JP2014206703A - 画像処理装置、液晶表示装置及び電子機器 - Google Patents
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Abstract
Description
このリバースチルトドメインの影響を低減するために、映像信号から算出した平均輝度値が閾値以下の場合にリバースチルトドメインが発生すると判断して、設定値以上の映像信号をクリップする技術(例えば特許文献1参照)などが提案されている。
この構成によれば、表示品位の低下を抑えるように補正された映像信号に応じた映像が液晶パネルに表示されている期間内において、液晶パネルに照射される光の光量が他の期間において前記液晶パネルに照射される光の光量より小さくなるため、表示品位の低下を抑えるための補正された映像が視認されるのを防ぐことができる。
この構成によれば、一のフィールドでのみ映像信号が補正されるため、補正されていない映像信号に応じた映像が表示される期間を長くすることができる。
この構成によれば、表示品位の低下を抑えるように補正された信号に応じた映像が液晶パネルに表示されている期間内において、液晶パネルに照射される光の光量が他の期間において前記液晶パネルに照射される光の光量より小さくなるため、表示品位の低下を抑えるための補正された映像が視認されるのを防ぐことができる。
この構成によれば、表示品位の低下を抑えるように補正された信号に応じた映像が液晶パネルに表示されている期間内において、液晶パネルに照射される光の光量が他の期間において前記液晶パネルに照射される光の光量より小さくなるため、表示品位の低下を抑えるための補正された映像が視認されるのを防ぐことができる。
この構成によれば、一部のフィールドでのみ映像信号が補正されるため、補正されていない映像信号に応じた映像が表示される期間を長くすることができる。
この構成によれば、表示品位の低下を抑えるように補正された信号に応じた映像が液晶パネルに表示されている期間内において、液晶パネルに照射される光の光量が他の期間において前記液晶パネルに照射される光の光量より小さくなるため、表示品位の低下を抑えるための補正された映像が視認されるのを防ぐことができる。
この構成によれば、表示品位の低下を抑えるように補正された信号に応じた映像が液晶パネルに表示されている期間内において、液晶パネルに照射される光の光量が他の期間において前記液晶パネルに照射される光の光量より小さくなるため、表示品位の低下を抑えるための補正された映像が視認されるのを防ぐことができる。
この構成によれば、一部のフィールドでのみ映像信号が補正されるため、補正されていない映像信号に応じた映像が表示される期間を長くすることができる。
図1は、本発明に一実施形態に係る映像処理回路を適用した液晶表示装置1の全体構成を示すブロック図である。図1に示すように、液晶表示装置1は、制御回路10と、液晶パネル100と、走査線駆動回路130と、データ線駆動回路140と、光源200とを備える。制御回路10には、映像信号Vid−inが上位装置から同期信号Syncに同期して供給される。映像信号Vid−inは、液晶パネル100における各画素の階調レベルをそれぞれ指定するデジタルデータであり、同期信号Syncに含まれる垂直走査信号、水平走査信号およびドットクロック信号(いずれも図示省略)に従った走査の順番で供給される。本実施形態では、映像信号Vid−inが供給される周波数が60Hzであり、その逆数である周期16.67ミリ秒で1フレーム(1コマ)の画像を表示するための映像信号Vid−inが供給される。なお、映像信号Vid−inは階調レベルを指定するが、階調レベルに応じて液晶素子の印加電圧が定まるので、映像信号Vid−inは液晶素子の印加電圧を指定するものといって差し支えない。
なお、液晶パネル100においては、白画素を背景とした黒画素の領域がフレーム毎に2画素以上ずつ移動するとき、液晶素子の応答時間が表示画面が更新される時間間隔(1フレーム期間)より短ければ、このような尾引き現象は顕在化しない(または、視認されにくい)。この理由は、次のように考えられる。すなわち、あるフレームにおいて、白画素と黒画素とが隣接したときに、その白画素でリバースチルトドメインが発生するかもしれないが、画像の動きを考えると、リバースチルトドメインが発生する画素が離散的となるので、視覚的に目立たない、と考えられるからである。
なお、図5において見方を変えると、黒画素を背景として白画素が連続する白パターンがフレーム毎に1画素ずつ右方向に移動する場合に、その白パターンの右端縁部(動きの先端部)において黒画素から白画素に変化すべき画素がリバースチルトドメインの発生によって白画素にならない、ということもできる。また、図5においては、説明の便宜上、画像のうち、1ラインの境界付近を抜き出している。
ここで、横電界の影響を受ける場合とは、互いに隣り合う画素電極同士の電位差が大きくなる場合であり、これは、表示しようとする画像において黒レベルの(または黒レベルに近い)暗画素と、白レベルの(または白レベルに近い)明画素とが隣接する場合である。このうち、暗画素については、印加電圧がノーマリーブラックモードにおける黒レベルの電圧Vbk以上であって閾値Vth1(第1電圧)を下回る電圧範囲Aにある液晶素子120の画素をいうことにする。また、便宜的に、液晶素子の印加電圧が電圧範囲Aにある液晶素子の透過率範囲(階調範囲)を「a」とする。
次に、明画素については、印加電圧が閾値Vth2(第2電圧)以上であってノーマリーブラックモードにおける白レベル電圧Vwt以下の電圧範囲Bにある液晶素子120とする。便宜的に、液晶素子の印加電圧が電圧範囲Bにある液晶素子の透過率範囲(階調範囲)を「b」とする。
図6に示すように、VA方式の液晶分子は、画素電極118とコモン電極108との電位差(液晶素子の印加電圧)がゼロである状態において、チルト角がθaで、チルト方位角がθb(=45度)で、初期配向しているものとする。ここで、リバースチルトドメインは、上述したように画素電極118同士の横電界に起因して発生することから、画素電極118が設けられた素子基板の側における液晶分子の振る舞いが問題となる。このため、液晶分子のチルト方位角およびチルト角については、画素電極118(素子基板)の側を基準にして規定する。
図8(a)に示すように、(n−1)フレームにおいて2×2の4画素がすべて黒画素の状態から、nフレームにおいて、左下の1画素だけが白画素に変化するときを想定する。上述したようにノーマリーブラックモードにおいて、画素電極118とコモン電極108との電位差である印加電圧は、黒画素よりも白画素で大きい。このため、黒から白に変化する左下の画素では、図8(b)のように、液晶分子が実線で示される状態から破線で示される状態に、電界方向とは垂直方向(基板面の水平方向)に傾斜しようとする。
