JP2014102234A - 測定結果表示装置及び方法 - Google Patents
測定結果表示装置及び方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2014102234A JP2014102234A JP2012256353A JP2012256353A JP2014102234A JP 2014102234 A JP2014102234 A JP 2014102234A JP 2012256353 A JP2012256353 A JP 2012256353A JP 2012256353 A JP2012256353 A JP 2012256353A JP 2014102234 A JP2014102234 A JP 2014102234A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement
- result
- display
- displayed
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
【解決手段】表示制御部14は、少なくとも評価試験における被試験デバイスの良品数及び不良品数とその割合とを含む合否判定結果を表示する合否判定結果表示エリアE2を有する測定終了画面内に表示された不良結果表示切替キーM1が選択されると、合否判定結果の中から不良が確認された被試験デバイスの不良結果情報のみが測定パラメータ毎にエリア分けした状態でそれぞれ表示される不良結果表示画面S2を表示制御する。
【選択図】図3
Description
該入力信号処理部から出力された前記測定データに対し、測定条件となる複数の測定パラメータが設定された評価試験に従って所定の信号解析処理を実施した解析結果を解析結果データとして出力する信号解析部13aと、
該信号解析部から出力された前記解析結果データを表示部14に表示制御する表示制御部13cと、
を備えた測定結果表示装置1において、
前記表示制御部は、少なくとも前記評価試験における前記被試験デバイスの良品数及び不良品数とその割合とを含む合否判定結果を表示する合否判定結果表示エリアE2を有する測定終了画面内に表示された不良結果表示切替キーM1が選択されると、前記合否判定結果の中から不良が確認された前記被試験デバイスの不良結果情報のみが前記測定パラメータ毎にエリア分けした状態でそれぞれ表示される不良結果表示画面S2を表示制御することを特徴とする。
さらに、前記測定パラメータエリア内で、前記不良が確認された測定項目毎に前記不良結果情報が関連付けされた状態で表示されていることを特徴とする。
前記測定データに対し、測定条件となる複数の測定パラメータが設定された評価試験に従って所定の信号解析処理を実施した解析結果を解析結果データとして出力する信号解析ステップと、
少なくとも前記評価試験における前記被試験デバイスの良品数及び不良品数とその割合とを含む合否判定結果を表示する合否判定結果表示エリアE2を有する測定終了画面内に表示された不良結果表示切替キーM1が選択されると、前記合否判定結果の中から不良が確認された前記被試験デバイスの不良結果のみが前記測定パラメータ毎にエリア分けした状態でそれぞれ表示される不良結果表示画面S2を表示する表示制御ステップと、
を含むことを特徴とする。
図2に示す表示例では、測定対象となった被試験デバイスの識別情報(ロットナンバーやモデル名)、試験シーケンスの種類等の実施した試験の概要を簡易表示する試験概要表示エリアE1と、実施した評価試験において合否判定(良品(Pass)及び不良品(Fail)を判定)をしたときの良品数とその割合及び不良品数とその割合を簡易的に表示する合否判定結果表示エリアE2とが測定終了画面S1内にエリア分けされて表示される。
図3に示す表示例では、試験により不良が確認された被試験デバイスの識別番号(シリアル番号等)において、実施した試験で設定された測定パラメータ名と、その測定パラメータにおいて不良が確認された測定項目名、測定結果及び閾値(設定された測定項目のみ表示)とが関連付けされた状態で、測定パラメータ毎にエリア分けした測定パラメータ毎のエリア内に表示されている。図例では、測定パラメータとして「Parameter File A」、「Parameter File B」の2種類の測定パラメータにおいてそれぞれ不良が確認されたことを示し「Parameter File A」では不良が確認された測定項目が「EVM 」及び「Power Measurement」であり、「Parameter File B」では「EVM 」及び「Harmonics 」であることを示している。
図4に示す表示例では、被試験デバイスのロット数と不良が確認された被試験デバイスの総数が表示され、該当する被試験デバイスの識別番号が一覧表示されている。図例では、不良が確認されたデバイスの識別番号が一覧表示されている。
図5に示す表示例では、被試験デバイスのロット数と不良が確認された被試験デバイスの総数が表示され、実施した試験で設定された測定パラメータファイル名と、その測定パラメータにおいて不良が確認された測定項目毎の被試験デバイスの数とその割合が関連付けされた状態で、測定パラメータ毎にエリア分けした測定パラメータ毎のエリア内に表示されている。
図6に示す表示例では、被試験デバイスのロット数と選択した測定項目で不良が確認された被試験デバイスの総数が表示され、また選択した測定項目(EVM )とその閾値(Limit:-40.00dB)とが表示され、該当する被試験デバイスの識別番号とその測定結果が関連付けされた状態で一覧表示されている。
