JP2014115371A - 光走査装置 - Google Patents

Abstract

【課題】光学素子を精度よく支持することができる光走査装置を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明の光走査装置１は、下フレーム１１０において、支持壁１１５と、ｆθレンズ６に当接する第１壁（第１保持壁１４０）と、第１壁から延びる第２壁（第１左外壁１１１Ａ）と、第１壁の第２壁とは異なる位置から延びる第３壁（補強壁１５０）とを有し、一端がｆθレンズ６に当接し、他端がスキャナフレーム１００に支持され、ｆθレンズ６を第１壁に向けて付勢する板バネ１３０を備える。そして、第２壁は、第１壁に交差する方向に延び、第３壁は、ｆθレンズ６と第１壁が対向する方向において、ｆθレンズ６とは反対側に向かって延び、第１壁は、少なくとも第２壁の接続位置と第３壁の接続位置との間でｆθレンズ６と当接する。
【選択図】図２

Description

本発明は、光走査装置に関する。

一般に、画像形成装置に使用される光走査装置では、保持壁と、ｆθレンズなどの光学素子を保持壁に向けて付勢する付勢部材（板バネ）を備えた光走査装置が知られている（特許文献１参照）。この光走査装置は、光学素子を保持壁と付勢部材とで挟むことにより支持している。

特開２００５−２１５４９４号公報

しかしながら、付勢部材が光学素子を保持壁に向けて付勢するので、保持壁が付勢部材の付勢力に押されて変形する場合がある。この場合、光学素子を精度よく支持することができない可能性があった。

そこで、本発明は、光学素子を精度よく支持することができる光走査装置を提供することを目的とする。

前記した目的を達成するため、本発明の光走査装置は、光源と、光源からの光ビームを主走査方向に偏向する偏向器と、偏向器により偏向された光ビームを被走査面上に結像する走査光学系と、スキャナフレームとを備える。
この光走査装置において、スキャナフレームは、筐体を構成する下フレームを有する。下フレームは、偏向器を支持する支持壁と、支持壁から延出し、走査光学系の長尺状の光学素子に当接する第１壁と、支持壁から延出し、第１壁から延びる第２壁と、支持壁から延出し、第１壁の第２壁とは異なる位置から延びる第３壁とを有する。
そして、この光走査装置は、一端が光学素子に当接し、他端がスキャナフレームに支持され、光学素子を第１壁に向けて付勢する付勢部材を備え、第２壁は、第１壁に交差する方向に延び、第３壁は、光学素子と第１壁が対向する方向において、光学素子とは反対側に向かって延び、第１壁は、少なくとも第２壁の接続位置と第３壁の接続位置との間で光学素子と当接する。

このような構成によれば、第１壁と光学素子との当接位置を、第１壁の異なる２ヶ所から延びる第２壁、第３壁の各接続位置の間にすることで、第１壁が付勢部材から受ける付勢力を、第２壁と第３壁により支持することができる。このため、第１壁の剛性が高くなって変形を抑制することができ、光学素子を精度よく支持することができる。

前記した光走査装置において、下フレームが第１壁と第２壁のうち少なくとも一方と、第３壁とを接続する第４壁を有する構成とすることができる。

前記した下フレームが第４壁を有する構成において、第４壁は、第１壁に対して間隔をあけて配置された構成とすることができる。

これらの構成によれば、下フレームが第４壁を有することで、さらに第１壁の剛性を高くすることができる。

前記した下フレームが第４壁を有する構成において、第２壁および前記第４壁は、下フレームの外壁である構成とすることができる。

このような構成によれば、簡素な構造で第１壁の剛性を高くすることができる。また、光走査装置を小型化することができる。

前記した光走査装置は、偏向器により偏向された光ビームを受光して検出信号を発生する受光センサを備え、第３壁が受光センサに光ビームを導くための第２の光学素子を支持する構成とすることができる。

このような構成によれば、第３壁により第２の光学素子を支持することができるので、スキャナフレームの構造を簡素化することができる。

前記した光走査装置は、光源からの光を光ビームに変換するカップリングレンズを備え、スキャナフレームが光源とカップリングレンズとを区画しつつ、光を通過させるように構成された区画壁を有する構成とすることができる。

