JP2014075480A - 光学デバイス及び光学デバイスの製造方法 - Google Patents

光学デバイス及び光学デバイスの製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】光学デバイス1の光学活性領域Rが形成される光学チップ3の表面TPと透光性基板5との間隔を狭く形成し、全体の厚さの薄い光学デバイス1を簡単な工程で製造する。
【解決手段】光学デバイス1は、ベース基板2と、ベース基板2に実装され、ベース基板2とは反対側の表面TPに光学活性領域Rを有する光学チップ3と、表面TPの光学活性領域Rよりも外周側に設置される突起金属4と、突起金属4の上に設置される透光性基板5と、ベース基板2と透光性基板5の間であり、光学チップ3の周囲に設置される樹脂層6と、を備える。
【選択図】図1

Description

本発明は、可視光の光を発光し又は検出する光学デバイス及びその製造方法に関する。
フォトダイオードや発光ダイオードを用いた光学デバイスが実用化されている。例えば、照明装置の自動点灯制御、液晶ディスプレイのバックライトの明るさの制御、携帯電話のキーパッドのバックライト制御、監視カメラの暗視野切り替え制御等の分野で光検知の手段とし使用されている。また、発光素子と組み合わせて近接センサを構成し、物体の有無や距離の測定にも使用されている。
図7は、この種の光学デバイスのパッケージ構造30を示す断面模式図である(特許文献1の図3)。ベースとなるセラミック基板31には固体撮像素子32が搭載される。セラミック基板31は3層又はそれ以上の多層構造をなし、層間に所定本数の導電膜33aがパターン形成される。各々の導電膜33aの一端はセラミック基板31上の固体撮像素子32の周辺部に近接配置され、そこに固体撮像素子32の電極部から引き出されたボンディングワイヤ34が接続される。一方、各々の導電膜33aの他端はセラミック基板31の外側面に露出しており、その露出部分に側面導電膜33bが形成される。そして、各々の側面導電膜33bにリード端子35がセラミック基板31の裏側方向に垂直に伸びるようにろう付けされる。さらに、セラミック基板31の上端部にはシールガラス36が接合され、シールガラス36によって固体撮像素子32が気密封止される。
図8は、他の光学デバイスのパッケージ構造を示す断面模式図である(特許文献1の図2)。固体撮像装置41は、主にベース基板42、固体撮像素子43、樹脂枠44及び透明板45から構成される。ベース基板42はセラミック基板からなる平板構造を成す。固体撮像素子43はCCD素子からなりベース基板42の中央部に実装される。ベース基板42の両側は平面視半円状の凹部46が所定の間隔で形成される。ベース基板42の上には各々の凹部46面を経由して断面コの字形の厚膜導電材料からなる導電膜47が形成される。導電膜47の一端部47aは固体撮像素子43の周辺部に近接配置され、導電膜47の他端部47bはベース基板42の素子実装面とは反対側の面に延出し、その延出部分を基板表面に露出させて外部接続用の電極部とする。固体撮像素子43の上面周縁部には複数の電極部が形成され、この電極部と一端部47aはボンディングワイヤ48により接続される。樹脂枠44はベース基板42上の固体撮像素子43を取り囲むように形成される。透明板45はベース基板42の素子実装面との間に所定の空間を確保した状態で、樹脂枠44の上端部に接合される。これにより、従来の中空パッケージ構造に比較して製造工程が大幅に簡略化されることが記載されている。
特開平10−144898号公報
図7に示される光学デバイスのパッケージ構造30では、多層構造のセラミック基板に階段状の凹部を形成し、その凹部の底面に固体撮像素子32を実装して気密封止用の空間を確保している。そのため、セラミック基板31の製造工程が煩雑になり、セラミック基板31の材料費や加工費が高くなる、という課題があった。
