JP2014099468A - 半導体デバイスの製造方法および半導体デバイス - Google Patents
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Abstract
【課題】十分な指向性を有する半導体デバイスを簡単に製造することができる半導体デバイスの製造方法および半導体デバイスを提供する。
【解決手段】パッケージ基板51上にダイボンドおよびワイヤーボンドされた複数の受光素子52を透明な封止樹脂53で封止する封止工程と、受光素子52同士の境界に沿って、封止樹脂53に充填溝57を形成する溝形成工程と、充填溝57に、不透明な遮光樹脂54を充填する樹脂充填工程と、を備え、充填溝57は、開口部が溝底部に対し広い断面形状に形成されるものである。
【選択図】図2
【解決手段】パッケージ基板51上にダイボンドおよびワイヤーボンドされた複数の受光素子52を透明な封止樹脂53で封止する封止工程と、受光素子52同士の境界に沿って、封止樹脂53に充填溝57を形成する溝形成工程と、充填溝57に、不透明な遮光樹脂54を充填する樹脂充填工程と、を備え、充填溝57は、開口部が溝底部に対し広い断面形状に形成されるものである。
【選択図】図2
Description
本発明は、発光素子および/または受光素子等の半導体光学素子をウェーハレベルパッケージングした後、個々に分割する半導体デバイスの製造方法および半導体デバイスに関するものである。
従来、この種の半導体デバイスの製造方法として、フレネルレンズ付きLEDの製造方法が知られている(特許文献1参照)。
この製造方法は、集合基板の所定位置に複数個のLEDチップをダイボンドし、金属細線をワイヤーボンドするLED実装工程と、LEDチップを取り囲むように透明樹脂で樹脂成形体を形成する樹脂成形工程と、個々のLEDを取り囲む枠部材となるべき所定の箇所に、樹脂成形体の表面から基板上面に達する深さの溝を形成するハーフダイシング工程と、溝に樹脂を流し込み硬化させて枠部材を形成する枠樹脂成形工程と、樹脂成形体の表面に別体で成形されたフレネルレンズを貼付するレンズ貼り付け工程と、枠樹脂成形体をダイシングラインに沿って単個のチップLEDに分割するフルダイシング工程と、を備えている。この場合、ハーフダイシング工程では、幅広なダイシングブレードが用いられる一方、フルダイシング工程では、幅狭なダイシングブレードが用いられる。これにより、枠樹脂成形体の一部が、チップLEDの枠部材となり、フレネルレンズとの協働により、LEDチップからの放射光に指向性を持たせ得るようにしている。
この製造方法は、集合基板の所定位置に複数個のLEDチップをダイボンドし、金属細線をワイヤーボンドするLED実装工程と、LEDチップを取り囲むように透明樹脂で樹脂成形体を形成する樹脂成形工程と、個々のLEDを取り囲む枠部材となるべき所定の箇所に、樹脂成形体の表面から基板上面に達する深さの溝を形成するハーフダイシング工程と、溝に樹脂を流し込み硬化させて枠部材を形成する枠樹脂成形工程と、樹脂成形体の表面に別体で成形されたフレネルレンズを貼付するレンズ貼り付け工程と、枠樹脂成形体をダイシングラインに沿って単個のチップLEDに分割するフルダイシング工程と、を備えている。この場合、ハーフダイシング工程では、幅広なダイシングブレードが用いられる一方、フルダイシング工程では、幅狭なダイシングブレードが用いられる。これにより、枠樹脂成形体の一部が、チップLEDの枠部材となり、フレネルレンズとの協働により、LEDチップからの放射光に指向性を持たせ得るようにしている。
このような、従来の半導体デバイスの製造方法では、溝が矩形断面のダイシングブレードにより形成されるため、チップLED(デバイス)は、その枠部材が基板に直角に立設された形態となる。このため、枠部材の開口部と、基板上のボンディングエリアとが同じ大きさ(広さ)となり、フレネルレンズを設けないと、枠部材だけでは十分な指向性を持たせることができない問題がある。
