JP2003161761A - 電子試験装置及び電子試験のデータポイント値を表示する方法 - Google Patents

電子試験装置及び電子試験のデータポイント値を表示する方法

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JP2003161761A
JP2003161761A JP2002307082A JP2002307082A JP2003161761A JP 2003161761 A JP2003161761 A JP 2003161761A JP 2002307082 A JP2002307082 A JP 2002307082A JP 2002307082 A JP2002307082 A JP 2002307082A JP 2003161761 A JP2003161761 A JP 2003161761A
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Christopher K Sutton
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    • G—PHYSICS
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 試験結果にフィルタをかけることによりユー
ザーが効果的かつ迅速にユーザーの関心に沿った結果を
見ることができる電子試験装置を提供する。 【解決手段】 テスト２０５，測定２０６，データポイ
ント２１０，データポイント値３５２，及びデータポイ
ント値が合格値，境界値，或いは不合格値であるかどう
かを示すデータポイント値状態３４０，３４２，３４４
を記憶するためのメモリ１０４と、テストの実行を制御
するためにメモリと通信するプロセッサ１０６と、全デ
ータポイント値，境界データポイント値，不合格データ
ポイント値，及び選択データポイント値から成るデータ
ポイント値状態のグループのうちの少なくとも２つの間
で選択を行うためにプロセッサと通信する入力装置１０
２と、選択されたデータポイント値及び関連するデータ
ポイント値状態を表示するためにプロセッサと通信する
出力装置１１６とを具備する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、複雑な電子式，電
気機械式，機械式の装置及び製品を自動的に試験するた
めの電子装置に関するものである。より具体的には、本
発明は、ユーザーが試験全体から効果的かつ効率的に特
定の試験結果を選択することができる試験結果ビューフ
ィルタを有する電子試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】複雑な電子式，電気機械式，及び機械式
の製品や装置は、通常、自動試験装置を使用して試験さ
れる。このような試験としては、各種動作を起動して被
験デバイス（ＤＵＴ；device under test）がこれらを
適正に実施できたかどうかについての結果を記録する検
証試験や、温度，圧力，及び湿度を様々に組み合わせた
環境にＤＵＴを晒して結果を記録する環境試験、そして
製造試験等が挙げられる。一般的に、ＤＵＴと、そのＤ
ＵＴに環境的制約及び他の制約を提供するシステムは、
電子的に制御される。過去１０年程の間に、この分野に
おいて「試験実行」プログラムと呼ばれる様々な自動試
験を制御することができるコンピュータプログラムが開
発されてきた。
【０００３】従来技術による試験実行プログラムとして
は、Ａｇｉｌｅｎｔ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ社が開
発した内部試験実行プログラムや、Ｎａｔｉｏｎａｌ
Ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔｓ社が開発したＴＥＳＴＳＴＡＮ
Ｄソフトウエアが挙げられるが、これは自動プロトタイ
プ，検証，又は製造試験装置を編成（系統化），制御，
及び実行する、即時稼動が可能な試験実行プログラムと
して記載されている。従来技術によるＡｇｉｌｅｎｔ
Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ社のプログラムは、グラフィ
カルユーザーインターフェース（ＧＵＩ）を使用したも
のではないため、大量のデータを単純な形式で表示する
ためのプログラム能力に制約がある。ＴＥＳＴＳＴＡＮ
ＤソフトウエアはＧＵＩを利用したものではあるが、ユ
ーザーは試験全体の進行を判断するために複数のウィン
ドウをスクロールしなければならない。ＴＥＳＴＳＴＡ
ＮＤソフトウエアは、解析することが容易ではないスプ
レッドシートに結果を示すものであった。従来技術のソ
フトウエアは、最善でも「合格」を青色、「スキップ」
を黄色、そして「不合格」を赤色で示す等、特定の測定
結果を色づけして示すものに限られている。従って、テ
キストでの結果を見て、どのような行動が必要かを判断
するためには多大な時間がかかってしまうのである。試
験が不合格となった場合には、一般的に試験の詳細を更
に調べ、更なる行動を取る前に不具合の原因を見出すこ
とが必要である。従って、試験結果をより容易に選択
し、解析することができる試験実行装置が切望されてい
る。
【０００４】試験は、通常、ＤＵＴを比較する一群のル
ール、すなわち仕様により定義される。これらのルー
ル、すなわち仕様は、一般的にＤＵＴに適用される電気
的パラメータ及び機械的なパラメータにより定義される
