JP2014142252A - プローブ洗浄機構および自動分析装置 - Google Patents

Abstract

【課題】シンプルな構造でプローブに付着した物質を洗浄するための技術を提供する。
【解決手段】プローブ１１６の洗浄をする一対の洗浄部材６０３を有し、前記プローブ１１６の洗浄位置までの下降と連動して、一方の前記洗浄部材６０３と他方の前記洗浄部材６０３とを接触する位置まで段階的に移動することで前記洗浄位置にて一方の前記洗浄部材６０３と他方の前記洗浄部材６０３とで前記プローブ１１６を挟み込み、前記プローブ１１６が前記洗浄部材６０３から引き抜かれるまで一方の前記洗浄部材６０３と他方の前記洗浄部材６０３とが接触させた状態を維持する。
【選択図】図９

Description

本発明は、プローブ洗浄機構および自動分析装置に関する。

本技術分野の背景技術として、例えば、特開２０１０−２８６４２０号公報（特許文献１）がある。この公報には、「内部に洗浄部材を備えた洗浄容器にノズルをアクセスさせ、当該容器内でノズル外壁を擦り洗浄する。自動でノズル外壁を洗浄できるため、手間のかからない洗浄が可能となる。洗浄容器は、通常の試料収容容器や試薬容器と同様の方法で搬送され、ノズルは当該洗浄容器内で上下往復動作して擦り洗浄するように制御すれば、分析ルーチンに用いる動作でノズル外壁の洗浄ができるため、洗浄に特別な機構を要せず簡易な機構とすることも可能である。」と記載がある。

また、本技術分野の背景技術として、特開２００６−１６２２６０号公報（特許文献２）がある。この公報には、「ニードルを洗浄ポート上に挿入し、ニードルの外表面を洗浄液で洗浄する。その後、パットをパット方向に移動させ、ニードルをパットとパットではさみ、ニードルを引き上げて、パットとパットでニードル表面の洗浄液をぬぐう。」と記載がある。

特開２０１０−２８６４２０号公報 特開２００６−１６２２６０号公報

特許文献１に記載された技術では、プローブ洗浄部に付着した物質がプローブに付着してしまう。

また、特許文献２に記載された技術では、パットを上下および水平方向に動かす機構を必要とするため、プローブ洗浄機構の構造が複雑化する。

本発明の目的は、シンプルな構造でプローブに付着した物質を洗浄させることを可能にする技術を提供することである。

本願において開示される発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、次の通りである。

本発明の一実施の形態は、プローブ洗浄機構であって、プローブの洗浄をする一対の洗浄部材を有する。そして、前記プローブの洗浄位置までの下降と連動して、一方の前記洗浄部材と他方の前記洗浄部材とを接触する位置まで段階的に移動することで前記洗浄位置にて一方の前記洗浄部材と他方の前記洗浄部材とで前記プローブを挟み込み、前記プローブが前記洗浄部材から引き抜かれるまで一方の前記洗浄部材と他方の前記洗浄部材とが接触させた状態を維持する。

また、他の実施の形態では、試料と試薬とを混合して反応させた溶液の測定を行う自動分析装置であって、前記試料または前記試薬を吸引、吐出する試料分注機構はプローブを有する。そして、前記プローブの洗浄位置までの下降と連動して、一方の洗浄部材と他方の洗浄部材とを接触する位置まで段階的に移動することで前記洗浄位置にて一方の前記洗浄部材と他方の前記洗浄部材とで前記プローブを挟み込み、前記プローブが前記洗浄部材から引き抜かれるまで一方の前記洗浄部材と他方の前記洗浄部材とが接触させた状態を維持するプローブ洗浄機構を有する。