また、発光素子(LED)に代えて、受光素子を設けたチップ部品(デバイス)や、発光素子および受光素子を並べて設けたチップ部品(デバイス)でも、十分な指向性を持たせることができないため、前者では光効率が悪化し、後者では、受光素子へのノイズ光の遮蔽が不十分となることが想定される。
また、発光素子(LED)に代えて、受光素子を設けたチップ部品(デバイス)や、発光素子および受光素子を並べて設けたチップ部品(デバイス)でも、十分な指向性を持たせることができないため、前者では光効率が悪化し、後者では、受光素子へのノイズ光の遮蔽が不十分となることが想定される。
本発明は、十分な指向性を有する半導体デバイスを簡単に製造することができる半導体デバイスの製造方法および半導体デバイスを提供することを課題としている。
本発明の半導体デバイスの製造方法は、パッケージ基板上にダイボンドおよびワイヤーボンドされた複数の半導体光学素子を透光性の封止樹脂で封止する封止工程と、半導体光学素子同士の境界に沿って、封止樹脂に充填溝を形成する溝形成工程と、充填溝に、非透光性の遮光樹脂を充填する樹脂充填工程と、を備え、充填溝は、開口部が溝底部に対し広い断面形状に形成されることを特徴とする。
この場合、境界に沿って、半導体光学素子単位でフルダイシングを行うダイシング工程を、更に備えることが好ましい。
これらの構成によれば、封止樹脂に半導体光学素子同士の境界に沿って充填溝を形成すると共に、この充填溝に遮光樹脂を充填することで、半導体光学素子の周囲に、遮光樹脂による遮光壁を簡単に作り込むことができる。また、充填溝が、開口部が溝底部に対し広い断面形状に形成されるため、透光性の封止樹脂は、半導体光学素子およびそのボンディングワイヤーを包含した状態で、開口部側を狭く形成することができる。すなわち、遮光樹脂を、封止樹脂に対しオーバーハングするようなあり溝形状に、簡単に形成することができる。そして、遮光樹脂をあり溝形状とすることで、半導体デバイスに、レンズ等の追加部材を必要とすることなく、十分な指向性を持たせることができる。
なお、「パッケージ基板」は、リードフレームを含む概念である。また、遮光樹脂は、封止樹脂に対しあり溝形状(オーバーハング)となる限りにおいて、その形状は任意である。
なお、「パッケージ基板」は、リードフレームを含む概念である。また、遮光樹脂は、封止樹脂に対しあり溝形状(オーバーハング)となる限りにおいて、その形状は任意である。
また、半導体光学素子が、受光素子、発光素子、および受光素子と発光素子とを対とした受発光素子、のいずれかであることが好ましい。
この構成によれば、十分な指向性を持った受光素子のデバイス、発光素子のデバイスおよび受発光素子のデバイスのいずれかを簡単に製造することができる。受光素子のデバイスを、例えばこれをセンシングに用いた場合には、検出光のみを効率良く取り込むことができると共に、ノイズ光を極力遮光することができる。また、発光素子のデバイスを、例えばこれをセンシングに用いた場合には、指向性を有する検出光を放射することができると共に、放射光を効率良く取り出すことができる。さらに、受発光素子のデバイスを、例えばこれをセンシングに用いた場合には、放射光を効率良く取り出すことができると共に、ノイズ光を極力遮光することができる。また、発光素子から受光素子への光(ノイズ光)の回り込みも、有効に防止することができる。
一方、充填溝は、断面逆台形状であることが好ましい。
この場合、溝形成工程では、研削刃が断面台形状に形成されたダイシングブレードによるハーフダイシングにより、充填溝を形成することが好ましい。
この構成によれば、半導体光学素子同士の境界に沿ってハーフダイシングを行うだけで、断面逆台形状の充填溝を簡単に形成することができる。すなわち、封止樹脂に対し断面逆台形状(あり溝形状)となる遮光樹脂の部分を、簡単に形成することができる。
