JP2014154763A - Cigs膜およびそれを用いるcigs太陽電池 - Google Patents

Cigs膜およびそれを用いるcigs太陽電池 Download PDF

Info

Publication number
JP2014154763A
JP2014154763A JP2013024585A JP2013024585A JP2014154763A JP 2014154763 A JP2014154763 A JP 2014154763A JP 2013024585 A JP2013024585 A JP 2013024585A JP 2013024585 A JP2013024585 A JP 2013024585A JP 2014154763 A JP2014154763 A JP 2014154763A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cigs
ratio
film
buffer layer
end surface
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2013024585A
Other languages
English (en)
Inventor
Taichi Watanabe
太一 渡邉
Hiroto Nishii
洸人 西井
Seiki Terachi
誠喜 寺地
Yusuke Yamamoto
祐輔 山本
Kazunori Kawamura
和典 河村
Takashi Minemoto
高志 峯元
Chantana Jakapan
ジャカパン チャンタナ
Masashi Murata
雅 村田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nitto Denko Corp
Original Assignee
Nitto Denko Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nitto Denko Corp filed Critical Nitto Denko Corp
Priority to JP2013024585A priority Critical patent/JP2014154763A/ja
Priority to PCT/JP2014/051508 priority patent/WO2014125901A1/ja
Priority to TW103103783A priority patent/TW201442257A/zh
Publication of JP2014154763A publication Critical patent/JP2014154763A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02436Intermediate layers between substrates and deposited layers
    • H01L21/02494Structure
    • H01L21/02496Layer structure
    • H01L21/0251Graded layers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02436Intermediate layers between substrates and deposited layers
    • H01L21/02439Materials
    • H01L21/02485Other chalcogenide semiconducting materials not being oxides, e.g. ternary compounds
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • H01L31/06Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers
    • H01L31/065Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the graded gap type
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • H01L31/06Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers
    • H01L31/072Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the PN heterojunction type
    • H01L31/0749Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the PN heterojunction type including a AIBIIICVI compound, e.g. CdS/CulnSe2 [CIS] heterojunction solar cells
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/541CuInSe2 material PV cells

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Sustainable Energy (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)

Abstract

【課題】変換効率に優れるCIGS膜およびそれを用いたCIGS太陽電池を提供する。
【解決手段】CIGS膜内の(In+Ga)に対するGaの割合(α)が、バッファ層側の端面(i)から深さ方向に向かって減少し、所定深さ(ii)において最小値を示し、上記所定深さ(ii)から裏面電極層側の端面(iii)に向かって増加するようになっており、上記割合(α)のうち、バッファ層側の端面(i)における割合(α1)、所定深さ(ii)における割合(α2)、裏面電極層側の端面(iii)における割合(α3)が特定の範囲に設定されているとともに、バッファ層側の端面(i)から所定深さ(ii)までの距離を(d)とし、バッファ層側の端面(i)から裏面電極層側の端面(iii)までの距離(D)としたときに、0.2≦d/D≦0.4の関係を満たすようにした。
【選択図】図2

