JP2014128456A - Ｘ線ｃｔ装置及び制御プログラム - Google Patents

Abstract

【課題】フォトンカウンティングＣＴにより得られる画像の画質を向上させること。
【解決手段】実施形態のＸ線ＣＴ装置は、検出器と、制御部と、画像再構成部とを備える。検出器は、Ｘ線光子が入射するごとに、当該Ｘ線光子のエネルギー値を計測可能な信号を出力する。制御部は、前記検出器に入射するＸ線光子が有するエネルギー領域を推定する。画像再構成部は、Ｘ線管から照射され被検体を透過したＸ線光子が入射するごとに前記検出器が出力した個々の信号から収集される計数情報であって、前記検出器に入射したＸ線光子の計数値とエネルギー値とが対応付けられた計数情報の中で、前記エネルギー領域内のエネルギー値が対応付けられた計数情報を用いてＸ線ＣＴ画像データを再構成する。
【選択図】図１１

Description

本発明の実施形態は、Ｘ線ＣＴ装置及び制御プログラムに関する。

近年、フォトンカウンティング（Photon Counting）方式の検出器を用いてフォトンカウンティングＣＴ（Computed Tomography）を行なうＸ線ＣＴ装置の開発が進められている。従来のＸ線ＣＴ装置で用いられている積分型の検出器と異なり、フォトンカウンティング方式の検出器は、被検体を透過したＸ線光子を個々に計数可能な信号を出力する。従って、フォトンカウンティングＣＴでは、ＳＮ比（Signal per Noise）の高いＸ線ＣＴ画像を再構成可能となる。

また、フォトンカウンティング方式の検出器が出力した信号は、Ｘ線光子のエネルギーの計測（弁別）に用いることができる。従って、フォトンカウンティングＣＴでは、１種類の管電圧でＸ線を照射することで収集されたデータを複数のエネルギー成分に分けて画像化することができる。例えば、フォトンカウンティングＣＴでは、Ｋ吸収端の違いを利用した物質の同定が可能となる画像を生成することができる。

しかし、フォトンカウンティングＣＴでは、散乱線等のノイズ成分も計数するため、再構成画像の画質が低下する場合があった。

特開２０１２−３４９０１号公報

本発明が解決しようとする課題は、フォトンカウンティングＣＴにより得られる画像の画質を向上させることができるＸ線ＣＴ装置及び制御プログラムを提供することである。

実施形態のＸ線ＣＴ装置は、検出器と、制御部と、画像再構成部とを備える。検出器は、Ｘ線光子が入射するごとに、当該Ｘ線光子のエネルギー値を計測可能な信号を出力する。制御部は、前記検出器に入射するＸ線光子が有するエネルギー領域を推定する。画像再構成部は、Ｘ線管から照射され被検体を透過したＸ線光子が入射するごとに前記検出器が出力した個々の信号から収集される計数情報であって、前記検出器に入射したＸ線光子の計数値とエネルギー値とが対応付けられた計数情報の中で、前記エネルギー領域内のエネルギー値が対応付けられた計数情報を用いてＸ線ＣＴ画像データを再構成する。

図１は、第１の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置の構成例を示す図である。 図２は、第１の実施形態に係る検出器の一例を説明するための図である。 図３は、図１に示す収集部が行なうエネルギー計測処理の一例を説明するための図である。 図４は、第１の実施形態に係る制御部の処理を説明するための図（１）である。 図５は、第１の実施形態に係る制御部の処理を説明するための図（２）である。 図６は、第１の実施形態に係る制御部の処理を説明するための図（３）である。 図７は、第１の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置の処理の一例を説明するためのフローチャートである。 図８は、第２の実施形態を説明するための図（１）である。 図９は、第２の実施形態を説明するための図（２）である。 図１０は、第２の実施形態を説明するための図（３）である。 図１１は、第３の実施形態を説明するための図（１）である。 図１２は、第３の実施形態を説明するための図（２）である。 図１３は、第３の実施形態を説明するための図（３）である。 図１４は、第３の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置の処理の一例を説明するためのフローチャートである。

以下、添付図面を参照して、Ｘ線ＣＴ装置の実施形態を詳細に説明する。

以下の実施形態で説明するＸ線ＣＴ装置は、フォトンカウンティングＣＴを実行可能な装置である。すなわち、以下の実施形態で説明するＸ線ＣＴ装置は、従来の積分型（電流モード計測方式）の検出器ではなく、フォトンカウンティング方式の検出器を用いて被検体を透過したＸ線に由来する光子（Ｘ線光子）を計数することで、ＳＮ比の高いＸ線ＣＴ画像データを再構成可能な装置である。

個々の光子は、異なるエネルギーを有する。フォトンカウンティングＣＴでは、光子のエネルギー値の計測を行なうことで、Ｘ線のエネルギー成分の情報を得ることができる。フォトンカウンティングＣＴでは、１種類の管電圧でＸ線を照射することで収集されたデータを複数のエネルギー成分に分けて画像化することができる。

（第１の実施形態）
まず、第１の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置の構成について説明する。図１は、第１の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置の構成例を示す図である。図１に示すように、第１の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置は、架台装置１０と、寝台装置２０と、コンソール装置３０とを有する。

架台装置１０は、被検体ＰにＸ線を照射し、被検体Ｐを透過したＸ線を計数する装置であり、Ｘ線照射制御部１１と、Ｘ線発生装置１２と、検出器１３と、収集部１４と、回転フレーム１５と、架台駆動部１６とを有する。

回転フレーム１５は、Ｘ線発生装置１２と検出器１３とを被検体Ｐを挟んで対向するように支持し、後述する架台駆動部１６によって被検体Ｐを中心した円軌道にて高速に回転する円環状のフレームである。

Ｘ線発生装置１２は、Ｘ線を発生し、発生したＸ線を被検体Ｐへ照射する装置であり、Ｘ線管１２ａと、ウェッジ１２ｂと、コリメータ１２ｃとを有する。

Ｘ線管１２ａは、後述するＸ線発生装置１２により供給される高電圧により被検体ＰにＸ線ビームを照射する真空管であり、回転フレーム１５の回転にともなって、Ｘ線ビームを被検体Ｐに対して照射する。Ｘ線管１２ａは、ファン角及びコーン角を持って広がるＸ線ビームを発生する。

ウェッジ１２ｂは、Ｘ線管１２ａから曝射されたＸ線のＸ線量を調節するためのＸ線フィルタである。具体的には、ウェッジ１２ｂは、Ｘ線管１２ａから被検体Ｐへ照射されるＸ線が、予め定められた分布になるように、Ｘ線管１２ａから曝射されたＸ線を透過して減衰するフィルタである。

例えば、ウェッジ１２ｂは、所定のターゲット角度や所定の厚みとなるようにアルミニウムを加工したフィルタである。なお、ウェッジは、ウェッジフィルター（wedge filter）や、ボウタイフィルター（bow-tie filter）とも呼ばれる。また、本実施形態に係るＸ線ＣＴ装置は、撮影条件に応じて切り替えられる複数種類のウェッジ１２ｂを有する。例えば、後述するＸ線照射制御部１１は、撮影条件に応じてウェッジ１２ｂを切り替える。例えば、Ｘ線発生装置１２は、２種類のウェッジを有する。