左下の画素は、(n−1)フレームにおいて液晶分子が不安定な状態の黒画素であっため、液晶分子が縦電界の強度に応じて傾斜するまでに時間がかかる。一方、白レベルの電圧が画素電極118(Wt)に印加されたことによる縦電界よりも、隣接する画素電極118(Bk)からの横電界の方が強い。従って、白になろうとしている画素では、図8(b)に示すように、黒画素に隣接する側の液晶分子Rvが、縦電界にしたがって傾斜しようとする他の液晶分子よりも時間的に先んじてリバースチルト状態となる。
先にリバースチルト状態となった液晶分子Rvは、縦電界に応じて破線のように基板水平方向に傾斜しようとする他の液晶分子の動きに悪影響を与える。このため、白に変化すべき画素においてリバースチルトが発生する領域は、図8(c)に示すように、白に変化すべき画素と黒画素との間隙にとどまらず、その間隙から白に変化すべき画素を浸食する形で広範囲に拡がる。
なお、図8(a)に示されるパターンの変化は、図7(a)に示した例のみならず、黒画素からなるパターンが、図7(b)に示すように右方向にフレーム毎に1画素ずつ移動する場合や、図7(c)に示すように上方向にフレーム毎に1画素ずつ移動する場合などでも発生する。また、図5の説明において見方を変えた場合のように、黒画素からなる領域を背景として白画素からなるパターンがフレーム毎に右上方向、右方向または上方向に、1画素ずつ移動する場合にも発生する。
この変化後においても、黒画素の画素電極118(Bk)と白画素の画素電極118(Wt)との間隙では、画素電極118(Wt)とコモン電極108との間隙の縦電界よりも強い横電界が発生する。この横電界によって、図10(b)に示すように、黒画素において白画素に隣接する側の液晶分子Rvは、縦電界にしたがって傾斜しようとする他の液晶分子よりも時間的に先んじて配向が変化して、リバースチルト状態となる。しかし、黒画素では縦電界が(n−1)フレームから変化しないので、他の液晶分子に影響をほとんど与えない。このため、黒画素から変化しない画素においてリバースチルトが発生する領域は、図10(c)に示すように、図8(c)の例と比較して無視できる程度に狭い。
なお、図10(a)に示されるパターンの変化は、図9(a)に示した例のみならず、黒画素からなるパターンが、図9(b)に示すように左方向にフレーム毎に1画素ずつ移動する場合や、図9(c)に示すように下方向にフレーム毎に1画素ずつ移動する場合などでも発生する。また、図5の説明において見方を変えた場合のように、黒画素からなる領域を背景として白画素からなるパターンがフレーム毎に左下方向、左方向または下方向に、1画素ずつ移動する場合にも発生する。
(1)nフレームに着目したときに暗画素と明画素とが隣接して、すなわち、印加電圧が低い状態の画素と印加電圧が高い状態の画素とが隣接して、横電界が強くなる場合であって、かつ、
(2)nフレームにおいて、当該明画素(印加電圧高)が、隣接する暗画素(印加電圧低)に対して、液晶分子におけるチルト方位の上流側に相当する左下側、左側または下側に位置する場合に、
(3)nフレームにおいて当該明画素に変化する画素が、1フレーム前の(n−1)フレームでは、液晶分子が不安定な状態にあったとき、
nフレームにおいて当該明画素でリバースチルトが発生する、ということになる。
既に理由を説明したが、(2)において、暗画素と明画素とが隣接する部分を示す境界が、前フレームから1画素分だけ移動しているときには、より一層リバースチルトドメインの影響を受けやすくなると考えられる。
このような考えに基づいて、現フレームの映像信号Vid−inを処理して、液晶パネル100でリバースチルトドメインの発生を未然に防ぐための回路が、図1における映像処理回路30である。
遅延回路302は、FIFO(Fast In Fast Out:先入れ先出し)メモリーや多段のラッチ回路などにより構成され、上位装置から供給される映像信号Vid−inを蓄積して、所定時間経過後に読み出して映像信号Vid−dとして出力するものである。なお、遅延回路302における蓄積および読出は、走査制御回路20によって制御される。
第1検出部3041は、映像信号Vid−inで示す画像を解析して、階調範囲aにある暗画素(第1画素)と階調範囲bにある明画素(第2画素)とが垂直または水平方向で隣接する部分があるか否かを判別する。そして、第1検出部3041は、隣接する部分があると判別したときに、その隣接部分を境界として検出して、境界の位置情報を出力する。
なお、ここでいう境界とは、あくまでも階調範囲aにある暗画素と階調範囲bにある明画素とが隣接する部分、すなわち、強い横電界が発生する部分をいう。このため、例えば階調範囲aにある画素と、階調範囲aでもなく階調範囲bでもない別の階調範囲d(図4(a)参照)にある画素とが隣接する部分や、階調範囲bにある画素と階調範囲dにある画素とが隣接する部分については、境界として扱わない。
判別部3043は、遅延して出力された映像信号Vid−dで示す画素が、第2検出部3042で抽出されたリスク境界に接している画素であるか判断する。そして判別部3043は、リスク境界に接している暗画素からリスク境界の反対方向へ連続するr個の暗画素(本実施形態ではr=2)について、1フレームの一部である第1フィールドに対応する期間だけ、出力信号のフラグQを「1」として出力する。また、判別部3043は、リスク境界に接している明画素からリスク境界の反対方向へ連続するs個(本実施形態ではs=2)の明画素について、第1フィールドに対応する期間だけ、出力信号のフラグQを「1」として出力する。一方で、判別部3043は、上記の画素以外については、出力信号のフラグQを「0」として出力する。また、判別部3043は、第2フィールド〜第4フィールドに対応する期間においては、出力信号のフラグQを「0」として出力する。
上位装置から供給される映像信号Vid−inのタイミングと、遅延回路302から供給される映像信号Vid−dのタイミングとは異なるので、厳密にいえば、両者の水平走査期間等については一致しないことになるが、以降については特に区別しないで説明する。また、第1検出部3041および第2検出部3042における映像信号Vid−inの蓄積等は、走査制御回路20によって制御される。
以上のように、境界検出部304はリスク境界を検出する境界検出ステップを実行する。
これにより、補正部306により補正された映像信号Vid−outにあっては、各フレームの第1フィールドでは、暗画素と明画素とが隣接するリスク境界が生じなくなり、1フレーム期間においてリスク境界が存在する期間が、映像信号Vid−inよりも短くなる。換言すると、1フレーム期間においてリスク境界に接する画素が存在する期間が不連続となる。このような補正部306による補正処理によって、1フレーム期間において同一位置にリスク境界が連続して存在しないことになる。一方、補正部306は、フラグQが「0」であるときには、映像信号を補正することなく、映像信号Vid−dをそのまま映像信号Vid−outとして出力する(補正ステップ)。