また、充填溝は、断面「T」字状であることが好ましい。
この場合、溝形成工程は、研削刃が断面矩形状の第1のダイシングブレードによるハーフダイシングにより、断面「T」字状の水平片に相当する浅溝を形成すると共に、研削刃が断面矩形状の第2のダイシングブレードによるハーフダイシングにより、断面「T」字状の垂直片に相当する深溝を形成することが好ましい。
この構成によれば、半導体光学素子同士の境界に沿ってハーフダイシングを行うだけで、断面「T」字状の充填溝を簡単に形成することができる。すなわち、封止樹脂に対しあり溝形状となる遮光樹脂の部分を、簡単に形成することができる。
さらに、溝形成工程では、溝底部が、パッケージ基板に達するように充填溝を形成することが好ましい。
この構成によれば、パッケージ基板と遮光樹脂との境界部分からの光漏れ等を防止することができ、半導体光学素子を、あり溝形状の遮光壁で完璧に囲繞することができる。
また、封止工程および樹脂充填工程が、ポッティングで行われることが好ましい。
この構成によれば、十分な指向性を有する半導体デバイスを、簡単な製造設備により製造することができる。これは、カスタマイズされた半導体デバイスの製造方法として好適である。
本発明の半導体デバイスは、請求項2に記載の半導体デバイスの製造方法により製造されたことを特徴とする。
この場合、半導体光学素子が、受光素子、発光素子、および受光素子と発光素子とを対とした受発光素子、のいずれかであることが好ましい。
これらの構成によれば、半導体光学素子が受光素子の場合、受光において十分な指向性を持たせることができると共に、ノイズ光を適切に遮光することができる半導体デバイスを、簡単に製造することができる。また、半導体光学素子が発光素子の場合、放射光に十分な指向性を持たせることができると共に、放射光を効率良く取り出すことができる半導体デバイスを、簡単に製造することができる。さらに、半導体光学素子が受発光素子の場合、放射光を効率良く取り出すことができると共に、ノイズ光を極力遮光することができる半導体デバイスを、また発光素子から受光素子への光(ノイズ光)の回り込みを、有効に防止することができる半導体デバイスを、簡単に製造することができる。
以下、添付の図面を参照して、本発明の一実施形態に係る半導体デバイスの製造方法および半導体デバイスを適用した、半導体受光デバイス、半導体発光デバイス、半導体受発光デバイスおよびこれら半導体デバイスの製造方法について説明する。これら半導体デバイスは、例えば、携帯端末(スマートフォン)に搭載され、通話中か否かを検出する近接センサーとして用いられる。このため、これら半導体デバイスは、S/N比を高めるべく十分な指向性を有する構造となっている。
図1は、第1実施形態に係る半導体受光デバイス(以下、「受光デバイス」と言う)の断面図である。同図に示すように、この受光デバイス10Aは、基板フレームやリードフレーム(実施形態のものは、基板フレーム)から成るパッケージ基板51と、パッケージ基板51上に実装したチップ構成の受光素子52と、パッケージ基板51上において、受光素子52を封止する透光性の封止樹脂53と、パッケージ基板51上において、受光素子52を囲繞しノイズ光を遮光する遮光樹脂54と、を備えている。
パッケージ基板51(基板フレーム)は、ガラスエポキシや有機材料の基板で構成されており、その表面には、接着剤等により受光素子52がダイボンドされている。受光素子52は、フォトダイオード等のチップで構成されている。そして、受光素子52の電極パッドとパッケージ基板51上の配線パターン(ランド)とは、ボンディングワイヤー55(金線、銅線、パラジューム被覆した銅線、アルミニウム線等)で接続されている。なお、フォトダイオードに代えて、フォトトランジスタを用いてもよい。