コリメータ１２ｃは、後述するＸ線照射制御部１１の制御により、ウェッジ１２ｂによってＸ線量が調節されたＸ線の照射範囲を絞り込むためのスリットである。

Ｘ線照射制御部１１は、高電圧発生部として、Ｘ線管１２ａに高電圧を供給する装置であり、Ｘ線管１２ａは、Ｘ線照射制御部１１から供給される高電圧を用いてＸ線を発生する。Ｘ線照射制御部１１は、Ｘ線管１２ａに供給する管電圧や管電流を調整することで、被検体Ｐに対して照射されるＸ線量を調整する。

また、Ｘ線照射制御部１１は、ウェッジ１２ｂの切り替えを行なう。また、Ｘ線照射制御部１１は、コリメータ１２ｃの開口度を調整することにより、Ｘ線の照射範囲（ファン角やコーン角）を調整する。なお、本実施形態は、複数種類のウェッジを、操作者が手動で切り替える場合であっても良い。

架台駆動部１６は、回転フレーム１５を回転駆動させることによって、被検体Ｐを中心とした円軌道上でＸ線発生装置１２と検出器１３とを旋回させる。

検出器１３は、Ｘ線光子が入射するごとに、当該Ｘ線光子のエネルギー値を計測可能な信号を出力する。Ｘ線光子は、例えば、Ｘ線管１２ａから照射され被検体Ｐを透過したＸ線光子である。検出器１３は、Ｘ線光子が入射するごとに、１パルスの電気信号（アナログ信号）を出力する複数の検出素子を有する。電気信号（パルス）の数を計数することで、各検出素子に入射したＸ線光子の数を計数することが可能である。また、この信号に対して、処理の演算処理を行なうことで、当該信号の出力を引き起こしたＸ線光子のエネルギー値を計測することができる。エネルギー値の計測法については、後に詳述する。

上記の検出素子は、例えば、テルル化カドミウム（ＣｄＴｅ）系の半導体素子である。かかる場合、図１に示す検出器１３は、入射したＸ線光子を、直接、電気信号に変換する直接変換型の検出器となる。また、上記の検出素子は、例えば、シンチレータと光電子増倍管等の光センサとにより構成される場合でも良い。かかる場合、図１に示す検出器１３は、入射したＸ線光子をシンチレータによりシンチレータ光に変換し、シンチレータ光を光電子増倍管等の光センサにより電気信号に変換する間接変換型の検出器となる。

図２は、第１の実施形態に係る検出器の一例を説明するための図である。例えば、図１に示す検出器１３は、図２に示すように、テルル化カドミウムにより構成される検出素子１３１が、チャンネル方向（図１中のＹ軸方向）にＮ列、体軸方向（図１中のＺ軸方向）にＭ列配置された面検出器である。検出素子１３１は、光子が入射すると、１パルスの電気信号を出力する。検出素子１３１が出力した個々のパルスを弁別することで、検出素子１３１に入射したＸ線光子の数を計数することができる。また、パルスの強度に基づく演算処理を行なうことで、計数したＸ線光子のエネルギー値を計測することができる。

なお、図示していないが、検出器１３の後段には、複数の検出素子１３１ごとに増幅器が設置され、増幅器は、前段の検出素子１３１から出力された電気信号を増幅して、図１に示す収集部１４に出力する。

図１に戻って、収集部１４は、検出器１３の出力信号を用いた計数処理の結果である計数情報を収集する。すなわち、収集部１４は、検出器１３から出力される個々の信号を弁別して、計数情報を収集する。計数情報は、Ｘ線管１２ａから照射され被検体Ｐを透過したＸ線光子が入射するごとに検出器１３（複数の検出素子１３１）が出力した個々の信号から収集される情報である。具体的には、検出器１３（複数の検出素子１３１）に入射したＸ線光子の計数値とエネルギー値とが対応付けられた情報である。収集部１４は、収集した計数情報を、コンソール装置３０に送信する。

具体的には、収集部１４は、検出素子１３１が出力した各パルスを弁別して計数したＸ線光子の入射位置（検出位置）と、当該Ｘ線光子のエネルギー値とを計数情報として、Ｘ線管１２ａの位相（管球位相）ごとに収集する。収集部１４は、例えば、計数に用いたパルス（電気信号）を出力した検出素子１３１の位置を、入射位置とする。また、収集部１４は、電気信号に対して、所定の演算処理を行なうことで、Ｘ線光子のエネルギー値を計測する。図３は、図１に示す収集部が行なうエネルギー計測処理の一例を説明するための図である。

図３の（Ａ）は、検出素子１３１から出力される電気信号の一例を示している。例えば、検出素子１３１から出力される電気信号は、Ｘ線光子の入射に伴って発生する電子が、正電位の集電電極へ向かって走行することで出力される。かかる場合、電気信号は、図３の（Ａ）に示すように、負の電圧値が時間軸に沿って変化するアナログ信号となる。電気信号は、図３の（Ａ）に示すように、Ｘ線光子の入射直後に急激に負方向に向かって立ち上がり、その後、正方向に向かって立ち下がる形状となる。図３の（Ａ）に示す電気信号は、Ｘ線光子の入射に伴って発生する電子を集めることで出力される信号であり、あくまでも一例である。Ｘ線光子の入射により出力される電気信号は、Ｘ線光子の入射に伴って発生する正孔が、負電位の集電電極へ向かって走行することで出力される場合であっても良い。かかる場合、Ｘ線光子の入射により出力される電気信号は、Ｘ線光子の入射直後に急激に正方向に向かって立ち上がり、その後、負方向に向かって立ち下がる形状となる。本実施形態は、Ｘ線光子の入射により出力される電気信号として、Ｘ線光子の入射に伴って発生する電子を集めた信号を用いる場合であっても、Ｘ線光子の入射に伴って発生する正孔を集めた信号を用いる場合であっても良い。更に、本実施形態は、Ｘ線光子の入射により出力される電気信号として、Ｘ線光子の入射に伴って発生する電子を集めた信号と正孔を集めた信号とを同時に用いる場合であっても良い。

収集部１４は、図３の（Ａ）に示す電気信号を、所定の設定時間分、時間方向に沿って積分した信号（積分信号）を生成する。図３の（Ｂ）は、図３の（Ａ）に示す電気信号の積分信号を示す。そして、収集部１４は、積分信号がプラトー（plateau）に達する電圧値（以下、収束値）を決定する。そして、収集部１４は、収束値と、システム固有の応答関数とからエネルギー値を演算する。この応答関数は、検出素子１３１の物理的特性から、予め演算された関数であり、収束値からエネルギー値を求めるための関数である。例えば、収集部１４は、収束値と、当該収束値を応答関数に代入して得られるエネルギー値とが対応付けられたテーブルを保持している。

計数情報は、例えば、『管球位相「α１」では、入射位置「Ｐ１１」の検出素子１３１において、エネルギー「Ｅ１」を有する光子の計数値が「Ｎ１」であり、エネルギー「Ｅ２」を有する光子の計数値が「Ｎ２」である』といった情報となる。或いは、計数情報は、例えば、『管球位相「α１」では、入射位置「Ｐ１１」の検出素子１３１において、エネルギー「Ｅ１」を有する光子の単位時間当たりの計数値が「ｎ１」であり、エネルギー「Ｅ２」を有する光子の単位時間当たりの計数値が「ｎ２」である』といった情報となる。

