JP2014059309A - Flat bed scan module, flat bed scan system, flat bed scan module alignment error measurement jig and flat bed scan module alignment error measurement method using flat bed scan module alignment error measurement jig - Google Patents

Flat bed scan module, flat bed scan system, flat bed scan module alignment error measurement jig and flat bed scan module alignment error measurement method using flat bed scan module alignment error measurement jig Download PDF

Info

Publication number
JP2014059309A
JP2014059309A JP2013221041A JP2013221041A JP2014059309A JP 2014059309 A JP2014059309 A JP 2014059309A JP 2013221041 A JP2013221041 A JP 2013221041A JP 2013221041 A JP2013221041 A JP 2013221041A JP 2014059309 A JP2014059309 A JP 2014059309A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
scan module
alignment error
measurement
laser oscillation
pair
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2013221041A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Jeong Hwan Lee
イ,ジョンファン
Ki Youn Kwon
クォン,キヨン
Si Youl Rhee
イ,シユル
Doo Jin Choi
チェ・ドゥジン
Jin Hyung Park
パク,ジンヒョン
Joon Kil Kim
キム,ジュンキル
Sun Kyu Park
パク,ソンキュ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Heavy Industries Co Ltd
Original Assignee
Samsung Heavy Industries Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from KR1020090044333A external-priority patent/KR101194756B1/en
Priority claimed from KR1020090074792A external-priority patent/KR101168297B1/en
Application filed by Samsung Heavy Industries Co Ltd filed Critical Samsung Heavy Industries Co Ltd
Publication of JP2014059309A publication Critical patent/JP2014059309A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/25Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
    • G01B11/2513Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object with several lines being projected in more than one direction, e.g. grids, patterns

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a flat bed scan module, a flat bed scan system, a flat bed scan module alignment error measurement jig and an alignment error measurement method using the flat bed scan module alignment error measurement jig that can reduce a measurement error by automatically scanning a shape of a flat plate.SOLUTION: A flat bed scan module 10 is a scan module for scanning the shape of the flat plate, and includes: a first laser oscillation part 12 and a second laser oscillation part 14 that are positioned at both ends of one side of a virtual quadrangle, respectively and emit a linear laser beam to the flat plate; a third laser oscillation part 16 and a fourth laser oscillation part 18 that are positioned at both ends of the other side adjacent to the one side of the quadrangle, respectively and emit the linear laser beam to the flat plate; a camera 20 that is positioned at a center part of the quadrangle and photographs the laser beam reflected from the flat plate; and a frame 24 that supports the first to fourth laser oscillation parts and the camera.

Description

本発明は、フラットベッド・スキャン・モジュール、フラットベッド・スキャン・システム、フラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定用ジグ及びこれを用いたフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定方法に関する。より詳細には、平板の形状を自動的にスキャンして計測誤差を低減することができ、これにより、NCマーキングをすることにより作業時間を短縮することができるフラットベッド・スキャン・モジュール、フラットベッド・スキャン・システム、フラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定用ジグ及びこれを用いたフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定方法に関する。   The present invention relates to a flatbed scan module, a flatbed scan system, a jig for measuring an alignment error of a flatbed scan module, and a method for measuring an alignment error of a flatbed scan module using the same. More specifically, a flatbed scan module and a flatbed that can automatically scan the shape of a flat plate to reduce measurement errors, thereby reducing work time by performing NC marking. The present invention relates to a scanning system, a jig for measuring an alignment error of a flatbed scan module, and a method for measuring an alignment error of a flatbed scan module using the jig.

船体構造部材は、平面板、曲面板、直線型鋼及び曲線型鋼などの部材を加工組立して形成することになる。   The hull structural member is formed by processing and assembling members such as a flat plate, a curved plate, straight steel, and curved steel.

このような船体加工作業の正確性や効率性を高めるために、加工される鋼材表面に予め線や記号で加工情報を表示する作業であるマーキング(Marking)をし、マーキングされた情報に従って加工作業を行う。   In order to improve the accuracy and efficiency of such hull processing operations, marking is performed on the surface of the steel material to be processed in advance to display processing information with lines and symbols, and processing operations are performed according to the marked information. I do.

従来、巻き尺や墨壺などの道具を用いて直接人の手でマーキングをしたが、近年、電算装備によりマーキング資料が処理され、NC(Numerical Control)マーキング機により自動的にマーキング作業が行われている。   Conventionally, marking was done directly by hand using tools such as a tape measure and ink brush, but in recent years, marking materials have been processed by computer equipment, and marking work has been automatically performed by an NC (Numerical Control) marking machine. Yes.

しかし、このようなNCマーキングも人が直接巻き尺などを用いて基準点をマーキングし、これをティーチング(teaching)することになるため、手作業による計測誤差が生じることがあり、さらに手作業による基準点計測に多くの作業時間が必要となる問題点があった。   However, in such NC marking, since a person directly marks a reference point using a tape measure and teaches it, a measurement error due to manual operation may occur. There was a problem that a lot of work time was required for point measurement.

このような問題点に対応してレーザビジョンシステムが開発されている。レーザビジョンシステムとは、例えば溶接装置の溶接トーチの前端に装着されて加工対象物を測定する装置であって、溶接しようとする溶接線に溶接トーチをアライメントさせるために用いられることがある。   In response to such problems, a laser vision system has been developed. The laser vision system is an apparatus that measures a workpiece by being attached to the front end of a welding torch of a welding apparatus, for example, and may be used to align the welding torch with a welding line to be welded.

このようなレーザビジョンシステムは、溶接装置などの加工装備とアライメントされて装着される。しかし、溶接などの作業により発生する振動または荷重などの外部要人により、レーザビジョンシステムの装着角度または位置が変わり、レーザビジョンシステムと加工装備との間にアライメント誤差が生じ得る。   Such a laser vision system is mounted in alignment with processing equipment such as a welding apparatus. However, the mounting angle or position of the laser vision system may change due to external personnel such as vibration or load generated by work such as welding, and an alignment error may occur between the laser vision system and the processing equipment.

また、レーザビジョンシステムは、レーザビームを発射するレーザダイオードを含むレーザ発生器及び発射されたレーザビームを撮影するカメラで構成され、このようなレーザダイオードとカメラとは互いにアライメントされて設けられる。しかし、上述したように、実際の作業時には振動などの外部荷重が作用し、このレーザダイオードとカメラとの間にもアライメント誤差が生じ得る。   The laser vision system includes a laser generator including a laser diode that emits a laser beam and a camera that captures the emitted laser beam. The laser diode and the camera are provided in alignment with each other. However, as described above, an external load such as vibration acts during actual work, and an alignment error may occur between the laser diode and the camera.

このようなレーザビジョンシステムと加工装備との間のアライメント誤差、及びレーザビジョンシステム内部の構成部品間のアライメント誤差が生じる場合、測定対象物の実際の情報とレーザビジョンシステムにより測定された測定情報との間に誤差が生じることになる。 これにより、レーザビジョンシステムの信頼性を確保しにくいという問題があった。   When such alignment errors between the laser vision system and the processing equipment and alignment errors between the components in the laser vision system occur, the actual information of the measurement object and the measurement information measured by the laser vision system An error will occur between the two. As a result, there is a problem that it is difficult to ensure the reliability of the laser vision system.

本発明は、平板の形状を自動的にスキャンして計測誤差を低減することができ、これにより、NCマーキングをすることにより作業時間を短縮することができるフラットベッド・スキャン・モジュール及びフラットベッド・スキャン・システムを提供することを目的とする。   The present invention can automatically scan the shape of a flat plate to reduce measurement errors, and thereby can reduce working time by performing NC marking, and a flatbed scan module and a flatbed It aims to provide a scanning system.