封止樹脂53は、透明(可視光や赤外光に対し透明)なエポキシ系樹脂やシリコン系樹脂等で構成されており、受光素子52およびボンディングワイヤー55を覆っている(封止)。具体的には、封止樹脂53は、パッケージ基板51上の受光素子52およびボンディングワイヤー55を封止すると共に、全体としてパッケージ基板51側が広く表面側が狭い四角錐台形状に形成されている。すなわち、封止樹脂53は、十分な指向性を持たせるべく、受光素子52およびボンディングワイヤー55を包含するパッケージ基板51側が広く、受光開口部56側が狭くなるように形成されている。詳細は後述するが、封止樹脂53は、遮光樹脂54と同じ高さとなるようにポッティングにより形成されている。
遮光樹脂54は、不透明(可視光や赤外光に対し不透明)なエポキシ系樹脂やシリコン系樹脂等で構成されており、四角錐台形状の封止樹脂53の四周を囲むような枠状に形成されている。具体的には、遮光樹脂54は、内側の四面が封止樹脂53と相補的形状に形成され、受光素子52に対しオーバーハングするようなあり溝形状に形成されている。すなわち、遮光樹脂54の内側の四面は、表面側において、封止樹脂53と協働して狭い受光開口部56を構成している。したがって、受光素子52には、遮光樹脂54により絞り込まれた受光開口部56(封止樹脂53の頂部)からのみ、光が入射する。なお、この場合も、遮光樹脂54は、後述するようにポッティングにより形成されている。
次に、図2を参照して、このように構成された第1実施形態に係る受光デバイス10Aの製造方法について説明する。なお、この製造方法では、その樹脂封止53において、いわゆるウェーハレベルパッケージとしており、最終的に個々の受光デバイス10Aとなるようにダイシングされる。
この製造方法は、パッケージ基板51(同図(a))に複数の受光素子52をマトリクス状にダイボンドするダイボンド工程(同図(b))と、ダイボンド工程の後、各受光素子52をワイヤーボンドするワイヤーボンド工程(同図(c))と、ワイヤーボンド工程の後、パッケージ基板51上の複数の受光素子52を、封止樹脂53により一括して封止する封止工程(同図(d))と、封止工程の後、受光素子52同士の境界に沿って、封止樹脂53に充填溝57を形成する溝形成工程(同図(e))と、この充填溝57に、遮光樹脂54を充填する樹脂充填工程(同図(f)および(g))と、樹脂充填工程の後、ウェーハを個々の受光デバイス10Aに分断するダイシング工程(同図(h))と、を備えている。
図2(b)のダイボンド工程では、既知のダイボンディング装置を用い、各受光素子52を、パッケージ基板51上の所定の位置に接着剤等によりダイボンド(チップ・マウント)する。
図2(c)のワイヤーボンド工程では、既知のワイヤーボンディング装置を用い、例えばボールボンディング方式で、各受光素子52をワイヤーボンドする。
図2(d)の封止工程では、パッケージ基板51の表面全域に封止樹脂53のポッティングを行う。言うまでもないが、このポッティングでは、封止樹脂53に受光素子52およびボンディングワイヤー55が埋没する深さとする。その後、ポッティングした封止樹脂53を、オーブン加熱等により硬化させる。
図2(c)のワイヤーボンド工程では、既知のワイヤーボンディング装置を用い、例えばボールボンディング方式で、各受光素子52をワイヤーボンドする。
図2(d)の封止工程では、パッケージ基板51の表面全域に封止樹脂53のポッティングを行う。言うまでもないが、このポッティングでは、封止樹脂53に受光素子52およびボンディングワイヤー55が埋没する深さとする。その後、ポッティングした封止樹脂53を、オーブン加熱等により硬化させる。