本発明の一実施の形態によれば、シンプルな構造でプローブに付着した物質を洗浄できるようになる。

本発明の実施の形態１における、自動分析装置の構成例の概要を示す図である。 本発明の実施の形態１における、自動分析装置のプローブ洗浄機構の構成例の概要を示す図である。 本発明の実施の形態１における、自動分析装置の洗浄処理の処理フローを示す図である。 本発明の実施の形態１における、自動分析装置の測定洗浄処理の処理フローを示す図である。 本発明の実施の形態１における、自動分析装置で洗浄専用プログラムを実行した場合の洗浄処理の処理フローを示す図である。 本発明の実施の形態１におけるプローブ洗浄部の構成例の概要を示す図である。 本発明の実施の形態１におけるホルダの構成例の概要を示す図である。 本発明の実施の形態１における、ホルダの接触部にプローブ洗浄部の洗浄部材カバーを載置した状態を示す図である。 本発明の実施の形態１にプローブ接触部が、第二挿入部に所定の深さ挿入された状態を示す図である。 本発明の実施の形態１における洗浄部材が、プローブを挟み込んだ状態を示す図である。 本発明の実施の形態１にプローブ接触部が、挿入完了位置まで挿入された状態を示す図である。 本発明の実施の形態２におけるプローブ洗浄部の構成例の概要を示す図である。 本発明の実施の形態３におけるプローブ洗浄部の構成例の概要を示す図である。

以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、実施の形態を説明するための全図において、同一部には原則として同一の符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。

[実施の形態１]
本実施の形態１を、図１〜図１１を用いて説明する。

＜全体構成＞
図１は、本発明の実施の形態１における、自動分析装置の構成例の概要を示す図である。図１において、自動分析装置は例えば、操作部１０１と、分析部１０２とを有する。

操作部１０１は、作業者からの入力を受け付ける。操作部１０１から受け付けた入力は分析部１０２へ送信される。

分析部１０２は、ターンテーブル１０３と、反応容器１０４と、試薬ディスク１０５と、この試薬ディスク１０５の円周方向に沿って複数載置された試薬ボトル１０６と、試料分注機構１０７と、撹拌機構１０８と、反応容器洗浄機構１０９と、光源１１０と、多波長光度計１１１と、試薬分注機構１１２と、搬送ライン１１３と、搬送器１１４と、試料容器１１５とを有する。

試料容器１１５は、円柱形状で上端は開放されており、上端から試料容器１１５内へ測定対象の試料を入れることができる。また、開放された上端からは、試料分注機構１０７が有するプローブ１１６を挿入することができる。

搬送器１１４には試料容器１１５や、後述するプローブ洗浄機構２００をセットするため円柱形状の複数の穴が設けられている。

また、操作部１０１から測定開始の入力を受け付けると、搬送器１１４は、搬送ライン１１３によりバーコード読み取り位置に搬送される。その後、バーコード読み取り位置にて、図示しないバーコードリーダーで搬送器１１４に貼付されたバーコードを読み取ることで、分析部１０２は、プローブ洗浄機構搬送器ＩＤを取得する。

また、バーコードリーダーから、試料容器１１５に貼付されたバーコードを読み取ることで、分析部１０２は、試料ＩＤを取得する。

その後、搬送器１１４は、搬送ライン１１３により、試料吸引位置に搬送される。そして、試料吸引位置にて、試料分注機構１０７は、プローブ１１６を試料容器１１５内に挿入する。

その後、試料分注機構１０７は、試料を吸引する。試料吸引後に、試料分注機構１０７は、試料吐出位置までプローブ１１６を移動する。そして、試料分注機構１０７は、試料吐出位置にて、プローブ１１６から反応容器１０４に試料を吐出させる。

試料が吐出された後、ターンテーブル１０３が回転することで、反応容器１０４は混合位置まで移動する。反応容器１０４が混合位置まで移動した後に、試薬分注機構１１２が、反応容器１０４に試薬ボトル１０６から吸引した試薬を吐出することで、試料と試薬とが混合される。

試料と試薬とが混合された後、ターンテーブル１０３が回転することで、反応容器１０４は撹拌位置まで移動する。反応容器１０４が撹拌位置まで移動した後に、撹拌機構１０８は、試料と試薬とを撹拌する。

撹拌機構１０８によって、試料と試薬とが撹拌された後、ターンテーブル１０３が回転することで、反応容器１０４は、吸光度測定位置まで移動する。反応容器１０４が吸光度測定位置まで移動した後に、光源１１０および多波長光度計によって吸光度の測定がされる。

吸光度の測定がされた後、ターンテーブル１０３が回転することで、反応容器１０４は、洗浄位置まで移動する。反応容器１０４が洗浄位置まで移動した後に、反応容器１０４は、反応容器洗浄機構１０９によって洗浄される。