ここで、1行1列〜1行n列の映像信号Vid−outが出力される水平有効走査期間(Ha)でみたときに、処理された映像信号Vid−outは、奇数フィールドか偶数フィールドかに応じてフィールド毎に書込極性が入れ替わるように、D/A変換器308によって、図3(b)で示すように正極性または負極性のデータ信号Vxに変換される。第1フィールドでは正極性のデータ信号に変換される。このデータ信号Vxは、データ線駆動回路140によって1〜n列目のデータ線114にデータ信号X1〜Xnとしてサンプリングされる。一方、1行1列〜1行n列の映像信号Vid−outが出力される水平走査期間では、走査制御回路20が走査線駆動回路130に対し走査信号Y1だけをHレベルとなるように制御する。走査信号Y1がHレベルであれば、データ線114にサンプリングされたデータ信号は、1行目の走査線112に接続されている第1メモリー126に書き込まれる。
次のフィールドでは、データ信号の極性反転によって映像信号Vid−outが負極性のデータ信号に変換される以外、同様な書込動作が実行される。
詳細には、データ信号Vxの電圧は、正極性であれば、白に相当する電圧Vw(+)から黒に相当する電圧Vb(+)までの範囲であり、一方、負極性であれば、白に相当する電圧Vw(−)から黒に相当する電圧Vb(−)までの範囲であり、それぞれ基準電圧Vcntから階調に応じた分だけ変化させた電圧となる。
電圧Vw(+)および電圧Vw(−)は、基準電圧Vcntを中心に互いに対称の関係にある。電圧Vb(+)およびVb(−)についても基準電圧Vcntを中心に互いに対称の関係にある。
なお、図3(b)は、データ信号Vxの電圧波形を示すものであって、液晶素子120に印加される電圧(画素電極118とコモン電極108との電位差)とは異なる。また、図3(b)におけるデータ信号の電圧の縦スケールは、図3(a)における走査信号等の電圧波形と比較して拡大してある。
図13(a)に示すように、映像信号Vid−inが60Hzの供給速度で供給され、この映像信号Vid−inにより、第1フレーム、第2フレーム、第3フレームと進むにつれて、画像が図中左から右に向かって1画素ずつスクロール移動する画像の表示が指定される。この場合、映像信号Vid−outが出力されたときには、図13(b)に示すように、第1〜第4フィールドにより構成される1フレーム期間の全体で(つまり、16.67ミリ秒にわたって)、同一箇所にリスク境界が固定的に存在する。同一位置にリスク境界が長期間にわたって存在すると、上述したように液晶分子の配向不良状態が安定しやすくなり、その隣接画素においてはリバースチルトドメインが発生しやすい状態になる。
なお、第1フィールドで作成された画像が表示される期間においては、走査制御回路20は、光源200をオフとし、第2フィールドから第4フィールドで作成された画像が表示される期間においては、光源200をオンとする。これにより、補正処理の行われた電圧が画素へ印加される期間(第1フィールドで作成された画像が表示されている期間)においては、液晶パネル100に光が照射されなくなるため、光源200を常にオンのままとする構成と比較すると、補正処理のされた画像が視認されなくなる。また、補正処理が行われていない画像が視認される期間(第2フィールドから第4フィールドで作成された画像が表示されている期間)にあっては、光源200がオンとなり補正処理のされていない画像、即ち、映像信号Vid−inに対応した画像が視認される。
また、本実施形態では、走査制御回路20による光源200の制御により、補正処理の行われた画像が視認されず、補正処理の行われていない画像が視認される期間が長くなるため、映像信号Vid−inに応じた画像を視認させることができる。
次に、図15(3)に示すように、第2検出部3042は、第1検出部3041によって検出された境界のうち、暗画素が上側に位置し明画素が下側に位置する部分と、暗画素が右側に位置し明画素が左側に位置する部分とを抽出して、これをリスク境界とする。
この場合、補正部306は、図16(a)にドットのハッチングで示すように、抽出されたリスク境界により定まる補正範囲に含まれる画素について、1フレームの一部(ここでは、第1フィールド)で中間階調Cmidの映像信号に補正する。なお、以下の説明においても、ドットのハッチングで示した画素は、補正対象の暗画素であることを意味する。
また、黒画素の或る一角において縦横に連続するリスク境界が位置している黒画素は、「リスク境界に接している」と扱う。これは、斜め方向に1画素分画像が移動したときに対処するためである。これに対して、黒画素の或る一角において縦または横のみに断裂したリスク境界が位置する黒画素については、縦横で連続したリスク境界が位置していないので、リスク境界に接しているとは見做さない。この内容は、明画素の場合でも共通する考え方であり、チルト方位角などに関係なく共通する内容であるから、以下ではその説明を適宜省略する。
また、本実施形態では、映像信号Vid−dで規定される画像のうち、映像信号が補正される画素は、リスク境界から予め定められた範囲内にある画素のみである。このため、映像信号Vid−dに基づかない表示が発生する部分は、チルト方位角を考慮しないで、明画素に隣接する暗画素のすべてを一律に補正する構成と比較して、少なく抑えることができる。
さらに、本実施形態では、設定値以上の映像信号を一律にクリップしないので、使用しない電圧範囲を設けることによってコントラスト比に悪影響を与えることもない。また、液晶パネル100の構造に変更等を加える必要がないので、開口率の低下を招くこともないし、また、構造を工夫しないで既に製作された液晶パネルに適用することも可能である。
上述した実施形態では、VA方式においてチルト方位角θbが45度である場合を例にとって説明した。次に、チルト方位角θbが45度以外の例について説明する。
まず、図17(a)に示すようにチルト方位角θbが225度である例について説明する。この例では、注目画素および周辺画素において液晶分子が不安定な状態から注目画素だけ明画素に変化したとき、当該注目画素においてリバースチルトは、図17(b)に示すように、左辺および下辺に沿った内周領域で発生する。なお、この例では、図6に示したチルト方位角θbが45度である場合の例を180度回転させたときと等価である。
チルト方位角θbが225度である場合には、チルト方位角θbが45度である場合にリバースチルトドメインが発生する要件(1)〜(3)のうち、要件(2)を次のように修正する。すなわち、
(2)nフレームにおいて、当該明画素(印加電圧高)が、隣接する暗画素(印加電圧低)に対して、液晶分子におけるチルト方位の上流側に相当する右上側、右側または上側に位置する場合に、
と修正する。なお、要件(1)および要件(3)についての変更はない。
したがって、チルト方位角θbが225度であれば、映像処理回路30における補正部306が、第1検出部3041で検出された境界のうち、暗画素が下側に位置し明画素が上側に位置する部分と、暗画素が左側に位置し明画素が右側に位置する部分のリスク境界に基づいて映像信号を補正するとよい。チルト方位角θbが225度である場合、図15(1)で示される画像は、図16(c)に示されるリスク境界から予め定められた範囲内にある画素の階調レベルが中間階調Cmidに補正される。