また、図8に示される固体撮像装置41のパッケージ構造では、樹脂枠44の上端部を平坦に形成し、透明板45とベース基板42との間に形成される中空部を気密封止するのは難しい。つまり、透明板45をベース基板42側に押圧しながら加熱すると、樹脂枠44は軟化して所定の高さの中空部を形成することが困難となる。また、樹脂枠44として熱硬化型樹脂に代えて紫外線硬化型樹脂を使用すると、紫外線をカットするフィルター機能を有する透明板45を使用することができなくなる。
本発明は上記課題に鑑みてなされたものであり、フィルター機能を有する透光性基板を使用することができ、簡単な工程で製造することができ、高気密性を有する光学デバイス及びその製造方法を提供することを目的とする。
本発明の光学デバイスは、ベース基板と、前記ベース基板に実装され、前記ベース基板とは反対側の表面に光学活性領域を有する光学チップと、前記表面の前記光学活性領域よりも外周側に設置される突起金属と、前記突起金属の上に設置される透光性基板と、前記ベース基板と前記透光性基板の間であり、前記光学チップの周囲に設置される樹脂層と、を備えることとした。
また、前記透光性基板は前記光学チップの側に金属膜を備え、前記金属膜と前記突起金属とが接合されることとした。
また、前記樹脂層は光を透過しない遮光性樹脂層であり、前記遮光性樹脂層は、前記光学チップの外周側面を覆うこととした。
前記光学チップの表面と前記透光性基板との間であり、前記光学活性領域の周囲に設置される土手を有することとした。
また、前記光学チップの表面の前記光学活性領域よりも外周側に電極パッドが形成され、前記突起金属はスタッドバンプを含み、前記電極パッドの上に設置されることとした。
また、前記突起金属は、前記電極パッドの上に設置されるボールバンプを含むこととした。
また、前記突起金属は、前記電極パッドの上に設置されるウエッジボンディング部を含むこととした。
また、前記ベース基板の表面から反対側の裏面に設置される実装電極と、前記実装電極と前記突起金属との間に設置される金属ワイヤーと、を備えることとした。
また、前記透光性基板は特定の光の波長を透過する光学フィルター板であることとした。
本発明の光学デバイスの製造方法は、表面から反対側の裏面に実装電極が形成されるベース基板を準備するベース基板準備工程と、表面に光学活性領域と前記表面の前記光学活性領域よりも外周側に電極パッドとを有する光学チップを前記ベース基板に設置する光学チップ設置工程と、前記電極パッドの上に突起金属を形成する突起金属形成工程と、
透光性基板を前記突起金属の上に設置する透光性基板設置工程と、前記ベース基板と前記透光性基板の間に樹脂材を充填し、前記光学チップの周囲を前記樹脂材により囲む樹脂材充填工程と、前記樹脂材を固化して樹脂層を形成する樹脂材固化工程と、を備えることとした。
また、前記光学チップ設置工程は、一枚の前記ベース基板に複数の前記光学チップを設置する工程であり、前記樹脂材充填工程は、前記透光性基板又は前記ベース基板の板厚方向に貫通する貫通部から前記樹脂材を充填する工程であり、前記樹脂材固化工程の後に、個々の光学デバイスに切断分離する切断分離工程を備えることとした。
また、前記光学チップと前記透光性基板の間であり、前記電極パッドと前記光学活性領域との間に前記光学活性領域を囲う土手を形成する土手形成工程を備えることとした。
また、前記透光性基板接着工程の後に、隣接する前記光学チップの間の前記透光性基板を切削して前記貫通部を形成する透光性基板切削工程を備えることとした。
また、前記透光性基板の光学チップ側の表面に金属膜を形成する金属膜形成工程を備え、前記透光性基板設置工程は、前記突起金属と前記金属膜とを接合する工程を含むこととした。
また、前記突起金属形成工程は、前記実装電極と前記電極パッドの間を金属ワイヤーにより電気的に接続する工程を含むこととした。
