2 (en) Flame photometric detector
McCullagh et al. A comparison of experimental procedures for the application of infrared spectroscopy to probe the surface morphology of an alumina-supported palladium catalyst
JP2006300569A (ja) 水素貯蔵材料の評価装置及び評価方法
JP5022490B2 (ja) 光分解反応及び電気化学分解反応を検出するため光学特性値を判定する測定装置及び方法
JPH06281623A (ja) 多岐管
Yamanaka et al. Internal-energy measurements of angle-resolved product CO2 in catalytic CO oxidation by means of infrared chemiluminescence
JP2010271082A (ja) 排ガス浄化用触媒評価方法及びその装置
Pauer et al. Reaction and desorption kinetics of H2 and H2O on activated and non-activated palladium surfaces

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20210527

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20220314

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220329

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220524

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220607

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20220620

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7103332

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150