なお、上記の計数情報おけるエネルギー「Ｅ１」は、例えば、エネルギー弁別域「Ｅ１〜Ｅ２」とされる場合であっても良い。かかる場合、計数情報は、例えば、『管球位相「α１」では、入射位置「Ｐ１１」の検出素子１３１において、エネルギー弁別域「Ｅ１〜Ｅ２」を有する光子の計数値が「ＮＮ１」である』といった情報となる。或いは、計数情報は、例えば、『管球位相「α１」では、入射位置「Ｐ１１」の検出素子１３１において、エネルギー弁別域「Ｅ１〜Ｅ２」を有する光子の単位時間当たりの計数値が「ｎｎ１」である』といった情報となる。上記のエネルギー弁別域は、収集部１４がエネルギーの値を、所定の粒度に弁別して振り分けるための領域となる。エネルギー弁別域を設定するための閾値は、例えば、後述する制御部３８により設定される。

ここで、収集部１４は、以下に説明する様々な形態により構成することができる。以下、収集部１４の２つの構成例（第１構成例及び第２構成例）について、説明する。第１構成例で構成される収集部１４は、検出素子１３１ごとに設置されるアナログデジタル変換回路（Analog to Digital Converter：ＡＤＣ）を有する。ＡＤＣは、例えば、アナログ電気信号をサンプリングして積分信号を生成し、積分信号のうち、電圧値が収束する領域（図３の（Ｂ）に示す楕円を参照）を対象としてサンプリングしたデジタル信号を出力する。なお、ＡＤＣは、例えば、４つの検出素子１３１を束ねたチャンネルごとに設置されても良い。

ＡＤＣから出力されたデジタル信号は、複数のコンパレータに出力される。各コンパレータには、閾値が設定されている。複数のコンパレータが応答関数を用いた比較処理を行なうことで、エネルギー弁別域ごとの計数値が収集される。エネルギー弁別域の数は、収集部１４に設置可能なコンパレータの数により決定される。なお、ＡＤＣが応答関数を用いてエネルギー値を演算し、コンパレータが比較処理を行なう場合であっても良い。

上記の第１構成例では、収集部１４は、各管球位相での検出素子１３１ごとの計数値を、複数のエネルギー弁別域に振り分けた計数情報を収集する。一方、各管球位相での検出素子１３１ごとの計数値を、エネルギー値ごとに振り分けた計数情報を収集する場合、収集部１４は、例えば、以下に説明する第２構成例のように構成される。例えば、収集部１４は、検出素子１３１ごとに、高速サンプリングが実行可能なＡＤＣ（以下、高速ＡＤＣ）が設置される。高速ＡＤＣは、図３の（Ａ）に示すアナログ電気信号全体や、図３の（Ｂ）に示す積分信号全体をデジタル信号に変換する。そして、各高速ＡＤＣの後段には、例えば、ＦＰＧＡ（Field-Programmable Gate Array）が設置され、各ＦＰＧＡは、前段の高速ＡＤＣから出力されたデジタル信号から、エネルギー値を演算する。上記の高速ＡＤＣを用いる場合、計数情報の収集処理は、コンソール装置３０により行われても良い。かかる場合、収集部１４は、例えば、高速ＡＤＣによりデジタル信号を収集し、コンソール装置３０に設置された第２収集部に送信する。第２収集部は、収集部１４から受信したデジタル信号から計数情報を収集する。

図１に戻って、寝台装置２０は、被検体Ｐを載せる装置であり、天板２２と、寝台駆動装置２１とを有する。天板２２は、被検体Ｐが載置される板であり、寝台駆動装置２１は、天板２２をＺ軸方向へ移動して、被検体Ｐを回転フレーム１５内に移動させる。

なお、架台装置１０は、例えば、天板２２を移動させながら回転フレーム１５を回転させて被検体Ｐをらせん状にスキャンするヘリカルスキャンを実行する。または、架台装置１０は、天板２２を移動させた後に被検体Ｐの位置を固定したままで回転フレーム１５を回転させて被検体Ｐを円軌道にてスキャンするコンベンショナルスキャンを実行する。または、架台装置１０は、天板２２の位置を一定間隔で移動させてコンベンショナルスキャンを複数のスキャンエリアで行なうステップアンドシュート方式を実行する。

コンソール装置３０は、操作者によるＸ線ＣＴ装置の操作を受け付けるとともに、架台装置１０によって収集された計数情報を用いてＸ線ＣＴ画像データを再構成する装置である。コンソール装置３０は、図１に示すように、入力装置３１と、表示装置３２と、スキャン制御部３３と、前処理部３４と、投影データ記憶部３５と、画像再構成部３６と、画像記憶部３７と、制御部３８とを有する。

入力装置３１は、Ｘ線ＣＴ装置の操作者が各種指示や各種設定の入力に用いるマウスやキーボード等を有し、操作者から受け付けた指示や設定の情報を、制御部３８に転送する。例えば、入力装置３１は、操作者から、Ｘ線ＣＴ画像データの撮影条件や、Ｘ線ＣＴ画像データを再構成する際の再構成条件や、Ｘ線ＣＴ画像データに対する画像処理条件等を受け付ける。

表示装置３２は、操作者によって参照されるモニタであり、制御部３８による制御のもと、Ｘ線ＣＴ画像データを操作者に表示したり、入力装置３１を介して操作者から各種指示や各種設定等を受け付けるためのＧＵＩ（Graphical User Interface）を表示したりする。

スキャン制御部３３は、後述する制御部３８の制御のもと、Ｘ線照射制御部１１、架台駆動部１６、収集部１４及び寝台駆動装置２１の動作を制御することで、架台装置１０における計数情報の収集処理を制御する。

前処理部３４は、収集部１４から送信された計数情報に対して、対数変換処理、オフセット補正、感度補正、ビームハードニング補正等の補正処理を行なうことで、投影データを生成する。

投影データ記憶部３５は、前処理部３４により生成された投影データを記憶する。すなわち、投影データ記憶部３５は、Ｘ線ＣＴ画像データを再構成するための投影データ（補正済み計数情報）を記憶する。なお、以下では、投影データを計数情報として記載する場合がある。

画像再構成部３６は、投影データ記憶部３５が記憶する投影データを用いてＸ線ＣＴ画像データを再構成する。再構成方法としては、種々の方法があり、例えば、逆投影処理が挙げられる。また、逆投影処理としては、例えば、ＦＢＰ（Filtered Back Projection）法による逆投影処理が挙げられる。また、画像再構成部３６は、Ｘ線ＣＴ画像データに対して各種画像処理を行なうことで、画像データを生成する。画像再構成部３６は、再構成したＸ線ＣＴ画像データや、各種画像処理により生成した画像データを画像記憶部３７に格納する。

ここで、フォトンカウンティングＣＴで得られる計数情報から生成された投影データには、被検体Ｐを透過することで減弱されたＸ線のエネルギー情報が含まれている。このため、画像再構成部３６は、例えば、特定のエネルギー成分のＸ線ＣＴ画像データを再構成することができる。また、画像再構成部３６は、例えば、複数のエネルギー成分それぞれのＸ線ＣＴ画像データを再構成することができる。