また、フラットベッド・スキャン・モジュールと対象装備との間のアライメント誤差、及びフラットベッド・スキャン・モジュールのカメラとレーザ発振部との間のアライメント誤差を確認し、その程度を測定することができる、アライメント誤差測定用ジグ及びこれを用いたアライメント誤差測定方法を提供することを他の目的とする。   In addition, the alignment error between the flatbed scan module and the target equipment, and the alignment error between the camera of the flatbed scan module and the laser oscillation unit can be confirmed, and the degree can be measured. Another object is to provide an alignment error measurement jig and an alignment error measurement method using the jig.

本発明の一側面によれば、平板の形状をスキャンするためのフラットベッド・スキャン・モジュールであって、仮想の四角形の一辺の両端部にそれぞれ位置し、平板に線状のレーザビームを出射する第1レーザ発振部及び第2レーザ発振部と、四角形の一辺に隣接した他辺の両端部にそれぞれ位置し、平板に線状のレーザビームを出射する第3レーザ発振部及び第4レーザ発振部と、四角形の中央部に位置し、平板から反射されたレーザビームを撮影するカメラと、第1ないし第4レーザ発振部及びカメラを支持するフレームと、を含むフラットベッド・スキャン・モジュールが提供される。   According to one aspect of the present invention, a flatbed scan module for scanning the shape of a flat plate is located at both ends of one side of a virtual quadrangle, and emits a linear laser beam to the flat plate. The first laser oscillation unit and the second laser oscillation unit, and the third laser oscillation unit and the fourth laser oscillation unit, which are respectively positioned at both ends of the other side adjacent to one side of the quadrangle and emit a linear laser beam to the flat plate A flatbed scan module that includes a camera that is located at the center of the quadrangle and that captures the laser beam reflected from the flat plate, and a frame that supports the first to fourth laser oscillators and the camera. The

第1ないし第4レーザ発振部から出射される線状のレーザビームは、カメラの下部の平板に向けて出射されることが可能である。   The linear laser beam emitted from the first to fourth laser oscillation units can be emitted toward the lower plate of the camera.

カメラの光軸(optic axis)に対してチルトするレーザビームの主軸のチルト角は調整可能である。   The tilt angle of the main axis of the laser beam tilting with respect to the optical axis of the camera can be adjusted.

第1ないし第4レーザ発振部から出射される線状のレーザビームは、平板の外周辺と交差するように出射されることが可能である。   The linear laser beams emitted from the first to fourth laser oscillation units can be emitted so as to intersect the outer periphery of the flat plate.

平板が直線の外周辺を有する場合、線状のレーザビームは直線の外周辺と直交してもよい。   When the flat plate has a straight outer periphery, the linear laser beam may be orthogonal to the straight outer periphery.

本発明の他の側面によれば、平板の形状をスキャンするためのフラットベッド・スキャン・システムであって、レールに沿って移動するガントリ(gantry)と、ガントリに沿って移動するトロリー(trolley)と、仮想の四角形の一辺の両端部にそれぞれ位置し、平板に線状のレーザビームを出射する第1レーザ発振部及び第2レーザ発振部と、四角形の一辺に隣接した他辺の両端部にそれぞれ位置し、平板に線状のレーザビームを出射する第3レーザ発振部及び第4レーザ発振部と、四角形の中央部に位置し、平板から反射されたレーザビームを撮影するカメラと、第1ないし第4レーザ発振部及びカメラを支持し、トロリーに連結されるフレームと、を含むフラットベッド・スキャン・システムが提供される。   According to another aspect of the present invention, a flatbed scanning system for scanning the shape of a flat plate, the gantry moving along the rail, and the trolley moving along the gantry. And a first laser oscillation unit and a second laser oscillation unit, which are respectively positioned at both ends of one side of the virtual quadrangle and emit a linear laser beam on a flat plate, and at both ends of the other side adjacent to one side of the quadrangle A third laser oscillation unit and a fourth laser oscillation unit which are respectively positioned and emit a linear laser beam to a flat plate; a camera which is positioned at the center of the quadrangle and which reflects the laser beam reflected from the flat plate; A flat bed scanning system including a fourth laser oscillation unit and a frame supporting the camera and coupled to a trolley.

第1ないし第4レーザ発振部から出射される線状のレーザビームは、カメラの下部の平板に向けて出射されることが可能である。   The linear laser beam emitted from the first to fourth laser oscillation units can be emitted toward the lower plate of the camera.

カメラの光軸(optic axis)に対してチルトするレーザビームの主軸のチルト角は調整可能である。   The tilt angle of the main axis of the laser beam tilting with respect to the optical axis of the camera can be adjusted.

第1ないし第4レーザ発振部から出射される線状のレーザビームは、平板の外周辺と交差するように出射されてもよい。平板が直線の外周辺を有する場合、線状のレーザビームは直線の外周辺と直交してもよい。   The linear laser beams emitted from the first to fourth laser oscillation units may be emitted so as to intersect the outer periphery of the flat plate. When the flat plate has a straight outer periphery, the linear laser beam may be orthogonal to the straight outer periphery.

トロリーに連結され、平板に特定形状をマーキングするマーキング部をさらに含むことができる。   A marking part connected to the trolley and marking a specific shape on the flat plate may be further included.

本発明のまた他の側面によれば、上記のフラットベッド・スキャン・モジュールの第1レーザ発振部、第2レーザ発振部、第3レーザ発振部及び第4レーザ発振部から選択された一対のレーザ発振部から線状のレーザビームを出射して十字ビームを形成する一対のレーザ発振部とカメラとの間のアライメント誤差及びフラットベッド・スキャン・モジュールとフラットベッド・スキャン・モジュールが設けられた対象装備との間のアライメント誤差を測定するためのフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定用ジグであって、十字ビームが走査される平面を有する平面部と、平面部を取り囲み、平面と接する傾斜面を有する傾斜部と、を含むフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定用ジグが提供される。   According to still another aspect of the present invention, a pair of lasers selected from the first laser oscillation unit, the second laser oscillation unit, the third laser oscillation unit, and the fourth laser oscillation unit of the flatbed scan module described above. Alignment error between a pair of laser oscillator and camera that emits a linear laser beam from the oscillator to form a cross beam, and target equipment equipped with flatbed scan module and flatbed scan module Alignment error measurement jig of a flatbed scan module for measuring an alignment error between and a plane part having a plane on which a cross beam is scanned, and an inclined surface surrounding the plane part and in contact with the plane Provided with an alignment error measurement jig for flatbed scan modules including It is.

上記平面は正四角形であり、上記傾斜面は上記平面の辺にそれぞれ接する4つの台形面を含むことができる。   The plane may be a regular quadrangle, and the inclined surface may include four trapezoidal surfaces that are in contact with the sides of the plane.

上記平面に対する上記4つの台形面の傾斜度は同一であってもよい。   The inclinations of the four trapezoidal surfaces with respect to the plane may be the same.