Description

本発明は、CIGS太陽電池の光吸収層として用いられ、良好な特性を有するCIGS膜およびそれを用いるCIGS太陽電池に関する。
アモルファスシリコン太陽電池や化合物薄膜太陽電池に代表される薄膜型太陽電池は、従来の結晶型シリコン太陽電池と比較すると、材料コストや製造コストの大幅な削減が可能である。このため、近年、これらの研究開発が急速に進められている。なかでも、I族、III族、VI族の元素を構成物質とした化合物薄膜太陽電池であって、光吸収層が銅(Cu)、インジウム(In)、ガリウム(Ga)、セレン(Se)合金からなるCIGS太陽電池は、シリコンを全く使用せず、しかも優れた太陽光変換効率(以下「変換効率」とする)を有するため、薄膜太陽電池の中でも特に注目されている。
このようなCIGS太陽電池に用いられるCIGS膜は、InとGaの組成比を調整することによりバンドギャッププロファイルを制御することができる。すなわち、pn接合面であるバッファ層側の端面から裏面電極層側の端面に向かって、深さ方向にGa/(In+Ga)比を徐々に増加させることにより、グレーデッドバンドギャップを形成すると、開放電圧を大きくすることができることが知られている。さらに、バッファ層側にGa濃度の高い層を形成することにより、ダブルグレーデッドバンドギャップを形成すると、pn接合面でのバンドギャップが拡大し、より高い変換効率を達成できることが知られている(例えば、特許文献1参照)。
しかしながら、CIGS膜がダブルグレーデッドバンドギャップ構造を有するようにすると、高い変換効率を達成できることは知られているものの、その具体的なプロファイルについては、未だ研究途中であり、知られていない現状にある。
特開平10−135498号公報
本発明は、このような事情に鑑みなされたもので、CIGS膜の深さ方向に対するInとGaの組成比のプロファイルを制御することより、高い変換効率を得ることのできるCIGS膜およびそれを用いたCIGS太陽電池の提供をその目的とする。
上記目的を達成するため、本発明のCIGS膜は、基板と、裏面電極層と、光吸収層と、バッファ層と、透明電極層とをこの順で有するCIGS太陽電池の光吸収層として用いられるCIGS膜であって、膜内の(In+Ga)に対するGaの割合(α)が、バッファ層側の端面(i)から深さ方向に向かって減少し、所定深さ(ii)において最小値を示し、上記所定深さ(ii)から裏面電極層側の端面(iii)に向かって増加するようになっており、上記割合(α)のうち、バッファ層側の端面(i)における割合を(α1)、所定深さ(ii)における割合を(α2)、裏面電極層側の端面(iii)における割合を(α3)とすると、α1が0.25以上0.5以下、α2が0.1以上0.4以下、α3が0.3以上0.6以下であり、かつ、α3>α1に設定されているとともに、バッファ層側の端面(i)から所定深さ(ii)までの距離を(d)とし、バッファ層側の端面(i)から裏面電極層側の端面(iii)までの距離(D)としたときに、0.2≦d/D≦0.4の関係を満たすようになっていることを第1の要旨とする。
そして、基板上に、裏面電極層と、光吸収層と、バッファ層と、透明導電層とを有するCIGS太陽電池であって、上記光吸収層として、第1の要旨のCIGS膜からなる光吸収層を用いたものであるCIGS太陽電池を第2の要旨とする。
すなわち、本発明者らは、高い変換効率を達成する太陽電池を得るため、ダブルグレーデッドバンドギャップ構造を有するCIGS膜の、深さ方向に対するInとGaの組成比のプロファイルに着目し、研究を重ねた。その結果、膜内の(In+Ga)に対するGaの割合(α)を、バッファ層側の端面(i)および裏面電極層側の端面(iii)において特定の範囲に設定するだけでなく、その割合(α)が最小値となる所定深さ(ii)においても特定の範囲となるよう設定し、かつ、バッファ層側の端面(i)から所定深さ(ii)までの距離を(d)とし、バッファ層側の端面(i)から裏面電極層側の端面(iii)までの距離(D)としたときに、d/Dが特定の関係を満たすようにすると、短絡電流および開放電圧の双方を一層改善することができることを見出し、本発明に想到した。
なお、本発明において、CIGS膜の深さ方向の(In+Ga)に対するGaの割合(α)は、D−SIMS(ダイナミックシムス)評価装置(アルバック・ファイ社製)によって測定されるものである。また、CIGS膜の(In+Ga)に対するCuの割合は、対象とするCIGS膜のCu、In、Gaの含有量を、エネルギー分散型蛍光X線装置(堀場製作所社製、EX−250)を用いて測定し、これらの原子数濃度に基づいて算出されるものである。
また、本発明において、「固相」とは、その温度において固体状態にある相のことをいい、「液相」とは、その温度において液体状態にある相のことを意味する。
さらに、本発明において、「基板に層(A)と層(B)を積層する」とは、基板に直接これらを積層する場合だけでなく、基板に他の層を介してこれらを積層する場合を含むことを意味する。