このような構成によれば、区画壁により光源とカップリングレンズとが区画されているので、光源のカバーレンズを汚れにくくすることができる。

前記した構成において、下フレームの外壁は、光源からカップリングレンズに向かう方向の延長線上の位置に開口を有する構成とすることができる。

このような構成によれば、下フレームの外壁が光源からカップリングレンズに向かう方向の延長線上の位置に開口を有するので、スキャナフレームの外側から光源の検査をしやすくすることができる。

前記した構成において、下フレームは、前記カップリングレンズを接着する接着剤を配置するための溝を有する構成とすることができる。

このような構成によれば、下フレームが接着剤を配置するための溝を有するので、接着剤を保持しやすくすることができる。

前記した構成において、光源は、回路基板と接続される端子を有し、スキャナフレームは、筐体を構成する上フレームを有し、上フレームは、端子を覆う被覆部を有する構成とすることができる。

このような構成によれば、光源の端子が上フレームの被覆部により覆われているので、光源の端子を保護することができる。

前記した構成において、第１壁は、光学素子の長手方向に並んで一対設けられ、光学素子の長手方向における一端部および他端部に当接し、下フレームは、画像形成装置本体に固定するための第１固定部および第２固定部を有し、第１固定部は、長手方向において一端部側に配置され、第２固定部は、長手方向において他端部側に配置され、第１固定部から一端部側の第１壁までの距離は、第２固定部から他端部側の第１壁までの距離と略等しい構成とすることができる。

このような構成によれば、第１固定部から一端部側の第１壁までの距離と、第２固定部から他端部側の第１壁までの距離が略等しいので、温度変化があっても光学系の歪みを抑制することができる。

本発明によれば、第１壁と光学素子との当接位置を、第１壁の異なる２ヶ所から延びる第２壁、第３壁の各接続位置の間にすることで、付勢部材に第１壁が付勢されても第１壁の変形を抑制することができる。そのため、光学素子を精度よく支持することができる。

本発明の実施形態に係る光走査装置の平面図である。 光走査装置の斜視図である。 図２のＡ−Ａ断面図である。 上フレームを装着してない下フレームの斜視図（ａ）と、上フレーム装着後のスキャナフレームの斜視図（ｂ）である。 図２のポリゴンミラーを取り外した後のＢ−Ｂ断面図である。 第１変形例に係るカップリングレンズ周辺におけるカップリングレンズ装着前を示す拡大斜視図（ａ）と、カップリングレンズ装着後を示す拡大斜視図（ｂ）である。 第２変形例に係る光走査装置を斜め上から見た斜視図である。 第３変形例に係る光走査装置の平面図である。 第４変形例に係る左側の第１壁周辺の拡大図（ａ）と、第５変形例に係る図９（ａ）に相当する図（ｂ）と、第６変形例に係る図９（ａ）に相当する図（ｃ）である。

次に、本発明の一実施形態について、適宜図面を参照しながら詳細に説明する。なお、以下の説明では、まず、本発明の実施形態に係る光走査装置の全体構成について簡単に説明した後、詳細な構成について説明する。

ここで、以下の説明においては、方向は、図１における右側を「右」、左側を「左」とし、上側を「後」、下側を「前」とする。また、手前側を「上」、奥側を「下」とする。

図１に示すように、一実施形態に係る光走査装置１は、樹脂製のスキャナフレーム１００に、光源の一例としての半導体レーザ２、開口絞り３、カップリングレンズ４、偏向器の一例としてのポリゴンミラー５、光学素子（走査光学系）の一例としてのｆθレンズ６、第２の光学素子の一例としてのビーム検出（ＢＤ：Ｂｅａｍ Ｄｅｔｅｃｔ）レンズ７、受光センサの一例としてのＢＤセンサ８、回路基板９が設けられている。スキャナフレーム１００の構成については後述する。

半導体レーザ２は、やや発散性のレーザ光（光ビーム）を発する装置である。半導体レーザ２の発光素子は、図示しない制御装置により、被走査面に露光すべき画像に対応して明滅される。また、半導体レーザ２は、回路基板９に接続される端子２Ａを有している。
端子２Ａは、先端部が回路基板９から右側に突出している。