また、本発明のまた他の側面によれば、上記アライメント誤差測定用ジグを用いて、十字ビームを形成する上記一対のレーザ発振部と上記カメラとの間のアライメント誤差、及び上記フラットベッド・スキャン・モジュールと上記フラットベッド・スキャン・モジュールが設けられた対象装備との間のアライメント誤差を測定するための方法であって、上記一対のレーザ発振部と上記カメラ、及び上記フラットベッド・スキャン・モジュールと上記対象装備とのアライメント時、上記十字ビームが上記平面部に走査されて形成される一対の基準ラインを上記カメラで撮影して基準データを得るステップと、上記一対のレーザ発振部と上記カメラとの間、及び上記フラットベッド・スキャン・モジュールと上記対象装備との間のうち少なくともいずれか一方にアライメント誤差が生じた場合、上記十字ビームが上記平面部に走査されて形成される一対の測定ラインを上記カメラで撮影して測定データを得るステップと、上記基準データと上記測定データとを比べて、上記基準データに対する上記測定データの誤差を算出するステップと、を含むフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定方法が提供される。   According to still another aspect of the present invention, an alignment error between the pair of laser oscillation units forming the cross beam and the camera, and the flatbed scan using the alignment error measuring jig. A method for measuring an alignment error between a module and target equipment provided with the flatbed scan module, the pair of laser oscillation units, the camera, and the flatbed scan module. Capturing a pair of reference lines formed by scanning the cross beam on the plane portion with the camera and obtaining reference data during alignment with the target equipment, the pair of laser oscillation units and the camera And between the flatbed scan module and the target equipment at least When an alignment error occurs in one of them, a step of photographing a pair of measurement lines formed by scanning the cross beam on the plane portion with the camera to obtain measurement data, the reference data, and the measurement data And calculating an error of the measurement data with respect to the reference data. A method for measuring an alignment error of a flatbed scan module is provided.

上記基準データは、上記一対の基準ラインそれぞれの両端点に対する第1基準座標値を含み、上記測定データは上記一対の測定ラインそれぞれの両端点に対する第1測定座標値を含むことができる。   The reference data may include first reference coordinate values for both end points of the pair of reference lines, and the measurement data may include first measurement coordinate values for both end points of the pair of measurement lines.

上記基準データは、上記一対の基準ラインそれぞれの中心点に対する第2基準座標値をさらに含み、上記測定データは、上記一対の測定ラインそれぞれの中心点に対する第2測定座標値をさらに含むことができる。   The reference data may further include a second reference coordinate value for the center point of each of the pair of reference lines, and the measurement data may further include a second measurement coordinate value for the center point of each of the pair of measurement lines. .

上記基準データは、上記一対の基準ラインそれぞれの長さをさらに含むことができ、上記測定データは、上記一対の測定ラインそれぞれの長さをさらに含むことができる。   The reference data may further include a length of each of the pair of reference lines, and the measurement data may further include a length of each of the pair of measurement lines.

上記基準データは、上記一対の基準ラインのうちの一つの基準ラインに対する残りの基準ラインの傾きをさらに含むことができ、上記測定データは上記一対の測定ラインのうちの一つの測定ラインに対する残りの測定ラインの傾きをさらに含むことができる。   The reference data may further include a slope of a remaining reference line with respect to one reference line of the pair of reference lines, and the measurement data may be a remaining measurement line with respect to one measurement line of the pair of measurement lines. The inclination of the measurement line can be further included.

上記基準データは、上記一対の基準ラインそれぞれの厚さをさらに含むことができ、上記測定データは、上記一対の測定ラインそれぞれの厚さをさらに含むことができる。   The reference data may further include a thickness of each of the pair of reference lines, and the measurement data may further include a thickness of each of the pair of measurement lines.

平板の形状を自動的にスキャンして計測誤差を低減することができる。   The plate shape can be automatically scanned to reduce measurement errors.

また、自動的に平板の形状をスキャンし、これにより平板上に特定形状のマーキングをすることにより作業時間を短縮することができる。   In addition, the working time can be shortened by automatically scanning the shape of the flat plate, thereby marking the specific shape on the flat plate.

また、フラットベッド・スキャン・モジュールと対象装備との間のアライメント誤差、及びフラットベッド・スキャン・モジュールのカメラとレーザ発振部との間のアライメント誤差を確認することができ、その誤差の程度を測定することができる。   In addition, the alignment error between the flatbed scan module and the target equipment, and the alignment error between the camera and the laser oscillator of the flatbed scan module can be confirmed, and the degree of the error is measured. can do.

本発明の一実施例に係るフラットベッド・スキャン・モジュールの分解斜視図である。1 is an exploded perspective view of a flatbed scan module according to an embodiment of the present invention. 本発明の一実施例に係るフラットベッド・スキャン・モジュールの結合斜視図である。1 is a combined perspective view of a flatbed scan module according to an embodiment of the present invention. 本発明の一実施例に係るフラットベッド・スキャン・モジュールの平面図である。It is a top view of the flatbed scan module concerning one example of the present invention. 本発明の他の実施例に係るフラットベッド・スキャン・システムの斜視図である。FIG. 6 is a perspective view of a flatbed scanning system according to another embodiment of the present invention. 本発明の他の実施例に係るフラットベッド・スキャン・システムの部分斜視図である。FIG. 6 is a partial perspective view of a flatbed scanning system according to another embodiment of the present invention. 本発明の他の実施例に係るフラットベッド・スキャン・システムを用いて平板をスキャンする方法を説明するための概略図である。It is the schematic for demonstrating the method to scan a flat plate using the flatbed scanning system which concerns on the other Example of this invention. 本発明の他の実施例に係るフラットベッド・スキャン・システムを用いて平板をスキャンする方法を説明するための概略図である。It is the schematic for demonstrating the method to scan a flat plate using the flatbed scanning system which concerns on the other Example of this invention. 本発明の他の実施例に係るフラットベッド・スキャン・システムを用いて平板をスキャンする方法を説明するための概略図である。It is the schematic for demonstrating the method to scan a flat plate using the flatbed scanning system which concerns on the other Example of this invention. 本発明の他の実施例に係るフラットベッド・スキャン・システムを用いて平板をスキャンする方法を説明するための概略図である。It is the schematic for demonstrating the method to scan a flat plate using the flatbed scanning system which concerns on the other Example of this invention. 本発明の一実施例に係るフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定用ジグを用いたアライメント誤差測定過程を示す概略図である。It is the schematic which shows the alignment error measurement process using the jig | tool for alignment error measurement of the flatbed scan module which concerns on one Example of this invention. 本発明の一実施例に係るフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定用ジグを示す平面図である。It is a top view which shows the jig for alignment error measurement of the flatbed scan module which concerns on one Example of this invention. 本発明の一実施例に係るフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定用ジグを示す正面図である。It is a front view which shows the jig for alignment error measurement of the flatbed scan module which concerns on one Example of this invention. 本発明の他の実施例に係るフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定方法を示す順序図である。FIG. 6 is a flowchart illustrating a method for measuring alignment errors of a flatbed scan module according to another embodiment of the present invention. 本発明の他の実施例に係るフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定方法の基準データの獲得過程時の基準ラインを示す平面図である。It is a top view which shows the reference line at the time of the acquisition process of the reference data of the alignment error measuring method of the flatbed scan module which concerns on the other Example of this invention. 本発明の他の実施例に係るフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定方法の測定データの獲得過程時の測定ラインを示す平面図である。It is a top view which shows the measurement line at the time of the acquisition process of the measurement data of the alignment error measuring method of the flatbed scan module which concerns on the other Example of this invention. 本発明の他の実施例に係るフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定方法の測定データの獲得過程時の測定ラインを示す平面図である。It is a top view which shows the measurement line at the time of the acquisition process of the measurement data of the alignment error measuring method of the flatbed scan module which concerns on the other Example of this invention. 本発明の他の実施例に係るフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定方法の測定データの獲得過程時の測定ラインを示す平面図である。It is a top view which shows the measurement line at the time of the acquisition process of the measurement data of the alignment error measuring method of the flatbed scan module which concerns on the other Example of this invention. 本発明の他の実施例に係るフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定方法の測定データの獲得過程時の測定ラインを示す平面図である。It is a top view which shows the measurement line at the time of the acquisition process of the measurement data of the alignment error measuring method of the flatbed scan module which concerns on the other Example of this invention.

