JP2014120489A - 基板液処理装置及び基板液処理方法 - Google Patents

基板液処理装置及び基板液処理方法 Download PDF

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Abstract

【課題】基板に対する液処理の乾燥工程の処理時間を延ばさずに基板表面のノッチ部近傍の不良状態を起こさずに乾燥工程に要する時間を短縮させること。
【解決手段】ウエハを回転自在に保持するチャック13とウエハ半径方向の周縁部の裏面側下方との間に配置されてウエハ半径方向に延在するスリット状の開口部15aを有し、開口部とウエハ裏面と対向する隙間は、ウエハの外方端側から中心部側に向かうに従って広くなるように構成されて、ウエハの裏面に向けて気体を直線状に吹き付ける裏面パージノズル15と、ウエハの外方側の裏面パージノズルの端部と周縁部の端面よりもウエハの内側になる裏面との間の領域に、気体をウエハの裏面に吹き付ける周縁パージノズル16と、を備え、制御部Hによって回転駆動モータMを制御してウエハを遠心力の弱い低速回転させながら裏面パージノズルと周縁パージノズルから気体をウエハ裏面に吹き付ける。
【選択図】 図3

Description

本発明は、基板液処理装置及び基板液処理方法に関するもので、更に詳細には、半導体ウエハ、フォトマスク用のガラス基板、液晶表示装置用のガラス基板、光ディスク用、貼り合せ用の基板など(以下、単に基板と称する)に塗布膜の成膜、パターンの現像処理や表裏面のブラシまたは薬液洗浄処理などのプロセス上の液処理を行うなどした際の液処理装置において、裏面洗浄工程で使用された洗浄液を乾燥させる技術に関するものである。
従来方法においては、フォトリソグラフィー工程において塗布液を供給し基板上に成膜処理を行う塗布処理ユニット、現像液にて現像処理ユニットや露光機に搬入する前に基板の表裏面を予め洗浄しておくための洗浄処理ユニットなどの液処理ユニットにおいて液処理工程の中で行われる裏面洗浄が行われる。この裏面洗浄においては、ユニットに固定して設けられた洗浄ノズルを用い、基板をチャック上に真空吸着にて保持して基板を回転させながら前記洗浄ノズルから洗浄液、もしくは純水吐出を行うことで行われる。
例えば、従来例である図10に構成の洗浄ユニットについて説明すると、ウエハWが水平方向に収納されるカップ100とカップ中央に位置しモータMにより回転自在なチャック102とを備えて、ウエハWの裏面に向けて洗浄液が洗浄ノズル104a,104bから吐出される。ウエハWの表面には洗浄液が供給できる供給ノズル105を備えている。処理液がウエハWに供給されてウエハWの処理が行われながら、または処理が行われた後に裏面に洗浄液が供給されてウエハWの裏面の洗浄処理が行われる。同様の構成を用いたウエハ裏面の洗浄について特許文献1に記載されている。
このような裏面洗浄を行った場合には、回転させながら洗浄液を吐出することによって基板の裏面に洗浄液が広く付着しているので、洗浄液を乾燥させないとパーティクルの付着の原因となる場合や搬送アームを汚染してしまう。そのため、基板を乾燥させて搬出させなければならない。この乾燥させる際には例えば、洗浄された基板を高速に例えば1500rpmで回転させて、その基板に付いている洗浄液を遠心力により飛散(後述には振り切り乾燥と称す)させることにより、基板を乾燥させることが知られている。
特開平10−172944号公報(図7)
図1、図2を用いて説明する。近年、微細化が進み1枚の基板からより多くのデバイスを得るためにウエハWの周縁部の例えば1mm内側までパターンが形成される場合が多い。図1は例えば塗布膜Tが形成されてウエハの周縁部Sが1mmの幅で周縁部膜除去がなされている。またウエハには必須で設けられているノッチ部Nが設けられている。このノッチ部NをX部として拡大して図2を説明するとノッチ部NはウエハWの内方に1mm〜1.25mmの長さ、ウエハWの端面(ベベル部Bの上端面)に沿って1mmの大きさの切り欠きである。
図2は、ウエハWの裏面を洗浄処理後に振り切り乾燥を行った場合のノッチ部Nの状態を示している。このウエハWの端面から1mmは予め液処理がなされて膜が除去されているが、良好な状態はノッチ部Nの左側であり、課題となる不良状態を示すのは右側の点線Aよりも上側の斜線領域Cであり、すなわちウエハWの内方のデバイスパターンに影響を与えてしまう恐れのあるデバイス領域内である。
この斜線領域Cは、ウエハWの裏面洗浄した際の洗浄液が乾燥させるための振り切り乾燥時にウエハWのノッチN部の部位から表面側に回り込んでしまった形跡を示すものである。この現象はウエハWの裏面に付着した洗浄液の一部がノッチ部Nの切り欠きによって遠心力で振り切られるときに洗浄液の挙動が変わり、ノッチNのV字頂部の部位でウエハWの厚みに洗浄液が捉えられてしまう。このときに表面張力の作用で洗浄液が集まり膨れ上がったものがウエハWの表面上に千切れて回り込んでしまう。そして、ウエハWの表面に回り込んで玉になった洗浄液はすぐさま遠心力で飛ばされてしまうので、図2に示す斜線領域Cのようなノッチ部Nで回転方向Rの下流側だけの特異的な不良となってしまう。