各種入力から成り、電圧，電流，制御，及び装置部品の
所定の操作は勿論のこと、温度，湿度，圧力，及びパラ
メータを印加する時間等、試験を実行する環境パラメー
タ等をも含む。各試験とも、ＤＵＴの各要素に適用する
パラメータの組み合わせが多数存在し、これらが多数回
にわたって繰り返し適用されることも多い。パラメータ
の各組み合わせは、１つ以上のデータポイントを得る測
定を定義するものであり、これらは記録され、その仕様
を定義する限界値又はブーリアン限界値と比較される。
従って、装置及び製品がより複雑化すればするほど、電
子試験プログラムは非常に長く複雑となり、時には試験
を完遂するまでに数日、或いは１週間以上かかってしま
うこともしばしばである。
【０００５】従来型の試験装置においては、試験の進行
に伴い、試験結果がコンピュータの表示画面上に現在の
試験条件及び結果と共に表示されるか、或いは直前の条
件及び結果の一部を伴って表示される。ユーザーが不良
となった試験結果等、特定の試験仕様限界に合致しなか
った以前の試験結果を見たい場合には、試験プログラム
中のどの個別試験結果が特定の試験仕様限界に一致しな
かったかを知るために表示画面をスクロールすることに
なる。この手段では、どの試験結果が特定の試験仕様限
界に合致しなかったかを判定するまでに時間と労力がか
かり、また、誤りを生じやすい。
【０００６】ユーザーが以前の試験部分から不合格又は
境界となった結果等、特定の試験結果を見たいと望んだ
場合には、手動で長い試験結果の全体をスクロールして
所望の試験結果を探すことになる。試験は長く複雑であ
ることから、スクリーン上に全ての試験結果を一度に表
示することは物理的に不可能である。スクロールしてい
く過程の何れの時点においても、ユーザーは、結果の部
分的な視野しか得られず、長い時間の消費や、手間のか
かる閲覧及び手動記録なくしては特定の試験結果を見る
ことは困難なのである。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】かくして、試験結果に
フィルタをかけることによりユーザーが効果的かつ迅速
にユーザーの関心に沿った結果を見ることができる試験
実行システム（電子試験装置）が望まれているのであ
る。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上述及び他の問題は、本
発明に基づくインタラクティブな（対話型の）電子表示
装置を持つ電子試験プログラムにより解消され、当該技
術の発展を得ることができる。本発明の第一の利点は、
ユーザーが試験結果ビューフィルタ中の試験結果ビュー
フィルタ・オプションボタンを選択するだけで、テスト
プロシージャ（試験手順）の全体のデータポイント値に
フィルタをかけることができるという点である。本発明
の第二の利点は、出力装置が選択的にフィルタをかけら
れたデータポイント値のみを表示するという点である。
本発明の第三の利点は、ユーザーが或るテストプロシー
ジャの結果に対し、そのプロシージャに戻ることなく繰
り返しかつ異なる方式でフィルタをかけることができる
という点である。本発明の第四の利点は、テストプロシ
ージャ（試験手順）の進行中或いはテストプロシージャ
の終了後にデータポイント値にフィルタをかけることが
できるという点である。
【０００９】試験結果ビューフィルタとは、ユーザーが
特定の試験結果ビューフィルタ・オプションボタンを選
択することにより、試験レポートの全体にフィルタをか
けることができるようにするものである。これにより、
ユーザーは、試験仕様限界に合致しなかったデータポイ
ント値や、境界線上にあるデータポイント値等、関心の
あるデータポイント値を即座に選択することによって時
間を節約できるのである。ユーザーは、試験仕様限界に
合致しなかったデータポイント値や、境界線上にあるデ
ータポイント値を判定するために、データポイント値の
全体のリストをサーチする必要がないのである。
【００１０】試験結果ビューフィルタにより、ユーザー
は、フィルタされたデータポイント値のみを閲覧するこ
とができる。フィルタにより、ユーザーが関心を持つデ
ータポイント値のみを表示することで、画面上から不必
要な、或いは関心のないデータポイント値を排除するこ
とができる。ユーザーは、効果的かつ効率的に関心のあ
るデータポイント値を閲覧することができるのである。
これにより、これら関心のあるデータポイント値をサー
チするためにテストプロシージャの表示全体を見ていく
という、単調で面倒な仕事が緩和される。ユーザーは、
テストプロシージャの出力全体を見る間に何かを書き留
めたり値を記録したりする必要がない。本発明によれ
ば、ユーザーが関心のある所望のデータ値に対応する試
験結果ビューフィルタ・オプションボタンを選択するだ
けで、フィルタのかけられたデータポイント値のみが表
示されるのである。
【００１１】試験結果ビューフィルタにより、ユーザー
は、テストプロシージャに戻ることなく、異なるフィル
タモードにおける同じテストプロシージャのデータポイ
ント値に繰り返しフィルタをかけることができる。これ
により、ユーザーは、最初の関心事に基づいて全テスト
プロシージャのデータポイント値にフィルタをかけ、そ
の後に第二の関心事に基づいて全テストプロシージャの
データポイント値にフィルタをかけることができる。試
験結果ビューフィルタは、同じテストプロシージャ・デ
ータポイント値に対して繰り返しフィルタをかけること
ができるものである。
【００１２】試験結果ビューフィルタにより、ユーザー