反応容器洗浄機構１０９によって洗浄された後、ターンテーブル１０３が回転することで、反応容器１０４は、試料吐出位置まで移動する。

すべての試料容器１１５内の試料について、プローブ１１６から反応容器１０４への吐出が完了した場合、新たな搬送器１１４にセットされた試料容器１１５が、試料吸引位置まで搬送される。

すべての試料容器１１５内の試料について、プローブ１１６から反応容器１０４への吐出が完了した搬送器１１４は、搬送ライン１１３によって、搬送器１１４を保存するための図示しない搬出ラック保存位置へと搬送される。

＜洗浄処理＞
図３は、本発明の実施の形態１における、自動分析装置の洗浄処理の処理フローを示す図である。

まず、Ｓ３０１にて、作業者は、プローブ洗浄部２０１をホルダ２０２へセットする。

次に、Ｓ３０２にて、作業者は、プローブ洗浄機構２００を搬送器１１４にセットする。

次に、Ｓ３０３にて、操作部１０１が作業者から測定開始の入力を受け付けると、搬送器１１４は、搬送ライン１１３により、バーコード読み取り位置に搬送される。

次に、Ｓ３０４にて、バーコード読み取り位置にて、バーコードリーダーで搬送器１１４に貼付されたバーコードを読み取ることで、分析部１０２は、プローブ洗浄機構搬送器ＩＤを取得する。

次に、Ｓ３０５にて、分析部１０２は、Ｓ３０４にて読み取ったバーコードから、正常なプローブ洗浄機構搬送器ＩＤを取得できたか否かを判定する。分析部１０２が、正常なプローブ洗浄機構搬送器ＩＤを取得できないと判定する場合（Ｓ３０５−Ｎｏ）、洗浄処理を終了する。一方、分析部１０２が、正常なプローブ洗浄機構搬送器ＩＤを取得できたと判定する場合（Ｓ３０５−Ｙｅｓ）、Ｓ３０６へ進む。

次に、Ｓ３０６にて、搬送ライン１１３によって、搬送器１１４にセットされたプローブ洗浄機構２００は、試料吸引位置（試料吸引位置は、洗浄対象のプローブ１１６が試料を吸引する位置である）に搬送される。

次に、Ｓ３０７にて、試料分注機構１０７は、プローブ１１６を試料吸引位置に移動する。そして、試料吸引位置に移動後、試料分注機構１０７は、プローブ１１６をプローブ洗浄機構２００に挿入する。プローブ洗浄部２０１は、プローブ洗浄機構２００へプローブ１１６が挿入されるのに伴い、プローブ１１６を挟み込む。

次に、Ｓ３０８にて、プローブ洗浄部２０１でプローブ１１６を挟み込んだ状態を維持したまま、プローブ１１６をプローブ洗浄機構２００から引き抜く。

次に、Ｓ３０９にて、分析部１０２は、他に洗浄するプローブ１１６があるか否かを判定する。分析部１０２が、他に洗浄するプローブ１１６があると判定する場合（Ｓ３０９−Ｎｏ）、Ｓ３０６へ進む。一方、分析部１０２が、他に洗浄するプローブ１１６がないと判定する場合（Ｓ３０９−Ｙｅｓ）、Ｓ３１０へ進む。

次に、Ｓ３１０にて、搬送ライン１１３によって、搬送器１１４は、搬送器１１４を保存するための図示しない搬出ラック保存位置へと搬送され、洗浄処理を終了する。

＜測定洗浄処理＞
図４は、本発明の実施の形態１における、自動分析装置の測定洗浄処理の処理フローを示す図である。図４は、試料容器１１５とプローブ洗浄機構２００とを搬送器１１４にセットした場合を前提としており、試料の測定とプローブ１１６の洗浄とを連続で行う処理の処理フローを示す。

まず、Ｓ４０１にて、作業者は、プローブ洗浄部２０１をホルダ２０２へセットする。

次に、Ｓ４０２にて、作業者は、試料容器１１５とプローブ洗浄機構２００とを搬送器１１４にセットする。

次に、Ｓ４０３にて、操作部１０１が作業者から測定開始の入力を受け付けると、搬送器１１４は、搬送ライン１１３により、バーコード読み取り位置に搬送される。

次に、Ｓ４０４にて、バーコード読み取り位置にて、バーコードリーダーで、プローブ洗浄機構２００に貼付されたバーコードを読み取ることで、分析部１０２は、試料ＩＤを取得する。また、バーコードリーダーで、搬送器１１４に貼付されたバーコードを読み取ることで、分析部１０２はプローブ洗浄機構搬送器ＩＤを取得する。