この構成によれば、チルト方位角θbが225度である場合、映像信号Vid−inで規定される画像において黒画素からなる領域が左下方向、左方向または下方向のいずれかに1画素だけ移動することによって、黒画素から白画素に変化する部分が存在しても、リスク境界に接する期間を1フレーム期間のうちの一部に短くすることができるから、リバースチルトドメインの発生を抑えることが可能となる。
このため、チルト方位角θbが90度である場合には、チルト方位角θbが45度である場合にリバースチルトドメインが発生する要件(1)〜(3)のうち、要件(2)を次のように修正する。すなわち、
(2)nフレームにおいて、当該明画素(印加電圧高)が、隣接する暗画素(印加電圧低)に対して、液晶分子におけるチルト方位の上流側に相当する左側のみならず、その左側で発生する領域の影響を受ける上側または下側に位置する場合に、
と修正する。なお、要件(1)および要件(3)についての変更はない。
したがって、チルト方位角θbが90度であれば、映像処理回路30における補正部306が、第1検出部3041で検出された境界のうち、暗画素が右側に位置し明画素が左側に位置する部分と、暗画素が上側に位置し明画素が下側に位置する部分と、暗画素が下側に位置し明画素が上側に位置する部分のリスク境界に基づいて映像信号を補正するとよい。チルト方位角θbが90度である場合、図15(1)で示される画像は、図16(b)に示されるリスク境界から予め定められた範囲内にある画素の階調レベルが中間階調Cmidに補正される。
この構成によれば、チルト方位角θbが90度である場合、映像信号Vid−inで規定される画像において黒画素からなる領域が上方向、右上方向、右方向、右下方向または下方向のいずれかに1画素だけ移動することによって、黒画素から白画素に変化する部分が存在しても、リスク境界に接する期間を1フレーム期間のうちの一部に短くすることができるから、リバースチルトドメインの発生を抑えることが可能となる。
次に本発明の第2実施形態について説明する。本実施形態に係る液晶表示装置1は、光源200をオンとするタイミングとオフとするタイミングが第1実施形態と異なる。なお、他の構成は第1実施形態と同じであるため、以下、第1実施形態との相違点について説明し、第1実施形態と同じ構成については同じ符号を付してその説明を省略する。
上述した実施形態においては、表示制御信号SETを出力することにより、面順次駆動で液晶パネル100を駆動しており、表示制御信号SETをHレベルにすることにより、データ信号に応じた電圧が全画素の画素電極118に印加され、全画素の液晶素子120はデータ信号に応じた透過率に変化する。しかしながら、液晶素子120においては、表示制御信号SETがHレベルになったときにデータ信号に応じた透過率になるのではなく、具体的には、データ信号に応じた電圧が印加されてから液晶の透過率が変化を開始し、液晶の応答が完了した時点でデータ信号に応じた透過率となる。
このため、第2フィールドで表示制御信号SETをHレベルにした時点で光源をオンとすると、この時点では、液晶の応答が完了しておらず、第1フィールドで作成した画像が視認される虞がある。
なお、図19においては、第1フィールドにおいて、表示制御信号SETをHレベルにしてから液晶105の応答速度の時間tが経過した後で光源200をオフとしているが、走査制御回路20は、第1フィールドで表示制御信号SETをHレベルにした時点で光源200をオフとするようにしてもよい。
次に本発明の第3実施形態について説明する。本実施形態に係る液晶表示装置1は、液晶パネル100に照射する光の光量が連続的に変化する点が第1実施形態と異なる。なお、他の構成は第1実施形態と同じであるため、以下、第1実施形態との相違点について説明し、第1実施形態と同じ構成については同じ符号を付してその説明を省略する。
また、上述した第1実施形態においては、走査制御回路20は、第2フィールドにおいて表示制御信号SETがHレベルになった時点で光源200をオンにしているが、本実施形態においては、図20に示したように、走査制御回路20は、第2フィールドにおいて表示制御信号SETがHレベルになった時点から光源200を制御して光量を連続的に増加させ、予め定められた時間が経過した時点で光量を予め定められた光量L1となるように光源200を制御する。
次に本発明の第4実施形態について説明する。本実施形態に係る液晶表示装置1は、液晶パネル100の駆動方式が線順次方式である点が第1実施形態と異なる。以下、第1実施形態との相違点について説明し、第1実施形態と同じ構成については同じ符号を付してその説明を省略する。
また、図22に示すように、本実施形態に係る液晶パネル100は、走査線112とデータ線114との交差に対応して、画素電極118とコモン電極108とで液晶105を挟持した液晶素子120が配列した構成である。本実施形態においても、液晶素子120に対して並列に蓄積容量125が設けられる。蓄積容量125は、一端が画素電極118に接続され、他端が容量線115に共通接続されている。容量線115は時間的に一定の電圧に保たれている。
ここで、走査線112がHレベルになると、その走査線にゲート電極が接続されたTFT(Thin Film Transistor)116がオンとなり、画素電極118がデータ線114に接続される。このため、走査線112がHレベルであるときに、データ線114に階調に応じた電圧のデータ信号を供給すると、そのデータ信号は、オンしたTFT116を介して画素電極118に印加される。走査線112がLレベルになると、TFT116はオフするが、画素電極118に印加された電圧は、液晶素子120の容量性および蓄積容量125によって保持される。
液晶素子120では、画素電極118およびコモン電極108によって生じる電界に応じて液晶105の分子配向状態が変化する。このため、液晶素子120は、透過型であれば、印加・保持電圧に応じた透過率となる。液晶パネル100では、液晶素子120毎に透過率が変化するので、液晶素子120が画素に相当する。
1行1列〜1行n列の映像信号Vid−outが出力される水平走査期間では、走査制御回路20が走査線駆動回路130に対し走査信号Y1だけをHレベルとなるように制御する。走査信号Y1がHレベルであれば、1行目のTFT116がオン状態になるので、データ線114にサンプリングされたデータ信号は、オン状態にあるTFT116を介して画素電極118に印加される。これにより、1行1列〜1行n列の液晶素子には、それぞれ映像信号Vid−outで指定された階調レベルに応じた正極性電圧が書き込まれ、1行目の画素は、映像信号Vid−outに応じた階調となる。
以下同様な書込動作が3、4、・・・、m行目に対して実行され、これにより、各液晶素子に、映像信号Vid−outで指定された階調レベルに応じた電圧が書き込まれて、映像信号Vid−outで規定される透過像が作成されることなる。