は、テストプロシージャを進行させる間、或いはテスト
プロシージャ完了後に、データポイント値にフィルタを
かけることができる。ユーザーはテストプロシージャの
起動前に関心のあるデータポイント値に対応した試験結
果ビューフィルタ・オプションボタンを選択し、その後
テストプロシージャを開始することにより、試験が起動
する間に試験結果ビューフィルタ・ディスプレイに選択
したデータポイント値を表示させることができ、従って
フィルタされたデータポイント値のみを表示させること
ができる。ユーザーは、更に、テストプロシージャ完了
後に関心のあるデータポイント値をフィルタすることも
できる。
【００１３】本発明は、処理装置により実行されるアプ
リケーションである。当業者には周知のように、アプリ
ケーションの命令は、ソフトウエア命令としてメモリ中
に記憶する及び／又は処理チップに付属するメモリ中に
ファームウエアとして記憶することができる。本発明の
応用例は、以下のように実行される。一実施形態におい
て、ユーザーは、見たいと望むデータポイント値に対応
する、試験結果ビューフィルタ中の試験結果ビューフィ
ルタ・オプションボタンを選択する。ユーザーがテスト
プロシージャを開始すると、出力装置は、フィルタのか
けられたデータポイント値を表示する。他の実施形態に
おいては、ユーザーがテストプロシージャを開始して出
力装置上に全てのデータポイント値を表示させ、その後
にユーザーが関心を持つデータポイント値に対応する試
験結果ビューフィルタ・オプションボタンを選択し、出
力装置にフィルタのかかったデータポイント値を表示さ
せる。一実施形態においては、データポイント値は、ダ
イアログボックス内に表示される。
【００１４】試験結果ビューフィルタ・オプションボタ
ンは、以下のグループ、すなわち、全試験結果ビューフ
ィルタ・オプションボタン、境界試験結果ビューフィル
タ・オプションボタン、不合格試験結果ビューフィルタ
・オプションボタン、及び選択試験結果ビューフィルタ
・オプションボタンのグループから選択されたものであ
ることが望ましい。一実施形態においては、入力は、所
望のデータポイントフィルタを提供する特定の試験結果
ビューフィルタ・オプションボタンをユーザーが「クリ
ック」すなわち選択することにより選択される。例え
ば、ユーザーが全試験結果ビューフィルタ・オプション
ボタンを「クリック」すなわち選択すると、出力装置
は、そのテストプロシージャにより実施された全てのデ
ータポイント値が表示される。
【００１５】不合格試験結果ビューフィルタ・オプショ
ンボタンは、特定の試験仕様限界に合致せずに不合格と
なったデータポイント値状態に関わるデータポイント値
をフィルタして表示するものである。境界試験結果ビュ
ーフィルタ・オプションボタンは、特定の試験仕様限界
に境界上で合致した境界データポイント値状態に関わる
データポイント値をフィルタにかけ表示するものであ
る。全試験結果ビューフィルタ・オプションボタンは、
全てのデータポイント値を表示するものである。選択試
験結果ビューフィルタ・オプションボタンは、特定のデ
ータポイント値をフィルタして表示するものである。
【００１６】テストプロシージャは、データポイント値
状態を判定するためにそのデータポイント値を比較する
少なくとも１つの試験仕様限界を記憶している。例え
ば、ユーザーは、試験手順の特定の試験仕様限界を超え
た全てのデータポイント値（例えば、全ての結果が１．
１ボルトを超えたもの）を不合格状態として見たいと望
む場合がある。この場合、本発明によれば、テストプロ
シージャにおいて１．１ボルトよりも低い全てのデータ
ポイント値に合格データポイント値状態を割り当てる。
これに対応して、本発明では、１．１ボルト以上の全て
のデータポイント値を不合格データポイント状態と関連
付ける。更に、ユーザーは、特定の仕様限界に境界上で
合致するデータポイント値についても知りたいと望む場
合があるが、これらのデータポイント値には、本発明に
おいては境界データポイント値状態が割り当てられる。
【００１７】データポイント値状態は、データポイント
値を少なくとも１つの記憶された試験仕様限界と比較す
ることにより、各データポイント値に対して関連づけら
れる。本発明では、テストプロシージャで不合格となる
データポイント値を判定するための少なくとも１つの試
験仕様と、テストプロシージャに境界線上で合致するデ
ータポイント値を判定するための少なくとも１つの試験
仕様を記憶することができる。
【００１８】本発明は、試験，測定，データポイント，
及びデータポイント値と、そのデータポイント値が合格
なのか、境界領域にあるのか、或いは不合格なのかに関
わるデータポイント値状態を記憶するメモリと、試験の
実行を制御するためにメモリと通信する電子プロセッサ
と、全データポイント値，境界データポイント値，不合
格データポイント値，又は選択データポイント値を含む
データポイント値状態のうち、少なくとも２つの間で選
択を行うために電子プロセッサと通信する入力装置と、
選択したデータポイント値と関連するデータポイント値
状態を表示するために電子プロセッサと通信を行う出力
装置とをそれぞれ備えた電子試験装置を提供するもので
ある。メモリは、更に、入力装置からの受信に呼応する
試験結果ビューフィルタを記憶したものであるのが望ま
しい。
【００１９】電子試験装置は、試験結果ビューフィルタ
を更に表示する出力装置を備えるものであるのが望まし
く、試験結果ビューフィルタは、複数の試験結果ビュー