次に、Ｓ４０５にて、分析部１０２は、Ｓ４０４にて読み取ったバーコードから、正常なプローブ洗浄機構搬送器ＩＤを取得できたか否かを判定する。分析部１０２が、正常なプローブ洗浄機構搬送器ＩＤを取得できないと判定する場合（Ｓ４０５−Ｎｏ）、測定洗浄処理を終了する。一方、分析部１０２が、正常なプローブ洗浄機構搬送器ＩＤを取得できたと判定する場合（Ｓ４０５−Ｙｅｓ）、Ｓ４０６へ進む。

次に、Ｓ４０６にて、分析部１０２は、取得した試料ＩＤに基づいて試料の測定が必要か否かを判定する。分析部１０２が、試料の測定が必要ではないと判定する場合（Ｓ４０６−Ｎｏ）、Ｓ４１１へ進む。一方、分析部１０２が、試料の測定が必要であると判定する場合（Ｓ４０６−Ｙｅｓ）、Ｓ４０７へ進む。

次に、Ｓ４０７にて、搬送ライン１１３によって、測定する試料が入った試料容器１１５は、試料吸引位置に搬送される。そして、試料吸引位置にて、試料分注機構１０７は、プローブ１１６を試料容器１１５に挿入する。その後、試料分注機構１０７は、試料を吸引する。試料吸引後に、試料分注機構１０７は、試料吐出位置までプローブ１１６を移動する。そして、試料分注機構１０７は、試料吐出位置にてプローブ１１６から反応容器１０４に試料を吐出させる。

次に、Ｓ４０８にて、搬送ライン１１３によって、搬送器１１４にセットされたプローブ洗浄機構２００は、Ｓ４０７にて試料分注機構１０７が試料を吸引した試料吸引位置に搬送される。

次に、Ｓ４０９にて、試料分注機構１０７は、プローブ１１６を試料吸引位置に移動する。そして、試料吸引位置に移動後、試料分注機構１０７は、プローブ１１６をプローブ洗浄機構２００に挿入する。プローブ洗浄部２０１は、プローブ洗浄機構２００へプローブ１１６が挿入されるのに伴い、プローブ１１６を挟み込む。

次に、Ｓ４１０にて、プローブ洗浄部２０１でプローブ１１６を挟み込んだ状態を維持したまま、プローブ１１６をプローブ洗浄機構２００から引き抜く。

次に、Ｓ４１１にて、分析部１０２は、他に測定する試料があるか否かを判定する。分析部１０２が、他に測定する試料があると判定場合（Ｓ４１１−Ｎｏ）、Ｓ４０７へ進む。一方、分析部１０２が、他に測定する試料がないと判定する場合（Ｓ４１１−Ｙｅｓ）、Ｓ４１２へ進む。

次に、Ｓ４１２にて、搬送ライン１１３によって、搬送器１１４は、搬送器１１４を保存するための図示しない搬出ラック保存位置へと搬送され、測定洗浄処理を終了する。

＜洗浄層による洗浄処理＞
図５は、本発明の実施の形態１における、自動分析装置で洗浄専用プログラムを実行した場合の洗浄処理の処理フローを示す図である。

まず、Ｓ５０１にて、作業者は、プローブ洗浄部２０１をホルダ２０２へセットする。

次に、Ｓ５０２にて、作業者は、プローブ洗浄機構２００を搬送器１１４にセットする。

次に、Ｓ５０３にて、操作部１０１が作業者から洗浄専用プログラムの実行開始の入力を受け付ける。

次に、Ｓ５０４にて、搬送ライン１１３によって、搬送器１１４にセットされたプローブ洗浄機構２００は、試料吸引位置に搬送される。

次に、Ｓ５０５にて、試料分注機構１０７は、プローブ１１６を試料吸引位置に移動する。そして、試料吸引位置に移動後、試料分注機構１０７は、プローブ１１６をプローブ洗浄機構２００に挿入する。プローブ洗浄部２０１は、プローブ洗浄機構２００へプローブ１１６が挿入されるのに伴い、プローブ１１６を挟み込む。