このように、本発明のCIGS膜は、基板と、裏面電極層と、光吸収層と、バッファ層と、透明電極層とを有するCIGS太陽電池の光吸収層として用いられるCIGS膜であって、膜内の(In+Ga)に対するGaの割合(α)が、バッファ層側の端面(i)から深さ方向に向かって減少し、所定深さ(ii)において最小値を示し、上記所定深さ(ii)から裏面電極層側の端面(iii)に向かって増加するようになっている。このため、CIGS膜がグレーデッドバンドギャップを有する構造を有し、これを光吸収層に用いたCIGS太陽電池は、優れた変換効率を達成することができる。そして、上記割合(α)のうち、バッファ層側の端面(i)における割合を(α1)、所定深さ(ii)における割合を(α2)、裏面電極層側の端面(iii)における割合を(α3)としたときに、α1が0.25以上0.5以下、α2が0.1以上0.4以下、α3が0.3以上0.6以下であり、かつ、α3>α1に設定されているとともに、バッファ層側の端面(i)から所定深さ(ii)までの距離を(d)とし、バッファ層側の端面(i)から裏面電極層側の端面(iii)までの距離(D)としたときに、0.2≦d/D≦0.4の関係を満たすようになっているため、このCIGS膜をCIGS太陽電池の光吸収層として用いた際に、短絡電流および開放電圧の双方を一層改善することができ、より優れた変換効率を達成することができる。
また、バッファ層側の端面(i)から所定深さ(ii)までの距離(d)が、300以上1000nm以下に設定されていると、バッファ層側の端面(i)から所定深さ(ii)までの間において、内部電界がかかりやすく、CIGS膜の深部で生成された電子を取り出しやすくなる。また、バッファ層側の端面(i)から裏面電極層側の端面(iii)までの間(膜全体)の開放電圧を増加させることができ、電子の取出しと開放電圧とのバランスに優れるようになる。すなわち、バッファ層側の端面(i)から所定深さ(ii)までの距離が長すぎる場合、バッファ層側の端面(i)から所定深さ(ii)までの間において、内部電界がかかる領域が少なく、CIGS膜の深部で生成された電子が取り出しにくくなるおそれがあり、逆に、バッファ層側の端面(i)から所定深さ(ii)までの距離(d)が短すぎる場合、バッファ層側の端面(i)付近に急激なGa勾配を形成する必要が生じてしまい、充分に開放電圧を上昇させることができないおそれがあるためである。
そして、バッファ層側の端面(i)から裏面電極層側の端面(iii)までの膜全体の距離(D)が、1.5以上〜2.5μm以下に設定されていると、効率よく光を吸収させることができ、しかも、充分な発電量を得ることができる。すなわち、必要な膜全体の距離(D)(CIGS膜の厚み)は、CIGS膜の結晶品質に依存するものではあるが、距離が短すぎる(厚みが薄すぎる)と、光を吸収しきれず、変換効率が低下するおそれがあり、逆に、距離が長すぎる(厚みが厚すぎる)と、膜形成にかかる時間が増加し、生産性が低下するおそれがあるためである。
さらには、α1、α2、α3の平均(αAVE)〔(α1+α2+α3)/3〕が、0.32以上0.42以下に設定されていると、このCIGS膜をCIGS太陽電池の光吸収層として用いた際に、開放電圧をさらに一層改善することができ、より優れた変換効率を達成することができる。これは、CIGS膜中のGa含有量が、バンドギャップ値を決定していることに起因する。Ga濃度が高い時、バンドギャップは大きくなるため、開放電圧は向上するが、電流は低下する。一方、Ga濃度が低い時、バンドギャップは小さくなるため、電流は大きくなるが、開放電圧は小さくなる。このように、Ga濃度に対し電圧と電流は、トレードオフの相関があり、最も高い変換効率が得られる範囲は、α1、α2、α3の平均(αAVE)が0.32以上0.42以下の範囲である。
さらに、基板上に、裏面電極層と、光吸収層と、バッファ層と、透明導電層とを有するCIGS太陽電池であって、上記光吸収層として、第1の要旨に記載のCIGS膜からなる光吸収層を用いたCIGS太陽電池は、光吸収層が薄膜でありながら、高い変換効率を達成できる。
本発明の一実施の形態により得られるCIGS太陽電池を模式的に示す断面図である。 本発明の一実施の形態により得られるCIGS膜の深さ方向のGa/(In+Ga)の変化を模式的に示すグラフ図である。 上記CIGS膜を模式的に示す断面図である。
つぎに、本発明を実施するための形態について説明する。
図1は、本発明の一実施の形態により得られるCIGS膜を光吸収層に用いたCIGS太陽電池の説明図である。このCIGS太陽電池は、基板1、裏面電極層2、第1のバッファ層4aと第2のバッファ層4bからなるバッファ層4、透明電極層5がこの順で積層されており、裏面電極層2と第1のバッファ層4aとの間に、光吸収層として、CIGS膜3が設けられている。以下に、本発明の一実施の形態であるCIGS膜3を詳しく説明する。なお、図1において、各部分は模式的に示したものであり、実際の厚み,大きさ等とは異なっている(以下の図においても同じ)。