また、前記突起金属形成工程は、前記電極パッドの上にボールバンプを形成し、前記ボールバンプの上にスタッドバンプを形成する工程を含むこととした。
また、前記突起金属形成工程は、前記電極パッドの上にウエッジボンディング部を形成し、前記ウエッジボンディング部の上にスタッドバンプを形成する工程を含むこととした。
本発明の光学デバイスは、ベース基板と、ベース基板に実装され、ベース基板とは反対側の表面に光学活性領域を有する光学チップと、当該表面の光学活性領域よりも外周側に設置される突起金属と、突起金属の上に設置される透光性基板と、ベース基板と透光性基板の間であり、光学チップの周囲に設置される樹脂層と、を備える。これにより、光学チップの光学活性領域が形成される表面と透光性基板との間隔を狭く形成することが容易となり、光学デバイスの全体の厚さを薄くすることができる。また、紫外線硬化型の樹脂材料を使用する必要がないので透光性基板として紫外線カット型の光学フィルター基板を使用することができる。また、簡単な工程で製造することができるので光学デバイスを低コストで提供することができる。
本発明の光学デバイスの基本構成を表す断面模式図である。 本発明の第一実施形態に係る光学デバイスの説明図である。 本発明の第二実施形態に係る光学デバイスの断面模式図である。 本発明の第三実施形態に係る光学デバイスの製造方法を表す流れ図である。 本発明の第三実施形態に係る光学デバイスの製造方法の各工程の説明図である。 本発明の第四実施形態に係る光学デバイスの製造方法を説明するための図である。 従来公知の光学デバイスのパッケージ構造を示す断面模式図である。 従来公知の光学デバイスのパッケージ構造を示す断面模式図である。
(光学デバイスの基本構成)
図1は、本発明の光学デバイス1の基本構成を表す断面模式図である。光学デバイス1は、ベース基板2と、ベース基板2に実装される光学チップ3と、光学チップ3の表面TPに設置される突起金属4と、突起金属4の上に設置される透光性基板5と、ベース基板2と透光性基板5の間であり、光学チップ3の周囲に設置される樹脂層6とを備える。ここで、光学チップ3は、ベース基板2とは反対側の表面に光学活性領域Rを有し、この光学活性領域Rの外周側に突起金属4が設置される。
光学チップ3は、フォトダイオードやイメージセンサなどからなる受光素子や、LEDなどの発光素子が形成されるベアーチップを使用することができる。突起金属4は、ベアーチップ上の電極パッドの上に形成するバンプ電極を利用することができる。また、電極機能を有しない金属パッドの上に形成するものであってもよい。バンプ電極はメッキ法やワイヤーボンディング法により形成することができるが、後に説明するように、ワイヤーボンディング法によれば必要な個所に短時間で高く形成することができる。そのため、厚く(高く)形成するのに時間を要するメッキ法よりも有利である。
ベース基板2は、ソーダ石灰ガラス、硬質ガラス、石英ガラスなどのガラス材料、エポキシ系樹脂、アクリル系樹脂、ポリイミド系樹脂、アラミド不織布などからなる合成樹脂材料、セラミックス材料等を使用することができる。例えば、エポキシ樹脂にガラス繊維を混入したガラスエポキシ基板を使用すれば光学デバイス1を低コストで形成することができる。樹脂層6は、黒色顔料等を分散又は混入した遮光性を有する熱硬化型樹脂を使用することができる。そのため、横方向や背面方向からのノイズ光の影響を受けない光学デバイス1を形成することができる。
このように、光学チップ3の表面TPと透光性基板5の間隙の制御は突起金属4が担い、光学チップ3の光学活性領域Rの封止は樹脂層6が担うようにしたので、光学チップ3の表面TPと透光性基板5との間隙を狭く形成することが容易となり、光学デバイス1の全体の厚さを薄く、かつ、気密性を向上させることができる。また、紫外線硬化型の樹脂を使用する必要がないので、透光性基板5として紫外線カット型の光学フィルター基板を使用することができる。以下、本発明について実施形態に基づいて具体的に説明する。