また、画像再構成部３６は、例えば、各エネルギー成分のＸ線ＣＴ画像データの各画素にエネルギー成分に応じた色調を割り当て、エネルギー成分に応じて色分けされた複数のＸ線ＣＴ画像データを生成することができ、更に、これら複数のＸ線ＣＴ画像データを重畳した画像データを生成することができる。

また、画像再構成部３６は、物質固有のＫ吸収端を利用して、当該物質の同定が可能となる画像データを生成することができる。Ｋ吸収端の前後では、Ｘ線の減弱係数が大きく異なるため、計数値も大きく変化する。例えば、画像再構成部３６は、Ｋ吸収端より小さいエネルギー領域の計数情報を再構成した画像データと、当該Ｋ吸収端より大きいエネルギー領域の計数情報を再構成した画像データとを差分した差分画像データを生成する。例えば、造影剤の主成分のＫ吸収端を用いて生成された差分画像データは、当該造影剤が存在する領域が主に描出された画像となる。また、画像再構成部３６が生成する他の画像データとしては、単色Ｘ線画像データや密度画像データ、実効原子番号画像データ等が挙げられる。

制御部３８は、架台装置１０、寝台装置２０及びコンソール装置３０の動作を制御することによって、Ｘ線ＣＴ装置の全体制御を行う。具体的には、制御部３８は、スキャン制御部３３を制御することで、架台装置１０で行なわれるＣＴスキャンを制御する。また、制御部３８は、前処理部３４や、画像再構成部３６を制御することで、コンソール装置３０における画像再構成処理や画像生成処理を制御する。また、制御部３８は、画像記憶部３７が記憶する各種画像データを、表示装置３２に表示するように制御する。

以上、第１の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置の全体構成について説明した。かかる構成のもと、第１の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置は、フォトンカウンティングＣＴにより、検出器１３に入射した個々のＸ線光子のエネルギーを計測することで、従来の積分型ＣＴと比較して、高画質なＸ線画像データの再構成を行なう。しかし、フォトンカウンティングＣＴでは、散乱線等のノイズ成分も計数するため、Ｘ線画像データの画質向上が実現できない場合があった。

そこで、第１の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置は、フォトンカウンティングＣＴにより得られる画像の画質を向上させるために、以下に説明する制御部３８の制御が行なわれる。

すなわち、第１の実施形態に係る制御部３８は、検出器１３に入射するＸ線光子が有するエネルギー領域を推定する。エネルギー領域は、検出器１３に入射するＸ線光子が保持していないと推定されるエネルギー領域を除外した領域となる。除外される領域は、ノイズ成分のエネルギー領域として推定される領域であり、制御部３８が推定するエネルギー領域は、画像化に用いる画像化エネルギー領域となる。

そして、制御部３８の制御により、画像再構成部３６は、計数情報の中で、エネルギー領域内のエネルギー値が対応付けられた計数情報を用いてＸ線ＣＴ画像データを再構成する。第１の実施形態では、制御部３８は、エネルギー領域内のエネルギー値の計数情報を収集する旨の指示を収集部１４に通知する。その結果、投影データ記憶部３５には、エネルギー領域内のエネルギー値の計数情報のみから生成された投影データが格納されることとなり、画像再構成部３６は、かかる投影データを用いてＸ線ＣＴ画像データを再構成する。

ここで、第１の実施形態に係る制御部３８は、Ｘ線画像データの撮影条件、具体的には、撮影条件に含まれるＸ線の照射条件に基づいて、エネルギー領域を推定する。以下、第１の実施形態に係る制御部３８が行なう処理について、図４、図５及び図６を用いて説明する。図４、図５及び図６は、第１の実施形態に係る制御部の処理を説明するための図である。

Ｘ線の照射時には、Ｘ線管１２ａは、図４に示すように、ウェッジ１２ｂを介してＸ線を照射する。ウェッジ１２ｂにより、Ｘ線管１２ａから曝射されたＸ線のＸ線量が調節される。また、Ｘ線管１２ａから曝射されたＸ線の照射範囲は、ウェッジ１２ｂ及びコリメータ１２ｃの開口により調節される。これにより、Ｘ線管１２ａからは、図４に示すように、Ｘ線焦点から、ファン角及びコーン角の広がりを持つＸ線ビームが照射される。なお、図４に示すＦＯＶは、撮影時の撮影領域（Field Of View）である。ＦＯＶの直径（図中のｓＦＯＶを参照）は、Ｘ線焦点と検出器１３との距離（回転フレーム１５の内径）、Ｘ線の照射範囲等により定まる。ＦＯＶは、撮影視野、有効視野とも呼ばれる。

また、図４に示すＦＳＤは、Ｘ線焦点とスリットであるコリメータ１２ｃとの距離であり、焦点スリット間距離（Focus Slit Distance）と呼ばれる。また、図４に示すＦＣＤは、Ｘ線焦点とＦＯＶの中心との距離であり、焦点中心間距離（Focus Center Distance）と呼ばれる。また、図４に示すＦＤＤは、Ｘ線焦点と検出器１３との距離であり、焦点検出器間距離（Focus Detector Distance）と呼ばれる。

ウェッジ１２ｂは、Ｘ線の照射条件に応じて、切り替えられる。また、Ｘ線管１２ａに供給される管電圧は、Ｘ線の照射条件として設定される。図５は、「厚さ：５ｍｍ、ターゲット角度：７度」のアルミニウムで形成されたウェッジ１２ｂを用いてＸ線管１２ａからＸ線を照射した場合に観察されるＸ線光子のエネルギー値（単位：ｋｅＶ）の分布（エネルギースペクトル）を示している。図５の横軸は、エネルギー（単位：ｋｅＶ）であり、図５の縦軸は、Ｘ線の相対強度である。図５に示す一例では、異なる管電圧で観察される２つのエネルギースペクトルを容易に比較可能なように、実測されたＸ線強度の最大値を「１」として、実測されたＸ線強度を正規化している。

図５の実線で示すエネルギースペクトルＡは、管電圧が８０ｋＶである場合に観察されるエネルギースペクトルである。また、図５の点線で示すエネルギースペクトルＢは、管電圧が１４０ｋＶである場合に観察されるエネルギースペクトルである。

ここで、Ｘ線管１２ａが発生したＸ線は、上述したように、ウェッジ１２ｂを透過することで、減衰される。すなわち、ウェッジ１２ｂで完全に減衰されたエネルギー領域のＸ線は、被検体Ｐに照射されないはずである。換言すると、被検体Ｐを通過したＸ線光子には、ウェッジ１２ｂで完全に減衰されたエネルギー領域のエネルギー値を有するＸ線光子が存在しないはずである。ウェッジ１２ｂで完全に減衰されたエネルギー領域のエネルギー値となる計数情報は、散乱線等のノイズ成分の計数情報であると考えられる。ノイズ成分の計数情報は、画質低下の要因となる。

例えば、図５に示すエネルギースペクトルＡ及びエネルギースペクトルＢを参照すると、Ｘ線光子のエネルギー値は、２０ｋｅＶより大きい値を有している。これは、Ｘ線管１２ａが発生したＸ線の中で、約２０ｋｅＶ以下のエネルギー領域のＸ線が、「厚さ：５ｍｍ、ターゲット角度：７度」のアルミニウムで形成されたウェッジ１２ｂにより、完全に減衰されたことを示している。