このように洗浄液の乾燥工程における特異的な不良を抑制するためには振り切り乾燥する回転数を制御する乾燥工程レシピが設定される。例えば、乾燥工程レシピの設定を時間単位別に回転数を変えて最初は400rpmの低速回転で裏面に付着した多めの洗浄液を振り切りし、次いで1000rpmの中速回転から1500rpmの高速回転と複数段階に分けて徐々に乾燥を進めることでノッチ部Nに洗浄液が集まり膨れるのを抑制させる乾燥処理方法が考えられる。しかしながら、このように乾燥工程レシピを複数段階に分けることは処理時間を延ばすことになり生産性にも影響を与えてしまうことになる。
本発明はこのような事情の下になされたものであり、その目的は、基板に対する液処理の乾燥工程の処理時間を延ばさずに基板表面のノッチ部近傍の不良状態を起こさずに乾燥工程に要する時間を短縮させる基板液処理装置及び基板液処理方法を提供することにある。
前記課題を解決するために本発明の基板液処理装置は、基板の表面に処理液を供給して処理する液処理または基板をブラシで洗浄するブラシ洗浄処理を行い、これらの基板の裏面に洗浄液を供給して洗浄処理を行う基板液処理装置であって、基板中心部の裏面を水平に保持して回転自在に構成された基板保持部と、前記基板保持部と基板半径方向の周縁部の裏面側下方との間に配置されて基板半径方向に延在するスリット状の開口部を有し、前記開口部と基板の裏面と対向する隙間は、前記開口部が基板の外方に向く端側から中心部寄りに向く端側に向かうに従って広くなるように構成された裏面パージノズルと、基板の外方に向く側の前記裏面パージノズルの端部と前記周縁部の端面よりも基板の内側になる裏面との間の領域に、気体を基板の中心方向に向けて基板の裏面に吹き付ける基板周縁パージノズルと、前記基板保持部の回転駆動機構、前記裏面パージノズル及び基板周縁パージノズルへの気体の供給部に設けられる開閉バルブを制御する制御部と、を備え、前記基板保持部に保持された基板への洗浄液の供給が停止されて洗浄液が付着した状態の基板を遠心力の弱い低速回転させながら、前記裏面パージノズルから前記基板の裏面に向けて気体を直線状に吹き付けると共に、前記基板周縁パージノズルから前記基板の中心方向に向けて気体を基板の裏面に吹き付けることを特徴とする(請求項1)。ここで、「スリット状の開口部」とは、直線状に同じ状態で気体を吹き付けることができる開口部を全て含む意味であり、その形状は細長孔状あるいは丸孔を線上に等ピッチで並設したものを含む。
本発明において、スリット状の開口部から基板の裏面に吹き付けられる気体によって基板裏面に付着する洗浄液を寄せて液滴化させるためには、前記スリット状の開口部の長さは基板半径の少なくとも1/4以上であるのが好ましい(請求項2)。
また本発明において、前記基板の回転数が3rpm〜30rpmであるのが好ましい(請求項3)。基板の回転数が3rpm低いと、乾燥に時間を要し、また30rpmより高いと、遠心力が作用して洗浄液が液滴化して落下するのが遅れて乾燥に時間を要するからである。
このように構成することによって、基板に対する種々の液処理やブラシを使った洗浄処理と併用される基板の裏面の汚れを洗い流す洗浄処理後の乾燥に対して基板を高い回転数で回転させて洗浄液の振り切る方法を使わずに、例えば遠心力の弱い3〜30rpm以下の低い回転数で基板を回転させながら基板の裏面に向けて配置された裏面パージノズルと基板周縁パージノズルから気体であるパージガスを吹き付けることで、裏面パージノズルの板の中央に向かう端側に付着した洗浄液を寄せて液滴化して落下させることができる。これにより基板裏面に付着した洗浄液は順次液滴化されて行くのでパージガスによる乾燥と相俟って短時間で且つ基板のノッチ部での表面側への回り込みによる不良も起こさずに乾燥させることができる。
また本発明において、前記裏面パージノズルは、前記基板の外方に向く端部が基板の半径の直線上に位置し且つ、前記中心寄りに向く端部が基板の半径の直線上またはその直線上よりも基板の回転方向の後方になる位置に設けられているのが好ましい(請求項4)。また前記裏面パージノズルは、基板の回転方向に逆らう方向に30度傾けて気体を吹き付けるように構成されているのが好ましい(請求項5)。