(第一実施形態)
図2は、本発明の第一実施形態に係る光学デバイス1の説明図であり、図2(a)が断面模式図であり、図2(b)が透光性基板5を取り除いた平面模式図である。光学デバイス1は、ベース基板2と、ベース基板2に実装される光学チップ3と、光学チップ3の表面TPに設置される突起金属4と、突起金属4の上に設置される透光性基板5と、ベース基板2と透光性基板5の間であり、光学チップ3の周辺に設置される樹脂層6とを備える。光学チップ3はベース基板2とは反対側の表面TPの中央に光学活性領域Rを有し、突起金属4は光学活性領域Rよりも外周側に設置される。
光学チップ3の表面TPと透光性基板5の間であり、突起金属4と光学活性領域Rの間には土手7が設置され、土手7は光学活性領域Rの周囲を囲んでいる。樹脂層6は、光を透過しない遮光性を有する熱硬化型の樹脂層からなり、光学デバイス1の外側面から土手7の間であり光学チップ3の外周の側面SPを覆うようにベース基板2と透光性基板5の間に充填される。土手7を設置したことにより、樹脂層6を形成する際に充填される樹脂材が光学活性領域Rに侵入するのが防止される。また、樹脂層6を介して光学活性領域Rに外部から光が進入する、或いは外部に光が漏れ出すノイズ光を遮蔽することができる。また、光学チップ3の側面SPが遮光性樹脂により覆わるので、光学チップ3の表面に形成される図示しない絶縁膜等を通して光が進入し或いは漏れ出すことを防止する。
光学チップ3は、表面TPの光学活性領域Rよりも外周側の四隅近傍に電極パッド10を備える。各電極パッド10の上にはボールバンプ13が設置され、ボールバンプ13の上にスタッドバンプ14が設置され、突起金属4が形成される。透光性基板5は、光学チップ3の側の突起金属4に対向する位置に金属膜11を備え、金属膜11と突起金属4とは接合される。また、ベース基板2には光学チップ3側の表面から反対側の裏面にかけて貫通する実装電極8が形成される。各実装電極8は、電極パッド10の近くであり、光学チップ3よりも外周側に設置され、各突起金属4と金属ワイヤー9を介してそれぞれ電気的に接続される。実装電極8として、例えばAg、Au系の貴金属ペーストやCu、Ni系の卑金属ペーストといったいわゆる厚膜導体材料を使用することができる。また、Cuを電界メッキ又は無電解メッキにより形成してもよい。
このように、透光性基板5と光学チップ3の表面TPとの間に突起金属4が介在するので、透光性基板5と光学チップ3の表面TPとの間隔を精度良く制御することができる。例えば、金属ワイヤー9として直径が25μmのAu線を使用したとき、ボールバンプ13とスタッドバンプ14のそれぞれの高さは60μm〜80μmとなる。従って、突起金属4の高さ、即ち光学チップ3の表面TPと透光性基板5との間隔を120μm〜160μmとすることができる。Au線の径や突起金属4と金属膜11との接合時の圧力(ベース基板2を透光性基板5に相対的に加圧する。)を制御することによりこの間隔を調整することができる。突起金属4は、実装電極8と電極パッド10との間のワイヤーボンディングの際に形成されるボールバンプ13と、その上のスタッドバンプ14により形成される。そのため、製造工程数を大幅に増加させる必要がない。また、金属ワイヤー9は樹脂層6の中にモールドされるので腐食等に基づく断線或いは水分等に基づく短絡を防止することができる。
なお、ベース基板2としてガラスエポキシ基板を使用すれば光学デバイス1を低コストで形成できる。透光性基板5として光学フィルター板を使用することができる。樹脂層6として熱硬化型樹脂を使用するので、紫外線カット型の光学フィルター板を使用することができる。光学フィルター板は、内部にCu、Fe、Moを添加したリン酸塩ガラスを用いることができる。また、透明基板の表面に光干渉膜を多層に形成した光干渉フィルター板を用いることができる。光学チップ3は受光素子でも発光素子でもよい。