次のフィールドでは、データ信号の極性反転によって映像信号Vid−outが負極性のデータ信号に変換される以外、同様な書込動作が実行される。
図23に示したように液晶パネル100においては、第1フィールドで1行目からm行目まで順番に走査信号が出力されて画素110への書き込みが行われ、第2フィールドで次の書き込みが行われるまで各行の画素110では書き込まれた状態が保持される。
第1フィールドで作成された画像においては、1行目の画像において補正処理がなされる場合や、m行目の画像において補正処理がなされる場合が生じ得る。つまり、本実施形態においては、第1フィールドで1行目の画素110への書き込みが開始されてからm行目の画素が第2フィールドで書き換えらるまでの期間において、補正された画素が表示される場合がある。
この構成によれば、補正処理がなされた画像が表示され得る期間においては、光源200がオフとなるため、補正処理のされていない画像、即ち、映像信号Vid−inに対応した画像を視認させることができる。
なお、本実施形態においても、第2実施形態のように液晶の応答速度に応じて、第2フィールドでm行目の走査信号Ymを出力してから時間tが経過した後で光源200をオンとするようにしてもよく、また、第3実施形態のように光量を連続的に増加・減少させるようにしてもよい。
上述した実施形態においては、リスク境界に接している暗画素からリスク境界の反対方向へ連続するr個の暗画素と、リスク境界に接している明画素からリスク境界の反対方向へ連続するs個の明画素を補正しているが、補正処理の構成は、この構成に限定されるものではない。以下、補正処理の変形例について説明する。
まず、補正処理の第1変形例について説明する。本変形例においては、判別部3043は、遅延して出力された映像信号Vid−dで示す画素が、第2検出部3042で抽出されたリスク境界に接している暗画素であるか否かを判別する。そして、判別部3043は、その判別結果が「Yes」である場合には、この暗画素について、1フレームの一部である第1フィールドに対応する期間だけ、出力信号のフラグQを「1」として出力する。一方で、判別部3043は、判別結果が「No」である場合、また、判別結果が「Yes」である場合の第2フィールドから第4フィールドに対応する期間においては、出力信号のフラグQを「0」として出力する。
補正部306は、判別部3043から供給されるフラグQが「1」であるとき、その暗画素の映像信号Vid−dを中間階調Cmidの映像信号に補正し、これを映像信号Vid−outとして出力する。これにより、補正部306により補正された映像信号Vid−outにあっては、1フレーム期間においてこの暗画素に接するリスク境界が存在する期間が、映像信号Vid−inよりも短くなる。換言すると、1フレーム期間においてリスク境界に接する画素が存在する期間が不連続となる。このような補正部306による補正処理によって、1フレーム期間において同一位置にリスク境界が連続して存在しないことになる。
次に、補正処理の第2変形例について説明する。本変形例においては、判別部3043は、遅延して出力された映像信号Vid−dで示す画素が、第2検出部3042で抽出されたリスク境界に接している明画素であるか否かを判別する。そして、判別部3043は、その判別結果が「Yes」である場合には、この明画素について、1フレームの一部である第1フィールドに対応する期間だけ、出力信号のフラグQを「1」として出力する。一方で、判別部3043は、判別結果が「No」である場合、また、判別結果が「Yes」である場合の第2フィールドから第4フィールドに対応する期間においては、出力信号のフラグQを「0」として出力する。
補正部306は、判別部3043から供給されるフラグQが「1」であるとき、その明画素の映像信号Vid−dを中間階調Cmidの映像信号に補正し、これを映像信号Vid−outとして出力する。これにより、補正部306により補正された映像信号Vid−outにあっては、1フレーム期間においてこの明画素に接するリスク境界が存在する期間が、映像信号Vid−inよりも短くなる。換言すると、1フレーム期間においてリスク境界に接する画素が存在する期間が不連続となる。このような補正部306による補正処理によって、1フレーム期間において同一位置にリスク境界が連続して存在しないことになる。
次に、補正処理の第3変形例について説明する。上述した実施形態においては、映像処理回路30は、リスク境界に接している暗画素からリスク境界の反対方向へ連続するr個の暗画素と、リスク境界に接している明画素からリスク境界の反対方向へ連続するs個の明画素を補正しているが、リスク境界に接している暗画素からリスク境界の反対方向へ連続するr個の暗画素を補正し、リスク境界に接している明画素については補正を行わないようにしてもよい。また、映像処理回路30は、リスク境界に接している明画素からリスク境界の反対方向へ連続するs個の明画素を補正し、リスク境界に接している暗画素については補正を行わないようにしてもよい。
また、上述した実施形態においては、r=2、s=2としていたが、これらの値はあくまで一例である。よって、r,sはそれぞれ「2」以上の整数であってもよいし、これらの値が相違していてもよい。
次に、補正処理の第4変形例について説明する。上述した実施形態及び変形例においては、第1フィールドにおいて補正処理を行なっているが、第1フィールドと第2フィールドで補正処理を行い、第3フィールドと第4フィールドでは補正処理を行わないようにしてもよい。また、第1フィールドと第2フィールドで補正処理を行う構成にあっては、リスク境界に接している暗画素を最大階調のCmaxに補正してもよい。また、第1フィールドと第2フィールドで補正処理を行う構成にあっては、リスク境界に接している明画素を最小階調のCminに補正してもよい。
なお、第1フィールドと第2フィールドで補正処理を行う場合、補正処理がされた画像が表示される期間に応じて、光源200をオンとするタイミングを変更する。
次に、補正処理の第5変形例について説明する。動きを伴う画像である場合、映像信号Vid−inで示される現フレームの画像において、リスク境界に接する画素であっても、現フレームの1つ前である前フレームを含めた動きを考えると、映像信号を補正する必要があるときと、補正する必要がないときとがある。この変形例では、上述したように暗画素及び明画素の映像信号を補正する構成で、前フレームから現フレームにかけての画像の動きを考慮して、補正対象の画素を定めている。以下の説明において、上述した実施形態と同じ構成については同一の符号を付して表し、その説明については適宜省略する。
現フレーム検出部3121は、現フレームの映像信号Vid−inで示される画像を解析して、階調範囲aにある暗画素(第1画素)と階調範囲bにある明画素(第2画素)とが垂直または水平方向で隣接する部分があるか否かを判別する。そして、現フレーム検出部3121は、隣接する部分があると判別したときに、その隣接部分をリスク境界として検出して、そのリスク境界の位置情報Risk_edge(n)を出力する。
