JP2014120618A - 真空処理装置及び真空処理方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】処理チャンバー内に処理が終了した基板が長時間取り残されることを防止できるとともに、基板の搬送の効率化を図ることのできる真空処理装置及び真空処理方法を提供する。
【解決手段】制御部は、基板収容具から次に処理を行う基板の搬送を開始する際に、複数の処理チャンバーのうち、残処理時間が最も少ない処理チャンバーに基板を搬送するように設定し、かつ、残処理時間が最も少ない処理チャンバーにメンテナンスの実行が必要になった場合は、搬送先の処理チャンバーを、残処理時間が次に少ない処理チャンバーに変更して前記基板を搬送する。
【選択図】図2
【解決手段】制御部は、基板収容具から次に処理を行う基板の搬送を開始する際に、複数の処理チャンバーのうち、残処理時間が最も少ない処理チャンバーに基板を搬送するように設定し、かつ、残処理時間が最も少ない処理チャンバーにメンテナンスの実行が必要になった場合は、搬送先の処理チャンバーを、残処理時間が次に少ない処理チャンバーに変更して前記基板を搬送する。
【選択図】図2
Description
本発明は、真空処理装置及び真空処理方法に関する。
半導体装置の製造工程では、真空雰囲気下で半導体ウエハ等の基板に処理を施す真空処理、例えば、成膜処理やエッチング処理が実施されている。また、このような真空処理では、複数の処理チャンバーを具備したマルチチャンバー型の真空処理装置が使用されている。
マルチチャンバー型の真空処理装置では、例えば、内部に搬送機構が配設され真空雰囲気下で基板を搬送する真空搬送室が中央部に配設され、その周囲に、ゲートバルブ等からなる開閉機構を介して複数の処理チャンバー及びロードロック室が配設された構成等となっている。また、ロードロック室の外の大気雰囲気中には、複数の基板を収容可能とされた基板収容具(例えば、カセット又はフープ等)を複数載置可能とされた基板収容具載置部、及び、基板収容具載置部に載置された基板収容具と、ロードロック室との間で基板を常圧雰囲気下で搬送する搬送機構が配設された構成等となっている(例えば、特許文献1参照。)。
マルチチャンバー型の真空処理装置の真空搬送室内に配置された搬送機構は、複数、例えば2つの基板保持部を具備し、2枚の基板を同時に保持可能に構成されたものが多い。そして、一方の基板保持部に次に処理を行う基板を保持し、他方の基板保持部によって処理が終了した基板を処理チャンバーからアンロードし、一方の基板保持部に保持した基板を処理チャンバー内にロードするよう構成されたものが多い。
上記構成のマルチチャンバー型の真空処理装置では、各処理チャンバーに基板がロードされて処理中となり、基板をロードできる処理チャンバーが無い場合であっても、基板収容具から次に処理を行う基板の搬送を開始し、処理チャンバーの前で待機して処理が終了した処理チャンバーに基板をロードしたり、搬送中に処理が終了した処理チャンバーに基板をロードすることによって、スループットの向上を図ることが行われている。
上述したように、従来のマルチチャンバー型の真空処理装置では、各処理チャンバーに基板がロードされて処理中となり、基板をロードできる処理チャンバーが無い場合であっても、基板収容具から次に処理を行う基板の搬送を開始し、処理が終了した処理チャンバーにこの基板をロードすることが行われていた。
この場合、次に処理を行う基板の搬送を開始した時点では、その基板がロードされる処理チャンバーは決定されていない。例えば、4つの処理チャンバーの何れかで基板の処理を行う場合、次に処理を行う基板の搬送を開始した時点では、制御部は、4つの処理チャンバーのうち、処理が可能なものにロードすると認識する。
このため、例えば、基板の搬送中に複数の処理チャンバーにおける処理が終了すると、処理が終了した順によらず、どちらか一方の処理チャンバーが使用される。このため、他方の処理チャンバー内に処理が終了した基板が長時間取り残された状況となる場合があった。なお、このような事象は、特にあるロットのうち先に開始された先発処理と、後から開始する後発処理とを切り換える場合等に発生する。そして、処理チャンバー内は通常高温となっているので、成膜処理等が終了した基板が高温下に長時間置かれると、例えば、成膜された膜の膜質が変化する等の不具合が発生する可能性があった。
また、従来のマルチチャンバー型の真空処理装置では、真空搬送機構の一方の基板保持部が、次に処理を行う基板によって長時間占有されるため、効率的な基板の搬送が妨げられる場合があるという問題もあった。