11…入力信号処理部(11a…減衰器、11b…ローカル発振器、11c…掃引信号発生器、11d…ミキサ、11e…中間周波数フィルタ、11f…検波器、11g…A/D変換器)
12…データ記憶部
13…処理制御部(13a…信号解析部、13b…判定処理部、13c…表示制御部)
14…表示部
15…設定入力部
16…信号発生部
E1…試験概要表示エリア
E2…合否判定結果表示エリア
M…表示切替メニュー(M1…不良結果表示切替キー、M2…不良デバイス一覧表示切替キー、M3…測定項目別不良デバイス数表示キー、M4…他デバイス不良結果表示切替キー、M5…デバイス選択キー、M6…不良結果表示切替キー、M7…測定項目選択キー、M8…測定項目別不良デバイス結果表示切替キーM8)
S1…測定終了画面
S2…不良結果表示画面
S3…不良デバイス一覧表示画面
S4…測定項目別不良デバイス数表示画面
S5…測定項目別不良デバイス結果表示画面
Claims (3)
- 被試験デバイスを介して入力した被測定信号とローカル信号とをミキシングして所定の中間周波数の信号成分を取り出し、当該中間周波数の信号成分を検波したアナログ出力をディジタル変換したデータを測定データとして出力する入力信号処理部(11)と、
該入力信号処理部から出力された前記測定データに対し、測定条件となる複数の測定パラメータが設定された評価試験に従って所定の信号解析処理を実施した解析結果を解析結果データとして出力する信号解析部(13a)と、
該信号解析部から出力された前記解析結果データを表示部(14)に表示制御する表示制御部(13c)と、
を備えた測定結果表示装置1において、
前記表示制御部は、少なくとも前記評価試験における前記被試験デバイスの良品数及び不良品数とその割合とを含む合否判定結果を表示する合否判定結果表示エリア(E2)を有する測定終了画面内に表示された不良結果表示切替キー(M1)が選択されると、前記合否判定結果の中から不良が確認された前記被試験デバイスの不良結果情報のみが前記測定パラメータ毎にエリア分けした状態でそれぞれ表示される不良結果表示画面(S2)を表示制御することを特徴とする測定結果表示装置。 - 前記不良結果表示画面(S2)に表示される不良結果情報は、前記測定パラメータで設定された測定項目毎の合否判定用比較情報である閾値と不良であった測定結果とを含み、
さらに、前記測定パラメータエリア内で、前記不良が確認された測定項目毎に前記不良結果情報が関連付けされた状態で表示されていることを特徴とする請求項1記載の測定結果表示装置。 - 被試験デバイスを介して入力した被測定信号とローカル信号とをミキシングして所定の中間周波数の信号成分を取り出し、当該中間周波数の信号成分を検波したアナログ出力をディジタル変換したデータを測定データとして出力する入力信号処理ステップと、
前記測定データに対し、測定条件となる複数の測定パラメータが設定された評価試験に従って所定の信号解析処理を実施した解析結果を解析結果データとして出力する信号解析ステップと、
少なくとも前記評価試験における前記被試験デバイスの良品数及び不良品数とその割合とを含む合否判定結果を表示する合否判定結果表示エリア(E2)を有する測定終了画面内に表示された不良結果表示切替キー(M1)が選択されると、前記合否判定結果の中から不良が確認された前記被試験デバイスの不良結果のみが前記測定パラメータ毎にエリア分けした状態でそれぞれ表示される不良結果表示画面(S2)を表示する表示制御ステップと、
を含むことを特徴とする測定結果表示方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012256353A JP5636414B2 (ja) | 2012-11-22 | 2012-11-22 | 測定結果表示装置及び方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012256353A JP5636414B2 (ja) | 2012-11-22 | 2012-11-22 | 測定結果表示装置及び方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014102234A true JP2014102234A (ja) | 2014-06-05 |
JP5636414B2 JP5636414B2 (ja) | 2014-12-03 |
Family
ID=51024842
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012256353A Active JP5636414B2 (ja) | 2012-11-22 | 2012-11-22 | 測定結果表示装置及び方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5636414B2 (ja) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09330959A (ja) * | 1996-06-08 | 1997-12-22 | Tokyo Electron Ltd | 検査装置 |
JPH10221387A (ja) * | 1997-02-05 | 1998-08-21 | Advantest Corp | スペクトラムアナライザ |
JP2002031606A (ja) * | 2000-05-12 | 2002-01-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 品質評価装置、品質評価方法、品質表示装置、品質表示方法および品質評価システム |