フィルタ・オプションボタンを更に含むが望ましい。更
に、電子試験装置は、全て、境界，不合格，選択から成
るグループから選択される試験結果ビュー・オプション
ボタンを含むのが望ましい。電子試験装置は、更に、選
択された場合に目立たせる（ハイライトにさせる）こと
ができる、又は押すことができる試験結果ビュー・オプ
ションボタンを含んでいるのが望ましい。更に、電子試
験装置は、全てのデータポイント値及び全てのデータポ
イント値に関わるデータポイント値状態を出力装置上に
表示する全試験結果ビュー・オプションボタンを含んで
いるのが望ましい。電子試験装置は、更に、境界領域の
データポイント値及びその境界領域のデータポイント値
に関わるデータポイント値状態を出力装置上に表示する
境界試験結果ビュー・オプションボタンを含んでいるの
が望ましい。このビュー・オプションは、更に、不合格
データポイント値及びその状態も含んでいることが望ま
しい。電子試験装置は、更に、不合格となったデータポ
イント値及びその不合格データポイント値に関わるデー
タポイント値状態を出力装置上に表示する不合格試験結
果ビュー・オプションボタンを含むものであることが望
ましい。
【００２０】できれば、電子試験装置は、更に、試験仕
様限界を含み、メモリは、更に、その試験仕様限界を記
憶するものであるのが望ましい。好ましい電子試験装置
は、試験仕様上限及び試験仕様下限から成るグループか
ら選択された試験仕様限界を含んでいる。電子試験装置
は、更に、試験仕様限界と比較すべきデータポイント値
を提供するものであり、この結果得られたデータポイン
ト値状態がデータポイント値と関連付けられるものであ
るのが望ましい。電子試験装置は、更に、試験，測定，
データポイント，データポイント値，試験仕様限界，及
びデータポイント値状態を表示する出力装置を含んでい
るのが望ましい。
【００２１】本発明は、一目で観察することができる形
態で出力全体を表示する電子試験プログラムを提供する
だけではなく、ユーザーが個々の結果を迅速にチェック
することができる形式で出力を表示するものである。本
発明の他の特徴，目的，及び特徴は、添付の図面と共に
以下の説明を読むことにより明らかとなるであろう。
【００２２】
【発明の実施の形態】本発明は、ユーザーが全てのデー
タポイント値及びそれに付随するデータポイント値状態
を見たり、或いはそれぞれのデータポイント値状態に応
じてデータポイント値をフィルタしたりすることができ
る試験結果ビューフィルタを含む電子試験装置に関す
る。図１は、本発明を実現したコンピュータシステム
（電子試験装置）１００を描いたブロック図である。こ
のコンピュータシステム１００は、入力装置１０２と、
メモリ１０４と、出力装置（グラフィカルユーザーイン
ターフェース出力装置）１１６と、電子プロセッサ１０
６と、そして被験装置（ＤＵＴ）１２０とを含んでい
る。メモリ１０４は、以下により詳細を説明する本発明
の方法を実現するオブジェクト指向型階層ソフトウエア
命令を含んでいる。メモリ１０４は、ＲＯＭ等の不揮発
性メモリ、或いはＲＡＭ等の揮発性メモリとすることが
できる。
【００２３】一実施形態においては、本発明の試験実行
プログラムはメモリ１０１中の命令として記憶されてい
る。当業者には明らかなように、命令は、電子プロセッ
サ１０２が読み出し、実行することができるコンピュー
タソフトウエア及び／又はファームウエアとして記憶し
ておくことができる。試験実行プログラムにより実施さ
れた試験の結果は、出力装置１１６に表示される。出力
装置１１６は、ユーザーに対して画像を表示するアプリ
ケーションを可能とするディスプレイ及び関連ドライバ
である。ディスプレイは、当業者には周知のように、従
来型のＣＲＴモニター又は液晶表示装置であり、プリン
タ等の他の出力装置を使用することもできる。
【００２４】電子プロセッサ１０６は、本発明の試験実
行プログラムを実行するものである。ＤＵＴ１２０は、
経路１１４を介してプロセッサ１０６と通信を行う。プ
ロセッサ１０６は、経路１０８を介してメモリ１０４か
らの読み出し及びメモリ１０４への書き込みを行う。入
力装置１０２は、経路１１２を介して入力信号をプロセ
ッサ１０６へ送る。ＤＵＴ１２０及び入力装置１０２か
らの信号に応答して、かつ、メモリ１０４に記憶された
オブジェクト指向型階層ソフトウエアプログラムの制御
下において、プロセッサ１０６は、電子情報信号を生成
し、経路１１０を通じてこれらの信号を出力装置１１６
に送り、送信した情報をデータポイント値という形式で
画面１３０上のＧＵＩフォーマット中に視認可能に表示
するか、或いは聴覚的に伝えるものである。これについ
ては、図３に表示し、以下に詳細を説明する。
【００２５】当業者には明らかなように、本発明は、図
１に示したものと同様の一般構成を有するあらゆる電子
装置によって実現することができる。これらの電子装置
には、コンピュータシステム，ハードウエア中に埋め込
まれた論理回路，及び電子アナライザが含まれるが、こ
れらに限定されるものではない。
【００２６】本発明の作用のより明確な理解を得るため
に、本発明の好ましい試験プログラムの階層構造及び試
験の実施手順について説明する。図２を参照すると、こ
こには、試験プログラムの階層（マルチレベル）特性を
示すブロック図２００が描かれている。第一のレベル２
０１は、製品モデル、すなわち、特定の装置モデル番号
の製品群を試験するために試験開発者が作成したファイ
ルに対応するものである。これは、試験手順群２０２を
含んでいる。
【００２７】次のレベル２０２は、プロシージャ（手