土手7はUV又は熱硬化型樹脂を使用することができる。土手7は、透光性基板5に達しない高さであっても、樹脂層6が光学活性領域R側に流入するのを防止できればよい。また、土手7は光学チップ3に設置することに代えて透光性基板5に設置してもよい。電極パッド10及び金属膜11はAu、Ag、Pt、Cu、Cr等の金属材料をスパッター法、蒸着法、印刷法、或いはディスペンス法により形成することができる。電極パッド10及び金属膜11は、例えば、厚さ600ÅのCr、その上に厚さ2000ÅのNi、その上に厚さ1500ÅのAuの積層構造とすることができる。また、金属膜11はナノ銀を印刷法やディスペンス法により基板表面に直接塗布して形成することができる。ボールバンプ13やスタッドバンプ14はAu、Cu、半田等を使用することができる。また、実装電極8は、ベース基板2を貫通する電極に代えて、ベース基板2の外周側面をコの字状に折り曲げて裏面側に引き回してもよい。
(第二実施形態)
図3は、本発明の第二実施形態に係る光学デバイス1の断面模式図である。第一実施形態と異なる点は、突起金属4の構造であり、その他の構成は第一実施形態と同様である。従って、主に異なる点について説明する。同一の部分又は同一の機能を有する部分には同一の符号を付している。
突起金属4は、電極パッド10の上に設置されるウエッジボンディング部15と、ウエッジボンディング部15の上に設置されるスタッドバンプ14から構成される。ウエッジボンディング部15は金属ワイヤー9の一方の端部を電極パッド10の上に直接接合し、他方の端部を実装電極8に接続する。そして、ウエッジボンディング部15の上にスタッドバンプ14を重ねて形成する。例えば、金属ワイヤー9として直径が25μmのAu線を使用したとき、ウエッジボンディング部15は略20μmの高さに形成することができる。そのため、突起金属4は高さが80μ〜100μmとなり、光学チップ3の表面TPと透光性基板5との間隔を一層狭く形成することが可能となる。その結果、光学デバイス1をより一層薄く形成することができる。その他の構成及び特徴は第一実施形態と同様なので、説明を省略する。
(第三実施形態)
図4及び図5は、本発明の第四実施形態に係る光学デバイス1の製造方法を説明するための図であり、図4が光学デバイス1の製造方法を表す流れ図であり、図5が各工程の説明図である。同一の部分又は同一の機能を有する部分には同一の符号を付している。
ベース基板準備工程S1において、図5(a)に示すように、表面から裏面にかけて導通する実装電極8が形成されるベース基板2を準備する。ベース基板2としてガラスエポキシ基板を使用する。ベース基板2の外周近傍に貫通電極8’を形成し、更に表面及び裏面にCuメッキ、Niメッキ、及びAuフラッシュメッキを行って表面及び裏面に実装電極8を形成する。実装電極8は、メッキ法に代えて、スパッター法、蒸着法、印刷法或いはインクジェット法等により形成することができる。
次に、光学チップ設置工程S2において、図5(b)に示すように、光学チップ3の表面TPに光学活性領域Rと光学活性領域Rよりも外周側に電極パッド10とを有する光学チップ3を、接着剤を介してベース基板2に設置し、固定する。光学チップ3としてフォトダイオードが形成される半導体のベアーチップを用いる。
次に、土手設置工程S3において、図5(c)に示すように、光学チップ3の電極パッド10と光学活性領域Rとの間に光学活性領域Rを囲う土手7を形成する。具体的には、電極パッド10と光学活性領域Rとの間の光学チップ3の表面TPに光学活性領域Rの周囲を囲う土手7を形成する。土手7はUV又は熱硬化型樹脂を使用し、その高さはこの後形成する突起金属4の高さと同程度、或いは突起金属4の高さよりも低く形成する。土手7は印刷法やディスペンス法により塗布することができる。また、土手の形状をした樹脂フィルムを張り付けてもよい。