以下、本発明に係るフラットベッド・スキャン・モジュール、フラットベッド・スキャン・システム、フラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定用ジグ及びこれを用いたフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定方法の実施例を添付図面に基づいて詳細に説明し、添付図面を参照して説明するに当たって、同一または対応する構成要素は同一の図面番号を付し、これに関する重複説明は省略する。   Hereinafter, a flatbed scan module, a flatbed scan system, a jig for measuring an alignment error of a flatbed scan module, and a method for measuring an alignment error of a flatbed scan module using the same will be described. An example will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the description with reference to the accompanying drawings, the same or corresponding components are denoted by the same drawing numbers, and redundant description thereof will be omitted.

図1は、本発明の一実施例に係るフラットベッド・スキャン・モジュールの分解斜視図であり、図2は、本発明の一実施例に係るフラットベッド・スキャン・モジュールの結合斜視図であり、図3は本発明の一実施例に係るフラットベッド・スキャン・モジュールの平面図である。図1ないし図3を参照すると、フラットベッド・スキャン・モジュール10、第1レーザ発振部12、第2レーザ発振部14、第3レーザ発振部16、第4レーザ発振部18、カメラ20、ブラケット22、フレーム24、下部ケース26、サポート28、32、開口部30、36、上部ケース34が示されている。   FIG. 1 is an exploded perspective view of a flatbed scan module according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a combined perspective view of a flatbed scan module according to an embodiment of the present invention. FIG. 3 is a plan view of a flatbed scan module according to an embodiment of the present invention. Referring to FIGS. 1 to 3, the flatbed scan module 10, the first laser oscillator 12, the second laser oscillator 14, the third laser oscillator 16, the fourth laser oscillator 18, the camera 20, and the bracket 22. The frame 24, the lower case 26, the supports 28 and 32, the openings 30 and 36, and the upper case 34 are shown.

本実施例に係るフラットベッド・スキャン・モジュール10は、平板の形状をスキャンするためのフラットベッド・スキャン・モジュールであって、仮想の四角形の一辺の両端部にそれぞれ位置し、平板に線状のレーザビームを出射する第1レーザ発振部12及び第2レーザ発振部14と、四角形の一辺に隣接した他辺の両端部にそれぞれ位置し、平板に線状のレーザビームを出射する第3レーザ発振部16及び第4レーザ発振部18と、四角形の中央部に位置し、平板から反射されたレーザビームを撮影するカメラ20と、第1ないし第4レーザ発振部12、14、16、18及びカメラ20を支持するフレーム24と、を含み、平板の形状を自動的にスキャンして計測誤差を低減することができる。   The flatbed scan module 10 according to the present embodiment is a flatbed scan module for scanning the shape of a flat plate, which is located at both ends of one side of a virtual quadrangle, and is linear on the flat plate. A first laser oscillator 12 and a second laser oscillator 14 that emit laser beams, and a third laser oscillator that is positioned at both ends of the other side adjacent to one side of the quadrangle and emits a linear laser beam on a flat plate Unit 16 and fourth laser oscillation unit 18, a camera 20 which is located at the center of the quadrangle and captures the laser beam reflected from the flat plate, and first to fourth laser oscillation units 12, 14, 16, 18 and camera And a frame 24 that supports 20 and can automatically scan the shape of the flat plate to reduce measurement errors.

本実施例に係るフラットベッド・スキャン・モジュール10を用いて平板の形状をスキャンする方法は次の通りである。先ず、フラットベッド・スキャン・モジュール10を平板の外周辺に沿って移動させながら所定間隔でレーザビームを照射し、これをカメラ20で撮影してレーザビームのイメージを得る。そして、このように得られたイメージを処理して平板の形状をスキャンする。   A method of scanning the shape of a flat plate using the flatbed scan module 10 according to the present embodiment is as follows. First, a laser beam is irradiated at a predetermined interval while moving the flatbed scan module 10 along the outer periphery of the flat plate, and this is photographed by the camera 20 to obtain an image of the laser beam. Then, the image thus obtained is processed to scan the shape of the flat plate.

第1レーザ発振部12、第2レーザ発振部14、第3レーザ発振部16及び第4レーザ発振部18は、線状のレーザビームを出射する。このような線状のレーザビームは平板部材の外周辺と交差するように出射され、平板から反射されるレーザビームをカメラ20が撮影することになる。   The first laser oscillation unit 12, the second laser oscillation unit 14, the third laser oscillation unit 16, and the fourth laser oscillation unit 18 emit a linear laser beam. Such a linear laser beam is emitted so as to intersect the outer periphery of the flat plate member, and the camera 20 captures an image of the laser beam reflected from the flat plate.

平板の外周辺と交差するように出射された線状のレーザビームは平板の外周辺の形状に応じて反射されるレーザビームの形状が変わり、これをカメラ20で撮影してイメージを得ることになる。   The linear laser beam emitted so as to intersect the outer periphery of the flat plate changes the shape of the reflected laser beam according to the shape of the outer periphery of the flat plate, and this is photographed by the camera 20 to obtain an image. Become.

本実施例に係るフラットベッド・スキャン・モジュール10は、直線方向または上記直線方向と直交する方向に沿って移動しながら平板の外周形状をスキャニングする。   The flatbed scan module 10 according to the present embodiment scans the outer peripheral shape of the flat plate while moving along a linear direction or a direction orthogonal to the linear direction.

平板部材の外周形状をスキャンするために第1レーザ発振部12及び第2レーザ発振部14を仮想の四角形の一辺の両端部にそれぞれ配置し、第3レーザ発振部16及び第4レーザ発振部18を仮想の四角形の一辺に隣接した他辺の両端部にそれぞれ配置する。このように配置すると、第1レーザ発振部12と第3レーザ発振部16とは互いに隣接して配置されることになる。   In order to scan the outer peripheral shape of the flat plate member, the first laser oscillating unit 12 and the second laser oscillating unit 14 are arranged at both ends of one side of a virtual square, respectively, and the third laser oscillating unit 16 and the fourth laser oscillating unit 18 are arranged. Are arranged at both ends of the other side adjacent to one side of the virtual quadrangle. With this arrangement, the first laser oscillation unit 12 and the third laser oscillation unit 16 are arranged adjacent to each other.

第1レーザ発振部12と第2レーザ発振部14とは互いに対をなし、互いに対向する平板の外周辺にレーザビームを出射する。   The first laser oscillating unit 12 and the second laser oscillating unit 14 are paired with each other, and emit a laser beam to the outer periphery of the opposed flat plates.

また、第3レーザ発振部16と第4レーザ発振部18とは互いに対をなし、互いに対向する平板の外周辺にレーザビームを出射する。   The third laser oscillation unit 16 and the fourth laser oscillation unit 18 are paired with each other, and emit a laser beam to the outer periphery of the flat plates facing each other.

カメラ20は、仮想の四角形の中央部に位置し、第1レーザ発振部12ないし第4レーザ発振部18から出射されて平板から反射されるレーザビームを撮影する。このように一つのカメラ20を中央部に配置し、仮想の四角形の端部に位置する各レーザ発振部12、14、16、18をカメラ20の下部の平板に向けてレーザビームが出射されるように傾斜して配置して、各レーザ発振部12、14、16、18から出射されたレーザビームを一つのカメラ20が撮影できるようにする。   The camera 20 is located at the center of the imaginary quadrilateral and photographs the laser beam emitted from the first laser oscillation unit 12 to the fourth laser oscillation unit 18 and reflected from the flat plate. In this way, one camera 20 is arranged at the center, and laser beams are emitted with the laser oscillation units 12, 14, 16, and 18 positioned at the ends of the imaginary quadrilateral directed toward the flat plate below the camera 20. Thus, the camera 20 can take an image of the laser beam emitted from each of the laser oscillators 12, 14, 16, and 18.