開口絞り３は、半導体レーザ２からのレーザ光の副走査方向の大きさを規定する開口を有する部材であり、後述する区画壁１８０に形成された貫通孔によりスキャナフレーム１００と一体に設けられている。

カップリングレンズ４は、半導体レーザ２とポリゴンミラー５の間に設けられ、半導体レーザ２から出射され、開口絞り３を通過した光ビームを、主走査方向（図１の紙面内で光ビームの進行方向に対して左右に振れる方向であり、ポリゴンミラー５により偏向される方向）には僅かに収束する光ビームとし、副走査方向（主走査方向に直交する方向で、図１の紙面奥行き方向）にはポリゴンミラー５のミラー面５Ａの近傍で結像させるレンズである。カップリングレンズ４は、直接、接着剤でスキャナフレーム１００に接着されている。

ポリゴンミラー５は、複数のミラー面５Ａが、回転軸５Ｂから等距離に配置された部材であり、図１では、４つミラー面５Ａを有するものを例示している。ポリゴンミラー５は、回転軸５Ｂを中心に一定速度で回転され、カップリングレンズ４を通過した光ビームを主走査方向に偏向する。

ｆθレンズ６は、長尺状に形成され、ポリゴンミラー５で反射されることで偏向された光ビームを被走査面上に点状に結像させ、かつ、ポリゴンミラー５のミラー面５Ａの面倒れを補正している。また、ｆθレンズ６は、ポリゴンミラー５により等角速度で偏向された光ビームを、被走査面上に等速で走査するようなｆθ特性を有している。

ＢＤレンズ７は、ポリゴンミラー５により偏向された光ビームをＢＤセンサ８に導くためのレンズであり、ｆθレンズ６の右端部の前方に配置されている。
ＢＤセンサ８は、ＢＤレンズ７を通過した光ビームを受光して検出信号を発生するセンサであり、回路基板９上に設けられている。
回路基板９は、半導体レーザ２に電力を供給するための図示しない回路が設けられた基板であり、スキャナフレーム１００の右側にネジ止めされている。

光走査装置１では、半導体レーザ２から出射された画像データに基づく光ビームが、カップリングレンズ４、ポリゴンミラー５、ｆθレンズ６の順に通過して被走査面で高速走査される。

＜スキャナフレームの構成＞
次に、スキャナフレーム１００の構成について説明する。
スキャナフレーム１００は、光走査装置１の筐体を構成しており、下フレーム１１０と、上フレーム１２０とを有している（図４（ｂ）参照）。

下フレーム１１０は、図１、図２に示すように、上部が開放された箱状に形成されており、左側の外壁を構成する左外壁１１１と、前側の外壁を構成する前外壁１１２と、右側の外壁を構成する右外壁１１３と、後側の外壁を構成する後外壁１１４と、これらの壁が延出し、箱の底部を構成する支持壁１１５とを有している。

左外壁１１１は、支持壁１１５の左後端部から前側に延びる第２壁の一例としての第１左外壁１１１Ａと、第１左外壁１１１Ａの前端から右側へ延びる第４壁の一例としての第２左外壁１１１Ｂと、第２左外壁１１１Ｂの右端から前側へ延びる第３左外壁１１１Ｃとから構成されている。第１左外壁１１１Ａおよび第２左外壁１１１Ｂについては後述する。

第３左外壁１１１Ｃは、左外壁１１１の前側の３分の２程度を占める範囲に設けられ、半導体レーザ２からカップリングレンズ４に向かう方向の延長線上の位置に、開口１１１Ｄを有している。

前外壁１１２は、第３左外壁１１１Ｃの前端から右側に延びる第１前外壁１１２Ａと、第１前外壁１１２Ａの右端から後側に延びる第２前外壁１１２Ｂと、第２前外壁１１２Ｂの後端から右側に延びる第３前外壁１１２Ｃとから構成されている。