そこで、制御部３８は、撮影に使用されるウェッジ１２ｂの材質及び形状に基づいて、ウェッジ１２ｂにより吸収されるエネルギー領域（減衰エネルギー領域）を取得する。そして、制御部３８は、取得したエネルギー領域（減衰エネルギー領域）の上限値を下限閾値として、エネルギー領域を推定する。例えば、制御部３８は、Ｘ線ＣＴ装置で使用されるウェッジ１２ｂごとの減衰エネルギー領域をテーブルとして保持し、撮影に使用されるウェッジ１２ｂの減衰エネルギー領域を取得する。或いは、例えば、制御部３８は、Ｘ線ＣＴ装置で使用されるウェッジ１２ｂの材質及び形状の情報から、減衰エネルギー領域を算出する。

例えば、制御部３８は、材質及び形状から、ウェッジ１２ｂの減衰エネルギー領域が２０ｋｅＶ以下であることから、図６に示すように、エネルギー領域の下限閾値を「２０ｋｅＶ」として設定する。

更に、制御部３８は、撮影時の管電圧を用いてエネルギー領域を推定する。Ｘ線管１２ａは、供給された管電圧以上のエネルギー値を有するＸ線を放出することできない。例えば、管電圧が８０ｋＶである場合のエネルギースペクトルＡでは、図５に示すように、Ｘ線光子のエネルギー値の最大値は８０ｋｅＶとなる。また、例えば、管電圧が１４０ｋＶである場合のエネルギースペクトルＢでは、図５に示すように、Ｘ線光子のエネルギー値の最大値は１４０ｋｅＶとなる。すなわち、撮影時に設定された管電圧の値以上で計測されるエネルギー領域も、ノイズ成分と考えられる。ノイズ成分の計数情報は、画質低下の要因となる。

そこで、制御部３８は、被検体Ｐの撮影時にＸ線管１２ａに供給される管電圧に基づいて、Ｘ線管１２ａから放出されるＸ線光子の上限エネルギー値を取得する。そして、制御部３８は、取得した上限エネルギー値を上限閾値として、エネルギー領域を推定する。

例えば、制御部３８は、撮影時の管電圧が８０ｋＶである場合は、図６に示すように、エネルギー領域の上限閾値を「８０ｋｅＶ」とする。また、例えば、制御部３８は、撮影時の管電圧が１４０ｋＶである場合は、図６に示すように、エネルギー領域の上限閾値を「１４０ｋｅＶ」とする。

このように、制御部３８は、撮影に使用されるウェッジ１２ｂの材質及び形状に応じて取得した減衰エネルギー領域の上限値を下限閾値とし、撮影時に設定された管電圧に応じたエネルギー最大値を上限閾値とすることで、エネルギー領域を設定する。例えば、「厚さ：５ｍｍ、ターゲット角度：７度」のアルミニウムで形成されたウェッジ１２ｂを用いて「管電圧：８０ｋＶ」の撮影が行なわれる場合、制御部３８は、図６に示すように、「２０ｋｅＶ〜８０ｋＶ」をエネルギー領域として推定する。また、例えば、「厚さ：５ｍｍ、ターゲット角度：７度」のアルミニウムで形成されたウェッジ１２ｂを用いて「管電圧：１４０ｋＶ」の撮影が行なわれる場合、制御部３８は、図６に示すように、「２０ｋｅＶ〜１４０ｋＶ」をエネルギー領域として推定する。

制御部３８により推定されるエネルギー領域は、画像化に用いる計数情報を設定するための画像化エネルギー領域となる。制御部３８は、例えば、「２０ｋｅＶ〜１４０ｋＶ」を収集部１４に通知する。収集部１４は、例えば、「２０ｋｅＶ」及び「１４０ｋＶ」を閾値として、コンパレータやＦＰＧＡに設定する。そして、制御部３８は、スキャン制御部３３を制御して、ＣＴスキャンを実行させる。ＣＴスキャンは、例えば、コンベンショナルスキャンやヘリカルスキャンである。

そして、収集部１４は、エネルギー値（Ｅ）が、「Ｅ＜２０ｋｅＶ」及び「Ｅ＞１４０ｋＶ」に対応する計数値を破棄し、「２０ｋｅＶ＜Ｅ＜１４０ｋＶ」のエネルギー値の計数情報を、コンソール装置３０に送信する。これにより、画像再構成部３６は、画像化エネルギー領域の計数情報を用いて、Ｘ線ＣＴ画像データを再構成する。

次に、図７を用いて、第１の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置の処理について説明する。図７は、第１の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置の処理の一例を説明するためのフローチャートである。

図７に例示するように、第１の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置の制御部３８は、操作者から撮影開始要求を受け付けたか否かを判定する（ステップＳ１０１）。ここで、撮影開始要求を受け付けない場合（ステップＳ１０１否定）、制御部３８は、撮影開始要求を受け付けるまで待機する。

一方、撮影開始要求を受け付けた場合（ステップＳ１０１肯定）、制御部３８は、撮影開始要求とともに受け付けたＸ線照射条件に基づいて、エネルギー領域（画像化エネルギー領域）を推定し、収集部１４に通知する（ステップＳ１０２）。そして、制御部３８は、ＣＴスキャンを実行させる（ステップＳ１０３）。

そして、収集部１４は、エネルギー領域の計数情報を収集し（ステップＳ１０４）、画像再構成部３６は、Ｘ線ＣＴ画像データを再構成する（ステップＳ１０５）。具体的には、画像再構成部３６は、エネルギー領域の計数情報から生成された投影データを用いて、Ｘ線ＣＴ画像データを再構成する。

そして、表示装置３２は、制御部３８の制御により、Ｘ線ＣＴ画像データを表示し（ステップＳ１０６）、処理を終了する。

上述したように、第１の実施形態では、制御部３８は、被検体Ｐの撮影時におけるＸ線の照射条件に基づいて、ノイズ成分のエネルギー領域を取得し、ノイズ成分のエネルギー領域を除外したエネルギー領域を画像化に用いるエネルギー領域（画像化エネルギー領域）として推定する。これにより、画像再構成部３６は、ノイズ成分が除去された計数情報を用いた再構成処理を実行する。従って、第１の実施形態では、フォトンカウンティングＣＴにより得られる画像の画質を向上させることができる。

なお、本実施形態では、エネルギー領域の計数情報を用いた再構成処理を行なうために、エネルギー領域の計数情報を収集するように制御部３８が収集部１４を制御する場合について説明した。しかし、本実施形態では、エネルギー領域の計数情報を用いた再構成処理を行なうための制御が、画像再構成部３６に対して行なわれる場合であっても良い。

かかる場合、制御部３８は、収集部１４が収集した計数情報の中で、エネルギー領域内のエネルギー値の計数情報を用いて再構成処理を行なう旨の指示を画像再構成部３６に通知する。すなわち、上記の例では、収集部１４が収集した計数情報を、コンソール装置３０において取捨選択することで、エネルギー領域の計数情報を用いた再構成処理が行なわれる。収集部１４が上述した第２構成例で設計されているならば、制御部３８は、収集部１４に対する閾値設定を行なうことなく、上記の制御を行なうことができる。なお、収集部１４が上述した第１構成例で設計されているならば、制御部３８は、収集部１４に対して画像化エネルギー領域の上限閾値及び下限閾値を設定することが必要となる。