順）そのものに対応する。プロシージャとは、起動する
べき試験の番号付きリスト，シーケンス，或いはスクリ
プトである。図２にプロシージャの集合２０２として示
したように、複数のプロシージャが存在しており、これ
らはそれぞれに個別的なプロシージャを表している。符
号２０３に示したように各プロシージャは、複数のテス
ト（例えば、テスト１，テスト２，テスト３，……，テ
ストＮ）を含んでいる。各テストは、複数の測定２０６
を含む。図２においては、これらを符号２０５のテスト
２について示した。図示したように、テスト２０５は、
複数の測定２０７（測定１，測定２，……，測定Ｎ）を
含む。各測定は、測定の各々に関連するカードの積み重
ね２１０，２１１，２１２として示した１つ以上のデー
タポイントを含む。プロシージャは、ソフトウエアオブ
ジェクトを構築するためにプログラム又はコードを書き
込むことにより定義される。一実施形態においては、ソ
フトウエアオブジェクトは、コンポーネントオブジェク
トモデル（ＣＯＭ）のオブジェクトである。ＣＯＭは、
言語独立型のコンポーネントアーキテクチャであり、プ
ログラム言語ではない。これは、一般的に使用される機
能及びサービスを含むための汎用オブジェクト指向型手
段である（Ｈａｒｒｙ Ｎｅｗｔｏｎ著、“Ｎｅｗｔｏ
ｎ’ｓ Ｔｅｌｅｃｏｍ Ｄｉｃｔｉｏｎａｒｙ”Ｐｕ
ｂｌｉｓｈｅｒｓ Ｇｒｏｕｐ Ｗｅｓｔの１９７ペー
ジ参照）。
【００２８】テスト（試験）２０５は、同じテストアル
ゴリズム又は同じテストソフトウエアコードを共有する
プロシージャ２０２中の測定２０７の一群である。テス
トの例として、振幅精度試験や高調波歪試験等が含まれ
る。試験プログラムは、各測定及びデータポイント毎に
繰り返しテストを呼び出すものである。
【００２９】測定２０６のような測定は、試験の構成、
すなわち試験設定である。テスト２０５中の測定群２０
７における各測定は、異なる設定、すなわち異なる構成
パラメータを含むこともある。テストはパラメータによ
り実施され、パラメータは測定レベルにおける入力であ
る。測定値とは、ボルトのレンジ，キロヘルツでの周波
数，又は高調波（整数）といった要素である。テストプ
ロシージャ２０２においては、測定２０７は、プロシー
ジャからテストへと送るデータとして取り扱われる。測
定は、また、試験実行の段階でもある。試験実行の測定
段階においては、測定は開始されるが、データは収集さ
れない。これは、複数ＤＵＴを構成し、同時にトリガす
ることができるようにするものである。
【００３０】２１０，２１１，２１２のようなデータポ
イントは、測定２０６等の測定のサブセットであり、１
つの測定が複数のデータポイント値を生成した場合に１
つの結果を選択する追加パラメータを含んでいる。１つ
の測定で複数のデータポイントが得られる例としては、
スペクトルアナライザの掃引又は装置の各チャネルの最
小値及び最大値等が挙げられる。
【００３１】測定２０６における、例えばデータポイン
ト２１０のような各データポイントについて、データポ
イント値が抽出される。得られたデータポイント値は、
試験仕様限界と比較される。試験仕様限界は、数的限
界，ストリング一致，或いはブーリアン合否である。
【００３２】電子試験装置（図１）の全ての入出力は、
グラフィカルユーザーインターフェース（ＧＵＩ）を通
じて取り扱われるのが望ましい。図３は、出力装置１１
６上に表示されたＧＵＩ１３０を示すものである。図３
において画面３０９の中央右側の部分には、プロシージ
ャ（処理），試験，測定及びデータポイントの階層を説
明するウィンドウ３０２が示されている。ＧＵＩ１３０
のウィンドウ３０２は、英数字試験情報の一連の行（符
号３０４等）及び列（符号３０６等）を示している。
【００３３】列３０８は、各データポイント値３５２の
通し番号を示している。列３１０は、テスト３４６が実
行された時間を示している。列３１２は、テストのデー
タポイント値状態を表示している。列３１４は、振幅精
度等の試験名３４６を示している。列３１６は、各テス
ト３４６に関わる、例えば（レンジ＝５Ｖｐ，周波数＝
１ＫＨｚ）といった測定値３４８を表示している。列３
１８は、各測定値３４８と関わる、例えばＣｈ＝１又は
Ｃｈ＝２といったデータポイント３５０を表示してい
る。列３２０は、例えば０．１２３５ｄＢ等、各テスト
３４６におけるデータポイント値３５２を表示してい
る。列３２２は、各試験３４６に関わる、例えば（＜
１．１）等の試験仕様限界３５４を表示している。
【００３４】試験結果ビューフィルタ３３０は、一実施
形態においては、ユーザーインターフェースを提供する
ものである。図３においては、試験結果ビューフィルタ
３３０中の全試験結果ビューフィルタ・オプションボタ
ン３３２が選択されている。全試験結果ビューフィルタ
・オフションボタン３３２が選択されている場合には、
全ての試験結果が表示される。合格データポイント値状
態３４０にあるデータポイント値３５２とは、試験仕様
限界３５４を超えていないデータポイント値である。境
界データポイント値状態３４２にあるデータポイント値
３５２とは、境界試験仕様限界３２２を超えたデータポ
イント値３５２である。不合格データポイント値状態３
４４にあるデータポイント値３５２とは、不合格試験仕
様限界を超えたデータポイント値３５２のことである。
【００３５】図４においては、試験結果ビューフィルタ
３３０の境界試験結果ビューフィルタ・オプションボタ
ン３３４が選択されている。境界試験結果ビューフィル
タ・オプションボタン３３４が選択されている場合に