次に、突起金属形成工程S4において、図5(d)に示すように、電極パッド10の上に突起金属4を形成する。まず、金属ワイヤー9を用いて電極パッド10の上にボールボンディングを行ってボールバンプ13を形成し、ボールバンプ13に接続する金属ワイヤー9を実装電極8にワイヤーボンディングを行う。これにより、電極パッド10と実装電極8が電気的に接続される。更に、同じ金属ワイヤーを使用してボールバンプ13の上にスタッドバンプ14を形成する。金属ワイヤー9として直径が25μmのAu線を使用すれば、突起金属4の高さを120μm〜160μmとすることができる。金属ワイヤー9は、Au線の他に他の金属を使用することができる。ボールバンプ13及びスタッドバンプ14は、Auの他に鉛半田等の他の金属を使用することができる。
次に、金属膜形成工程において、透光性基板5の光学チップ3側の表面であり、光学チップ3の突起金属4に対応する位置に金属膜11を形成する。そして、透光性基板設置工程S5において、図5(e)に示すように、ベース基板2の裏面を保持手段16に吸着して反転し、突起金属4を透光性基板5の金属膜11に設置する(金属膜11が形成される透光性基板5を突起金属4の上に設置する。)。つまり、突起金属4を透光性基板5の金属膜11にフリップチップ実装する。この場合に、保持手段16に超音波振動を印加し突起金属4と金属膜11とを超音波接合する、また、保持手段16を加熱して突起金属4と金属膜11とを加熱溶融接合する、或いは超音波振動を印加し同時に加熱して接合することができる。また、接合の際にベース基板2を透光性基板5側に所定の圧力で押圧することができる。透光性基板5に形成する金属膜11は突起金属4と接合しやすい金属膜とする。例えば、突起金属4の先端がAuである場合には、金属膜11としてAu/Ni/Crの積層膜とすることができる。フリップチップ実装後の土手7は、その上面が透光性基板5の表面に達する高さにあらかじめ設定しておく。また、土手7の高さは透光性基板5に達しなくともよい。要は、この後の工程でベース基板2と透光性基板5の間に樹脂材を充填したとき、或いは樹脂材を硬化するときに樹脂材が光学活性領域Rに侵入するのを防止できればよい。
次に、樹脂材充填工程S6において、図5(f)に示すように、ベース基板2と透光性基板5の間に樹脂材17を充填し、光学チップ3の周囲を樹脂材17により囲む。樹脂材17は、熱硬化型樹脂からなり、黒色顔料等が分散又は混入して遮光性を有する。樹脂材17は、土手7の外周に達するように充填してもよいし、土手7の外周まで達しなくてもよい。しかし、光学チップ3の側面SPを遮光性の樹脂材17により覆うことにより、光学活性領域Rに侵入するノイズ光を遮蔽することができる。次に、樹脂材固化工程S7において、樹脂材17を固化して樹脂層6を形成する。なお、樹脂材17として熱硬化型樹脂を用いたが、常温硬化性樹脂を用いてもよい。
以上の製造工程において、土手7を透光性基板5に形成してもよい。透光性基板5を突起金属4に設置したときに光学活性領域Rを囲む位置となる透光性基板5の表面に、予め土手7を形成しておく。土手7として樹脂材料を印刷法やディスペンス法により塗布する、また樹脂シートを貼り付ける、或いは透光性基板5を加工して土手7となる凸部を形成しておくことができる。また、突起金属形成工程S4において、電極パッド10の上にウエッジボンディングによりウエッジボンディング部15を形成し、その上にスタッドバンプ14を形成してもよい。ウエッジボンディングの際には実装電極8と金属ワイヤー9により接続する。
以上の通り、突起金属4は、電極パッド10と実装電極8との間のワイヤーボンディングの際に形成されるボールバンプ13を利用するので、簡単な工程で形成することができる。また、光学チップ3の表面TPに突起金属4を設置するので光学チップ3と透光性基板5との間の間隔を狭く形成でき、全体の厚さの薄い光学デバイス1を容易に製造することができる。
(第四実施形態)