図2(e)の溝形成工程では、既知のダイサを用い、研削刃71aが断面台形状(逆台形状)に形成された台形溝用のダイシングブレード71によりハーフダイシングを行って、充填溝57を形成する。具体的には、受光素子52同士の境界となるダイシングラインに沿って、台形溝用のダイシングブレード71により、縦横にハーフダイシングを行う。また、この場合のハーフダイシングは、パッケージ基板51に達する深さとする(パッケージ基板51の表面が研削されても可)。
この充填溝57は、後述するように遮光樹脂54を画成するものであり、ダイシングブレード71(の研削刃71a)に倣って、断面逆台形状に形成される。また、充填溝57の形成により、封止樹脂53は断面台形状となる。なお、この台形溝用のダイシングブレード71により、遮光樹脂54の内面の傾斜角度が確定するため、予めこの傾斜角度(ひいては、受光開口部56の大きさ )を考慮して、ダイシングブレード71を製作することとなる。もっとも、台形溝用のダイシングブレード71は、完全な断面台形状である必要はなく、両辺が断面円弧状等であってもよい。
図2(f)(g)の樹脂充填工程では、ディスペンサ72を用い、形成した充填溝57に遮光樹脂54をポッティングする。このポッティングは、封止樹脂53と同じ高さとなるように行い(充填)、ポッティング後、オーブン加熱等によりこれを硬化させて、遮光樹脂54を形成する。これにより、縦横のダイシングラインに沿って、断面逆台形状の遮光樹脂54が形成される。
図2(h)のダイシング工程では、既知のダイサを用い、受光デバイス10Aをマトリクス状に作り込んだウェーハを、ダイシングブレード73で縦横に分断(フルダイシング)し、個々の受光デバイス10Aを切り出す。これにより、個々の受光デバイス10Aにおいて、断面逆台形状の遮光樹脂54の部分が半割となって、受光素子52およびボンディングワイヤー55をあり溝の形状で囲繞する形態となる。
このように、第1実施形態の受光デバイス10Aの製造方法では、封止樹脂53に縦横の充填溝57を形成すると共に、この充填溝57に遮光樹脂54を充填することで、受光素子52の周囲に、遮光壁となる遮光樹脂54を簡単に作り込むことができる。しかも、充填溝57が断面逆台形状に形成されるため、これに対応する透明な封止樹脂53は、受光素子52およびボンディングワイヤー55を包含した状態で、受光開口部56を狭く形成することができる。すなわち、遮光樹脂54を、封止樹脂53に対しオーバーハングするようなあり溝形状に、簡単に形成することができる。また、遮光樹脂54をあり溝形状とすることで、受光デバイス10Aに、レンズ等を付加することなく十分な指向性を持たせることができると共に、不要なノイズ光を遮蔽することができる。
図3は、第2実施形態に係る受光デバイス10Bの断面図であり、以下、主に第1実施形態の受光デバイス10Aと異なる部分について説明する。同図に示すように、第2実施形態の受光デバイス10Bは、第1実施形態と同様のパッケージ基板51および受光素子52と、受光素子52を封止する透光性の封止樹脂53と、受光素子52を囲繞してノイズ光を遮光する遮光樹脂54と、を備えている。
この場合の封止樹脂53は、パッケージ基板51上の受光素子52およびボンディングワイヤー55を封止すると共に、全体としてパッケージ基板51側が広く表面側が狭い凸形状に形成されている。これに対応して、遮光樹脂54は、断面逆「L」字状の部位を、間隙を存して対向させた断面形状、すなわち内側が封止樹脂53と相補的形状に形成されている。これにより、遮光樹脂54は、受光素子52に対しオーバーハングするようなあり溝形状となる。したがって、受光素子52に入射する光は、遮光樹脂54により絞り込まれた受光開口部56(封止樹脂53の頂部)からのみ入射する。なお、遮光樹脂54の厚みは、遮光機能が損なわれないように、0.1mm厚以上とすることが好ましい。
次に、図4を参照して、このように構成された第2実施形態に係る受光デバイス10Bの製造方法について、主に第1実施形態と異なる部分について説明する。