は、列３１２は、境界データポイント値状態３４２及び
不合格データポイント値状態３４４しか表示しない。
【００３６】図５においては、試験結果ビューフィルタ
３３０の不合格試験結果ビューフィルタ・オプションボ
タン３３６が選択されている。不合格試験結果ビューフ
ィルタ・オプションボタン３３６が選択されている場合
には、列３１２は、不合格データポイント状態３４４し
か表示しない。
【００３７】図６においては、試験結果ビューフィルタ
３３０の選択試験結果ビューフィルタ・オプションボタ
ン３３８が選択されている。選択試験結果ビューフィル
タ・オプションボタン３３８が選択されている場合に
は、列３１２は、選択されたデータポイント値６０２及
び関連するデータポイント状態３４２しか表示しない。
ユーザーが特定のデータポイント６０２を選択すると、
ウィンドウ３０２は、選択されたデータポイント６０２
のみについてしか表示しないのである。図６において
は、Ｒａｎｇｅ（レンジ）＝１００ｍＶｐ測定のＣｈ＝
２データポイントが選択されている。
【００３８】図７〜図１０は、本発明に基づいて試験結
果をフィルタ及び表示するために試験実行プログラムが
実行するステップのフローチャートである。図７は、試
験実行プログラムが本発明に基づいて試験結果のフィル
タ及び表示を実行する際のフローチャートである。当業
者には周知の通り、図７〜図１０のフローチャートに示
すステップは、Ｃ言語，Ｃ＋＋言語，ＳＱＬ，ビジュア
ルベーシック，又は必要とされる機能を提供する他の言
語を含む、何れのプログラミング言語においてプログラ
ミングされたものでも良い。
【００３９】図７は、選択した試験結果ビューフィルタ
のフィルタ処理及び表示処理のフローチャートである。
この処理（プロセス）は、ビューフィルタ・オプション
ボタンが変更された場合，選択されたデータポイントが
変更された場合，或いは新たな試験結果の提供が可能と
なった場合に呼び出される。ステップ７０４において
は、この処理の初期化が行われる。ステップ７０２にお
いては、「選択」試験結果ビューフィルタ・オプション
ボタン３３８が試験結果ビューフィルタ３３０において
選択されたかどうかについての初期問い合わせが実施さ
れる。選択試験結果ビューフィルタ・オプションボタン
３３８が選択された場合には、試験実行プログラムは、
フィルタリングを実行して、選択されたデータポイント
６０２，データポイント値３５２，及び関連するデータ
ポイント値状態３４２を表示する。試験実行プログラム
は、データポイント値３５２を取得する（ステップ７０
６参照）。その後に、ステップ７１０において、試験仕
様限界３５４が取得される。これに伴い、試験実行プロ
グラムは、試験手順２０２中の各データポイント３５０
を解析する。ステップ７１８においては、特定のデータ
ポイントが画面３０９中で実際に選択されているかどう
かが問い合わせられる。特定のデータポイントが選択さ
れていた場合には、その選択されたデータポイント値３
５２を示す行のみが表示される（ステップ７２２参
照）。ステップ７２０においては、全てのデータポイン
トについての処理が繰り返される。ステップ７０２にお
ける初期問い合わせに対する応答が否定であった場合に
は、試験実行システムは、ステップ７０１へと進む。
【００４０】図８は、「不合格」試験結果ビューフィル
タ・オプションボタン３３６を選択した場合に、データ
ポイント値３５２及びデータポイント値状態３４４をフ
ィルタリング及び表示するための処理を説明するもので
ある。ステップ７０１から開始されるこの処理は、ステ
ップ８０２において「不合格」試験結果ビューフィルタ
・オプションボタン３３６が選択されたかどうかの初期
問い合わせが実施される（選択されていない場合には、
処理は、後に説明するステップ８０１へ進む）。試験実
行プログラムは、データポイント値３５２を取得する
（ステップ７０６参照）。その後にステップ８１０にお
いて、不合格試験仕様限界３５４が取得される。ステッ
プ８１４においては、データポイント値３５２が不合格
試験仕様限界３５４と比較され、このデータポイント値
３５２が不合格試験仕様限界３５４を超えているかどう
かが判定される。データポイント値３５２が不合格試験
仕様限界３５４を超えていない場合には、このデータポ
イント値３５２は、出力装置１１６には表示されない
（ステップ８１６参照）。データポイント値３５２が不
合格試験仕様限界３５４を超えていた場合には、このデ
ータポイント値３５２は、出力装置１１６上に表示され
る。ステップ８１８において、取得すべきデータポイン
ト３５０が他にあるかどうかが問い合わせられる。他の
データポイント３５０がなかった場合には、処理は、ス
テップ７２２において終了する。
【００４１】図９は、「境界」試験結果ビューフィルタ
・オプションボタン３３４を選択した場合にデータポイ
ント値３５２及びデータポイント値状態３４４のフィル
タ及び表示を実施するための処理を説明するものであ
る。ステップ８０１から開始されるこの処理は、ステッ
プ９０２において、「境界」試験結果ビューフィルタ・
オプションボタン３３４が選択されたかどうかの初期問
い合わせが実施される（選択されていない場合は、処理
は後に説明するステップ９０１へと進む）。試験実行プ
ログラムは、データポイント値３５２を取得する（ステ
ップ７０６参照）。その後ステップ９１０において、境
界試験仕様限界３５４が取得される。ステップ９１４に
おいては、データポイント値３５２が境界試験仕様限界
３５４と比較され、このデータポイント値３５２が境界