このCIGS膜3は、Cu、In、GaおよびSeを含有し、主にカルコパライト構造を有する厚み2000nmの化合物半導体であって、Cu、In、Gaの膜内の平均組成比は、22.1:21.2:7.5であり、Cu/(In+Ga)≒0.77(モル比)となっている。そして、図2に示すように、膜内の(In+Ga)に対するGaの割合(α)が、バッファ層4側の端面(i)から深さ方向に向かって徐々に減少し、所定深さ(ii)で最小値(α2)を示し、所定深さ(ii)から裏面電極層2側の端面(iii)に向かっては徐々に増加する、ダブルグレーデッドバンドギャップ構造を有している。さらに、バッファ層4側の端面(i)における(In+Ga)に対するGaの割合(α1)が0.375であり、所定深さ(ii)における(In+Ga)に対するGaの割合(α2)が0.25であり、裏面電極層2側の端面(iii)における(In+Ga)に対するGaの割合(α3)が0.45であり、これらα1、α2、α3の平均(αAVE)〔(α1+α2+α3)/3〕が、約0.358になっている。また、このCIGS膜3は、図3に示すように、バッファ層4側の端面(i)から所定深さ(ii)までの距離dが600nmであり、バッファ層4側の端面(i)から裏面電極層2側の端面(iii)までの距離Dが2000nmである(d/D=0.3)。
この構成によれば、CIGS膜3がダブルグレーデッドバンドギャップ構造を有しているため、これを光吸収層に用いたCIGS太陽電池は、優れた変換効率を達成することができる。さらに、バッファ層4側の端面(i)における割合(α1)が、0.25以上0.5以下の範囲内にあり、所定深さ(ii)における割合(α2)が、0.1以上0.4以下の範囲内にあり、裏面電極層2側の端面(iii)における割合(α3)が、0.3以上0.6以下の範囲内にあり、かつ、α3>α1になっており、上記α1、α2、α3の平均(αAVE)〔(α1+α2+α3)/3〕が、0.32以上0.42以下になっている。そして、バッファ層4側の端面(i)から所定深さ(ii)までの距離(d)と、バッファ層4側の端面(i)から裏面電極層2側の端面(iii)までの距離(D)とが、0.2≦d/D≦0.4の関係を満たすようになっているため、CIGS膜の深さ方向に対するInとGaの組成比プロファイルが、より一層、CIGS太陽電池の高効率に適するものとなっている。
このようなCIGS膜3は、例えば、つぎのような方法で製造することができる。すなわち、In、Ga、Seを含む層(A)と、CuとSeを含む層(B)とを、固相状態でこの順で基板1に積層し、この積層体を加熱して上記層(B)を溶融させ部分的に液相状態として上記層(A)中に層(B)中のCuを拡散させて結晶成長させた後に、さらにIn、Ga、Seを含む層(C)を積層してCIGS膜3を製造する。そして、その際に、上記層(A)の形成を、セレン化ガリウム(Y)とセレン化インジウム(X)とをこの順で積層し、かつ、その膜厚比(Y/X)を、所定の範囲に設定するとともに、層(C)の形成を、InおよびSeの蒸着量を一定に保ち、Ga蒸着量のみ徐々に増加して行うようにする。このようにすると、深さ方向におけるGaの割合と、所定深さ(ii)の位置を、上記のように設定することができる。
より詳しく説明すると、上記実施の形態では、まず、裏面電極層2(Mo:厚み500nm)が設けられた基板1(SLG:幅30mm、長さ30mm、厚み0.55mm)を準備し、基板1の保持温度を350℃とした状態で、裏面電極層2上に、セレン化ガリウム(130nm)、セレン化インジウム(330nm)をこの順で積層し、セレン化ガリウムとセレン化インジウムとからなる層(A)を形成する。このとき、セレン化ガリウムおよびセレン化インジウムの厚みをコントロールすることにより、図2に示すα3からα2に向かうGa/(In+Ga)比の傾斜および裏面電極層2側の端面(iii)から所定深さ(ii)までの距離(d’)を決定することができる。なお、上記セレン化ガリウムおよびセレン化インジウムの厚みは、事前の検討により算出することができる。
つづいて、上記層(A)の上に、セレン化銅(1400nm)からなる層(B)を積層し、積層体を作製する。そして、この積層体を15分間加熱(基板1保持温度:550℃)して、層(B)を液相化し、結晶成長させてCIGS膜中間体を得る。このときのセレン化銅の厚みをコントロールすることにより、CIGS膜におけるCu/(In+Ga)比を決定することができる。さらに、基板1温度(550℃)を保ったまま、上記CIGS膜中間体にIn、Ga、Seを蒸着して層(C)(厚み120nm)を積層する。このとき、その層(C)の形成を、In蒸着源(850℃)およびSe蒸着源(180℃)の温度はそれぞれ一定に保ちつつ、Ga蒸着源(920℃)の温度を5分毎に100℃上昇させるようにして、Gaの蒸着量のみを徐々に増加させることにより、本発明のCIGS膜3を得ることができる。なお、上記層(C)の厚みをコントロールすることにより、図2に示すα2からα1に向かうGa/(In+Ga)比の傾斜およびバッファ層4側の端面(i)から所定深さ(ii)までの距離(d)を決定することができる。なお、上記層(B)および層(C)の厚みも、事前の検討により算出することができる。
さらに、このようにして得られたCIGS膜3の上に、CdSからなる第1のバッファ層4a(厚み50nm)、ZnOからなる第2のバッファ層4b(厚み70nm)、ITOからなる透明電極層5(厚み200nm)をこの順に積層することにより、本発明のCIGS太陽電池を得ることができる。