次に、Ｓ５０６にて、プローブ洗浄部２０１でプローブ１１６を挟み込んだ状態を維持したまま、プローブ１１６をプローブ洗浄機構２００から引き抜く。

次に、Ｓ５０７にて、分析部１０２は、他に洗浄するプローブ１１６があるか否かを判定する。分析部１０２が、他に洗浄するプローブ１１６があると判定する場合（Ｓ５０７−Ｎｏ）、Ｓ５０４へ進む。一方、分析部１０２が、他に洗浄するプローブ１１６がないと判定する場合（Ｓ５０７−Ｙｅｓ）、Ｓ５０８へ進む。

次に、Ｓ５０８にて、搬送ライン１１３によって、搬送器１１４は、搬送器１１４を保存するための図示しない搬出ラック保存位置へと搬送され、洗浄処理を終了する。

＜プローブ洗浄動作＞
図２は、本発明の実施の形態１における、自動分析装置のプローブ洗浄機構２００の構成例の概要を示す図である。図２において、プローブ洗浄機構２００は例えば、プローブ洗浄部２０１と、円柱形状のホルダ２０２とを有する。

図６は、本発明の実施の形態１におけるプローブ洗浄部２０１の構成例の概要を示す図である。図６において、プローブ洗浄部２０１は、プローブ接触部６０１と、プローブ接触部カバー６０５と、爪６０４と、洗浄部材６０３と、洗浄部材カバー６０２と、接続部６０６と、挟み込み面６０７を有する。

プローブ接触部６０１は、遠沈管の形状をしており、円柱部分の底面がプローブ１１６と接触する。

プローブ接触部カバー６０５は、円柱形状をしており、先端に爪６０４が設けられている。そして、プローブ接触部カバー６０５は、プローブ接触部６０１の円柱部分の円周に沿ってプローブ接触部６０１の側面を覆っている。また、プローブ接触部カバー６０５には弾性があり、プローブ接触部カバー６０５の素材は、例えばゴムやプラスチックが該当する。

洗浄部材６０３は、半円柱形状をしている。そして、洗浄部材６０３は外力によって圧縮し、洗浄部材６０３の素材は、例えばスポンジなどの素材が該当する。

洗浄部材カバー６０２は、洗浄部材６０３の円周に沿って洗浄部材６０３の曲線部分を覆っている。

洗浄部材カバー６０２とプローブ接触部カバー６０５とは、接続部６０６にて接続されている。そして、洗浄部材カバー６０２は、接続部６０６を支点として左右に開閉する。接続部６０６を支点として、洗浄部材カバー６０２が閉じることで、洗浄部材６０３の挟み込み面６０７が合わさり、挟み込み面６０７が合わさることで、プローブ１１６を挟み込むことができる。

図７は、本発明の実施の形態１におけるホルダ２０２の構成例の概要を示す図である。図７において、ホルダ２０２は、接触部７０１と、第一挿入部７０２と、第二挿入部７０３と、爪引っ掛け部７０４と、液体溜部７０５とを有する。

第一挿入部７０２と第二挿入部７０３は円柱形状をしている。そして、第一挿入部７０２の円柱の直径は、第二挿入部７０３の円柱の直径よりも大きくなっている。

図８は、本発明の実施の形態１における、ホルダ２０２の接触部７０１にプローブ洗浄部２０１の洗浄部材カバー６０２を載置した状態を示す図である。図８では、挟み込み面６０７と接触部７０１の面とが略並行の状態になっている。また、プローブ接触部６０１の円柱部分と、接触部７０１の面とが接触している。さらに、プローブ接触部６０１はＬ_２だけ第二挿入部７０３に挿入されている。なお、第二挿入部７０３の直径Ｗ_２と、プローブ接触部６０１の直径Ｗ_１とは略同一である。

プローブ１１６は、プローブ接触部６０１の真上方向から、プローブ接触部６０１に向かって下降する。そして、プローブ１１６の先端とプローブ接触部６０１との接点からの圧力によって図８に示す状態からプローブ接触部６０１は、第二挿入部７０３へ挿入されていく。