このように構成することによって、基板周縁パージノズルのパージガスが裏面に吹き付けられるので、裏面の洗浄液が基板の中心側に向けて押しやられる。基板は回転しているので押しやられた洗浄液は、裏面パージノズル側に向かうため、裏面パージノズルのパージガスで捕捉されて回転方向と逆らう向きに押されながら裏面に付着した洗浄液の厚みが増して行き液滴となり落下する。この際に基板の回転による遠心力で中心側に押しやられた洗浄液が外方に拡散しないように裏面パージノズルの取付け位置を基板の半径方向の直線上よりも裏面パージノズルの基板の中心寄りに向く端部を例えば30度の角度をつけて回転方向の下流側にずらすことで、洗浄液の拡散が抑制されてより液滴化し易くなる。
また本発明において、前記裏面パージノズルの前記中心部寄りに向く端側の隙間は、前記開口部が基板の外方に向く端側の隙間の2倍程度になる隙間で設けられているのが好ましい(請求項6)。
このように構成することによって、裏面パージノズルの開口部と裏面との隙間に差を設けると隙間の大きい側のパージガスが裏面に当たる圧力は弱くなり、隙間の小さい側の当たる圧力は強くなるためにパージガスの当たり面に圧力差が生じるので、裏面の洗浄液は弱い方に誘導され易くなる。これにより液滴化がスムーズに行われる。
また本発明において、前記基板周縁パージノズルは、スリット状の開口部を有して前記基板周縁部の接線方向に向けて設けているのが好ましい(請求項7)。また前記基板周縁パージノズルの気体の吹き付け位置は、基板の周縁部の端面から内側2mm〜10mm以内に設定されているのが好ましい(請求項8)。
このように構成することによって、パージガスの吹き出す開口部を横幅にしてパージガスを吹き出させることができるスリットノズルとすることで確実に洗浄液を基板の内方に押しやることができる。
また本発明において、前記裏面パージノズルは、基板裏面の半径方向の直線上に垂直に気体を吹き付けるように構成されるものであってもよい(請求項9)。
このように構成することによって、基板周縁パージノズルから吹き出されるパージガスによって基板の中心側に押しやられた洗浄液は、裏面パージノズルから基板裏面の半径方向の直線上に垂直に吹き付けられるパージガスで捕捉されて回転方向と逆らう向きに押されながら厚みが増して行き液滴となり落下する。
また本発明において、前記基板保持部は基板保持部を囲う筒状体を備え、前記筒状体は前記基板保持部が基板を保持した状態で基板の裏面との間に接触しない程度の隙間ができるように構成されているのが好ましい(請求項10)。この場合、前記筒状体は、基板と対向する側の先端を頂点として外方に傾斜面を設けて前記傾斜面の周囲に基板の裏面に気体を吹き付けるための気体吐出孔とを備えているのが好ましい(請求項11)。
このように構成することによって、基板を回転自在な基板保持部を囲う筒状体を設けるので、基板周縁パージノズルのパージガスの勢いで洗浄液が中心寄りに押しやられたとしても基板保持部に洗浄液が付着して汚すことが無い。また、その筒状体の先端近傍からパージガスが基板の裏面に向けて吹き付けられるので筒状体自体の汚染も防止することができる。
前記課題を解決するために本発明の基板液処理方法は、基板の表面に処理液を供給して処理する液処理または基板をブラシで洗浄するブラシ洗浄処理を行い、これらの基板の裏面に洗浄液を供給して洗浄処理を行う基板液処理方法であって、基板保持部に保持された基板への洗浄液の供給が停止されて洗浄液が付着した状態の基板を遠心力の弱い低速回転数で回転させる工程と、前記基板保持部と基板半径方向の周縁部の裏面側下方との間に配置されて基板半径方向に延在するスリット状の開口部を有し、前記開口部と基板の裏面と対向する隙間は、前記開口部が基板の外方に向く端側から中心部寄りに向く端側に向かうに従って広くなるように構成された裏面パージノズルから前記基板の裏面に向けて気体を直線状に吹き付けて裏面パージする工程と、基板の外方に向く側の前記裏面パージノズルの端部と前記周縁部の端面よりも基板の内側になる裏面との間の領域に気体を基板の中心方向に向けて吹き付ける基板周縁パージノズルで基板周縁パージする工程と、を有し、前記裏面パージする工程と基板周縁パージする工程は、前記洗浄液の供給が停止された後に開始されることを特徴とする(請求項12)。
本発明において、スリット状の開口部から基板の裏面に吹き付けられる気体によって基板裏面に付着する洗浄液を寄せて液滴化させるためには、前記スリット状の開口部の長さは基板半径の少なくとも1/4以上であるのが好ましい(請求項13)。
また本発明において、前記基板の回転数が3rpm〜30rpmであるのが好ましい(請求項14)。基板の回転数が3rpm低いと、乾燥に時間を要し、また30rpmより高いと、遠心力が作用して洗浄液が液滴化して落下するのが遅れて乾燥に時間を要するからである。
また本発明において、前記基板保持部を囲うと共に、前記基板保持部が基板を保持した状態で基板の裏面との間に接触しない程度の隙間を有する筒状態を備え、前記筒状体により前記基板保持部への洗浄液の侵入を阻止するのが好ましい(請求項15)。