なお、上記実施の形態では、CIGS膜3のバッファ層4側の端面(i)における(In+Ga)に対するGaの割合(α1)が0.375となっているが、これに限らず、0.25以上0.5以下の範囲に設定することができる。また、所定深さ(ii)における(In+Ga)に対するGaの割合(α2)が0.25となっているが、同様に、0.1以上0.4以下の範囲に設定することができる。さらに、裏面電極層2側の端面(iii)における(In+Ga)に対するGaの割合(α3)が0.45となっているが、同様に、0.3以上0.6以下の範囲に設定することができる。すなわち、(In+Ga)に対するGaの割合が、それぞれ設定範囲外であると、深さ方向に対するInとGaの組成比プロファイルを所定範囲内に制御することが困難となり、高効率を達成できないおそれがあるためである。
また、上記実施の形態では、CIGS膜3のバッファ層4側の端面(i)から所定深さ(ii)までの距離dが600nmであり、バッファ層4側の端面(i)から裏面電極層2側の端面(iii)までの距離Dが2000nmであり、d/D=0.3になっているが、これに限らず、0.2≦d/D≦0.4を満たす範囲に設定することができる。膜厚に対するバッファ層4側の端面(i)から所定深さ(ii)までの距離(d)を上記の範囲となるよう制御することで、より一層の高効率化を達成することができるためである。
さらに、上記実施の形態では、CIGS膜3のCu、In、Gaの組成比が22.1:21.2:7.5であり、Cu/(In+Ga)≒0.77(モル比)になっているが、これに限らず任意の組成比とすることができる。しかし、0.70<Cu/(In+Ga)<0.95(モル比)の式を満たすようになっていると、上記CIGS膜3内にCu(2-x)Seが過剰に取り込まれることをより阻止でき、しかも、膜全体としてわずかにCu不足にできる点で好ましい。なぜならば、CIGS膜のキャリア濃度は、新性欠陥によりキャリア濃度が決定し、膜全体としてわずかにCu不足にした時、高効率が得られるp型CIGS膜が得られる。Cu過剰な領域ではp型となるが、低抵抗Cu2Seとの混在となるため、太陽電池材料として利用できない。
そして、上記実施の形態では、CIGS膜3の厚みは、2000nmに形成されているが、これに限らず任意の厚みとすることができる。しかし、上記CIGS膜3の厚みは、1000以上3000nm以下の範囲にあることが好ましく、1500以上2500nm以下の範囲にあることがより好ましい。厚みが薄すぎると、光吸収層として用いた際の光吸収量が少なくなり、素子の性能が低下する傾向がみられ、逆に、厚すぎると、膜の形成にかかる時間が増加し、生産性に劣る傾向がみられるためである。
さらには、上記実施の形態では、α1、α2、α3の平均(αAVE)〔(α1+α2+α3)/3〕が、約0.358になっているが、これに限らず任意の値とすることができる。しかし、α1、α2、α3の平均(αAVE)〔(α1+α2+α3)/3〕は、0.32以上0.42以下となるように制御されたCIGS膜は、CIGS太陽電池に用いられた場合に、さらに解放電圧が向上し、よってさらに高い変換効率を得ることができるため、好ましい。α1、α2、α3の平均(αAVE)が上記範囲にある場合に、解放電圧がさらに向上する理由は完全には明らかではないが、0.32未満であると電圧低下の傾向が顕著にみられ、0.42を超えると電流低下の傾向が顕著にみられるためであると考えられる。
また、上記実施の形態では、In、Ga、Seを含む層(A)と、CuとSeを含む層(B)とを、固相状態でこの順で基板1に積層し、この積層体を加熱して上記層(B)を溶融させ一部液相状態として上記層(A)中に層(B)中のCuを拡散させて結晶成長させた後に、さらにIn、Ga、Seを含む層(C)を積層してCIGS膜3を製造しているが、これに限らず、本発明の各種パラメータを満たすCIGS膜3を製造できる方法であれば、どのような方法で製造してもよい。
すなわち、上記実施の形態では、層(A)の形成を、セレン化ガリウム(Y)とセレン化インジウム(X)とをこの順で積層し、かつ、その膜厚比(Y/X)を、所定の範囲に設定することにより行っているが、このほかにも、例えば、InおよびSeの蒸着量を一定に保ち、ガリウム蒸着量のみ徐々に減少させるようにして形成してもよい。さらに、セレン化ガリウム(Y)とセレン化インジウム(X)との積層を繰り返し行い、積層を繰り返すごとにセレン化ガリウム(Y)/セレン化インジウム(X)の膜厚比(Y/X)が小さくなるようにしてもよい。例えば、上記セレン化ガリウム(Y)とセレン化インジウム(X)との積層を3回繰り返し行うようにした場合、1回目:セレン化ガリウム(Y)200nm/セレン化インジウム(X)170nm(Y/X≒1.18)、2回目:セレン化ガリウム(Y)130nm/セレン化インジウム(X)330nm(Y/X≒0.39)、3回目:セレン化ガリウム(Y)70nm/セレン化インジウム(X)500nm(Y/X=0.14)となるよう各膜厚(膜厚比)を制御する。これらの方法によってもCIGS膜3の深さ方向におけるGaの割合と、所定深さ(ii)の位置を、上記のように設定することができる。
そして、上記実施の形態では、層(C)の形成を、InおよびSeの蒸着量を一定に保ち、ガリウム蒸着量のみ徐々に増加することにより行っているが、このほかにも、例えば、セレン化ガリウム(Y)とセレン化インジウム(X)とをこの順で積層し、かつ、その膜厚比(Y/X)を、所定の範囲に設定することにより行ってもよい。また、セレン化ガリウム(Y)とセレン化インジウム(X)とをこの順で積層し、かつ、その膜厚比(Y/X)を、積層を繰り返すごとに大きくなるように設定することにより行うようにしてもよい。この方法によってもCIGS膜3の深さ方向におけるGaの割合と、所定深さ(ii)の位置を、上記のように設定することができる。
