JP2014067826A - 微細エレクトレットパターンの製造方法及びその検査方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明の微細エレクトレットパターンの製造方法は、絶縁性基板上の導電層をエッチングすることにより形成した微細電極パターン上にエレクトレット層を形成する方法、任意の電荷パターンの形成位置が露出するようにマスクされた被エレクトレット絶縁性基板を帯電させることにより前記電荷パターンのエレクトレットを形成する方法、及び、電子線照射法、バックライト・サイラトロンによる電子注入法、レーザ光照射法、電離放射線照射法、又は軟X線照射法のいずれかによって被エレクトレット絶縁性基板上に任意の電荷パターンのエレクトレットを形成する方法からなる群以外の方法を用いて、微細エレクトレットパターンを形成することを特徴とする。
【選択図】図1
Description
本実施形態1では、本発明の微細エレクトレットパターンの製造方法の一例について図1を用いて説明する。図1は、本実施形態1の微細エレクトレットパターンの製造方法を説明するための図である。なお、図1では、本実施形態1における製造工程の一部(後述の第1工程及び第2工程)を上から見た状態を示している。
本実施形態2では、本発明の微細エレクトレットパターンの製造方法の他の例について図3を用いて説明する。図3は、本実施形態2の微細エレクトレットパターンの製造方法を説明するための図である。なお、図3では、本実施形態2における製造工程を横から見た状態を示している。
本実施形態3では、本発明の微細エレクトレットパターンの製造方法の他の例を図5を用いて説明する。図5は、本実施形態3の微細エレクトレットパターンの製造方法を説明するための図である。図5において、図3と同一構成要素については同一符号を付し、その詳細な説明を省略する。なお、図5では、本実施形態3における製造工程を横から見た状態を示している。
本実施形態4では、本発明の微細エレクトレットパターンの製造方法の他の例を図7を用いて説明する。図7は、本実施形態4の微細エレクトレットパターンの製造方法を説明するための図であり、図7(a)はコロナ放電前の状態、図7(b)はコロナ放電直後の状態、図7(c)はコロナ放電を行って所定時間放置後の状態を示している。図7において、図3と同一構成要素については同一符号を付し、その詳細な説明を省略する。なお、図7では、本実施形態4における製造工程を横から見た状態を示している。
本実施形態5では、本発明の微細エレクトレットパターンの検査方法の一例を図9を用いて説明する。図9は、本実施形態5に係る微細エレクトレットパターンの検査方法を説明するための図である。なお、図9では、本実施形態5における検査工程を上から見た状態を示している。
2 微細パターン状の導電層
2a 微細パターン状の導電層
2b 微細電極パターン
2c 微細電極パターン
2d 微細電極パターン
3 微細パターン状のエレクトレット樹脂層
4 導電性材料射出部
5 導電性材料
6 エレクトレット樹脂射出部
7 エレクトレット樹脂粉末
8 微細エレクトレットパターン形成位置
8a 微細エレクトレットパターン形成位置
8b 微細電極パターン形成位置
8c 微細電極パターン形成位置
9 被エレクトレット絶縁性基板
9a エレクトレット樹脂層
9b 非エレクトレット樹脂層
10 接地電極
11 コロナ放電帯電器
13 制御電極
13a 孔
14 微細エレクトレットパターン
14a 電荷
15 パルス電圧印加器
16 電荷回収電極
17 電荷搬送体
18 エレクトレット
19 電荷注入電極
20 回転円板
21 電極円板
22 電極円板
31 エレクトレットシート
32 微細エレクトレットパターン
33 可視化された微細エレクトレットパターン
34 着色化部
35 画像読取部
Claims (14)
- 絶縁性基板上の導電層をエッチングすることにより形成した微細電極パターン上にエレクトレット層を形成する方法、任意の電荷パターンの形成位置が露出するようにマスクされた被エレクトレット絶縁性基板を帯電させることにより前記電荷パターンのエレクトレットを形成する方法、及び、電子線照射法、バックライト・サイラトロンによる電子注入法、レーザ光照射法、電離放射線照射法、又は軟X線照射法のいずれかによって被エレクトレット絶縁性基板上に任意の電荷パターンのエレクトレットを形成する方法からなる群以外の方法を用いて、微細エレクトレットパターンを形成することを特徴とする微細エレクトレットパターンの製造方法。
- 前記微細エレクトレットパターンは長手形状を有し、
前記微細エレクトレットパターンの両側に、長手形状の微細電極パターンを形成する請求項1に記載の微細エレクトレットパターンの製造方法。 - 前記微細エレクトレットパターンを形成する方法は、
