JP2014066669A - 計測装置および計測方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】計測装置はコンピュータを含み、コンピュータには、ステレオカメラ14および照明装置16が接続される。照明装置16では、複数の光源がワークWを囲むように設置され、ワークWの上面に形成された穴のエッジが照明される。光源は、上段の照射部160a、168aおよび下段の照射部160b、168bを備え、上段または下段の照射部が使用されるとともに、その明るさが変化される。撮影時には、穴毎に決定された照射部を適切な明るさで点灯し、着目する穴を順番に変化させて、穴の数だけ撮影画像を取得する。そして、ステレオカメラの撮影画像に基づいて各穴の3次元位置が検出され、穴間のピッチが計測される。
【選択図】図2
Description
L1=√{(x1−x2)2+(y1−y2)2}
[数2]
L2=√{(x1−x2)2+(y1−y2)2+(z1−z2)2}
さらに、この実施例では、ワークWの温度が温度計18で計測され、計測されたワークWの温度に応じて穴間のピッチが補正される。これは温度の違いによる測定誤差を吸収するためである。この実施例では、計測されたピッチL2の補正値ΔL(伸び)は数3に従って算出され、この補正値ΔLがピッチL2に加算される(L2+ΔL)。数1において、αはワークWの材料に応じた線膨張率であり、ΔTは温度差(計測温度−基準温度)である。ただし、ΔTは正数である。
ΔL=L2×α×ΔT
なお、ワークWの温度は、計測時の撮影処理が開始される前、計測時の撮影処理の途中、または計測時の撮影処理の終了後のように、任意のタイミングで計測される。
12 …コンピュータ
14 …ステレオカメラ
16 …照明装置
18 …温度計
Claims (8)
- 計測対象物を撮影した撮影画像に基づいて当該計測対象物の表面に形成された形成物に関する寸法を計測する計測装置であって、
前記計測対象物に光を照射し、当該計測対象物を挟んで設けられる少なくとも一対の光源を設けた照明装置と、
前記計測対象物の表面の所定の領域が所望の明るさとなるように前記照明装置に設けた各々の光源の明るさを調整する調整部を備える、計測装置。 - 前記光源は前記計測対象物の表面に対して水平またはほぼ水平に光を照射し、前記形成物のエッジを光らせる水平照射部を含む、請求項1記載の計測装置。
- 前記光源は前記計測対象物の表面に対して所定角度だけ斜めに光を照射する斜め照射部を含む、請求項1または2記載の計測装置。
- 計測対象物を撮影した撮影画像に基づいて当該計測対象物の表面に形成された形成物に関する寸法を計測する計測装置であって、
前記計測対象物に光を照射し、当該計測対象物を挟んで設けられる少なくとも一対の光源を設けた照明装置と、
少なくとも前記光源の各々の点灯および消灯を制御する光源制御部を備え、
前記光源は、前記計測対象物の表面に対して水平またはほぼ水平に光を照射する水平照射部と、当該水平照射部の上段に設けられ、当該計測対象物の表面に対して所定角度だけ斜めに光を照射する斜め照射部を含み、
前記光源制御部は、前記光源の各々について水平照射部または斜め照射部を点灯させる、計測装置。 - 前記光源制御部は、前記光源の各々について、点灯させる前記水平照射部または前記斜め照射部の明るさをさらに調整する調整部を含む、請求項4記載の計測装置。
- 左右の2つのカメラで前記計測対象物を撮影するステレオカメラをさらに備え、
前記調整部は、左右のカメラのそれぞれの撮影に対して前記照明装置に設けられる各々の前記光源の明るさを調整し、
前記調整部によって明るさを調整された場合における前記左右の2つのカメラのそれぞれの前記撮影画像に基づいて当該計測対象物に関する寸法を計測する寸法計測部をさらに備える、請求項1ないし3または5のいずれかに記載の計測装置。 - 前記計測対象物の温度を計測する温度計測部と、
前記温度計測部によって計測された温度に基づいて前記寸法計測部で計測された寸法を補正する補正部をさらに備える、請求項6記載の計測装置。 - 計測対象物の表面に形成された形成物に関する寸法を計測するコンピュータの計測方法であって、
(a)前記計測対象物の周囲から当該計測対象物の表面に複数の光源を用いて異なる明るさの光を照射し、
(b)前記ステップ(a)において前記複数の光源を用いて異なる明るさの光を照射した場合に、それぞれの明るさについて前記計測対象物の表面を撮影した複数の第1撮影画像を取得し、
(c)前記ステップ(b)において取得した前記複数の第1撮影画像のそれぞれについて、前記計測対象物の表面に形成された形成物のエッジの輝度を検出し、
(d)前記ステップ(c)において検出した輝度が所望の値となる場合の明るさに前記複数の光源の各々の明るさを調整し、
(e)前記ステップ(d)において調整した明るさの光を照射した場合の前記計測対象物の表面を撮影した第2撮影画像を取得し、そして
(f)前記ステップ(e)において取得した第2撮影画像に基づいて前記計測対象物の表面に形成された形成物に関する寸法を計測する、計測方法。
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