さらに、上記実施の形態では、基板1として、SLGを用いているが、このほかにも、柔軟性のある金属箔等を基板として用いることができる。このような材料としては、SUS、チタン等があげられ、なかでもフェライト系SUS430を好ましく用いることができる。
また、上記実施の形態では、裏面電極層2として、Moを用いているが、このほかにも、タングステン、クロム、チタン等を用いることができ、単層のみならず複層に形成することもできる。そして、その厚みは、裏面電極層2全体として、100〜1000nmであることが好ましい。
そして、上記実施の形態では、バッファ層4を、CdSからなる第1のバッファ層4aと、ZnOからなる第2のバッファ層4bとの複層に形成しているが、CIGS膜3とpn接合できる高抵抗のn型半導体を用いる等の場合には、単層に形成することもできる。このような高抵抗のn型半導体としては、例えば、ZnMgO、Zn(O,S)等があげられる。また、バッファ層4(4a,4b)の厚みは、それぞれ30〜200nmであることが好ましい。そして、バッファ層4を単層にした場合でも同様に30〜200nmの厚みであることが好ましい。
さらに、上記実施の形態では、透明電極層5として、ITOを用いているが、このほかにも、酸化インジウム亜鉛(IZO)、酸化亜鉛アルミニウム(Al:ZnO)等を用いることができる。また、その厚みは、100〜300nmであることが好ましい。
つぎに、実施例について、比較例と併せて説明する。ただし、本発明はこれに限定されるものではない。
〔実施例1〕
上記実施の形態と同様にして、CIGS太陽電池を製造した。すなわち、基板1として、SLG(大きさ30×30mm、厚み0.55mm)を用意し、この上に、Mo(厚み500nm)を積層し、裏面電極層2を形成した。そして、基板1保持温度を200℃にした状態で、セレン化ガリウム(130nm)、セレン化インジウム(330nm)をこの順で積層し、層(A)を形成した。つづいて、基板1保持温度を200℃に保ったままの状態で、上記層(A)上にセレン化銅(1400nm)からなる層(B)を積層した。この積層体を、微量のSe蒸気を供給しつつ加熱し、基板1保持温度が550℃の状態を15分間保持し、結晶成長を行いCIGS膜中間体を得た。さらに、このCIGS膜中間体に、微量のSeガスを供給しつつ、基板1保持温度を550℃に保った状態で、Gaの蒸着量を上記実施の形態と同様に増加させながら、In、Ga、Seを蒸着し、層(C)を積層し、目的のCIGS膜(厚み2.0μm)を得た。このCIGS膜を光吸収層として用い、その上にさらに第1のバッファ層4a(CdS:厚み50nm)、第2のバッファ層4b(ZnO:厚み70nm)、透明電極層5を設けて、図1に示す構成と同様のCIGS太陽電池を得た。
〔実施例2〜13、比較例1〜10〕
層(A)の形成条件(セレン化インジウム膜およびセレン化ガリウム膜の各膜厚)および層(C)の形成条件(Gaの蒸着量)を変更することにより、後記の表1〜4に示す所定の特性を有するCIGS膜を作製した。得られたCIGS膜を用いたCIGS太陽電池を実施例1と同様にして製造し、実施例2〜13および比較例1〜10とした。
上記実施例および比較例のCIGS太陽電池をそれぞれ10個製造し、それらの変換効率を下記の手順に従って測定し、それぞれの平均変換効率を算出した。また、実施例および比較例に用いたCIGS膜を、D−SIMS(ダイナミックシムス)評価装置を用いて、深さ方向に対するInとGaの組成比プロファイルを測定するとともに、バッファ層側の端面からGa比が最小値となる所定深さまでの距離(d)およびバッファ層側の端面から裏面電極層側の端面までの距離(D)を計測し、d/Dを算出した。なお、上記Ga/(In+Ga)、d、Dおよびd/Dの値は、いずれも各実施例および比較例の平均を示している。これらの結果を後記の表1〜表4に併せて示す。
〔変換効率〕
擬似太陽光(AM1.5)を各実施例品および比較例品に照射し、その変換効率をソーラーシミュレーター(山下電装社製、セルテスターYSS150)によって測定した。
〔(In+Ga)に対するGaの割合:Ga/(In+Ga)〕および〔所定深さまでの距離(d)および裏面電極層側の端面までの距離(D)〕
各実施例品および比較例品に用いたCIGS膜を、D−SIMS(アルバック・ファイ社製)を用いて測定した。
Figure 2014154763
Figure 2014154763
Figure 2014154763
Figure 2014154763
上記の結果より、実施例1〜13は、平均変換効率が13.2%以上の高い値を示していることがわかる。なかでも、α1、α2、α3の平均(αAVE)が、0.32以上0.42以下である実施例7〜11は、平均変換効率が14.8〜15.5%の極めて高い値を示していた。一方、本発明で規定するいずれかのパラメータを満たしていない比較例1〜10は、実施例品ほどの高効率を達成していないことがわかった。
本発明のCIGS膜は、CIGS太陽電池の光吸収層として用いた際に、高い変換効率を達成することができる。また、本発明のCIGS太陽電池は、変換効率が極めて高いものとなる。