右外壁１１３は、第３前外壁１１２Ｃの右端から後側に少し延びる第１右外壁１１３Ａと、第１右外壁１１３Ａの後端から左側に少し延びる第２右外壁１１３Ｂと、第２右外壁１１３Ｂの左端から後側に延びる第３右外壁１１３Ｃと、第３右外壁１１３Ｃの後端から左側に延びる第４右外壁１１３Ｄと、第４右外壁１１３Ｄの左端から後側に延びる第５右外壁１１３Ｅと、第５右外壁１１３Ｅの後端から右側に延びる第６右外壁１１３Ｆと、後述する右側の第１保持壁１４０Ｂの左端から後側に延びる第７右外壁１１３Ｇ（第２壁）とから構成されている。第７右外壁１１３Ｇについては後述する。

第３右外壁１１３Ｃは、半導体レーザ２を保持するための光源保持部１１３Ｈが設けられている。
また、第６右外壁１１３Ｆの左端部は、ＢＤレンズ７を挟めるように一部壁が低く形成されている。

後外壁１１４は、第７右外壁１１３Ｇの後端から第１左外壁１１１Ａまで延びており、左右方向全体に渡り、壁の高さが左外壁１１１、前外壁１１２および右外壁１１３よりも低く形成されている。これにより、ｆθレンズ６を通過した光ビームが後外壁１１４の上を通過できるようになっている。

支持壁１１５は、第１支持面１１５Ａと、第２支持面１１５Ｂと、第１支持面１１５Ａと第２支持面１１５Ｂを接続する２つの傾斜面１１５Ｃとを有している。

第１支持面１１５Ａは、カップリングレンズ４やｆθレンズ６などを支持する面であり、上から見て左方および前方の２方向に延びる略Ｌ字形状に形成されており、第１左外壁１１１Ａ、第２左外壁１１１Ｂ、第３前外壁１１２Ｃ、右外壁１１３および後外壁１１４が延出している。

第１支持面１１５Ａには、後部における左右両端側に位置する付勢部材の一例としての一対の板バネ１３０と、ｆθレンズ６に対して左右の板バネ１３０と反対側に位置する第１壁の一例としての一対の第１保持壁１４０と、左側の第１保持壁１４０Ａの右側に形成される第３壁の一例としての補強壁１５０と、右側の第１保持壁１４０Ｂの左側に形成される第３壁の一例としての第２保持壁１６０と、遮蔽壁１７０および区画壁１８０などが設けられている。第１保持壁１４０、補強壁１５０および第２保持壁１６０については後述する。

板バネ１３０は、ｆθレンズ６を第１保持壁１４０に向けて付勢する部材であり、図３に示すように、上端部（一端）がｆθレンズ６に当接し、下端部（他端）が後外壁１１４と一体になって後外壁１１４に支持されている。なお、板バネ１３０は、下フレーム１１０と別部材であってもよい。

図１、図２に戻り、遮蔽壁１７０は、ＢＤセンサ８に向かう光ビームよりも前側に偏向された光ビームを遮蔽する壁であり、第４右外壁１１３Ｄの左端から左方向に延びた後、後左斜め方向に少し延びて形成されている。そして、遮蔽壁１７０の先端面１７１は、先端面１７１付近を通過する光ビームの経路よりも前側に後退している。これにより、遮蔽壁１７０が光ビームをｆθレンズ６側に反射しないようになっている。

区画壁１８０は、半導体レーザ２とカップリングレンズ４とを区画する壁であり、第３前外壁１１２Ｃから遮蔽壁１７０まで前方向に延びて形成されている。区画壁１８０には、半導体レーザ２からの光を通過させるための貫通孔により開口絞り３が形成されている（図３も参照）。

第２支持面１１５Ｂは、ポリゴンミラー５を支持する面であり、第１支持面１１５Ａに対して下方にずれた位置に設けられている。また、第２支持面１１５Ｂは、四角形状に形成されており、その２辺が第３左外壁１１１Ｃおよび第１前外壁１１２Ａに接しており、残りの２辺が２つの傾斜面１１５Ｃと接続されている。第２支持面１１５Ｂには、ポリゴンミラー５などが配置された取付板５Ｃが複数のネジ（符号省略）により固定されている。

下フレーム１１０は、第２左外壁１１１Ｂおよび第３左外壁１１１Ｃの外側に設けられた第１固定面１１６と、第４右外壁１１３Ｄ、第５右外壁１１３Ｅおよび第６右外壁１１３Ｆに囲まれている第２固定面１１７と、第２前外壁１１２Ｂおよび第３前外壁１１２Ｃの外側に設けられた第３固定面１１８とをさらに有している。