また本発明において、前記筒状体は、基板と対向する側の先端を頂点として外方に傾斜面を設けて前記傾斜面の周囲に基板の裏面に気体を吹き付けるための気体吐出孔とを備え、前記気体吐出孔からの気体は少なくとも前記裏面パージする工程と基板周縁パージする工程との間に同時に吹き出されているのが好ましい(請求項16)。
以上における本発明によれば、遠心力の弱い低速回転数で回転させている状態で基板の裏面の周縁部にパージガスを基板中心方向に向けて吹き付けているので、ノッチ部に洗浄液が到達する量を抑制することができ、基板の表面側への洗浄液の回り込みを阻止することができる。また洗浄液は、周縁パージノズルと裏面パージノズルとの協働により裏面パージノズル側の一方に寄せ集められることで液滴化し落下する。また、同時にパージガスによる裏面側表面の乾燥が促進されるので、乾燥時間を短縮することができる。従って、乾燥を短時間で完了させながら基板は表面側への洗浄液の回り込みを防げるので処理時間の短縮と回り込みによる不良を同時に解決できる。
本発明で処理される基板の平面図である。 本発明に係わる基板のノッチ部の不良状態を示す平面図である。 本発明に係わる基板液処理装置を適用した洗浄ユニットの概略縦断面図(a)及び(a)のI部拡大断面図(b)である。 本発明における裏面パージノズルと基板周縁パージノズルの配置状態を示す平面図である。 図4のII矢視図である。 図4のIII矢視図である。 図4のIV矢視図である。 本発明における裏面パージノズルと基板周縁パージノズルの別の実施形態を示す平面図(a)及び(a)のV矢視図である。 本発明における裏面パージノズルと基板周縁パージノズルのさらに別の実施形態を示す平面図(a)及び(a)のVI矢視図である。 従来の洗浄ユニットを示す縦断面図である。
本発明に係る基板液処理装置は、ウエハの洗浄を行うための洗浄液やレジスト膜を成膜するレジスト液または反射防止膜形成液や露光後のパターンを現像させる現像液などの処理液を塗布して、その処理液による液処理工程の中で行われるウエハ裏面に処理液の残りやパーティクルが無いように洗浄処理を行う場合に適用されるため、例えば本発明が洗浄処理ユニットに適用された実施の形態について図3の洗浄ユニット1の縦断面図で説明をする。
洗浄ユニット1は、ウエハWの保持部であるチャック13を中央として配置するように上部が開口した環状で有底な処理容器であるカップ11を設けており、チャック13でウエハWの中心部を吸着保持して水平方向に回転自在に構成されている。ウエハWは、チャック13の回転駆動機構であるモータMによって回転されながらウエハW中央上方から洗浄液を表面洗浄ノズル10から吐出されて洗浄処理が行われる。表面洗浄ノズル10は、洗浄液開閉バルブV1を介設した表面洗浄液供給管21を介して洗浄液供給源Eと接続されており、洗浄液供給源Eから洗浄液である例えば純水やアルカリ系水溶液や酸系水溶液などの洗浄液が表面洗浄ノズル10から吐出されるように構成されている。回転駆動モータMの回転は制御部Hで制御される。
洗浄液開閉バルブV1の開閉は、洗浄処理工程の所定のタイミングで洗浄液を吐出するように制御部Hで制御される。カップ11はウエハWに供給されてウエハWの回転によって飛散した洗浄液を受け止めて底部に溜めて図示しない廃液管から排出される。この底部にはカップ11を固定するためのカップベース12が設けられており、このカップベース12もチャック13が中央の配置となっている。
チャック13は、チャック13の直径よりも数mm大きい内径を有する筒状体17に囲われており、ウエハWを吸着保持した場合に筒状体17の上部とウエハWとの隙間を例えば1mmに設定されている。チャック13の直径は、例えば12インチウエハを処理する場合であれば50mmであったり、18インチウエハであれば例えば70mmであったりする。筒状体17は、上部を頂部として例えば45度の傾斜面を有しており、その傾斜面と直交するようにウエハWの裏面に向けて気体であるパージガスを吐出するガス吐出孔17aが筒状体17の周囲に設けられている。
この筒状体17は、ガス開閉バルブV5を介設した筒状体用ガス供給管27とパージガス分岐管24を介してパージガス供給源Gと接続されており、パージガス供給源GからパージガスであるドライエアやN2などの気体が筒状体17に供給され、ガス吐出孔17aから吐出されるように構成されている。筒状体ガス開閉バルブV5の開閉は洗浄処理工程の所定のタイミングでパージガスを吐出するように制御部Hで制御される。
筒状体17の外方からウエハWの周縁端までの間には、ウエハWを回転させながらウエハWの裏面に向けて洗浄液である例えば純水を吐出して裏面を洗浄する2本の裏面洗浄ノズル19a,19bが設けられている。この裏面洗浄ノズル19a,19bは、純水開閉バルブV2を介設した純水供給管22と純水分岐管23を介して純水供給源Fと接続されており、純水供給源Fから洗浄液である純水を裏面線上ノズル19a,19bから吐出するように構成されている。純水開閉バルブV2は洗浄処理工程の所定のタイミングで洗浄液(純水)を吐出するように制御部Hで制御される。