Claims (5)

  1. 基板と、裏面電極層と、光吸収層と、バッファ層と、透明電極層とをこの順で有するCIGS太陽電池の光吸収層として用いられるCIGS膜であって、膜内の(In+Ga)に対するGaの割合(α)が、バッファ層側の端面(i)から深さ方向に向かって減少し、所定深さ(ii)において最小値を示し、上記所定深さ(ii)から裏面電極層側の端面(iii)に向かって増加するようになっており、上記割合(α)のうち、バッファ層側の端面(i)における割合を(α1)、所定深さ(ii)における割合を(α2)、裏面電極層側の端面(iii)における割合を(α3)とすると、α1が0.25以上0.5以下、α2が0.1以上0.4以下、α3が0.3以上0.6以下であり、かつ、α3>α1に設定されているとともに、バッファ層側の端面(i)から所定深さ(ii)までの距離を(d)とし、バッファ層側の端面(i)から裏面電極層側の端面(iii)までの距離(D)としたときに、0.2≦d/D≦0.4の関係を満たすようになっていることを特徴とするCIGS膜。
  2. バッファ層側の端面(i)から所定深さ(ii)までの距離(d)が、300以上1000nm以下に設定されている請求項1記載のCIGS膜。
  3. バッファ層側の端面(i)から裏面電極層側の端面(iii)までの膜全体の距離(D)が、1.5以上2.5μm以下に設定されている請求項1または2記載のCIGS膜。
  4. 上記α1、α2、α3の平均(αAVE)〔(α1+α2+α3)/3〕が、0.32以上0.42以下に設定されている請求項1から3のいずれか一項に記載のCIGS膜。
  5. 基板上に、裏面電極層と、光吸収層と、バッファ層と、透明導電層とを有するCIGS太陽電池であって、上記光吸収層として、請求項1から4のいずれか一項に記載のCIGS膜からなる光吸収層を用いたものであることを特徴とするCIGS太陽電池。
JP2013024585A 2013-02-12 2013-02-12 Cigs膜およびそれを用いるcigs太陽電池 Pending JP2014154763A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013024585A JP2014154763A (ja) 2013-02-12 2013-02-12 Cigs膜およびそれを用いるcigs太陽電池
PCT/JP2014/051508 WO2014125901A1 (ja) 2013-02-12 2014-01-24 Cigs膜およびそれを用いるcigs太陽電池
TW103103783A TW201442257A (zh) 2013-02-12 2014-02-05 Cigs膜及使用其之cigs太陽電池