図6は、本発明の第四実施形態に係る光学デバイス1の製造方法を説明するための図である。本実施形態は光学デバイス1の多数個取りの製造方法であり、基本的な工程は第三実施形態と同様である。従って、主に第三実施形態と異なる工程について説明し、同一の工程については簡略化して説明する。同一の部分又は同一の機能を有する部分には同一の符号を付している。
まず、ベース基板準備工程S1において、各光学チップ3に対応する位置に実装電極8を形成した多数個取り用のベース基板2を準備する。そして、光学チップ設置工程S2において、一枚の基板に複数の光学チップ3を設置する。次に、土手設置工程S3において、複数の光学チップ3の各光学活性領域Rの周囲を囲うように土手7を形成する。次に、突起金属形成工程S4において、複数の光学チップ3の各電極パッド10の上にボールバンプ13とスタッドバンプ14が積層される突起金属4を形成する。この際、各電極パッド10と各実装電極8とはそれぞれ金属ワイヤー9により電気的に接続する。
次に、透光性基板設置工程S5において、図6(a)に示すように、透光性基板5を突起金属4の上に設置する。具体的には、ベース基板2に超音波振動を印加し、同時に加熱しながら各光学チップ3を透光性基板5にフリップチップ実装する。このとき、ベース基板2と透光性基板5を相対的に押圧すれば、多数カ所の金属膜11と多数カ所の突起金属4とを同時に接合することができる。
次に、透光性基板切削工程S8において、図6(b)に示すように、隣接する光学チップ3の間の透光性基板5を切削して貫通部18を形成する。切削はダイシングブレードやダイヤモンドドリルを用いて形成することができる。なお、透光性基板5を一方の端部から他方の端部まで碁盤の目のように分割してもよい。また、透光性基板5を分割しないで隣接する光学チップ3の間の透光性基板5に貫通穴を形成してもよい。貫通穴からなる貫通部18を形成する場合は、透光性基板設置工程S5の前に、透光性基板5に予め貫通穴からなる貫通部18を形成しておくことができる。なお、貫通部18を透光性基板5に設けることに代えて、ベース基板2に設けてもよい。
次に、樹脂材充填工程S6において、図6(c)に示すように、透光性基板5の上面に当接させた注入部19から貫通部18を介して樹脂材17を注入し、土手7の外側の透光性基板5とベース基板2の間隙に樹脂材17を充填する。次に、樹脂材固化工程S7において、図6(d)に示すように、樹脂材17を硬化して樹脂層6を形成する。次に、切断分離工程S9において、図6(e)に示すように個々の光学デバイス1に切断分離する。貫通部18の幅よりも薄い切断歯のダイシングブレード等を用いて樹脂層6及びベース基板2を切断し、多数個の光学デバイス1に分離する。
このように、透光性基板5にベース基板2の上に設置した多数の光学チップ3をフリップチップ実装し、透光性基板5とベース基板2の間隙に樹脂材17を充填して樹脂層6を形成し、その後、個々に切断分離するという簡単な工程で多数の光学デバイス1を同時に製造することができる。
1 光学デバイス
2 ベース基板
3 光学チップ
4 突起金属
5 透光性基板
6 樹脂層
7 土手
8 実装電極、8’ 貫通電極
9 金属ワイヤー
10 電極パッド
11 金属膜
13 ボールバンプ
14 スタッドバンプ
15 ウエッジボンディング部
16 保持手段
17 樹脂材
18 貫通部
19 注入部
R 光学活性領域、TP 表面、SP 側面

Claims (17)

  1. ベース基板と、
    前記ベース基板に実装され、前記ベース基板とは反対側の表面に光学活性領域を有する光学チップと、
    前記表面の前記光学活性領域よりも外周側に設置される突起金属と、
    前記突起金属の上に設置される透光性基板と、
    前記ベース基板と前記透光性基板の間であり、前記光学チップの周囲に設置される樹脂層と、を備える光学デバイス。