また、第１の実施形態は、撮影に使用されるウェッジ１２ｂに応じた下限閾値のみでエネルギー領域が推定される場合や、撮影時の管電圧に応じた上限閾値のみでエネルギー領域が推定される場合であっても良い。

（第２の実施形態）
第１の実施形態では、Ｘ線照射条件により一意に定まる下限閾値及び上限閾値を用いて画像化エネルギー領域を推定する場合について説明した。第２の実施形態では、実測データから画像化エネルギー領域を推定する場合について、図８、図９及び図１０を用いて説明する。図８、図９及び図１０は、第２の実施形態を説明するための図である。

第２の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置は、図１を用いて説明した第１の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置と同様に構成される。しかし、第２の実施形態に係る制御部３８は、第１の実施形態で説明した方法とは異なる方法で、画像化のためのエネルギー領域を推定する。

検出器１３から出力される電気信号は、動的な統計的性質を有する粒子であるＸ線光子が引き起こす現象の結果であることから、統計的な揺らぎを有する。すなわち、検出器１３から出力される電気信号を用いて計測されるエネルギー値は、統計的な揺らぎを有する。かかる統計的な揺らぎは、エネルギー分解能として定義される。エネルギー分解能は、検出器１３の種類により異なる。第１の実施形態で説明したように、検出器１３として用いられるフォトンカウンティング方式検出器は、直接型検出器と間接型検出器とに大別される。

一般的に、直接型検出器のエネルギー分解能は、間接型検出器のエネルギー分解能より高い。例えば、エネルギー分解能は、ガウス曲線として表現することができ、直接型検出器のエネルギー分解能の半値幅は、間接型検出器のエネルギー分解能の半値幅より狭い。

図８に示す実線のエネルギースペクトルは、直接型検出器を検出器１３として用いた場合のエネルギースペクトルの一例である。例えば、図８に示す実線のエネルギースペクトルは、「厚さ：５ｍｍ、ターゲット角度：７度」のアルミニウムで形成されたウェッジ１２ｂを用いて「管電圧：８０ｋＶ」の撮影が行なわれた場合に観察されるエネルギースペクトルである。

エネルギー分解能が高い直接型検出器を用いた場合、第１の実施形態で説明した方法により推定したエネルギー領域は、図８に示す実線のエネルギースペクトルで観察されるエネルギー値の最小値から最大値までの領域に略一致する。

一方、図８に示す点線のエネルギースペクトルは、図８に示す実線のエネルギースペクトルが得られた同一のＸ線照射条件下で、間接型検出器を用いた場合のエネルギースペクトルである。エネルギー分解能が低い間接型検出器を用いたことにより、図８に示す点線のエネルギースペクトルは、図８に示す実線のエネルギースペクトルと比較して、ピークが広がり、かつ、ピーク値が低くなる。また、エネルギー分解能が低いことから、図８に示す点線のエネルギースペクトルで観察されるエネルギー値の最小値は、第１の実施形態で説明した方法により推定したエネルギー領域の下限閾値より小さくなる、また、エネルギー分解能が低いことから、図８に示す点線のエネルギースペクトルで観察されるエネルギー値の最大値は、第１の実施形態で説明した方法により推定したエネルギー領域の上限閾値より大きくなる。

なお、直接型検出器であっても、検出素子１３１の経年変化や検出素子１３１の種類により、エネルギー分解能は、異なる。このため、図８に示す現象は、直接型検出器であっても、発生する可能性がある。かかる場合、第１の実施形態で説明した方法により推定したエネルギー領域を用いると、画像化に利用可能なエネルギー領域もノイズ成分として破棄されてしまう。

そこで、第２の実施形態に係る制御部３８は、被検体Ｐが配置されていない状態で、Ｘ線管１２ａから検出器１３に対してＸ線を照射させる。そして、第２の実施形態に係る制御部３８は、検出器１３を構成する各検出素子におけるエネルギースペクトルを収集する。すなわち、第２の実施形態に係る制御部３８は、図９に示すように、被検体Ｐが配置されていない状態で、キャリブレーション用スキャンを実行させる。制御部３８は、キャリブレーション用スキャンを、本撮影用のＣＴスキャンと同じＸ線照射条件で実行させる。制御部３８は、本撮影用のＣＴスキャンと同じＸ線照射条件でＸ線管１２ａからＸ線を照射させながら、図９に示すように、Ｘ線管１２ａ及び検出器１３を１回転させる。

図１０は、管球位相「α」において、検出器１３を構成する１つの検出素子１３１から収集されるエネルギースペクトルの一例を示している。収集部１４は、図１０に示すように、管球位相「α」で検出素子１３１が出力した電気信号を用いて収集した計数情報から、エネルギー値の大きさの順に計数値を並べたヒストグラムを生成する。そして、収集部１４は、生成したヒストグラムを、例えば、前処理部３４を介して制御部３８に送信する。或いは、収集部１４は、生成したヒストグラムを制御部３８に直接送信する。制御部３８は、図１０に示すように、収集部１４から受信したヒストグラムを用いて、エネルギースペクトルを生成する。なお、本実施形態は、収集部１４が、図１０に示すエネルギースペクトルを生成しても良い。

そして、第２の実施形態に係る制御部３８は、収集した全エネルギースペクトルのエネルギー値の最小値及び最大値から下限閾値及び上限閾値を設定して、エネルギー領域（画像化エネルギー領域）を推定する。例えば、制御部３８は、収集した各エネルギースペクトルの最小値で最小となるエネルギー値を下限閾値とし、収集した各エネルギースペクトルの最大値で最大となるエネルギー値を上限閾値とする。或いは、例えば、制御部３８は、収集した全エネルギースペクトルのエネルギー値の統計的最小値及び統計的最大値を、下限閾値及び上限閾値として、エネルギー領域（画像化エネルギー領域）を推定する。

例えば、制御部３８は、収集した全エネルギースペクトルの最小値の平均値を下限閾値とし、収集した全エネルギースペクトルの最大値の平均値を上限閾値とする。或いは、例えば、制御部３８は、収集した全エネルギースペクトルの最小値の中央値を下限閾値とし、収集した全エネルギースペクトルの最大値の中央値を上限閾値とする。

第２の実施形態で設定される下限閾値は、撮影に用いられるウェッジ１２ｂで定まる下限閾値以下の値となる。また、第２の実施形態で設定される下限閾値は、撮影時の管電圧で定まる上限閾値以上の値となる。

なお、本実施形態は、検出器１３から出力される電気信号が各管球位相で同じであると想定される場合には、キャリブレーション用スキャンを１つの管球位相で行なう場合であっても良い。或いは、本実施形態は、キャリブレーション用スキャンを、複数の管球位相に限定して行なっても良い。また、本実施形態は、全ての検出素子１３１から選択した１つの検出素子１３１、又は、一部の複数の検出素子１３１を用いてキャリブレーション用スキャンを行なう場合であっても良い。

ただし、ウェッジ１２ｂやコリメータ１２ｃで定まる照射範囲内のＸ線強度は、必ずしも一定ではない。また、管球位相によっては、温度等の要因により、検出素子１３１の出力特性が変化する可能性がある。このため、キャリブレーション用スキャンは、本撮影のＣＴスキャンで行なわれる全管球位相でのエネルギースペクトルが得られるように３６０度回転で行なわれ、更に、エネルギースペクトルは、検出器１３を構成する全ての検出素子１３１から収集されることが好適である。