一方、カメラの光軸に対してチルトするレーザビームの主軸のチルト角は調整可能である。このために、各レーザ発振部12、14、16、18は、チルト角を調整できるブラケット22を用いてフレーム24に連結してもよい。   On the other hand, the tilt angle of the main axis of the laser beam tilted with respect to the optical axis of the camera can be adjusted. For this purpose, each laser oscillator 12, 14, 16, 18 may be coupled to the frame 24 using a bracket 22 that can adjust the tilt angle.

より詳細には、図7及び図9を参照して説明すると、チルト角は、平板46に向けて出射され、平板46上に投影される線状のレーザビーム13とカメラの光軸21とが定義する仮想の面と、平板46上に投影される線状のレーザビーム13とレーザ発振部12、14から出射されるレーザビームの主軸15とが定義する仮想の面とがなす角と定義することができ、このようなチルト角の大きさはブラケット22により調整可能である。   More specifically, referring to FIG. 7 and FIG. 9, the tilt angle is determined by the linear laser beam 13 emitted toward the flat plate 46 and projected onto the flat plate 46 and the optical axis 21 of the camera. It is defined as an angle formed by a virtual surface to be defined and a virtual surface defined by the linear laser beam 13 projected on the flat plate 46 and the principal axis 15 of the laser beam emitted from the laser oscillation units 12 and 14. The magnitude of the tilt angle can be adjusted by the bracket 22.

線状のレーザビームは、レーザダイオードから出射されたレーザビームを光学的処理により両方向に放射させて形成する。このような線状のレーザビームの放射角を2分する仮想の線を線状のレーザビームの主軸15として定義することができる。   The linear laser beam is formed by emitting a laser beam emitted from a laser diode in both directions by optical processing. A virtual line that bisects the radiation angle of such a linear laser beam can be defined as the main axis 15 of the linear laser beam.

チルト角を調整することにより平板46に投影される線状のレーザビーム13の幅を調整でき、カメラ20を用いてイメージを容易に得ることができる。例えば、開先部47の幅が狭くて開先角が急である場合、カメラから得られる線状のレーザビームのイメージの解像度が低下することがある。この場合、チルト角を大きくして平板46に投影される線状のレーザビーム13の幅を広げ、容易にレーザビームのイメージを得るようにする。   By adjusting the tilt angle, the width of the linear laser beam 13 projected onto the flat plate 46 can be adjusted, and an image can be easily obtained using the camera 20. For example, when the width of the groove portion 47 is narrow and the groove angle is steep, the resolution of the image of the linear laser beam obtained from the camera may be lowered. In this case, the tilt angle is increased to widen the width of the linear laser beam 13 projected onto the flat plate 46 so that an image of the laser beam can be easily obtained.

フレーム24は、仮想の四角形上に位置する第1レーザ発振部12、第2レーザ発振部14、第3レーザ発振部16、第4レーザ発振部18及びカメラ20を支持する。 本実施例では、四角形の板材をフレーム24として用いたが、これに限定されず、バー形状の鋼材を組み立ててフレームを形成するなど様々な形状のフレームが使用できることは明らかである。   The frame 24 supports the first laser oscillation unit 12, the second laser oscillation unit 14, the third laser oscillation unit 16, the fourth laser oscillation unit 18, and the camera 20 that are located on a virtual quadrangle. In this embodiment, a rectangular plate material is used as the frame 24. However, the present invention is not limited to this, and it is apparent that various shapes of frames can be used, such as assembling a bar-shaped steel material to form a frame.

下部ケース26、フレーム24及び上部ケース34は、多数のサポート28、32を媒介にして互いに連結され、フラットベッド・スキャン・モジュール10を保護する。   The lower case 26, the frame 24 and the upper case 34 are connected to each other through a plurality of supports 28 and 32 to protect the flatbed scan module 10.

下部ケース26には各レーザ発振部12、14、16、18の位置に相応して開口部30が形成されており、開口部30を介してレーザビームが出射される。   The lower case 26 is formed with openings 30 corresponding to the positions of the laser oscillation parts 12, 14, 16, 18, and a laser beam is emitted through the openings 30.

また、他の装置との連結のために、上部ケース34に開口部36が形成されており、開口部36を介して他の装置がフレーム24に連結されることができる。   Further, an opening 36 is formed in the upper case 34 for connection with another device, and the other device can be connected to the frame 24 through the opening 36.

他の実施例として平板が直線の外周辺を有する場合、線状のレーザビームは直線の外周辺と直交するように出射されることが可能である。多角形状を有する平板の場合、様々な方向の外周辺を有するが、各方向に対して直交するように線状のレーザビームを照射し、反射されたレーザビームをカメラ20で撮影する。   As another example, when the flat plate has a straight outer periphery, the linear laser beam can be emitted so as to be orthogonal to the straight outer periphery. A flat plate having a polygonal shape has outer peripheries in various directions, but a linear laser beam is irradiated so as to be orthogonal to each direction, and the reflected laser beam is photographed by the camera 20.

図4は、本発明の他の実施例に係るフラットベッド・スキャン・システムの斜視図であり、図5は、本発明の他の実施例に係るフラットベッド・スキャン・システムの部分斜視図である。図4及び図5を参照すると、フラットベッド・スキャン・モジュール10、レール38、ガントリ40、トロリーレール42、トロリー44、平板46、固定具48、四角枠50、連結バー52、連結具54、マーキング部56が示されている。   FIG. 4 is a perspective view of a flatbed scan system according to another embodiment of the present invention, and FIG. 5 is a partial perspective view of a flatbed scan system according to another embodiment of the present invention. . 4 and 5, the flatbed scan module 10, rail 38, gantry 40, trolley rail 42, trolley 44, flat plate 46, fixture 48, square frame 50, connection bar 52, connection tool 54, marking Portion 56 is shown.

本実施例に係るフラットベッド・スキャン・システムは、平板46の形状をスキャンするためのフラットベッド・スキャン・システムであって、レール38に沿って移動するガントリ(gantry)40と、ガントリ40に沿って移動するトロリー(trolley)44と、仮想の四角形の一辺の両端部にそれぞれ位置し、平板46に線状のレーザビームを出射する第1レーザ発振部及び第2レーザ発振部と、四角形の一辺に隣接した他辺の両端部にそれぞれ位置し、平板46に線状のレーザビームを出射する第3レーザ発振部及び第4レーザ発振部と、四角形の中央部に位置し、平板46から反射された上記レーザビーム13(図7参照)を撮影するカメラ20と、第1ないし第4レーザ発振部及びカメラ20を支持し、トロリー44に連結されるフレームと、を含み、平板46の形状を自動的にスキャンして計測誤差を低減することができる。   The flat bed scanning system according to this embodiment is a flat bed scanning system for scanning the shape of the flat plate 46, and includes a gantry 40 that moves along a rail 38, and a gantry 40. A trolley 44 that moves in each direction, a first laser oscillation unit and a second laser oscillation unit that are positioned at both ends of one side of the virtual quadrangle and emit a linear laser beam to the flat plate 46, and one side of the quadrangle Are located at both ends of the other side adjacent to each other, and the third laser oscillation unit and the fourth laser oscillation unit for emitting a linear laser beam to the flat plate 46, are located at the center of the quadrangle, and are reflected from the flat plate 46. Further, the camera 20 for photographing the laser beam 13 (see FIG. 7), the first to fourth laser oscillation units and the camera 20 are supported, and the trolley 44 Anda frame coupled, it is possible to reduce the measurement error automatically scans the shape of the flat plate 46.

本実施例に係るフラットベッド・スキャン・システムは、レール38に沿って移動するガントリ40とガントリ40に沿って移動するトロリー44とを含むガントリロボットに、上述したフラットベッド・スキャン・モジュール10を付着して平板46の形状をスキャンすることになる。   In the flat bed scanning system according to the present embodiment, the above-described flat bed scanning module 10 is attached to a gantry robot including a gantry 40 that moves along the rail 38 and a trolley 44 that moves along the gantry 40. Thus, the shape of the flat plate 46 is scanned.