本発明は、上記従来の事情に対処してなされたものであり、処理チャンバー内に処理が終了した基板が長時間取り残されることを防止できるとともに、基板の搬送の効率化を図ることのできる真空処理装置及び真空処理方法を提供することを目的とする。
本発明の真空処理装置の一態様は、真空雰囲気下で基板に処理を施す真空処理装置であって、内部に真空搬送機構が配設され、真空雰囲気下で前記基板を搬送する真空搬送室と、前記真空搬送室に開閉機構を介して接続され、内部で前記基板を処理する複数の処理チャンバーと、前記真空搬送室と開閉機構を介して接続されたロードロックチャンバーと、複数の前記基板を収容可能な基板収容具を複数載置可能とされた基板収容具載置部と、前記基板収容具載置部に載置された前記基板収容具と前記ロードロックチャンバーとの間で前記基板を搬送する搬送機構と、装置全体の動作を制御する制御部とを具備し、前記制御部は、前記基板収容具から次に処理を行う前記基板の搬送を開始する際に、複数の前記処理チャンバーのうち、残処理時間が最も少ない前記処理チャンバーに前記基板を搬送するように設定し、かつ、残処理時間が最も少ない前記処理チャンバーにメンテナンスの実行が必要になった場合は、搬送先の前記処理チャンバーを、残処理時間が次に少ない前記処理チャンバーに変更して前記基板を搬送することを特徴とする。
本発明の真空処理方法の一態様は、内部に真空搬送機構が配設され、真空雰囲気下で基板を搬送する真空搬送室と、前記真空搬送室に開閉機構を介して接続され、内部で前記基板を処理する複数の処理チャンバーと、前記真空搬送室と開閉機構を介して接続されたロードロックチャンバーと、複数の前記基板を収容可能な基板収容具を複数載置可能とされた基板収容具載置部と、前記基板収容具載置部に載置された前記基板収容具と前記ロードロックチャンバーとの間で前記基板を搬送する搬送機構と、装置全体の動作を制御する制御部とを具備した真空処理装置を用いた真空処理方法であって、前記制御部は、前記基板収容具から次に処理を行う前記基板の搬送を開始する際に、複数の前記処理チャンバーのうち、残処理時間が最も少ない前記処理チャンバーに前記基板を搬送するように設定し、かつ、残処理時間が最も少ない前記処理チャンバーにメンテナンスの実行が必要になった場合は、搬送先の前記処理チャンバーを、残処理時間が次に少ない前記処理チャンバーに変更して前記基板を搬送することを特徴とする。
本発明によれば、処理チャンバー内に処理が終了した基板が長時間取り残されることを防止できるとともに、基板の搬送の効率化を図ることのできる真空処理装置及び真空処理方法を提供することができる。
以下、本発明の実施形態を、図面を参照して説明する。
図1は、本発明の一実施形態に係るマルチチャンバー型の真空処理装置の概略構成を模式的に示す図である。
真空処理装置100は、真空雰囲気下で半導体ウエハWを搬送するための真空搬送室101を備えており、この真空搬送室101内には、搬送ロボット102が配設されている。搬送ロボット102は、2つのウエハ保持部102aを具備しており、同時に2枚の半導体ウエハWを保持可能とされている。
真空搬送室101は、その平面形状が略六角形とされており、真空搬送室の周囲には、真空雰囲気下で半導体ウエハWに所定の真空処理、例えば、成膜処理又はエッチング処理等を施す複数(本実施形態では4つ)のプロセスモジュール(処理チャンバー)PM1、PM2、PM3、PM4が配設されている。
すなわち、これらの4つのプロセスモジュールPM1、PM2、PM3、PM4は、平面形状が略六角形の真空搬送室101の4つの辺に沿って夫々配設されている。また、4つのプロセスモジュールPM1、PM2、PM3、PM4と真空搬送室101との間には、これらの間を気密に閉塞する開閉機構、例えばゲートバルブ110が夫々配設されている。これらのプロセスモジュールPM1、PM2、PM3、PM4は、その内部で半導体ウエハWに所定の真空処理、例えば、CVD等による成膜処理又はプラズマエッチング処理等を実施できるように構成されている。そして、各プロセスモジュールPM1、PM2、PM3、PM4は、ゲートバルブ110を開くことによって真空搬送室101と連通され、ゲートバルブ110を閉めることによって、真空搬送室101と気密に隔離された状態となる。
平面形状が略六角形の真空搬送室101の残りの2つの辺の部分には、夫々ロードロック室121、122が配設されている。これらのロードロック室121、122と真空搬送室101との間の開口部(図1中上側)、及びロードロック室121、122の大気側の開口部(図1中下側)には、夫々これらの間を気密に閉塞する開閉機構、例えばゲートバルブ110が夫々配設されている。ロードロック室121、122は、真空搬送室101側のゲートバルブ110を開閉することによって真空搬送室101と連通及び隔離され、大気側(図1中下側)のゲートバルブ110を開閉することによって大気雰囲気と連通及び隔離されるようになっている。