第１固定面１１６、第２固定面１１７および第３固定面１１８には、図示しないネジを通すための第１固定部の一例としての第１ネジ穴１１６Ａ、第２固定部の一例としての第２ネジ穴１１７Ａおよび第３ネジ穴１１８Ａが形成されており、これらにより下フレーム１１０は、図示しない画像形成装置本体に固定される。

また、第１ネジ穴１１６Ａおよび第２ネジ穴１１７Ａは、第１ネジ穴１１６Ａから左側の第１保持壁１４０Ａまでの距離と第２ネジ穴１１７Ａから右側の第１保持壁１４０Ｂまでの距離とが略等しくなるように配置されている。このように第１ネジ穴１１６Ａおよび第２ネジ穴１１７Ａを配置することで、温度変化があったとしても、ｆθレンズ６の歪みを抑制することが可能となっている。

上フレーム１２０は、図４（ｂ）に示すように、下フレーム１１０の箱を上から覆うように左外壁１１１、前外壁１１２、右外壁１１３および後外壁１１４に沿った形状となっている。上フレーム１２０は、上フレーム１２０の右端（図示左端）から下方に延びる被覆部１２１を有している。
被覆部１２１は、回路基板９から右側（図示左側）に突出した半導体レーザ２の端子２Ａを被覆するように形成されている。

ここで、例えば、上フレーム１２０が半導体レーザ２の端子２Ａを被覆しないような構成の場合、図４（ａ）に示すように、端子２Ａは、回路基板９からむき出しになるので、外部からの静電気などの影響を受けやすくなる。しかし、本実施形態にかかる光走査装置１では、図４（ｂ）に示すように、上フレーム１２０が、被覆部１２１を有するので、半導体レーザ２の端子２Ａを保護することが可能となっている。

＜第１壁、第２壁、第３壁および第４壁の構成＞
次に、ｆθレンズ６の左右方向における両端部付近の壁について説明する。
第１保持壁１４０は、図１、図２に示すように、支持壁１１５から延出し、左右方向（ｆθレンズ６の長手方向）に並んで一対設けられている。一対の第１保持壁１４０は、それぞれの略中央部において、ｆθレンズ６の右側および左側の端部と当接する当接部１４１を有している。

当接部１４１は、第１保持壁１４０から後方向に突出するように設けられている。当接部１４１は、左側においては、第１保持壁１４０Ａと第１左外壁１１１Ａとの接続位置と、第１保持壁１４０Ａと補強壁１５０との接続位置との間に位置している。当接部１４１は、右側においては、第１保持壁１４０Ｂと第７右外壁１１３Ｇとの接続位置と、第１保持壁１４０Ｂと第２保持壁１６０との接続位置との間に位置している。

第１左外壁１１１Ａは、左側の第１保持壁１４０Ａの左端から前方向および後方向（第１保持壁１４０Ａに交差する方向）に延びて形成されている。
第７右外壁１１３Ｇは、右側の第１保持壁１４０Ｂの右端から後斜め右方向（第１保持壁１４０Ｂに交差する方向）に延びた後、後方向に延びて形成されている。

補強壁１５０は、第１支持面１１５Ａから延出し、左側の第１保持壁１４０Ａの右端から前斜め右方向、つまり、ｆθレンズ６と第１保持壁１４０が対向する方向において、ｆθレンズ６とは反対側に向かって延びた後、第２左外壁１１１Ｂまで延びて接続している。

第２保持壁１６０は、第１支持面１１５Ａから延出し、右側の第１保持壁１４０Ｂの左端から前方、つまり、つまり、ｆθレンズ６と第１保持壁１４０が対向する方向において、ｆθレンズ６とは反対側に向かって延びた後、ＢＤレンズ７を支持するための保持部１６１と接続している。

保持部１６１は、前斜め右方向に開口したコ字状に形成されており、ＢＤレンズ７を挟むように支持している。このように第２保持壁１６０によりＢＤレンズ７を支持することができるので、スキャナフレーム１００の構造を簡素化することができる。