遅延回路3122は、遅延回路302と同等の構成を有し、供給された映像信号Vid−inを1フレーム期間だけ遅延させて出力するものである。
前フレーム検出部3123は、遅延回路3122から出力された前フレームの映像信号Vid−inで示される画像を解析して、暗画素と明画素とが垂直または水平方向で隣接する部分があるか否かを判別する。そして、前フレーム検出部3123は、隣接する部分があると判別したときに、その隣接部分をリスク境界として検出して、そのリスク境界の位置情報Risk_edge(n−1)を出力する。
判別部3124は、その判別結果が「Yes」である場合には、この暗画素からリスク境界の反対方向へ連続するr個(本実施形態では、r=2である。)の暗画素について、第1フィールドに対応する期間だけ、出力信号のフラグQを「1」として出力するとともに、このリスク境界に接している明画素から、リスク境界の反対方向へ連続するs個(本実施形態では、s=2である。)の明画素について、第1フィールドに対応する期間だけ、出力信号のフラグQを「1」として出力する。一方で、判別部3124は、それ以外の画素については、出力信号のフラグQを「0」として出力する。
前フレームの映像信号Vid−inで示される画像が例えば図25(1)に示されるとおりであって、現フレームの映像信号Vid−inで示される画像が例えば図25(2)に示されるとおりである場合、すなわち、階調範囲aの暗画素からなるパターンが、階調範囲bにある明画素を背景に左方向にスクロール移動する場合、前フレーム検出部3123により検出される境界は図25(1)に示されるとおりであり、現フレーム検出部3121により検出される境界は図25(2)に示されるとおりである。そして、現フレーム検出部3121により検出される境界のうち、前フレーム検出部3123により検出される境界と重複しないものが、前フレームから現フレームにかけて変化した境界となる。よって、この実施形態のリスク境界は、図25(3)で示されるとおりである。判別部3124では、この変化した境界の中から、暗画素が上側に位置し明画素が下側に位置する部分と、暗画素が右側に位置し明画素が左側に位置する部分とであるリスク境界に相当する部分に隣接する画素が補正対象となる。
本変形例によれば、上述した実施形態と共通の作用効果を奏するとともに、リバースチルトドメインがより発生しやすい箇所に絞り込んで映像信号を補正することができる。これにより、映像信号の変更を更に抑えつつリバースチルトドメインの発生を効果的に抑えることができる。
次に、補正処理の第6変形例について説明する。以下の説明において、補正処理の第5変形例と同じ構成については同一の符号を付して表し、その説明については適宜省略する。
上述した補正処理の第5変形例では、画像の動きを考慮して、リスク境界を挟んで互いに隣接する明画素および暗画素に基づいて画素の映像信号を補正していた。これに対し、本変形例では、映像処理回路30は、現フレームにおいて暗画素と明画素とが隣接する境界を検出し、該検出した境界のうち、前フレームから現フレームにかけて1画素分(縦、横、斜めのいずれかの方向)だけ移動したリスク境界に接する画素を補正対象とする。図5を用いて既に説明したように、明画素を背景とした暗画素の領域がフレーム毎に2画素以上ずつ移動するときに、このような尾引き現象は顕在化しない(または、視認されにくい)。そこで、映像処理回路30がこのような1画素分だけ移動したリスク境界の隣接画素を補正対象とし、それ以外の画素を補正対象としない。
上述した実施形態においては、第1検出部3041は、階調範囲aにある暗画素と階調範囲bにある明画素とが垂直または水平方向で隣接する部分がある場合、その隣接部分を境界として検出して、境界の位置情報を出力しているが、この構成に限定されるものではない。
本変形例に係る第1検出部3041は、隣接する画素間の階調差が予め定められた階調差以上となる境界のうち、当該境界に接する低階調側の画素の階調が予め定められた第1階調以上であり、且つ、当該境界に接する高階調側の画素の階調が予め定められた第2階調以上(但し、第2階調>第1階調)である境界を検出し、検出した境界の位置情報を出力する。次に、本変形例に係る第2検出部3042は、第1検出部3041により検出された境界のうち、低階調側の画素が上側に位置し高階調側の画素が下側に位置する部分と、低階調側の画素が右側に位置し高階調側の画素が左側に位置する部分とを抽出して、リスク境界として検出し、リスク境界の位置情報を出力する。
次に、上述した実施形態に係る電気光学装置を用いた電子機器の例について説明する。図27は、上述した液晶表示装置1の液晶パネル100をライトバルブとして用いた3板式プロジェクターの構成を示す平面図である。このプロジェクター2100において、ライトバルブに入射させるための光は、光源200や光源200から出力された光を平行化する光学系を備えた光出力部2102から出力され、内部に配置された3枚のミラー2106および2枚のダイクロイックミラー2108によってR(赤)、G(緑)、B(青)の3原色に分離されて、各原色に対応するライトバルブ100R、100Gおよび100Bにそれぞれ導かれる。なお、B色の光は、他のR色やG色と比較すると、光路が長いので、その損失を防ぐために、入射レンズ2122、リレーレンズ2123および出射レンズ2124からなるリレーレンズ系2121を介して導かれる。
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上述した実施形態に限定されることなく、他の様々な形態で実施可能である。例えば、上述の実施形態を以下のように変形して本発明を実施してもよい。なお、上述した実施形態及び以下の変形例は、各々を組み合わせてもよい。
上述した実施形態においては、補正処理がなされた画像が保持されている期間において光源200をオフとしているが、光源200をオフとするのではなく、補正処理がなされた画像が保持されている期間においては、光量L1より少ない予め定められた光量以下の光が液晶パネル100に照射されるようにしてもよい。
上述した第4実施形態においては、光源200から出力されて平行化された光が液晶パネル100に照射される構成となっているが、光源200から出力された光を例えばポリゴンミラーを用いて走査し、走査線112がHレベルとなった行の画素に光が照射される構成としてもよい。この構成によれば、データ信号の書き込みがなされた行から順番に光を照射できるため、第4実施形態のように、m行目の画素への書き込みが終了するまで光源200をオフとすることがなく、補正処理がなされていない画像が視認される期間を長くすることができる。
上述した実施形態では、液晶105にVA方式を用いた例について説明した。そこで次に、液晶105にTN方式とした例について説明する。