カップベース12には、洗浄ユニット1にウエハWを受け渡す搬送アーム(図示せず)との間でウエハWの授受を受け持つ受渡し支持ピン14がウエハWの中心に120度で分配した位置に3本設けられている。この受渡し支持ピン14は共通のベースブラケット(図示せず)に設けられてカップ11の開口以上の高さとチャック13より低い位置までの間を昇降できる構造を有している。
ここで、ウエハWの洗浄ユニット1への搬入出を説明する。搬入する際には、受渡し支持ピン14はカップ11の開口以上の高さに上昇した位置で待機しており、搬送アームが保持したウエハWを受渡し支持ピン14上に載置する。次いで、受渡し支持ピン14を下降させるが、この下降の途中でチャック13にウエハWは受け渡されて載置されてチャック13でウエハWは吸着保持される。搬出する際には、チャック13に吸着が解除されて受渡し支持ピン14を上昇させる途中でウエハWが受渡し支持ピン14に受け渡された状態で上昇した後、カップ1の開口部で搬送アームにウエハWが受け取られる。これらの動作は制御部Hにおいてタイミングを制御されている。
次に本発明における裏面パージノズル15と基板周縁パージノズル16(以下に周縁パージノズル16と称する)について図3ないし図7を用いて詳細を説明する。先ずは図3で配置構造の概略を説明し、図4ないし図7にて平面図と縦断面図でその詳細を説明する。図3に示すように、周縁パージノズル16はチャック13に保持されたウエハWの周縁端部近傍に取付けブラケット16bにてカップベース12に設置される。この周縁パージノズル16の吹き出したパージガスのウエハWに当たる位置は、ウエハWに設けられるノッチ部Nを避けた位置とされている。パージガスのウエハWに当たる位置は後述で説明する。
裏面パージノズル15は、筒状体17の外方近傍に取付けブラケット15bにてカップベース12に設置される。この裏面パージノズル15は、ウエハWの半径方向に長さを有するスリット状の開口部15aを備えるものであり、そのスリット状の開口部15a(図5、図6を参照)の長さは、例えばウエハW半径の1/3〜1/2の長さと0.5〜1mmの幅を有しておりパージガスを20〜60L/minで吹き出すことができる。このスリット状の開口部15aは、例えばφ0.5mmの丸穴を1mmピッチで並べても同じ効果が得られるし、スリット状の開口部15aも内部が細長孔状に形成されていても良いので、ここで、「スリット状の開口部」とは、直線状に同じ状態でパージガスを吹き出すことができる開口部を全て含む意味である。
ここでは、スリット状の開口部15aの長さはウエハW半径の1/3〜1/2について説明したが、スリット状の開口部15aからウエハWの裏面に吹き付けられる気体によってウエハ裏面に付着する洗浄液を寄せて液滴化させるには、スリット状の開口部15aの長さはウエハWの半径方向の少なくとも1/4以上の長さであれば良い。
具体的に説明すると、450mmウエハWでは、半径225mmでチャック半径が約50mmとすると、残り175mmの1/4の44mm程度は、裏面パージノズル15に傾斜を持たせて洗浄液を寄せて液滴化させるには必要である。また、300mmウエハWでは、半径150mmでチャック半径が約30mmとすると、残り120mmの1/4の30mm程度は、裏面パージノズル15に傾斜を持たせて洗浄液を寄せて液滴化させるには必要である。
これら裏面パージノズル15と周縁パージノズル16とに供給されるパージガスはパージガスであるドライエアやN2などの気体をパージガス供給源Gより供給される。裏面パージノズル15は、裏面パージガス開閉バルブV3を介設した裏面パージガス供給管25とパージガス分岐管24を介してパージガス供給源Gと接続されており、パージガス供給源GからパージガスであるドライエアやN2などの気体を裏面パージノズル15から直線状に吐出するように構成されている。また周縁パージノズル16は、周縁パージガス開閉バルブV4を介設した周縁パージガス供給官26とパージガス分岐管24を介してパージガス供給源Gと接続されており、パージガス供給源GからパージガスであるドライエアやN2などの気体を周縁パージガスノズル16から吐出するように構成されている。この裏面パージガス開閉バルブV3と周縁パージガス開閉バルブV4の開閉のタイミングは制御部Hにて制御される。
次に図4の平面図にて裏面パージノズル15と周縁パージノズル16の位置関係にて説明する。裏面パージノズル15と周縁パージノズル16とは、例えばウエハWに対して90度離れた位置に配置されている。この裏面パージノズル15のスリット状の開口部15aの配置位置を半径直線に対してウエハWの外方に向く外方端部Zとし、ウエハWの中心寄りに向く内方端部Yとして説明する。このスリット状の開口部15aをウエハWの回転方向と逆らう向きにして半径直線上に外方端部Zと内方端部Yを合わせてから外方端部Zを支点として内方端部Yを0〜45度範囲の角度θでウエハWの回転方向と後方になるように取り付ける。例えば図4では30度の角度θで設置されている。この角度θの調整によりウエハW裏面の洗浄液がパージされるガス圧力でウエハWの中央寄りに押し留める作用が働くようにされている。