絶縁性基板上の前記微細エレクトレットパターンの形成位置に、導電性材料を射出することにより、前記微細エレクトレットパターン状の導電層を形成する工程と、
前記微細エレクトレットパターン状の前記導電層上に、エレクトレット樹脂層を形成する工程と、
前記エレクトレット樹脂層を帯電させることにより、帯電した前記エレクトレット樹脂層からなる前記微細エレクトレットパターンを形成する工程と、を含む請求項1又は2に記載の微細エレクトレットパターンの製造方法。 - 前記微細エレクトレットパターンを形成する方法は、
絶縁性基板上の前記微細エレクトレットパターンの形成位置に、導電性材料を射出することにより、前記微細エレクトレットパターン状の導電層を形成する工程と、
前記微細エレクトレットパターン状の前記導電層上に、帯電させたエレクトレット樹脂粉末を付着させることにより、帯電したエレクトレット樹脂層からなる前記微細エレクトレットパターンを形成する工程と、を含む請求項1又は2に記載の微細エレクトレットパターンの製造方法。 - 前記導電層は、前記導電性材料をインクジェット方式で射出することにより形成される請求項3又は4に記載の微細エレクトレットパターンの製造方法。
- 前記微細エレクトレットパターンを形成する方法は、
一方の主面側に制御電極及びコロナ放電帯電器が設けられ、他方の主面上に接地電極が設けられた被エレクトレット絶縁性基板の前記一方の主面に対し、前記コロナ放電帯電器からのコロナ放電を、前記制御電極を用いて前記微細エレクトレットパターン状に制御しながら行うことにより、前記被エレクトレット絶縁性基板上に前記微細エレクトレットパターンを形成するものである請求項1又は2に記載の微細エレクトレットパターンの製造方法。 - 前記微細エレクトレットパターンを形成する方法は、
一方の主面側にパルス電圧印加器が設けられ、他方の主面上に接地電極が設けられた被エレクトレット絶縁性基板の前記一方の主面に対し、前記パルス電圧印加器からのパルス電圧を、前記微細エレクトレットパターン状に印加することにより、前記被エレクトレット絶縁性基板上に前記微細エレクトレットパターンを形成するものである請求項1又は2に記載の微細エレクトレットパターンの製造方法。 - 前記パルス電圧印加器は、静電記録用のマルチスタイラスである請求項7に記載の微細エレクトレットパターンの製造方法。
- 前記微細エレクトレットパターンを形成する方法は、
低い抵抗を有する非エレクトレット樹脂層からなる絶縁性基板上に、前記非エレクトレット樹脂層より高い抵抗を有するエレクトレット樹脂層を前記微細エレクトレットパターン状に形成する工程と、
前記絶縁性基板を帯電させる工程と、
帯電させた前記絶縁性基板を所定時間放置することにより、前記絶縁性基板上の前記エレクトレット樹脂層が形成されていない領域の電荷を自然放電させて、帯電した前記エレクトレット樹脂層からなる前記微細エレクトレットパターンを形成する工程と、を含む請求項1又は2に記載の微細エレクトレットパターンの製造方法。 - 前記微細エレクトレットパターンを形成する方法は、
エレクトレット樹脂層からなる絶縁性基板上の前記微細エレクトレットパターンの形成位置以外の位置に、前記エレクトレット樹脂層よりも低い抵抗を有する非エレクトレット樹脂層を形成する工程と、
前記絶縁性基板を帯電させる工程と、
帯電させた前記絶縁性基板を所定時間放置することにより、前記絶縁性基板上の前記非エレクトレット樹脂層の電荷を自然放電させて、帯電した前記エレクトレット樹脂層からなる前記微細エレクトレットパターンを形成する工程と、を含む請求項1又は2に記載の微細エレクトレットパターンの製造方法。 - 前記絶縁性基板の帯電は、コロナ放電により行う請求項9又は10に記載の微細エレクトレットパターンの製造方法。
- 請求項1〜11のいずれか1項に記載の微細エレクトレットパターンの製造方法によって形成された微細エレクトレットパターンを可視化し、
可視化した前記微細エレクトレットパターンを、予め用意した検査用電荷パターンと比較することにより、前記微細エレクトレットパターンの良否を判定することを特徴とする微細エレクトレットパターンの検査方法。 - 前記微細エレクトレットパターンの可視化は、帯電した着色粉末を前記微細エレクトレットパターンに付着させることにより行う請求項12に記載の微細エレクトレットパターンの検査方法。
- 前記微細エレクトレットパターンの良否判定は、
前記可視化した微細エレクトレットパターンに光を照射し、その反射光を電気信号に変換して画像データを作製し、前記作製した画像データを、予め用意した前記検査用電荷パターンを示す画像データと比較することにより行う請求項12に記載の微細エレクトレットパターンの検査方法。
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