本実施例を説明するに当たって、上述したフラットベッド・スキャン・モジュール10と重複する構成要素についての詳細な説明は省略する。   In the description of the present embodiment, a detailed description of components that overlap with the flatbed scan module 10 described above is omitted.

ガントリ40は、平行な二つのレール38に沿って移動する門形の構造体であり、トロリー44は、ガントリ40の長手方向に移動する移動滑車である。このようなトロリー44には計測器、溶接機、切断機などの各種装備を付着でき、ガントリ40とトロリー44の移動により平面上の所定の位置へ装備を移動させることができる。   The gantry 40 is a gate-shaped structure that moves along two parallel rails 38, and the trolley 44 is a moving pulley that moves in the longitudinal direction of the gantry 40. Various kinds of equipment such as a measuring instrument, a welding machine, and a cutting machine can be attached to the trolley 44, and the equipment can be moved to a predetermined position on the plane by moving the gantry 40 and the trolley 44.

本実施例は、上述したフラットベッド・スキャン・モジュール10をトロリー44に付着して平板46の形状をスキャンするように構成した。   In this embodiment, the flatbed scan module 10 described above is attached to the trolley 44 to scan the shape of the flat plate 46.

トロリー44に付着されたフラットベッド・スキャン・モジュール10を用いて平板46の形状をスキャンする方法は、先ず、ガントリ40とトロリー44の移動によりフラットベッド・スキャン・モジュール10を平板46の外周辺に沿って移動させながら、フラットベッド・スキャン・モジュール10のレーザ発振器から線状のレーザビームを出射し、平板46から反射されたレーザビームをカメラ20で撮影してイメージを得る。そして、得られたイメージを画像データ化し、画像データを処理して平板46の形状をスキャンする。   The method of scanning the shape of the flat plate 46 using the flatbed scan module 10 attached to the trolley 44 is as follows. First, the flatbed scan module 10 is moved to the outer periphery of the flat plate 46 by moving the gantry 40 and the trolley 44. While moving along, a linear laser beam is emitted from the laser oscillator of the flatbed scan module 10, and the laser beam reflected from the flat plate 46 is photographed by the camera 20 to obtain an image. The obtained image is converted into image data, the image data is processed, and the shape of the flat plate 46 is scanned.

フラットベッド・スキャン・モジュール10のカメラは、スキャンしようとする平板46の外周辺の上部に位置し、レーザ発振部から平板46の外周辺と交差するように出射された線状のレーザビームの反射されたイメージを撮影する。   The camera of the flatbed scan module 10 is positioned above the outer periphery of the flat plate 46 to be scanned, and reflects a linear laser beam emitted from the laser oscillation section so as to intersect the outer periphery of the flat plate 46. Take the captured image.

水平方向(図4のX方向)に配置された第1レーザ発振部及び第2レーザ発振部は、スキャンしようとする平板46の縦方向の外周辺をスキャンするために、線状のレーザビームを出射し、垂直方向(図4のY方向)に配置された第3レーザ発振部及び第4レーザ発振部は、スキャンしようとする平板46の横方向の外周辺をスキャンするために、線状のレーザビームを出射する。   The first laser oscillating unit and the second laser oscillating unit arranged in the horizontal direction (X direction in FIG. 4) use a linear laser beam to scan the outer periphery in the vertical direction of the flat plate 46 to be scanned. The third laser oscillation unit and the fourth laser oscillation unit that are emitted and arranged in the vertical direction (the Y direction in FIG. 4) are linear in order to scan the outer periphery in the lateral direction of the flat plate 46 to be scanned. A laser beam is emitted.

固定具48は、フラットベッド・スキャン・モジュール10をトロリー44に付着するためのものであって、本実施例では四角形の四角枠50と、四角枠50の下部の両端部から突出する連結バー52とで構成されている。   The fixing tool 48 is for attaching the flatbed scan module 10 to the trolley 44. In this embodiment, the fixing tool 48 has a rectangular square frame 50 and a connecting bar 52 protruding from both ends of the lower part of the rectangular frame 50. It consists of and.

四角枠50の一面はトロリー44に連結され、四角枠50の他面の両端部から突出した連結バー52のうちの一つにはフラットベッド・スキャン・モジュール10が連結具54により連結され、残りの一つには後述するマーキング部56が連結される。連結具54はフラットベッド・スキャン・モジュール10の上部ケース34の開口部36を介してフレーム24に連結されて、フレーム24とトロリー44を連結する。   One side of the square frame 50 is connected to the trolley 44, and the flatbed scan module 10 is connected to one of the connection bars 52 protruding from both ends of the other side of the square frame 50 by a connector 54, and the rest One of these is connected to a marking portion 56 described later. The connector 54 is connected to the frame 24 through the opening 36 of the upper case 34 of the flatbed scan module 10 to connect the frame 24 and the trolley 44.

本実施例に係るフラットベッド・スキャン・システムは、レール38に沿って移動するガントリ40と、ガントリ40に沿って移動するトロリー44とを含むガントリロボットに、上述したフラットベッド・スキャン・モジュール10を付着して平板46の形状をスキャンすると共にトロリー44に付着されたマーキング部56を用いて平板46上に特定形状をマーキングすることができる。   The flat bed scanning system according to the present embodiment includes the above-described flat bed scanning module 10 on a gantry robot including a gantry 40 that moves along the rail 38 and a trolley 44 that moves along the gantry 40. A specific shape can be marked on the flat plate 46 by using the marking portion 56 attached to the trolley 44 while adhering and scanning the shape of the flat plate 46.

船体を形成するための平板46上には各種縦方向部材の溶接位置及び平板46の切断位置をマーキングする必要があるが、平板46部材にマーキングするためには、コンベヤーなどを用いてガントリ40の下部に平板46をローディングする。   It is necessary to mark the welding position of various longitudinal members and the cutting position of the flat plate 46 on the flat plate 46 for forming the hull. In order to mark the flat plate 46 member, the gantry 40 can be marked using a conveyor or the like. A flat plate 46 is loaded at the bottom.

平板46がローディングされると、マーキングのための基準点を設定する必要があり、トロリー44に付着されたフラットベッド・スキャン・モジュール10を用いて平板46の形状をスキャンする。スキャンされた平板46の形状に応じて平板46に縦方向部材の溶接位置、切断位置などの特定形状をマーキング部56を用いてマーキングする。   When the flat plate 46 is loaded, it is necessary to set a reference point for marking, and the flat plate scan module 10 attached to the trolley 44 is used to scan the shape of the flat plate 46. A specific shape such as a welding position and a cutting position of the longitudinal member is marked on the flat plate 46 using the marking unit 56 according to the shape of the scanned flat plate 46.

本実施例に係るマーキング部56は、酸素用ノズルから亜鉛系の粉末を噴射して予熱炎で焼き付けるマーキングトーチを含むことができる。以下では、マーキングトーチを用いて特定形状をマーキングする方法について説明する。   The marking unit 56 according to the present embodiment can include a marking torch that sprays zinc-based powder from an oxygen nozzle and burns it with a preheating flame. Below, the method to mark a specific shape using a marking torch is demonstrated.

フラットベッド・スキャン・モジュール10により平板46の形状がスキャニングされると、平板46の特定位置を座標化し、これによりマーキングトーチが平板46上を移動しながら特定形状をマーキングすることになる。   When the shape of the flat plate 46 is scanned by the flatbed scanning module 10, the specific position of the flat plate 46 is coordinated, whereby the marking torch marks the specific shape while moving on the flat plate 46.