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013024585A JP2014154763A (ja) 2013-02-12 2013-02-12 Cigs膜およびそれを用いるcigs太陽電池

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2014154763A true JP2014154763A (ja) 2014-08-25

Family

ID=51353911

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013024585A Pending JP2014154763A (ja) 2013-02-12 2013-02-12 Cigs膜およびそれを用いるcigs太陽電池

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP2014154763A (ja)
TW (1) TW201442257A (ja)
WO (1) WO2014125901A1 (ja)

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4919710B2 (ja) * 2006-06-19 2012-04-18 パナソニック株式会社 薄膜太陽電池

Also Published As

Publication number Publication date
WO2014125901A1 (ja) 2014-08-21
TW201442257A (zh) 2014-11-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20120222742A1 (en) Compound thin film solar cell and method for manufacturing the same
US8283187B2 (en) Photovoltaic device and method for making
Buffière et al. Physical characterization of Cu2ZnGeSe4 thin films from annealing of Cu–Zn–Ge precursor layers
US9614111B2 (en) CIGS film, and CIGS solar cell employing the same
JP2014209586A (ja) 薄膜太陽電池及びその製造方法
Park et al. Yb-doped zinc tin oxide thin film and its application to Cu (InGa) Se2 solar cells
WO2011108033A1 (ja) 化合物薄膜太陽電池及びその製造方法
WO2014125902A1 (ja) Cigs膜の製法およびその製法を用いるcigs太陽電池の製法
JP5764016B2 (ja) Cigs膜の製法およびそれを用いるcigs太陽電池の製法
WO2014125900A1 (ja) Cigs膜の製法およびそれを用いるcigs太陽電池の製法
WO2012035833A1 (ja) 半導体膜及び太陽電池
JP2017050337A (ja) Cigs半導体前駆体膜の製造方法およびそれを用いたcigs半導体膜の製造方法並びにそれらを用いたcigs太陽電池の製造方法
JP2014232797A (ja) 半導体前駆構造物およびそれを用いて得られるcigs半導体構造物ならびにそれを用いるcigs太陽電池とその製造方法
EP2696371A2 (en) Solar cell and manufacturing method thereof
WO2016132637A1 (ja) Cigs太陽電池およびその製造方法
WO2014125901A1 (ja) Cigs膜およびそれを用いるcigs太陽電池
JP5851434B2 (ja) Cigs膜の製法およびその製法を用いたcigs太陽電池の製法
JP2016154172A (ja) Cigs太陽電池およびその製造方法
EP2437289A2 (en) Photovoltaic device and method for making
JP2013235916A (ja) 光電変換素子
WO2015166669A1 (ja) Cigs半導体層およびその製造方法ならびにそれを用いたcigs光電変換装置
JP2014154758A (ja) Cigs膜の製法およびその製法を用いるcigs太陽電池の製法
JP2015072219A (ja) Cigs膜の品質評価方法およびそれを用いたcigs膜の製法、並びに上記製法によって得られたcigs膜を用いた太陽電池