この場合も、第1実施形態と同様に、パッケージ基板51(同図(a))に複数の受光素子52をダイボンドするダイボンド工程(同図(b))と、各受光素子52をワイヤーボンドするワイヤーボンド工程(同図(c))と、パッケージ基板51上の複数の受光素子52を、封止樹脂53により封止する封止工程(同図(d))と、受光素子52同士の境界に沿って、封止樹脂53に充填溝57を形成する溝形成工程(同図(e)および(f))と、充填溝57に、遮光樹脂54を充填する樹脂充填工程(同図(g)および(h))と、ウェーハを個々の受光デバイス10Bに分断するダイシング工程(同図(i))と、を備えている。
この場合も、第1実施形態と同様に、パッケージ基板51(同図(a))に複数の受光素子52をダイボンドするダイボンド工程(同図(b))と、各受光素子52をワイヤーボンドするワイヤーボンド工程(同図(c))と、パッケージ基板51上の複数の受光素子52を、封止樹脂53により封止する封止工程(同図(d))と、受光素子52同士の境界に沿って、封止樹脂53に充填溝57を形成する溝形成工程(同図(e)および(f))と、充填溝57に、遮光樹脂54を充填する樹脂充填工程(同図(g)および(h))と、ウェーハを個々の受光デバイス10Bに分断するダイシング工程(同図(i))と、を備えている。
但し、この場合の溝形成工程は、封止樹脂53に、断面「T」字状の水平片に相当する浅溝57aを形成する浅溝形成工程(同図(e))と、断面「T」字状の垂直片に相当する深溝57bを形成する深溝形成工程(同図(f))と、を有している。
図4(e)の浅溝形成工程では、研削刃75aが、幅広であって断面矩形状の第1のダイシングブレード75により、ハーフダイシングを行って、封止樹脂53に浅溝57a(充填溝57の一部)を形成する。具体的には、受光素子52同士の境界となるダイシングラインに沿って、矩形溝用の第1のダイシングブレード75により、縦横に浅くハーフダイシングを行う。
図4(f)の深溝形成工程では、研削刃76aが幅狭であって断面矩形状の第2のダイシングブレード76により、ハーフダイシングを行って、封止樹脂53に深溝57b(充填溝57の一部)を形成する。具体的には、受光素子52同士の境界となるダイシングラインに沿って、矩形溝用の第2のダイシングブレード76により、縦横に深くハーフダイシングを行う。また、このハーフダイシングは、パッケージ基板51に達する深さとする(パッケージ基板51の表面が研削されても可)。
このように、浅溝形成工程および深溝形成工程から成る溝形成工程により、封止樹脂53に、縦横のダイシングラインに沿った断面「T」字状の充填溝57が形成される。この充填溝57は、断面「T」字状の水平片の部分が幅狭で垂直片の部分が幅広の断面「T」字状の形態となる。なお、深溝形成工程を先に、浅溝形成工程を後に実施してもよい。また、充填溝57は、ほぼ断面「T」字状であればよく、例えば最終的に遮光樹脂54と封止樹脂53とが接する面が、傾斜面や湾曲面となってもよい。
続く樹脂充填工程(同図(g)および(h))では、第1実施形態と同様に、充填溝57にポッティングを行って、縦横のダイシングラインに沿った断面「T」字状の遮光樹脂54を形成する。そして、ダイシング工程(同図(i))では、受光デバイス10Bを作り込んだウェーハを、ダイシングブレード73で縦横に分断(フルダイシング)し、個々の受光デバイス10Bを得る。これにより、個々の受光デバイス10Bにおいて、断面「T」字状の遮光樹脂54の部分が半割となって、受光素子52およびボンディングワイヤー55をあり溝の形状で囲繞する形態となる。
このように、第2実施形態の受光デバイス10Bの製造方法でも、第1実施形態と同様に、受光素子52の周囲に、遮光壁となるあり溝形状の遮光樹脂54を簡単に作り込むことができる。また、受光デバイス10Bに十分な指向性を持たせることができると共に、不要なノイズ光を遮蔽することができる。