ロードロック室121、122の、真空搬送室101とは反対側(図1中下側)には、搬入搬出室130が設けられており、搬入搬出室130内には、大気雰囲気下で半導体ウエハW等を搬送するための搬送ロボット131が配設されている。搬送ロボット131は、2つのウエハ保持部131aを具備しており、同時に2枚の半導体ウエハWを保持可能とされている。
搬入搬出室130の手前側(図1中下側)には、半導体ウエハWを収容する基板収容具としてのフープF(又はカセット)を載置するための基板収容具載置部としてのポート132、133、134が複数、本実施形態では3つ配設されている。また、搬入搬出室130の側方(図1中左側)には、半導体ウエハW等のノッチ等を検出して位置決めを行うための位置決め機構135が配設されている。
上記の3つのポート132、133、134のうちのいずれか、例えば、ポート134には、通常の半導体ウエハWではなく、ダミーウエハDWを収容したフープFが載置されている。ポート132、133、134の搬入搬出室130側には、夫々が図示しないシャッターが設けられており、ポート132、133、134にフープFが載置されると、フープFの蓋が外されるとともに、シャッターが開き、外気の侵入を防止しつつ搬入搬出室130内とフープF内とが連通されるようになっている。
搬入搬出室130内に配設された搬送ロボット131は、3つのポート132、133、134と、位置決め機構135と、ロードロック室121、122との間で半導体ウエハW(及びダミーウエハDW)を搬送する。
また、真空処理装置100には、制御部60が配設されており、この制御部60によってその動作が統括的に制御される。制御部60には、CPUを備え、真空処理装置100の各部を制御するプロセスコントローラ61と、ユーザインターフェース部62と、記憶部63とが設けられている。
ユーザインターフェース部62は、真空処理装置100を管理するためにコマンドの入力操作を行うキーボードや、稼働状況を可視化して表示するディスプレイ等から構成されている。
記憶部63には、真空処理装置100で実行される半導体ウエハWの搬送及び各種処理をプロセスコントローラ61の制御にて実現するための制御プログラム(ソフトウエア)や処理条件データ等が記憶されたレシピが格納されている。そして、必要に応じて、ユーザインターフェース部62からの指示等にて任意のレシピを記憶部63から呼び出してプロセスコントローラ61に実行させることで、プロセスコントローラ61の制御下で、真空処理装置100での所望の処理が行われる。また、制御プログラムや処理条件データ等のレシピは、コンピュータで読取り可能な記憶媒体(例えば、ハードディスク、CD、フレキシブルディスク、半導体メモリ等)などに格納された状態のものを利用したり、或いは、他の装置から、例えば専用回線を介して随時伝送させてオンラインで利用したりすることも可能である。
次に、以上のように構成された真空処理装置100における処理の流れについて説明する。ポート132、133、134にフープFが載置されると、載置されたフープFから、搬送ロボット131によって半導体ウエハW等を取り出し、位置決め機構135に搬入する。そして、位置決め機構135により半導体ウエハW等のノッチの位置等を検出してその位置合わせを行った後、搬送ロボット131によって半導体ウエハW等を取り出し、ロードロック室121又はロードロック室122内に搬入する。
ロードロック室121又はロードロック室122では、搬送ロボット131が退避した後、半導体ウエハW等を搬入するために開いていた大気側(搬入搬出室130側)のゲートバルブ110を閉じ、室内を所定の真空度となるまで真空排気する。そして、室内が所定の真空度となった後、真空搬送室101側のゲートバルブ110を開き、真空搬送室101内の搬送ロボット102によって、半導体ウエハW等を、ロードロック室121又はロードロック室122内から搬出する。
次に、搬送ロボット102によって、プロセスモジュールPM1、PM2、PM3、PM4のうちの所定のプロセスモジュール(例えばプロセスモジュールPM1)のゲートバルブ110を開き、ここに半導体ウエハW等を搬入し、ここで所定の処理、例えば、成膜処理、エッチング処理等を施す。また、複数のプロセスモジュールPM1、PM2、PM3、PM4を用いて1つのロットの半導体ウエハWの処理を行う場合は、残りのプロセスモジュールPM2、PM3、PM4についても半導体ウエハWを搬入する。