図28(a)は、液晶パネル100における2×2の画素を示す図であり、図28(b)は、図28(a)におけるp−q線を含む垂直面で破断したときの簡易断面図である。
これらの図に示すように、TN方式の液晶分子は、画素電極118とコモン電極108との電位差がゼロである状態において、チルト角がθaであって、チルト方位角がθb(=45度)で、初期配向しているものとする。TN方式は、VA方式とは反対に、基板水平方向に傾斜するので、TN方式のチルト角θaは、VA方式の値よりも大きい。
このため、液晶105にTN方式を用いるとともに、ノーマリーホワイトモードとしたとき、液晶素子120の印加電圧と透過率との関係は、図4(b)に示されるようなV−T特性で表され、印加電圧が高くなるにつれて透過率が減少する。ただし、階調範囲aに属する画素と階調範囲bに属する画素とが隣接した場合にリスク境界が発生して、リンバースチルトドメインが発生するという点においては、ノーマリーブラックモードと変わりはない。
しかしながら、白画素の画素電極118(Wt)と黒画素の画素電極118(Bk)との間隙で生じる電位差は、黒画素の画素電極118(Bk)とコモン電極108との間で生じる電位差と同程度である上に、画素電極同士の間隙が画素電極118とコモン電極108との間隙よりも狭い。よって、電界の強度で比較すると、画素電極118(Wt)と画素電極118(Bk)との間隙で生じる横電界は、画素電極118(Bk)とコモン電極108との間隙で生じる縦電界よりも強い。
右上の画素は、(n−1)フレームにおいて液晶分子が不安定な状態の白画素であっため、液晶分子が縦電界の強度に応じて傾斜するまでに時間がかかる。一方、黒レベルの電圧が画素電極118(Bk)に印加されたことによる縦電界よりも、隣接する画素電極118(Wt)からの横電界の方が強いので、黒になろうとしている画素では、図28(b)に示すように、白画素に隣接する側の液晶分子Rvが、縦電界にしたがって傾斜しようとする他の液晶分子よりも時間的に先んじてリバースチルト状態となる。
先にリバースチルト状態となった液晶分子Rvは、縦電界にしたがって破線のように基板水平方向に起立しようとする他の液晶分子の動きに悪影響を与える。このため、黒に変化すべき画素においてリバースチルトが発生する領域は、図29(c)に示すように、黒に変化すべき画素と白画素との間隙にとどまらず、その間隙から黒に変化すべき画素を浸食する形で広範囲に拡がる。
したがって、図29に示した内容から、黒に変化しようとする着目画素の周辺が白画素であった場合、当該着目画素に対して白画素が左下側、左側および下側で隣接するとき、当該着目画素では、リバースチルトが左辺および下辺に沿った内周領域にて発生することになる。
一方、2×2の4画素のうち、左下において白から黒に変化する画素では、液晶分子の初期配向方向が横電界の影響を受けにくい方向であるので、縦電界が加わっても、リバースチルト状態となる液晶分子がほとんど存在しない。このため、左下画素では、縦電界の強度が大きくなるにつれて、液晶分子が基板面の垂直方向に図30(b)において破線で示すように正しく起立する結果、目的である黒画素に変化するので、表示品位の劣化が発生しないことになる。
(2)nフレームにおいて、当該暗画素(印加電圧高)が、隣接する明画素(印加電圧低)に対して右上側、右側または上側に位置する場合に、
(3)nフレームにおいて当該暗画素に変化する画素は、1フレーム前の(n−1)フレームでは、液晶分子が不安定な状態にあったとき
nフレームにおいて当該暗画素でリバースチルトが発生する、ということになる。
したがって、この発生状態を、(n+1)フレームを基準として考え直した場合、画像の動きによって、(n+1)フレームにおいて暗画素が上記位置関係を満たすことになっても、変化前のnフレームにおいて、当該画素に接するリスク境界が1フレーム期間で同一位置に継続して存在しないように措置を施してやればよい、ということになる。
ノーマリーホワイトモードでは、ノーマリーブラックモードとは反対に、階調レベルが高い(明るい)ほど、液晶素子の印加電圧が低くなる点を考慮すれば、映像処理回路30の構成を、次のように変更すればよいことになる。
すなわち、nフレームにおいて、映像処理回路30におけるリスク境界を検出する第2検出部3042や、現フレーム検出部3121及び前フレーム検出部3123が、暗画素が下側に位置し明画素が上側に位置する部分と、暗画素が左側に位置し明画素が右側に位置する部分と、を抽出して、リスク境界として検出する構成であればよい。補正部306がこのリスク境界に基づいて映像信号を補正する画素については、上記で説明したとおりである。
なお、この例では、TN方式においてチルト方位角θbを45度とした例を説明したが、リバースチルトドメインの発生方向がVA方式と逆になる点を考慮すれば、チルト方位角θbが45度以外の角度である場合の措置、そのための構成についても、いままでの説明から容易に類推できるはずである。
また、本発明の制御回路10は、4倍速駆動に限られず、例えば2倍速や8倍速駆動などの倍速駆動を採用する液晶表示装置にも適用可能である。要するに、本発明は、ある映像信号に基づいて画像が表示される場合に、1フレーム期間においてリスク境界が存在する期間が短くなるように、1フレーム期間継続してリスク境界が同一位置に存在しないように、1フレームを構成する複数フィールドの少なくともいずれかにおいて明画素および暗画素の少なくとも一方の映像信号を補正するものであればよい。また、本発明は、上述した補正処理がされた画像を表示する期間においては、補正処理がされない画像が表示される期間より、液晶パネル100に照射される光量が少なくなるものであればよい。
また、補正部306は、暗画素を補正する場合には、液晶素子120への印加電圧として閾値Vth1以上を指定する映像信号に補正し、また、明画素を補正する場合には、液晶素子120への印加電圧として閾値Vth2以下を指定する映像信号に補正すれば、リバースチルトドメインを抑制するという効果を奏する。
上述した各実施形態において、映像信号Vid−inは、画素の階調レベルを指定するものとしたが、液晶素子の印加電圧を直接的に指定するものとしてもよい。映像信号Vid−inが液晶素子の印加電圧を指定する場合、指定される印加電圧によって境界を判別して、電圧を補正する構成とすればよい。また、各実施形態において、液晶素子120は、透過型に限られず、反射型であってもよい。
上述した各実施形態においては、暗画素と明画素との境界を検出するものとしたが、画素に印加する電圧を映像信号Vid−inに基いて特定し、当該電圧に基いて暗画素と明画素との境界を検出する構成としてもよい。また、本発明においては、画素の階調を映像信号Vid−inに基いて特定し、当該階調に基いて暗画素と明画素との境界を検出する構成としてもよい。
上述した実施形態においては、光源はレーザーダイオードとなっているが、レーザーダイオードに限定されるものではなく、LED(Light Emitting Diode)であってもよい。