平板46の形状が予測可能な場合は、平板46の外周辺の特定部位のみをスキャンして基準点を設定することが可能である。例えば、四角形平板46上に特定形状をマーキングする場合、四角形平板46の頂点部位のみをスキャニングして頂点の位置を座標化した後に、マーキングトーチを用いてマーキングすることが可能である。   When the shape of the flat plate 46 can be predicted, it is possible to set the reference point by scanning only a specific portion around the outer periphery of the flat plate 46. For example, when marking a specific shape on the rectangular flat plate 46, it is possible to perform marking using a marking torch after only the apex portion of the rectangular flat plate 46 is scanned to coordinate the position of the apex.

ガントリ40及びトロリー44の移動で平板46上の所定位置にマーキングトーチを移動させることができ、これにより平板46上に特定形状をマーキングすることができる。     By moving the gantry 40 and the trolley 44, the marking torch can be moved to a predetermined position on the flat plate 46, whereby a specific shape can be marked on the flat plate 46.

本実施例では、マーキング部56としてマーキングトーチを用いて平板46上に特定形状をマーキングする方法を示したが、その他にもパンチマーキング(punch marking)、ペインティングなど様々な方法を用いて平板46上に特定形状をマーキングすることができる。   In the present embodiment, a method of marking a specific shape on the flat plate 46 using a marking torch as the marking portion 56 has been shown. However, other methods such as punch marking and painting may be used for the flat plate 46. A specific shape can be marked on the top.

図6ないし図9は、本発明の他の実施例に係るフラットベッド・スキャン・システムを用いて平板のスキャン方法を説明するための概略図である。図6ないし図9を参照すると、フラットベッド・スキャン・モジュール10、第1レーザ発振部12、第2レーザ発振部14、主軸15、第3レーザ発振部16、第4レーザ発振部18、カメラ20、光軸21、平板46、開先部47が示されている。   6 to 9 are schematic views for explaining a flat plate scanning method using a flatbed scanning system according to another embodiment of the present invention. 6 to 9, the flatbed scan module 10, the first laser oscillation unit 12, the second laser oscillation unit 14, the main shaft 15, the third laser oscillation unit 16, the fourth laser oscillation unit 18, and the camera 20. The optical axis 21, the flat plate 46, and the groove portion 47 are shown.

図6及び図7は、水平方向(図4のX方向参照)に位置した第1レーザ発振部12を用いて平板46の縦方向の外周辺をスキャンする方法を説明するためのものである。平板46の左側の外周辺をスキャンするために、カメラ20を左側の外周辺の上部に位置させ、フラットベッド・スキャン・モジュール10を左側の外周辺に沿って移動させる。フラットベッド・スキャン・モジュール10の移動により所定間隔で第1レーザ発振部12からレーザビームを出射させ、平板46に投影されて反射された線状のレーザビーム13をカメラ20で撮影する。第1レーザ発振部12から出射される線状のレーザビーム13は、平板46の縦方向の外周辺と交差するように出射され、平板46の外周辺の形状に応じてレーザビーム13の形状が変わり、これをカメラ20で撮影してイメージを得る。例えば、平板46を溶接するために平板46の外周辺に開先部47を形成した場合は、図7に示すように、レーザビーム13が折れた形状に撮影されるはずであり、フラットベッド・スキャン・モジュール10が偏平なステージ上に位置した場合は、直線のレーザビームの形状が撮影されるはずである。このように撮影されたレーザビーム13のイメージから平板46の形状をスキャンすることができる。   6 and 7 are diagrams for explaining a method of scanning the outer periphery in the vertical direction of the flat plate 46 using the first laser oscillation unit 12 positioned in the horizontal direction (refer to the X direction in FIG. 4). In order to scan the outer periphery on the left side of the flat plate 46, the camera 20 is positioned above the outer periphery on the left side, and the flatbed scan module 10 is moved along the outer periphery on the left side. A laser beam is emitted from the first laser oscillation unit 12 at a predetermined interval by the movement of the flatbed scan module 10, and the linear laser beam 13 projected and reflected on the flat plate 46 is photographed by the camera 20. The linear laser beam 13 emitted from the first laser oscillator 12 is emitted so as to intersect with the outer periphery in the vertical direction of the flat plate 46, and the shape of the laser beam 13 depends on the shape of the outer periphery of the flat plate 46. The image is captured by the camera 20 to obtain an image. For example, when the groove portion 47 is formed on the outer periphery of the flat plate 46 for welding the flat plate 46, the laser beam 13 should be photographed in a folded shape as shown in FIG. If the scan module 10 is positioned on a flat stage, the shape of a linear laser beam should be imaged. The shape of the flat plate 46 can be scanned from the image of the laser beam 13 photographed in this way.

図8及び図9は、水平方向(図4のX方向参照)に位置した第2レーザ発振部14を用いて平板46の縦方向の外周辺をスキャンする方法を説明するためのものである。平板46の右側の外周辺をスキャンするためにトロリー44を用いてフラットベッド・スキャン・モジュール10を平板46の右側の外周辺に移動させ、フラットベッド・スキャン・モジュール10を右側の外周辺に沿って移動させながら第2レーザ発振部14から線状のレーザビーム13を出射させ、反射されたレーザビーム13をカメラ20で撮影して平板46の右側の外周辺の形状をスキャンする。   8 and 9 are for explaining a method of scanning the outer periphery in the vertical direction of the flat plate 46 using the second laser oscillation unit 14 positioned in the horizontal direction (see the X direction in FIG. 4). To scan the outer periphery on the right side of the flat plate 46, the trolley 44 is used to move the flat bed scan module 10 to the outer periphery on the right side of the flat plate 46, and the flat bed scan module 10 is moved along the outer periphery on the right side. The linear laser beam 13 is emitted from the second laser oscillation unit 14 while being moved, and the reflected laser beam 13 is photographed by the camera 20 to scan the shape of the outer periphery on the right side of the flat plate 46.

このように、第1レーザ発振部12と第2レーザ発振部14は互いに対をなして縦方向の互いに対向する平板46の外周辺にそれぞれレーザビーム13を出射することになる。   Thus, the first laser oscillation unit 12 and the second laser oscillation unit 14 emit a laser beam 13 to the outer periphery of the flat plate 46 facing each other in the vertical direction in a pair.

垂直方向(図4のY方向参照)に位置する第3レーザ発振部16及び第4レーザ発振部18は、平板46の横方向の外周辺をスキャンするためのものであって、第3レーザ発振部16及び第4レーザ発振部18は互いに対をなして横方向の互いに対向する平板46の外周辺にそれぞれレーザビーム13を出射することになる。   The third laser oscillation unit 16 and the fourth laser oscillation unit 18 positioned in the vertical direction (see the Y direction in FIG. 4) are for scanning the outer periphery in the lateral direction of the flat plate 46, and the third laser oscillation is performed. The part 16 and the fourth laser oscillation part 18 emit a laser beam 13 to the outer periphery of the flat plates 46 that are opposed to each other in the lateral direction.

第3レーザ発振部16及び第4レーザ発振部18を用いて平板46の形状をスキャンする方法は、上述した第1レーザ発振部12及び第2レーザ発振部14を用いてスキャンする方法と類似しているので、その説明を省略する。   The method of scanning the shape of the flat plate 46 using the third laser oscillation unit 16 and the fourth laser oscillation unit 18 is similar to the method of scanning using the first laser oscillation unit 12 and the second laser oscillation unit 14 described above. The description thereof is omitted.