そして、プロセスモジュールPM1、PM2、PM3、PM4における処理が終了すると、ゲートバルブ110を開き、搬送ロボット102によって、プロセスモジュールPM1、PM2、PM3、PM4から半導体ウエハW等を搬出し、この後、ロードロック室121又はロードロック室122のゲートバルブ110を開き、ここに搬入する。
次に、ロードロック室121又はロードロック室122のゲートバルブ110を閉じ、内部の圧力を大気圧とし、この後、大気側(搬入搬出室130側)のゲートバルブ110を開き、搬送ロボット131によって半導体ウエハW等を搬出して、ポート132、133、134の何れかに載置されているフープFに収容する。
ここで例えば、2つのプロセスモジュールPM1、PM2のみを使用する先発のロットの処理CJ1を実施している際に、4つのプロセスモジュールPM1、PM2、PM3、PM4を使用する後発のロットの処理CJ2を実施する場合がある。このような場合、先発の処理CJ1が完全に終了した後に後発の処理CJ2を開始すると、処理の効率が低下する。このため、処理CJ1の処理中に、処理CJ2を開始する。
この場合、処理CJ2では、最初のうちは処理CJ1で使用していないプロセスモジュールPM3、PM4を用いて処理を行うが、処理CJ1が終了すると、プロセスモジュールPM1、PM2も使用するようになる。この際、処理CJ1における処理時間と、処理CJ2における処理時間が通常相違しており、処理CJ2を実施するにあたり、どのような順で半導体ウエハWをどのプロセスモジュールPM1、PM2、PM3、PM4にロードするかが問題となる。
例えば、半導体ウエハWを真空搬送室101内の搬送ロボット102によって受け取った際に、内部での半導体ウエハWの処理が終了し、次の半導体ウエハWの処理可能となっているプロセスモジュールが複数(例えば、PM2とPM3)あった場合、一方のプロセスモジュール(例えば、PM2)に次の半導体ウエハWをロードするが、この場合、他方のプロセスモジュール(PM3)内には、処理済みの半導体ウエハWが残された状態となる。そして、次に処理を行う半導体ウエハWをプロセスモジュールにロードする際に、次の半導体ウエハWの処理可能となっているプロセスモジュールが複数(例えば、PM1とPM3)あった場合、一方のプロセスモジュール(例えば、PM1)に次の半導体ウエハWをロードすると、プロセスモジュール(PM3)内には、処理済みの半導体ウエハWが長時間取り残されるような場合が生じる可能性がある。
本実施形態では、制御部60が次のようにして半導体ウエハWの搬送を実施することによって、処理済みの半導体ウエハWがプロセスモジュール内で長時間取り残されるような事態が発生することを防止する。以下、図2を参照して制御部60による半導体ウエハWの搬送工程について説明する。
図2に示すように、制御部60は、半導体ウエハWの搬送を行う際に、処理に使用する4つのプロセスモジュールPM1、PM2、PM3、PM4の残処理時間をモニタする(図2のステップ301)。
そして、搬送ロボット131によって次に処理を行う半導体ウエハWの搬送が可能となると(図2のステップ302)、処理に使用する4つのプロセスモジュールPM1、PM2、PM3、PM4の内、残処理時間が最も少ないプロセスモジュールを搬送先に設定する(図2のステップ303)。
次に、搬送先に設定されたプロセスモジュールの残処理時間と、半導体ウエハWをフープFからプロセスモジュールまで搬送するのに要する時間つまり搬送時間とを比較し、残処理時間と搬送時間との差が、予め設定された設定値以下であるか否か、すなわち、
残処理時間―搬送時間≦設定値
であるか否かを判断する(図2のステップ304)。
残処理時間―搬送時間≦設定値
であるか否かを判断する(図2のステップ304)。
なお、上記設定値は、例えば、数秒から数十秒程度、例えば、5秒から30秒程度の間等に設定される。残処理時間―搬送時間は、直ちに次に処理を行う半導体ウエハWの搬送を開始した場合に、搬送ロボット102が次に処理を行う半導体ウエハWを保持した状態で、搬送先PMの前で待機する待機時間に相当する。このため、例えば、設定値=0とすれば、実質的に待機時間をゼロとすることができる。このように、設定値を設けることによって、搬送ロボット102が待機状態の半導体ウエハWに長時間占有され、搬送の自由度が低下して効率的な半導体ウエハWの搬送が妨げられることを抑制することができる。
そして、残処理時間と搬送時間との差が、予め設定された設定値以下となると、搬送ロボット131によって、次に処理を行う半導体ウエハWの搬送先PMに対する搬送を開始する(図2のステップ305)。