第２左外壁１１１Ｂは、第１左外壁１１１Ａと補強壁１５０とを接続しており、左側の第１保持壁１４０と間隔をあけた配置となっている。

以上のように構成された光走査装置１は、板バネ１３０と第１保持壁１４０でｆθレンズ６を支持している。ここで、例えば、補強壁１５０や第２保持壁１６０を有さない構成の場合、第１保持壁１４０を左右方向の片側でのみ支持することになって、板バネ１３０がｆθレンズ６を第１保持壁１４０に向けて付勢するので、第１保持壁１４０が板バネ１３０の付勢力により変形し、ｆθレンズ６を精度よく支持できない可能性がある。

しかし、本実施形態における光走査装置１では、左側の第１保持壁１４０Ａが、第１左外壁１１１Ａの接続位置と補強壁１５０の接続位置との間でｆθレンズ６と当接している。そして、右側の第１保持壁１４０Ｂが、第２保持壁１６０の接続位置と第７右外壁１１３Ｇの接続位置との間でｆθレンズ６と当接している。

このように構成されることで、各第１保持壁１４０が板バネ１３０から受ける付勢力を左右方向の両側に設けられた壁で支持することができる。具体的には、左側の第１保持壁１４０Ａについては、第１左外壁１１１Ａおよび補強壁１５０により両側で支持することができ、右側の第１保持壁１４０Ｂについては、第２保持壁１６０および第７右外壁１１３Ｇにより両側で支持することができる。そのため、第１保持壁１４０の剛性が高くなって変形を抑制することができ、ｆθレンズ６を精度よく支持することができる。

また、第２左外壁１１１Ｂが第１左外壁１１１Ａと補強壁１５０とを接続している。そして、第２左外壁１１１Ｂが第１保持壁１４０に対して間隔をあけて配置されている。このように構成されることで、第１保持壁１４０の剛性をさらに高くすることができる。

また、第１左外壁１１１Ａ、第２左外壁１１１Ｂおよび第７右外壁１１３Ｇが下フレーム１１０の外壁を構成しているので、簡素な構造で第１保持壁１４０の剛性を高くすることができる。また、光走査装置１を小型化することができる。

また、区画壁１８０により半導体レーザ２とカップリングレンズ４とが区画されているので、例えば、第３左外壁１１１Ｃの開口１１１Ｄなどから下フレーム１１０内に侵入してきた塵埃が飛んできても区画壁１８０と第３右外壁１１３Ｃとの間の空間に入るのを防ぐことができる。そのため、半導体レーザ２のカバーレンズを汚れにくくすることができる。

また、半導体レーザ２からカップリングレンズ４に向かう方向の延長線上にある第３左外壁１１１Ｃが開口１１１Ｄを有しているので、ポリゴンミラー５を配置する前には、図５に示すように、光ビームを開口１１１Ｄから通過させることができる。そのため、例えば検査装置１９０などによりスキャナフレーム１００の外側から半導体レーザ２の検査をしやすくすることができる。また、スキャナフレーム１００の内側に検査装置１９０を入れる場合においても、開口１１１Ｄからスキャナフレーム１００の内側に検査装置１９０を容易に入れることができる。

以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は前記実施形態に限定されるものではない。具体的な構成については、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更が可能である。なお、以下の説明では、前記実施形態と略同様の構成については、同じ符号を付して説明を省略する。

＜第１変形例＞
前記実施形態では、カップリングレンズ４が接着剤により固定されていたが、図６（ａ）に示すように、接着剤１２を配置するための溝１１を有する構成とすれば、図６（ｂ）に示すように、下フレーム１１０において接着剤１２を保持させやすくすることができる。

＜第２変形例＞
前記実施形態では、走査光学系の光学素子としてｆθレンズ６を有する構成であったが、図７に示す光走査装置２０のように、光学素子はｆθレンズ６の後方に配置された反射鏡２１であってもよい。

この構成における光走査装置２０は、長尺状に形成された光学素子の一例としての反射鏡２１と、付勢部材の一例としての板バネ２３０と、第１壁の一例としての第３保持壁２４０と、第３壁の一例としての第２補強壁２５０とをさらに有している。