また、キャリブレーション用スキャンは、本撮影の直前に、本撮影のＸ線照射条件に合わせて実行される。或いは、キャリブレーション用スキャンは、Ｘ線ＣＴ装置で設定可能な複数種類のＸ線照射条件それぞれで、定期的に行なわれても良い。かかる場合、制御部３８は、事前にＸ線照射条件ごとのエネルギー領域を推定する。或いは、かかる場合、制御部３８は、本撮影のＸ線照射条件に合致するキャリブレーションデータを参照して、本撮影前に、エネルギー領域を推定する。

なお、第２の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置が行なう処理は、ステップＳ１０２で行なわれる推定処理が、キャリブレーション用スキャンにより収集されたエネルギースペクトルを用いて行なわれる以外、同様であるので説明を省略する。また、第１の実施形態で説明した内容は、エネルギー領域の推定法が異なる以外、第２の実施形態でも同様に適用可能である。例えば、第２の実施形態においても、エネルギー領域の計数情報を取得するための取捨選択が、架台装置１０で行なわれる場合であっても、コンソール装置３０で行なわれる場合であっても良い。

上述したように、第２の実施形態では、撮影に用いる検出器１３の物理的特性（応答関数）に応じた画像化エネルギー領域を、実測データに基づいて推定する。従って、第２の実施形態では、フォトンカウンティングＣＴにより得られる画像の画質を確実に向上させることができる。

（第３の実施形態）
第３の実施形態では、第１の実施形態、又は、第２の実施形態で説明した方法により推定された画像化エネルギー領域の計数情報を、補正する場合について、図１１、図１２及び図１３を用いて説明する。図１１、図１２及び図１３は、第３の実施形態を説明するための図である。

第３の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置は、図１を用いて説明した第１の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置と同様に構成される。しかし、第３の実施形態に係る制御部３８は、パイルアップが発生した場合でも、再構成画像の画質を安定させることを目的として、画像化エネルギー領域外のエネルギー領域の計数情報を破棄しないように制御する。

上述したように、検出素子１３１は、Ｘ線光子が入射すると、１パルスの電気信号を出力する。検出素子１３１に入射するＸ線強度が弱い場合は、光子の入射間隔がまばらとなるため、検出素子１３１から出力される個々のパルスを弁別可能である。しかし、検出素子１３１に入射するＸ線強度が強い場合は、光子の入射間隔が短くなる。光子の入射間隔が短くなると、図１１に示すように、検出素子１３１から出力されたパルスは積み重なり（pile up）、個々のパルスを弁別できない状態となる。具体的には、積み重なった複数のパルスが、見かけ上１つのパルスとして弁別される。その結果、計数の数え落としが生じ、実際にセンサに入射した光子数と検出素子１３１が出力したパルスの計数値（パルス個数）との線形性が失われる。すなわち、パルス個数は、Ｘ線強度が高くなるにつれて、光子数より少なく計数される。また、積み重なった複数のパルスが、見かけ上１つのパルスとして弁別されるため、計測されるエネルギー値が高くなる。

図１２に示す実線のエネルギースペクトルは、パイルアップが発生していない状態でのエネルギースペクトルの一例である。一方、図１２に示す点線のエネルギースペクトルは、同一のＸ線照射条件下で、パイルアップが発生した状態でのエネルギースペクトルの一例である。パイルアップの発生により、図１２に示す点線のエネルギースペクトルは、図１２に示す実線のエネルギースペクトルと比較して、全体的にエネルギー値が大きくなる方向（図中では右方向）に、シフトした形状となる。また、パイルアップの発生により、図１２に示す点線のエネルギースペクトルは、図１２に示す実線のエネルギースペクトルと比較して、ピークが広がり、かつ、ピーク値が低くなる。

すなわち、パイルアップの発生の発生により、図１２に示す点線のエネルギースペクトルで観察されるエネルギー値の最大値は、第１の実施形態又は第２の実施形態で説明した方法により推定したエネルギー領域の上限閾値より大きい値となる。なお、図１２に示す点線のエネルギースペクトルで観察されるエネルギー値の最小値は、第１の実施形態又は第２の実施形態で説明した方法により推定したエネルギー領域の下限閾値と略一致する。

ここで、第３の実施形態では、図１２に示す点線のエネルギースペクトルにおいて、画像化エネルギー領域の上限閾値より大きいエネルギー領域（図中の点線の楕円を参照）に着目する。このエネルギー領域の計数情報には、パイルアップにより計数されたパルスの情報が含まれている。すなわち、このエネルギー領域の計数情報を用いて、パイルアップによりエネルギー値及び計数値に誤差が生じている画像化エネルギー領域の計数情報を、統計的に補正（パイルアップ補正）することができる。

そこで、第３の実施形態に係る制御部３８は、被検体Ｐの撮影で収集された計数情報の中で、画像化エネルギー領域の上限閾値から所定エネルギー値までの所定領域を設定する。この所定領域は、補正用エネルギー領域となる。例えば、第１の実施形態で説明した方法で推定された画像化エネルギー領域が、図１３の（Ａ）に示すように、「２０ｋｅＶ〜８０ｋｅＶ」であったとする。かかる場合、制御部３８は、例えば、上限閾値「８０ｋｅＶ」の２倍の値「１６０ｋｅＶ」を上記の所定エネルギー値として設定する。これにより、制御部３８は、図１３の（Ａ）に示すように、補正用エネルギー領域を「８０ｋｅＶ〜１６０ｋｅＶ」に設定する。

そして、制御部３８の制御により、収集部１４は、画像化エネルギー領域（２０ｋｅＶ〜８０ｋｅＶ）の計数情報と、補正用エネルギー領域（８０ｋｅＶ〜１６０ｋｅＶ）の計数情報とを、例えば、前処理部３４を介して制御部３８に送信する。或いは、制御部３８の制御により、収集部１４は、拡大エネルギー領域（２０ｋｅＶ〜〜１６０ｋｅＶ）の計数情報を、例えば、前処理部３４を介して制御部３８に送信する。かかる場合、制御部３８は、拡大エネルギー領域（２０ｋｅＶ〜〜１６０ｋｅＶ）の計数情報を、画像化エネルギー領域の計数情報と、補正用エネルギー領域の計数情報とに分割する。

そして、制御部３８は、補正用エネルギー領域のエネルギー値が対応付けられた計数情報を用いて、画像化エネルギー領域内の計数情報を補正する。すなわち、制御部３８は、図１３の（Ｂ）に示すように、補正用エネルギー領域の計数情報に基づいて、画像化エネルギー領域の計数情報の誤差を統計的推定により補正する。なお、統計的推定によるパイルアップ補正は、制御部３８の制御により、前処理部３４が実行する場合であっても良い。そして、制御部３８は、補正した計数情報を用いて再構成処理を行なう旨の指示を画像再構成部３６に通知する。

これにより、画像再構成部３６は、補正後の画像化エネルギー領域の計数情報から生成された投影データを用いてＸ線ＣＴ画像データを再構成する。

なお、上記の補正処理は、第２の実施形態で説明した方法により推定された画像化エネルギー領域を用いて行なう場合であっても良い。また、上記では、収集部１４が拡大エネルギー領域の計数情報のみを収集する場合について説明したが、本実施形態は、収集部１４が計数可能な全エネルギー領域の計数情報を収集し、制御部３６や前処理部３４が、全エネルギー領域の計数情報から、画像化エネルギー領域の計数情報と、補正用エネルギー領域の計数情報とを取得する場合であっても良い。なお、第１及び第２の実施形態で説明した内容は、パイルアップ補正を行なうために、補正用エネルギー領域や拡大エネルギー領域が設定される以外、第３の実施形態でも適用可能である。