  2. 前記透光性基板は前記光学チップの側に金属膜を備え、前記金属膜と前記突起金属とが接合される請求項1に記載の光学デバイス。
  3. 前記樹脂層は光を透過しない遮光性樹脂層であり、
    前記遮光性樹脂層は、前記光学チップの外周側面を覆う請求項1又は2に記載の光学デバイス。
  4. 前記光学チップの表面と前記透光性基板との間であり、前記光学活性領域の周囲に設置される土手を有する請求項1〜3のいずれか一項に記載の光学デバイス。
  5. 前記光学チップの表面の前記光学活性領域よりも外周側に電極パッドが形成され、
    前記突起金属はスタッドバンプを含み、前記電極パッドの上に設置される請求項1〜4のいずれか一項に記載の光学デバイス。
  6. 前記突起金属は、前記電極パッドの上に設置されるボールバンプを含む請求項5に記載の光学デバイス。
  7. 前記突起金属は、前記電極パッドの上に設置されるウエッジボンディング部を含む請求項5に記載の光学デバイス。
  8. 前記ベース基板の表面から反対側の裏面に設置される実装電極と、
    前記実装電極と前記突起金属との間に設置される金属ワイヤーと、を備える請求項1〜7のいずれか一項に記載の光学デバイス。
  9. 前記透光性基板は特定の光の波長を透過する光学フィルター板である請求項1〜8のいずれか一項に記載の光学デバイス。
  10. 表面から反対側の裏面に実装電極が形成されるベース基板を準備するベース基板準備工程と、
    表面に光学活性領域と前記表面の前記光学活性領域よりも外周側に電極パッドとを有する光学チップを前記ベース基板に設置する光学チップ設置工程と、
    前記電極パッドの上に突起金属を形成する突起金属形成工程と、
    透光性基板を前記突起金属の上に設置する透光性基板設置工程と、
    前記ベース基板と前記透光性基板の間に樹脂材を充填し、前記光学チップの周囲を前記樹脂材により囲む樹脂材充填工程と、
    前記樹脂材を固化して樹脂層を形成する樹脂材固化工程と、を備える光学デバイスの製造方法。
  11. 前記光学チップ設置工程は、一枚の前記ベース基板に複数の前記光学チップを設置する工程であり、
    前記樹脂材充填工程は、前記透光性基板又は前記ベース基板の板厚方向に貫通する貫通部から前記樹脂材を充填する工程であり、
    前記樹脂材固化工程の後に、個々の光学デバイスに切断分離する切断分離工程を備える請求項10に記載の光学デバイスの製造方法。
  12. 前記光学チップと前記透光性基板の間であり、前記電極パッドと前記光学活性領域との間に前記光学活性領域を囲う土手を形成する土手形成工程を備える請求項10又は11に記載の光学デバイスの製造方法。
  13. 前記透光性基板接着工程の後に、隣接する前記光学チップの間の前記透光性基板を切削して前記貫通部を形成する透光性基板切削工程を備える請求項11又は12に記載の光学デバイスの製造方法。
  14. 前記透光性基板の光学チップ側の表面に金属膜を形成する金属膜形成工程を備え、
    前記透光性基板設置工程は、前記突起金属と前記金属膜とを接合する工程を含む請求項10〜13のいずれか一項に記載の光学デバイスの製造方法。
  15. 前記突起金属形成工程は、前記実装電極と前記電極パッドの間を金属ワイヤーにより電気的に接続する工程を含む請求項10〜14のいずれか一項に記載の光学デバイスの製造方法。
  16. 前記突起金属形成工程は、前記電極パッドの上にボールバンプを形成し、前記ボールバンプの上にスタッドバンプを形成する工程を含む請求項10〜15のいずれか一項に記載の光学デバイスの製造方法。
  17. 前記突起金属形成工程は、前記電極パッドの上にウエッジボンディング部を形成し、前記ウエッジボンディング部の上にスタッドバンプを形成する工程を含む請求項10〜15のいずれか一項に記載の光学デバイスの製造方法。
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