図９は、本発明の実施の形態１における、プローブ接触部６０１が、第二挿入部７０３に深さＤ_１だけ挿入された状態を示す図である。なお、深さＤ_１の値は、プローブ接触部６０１の高さＬ_１と図８のＬ_２の差よりも小さい。この場合、プローブ接触部６０１が第二挿入部７０３へ挿入されることに伴い、接続部６０６を支点として、プローブ洗浄部２０１の開角度θが小さくなる。ここで、開角度θは、図８の状態でのプローブ洗浄部２０１が第一挿入部７０２へ挿入された深さをＤ_０とし、第一挿入部７０２の壁面からプローブ接触部６０１までの距離をＡとすると下記（式１）で表すことができる。

よって、プローブ１１６が第二挿入部７０３に挿入されることによって、Ｄ_１が増加する。そして、上記（式１）に示すようにＤ_１が増加することによって、開角度θは減少する。

図１０は、本発明の実施の形態１における自動分析装置のプローブ洗浄機構２００におけるプローブ接触部６０１が、第二挿入部７０３に深さＤ_２だけ挿入された状態を示す図である。なお、深さＤ_２の値は、プローブ接触部６０１の高さＬ_１と図８のＬ_２の差よりも大きい。この場合、プローブ接触部６０１はすべて、第二挿入部７０３内に挿入されている。そして、開角度θは０となり、プローブ洗浄部２０１は、洗浄部材６０３の挟み込み面６０７でプローブ１１６を挟み込む。

図１１は、本発明の実施の形態１における、プローブ接触部６０１が、挿入完了位置まで挿入された状態を示す図である。図１１では、プローブ接触部６０１の爪６０４が、ホルダ２０２の爪引っ掛け部７０４に挿入されている。プローブ接触部カバー６０５の先端が、爪引っ掛け部７０４まで挿入されることで、第二挿入部７０３の側面から爪６０４への外力が開放され、これによって、爪引っ掛け部７０４に爪６０４が挿入される。爪引っ掛け部７０４に爪６０４が挿入されることによって、プローブ１１６が引き上げられても、爪６０４が爪引っ掛け部７０４に引っ掛かり、プローブ洗浄部２０１がプローブ１１６とともに引き上げられることを防止できるようになる。

なお、図１１では、プローブ接触部６０１の高さＬ_１とプローブ洗浄部２０１の高さＨ_１との和を爪引っ掛け部７０４からホルダ２０２の上面までの高さＨ_３よりも小さくしている。これによって、プローブ洗浄部２０１を、ホルダ２０２内に収めることができ、作業者が使用済みのプローブ洗浄部２０１を廃棄する際の感染する可能性を低くすることができる。また、液体溜部７０５を設けることでホルダ２０２外に液体が漏れることを防止することができるようになる。さらに、洗浄部材６０３に弾性率の高い部材を適用することで、プローブ洗浄部２０１がプローブ１１６を挟み込む圧力を高めることができるようになる。また、洗浄部材６０３の円柱の直径を第二挿入部７０３の円柱の直径よりも大きくするようにしてもよい。これによって、洗浄部材６０３がプローブ１１６を挟み込む圧力を高めることができるようになる。

さらに、洗浄部材６０３として、消毒用エタノールを含ませたガーゼを適用してもよい。また、洗浄部材６０３は、プローブに付着した物質やプローブに付着した物質の分布に応じて適切な部材を組み合わせたものを適用するようにしてもよい。

＜実施の形態１の効果＞
以上説明した本実施の形態１におけるプローブ洗浄機構２００および自動分析装置によれば、プローブ１１６の洗浄位置までの下降と連動して、洗浄位置にて一方の洗浄部材６０３と他方の洗浄部材６０３でプローブ１１６を挟み込み、プローブ１１６が洗浄部材６０３から引き抜かれるまで洗浄部材６０３同士を接触させた状態を維持することで、シンプルな構造でプローブに付着した物質を洗浄できるようになる。

また、プローブ洗浄機構２００の高さを、プローブ洗浄部２０１の高さよりも大きくすることで、作業者が使用済みのプローブ洗浄部２０１を廃棄する際の感染する可能性を低くすることができる。