試験仕様限界３５４を超えているかどうかが判定され
る。データポイント値３５２が境界試験仕様限界３５４
を超えていない場合には、このデータポイント値３５２
は出力装置１１６には表示されない（ステップ９１６参
照）。データポイント値３５２が境界試験仕様限界３５
４を超えていた場合には、このデータポイント値３５２
は表示される（ステップ７０８参照）。ステップ８１８
において、取得すべきデータポイント３５０が他にある
かどうかが問い合わせられる。他のデータポイント３５
０がなかった場合には、処理は、ステップ８２２におい
て終了する。
【００４２】図１０は、「全」試験結果ビューフィルタ
・オプションボタン３３２を選択した場合にデータポイ
ント値３５２及びデータポイント値状態３４４のフィル
タリング及び表示を実施するための処理を説明するもの
である。試験実行プログラムは、ステップ１００４にお
いてデータポイント値３５２を取得する。その後にステ
ップ１００８において、試験仕様限界３５４が取得され
る。そして、データポイント値３５２及び試験仕様限界
３５４が出力装置に表示される（ステップ１０１２参
照）。ステップ８１８において、取得すべきデータポイ
ント３５２が他にあるかどうかが問い合わせられる。他
のデータポイント３５２がなかった場合には、処理は、
ステップ１０１４において終了する。
【００４３】以上を要約すると、次の通りである。電子
試験装置（１００）は、特定のデータポイント値状態
（３４０，３４２，３４４）に従ってテストプログラム
のテスト結果（試験結果）にユーザーがフィルタをかけ
ることを可能ならしめる試験結果ビューフィルタ（３３
０）を備えている。この試験結果ビューフィルタ（３３
０）は、前記試験結果ビューフィルタ内に一緒にグルー
プ化された複数の試験結果ビューフィルタ・オプション
ボタン（３３２，３３４，３３６，３３８）を表示する
グラフィック要素から構成されるのが好ましい。それぞ
れの試験結果ビューフィルタ・オプションボタンによ
り、それらの各データポイント値状態を表示すべくテス
トプログラム全体をフィルタリングすることができ、か
つ、前記フィルタリングされた（フィルタがかけられ
た）データポイント値状態を表示することができる。試
験結果ビューフィルタ・オプションボタンは、「全」デ
ータポイント値状態，「不合格」データポイント値状
態，「境界」データポイント値状態，及び「選択」デー
タポイント値状態から成るグループから選択される。
【００４４】以上は現時点において好ましいと思われる
本発明の実施形態を記載したものである。本発明は、そ
の精神及び基本的特質から逸脱することなく、他の特定
の形式で実現することができる。例えば、本発明は、電
子試験プログラムとして説明しきたが、ソフトウエアの
代わりにハードウエアに基づいて実現された他のシステ
ムとすることもできる。プログラムは、例えばプログラ
ミングされたプロセッサ、或いは他のプラットフォーム
上にあっても良い。更に、グラフィカルユーザーインタ
ーフェースには、データポイント値状態を表示するため
にいくつの試験仕様限界を加えても良い。試験結果ビュ
ーフィルタは、グラフィック要素を、例えば単一の英数
字要素、或いは異なる方式でグループ化したもの、プル
ダウンメニューの一部として、また或いはコンピュータ
又はビデオコンソール上のスイッチ又はボタンとして表
示する等、異なる形態で表示することもできる。従って
本実施形態は、説明的なものであり、限定的なものでは
ない。当業者には明らかなように、他のシステムについ
ても、均等論により文字通り、或いは間接的に解釈され
た場合の請求項により示される本発明を侵害する場合が
ある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態における主要ハードウエア
要素を示すブロック図である。
【図２】本発明の実施形態に基づくテストプログラムの
階層構造を示すブロック図である。
【図３】「全」試験結果ビューフィルタ・オプションボ
タン選択を表示する電子試験装置のグラフィカルユーザ
ーインターフェース表示を示す図である。
【図４】「境界」試験結果ビューフィルタ・オプション
ボタン選択を表示する電子試験装置のグラフィカルユー
ザーインターフェース表示を示す図である。
【図５】「不合格」試験結果ビューフィルタ・オプショ
ンボタン選択を表示する電子試験装置のグラフィカルユ
ーザーインターフェース表示を示す図である。
【図６】「選択」試験結果ビューフィルタ・オプション
ボタン選択を表示する電子試験装置のグラフィカルユー
ザーインターフェース表示を示す図である。
【図７】選択試験結果ビューフィルタの決定ステップを
示すフローチャートである。
【図８】不合格試験結果ビューフィルタの決定ステップ
を示すフローチャートである。
【図９】境界試験結果ビューフィルタの決定ステップを
示すフローチャートである。
【図１０】全試験結果ビューフィルタの決定ステップを
示すフローチャートである。
【符号の説明】
１００ コンピュータシステム（電子試験装置） １０２ 入力装置 １０４ メモリ １０６ プロセッサ １１６ 出力装置 １２０ 被験デバイス １３０ 画面（グラフィカルユーザーインターフェー
ス） ２０２ テストプロシージャ ２０５ 試験 ２０６ 測定 ２１０ データポイント ３２０ データポイント値 ３３０ 試験結果ビューフィルタ ３３２，３３４，３３６，３３８ 試験結果ビューフィ
ルタ・オプションボタン ３４０，３４２，３４４ データポイント値状態 ３５２ データポイント値 ３５４ 試験仕様限界