裏面パージノズル15の内方端部Yと筒状体17とは、例えば5〜10mm程度の離れる位置で接近して配置されているのが好ましい。近接しすぎても一定の効果はあるが、裏面パージノズル15のガスの勢いで筒状体17と内方端部Yの間に洗浄液が溜まり過ぎてしまいチャック13側に洗浄液が侵入してしまうことも考えられる。そのため筒状体17からパージガスをウエハW裏面に吹き付けることを行うと、前述した裏面パージノズル15のパージガスにより中央寄りに押し留められた洗浄液のチャック13側への侵入が確実に抑えられる。また、筒状体17からのパージガスにより内方端部Y側に洗浄液を寄せることができる。
周縁パージノズル16の形状はスポット面にパージガスを吹き付ける形状でも良いが、好ましく一例として裏面パージノズル16と同様の構造で同等の吹き付け流量で設定されるスリット状の開口部16aを有する構成であって良い。この周縁パージノズル16のスリット状の開口部16aは、ウエハWの周縁でスリット状の開口部16aがウエハWの中央を向くようにウエハWの周縁に対して接線方向に設けられる。この位置でスリット状の開口部16aからウエハW裏面に30度の吹き出し角度でパージガスが吹き出すように設置される。これによりウエハWの遠心力で周縁に流れてくる洗浄液をウエハWの中央側に押し戻すようにしている。
この周縁パージノズルによるパージガスの吹き付け位置はノッチNの切り欠きLnと干渉しないL1:3mm以上でL2:10mmの間に設定される。好ましくはウエハWの端部から5mmの位置に設定される。これによりノッチ部Nの切り欠きLnに溜まる洗浄液の量を最小限にすることができるので、ウエハWの表面に回り込むことを防止できる。
次に図4のII矢視図(図5)、III矢視図(図6)、IV矢視図(図7)を参照して説明する。図5に示されるチャック13の位置は裏面パージノズル15の手前に位置するが、便宜上構成を解り易くするためにチャック13を二点鎖線で示すことにする。また、筒状体17は便宜上省略している。裏面ノズル15のウエハW裏面に対する吹き出し角度は例えば30度でパージガスが裏面に当たるように取り付けられており、さらにスリット状の開口部15aの直上のウエハW裏面と隙間が内方端部Yに向かうに連れて広くなるように傾斜されて取り付けられている。言い換えれば、裏面パージノズル15の取付け高さ位置が外方端部Zより内方端部Yが低い位置に設置されている。
これにより、例えば回転数を3〜30rpm以下で設定した場合にウエハWの裏面との隙間の調整を外方端部Zの位置の隙間を3〜4.5mmで内方端部Yの位置の隙間を6〜9mmで設定される。例えば、好ましい一例を示すとウエハWを10rpmで設定した場合に外方端部Zの位置の隙間を4mmで内方端部Yの位置の隙間を8mmに設定される。
なお、ウエハWの回転数を3rpmより低くすると、乾燥に時間を要し、また、ウエハWの回転数を30rpmより高くすると、遠心力が作用して洗浄液が液滴化して落下するのが遅れて乾燥に時間を要する。
前述したように裏面パージノズル15のスリット状の開口部15aは、ウエハWの半径直線上の外方端部Zを支点として内方端部Yを0〜45度範囲の角度θでウエハWの回転方向の後方になるように取り付けて、さらに高さ方向の傾斜を付けて配置されることになる。これにより周縁パージノズルでウエハWの中央側に吹き寄せられた洗浄液はスリット状の開口部15aの隙間の高さの違いによりウエハW裏面に当たるパージガスの圧力に微妙な差が生じるので、ガスの圧力で洗浄液がウエハWの回転方向と逆らう方向に押し戻されながら内方端部Yの方向に流れ込んで液滴化されて内方端部Yの付近で順次落下するようになる。
このように構成されているので、本実施形態は裏面洗浄工程で付着した洗浄液を回転遠心力でウエハWの周縁に流れる洗浄液を周縁パージノズル16からのパージガスの圧力によってウエハWの中央側に押し戻して、押し戻された洗浄液が裏面パージノズル16に捕捉されてウエハW裏面に付着した洗浄液は液滴化して落下させられることになる。さら効果を上げるために筒状体17からもパージガスがウエハW裏面に向けて吹き出されているので、より裏面パージノズル15の内方端部Yの側に吹き寄せられるので確実に液滴として落下させることができる。このように液滴として落下させながらパージガスにより裏面の乾燥が促進される。従って、従来のウエハWの振り切り乾燥する方法では例えば1500回転で60秒ほどかかっていた乾燥時間が本実施形態の手段で行えばパージガスの流量を調整しておいて10rpmでウエハWを回転させながら処理し30秒程度で完了させることもできるようになり時間の短縮がなされ生産性が向上する。