さらに、プローブ洗浄部２０１の先端に設けられた爪６０４を引っ掛けるための爪引っ掛け部７０４を有することで、プローブ１１６が引き上げられても、プローブ洗浄部２０１がプローブ１１６とともに引き上げられることを防止できるようになる。

さらに、プローブ洗浄部２０１をホルダ２０２から取り外し可能にすることで、プローブ１１６に付着した物質に応じてプローブ洗浄部２０１を交換できるようになる。

さらに、搬送器１１４にプローブ洗浄機構２００をセットできるようになる。

さらに、搬送器１１４にプローブ洗浄機構２００と試料容器１１５とをセットできるようになる。

さらに、プローブ洗浄機構搬送器ＩＤを取得できたと判定される場合に、プローブ洗浄機構２００を動作できるようになる。

さらに、試料ＩＤを取得できたと判定される場合に、プローブ洗浄機構２００を動作できるようになる。

[実施の形態２]
本実施の形態２を、図１２を用いて説明する。

図１２は、本発明の実施の形態２におけるプローブ洗浄部２０１の構成例の概要を示す図である。図１２において、プローブ洗浄部２０１の洗浄部材１２００は、先端洗浄部１２０１と、中部洗浄部１２０２と、付根洗浄部１２０３とを有する。

先端洗浄部１２０１は、プローブ１１６の先端部分を洗浄する。そして、先端洗浄部１２０１の素材には、プローブ１１６の先端を洗浄するのに適した素材が用いられている。

中部洗浄部１２０２は、プローブ１１６の付根部分と先端部分との間であるプローブ中部を洗浄する。そして、中部洗浄部１２０２の素材には、プローブ中部を洗浄するのに適した素材が用いられている。

付根洗浄部１２０３は、プローブ１１６の付根部分を洗浄する。そして、付根洗浄部１２０３の素材には、プローブ１１６の付根部分を洗浄するのに適した素材が用いられている。

＜実施の形態２の効果＞
以上説明した本実施の形態２におけるプローブ洗浄機構２００によれば、洗浄部材１２００を、プローブ１１６の先端部分を洗浄する先端洗浄部１２０１と、プローブ１１６の付根部分を洗浄する付根洗浄部１２０３と、先端部分と付根部分との間を洗浄する中間洗浄部１２０２とから構成することで、先端部分から付け根にかけてそれぞれ異なる物質がプローブ１１６に付着している場合により効果的にプローブ１１６を洗浄できるようになる。

また、プローブの一部にネジ形状や溝形状を有している場合に、当該部分に対応する箇所の洗浄部材に柔らかい素材を用いることで、洗浄によってプローブが破損する可能性を低くすることができるようになる。

[実施の形態３]
本実施の形態３を、図１３を用いて説明する。

図１３は、本発明の実施の形態３におけるプローブ洗浄部２０１の構成例の概要を示す図である。図１３において、プローブ洗浄部２０１の洗浄部材１３００は、ガーゼ部１３０１と、スポンジ部１３０２とを有する。

ガーゼ部１３０１の素材には、ガーゼが用いられる。そして、ガーゼには洗剤や界面活性剤が吸収されている。プローブが挟み込まれた状態から引き抜かれることで、ガーゼ部１３０１は、プローブの先端部分から付根部分までを洗浄する。

スポンジ部１３０２の素材には、スポンジが用いられている。そして、スポンジには精製水が吸収されている。プローブが挟み込まれた状態から引き抜かれることで、スポンジ部１３０２は、プローブに付着した洗剤を除去する。なお、スポンジには何も吸収させないことで、スポンジ部が洗剤を吸収するようにしてもよい。

＜実施の形態３の効果＞
以上説明した本実施の形態３におけるプローブ洗浄機構２００によれば、洗浄部材１３００を、プローブ１１６の先端部分からプローブ１１６の付根部分までを洗剤で洗浄するガーゼ部１３０１と、プローブ１１６に付着した洗剤を除去するスポンジ部１３０２とから構成することで、まず、ガーゼ部１３０１でプローブ１１６を洗剤にて洗浄し、その後、スポンジ部１３０２でプローブ１１６に付着した洗剤を除去できるようになる。