JP2003161761A (ja) * | 2001-10-23 | 2003-06-06 | Agilent Technol Inc | 電子試験装置及び電子試験のデータポイント値を表示する方法 |
JP2008048330A (ja) * | 2006-08-21 | 2008-02-28 | Yokogawa Electric Corp | 携帯電話機テスタ |
-
2012
- 2012-11-22 JP JP2012256353A patent/JP5636414B2/ja active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09330959A (ja) * | 1996-06-08 | 1997-12-22 | Tokyo Electron Ltd | 検査装置 |
JPH10221387A (ja) * | 1997-02-05 | 1998-08-21 | Advantest Corp | スペクトラムアナライザ |
JP2002031606A (ja) * | 2000-05-12 | 2002-01-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 品質評価装置、品質評価方法、品質表示装置、品質表示方法および品質評価システム |
JP2003161761A (ja) * | 2001-10-23 | 2003-06-06 | Agilent Technol Inc | 電子試験装置及び電子試験のデータポイント値を表示する方法 |
JP2008048330A (ja) * | 2006-08-21 | 2008-02-28 | Yokogawa Electric Corp | 携帯電話機テスタ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5636414B2 (ja) | 2014-12-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9538393B2 (en) | Mobile terminal test apparatus and mobile terminal test method | |
US9020496B2 (en) | System for testing mobile communication apparatus and test method therefor | |
CN108598013B (zh) | 一种晶圆的测试方法 | |
CN101482603A (zh) | 频谱分析仪自动校准系统 | |
JP2014067251A (ja) | 移動端末試験装置及び移動端末試験方法 | |
JP5636414B2 (ja) | 測定結果表示装置及び方法 | |
CN106569070A (zh) | 电视机的emi定位方法及装置 | |
US11480597B2 (en) | Method and apparatus for analyzing a relationship between tone frequencies and spurious frequencies | |
KR20160081877A (ko) | 고무 제품의 품질 분석 장치 및 이를 이용한 품질 분석 방법 | |
US11463285B2 (en) | Signal analysis apparatus and signal analysis method | |
JP2005128017A (ja) | 周波数変換器装置の自動化試験 | |
KR20160122376A (ko) | 인버터 성능 검사 장치 | |
US6768293B2 (en) | Displaying signal measurements within multiple ranges of a parameter | |
CN104035870A (zh) | 一种脚本执行信息的展现方法及装置 | |
CN103176155A (zh) | 一种测量仪器的检测方法及装置 | |
JP2010281707A (ja) | 試験装置 | |
JP2020102684A (ja) | 移動端末試験装置とそのテストケース抽出方法 | |
JP2018004482A (ja) | 信号分析装置及び信号分析方法 | |
JP2015099128A (ja) | 信号処理装置および信号処理方法 | |
JP2015143644A (ja) | 信号解析装置および信号解析方法 | |
US11463183B2 (en) | Signal analysis apparatus and signal analysis method | |
CN113804989A (zh) | 变比组别测试仪检定方法、装置、设备及存储介质 | |
JP3370272B2 (ja) | 機器の過渡状態表示装置 | |
JP6062408B2 (ja) | 移動体端末試験装置 | |
CN104237661B (zh) | 可自动切换检测电压的检测系统及其电压校准检测方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20141007 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20141020 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5636414 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |