JP2014067979A - 基板処理装置、基板処理方法及び半導体装置の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】基板95を処理する処理室と、基板保持具が基板95を前記処理室への搬入する前に基板95を保持して待機する移載室12と、移載室12に不活性ガスまたはクリーンエアの少なくともどちらか一方、または両方を循環させる循環路と、前記循環路に設置され前記循環路を開閉する循環路開閉弁と、前記循環路に前記不活性ガスまたはクリーンエアの少なくともどちらか一方、または両方を供給する供給路と、前記循環路から前記不活性ガスまたはクリーンエアの少なくともどちらか一方、または両方を排出する排出路と、前記排出路に設置され前記排出路を開閉する排出路開閉弁と、前記移載室内の上部に設置された前記排出路とは異なる排気路とを備える。
【選択図】図10
Description
ところで、ウエハ(基板)を収容して搬送するためのキャリア(搬送治具)としては、互いに対向する一対の面が開口された略立方体の箱形状に形成されているオープンカセットと、一つの面が開口された略立方体の箱形状に形成され開口面にキャップが着脱自在に装着されているFOUP(Front−Opening unified Pod。以下、ポッド(POD)という。)とがある。
ウエハのキャリアとしてポッドが使用される場合には、ウエハが密閉された状態で搬送されることになるため、周囲の雰囲気にパーティクル等が存在していたとしてもウエハの清浄度(クリーン度)は維持することができる。
そこで、本実施の形態においては、ウエハ1のキャリアとしてはポッド2が使用されている。
筐体11はフレームやパネルが組み合わせられることにより構築されており、パネル同士の召し合わせ面間や重ね合わせ面間等は、筐体11内から外部への、または、外部から筐体11内への雰囲気の漏洩源となる極微小の隙間を形成する可能性がある。
筐体11の正面壁には取付板13が当接されて締結されている。この筐体11と取付板13との当接面は、筐体11内から外部への、または、外部から筐体11内への雰囲気の漏洩源となる極微小の隙間を形成する可能性がある。
取付板13にはウエハ1をローディング(搬入)およびアンローディング(搬出)するためのポート(以下、ウエハローディングポートという。)14が、上下で一対開設されている。ウエハローディングポート14、14に対応する位置には、ポッド2のキャップ3(図5参照)を着脱してポッド2を開閉するポッドオープナ15が設置されている。
シールキャップ20は円盤形状に形成されており、シールキャップ20の中心線上にはボート21が垂直に立脚されている。
ボート21は基板としてのウエハ1を多数枚、中心を揃えて水平に配置した状態で保持するように構成されている。
ヒータユニット22内にはアウタチューブ23およびインナチューブ24が同心円に設置されている。アウタチューブ23は石英または炭化シリコン等の耐熱性材料から形成されており、内径がインナチューブ24の外径よりも大きく上端が閉塞し下端が開口した円筒形状に形成されている。インナチューブ24は石英または炭化シリコン等の耐熱性材料から形成されており、上端および下端が開口した円筒形状に形成されている。
インナチューブ24の筒中空部には処理室25が形成されており、ボート21を収容可能に構成されている。
マニホールド26の下端部開口(炉口)はシャッタ27によって開閉されるようになっている。
シールキャップ20にはガス導入部としてのガス供給管29が処理室25内に連通するように接続されている。
循環ダクト32は吸込側ダクト部34を備えており、吸込側ダクト部34は吸込口33がボートエレベータ19のアーム19dおよびウエハ移載装置エレベータ18のアームの昇降移動範囲に開設されている。吸込側ダクト部34は移載室12における一方の側面である右側面にウエハ移載装置エレベータ18およびボートエレベータ19を移載室から隔離するように(但し、両方のアームが可動する部分は連通している。)、かつ、略全体面にわたって垂直に延在するように敷設されている。
吸込側ダクト部34の下端部における略中央位置には、サブ連絡ダクト部37の吸込側ダクト34側端が接続されており、サブ連絡ダクト部37は移載室12内の底面上で左右方向に横切るように敷設されている。
クリーンユニット41はパーティクルを捕集するフィルタ42と、清浄化したクリーンエア40を送風する複数の送風機43とを備えており、フィルタ42が移載室12に露出するとともに、送風機43群の下流側になるように構成されている。
また、吹出側ダクト部39には循環路31に不活性ガスを供給する不活性ガス供給路としての窒素ガス供給管46が接続されており、窒素ガス供給管46には流量制御弁としてのダンパ47が介設されている。
本実施の形態においては、冷却器48は水冷式熱交換器によって構成されている。
冷却器48の下流側には流量制御弁としてのダンパ57が介設されており、ダンパ57はメイン連絡ダクト部35およびサブ連絡ダクト部37から吹出側ダクト部39のクリーンユニット41の上流側に循環させる循環路31を開閉するように構成されている。
吸込側ダクト部34と排出路49との間および移載室12と排出路49との間には、排出口58がそれぞれ上下方向に複数個開設されており、これら排出口58は吸込側ダクト部34および移載室12から排出口58を経由して、窒素ガス30およびクリーンエア40を排出路49に排出するように構成されている。
なお、図8に示されているように、吸込側ダクト部34と排出路49との間には3個の排出口58が形成されており、上側の排出口58の最上端は吸込側ダクト部34の最上端と略同じ高さとなるように形成されている。
また、移載室12と排出路49との間には2個の排出口58が形成されており、上側の排出口58の最上端は移載室12の最上端と略同じ高さとなるように形成されている。
図8に示されているように、排出路49の上端には排出ダクト50が接続されており、排出ダクト50の下流側端部にはメイン排出路51が形成されている。メイン排出路51には開閉弁としてのダンパ52が介設されている。
メイン排出路51にはダンパ52を迂回するバイパス路53が接続されており、バイパス路53の流量はメイン排出路51の流量よりも少なくなるように設定されている。
なお、バイパス路53には流量計やニードル弁等の流量調整手段を設けるようにし、バイパス路53の流量を調整することができるようにしてもよい。
図7および図8に示されているように、ウエハ移載装置エレベータ18は垂直に立脚されて回転自在に支承された送りねじ軸18aと、送りねじ軸18aを正逆回転させる駆動装置としてのモータ18bと、送りねじ軸18aに螺合して正逆回転に伴って昇降する昇降台18cと、昇降台18cに片持ち支持されてウエハ移載装置18Aが設置されたアーム18dとを備えている。
モータ設置室54と移載室12とを隔てる隔壁55には、連通口56がモータ設置室54内と吸込側ダクト部34の内部とを連通させるように開設されている。
この隔壁55や連通口56およびモータ設置室54は、漏洩源となる極微小の隙間を形成する可能性がある。
ポッドオープナ15によってポッド2が開放されると、ポッド2に収納された複数枚のウエハ1はウエハ移載装置18Aによってボート21に移載されて装填(チャージング)される。
予め指定された枚数のウエハ1が装填されると、ボート21はボートエレベータ19によって上昇されることにより、処理室25に搬入(ボートローディング)される。
ボート21が上限に達すると、ボート21を保持したシールキャップ20の上面の周辺部がマニホールド26の下面にシール状態に当接するために、処理室25は気密に閉じられた状態になる。
次いで、所定の処理ガスが処理室25にガス供給管29から供給される。
これにより、所望の熱処理がウエハ1に施される。
すなわち、窒素ガス供給管46から循環路31に供給された窒素ガス30のうちの大半、例えば、窒素ガス供給管46から循環路31に供給された窒素ガス30量の約80%は、図6に示されているように、循環ダクト32における吹出側ダクト部39に設けられたクリーンユニット40から移載室12に吹き出し、循環路31の一部である移載室12を流通して吸込口33から吸込側ダクト部34に吸い込まれる。
吸込側ダクト部34に吸い込まれた窒素ガス30は、メイン連絡ダクト部35およびサブ連絡ダクト部37を経由して吹出側ダクト部39に戻り、クリーンユニット40から移載室12に再び吹き出す。
以降、窒素ガス30は以上の流れを繰り返すことにより、移載室12と循環路31とを循環する。
一方、移載室12および吸込側ダクト部34から排出口58を経由して排出路49に流れた少量(例えば、窒素ガス供給管46から循環路31に供給された窒素ガス30量の約15%)の窒素ガス30は、排出ダクト50を経由し、バイパス路53を流れて排出される。
また、微量(例えば、窒素ガス供給管46から循環路31に供給された窒素ガス30量の約5%)の窒素ガス30は、筐体11や筐体11と取付板13との当接面や筐体11とメンテナンス扉17との当接面等の隙間から筐体11外へ排出される。
このとき、バイパス路53および筐体11等の隙間から排出される窒素ガス30の流量分に相当する窒素ガス30の流量が、窒素ガス供給管46から補給される。
この窒素ガス30の循環ステップにおいては、メイン排出路51のダンパ52および新鮮エア供給管44のダンパ45は閉じられており、窒素ガス供給管46のダンパ47および循環路31にあるダンパ57は開かれている。
ボート21が処理室25から搬出されると、処理室25はシャッタ27によって閉じられる。
また、微量(例えば、窒素ガス供給管46から循環路31に供給された窒素ガス量の約5%)の窒素ガス30は、筐体11や筐体11と取付板13との当接面や筐体11とメンテナンス扉17との当接面等の隙間から筐体11外へ排出される。このとき、メイン排出路51およびバイパス路53および筐体11等の隙間から排出される窒素ガス30の流量分に相当する窒素ガス30の流量が、窒素ガス供給管46から補給される。
すなわち、窒素ガス供給管46によって循環路31に供給された窒素ガス30は、吹出側ダクト部39に建て込まれたクリーンユニット40から移載室12に吹き出し、移載室12を流通して吸込側ダクト部34の吸込口33を通じ排出口58を経由して排出路49に流れ、その後、排出ダクト50を経由し、メイン排出路51およびバイパス路53および筐体11等の隙間によって排出される。
この際に、窒素ガス30は窒素ガス供給管46によって供給された直後の冷えた新鮮な窒素ガス30であるので、ウエハ1群およびボート21を高い熱交換効率をもって冷却することができる。
さらに、高温になったウエハ1に接触するのは不活性ガスである窒素ガス30であるので、ウエハ1の表面に自然酸化膜が生成されることはない。
このボートアンロードステップにおいては、メイン排出路51のダンパ52および窒素ガス供給管46のダンパ47は開かれており、新鮮エア供給管44のダンパ45および循環路31にあるダンパ57は閉じられている。
なお、循環路31の温度上昇が少ない範囲では、温度が上昇した窒素ガス30の一部を循環路31で循環させてもよい。
ポッド2が処理済みウエハ1によって満たされると、ポッド2はポッドオープナ15によってキャップ3を装着されて閉じられた後に、ウエハローディングポート14から他の場所へ移送される。
移載室12内の圧力が低下すると、移載室12の外部の雰囲気(大気)が移載室12内に流入し易くなるために、移載室12内の酸素濃度が上昇してしまい、酸素濃度の制御が困難になってしまう。
このように移載室12内の圧力の低下を防止することにより、移載室12の外部の雰囲気が移載室12内に流入するのを防止することができるので、酸素濃度を一定に維持することができる。
このとき、移載室12と排出路49との間の排出口58をクリーンユニット41と対向するように上下方向に複数開設することにより、吸込側ダクト部34に接続されたメイン連絡ダクト部35およびサブ連絡ダクト部37によってはスムーズに(澱みや滞留なしでは)排出することができない移載室12内の窒素ガス30を排出することができるので、適正なエアフローを形成することができる。
このメンテナンス作業の安全性を確保するために、メンテナンス作業に際しては、移載室12の窒素ガス30は除去される。
すなわち、メンテナンス作業の前に、窒素ガス供給管46からの窒素ガス30の供給および循環路31の循環は、ダンパ47およびダンパ57を閉じて停止され、新鮮エア供給管44のダンパ45が開かれて、新鮮なエアが新鮮エア供給管44によって吹出側ダクト部39に導入される。
吹出側ダクト部39に導入された新鮮なエアはクリーンユニット41を通って清浄化されて、クリーンエアとなって移載室12に吹き出し、移載室12を流通して吸込側ダクト部34の吸込口33および排出口58等を通じて排出路49によって排気される。これにより、移載室12の窒素ガス30は安全なクリーンエアに置換される。
この際には、メイン排出路51のダンパ52が全開されることにより、移載室12内の窒素ガス30はメイン排出路51およびバイパス路53によりクリーンエア40に急速に置き換えられる。したがって、メンテナンス時の作業効率を高めることができる。
発明者らは鋭意研究の結果、基板処理を行った後にボート96をダウン(下降)した際、基板95及びボート96からの熱により上昇気流が移載室12内に発生し、移載室12内の上部にエアの澱みが発生してしまうことを見出した。
従来装置のエアフローはパーティクル対策に重点がおいて構築されており、エアの風速は0.1〜0.5m/s程度となっており、移載室12内が常温であれば所望の流れとなっている(図3参照)。しかし、基板95に熱処理を行った後、ボート96が例えば600℃の基板95を載せて下降してくると、図4のように図中左方向からのエアフローが基板95上を抜けた後、ボート96や基板95の熱による上昇気流により上昇し、上昇したエアフローは移載室上部で左方向に流れて渦を作り、澱みを生じている。この上昇気流の流れは、解析上1〜3m/sとなっており、クリーンユニットを主とするエアフローだけでは待機室内の澱みを解消することが困難であった。また、上昇気流による澱みが発生した際の、図4中のA部の温度を解析したところ、160〜210℃という高温となっていた。基板処理装置の運用の際においても、この熱が電装品の故障や有機汚染といった問題の原因となっている。
この場合に備えて本実施例では、移載室12内の上部に、エアの澱みを解消するための上部排気ダクト91を設ける構成とした。また、移載室12内の上部に不活性ガス吹き出し口92を設けることにより、さらなる移載室上部に生じるエアの澱みを解消する構成とした。上部排気ダクト91内には切り替えダンパ93を設けている。基板94搬送時には切り替えダンパ93を閉じて上部排気ダクト91からの排気を行わないように制御することで、従来と同じエアフローを構築できるため、移載室内のエアの澱み状況に応じて排気することが可能となるとともにパーティクル対策に対応することができる。
このとき、上部排気ダクト91の切り替えダンパ93を開くとともに移載室12内の上部に設置された不活性ガス吹き出し口92から不活性ガス94を流すことにより、基板95を冷却してもよい。ボート96ダウン中にボート96及び基板95を直接冷却し、熱交換によって温められた不活性ガス94を上部排気ダクト91により排気することで、さらに冷却速度を向上することが出来る。また、ボート96及び基板95を速やかに冷却することで、上昇気流を抑制し、エアの澱みを低減できる。なお、この上部排気ダクト91は、図示してはいないが、図8に示す排出ダクト50に連通する構成となっている。この排出ダクト50のダンパ52を開き、上部排気ダクト91内のダンパ93を開くことによって、移載室12の上部の熱雰囲気を装置外部に排出することが可能となる。また、上部排気ダクト91に図示しない上部排気ダクトバルブを設ける構成としても良い。ボート21及びウエハ1群の温度により上昇気流の流速や移載室上部の澱み状態が変化する。例えば上部排気ダクトバルブを設置し、上部排気ダクトバルブの開度を制御することで、上部排気ダクト91の排気量を制御することができる。
すなわち、不活性ガス供給路から新しい不活性ガスを供給するとともに、排出路から移載室内の雰囲気を排気することにより、移載室内に澱みや滞留のない雰囲気の流れを確保することができ、パーティクルや有機物が大気室内に留まり、基板を汚染させることを防止できる。
さらに、熱対策が必要なイベント時には、前記排出路とは異なる排出路からも大気室内の雰囲気の排気を行うことにより、待機室内の澱みを低減することが出来る。
このように、本発明では排気路をイベントに応じて切り替えることで、各イベントに適したエアフローを構築し、大気室内に澱みや滞留のない雰囲気の流れを確保し続けることが出来るため、自然酸化膜を防止するだけでなく、パーティクルや有機物が移載室内に留まり、基板を汚染させることを防止することができる。
次に、本発明の好ましい態様を付記する。
本発明の一態様によれば、
基板を処理する処理室と、
前記基板を保持して前記処理室に搬入する基板保持具と、
前記基板保持具が前記基板を前記処理室へ搬入する前に前記基板を保持して待機する待機室と、
前記待機室に不活性ガスまたはクリーンエアの少なくともいずれか一方、またはその両方からなる気体を循環させる循環路と、
前記循環路に設置され、前記気体を供給する供給路と、
前記循環路から前記気体を排出する排出路と、
前記排出路に設置され前記排出路を開閉する排出路開閉弁と、
前記移載室の上部に設置された、前記排出路とは異なる排気路と
を備える基板処理装置が提供される。
本発明の他の一態様によれば、
基板を処理する処理室と、
前記基板を保持して前記処理室に搬入する基板保持具と、
前記基板保持具が前記基板を前記処理室へ搬入する前に前記基板を保持して待機する待機室と、
前記待機室に不活性ガスまたはクリーンエアの少なくともいずれか一方、またはその両方からなる気体を循環させる循環路と、
前記循環路に設置され、前記気体を供給する第一供給路と、
前記循環路から前記気体を排出する第一排出路と、
前記第一排出路に設置され前記第一排出路を開閉する第一排出路開閉弁と、
前記移載室の上部に設置された、前記第一排出路とは異なる第二排気路と
を備える基板処理装置が提供される。
付記2の基板処理装置であって、好ましくは、
前記第二排出路は、前記基板保持具を挟んで前記第一供給路と反対側であり、かつ、前記基板保持具と前記第一排出路との間の位置に備えられている基板処理装置が提供される。
付記2の基板処理装置であって、好ましくは、
前記第一供給路と前記第一排出路は対向する位置に設置されている基板処理装置が提供される。
付記2乃至4の基板処理装置であって、好ましくは、
前記移載室の上部に前記第一供給路とは異なる前記待機室に不活性ガスを供給する第二供給路をさらに備えている基板処理装置が提供される。
付記5の半導体製造装置であって、好ましくは、
前記第二供給路は前記第二排出路と対向する位置に設置されている基板処理装置が提供される。
付記2乃至6の半導体製造装置であって、好ましくは、
前記第二排出路に設置された前記第二排出路を開閉する第二排出路開閉弁をさらに備えている基板処理装置が提供される。
付記7の半導体製造装置であって、好ましくは、
前記基板保持具が前記処理室から搬出されるときに、前記第二排出路開閉弁を開とする基板処理装置が提供される。
本発明のさらに他の一態様によれば、