次に、この本実施形態と同じ効果を有する図8、図9に示される裏面パージノズル15の配置について説明する。先ず図8に配置の裏面パージノズル15については半径直線上に裏面洗浄ノズル15の外方端部Zと内方端部Yとを一線上に重ねた位置に配置され、この配置をV矢視図(図8)で示す。なお周縁パージノズル16については前述しているものと同様であるので省略する。このようにスリット状の開口部15aの外方端部Zと内方端部Yとを半径直線上に合わせた配置にした(前述している角度0となる位置)としてもウエハW裏面と裏面パージノズル15の隙間の傾斜の調整と回転数の調整と裏面パージノズル15からのパージガス流量の調整により同じ効果が得られる。
なお、図8では裏面パージノズル15のスリット状の開口部15aをウエハWの裏面に対して角度(30度)を持たせているが、裏面パージノズル15のスリット状の開口部15aをウエハWの裏面に対して垂直にしてスリット状の開口部15aからウエハWの裏面の半径方向の直線状に垂直にパージガスを吹き付けても同様の効果が得られる。
次に図9には周縁パージノズル16のパージガスの吹き出し方向とウエハWの回転方向の下流側になる配置した裏面パージノズル15のパージガスが直交するようにした例である。このようにすることでウエハWを30rpmに設定しても周縁パージノズル16でウエハWの中央方向に寄せられた洗浄液が直ぐさま裏面パージノズル15に捕捉されて内方端部Y側で液滴化されて洗浄液を落下させることができる。なお、図4の構成において裏面パージノズル15と周縁パージノズルとの関係を図9に示すように配置しても何ら問題になることはなく同様の効果が得られる。
次に、本発明を使った処理の流れの一例を説明する。搬送アームから洗浄ユニット1にウエハWが受け渡されてチャック13に吸着保持される。次いでウエハWを回転させながらウエハW表面に処理液を供給して洗浄処理が行われ、この処理の途中でウエハW裏面に洗浄液が供給されて裏面の洗浄が所定時間行われる。次いで、ウエハWの裏面に付着している洗浄液を乾燥させる工程となる。この際に回転駆動モータMを制御してウエハWの回転数を例えば10rpmに変更すると同時に、周縁パージノズル16につながる周縁パージガス開閉バルブV4を開いて30L/minでパージガスを吹き出してウエハWの周縁部にある洗浄液をウエハWの中央に吹き寄せる。周縁パージノズル16からのパージガスの吹き付けと同時または所定の時間遅れさせて裏面パージノズル15につながる裏面パージガス開閉バルブV3を開いて50L/minでパージガスを吹き出させる。また、このときに筒状体17につながる筒状体パージガス開閉バルブV5を開いて50L/minでパージガスをウエハWに吹き付けておいても良い。この状態を例えば30秒行えば、最初の15秒でウエハWの裏面に付着した洗浄液は略液滴化してカップ11に落とされており、残りの15秒で裏面の表面をパージガスで乾燥させることができる。
上記実施形態では、この発明に係る基板液処理装置として基板の表面を処理液で洗浄処理を行う洗浄処理ユニットに適用した場合について説明したが、この発明に係る基板液処理装置は、レジスト膜などの成膜する塗布処理ユニット、露光後の現像処理を行う現像処理ユニット、やFPD基板の表面に液処理が行われる液処理ユニットや更にウエハの貼り合せ装置に設けられる接着剤塗布ユニットにも適用できることは勿論のことである。
W ウエハ(基板)
1 洗浄ユニット
10 表面洗浄ノズル
11 処理カップ
13 チャック(基板保持部)
15 裏面パージノズル
15a スリット状の開口部
16 周縁パージノズル(基板周縁パージノズル)
16a スリット状の開口部
17 筒状体
17a ガス吐出孔(気体吐出孔)
Y 内方端部
Z 外方端部
M 回転駆動モータ(回転駆動機構)
H 制御部
V1 洗浄液開閉バルブ
V2 純水開閉バルブ
V3 裏面パージガス開閉バルブ
V4 周縁パージガス開閉バルブ
V5 筒状体パージガス開閉バルブ

Claims (16)

  1. 基板の表面に処理液を供給して処理する液処理または基板をブラシで洗浄するブラシ洗浄処理を行い、これらの基板の裏面に洗浄液を供給して洗浄処理を行う基板液処理装置であって、
    基板中心部の裏面を水平に保持して回転自在に構成された基板保持部と、
    前記基板保持部と基板半径方向の周縁部の裏面側下方との間に配置されて基板半径方向に延在するスリット状の開口部を有し、前記開口部と基板の裏面と対向する隙間は、前記開口部が基板の外方に向く端側から中心部寄りに向く端側に向かうに従って広くなるように構成された裏面パージノズルと、
    基板の外方に向く側の前記裏面パージノズルの端部と前記周縁部の端面よりも基板の内側になる裏面との間の領域に、気体を基板の中心方向に向けて基板の裏面に吹き付ける基板周縁パージノズルと、