Claims (10)
- 画素の印加電圧を指定する入力映像信号を補正し、補正された映像信号を前記画素を有する液晶パネルへ出力する画像処理装置であって、
前記入力映像信号により第1の階調範囲に含まれる暗画素となる画素と前記入力映像信号で第2の階調範囲に含まれる明画素となる画素との境界を検出する境界検出部と、
前記入力映像信号を取得し、前記境界検出部で検出された境界に接する前記暗画素および前記明画素の少なくとも一方への印加電圧を指定する前記入力映像信号を補正する補正部と、
前記補正部で補正された映像信号が前記液晶パネルに表示されている期間内において前記液晶パネルに照射される光の光量が、前記入力映像信号が前記液晶パネルに表示されている期間において前記液晶パネルに照射される光の光量より小さくなるように、前記液晶パネルに照射される光を出力する光源を制御する制御部と
を備える画像処理装置。 - 1フレームを、n個のフィールドで構成し、
前記補正された映像信号を、前記n個のフィールドのうちの一部で表示し、
前記n個のフィールドのうちの残りでは、前記入力映像信号により表示を行う
請求項1に記載の画像処理装置。 - 複数の画素を備えた液晶パネルに用いられる画像処理装置であって、
前記画像処理処置は、
前記複数の画素のそれぞれに印加する電圧を制御する信号に基いて、第1の画素に対応つけられ、第1の基準電圧よりも低い第1の電圧を印加する第1の信号と、前記第1の画素に隣り合う第2の画素に対応つけられ、第2の基準電圧よりも高い第2の電圧を印加する第2の信号とを検出する検出部と、
前記第1の信号を前記第1の電圧よりも高い第3の電圧を印加する第3の信号に補正し、前記第2の信号を前記第2の電圧よりも低い第4の電圧を印加する第4の信号に補正する補正部と、
前記第3の信号と前記第4の信号とが前記液晶パネルに表示されている期間内において前記液晶パネルに照射される光の光量が、前記第1の信号と前記第2の信号とが前記液晶パネルに表示されている期間において前記液晶パネルに照射される光の光量より小さくなるように、前記液晶パネルに照射される光を出力する光源を制御する制御部と
を備えることを特徴とする画像処理装置。 - 複数の画素を備えた液晶パネルに用いられる画像処理装置であって、
前記画像処理処置は、
前記複数の画素のそれぞれで表示する階調レベルを制御する信号に基いて、第1の画素に対応つけられ、第1の基準階調レベルよりも低い第1の階調を表示する第1の信号と、前記第1の画素に隣り合う第2の画素に対応つけられ、第2の基準階調レベルよりも高い第2の階調を表示する第2の信号とを検出する検出部と、
前記第1の信号を前記第1の階調よりも高い第3の階調を表示する第3の信号に補正し、前記第2の信号を前記第2の階調よりも低い第4の階調を表示する第4の信号に補正する補正部と、
前記第3の信号と前記第4の信号とが前記液晶パネルに表示されている期間内において前記液晶パネルに照射される光の光量が、前記第1の信号と前記第2の信号とが前記液晶パネルに表示されている期間において前記液晶パネルに照射される光の光量より小さくなるように、前記液晶パネルに照射される光を出力する光源を制御する制御部と
を備えることを特徴とする画像処理装置。 - 1フレームを、n個のフィールドで構成し、
前記第3の信号と前記第4の信号とを、前記n個のフィールドのうちの一部で表示し、
前記n個のフィールドのうちの残りでは、前記第1の信号と前記第2の信号とにより表示を行う
を特徴とする請求項3または4に記載の画像処理装置。 - 複数の画素を備えた液晶パネルに用いられ、フレーム毎に前記複数の画素のそれぞれに表示する階調レベルを制御する信号を処理する画像処理装置であって、
前記画像処理処置は、
第1のフレームにおいて、第1の画素に、第1の基準電圧よりも低い第1の電圧を印加する第1の信号と、前記第1の画素に隣り合う第2の画素に、第2の基準電圧よりも高い第2の電圧を表示する第2の信号とを検出する第1の検出部と、
前記第1のフレームよりも前の第2のフレームにおいて、第3の画素に、前記第1の基準電圧よりも低い第3の電圧を表示する第3の信号と、第3の画素に隣り合う第4の画素に、第2の基準電圧よりも高い第4の電圧を表示する第4の信号とを検出する第2の検出部と、
前記第1の画素と前記第2の画素とが、前記第3の画素と前記第4の画素と同じでない場合、前記第1の信号を前記第1の電圧より高い電圧を印加する第5の信号に補正し、前記第2の信号を前記第2の電圧より低い電圧を印加する第6の信号に補正する補正部と、
前記第5の信号と前記第6の信号とが前記液晶パネルに表示されている期間内において前記液晶パネルに照射される光の光量が、前記第1の信号と前記第2の信号とが前記液晶パネルに表示されている期間において前記液晶パネルに照射される光の光量より小さくなるように、前記液晶パネルに照射される光を出力する光源を制御する制御部と
を備える画像処理装置。 - 複数の画素を備えた液晶パネルに用いられ、フレーム毎に前記複数の画素のそれぞれに表示する階調レベルを制御する信号を処理する画像処理装置であって、
前記画像処理処置は、
第1のフレームにおいて、第1の画素に、第1の基準階調レベルよりも低い第1の階調レベルを表示する第1の信号と、前記第1の画素に隣り合う第2の画素に、第2の基準階調レベルよりも高い第2の階調レベルを表示する第2の信号とを検出する第1の検出部と、
前記第1のフレームよりも前の第2のフレームにおいて、第3の画素に、前記第1の基準階調レベルよりも低い第3の階調レベルを表示する第3の信号と、第3の画素に隣り合う第4の画素に、第2の基準階調レベルよりも高い第4の階調レベルを表示する第4の信号とを検出する第2の検出部と、
前記第1の画素と前記第2の画素とが、前記第3の画素と前記第4の画素と同じでない場合、前記第1の信号を前記第1の階調レベルより高い階調レベルを表示する第5の信号に補正し、前記第2の信号を前記第2の階調レベルより低い階調レベルを表示する第6の信号に補正する補正部と、
前記第5の信号と前記第6の信号とが前記液晶パネルに表示されている期間内において前記液晶パネルに照射される光の光量が、前記第1の信号と前記第2の信号とが前記液晶パネルに表示されている期間において前記液晶パネルに照射される光の光量より小さくなるように、前記液晶パネルに照射される光を出力する光源を制御する制御部と
を備える画像処理装置。 - 1フレームを、n個のフィールドで構成し、
前記第5の信号と前記第6の信号とを、前記n個のフィールドのうちの一部で表示し、
前記n個のフィールドのうちの残りでは、前記第1の信号と前記第2の信号とにより表示を行う
を特徴とする請求項6または7に記載の画像処理装置。 - 前記画像処理装置を備えたことを特徴とする請求項1ないし8のいずれかに記載の液晶表示装置。
- 請求項9に記載された液晶表示装置を有することを特徴とする電子機器。
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