基板を処理する処理室と、前記基板を保持して前記処理室に搬入する基板保持具と、前記基板保持具が前記基板を前記処理室へ搬入する前に、前記基板を保持して待機する待機室と、前記待機室に設けられた不活性ガスまたはクリーンエアを前記待機室に供給するガス供給部と、前記移載室上部に設けられた前記移載室のガスを排気するガス排気部と、を有し、前記ガス排気部は前記基板保持具を挟んだ前記ガス供給部の反対側に位置する基板処理装置が提供される。
本発明のさらに他の一態様によれば、
基板保持具にて保持した基板を処理室へ搬入する工程と、
処理室にて処理された基板を移載室に搬出する工程と、
移載室に不活性ガスまたはクリーンエアの少なくともどちらか一方、または両方を循環する循環路に設置された前記循環路を開閉する循環路開閉弁を開閉する工程と、
前記循環路に前記不活性ガスを第一供給部より供給する工程と、
前記循環路から前記不活性ガスを第一排出路へ排出する工程と、
前記第一排出路に設置され前記第一排出路を開閉する工程と、
前記移載室内の上部に設置された第二排出路へ前記不活性ガスを排出する工程と、を有する半導体装置の製造方法が提供される。
本発明の一態様によれば、
基板を処理する処理室と、
前記基板を保持して前記処理室に搬入する基板保持具と、
前記基板保持具が前記基板を前記処理室へ搬入する前に前記基板を保持して待機する待機室と、
前記待機室に不活性ガスまたはクリーンエアの少なくともどちらか一方、または両方の気体を供給する供給部と、
前記待機室から前記気体を排出する第一排出部と、
前記排出路に設置され前記排出路を開閉する排出路開閉弁と、
前記移載室の上部に設置された、前記第一排出部とは異なる第二排気部と
を備える基板処理装置が提供される。
91・・・・・・上部排気ダクト
92・・・・・・不活性ガス吹き出し口
93・・・・・・切り替えダンパ
95・・・・・・基板
96・・・・・・ボート(基板保持具)
1001・・・・クリーンユニット
1002・・・・ボート(基板保持具)
1001・・・・排気ダクト
Claims (3)
- 基板を処理する処理室と、
前記基板を保持して前記処理室に搬入する基板保持具と、
前記基板保持具が前記基板を前記処理室への搬入する前に前記基板を保持して待機する移載室と、
前記移載室に不活性ガスまたはクリーンエアの少なくともどちらか一方、または両方を循環させる循環路と、
前記循環路に設置され前記循環路を開閉する循環路開閉弁と、
前記循環路に前記不活性ガスまたはクリーンエアの少なくともどちらか一方、または両方を供給する供給路と、
前記循環路から前記不活性ガスまたはクリーンエアの少なくともどちらか一方、
または両方を排出する排出路と、
前記排出路に設置され前記排出路を開閉する排出路開閉弁と、
前記移載室内の上部に設置された前記排出路とは異なる排気路と
を備える基板処理装置。 - 基板保持具にて保持した基板を処理室へ搬入する工程と、
処理室にて処理された基板を移載室に搬出する工程と、
移載室に不活性ガスまたはクリーンエアの少なくともどちらか一方、または両方を循環する循環路に設置された前記循環路を開閉する循環路開閉弁を開閉する工程と、
前記循環路に前記不活性ガスを供給する工程と、
循環路から前記不活性ガスを排出路へ排出する工程と、
前記排出路に設置され前記排出路を開閉する工程と、
前記移載室内の上部であって、前記排出路とは異なる排気路から処理室内の雰囲気を排出する工程と
を有する基板処理方法。 - 基板保持具にて保持した基板を処理室へ搬入する工程と、
処理室にて処理された基板を移載室に搬出する工程と、
移載室に不活性ガスまたはクリーンエアの少なくともどちらか一方、または両方を循環する循環路に設置された前記循環路を開閉する循環路開閉弁を開閉する工程と、
前記循環路に前記不活性ガスを供給する工程と、
循環路から前記不活性ガスを排出路へ排出する工程と、
前記排出路に設置され前記排出路を開閉する工程と、
前記移載室内の上部であって、前記排出路とは異なる排気路から処理室内の雰囲気を排出する工程と、を有する半導体装置の製造方法。
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