搬送先PMに対する半導体ウエハWの搬送を開始すると、搬送先PMにトラブル等が発生してメンテナンスが実行されているか否かを判定する(図2のステップ306)。
上記判定の結果、搬送先PMでメンテナンスが実行されていない場合は、搬送先PMへの半導体ウエハWの搬送を継続し、搬送先PMへの半導体ウエハWの搬送が終了すると(図2のステップ307)、次にそのロットの全ての半導体ウエハWの搬送が終了したか否かを判定し(図2のステップ308)、全ての半導体ウエハWの搬送が終了した場合は処理を終了する。一方、全ての半導体ウエハWの搬送が終了していない場合は、ステップ301からの処理を繰り返す。
また、ステップ306において、搬送先PMでメンテナンスが実行されている場合は、残処理時間が次に少ないPMに搬送先PMを変更してこの変更した搬送先PMに対する半導体ウエハWの搬送を継続する。これによって、搬送先PMに対して搬送を開始した後にトラブル等が発生し、搬送先PMでメンテナンスが実行されている場合も、円滑に処理を継続することができる。
以上のように、本実施形態では、制御部60は、半導体ウエハWの搬送を行う際に、処理に使用する4つのプロセスモジュールPM1、PM2、PM3、PM4の残処理時間をモニタし、処理に使用する4つのプロセスモジュールPM1、PM2、PM3、PM4の内、残処理時間が最も少ないプロセスモジュールを搬送先に設定する。これによって、効率的にプロセスモジュールを利用することができ、また処理が終了したプロセスモジュール内に、処理が終了した半導体ウエハWが長時間取り残された状態となること等を防止することができる。
ここで、例えば、先発処理CJ1が、3枚の半導体ウエハ123、124、125を、2つのプロセスモジュールPM1、PM2を用いて処理する場合で、後発処理CJ2が、5枚の半導体ウエハ201、202、203、204、205を4つのプロセスモジュールPM1、PM2、PM3、PM4を用いて処理する場合についての半導体ウエハWの搬送工程を説明する。
図3に示すように、先発処理CJ1の半導体ウエハ123は、プロセスモジュールPM1に搬入され、半導体ウエハ124は、搬送ロボット102に保持されてプロセスモジュールPM2に搬入される前であり、半導体ウエハ125は、位置決め機構135に配置された状態となっている。また、後発処理CJ2の半導体ウエハ201は、ロードロック室122に搬入された状態となっており、残りの半導体ウエハ202、203、204、205は、フープF内に収容された状態となっている。
すなわち、
CJ1:半導体ウエハ123をプロセスモジュールPM1に搬送
した状態となっており、この後、
CJ1:半導体ウエハ124をプロセスモジュールPM2に搬送
CJ2:半導体ウエハ201をプロセスモジュールPM3に搬送
CJ1:半導体ウエハ125をプロセスモジュールPM1に搬送
と搬送が実行される。そして、これ以降CJ2の半導体ウエハ202、203、204、205は以下のように搬送される。
CJ1:半導体ウエハ123をプロセスモジュールPM1に搬送
した状態となっており、この後、
CJ1:半導体ウエハ124をプロセスモジュールPM2に搬送
CJ2:半導体ウエハ201をプロセスモジュールPM3に搬送
CJ1:半導体ウエハ125をプロセスモジュールPM1に搬送
と搬送が実行される。そして、これ以降CJ2の半導体ウエハ202、203、204、205は以下のように搬送される。
まず、各プロセスモジュールにおける残処理時間は、
PM1:半導体ウエハ123の処理時間+半導体ウエハ125の処理時間
PM2:半導体ウエハ124の処理時間
PM3:半導体ウエハ201の処理時間
PM4:空いている
PM1:半導体ウエハ123の処理時間+半導体ウエハ125の処理時間
PM2:半導体ウエハ124の処理時間
PM3:半導体ウエハ201の処理時間
PM4:空いている
ここで、上記の各残処理時間が以下のとおりであると仮定する。
PM1:30+60=90秒
PM2:60秒
PM3:120秒
PM4:0秒
PM1:30+60=90秒
PM2:60秒
PM3:120秒
PM4:0秒
この場合、半導体ウエハWは以下のように搬送される
半導体ウエハ202→プロセスモジュールPM4
半導体ウエハ203→プロセスモジュールPM2
半導体ウエハ204→プロセスモジュールPM1
半導体ウエハ205→プロセスモジュールPM3
半導体ウエハ202→プロセスモジュールPM4
半導体ウエハ203→プロセスモジュールPM2
半導体ウエハ204→プロセスモジュールPM1
半導体ウエハ205→プロセスモジュールPM3