図5は、実施形態に係る半導体発光デバイス(以下、「発光デバイス」と言う)の断面図である。図5(a)の発光デバイス20Aは、第1実施形態の受光デバイス10A(図1参照)に対応するものであり、この場合には、パッケージ基板51上に受光素子52に代えて、発光素子61がチップ・マウントされている。そして、この発光デバイス20Aにおいて、その封止樹脂53や遮光樹脂54は、第1実施形態の受光デバイス10Aと同様の形態を有している。よって、ここでは、構造の詳細な説明は省略するが、この場合の遮光樹脂54は、狭い発光開口部62を形成し、指向性を有する光を放射する機能と、放射光を効率良く取り出す機能とを奏する。
また、図5(a)の発光デバイス20Aの製造方法は、第1実施形態の受光デバイス10Aの製造方法(図2参照)と同様である。よって、製造方法の詳細な説明は省略するが、この場合には、ダイボンド工程(図2(b))において、発光素子61をチップ・マウントする。
同様に、図5(b)の発光デバイス20Bは、第2実施形態の受光デバイス10B(図3参照)に対応するものであり、この場合にも、受光素子52ではなく発光素子61がチップ・マウントされている。そして、この発光デバイス20Bにおいても、その封止樹脂53や遮光樹脂54は、第2実施形態の受光デバイス10Bと同様の形態を有している。但し、遮光樹脂54は、狭い発光開口部62を形成している。また、図5(b)の発光デバイス20Bの製造方法は、第2実施形態の受光デバイス10Bの製造方法(図4参照)と同様である。よって、ここでは、構造や製造方法の詳細な説明は省略する。
このような発光デバイス20A,20Bの製造方法でも、封止樹脂53に縦横の充填溝57を形成すると共に、この充填溝57に遮光樹脂54を充填することで、発光素子61の周囲に、遮光壁となるあり溝形状の遮光樹脂54を簡単に作り込むことができる。すなわち、遮光樹脂54を、封止樹脂53に対しオーバーハングするようなあり溝形状に、簡単に形成することができる。また、発光デバイス20A,20Bに十分な指向性を持たせることができると共に、発光素子61からの放射光を効率良く取り出すことができる。
図6は、実施形態に係る半導体受発光デバイス(以下、「受発光デバイス」と言う)の断面図である。図6(a)の受発光デバイス30Aは、図1の受光デバイス10A(第1実施形態)と、図5(a)の発光デバイス20Aと、を一体化して構成されている。この場合の封止樹脂53は、受光素子52および発光素子61にそれぞれ対応して設けられ、同様に遮光樹脂54も、受光素子52および発光素子61にそれぞれ対応して設けられている。但し、受光素子52と発光素子61との境界部分おいて、遮光樹脂54およびパッケージ基板51は一体化されている。
この受発光デバイス30Aの製造方法では、ダイボンド工程(図2(b)参照)において、隣り合う受光素子52と発光素子61とを対とすべく、これら素子52,61を交互にチップ・マウントする。また、ダイシング工程(図2(h)参照)において、隣り合う受光デバイス10Aと発光デバイス20Aとが対となる(個々の受発光デバイス30Aとなる)ように、ダイシングを行う。
同様に、図6(b)の受発光デバイス30Bは、図3の受光デバイス10B(第2実施形態)と、図5(b)の発光デバイス20Bと、を一体化して構成されている。この場合も、封止樹脂53は、受光素子52および発光素子61にそれぞれ対応して設けられ、同様に遮光樹脂54も、受光素子52および発光素子61にそれぞれ対応して設けられている。但し、受光素子52と発光素子61との境界部分おいて、遮光樹脂54およびパッケージ基板51は一体化されている。
この受発光デバイス30Bの製造方法でも、ダイボンド工程(図4(b)参照)において、隣り合う受光素子52と発光素子61とを対とすべく、これら素子を交互にチップ・マウントする。また、ダイシング工程(図4(i)参照)において、隣り合う受光デバイス10Bと発光デバイス20Bとが対となる(個々の受発光デバイス30Bとなる)ように、ダイシングを行う。