    前記基板保持部の回転駆動機構、前記裏面パージノズル及び基板周縁パージノズルへの気体の供給部に設けられる開閉バルブを制御する制御部と、を備え、
    前記基板保持部に保持された基板への洗浄液の供給が停止されて洗浄液が付着した状態の基板を遠心力の弱い低速回転させながら、前記裏面パージノズルから前記基板の裏面に向けて気体を直線状に吹き付けると共に、前記基板周縁パージノズルから前記基板の中心方向に向けて気体を基板の裏面に吹き付けることを特徴とする基板液処理装置。
  2. 前記スリット状の開口部が基板半径の少なくとも1/4以上の長さを有することを特徴とする請求項1に記載の基板液処理装置。
  3. 前記基板の回転数が3rpm〜30rpmであることを特徴とする請求項1または2に記載の基板液処理装置。
  4. 前記裏面パージノズルは、前記基板の外方に向く端部が基板の半径の直線上に位置し且つ、前記中心寄りに向く端部が基板の半径の直線上またはその直線上よりも基板の回転方向の後方になる位置に設けられていることを特徴とする請求項1ないし3のいずれかに記載の基板液処理装置。
  5. 前記裏面パージノズルは、基板の回転方向に逆らう方向に30度傾けて気体を吹き付けるように構成されていることを特徴とする請求項1ないし4のいずれかに記載の基板液処理装置。
  6. 前記裏面パージノズルの前記中心部寄りに向く端側の隙間は、前記開口部が基板の外方に向く端側の隙間の2倍程度になる隙間で設けられていることを特徴とする請求項1ないし5のいずれかに記載の基板液処理装置。
  7. 前記基板周縁パージノズルは、スリット状の開口部を有すると共に、この開口部が前記基板周縁部の接線方向に向けて設けられていることを特徴とする請求項1に記載の基板液処理装置。
  8. 前記基板周縁パージノズルの気体の吹き付け位置は、基板の周縁部の端面から内側2mm〜10mm以内に設定されていることを特徴とする請求項1または7に記載の基板液処理装置。
  9. 前記裏面パージノズルは、基板裏面の半径方向の直線上に垂直に気体を吹き付けるように構成されていることを特徴とする請求項1に記載の基板液処理装置。
  10. 前記基板保持部は基板保持部を囲う筒状体を備え、前記筒状体は前記基板保持部が基板を保持した状態で基板の裏面との間に接触しない程度の隙間ができるように構成されていることを特徴とする請求項1ないし9のいずれかに記載の基板液処理装置。
  11. 前記筒状体は、基板と対向する側の先端を頂点として外方に傾斜面を設けて前記傾斜面の周囲に基板の裏面に気体を吹き付けるための気体吐出孔を備えていることを特徴とする請求項10に記載の基板液処理装置。
  12. 基板の表面に処理液を供給して処理する液処理または基板をブラシで洗浄するブラシ洗浄処理を行い、これらの基板の裏面に洗浄液を供給して洗浄処理を行う基板液処理方法であって、
    基板保持部に保持された基板への洗浄液の供給が停止されて洗浄液が付着した状態の基板を遠心力の弱い低速回転数で回転させる工程と、
    前記基板保持部と基板半径方向の周縁部の裏面側下方との間に配置されて基板半径方向に延在するスリット状の開口部を有し、前記開口部と基板の裏面と対向する隙間は、前記開口部が基板の外方に向く端側から中心部寄りに向く端側に向かうに従って広くなるように構成された裏面パージノズルから前記基板の裏面に向けて気体を直線状に吹き付けて裏面パージする工程と、
    基板の外方に向く側の前記裏面パージノズルの端部と前記周縁部の端面よりも基板の内側になる裏面との間の領域に気体を基板の中心方向に向けて吹き付ける基板周縁パージノズルで基板周縁パージする工程と、を有し、
    前記裏面パージする工程と基板周縁パージする工程は、前記洗浄液の供給が停止された後に開始されることを特徴とする基板液処理方法。
  13. 前記スリット状の開口部が基板半径の少なくとも1/4以上の長さを有することを特徴とする請求項12に記載の基板液処理方法。
  14. 前記基板の回転数が3rpm〜30rpmであることを特徴とする請求項12または13に記載の基板液処理方法。
  15. 前記基板保持部を囲うと共に、前記基板保持部が基板を保持した状態で基板の裏面との間に接触しない程度の隙間を有する筒状態を備え、前記筒状体により前記基板保持部への洗浄液の侵入を阻止することを特徴とする請求項12に記載の基板液処理方法。
  16. 前記筒状体は、基板と対向する側の先端を頂点として外方に傾斜面を設けて前記傾斜面の周囲に基板の裏面に気体を吹き付けるための気体吐出孔とを備え、前記気体吐出孔からの気体は少なくとも前記裏面パージする工程と基板周縁パージする工程との間に同時に吹き出されていることを特徴とする請求項15に記載の基板液処理方法。
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