次に、図１４を用いて、第３の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置の処理について説明する。図１４は、第３の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置の処理の一例を説明するためのフローチャートである。

図１４に例示するように、第１の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置の制御部３８は、操作者から撮影開始要求を受け付けたか否かを判定する（ステップＳ２０１）。ここで、撮影開始要求を受け付けない場合（ステップＳ２０１否定）、制御部３８は、撮影開始要求を受け付けるまで待機する。

一方、撮影開始要求を受け付けた場合（ステップＳ２０１肯定）、制御部３８は、画像化エネルギー領域を推定し、補正用エネルギー領域を設定して、収集部１４に通知する（ステップＳ２０２）。そして、制御部３８は、ＣＴスキャンを実行させる（ステップＳ２０３）。

そして、収集部１４は、画像化エネルギー領域及び補正用エネルギー領域の計数情報を収集し（ステップＳ２０４）、制御部３８は、補正用エネルギー領域の計数情報を用いて、画像化エネルギー領域の計数情報を補正する（ステップＳ２０５）。そして、画像再構成部３６は、補正後の画像化エネルギー領域の計数情報を用いて、Ｘ線ＣＴ画像データを再構成する（ステップＳ２０６）。

そして、表示装置３２は、制御部３８の制御により、Ｘ線ＣＴ画像データを表示し（ステップＳ２０７）、処理を終了する。

上述したように、第３の実施形態では、補正用エネルギー領域の計数情報を用いた統計的推定により、パイルアップに起因する計数誤差及び計測誤差が含まれている画像化エネルギー領域の計数情報を、パイルアップが発生していない場合の計数情報に補正することができる。従って、第３の実施形態では、パイルアップが発生する場合でも、フォトンカウンティングＣＴにより得られる画像の画質を向上させることができる。

ここで、本実施形態は、補正用エネルギー領域の計数情報が少数であることから、パイルアップが発生していないと判定される場合には、制御部３８がパイルアップ補正を行なわない場合であっても良い。かかる判定は、例えば、計数値に対して設定されている閾値等を用いて行なうことが可能である。

なお、上記の第１〜第３の実施形態で図示した各装置の各構成要素は機能概念的なものであり、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。すなわち、各装置の分散・統合の具体的形態は図示のものに限られず、その全部または一部を、各種の負荷や使用状況などに応じて、任意の単位で機能的または物理的に分散・統合して構成することができる。さらに、各装置にて行なわれる各処理機能は、その全部または任意の一部が、ＣＰＵおよび当該ＣＰＵにて解析実行されるプログラムにて実現され、或いは、ワイヤードロジックによるハードウェアとして実現され得る。

また、第１〜第３の実施形態で説明した制御方法は、予め用意された制御プログラムをパーソナルコンピュータやワークステーション等のコンピュータで実行することによって実現することができる。この制御プログラムは、インターネット等のネットワークを介して配布することができる。また、この制御プログラムは、ハードディスク、フレキシブルディスク（ＦＤ）、ＣＤ−ＲＯＭ、ＭＯ、ＤＶＤ等のコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録され、コンピュータによって記録媒体から読み出されることによって実行することもできる。

以上、説明したとおり、第１の実施形態〜第３の実施形態によれば、画像診断に有用な画像データを確実に保存することが可能となる。

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。

１３ 検出器
１４ 収集部
３６ 画像再構成部
３８ 制御部

Claims (8)

1. Ｘ線光子が入射するごとに、当該Ｘ線光子のエネルギー値を計測可能な信号を出力する検出器と、
   前記検出器に入射するＸ線光子が有するエネルギー領域を推定する制御部と、
   Ｘ線管から照射され被検体を透過したＸ線光子が入射するごとに前記検出器が出力した個々の信号から収集される計数情報であって、前記検出器に入射したＸ線光子の計数値とエネルギー値とが対応付けられた計数情報の中で、前記エネルギー領域内のエネルギー値が対応付けられた計数情報を用いてＸ線ＣＴ画像データを再構成する画像再構成部と、
   を備えたことを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
2. 前記Ｘ線管は、ウェッジを介してＸ線を照射し、
   前記制御部は、前記ウェッジの材質及び形状に基づいて、該ウェッジにより吸収されるエネルギー領域を取得し、取得したエネルギー領域の上限値を下限閾値として、前記エネルギー領域を推定することを特徴とする請求項１に記載のＸ線ＣＴ装置。
3. 前記制御部は、前記被検体の撮影時に前記Ｘ線管に供給される管電圧に基づいて、該Ｘ線管から放出されるＸ線光子の上限エネルギー値を取得し、取得した上限エネルギー値を上限閾値として、前記エネルギー領域を推定することを特徴とする請求項１又は２に記載のＸ線ＣＴ装置。
4. 前記制御部は、前記被検体が配置されていない状態で、前記Ｘ線管から前記検出器に対してＸ線を照射させて、前記検出器を構成する各検出素子におけるエネルギースペクトルを収集し、収集した全エネルギースペクトルのエネルギー値の最小値及び最大値から下限閾値及び上限閾値を設定して、前記エネルギー領域を推定することを特徴とする請求項１に記載のＸ線ＣＴ装置。
5. 前記制御部は、前記被検体の撮影で収集された計数情報の中で、前記エネルギー領域の上限閾値から所定エネルギー値までの所定領域のエネルギー値が対応付けられた計数情報を用いて、前記エネルギー領域内の計数情報を補正し、補正した計数情報を用いて再構成処理を行なう旨の指示を前記画像再構成部に通知することを特徴とする請求項１〜４のいずれか１つに記載のＸ線ＣＴ装置。
6. 前記検出器から出力される個々の信号を弁別して、前記計数情報を収集する収集部、
   を更に備え、
   前記制御部は、前記エネルギー領域内のエネルギー値の計数情報を収集する旨の指示を前記収集部に通知することを特徴とする請求項１に記載のＸ線ＣＴ装置。
7. 前記検出器から出力される個々の信号を弁別して、前記計数情報を収集する収集部、
   を更に備え、
   前記制御部は、前記収集部が収集した計数情報の中で、前記エネルギー領域内のエネルギー値の計数情報を用いて再構成処理を行なう旨の指示を前記画像再構成部に通知することを特徴とする請求項１に記載のＸ線ＣＴ装置。
8. Ｘ線光子が入射するごとに、当該Ｘ線光子のエネルギー値を計測可能な信号を出力する検出器に入射するＸ線光子が有するエネルギー領域を推定する制御手順と、
   Ｘ線管から照射され被検体を透過したＸ線光子が入射するごとに前記検出器が出力した個々の信号から収集される計数情報であって、前記検出器に入射したＸ線光子の計数値にエネルギー値が対応付けられた計数情報の中で、前記エネルギー領域内のエネルギー値が対応付けられた計数情報を用いてＸ線ＣＴ画像データを再構成する画像再構成手順と、
   をコンピュータに実行させることを特徴とする制御プログラム。

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