反射鏡２１は、ｆθレンズ６を通過した光ビームを反射してその光路を下方に折り返すものである。
板バネ２３０は、反射鏡２１を第３保持壁２４０に向けて付勢する部材であり、上端部（一端）が反射鏡２１に当接し、下端部（他端）が第１支持面２１５Ａに支持されている。板バネ２３０は、反射鏡２１の左右両端部において一対設けられている。

第３保持壁２４０は、左右方向に並んで一対設けられており、反射鏡２１の左端部および右端部に当接している。一対の第３保持壁２４０は、左右方向外側の端部が第２壁の一例としての第１左外壁２１１Ａと、第７右外壁２１３Ｇにそれぞれ接続されている。

第２補強壁２５０は、一対の第３保持壁２４０の左右方向内側の端部から後外壁２１４まで延びている。
また、後外壁２１４は、左外壁２１１および右外壁２１３と同じ高さに形成されている。

このような光走査装置２０は、ｆθレンズ６を通過した光ビームを反射鏡２１が反射して、被走査面で高速走査するようになっている。
このような構成であっても、前記実施形態と同様に、第３保持壁２４０の剛性が高くなって変形を抑制することができ、反射鏡２１を精度よく支持することができる。

＜第３変形例＞
前記実施形態では、ポリゴンミラー５から反射された光ビームが直接ＢＤレンズ７を通過するような構成であったが、図８に示す光走査装置３０のように、第２の光学素子の一例としてのＢＤ反射鏡３１を有する構成であってもよい。

この構成では、下フレーム３１０は、補強壁１５０に代えて第３壁の一例としての第４保持壁３６０を有している。
第４保持壁３６０は、左側の第１保持壁３４０と接続されており、略右方向に開口したＣ字状に形成された保持部３６１を有している。
保持部３６１は、前端部が第２左外壁３１１Ｂと接続されており、ＢＤ反射鏡３１を支持している。

このように第４保持壁３６０がＢＤ反射鏡３１を支持することで、ＢＤ反射鏡３１は、ポリゴンミラー５からの光ビームをＢＤレンズ７に向けて反射できるようになっている。このような構成であっても、第４保持壁３６０によりＢＤ反射鏡３１を支持することができるので、スキャナフレーム３００の構造を簡素化することができる。

＜第４変形例＞
前記実施形態では、第２左外壁１１１Ｂ（第４壁）が、第１左外壁１１１Ａ（第２壁）および補強壁１５０（第３壁）と接続されていたが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、図９（ａ）に示すように、第４壁の一例としての第２左外壁４１１Ｂが、第１壁の一例としての第１保持壁４４０と接続されるような構成であってもよい。このような構成であっても、第２壁の一例としての第１左外壁４１１Ａ、第３壁の一例としての補強壁４５０および第２左外壁４１１Ｂにより、第１保持壁４４０の剛性を高くすることができる。

＜第５変形例＞
前記実施形態では、第１左外壁１１１Ａおよび補強壁１５０が第１保持壁１４０の両端と接続されていたが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、図９（ｂ）に示すように、第１壁の一例としての第１保持壁５４０の両端以外の部分と第２壁の一例としての第１左外壁５１１Ａおよび第３壁の一例としての補強壁５５０が接続されるような構成であってもよい。このような構成であっても、第１左外壁５１１Ａおよび補強壁５５０などにより、第１保持壁５４０の剛性を高くすることができる。

＜第６変形例＞
前記実施形態では、第１左外壁１１１Ａおよび第７右外壁１１３Ｇ（第２壁）は、前後方向において、ｆθレンズ６と同じ側に延びている構成であったが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、図９（ｃ）に示すように、第２壁の一例としての第１左外壁６１１Ａが、前後方向において、ｆθレンズ６とは反対側にのみ延びるような構成であってもよい。このような構成であっても、第１左外壁６１１Ａおよび第３壁の一例としての補強壁６５０により、第１壁の一例としての第１保持壁６４０の剛性を高くすることができる。

前記実施形態では、第１保持壁１４０は、その一部である当接部１４１によりｆθレンズ６と当接していたが、本発明はこれに限定されず、例えば、第１保持壁１４０の全部とｆθレンズ６とが当接していてもよい。