フロントページの続き (72)発明者 クリストファー・ケイ・サットン アメリカ合衆国ワシントン州98203，エヴ ァレット，ドーバー・ストリート 5027 Ｆターム(参考） 2G132 AA01 AA20 AB01 AB13 AE16 AE18 AE23

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】（ａ） テスト，測定，データポイント，
    データポイント値，及び前記データポイント値が合格
    値，境界値，或いは不合格値であるかどうかを示す、前
    記各データポイント値に関連するデータポイント値状態
    を記憶するためのメモリと、（ｂ） 前記テストの実行
    を制御するために前記メモリと通信する電子プロセッサ
    と、（ｃ） 全データポイント値，境界データポイント
    値，不合格データポイント値，及び選択データポイント
    値から成る前記データポイント値状態のグループのうち
    の少なくとも２つの間で選択を行うために前記電子プロ
    セッサと通信する入力装置と、（ｄ） 前記選択された
    データポイント値及び前記関連するデータポイント値状
    態を表示するために前記電子プロセッサと通信する出力
    装置と、を具備することを特徴とする電子試験装置。
  2. 【請求項２】 前記メモリが、前記入力装置からの受信
    に呼応する試験結果ビューフィルタを更に記憶してお
    り、前記出力装置が前記試験結果ビューフィルタを更に
    表示することを特徴とする請求項１に記載の電子試験装
    置。
  3. 【請求項３】 前記試験結果ビューフィルタが複数の試
    験結果ビューフィルタ・オプションボタンを更に有し、
    前記試験結果ビューフィルタ・オプションボタンが、
    「全」試験結果ビューフィルタ・オプションボタン，
    「境界」試験結果ビューフィルタ・オプションボタン，
    「不合格」試験結果ビューフィルタ・オプションボタ
    ン，及び「選択」試験結果ビューフィルタ・オプション
    ボタンから成るグループから選択されることを特徴とす
    る請求項２に記載の電子試験装置。
  4. 【請求項４】 前記「全」試験結果ビューフィルタ・オ
    プションボタンが選択された場合には、前記全データポ
    イント値及び前記全データポイント値に関連する前記デ
    ータポイント値状態を前記出力装置に表示することを特
    徴とする請求項１に記載の電子試験装置。
  5. 【請求項５】 前記「境界」試験結果ビューフィルタ・
    オプションボタンが選択された場合には、前記境界デー
    タポイント値，前記不合格データポイント値，並びに前
    記境界データポイント値及び前記不合格データポイント
    値に関連する前記データポイント値状態を前記出力装置
    に表示することを特徴とする請求項１に記載の電子試験
    装置。
  6. 【請求項６】 前記「不合格」試験結果ビューフィルタ
    ・オプションボタンが選択された場合には、前記不合格
    データポイント値及び前記不合格データポイント値に関
    連する前記データポイント値状態を前記出力装置に表示
    することを特徴とする請求項１に記載の電子試験装置。
  7. 【請求項７】 電子試験のデータポイント値を表示する
    方法であって、（ａ） 複数のデータポイント値を判定
    するためにテストプロシージャを実施するステップと、
    （ｂ） 前記データポイント値及び試験仕様限界を記憶
    するステップと、（ｃ） 前記データポイント値を前記
    試験仕様限界と比較するステップと、（ｄ） 結果とし
    て得られたデータポイント値状態を前記データポイント
    値の各々に提供するステップと、（ｅ） 「全」試験結
    果ビューフィルタ・オプションボタン，「境界」試験結
    果ビューフィルタ・オプションボタン，「不合格」試験
    結果ビューフィルタ・オプションボタン，及び「選択」
    試験結果ビューフィルタ・オプションボタンの試験結果
    ビューフィルタ・オプションボタンのうちの２つ以上を
    表示する試験結果ビューフィルタを提供するステップ
    と、（ｆ） 試験結果ビューフィルタ・オプションボタ
    ンを選択するステップと、（ｇ） 前記選択した試験結
    果ビューフィルタ・オプションボタンに対応する、前記
    データポイント値及びこれに関連するデータポイント値
    状態を表示するステップと、を含むことを特徴とする方
    法。
  8. 【請求項８】 データポイント値及び前記データポイン
    ト値の各々に対する試験仕様限界を記憶するステップを
    更に含むことを特徴とする請求項７に記載の方法。
  9. 【請求項９】 不合格試験仕様限界を前記試験仕様限界
    として記憶するステップと、前記データポイント値の各
    々を前記不合格試験仕様限界と比較するステップとを更
    に含むことを特徴とする請求項７に記載の方法。
  10. 【請求項１０】 境界試験仕様限界を前記試験仕様限界
    として記憶するステップと、前記データポイント値の各
    々を前記境界試験仕様限界と比較するステップとを含む
    ことを更に特徴とする請求項７に記載の方法。
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