以上、添付図面を参照しながら本発明の好適な実施の形態について説明したが、本発明はかかる例に限定されない。当業者であれば、特許請求の範囲に記載された思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
100……真空処理装置、101……真空搬送室、102……搬送ロボット、110……ゲートバルブ、121,122……ロードロック室、130……搬入搬出室、131……搬送ロボット、132,133,134……ポート、135……位置決め機構、PM1〜PM4……プロセスモジュール、W……半導体ウエハ、DW……ダミーウエハ、F……フープ。
Claims (4)
- 真空雰囲気下で基板に処理を施す真空処理装置であって、
内部に真空搬送機構が配設され、真空雰囲気下で前記基板を搬送する真空搬送室と、
前記真空搬送室に開閉機構を介して接続され、内部で前記基板を処理する複数の処理チャンバーと、
前記真空搬送室と開閉機構を介して接続されたロードロックチャンバーと、
複数の前記基板を収容可能な基板収容具を複数載置可能とされた基板収容具載置部と、
前記基板収容具載置部に載置された前記基板収容具と前記ロードロックチャンバーとの間で前記基板を搬送する搬送機構と、
装置全体の動作を制御する制御部と
を具備し、
前記制御部は、
前記基板収容具から次に処理を行う前記基板の搬送を開始する際に、複数の前記処理チャンバーのうち、残処理時間が最も少ない前記処理チャンバーに前記基板を搬送するように設定し、かつ、残処理時間が最も少ない前記処理チャンバーにメンテナンスの実行が必要になった場合は、搬送先の前記処理チャンバーを、残処理時間が次に少ない前記処理チャンバーに変更して前記基板を搬送する
ことを特徴とする真空処理装置。 - 請求項1記載の真空処理装置であって、
前記処理チャンバー内で前記基板に成膜処理またはエッチング処理を行うことを特徴とする真空処理装置。 - 請求項1又は2記載の真空処理装置であって、
前記制御部は、基板を前記処理チャンバーの入口の前まで搬送する搬送時間より、残処理時間が最も少ない前記処理チャンバーの当該残処理時間が長い場合、残処理時間と搬送時間との差が設定時間以下になった際に、次に処理を行う基板の搬送を開始する
ことを特徴とする真空処理装置。 - 内部に真空搬送機構が配設され、真空雰囲気下で基板を搬送する真空搬送室と、
前記真空搬送室に開閉機構を介して接続され、内部で前記基板を処理する複数の処理チャンバーと、
前記真空搬送室と開閉機構を介して接続されたロードロックチャンバーと、
複数の前記基板を収容可能な基板収容具を複数載置可能とされた基板収容具載置部と、
前記基板収容具載置部に載置された前記基板収容具と前記ロードロックチャンバーとの間で前記基板を搬送する搬送機構と、
装置全体の動作を制御する制御部と
を具備した真空処理装置を用いた真空処理方法であって、
前記制御部は、
前記基板収容具から次に処理を行う前記基板の搬送を開始する際に、複数の前記処理チャンバーのうち、残処理時間が最も少ない前記処理チャンバーに前記基板を搬送するように設定し、かつ、残処理時間が最も少ない前記処理チャンバーにメンテナンスの実行が必要になった場合は、搬送先の前記処理チャンバーを、残処理時間が次に少ない前記処理チャンバーに変更して前記基板を搬送する
ことを特徴とする真空処理方法。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10503152B2 (en) | 2018-03-26 | 2019-12-10 | Kokusai Electric Corporation | Method of manufacturing semiconductor device |
KR20200130531A (ko) * | 2019-05-08 | 2020-11-19 | 세메스 주식회사 | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 |
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2012
- 2012-12-17 JP JP2012274808A patent/JP2014120618A/ja active Pending
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KR102207311B1 (ko) | 2019-05-08 | 2021-01-27 | 세메스 주식회사 | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 |
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