前記実施形態では、偏向器としてポリゴンミラー５を例示したが、本発明はこれに限定されず、例えば、振動ミラーなどを用いてもよい。

１ 光走査装置
２ 半導体レーザ
２Ａ 端子
４ カップリングレンズ
５ ポリゴンミラー
６ ｆθレンズ
７ ＢＤレンズ
８ ＢＤセンサ
９ 回路基板
１００ スキャナフレーム
１１０ 下フレーム
１１１Ａ 第１左外壁
１１１Ｂ 第２左外壁
１１１Ｄ 開口
１１３Ｇ 第７右外壁
１１５ 支持壁
１１６Ａ 第１ネジ穴
１１７Ａ 第２ネジ穴
１２０ 上フレーム
１２１ 被覆部
１３０ 板バネ
１４０ 第１保持壁
１５０ 補強壁
１６０ 第２保持壁
１８０ 区画壁

Claims (10)

1. 光源と、前記光源からの光ビームを主走査方向に偏向する偏向器と、前記偏向器により偏向された前記光ビームを被走査面上に結像する走査光学系と、スキャナフレームとを備えた光走査装置であって、
   前記スキャナフレームは、筐体を構成する下フレームを有し、
   前記下フレームは、前記偏向器を支持する支持壁と、前記支持壁から延出し、前記走査光学系の長尺状の光学素子に当接する第１壁と、前記支持壁から延出し、前記第１壁から延びる第２壁と、前記支持壁から延出し、前記第１壁の前記第２壁とは異なる位置から延びる第３壁とを有し、
   一端が前記光学素子に当接し、他端が前記スキャナフレームに支持され、前記光学素子を前記第１壁に向けて付勢する付勢部材を備え、
   前記第２壁は、前記第１壁に交差する方向に延び、
   前記第３壁は、前記光学素子と前記第１壁が対向する方向において、前記光学素子とは反対側に向かって延び、
   前記第１壁は、少なくとも前記第２壁の接続位置と前記第３壁の接続位置との間で前記光学素子と当接することを特徴とする光走査装置。
2. 前記下フレームは、前記第１壁と前記第２壁のうち少なくとも一方と、前記第３壁とを接続する第４壁を有することを特徴とする請求項１に記載の光走査装置。
3. 前記第４壁は、前記第１壁に対して間隔をあけて配置されていることを特徴とする請求項２に記載の光走査装置。
4. 前記第２壁および前記第４壁は、前記下フレームの外壁であることを特徴とする請求項２または請求項３に記載の光走査装置。
5. 前記偏向器により偏向された前記光ビームを受光して検出信号を発生する受光センサを備え、
   前記第３壁は、前記受光センサに前記光ビームを導くための第２の光学素子を支持することを特徴とする請求項１から請求項４のいずれか１項に記載の光走査装置。
6. 前記光源からの光を光ビームに変換するカップリングレンズを備え、
   前記スキャナフレームは、前記光源と前記カップリングレンズとを区画しつつ、前記光を通過させるように構成された区画壁を有することを特徴とする請求項１から請求項５のいずれか１項に記載の光走査装置。
7. 前記下フレームの外壁は、前記光源から前記カップリングレンズに向かう方向の延長線上の位置に開口を有することを特徴とする請求項６に記載の光走査装置。
8. 前記下フレームは、前記カップリングレンズを接着する接着剤を配置するための溝を有することを特徴とする請求項６または請求項７に記載の光走査装置。
9. 前記光源は、回路基板と接続される端子を有し、
   前記スキャナフレームは、前記筐体を構成する上フレームを有し、
   前記上フレームは、前記端子を覆う被覆部を有することを特徴とする請求項１から請求項８のいずれか１項に記載の光走査装置。
10. 前記第１壁は、前記光学素子の長手方向に並んで一対設けられ、前記光学素子の長手方向における一端部および他端部に当接し、
    前記下フレームは、画像形成装置本体に固定するための第１固定部および第２固定部を有し、
    前記第１固定部は、前記長手方向において前記一端部側に配置され、
    前記第２固定部は、前記長手方向において前記他端部側に配置され、
    前記第１固定部から前記一端部側の第１壁までの距離は、前記第２固定部から前記他端部側の第１壁までの距離と略等しいことを特徴とする請求項１から請求項９のいずれか１項に記載の光走査装置。

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