このような受発光デバイス30A,30Bでも、封止樹脂53に縦横の充填溝57を形成すると共に、この充填溝57に遮光樹脂54を充填することで、受光素子52および発光素子61の周囲に、それぞれあり溝形状の遮光樹脂54を簡単に作り込むことができる。また、受光素子52側および発光素子61側にそれぞれ十分な指向性を持たせることができる。さらに、受光素子52側では不要なノイズ光を遮蔽することができる一方、発光素子61側では放射光を効率良く取り出すことができる。さらに、受光素子52と発光素子61との相互間において、光の回り込みを極力少なくすることができる。
なお、本発明の半導体デバイスの製造方法は、スマートフォン(携帯端末)の近接センサー以外の各種光センサやLED等の半導体部品にも適用可能である。
10A,10B 受光デバイス、20A,20B 発光デバイス、30A,30B 受発光デバイス、51 パッケージ基板、52 受光素子、53 封止樹脂、54 遮光樹脂、55 ボンディングワイヤー、56 受光開口部、57 充填溝、57a 浅溝、57b 深溝、61 発光素子、62 発光開口部、71 台形溝用のダイシングブレード、71a 研削刃、73 ダイシングブレード、75 第1のダイシングブレード、75a 研削刃、76 第2のダイシングブレード、76a 研削刃、
Claims (11)
- パッケージ基板上にダイボンドおよびワイヤーボンドされた複数の半導体光学素子を透光性の封止樹脂で封止する封止工程と、
前記半導体光学素子同士の境界に沿って、前記封止樹脂に充填溝を形成する溝形成工程と、
前記充填溝に、非透光性の遮光樹脂を充填する樹脂充填工程と、を備え、
前記充填溝は、開口部が溝底部に対し広い断面形状に形成されることを特徴とする半導体デバイスの製造方法。 - 前記境界に沿って、前記半導体光学素子単位でフルダイシングを行うダイシング工程を、更に備えたことを特徴とする請求項1に記載の半導体デバイスの製造方法。
- 前記半導体光学素子が、受光素子、発光素子、および受光素子と発光素子とを対とした受発光素子、のいずれかであることを特徴とする請求項1または2に記載の半導体デバイスの製造方法。
- 前記充填溝は、断面逆台形状であることを特徴とする請求項1ないし3のいずれかに記載の半導体デバイスの製造方法。
- 前記溝形成工程では、
研削刃が断面台形状に形成されたダイシングブレードによるハーフダイシングにより、前記充填溝を形成することを特徴とする請求項4に記載の半導体デバイスの製造方法。 - 前記充填溝は、断面「T」字状であることを特徴とする請求項1ないし3のいずれかに記載の半導体デバイスの製造方法。
- 前記溝形成工程では、
研削刃が断面矩形状の第1のダイシングブレードによるハーフダイシングにより、断面「T」字状の水平片に相当する浅溝を形成すると共に、
研削刃が断面矩形状の第2のダイシングブレードによるハーフダイシングにより、断面「T」字状の垂直片に相当する深溝を形成することを特徴とする請求項6に記載の半導体デバイスの製造方法。 - 前記溝形成工程では、
前記溝底部が、前記パッケージ基板に達するように前記充填溝を形成することを特徴とする請求項1ないし7のいずれかに記載の半導体デバイスの製造方法。 - 前記封止工程および前記樹脂充填工程が、ポッティングで行われることを特徴とする請求項1ないし8のいずれかに記載の半導体デバイスの製造方法。
- 請求項2に記載の半導体デバイスの製造方法により製造されたことを特徴とする半導体デバイス。
- 前記半導体光学素子が、受光素子、発光素子、および受光素子と発光素子とを対とした受発光素子、のいずれかであることを特徴とする請求項10に記載の半導体デバイス。
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