以上、本発明によってなされた発明を実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。

１０１ 操作部
１０２ 分析部
１０３ ターンテーブル
１０４ 反応容器
１０５ 試薬ディスク
１０６ 試薬ボトル
１０７ 試料分注機構
１０８ 撹拌機構
１０９ 反応容器洗浄機構
１１０ 光源
１１１ 多波長光度計
１１２ 試薬分注機構
１１３ 搬送ライン
１１４ 搬送器
１１５ 試料容器
１１６ プローブ
２００ プローブ洗浄機構
２０１ プローブ洗浄部
２０２ ホルダ
６０１ プローブ接触部
６０２ 洗浄部材カバー
６０３ 洗浄部材
６０４ 爪
６０５ プローブ接触部カバー
６０６ 接続部
６０７ 挟み込み面
７０１ 接触部
７０２ 第一挿入部
７０３ 第二挿入部
７０４ 爪引っ掛け部
７０５ 液体溜部
１２００ 洗浄部材
１２０１ 先端洗浄部
１２０２ 中部洗浄部
１２０３ 付根洗浄部
１３００ 洗浄部材
１３０１ ガーゼ部
１３０２ スポンジ部

Claims (11)

1. プローブの洗浄をする一対の洗浄部材を有し、
   前記プローブの洗浄位置までの下降と連動して、一方の前記洗浄部材と他方の前記洗浄部材とを接触する位置まで段階的に移動することで前記洗浄位置にて一方の前記洗浄部材と他方の前記洗浄部材とで前記プローブを挟み込み、前記プローブが前記洗浄部材から引き抜かれるまで一方の前記洗浄部材と他方の前記洗浄部材とが接触させた状態を維持する、プローブ洗浄機構。
2. 請求項１に記載のプローブ洗浄機構において、
   前記プローブ洗浄機構は、プローブ洗浄部を内部に挿入するための挿入部を有するホルダをさらに有し、
   前記プローブ洗浄機構の高さは、前記プローブ洗浄部の高さよりも大きい、プローブ洗浄機構。
3. 請求項２に記載のプローブ洗浄機構において、
   前記ホルダは、前記プローブ洗浄部の先端に設けられた爪を引っ掛けるための爪引っ掛け部をさらに有する、プローブ洗浄機構。
4. 請求項２に記載のプローブ洗浄機構において、
   前記プローブ洗浄部は前記ホルダから取り外し可能である、プローブ洗浄機構。
5. 請求項１に記載のプローブ洗浄機構において、
   前記洗浄部材は、前記プローブの先端部分を洗浄する先端洗浄部と、前記プローブの付根部分を洗浄する付根洗浄部と、前記先端部分と前記付根部分との間を洗浄する中間洗浄部と、からなる、プローブ洗浄機構。
6. 請求項１に記載のプローブ洗浄機構において、
   前記洗浄部材は、前記プローブの先端部分から前記プローブの付根部分までを洗剤で洗浄するガーゼ部と、前記プローブに付着した前記洗剤を除去するスポンジ部と、からなる、プローブ洗浄機構。
7. 試料と試薬とを混合して反応させた溶液の測定を行う自動分析装置であって、
   前記試料または前記試薬を吸引、吐出する試料分注機構が有するプローブと、
   前記プローブの洗浄位置までの下降と連動して、一方の洗浄部材と他方の洗浄部材とを接触する位置まで段階的に移動することで前記洗浄位置にて一方の前記洗浄部材と他方の前記洗浄部材とで前記プローブを挟み込み、前記プローブが前記洗浄部材から引き抜かれるまで一方の前記洗浄部材と他方の前記洗浄部材とが接触させた状態を維持するプローブ洗浄機構と、を有する、自動分析装置。
8. 請求項７に記載の自動分析装置において、
   前記プローブ洗浄機構をセットする搬送器をさらに有する、自動分析装置。
9. 請求項８に記載の自動分析装置において、
   前記搬送器は、前記プローブ洗浄機構と試料容器とをセットする、自動分析装置。
10. 請求項８に記載の自動分析装置において、
    前記プローブ洗浄機構は、プローブ洗浄機構搬送器ＩＤを取得できたと判定する場合に動作する、自動分析装置。
11. 請求項９に記載の自動分析装置において、
    前記プローブ洗浄機構は、試料ＩＤを取得できたと判定する場合に動作する、自動分析装置。

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