本実施例では、四角形平板46の形状をスキャンする方法について説明したが、上述したように第1レーザ発振部12及び第2レーザ発振部14を用いて平板46の縦方向の外周辺をスキャンすることができ、第3レーザ発振部16及び第4レーザ発振部18を用いて平板46の横方向の外周辺をスキャンすることができるので、円形、多角形など様々な形状の平板46をスキャンすることができることは明らかである。   In this embodiment, the method for scanning the shape of the rectangular flat plate 46 has been described. However, as described above, the outer periphery in the vertical direction of the flat plate 46 is scanned using the first laser oscillation unit 12 and the second laser oscillation unit 14. Since the outer periphery in the lateral direction of the flat plate 46 can be scanned using the third laser oscillation unit 16 and the fourth laser oscillation unit 18, the flat plate 46 having various shapes such as a circle and a polygon is scanned. Obviously it can be done.

図10は、本発明の一実施例に係るフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定用ジグを用いたアライメント誤差測定過程を示す概略図である。   FIG. 10 is a schematic diagram illustrating an alignment error measurement process using an alignment error measurement jig of a flatbed scan module according to an embodiment of the present invention.

本実施例によれば、図10に示すように、平面部120と傾斜部130とを含むフラットベッド・スキャン・モジュール10のアライメント誤差測定用ジグ110が提供される。   According to the present embodiment, as shown in FIG. 10, an alignment error measurement jig 110 of the flatbed scan module 10 including a flat portion 120 and an inclined portion 130 is provided.

このようなアライメント誤差測定用ジグ110は、フラットベッド・スキャン・モジュール10とフラットベッド・スキャン・モジュール10が設けられた対象装備105との間のアライメント誤差を測定するために利用される。さらに、フラットベッド・スキャン・モジュール10の構成部品であるレーザ発振部とカメラとの間のアライメント誤差を測定するために利用される。   Such an alignment error measuring jig 110 is used to measure an alignment error between the flatbed scan module 10 and the target equipment 105 provided with the flatbed scan module 10. Further, it is used to measure an alignment error between the laser oscillation unit which is a component of the flatbed scan module 10 and the camera.

フラットベッド・スキャン・モジュール10の具体的な構成は、上述した通りであるのでその説明を省略する。   Since the specific configuration of the flatbed scan module 10 is as described above, its description is omitted.

上述したフラットベッド・スキャン・モジュール10の第1レーザ発振部、第2レーザ発振部、第3レーザ発振部及び第4レーザ発振部から選択された一対のレーザ発振部から線状のレーザビームが出射されて十字ビームを形成し、カメラはアライメント誤差測定用ジグ110に走査された十字ビームを撮影する。   A linear laser beam is emitted from a pair of laser oscillation units selected from the first laser oscillation unit, the second laser oscillation unit, the third laser oscillation unit, and the fourth laser oscillation unit of the flatbed scan module 10 described above. Then, a cross beam is formed, and the camera photographs the cross beam scanned by the alignment error measurement jig 110.

第1レーザ発振部及び第3レーザ発振部が一対になって十字ビームを形成してもよく、第2レーザ発振部及び第4レーザ発振部が一対になって十字ビームを形成してもよい。また、第1レーザ発振部及び第4レーザ発振部が一対になって十字ビームを形成してもよく、第2レーザ発振部及び第3レーザ発振部が一対になって十字ビームを形成してもよい。   The first laser oscillation unit and the third laser oscillation unit may be paired to form a cross beam, or the second laser oscillation unit and the fourth laser oscillation unit may be paired to form a cross beam. Alternatively, the first laser oscillation unit and the fourth laser oscillation unit may be paired to form a cross beam, or the second laser oscillation unit and the third laser oscillation unit may be paired to form a cross beam. Good.

本実施例によれば、制御部(図示せず)は、カメラにより撮影された映像の入力を受け、この映像のうちの基準ライン及び測定ライン(平面部120に走査された十字ビームにより表示される映像)から、後述する第1及び第2基準座標値、第1及び第2測定座標値、そして基準ライン及び測定ラインの長さ、傾き、厚さなどのような基準データ及び測定データを抽出して、これらを用いてアライメント誤差を算出することができる。   According to the present embodiment, a control unit (not shown) receives an image captured by a camera and is displayed by a reference line and a measurement line (cross beam scanned on the plane unit 120) of the image. 1st and 2nd reference coordinate values, 1st and 2nd measurement coordinate values, and reference data and measurement data such as the length, inclination and thickness of the reference line and measurement line are extracted from Thus, the alignment error can be calculated using these.

このように本実施例によれば、フラットベッド・スキャン・モジュール10と対象装備105との間のアライメント誤差を確認し、その誤差の程度を容易に測定することができる。さらに、フラットベッド・スキャン・モジュール10のカメラと一対のレーザ発振部との間のアライメント誤差を確認し、その誤差の程度を容易に測定することができる。   Thus, according to the present embodiment, the alignment error between the flatbed scan module 10 and the target equipment 105 can be confirmed, and the degree of the error can be easily measured. Furthermore, the alignment error between the camera of the flatbed scan module 10 and the pair of laser oscillation units can be confirmed, and the degree of the error can be easily measured.

以下、図10ないし図12を参照して各構成についてより詳細に説明する。   Hereinafter, each configuration will be described in more detail with reference to FIGS. 10 to 12.

図11及び図12は、本発明の一実施例に係るフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定用ジグを示す平面図及び正面図である。   11 and 12 are a plan view and a front view showing an alignment error measurement jig of the flatbed scan module according to one embodiment of the present invention.

平面部120は、図10ないし図12に示すように、十字ビームが走査される平面を有する。つまり、第1ないし第4レーザ発振部から選択された一対のレーザ発振部から発生される十字ビームは平面部120の平面及び傾斜部130の傾斜面上に走査され、平面部120の表面には基準ラインまたは測定ラインが形成される。   As shown in FIGS. 10 to 12, the plane unit 120 has a plane on which the cross beam is scanned. That is, the cross beam generated from the pair of laser oscillation units selected from the first to fourth laser oscillation units is scanned on the plane of the plane unit 120 and the inclined plane of the ramp unit 130, A reference line or measurement line is formed.

これにより、一対のレーザ発振部から走査された十字ビームが平面部120上に基準ラインまたは測定ラインとして直線で表示されるので、フラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント時の基準データ及びフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差の発生時の測定データをより精密に得ることができる。   As a result, the cross beam scanned from the pair of laser oscillation units is displayed as a straight line as a reference line or a measurement line on the plane unit 120, so that the reference data and flat bed scan during alignment of the flat bed scan module are displayed.・ Measurement data at the time of module alignment error can be obtained more precisely.

この場合、平面部120の平面は、図10ないし図12に示すように正四角形である。平面部120が正四角形の平面を有することにより、フラットベッド・スキャン・モジュール10のアライメント時に平面部120上に表示される一対の基準ラインの長さが互いに等しくなるので、より容易にアライメント誤差を算出することができる。   In this case, the plane of the plane portion 120 is a regular square as shown in FIGS. Since the plane part 120 has a regular rectangular plane, the lengths of the pair of reference lines displayed on the plane part 120 when the flatbed scan module 10 is aligned are equal to each other. Can be calculated.

傾斜部130は、図10ないし図12に示すように、平面部120を取り囲み、平面に接する傾斜面を有する。傾斜部130は平面部120の外周に沿って形成され、平面部120の平面に対して傾いて形成される。これにより、平面部120と傾斜部130との境界ライン(平面の辺)に、カメラによる位置の抽出が容易となる特異点が形成され、より容易に精密な基準データ及び測定データを抽出することができる。   As shown in FIGS. 10 to 12, the inclined portion 130 has an inclined surface that surrounds the flat surface portion 120 and is in contact with the flat surface. The inclined portion 130 is formed along the outer periphery of the planar portion 120 and is inclined with respect to the plane of the planar portion 120. As a result, a singular point that facilitates the extraction of the position by the camera is formed on the boundary line (side of the plane) between the plane portion 120 and the inclined portion 130, and more accurate reference data and measurement data can be extracted more easily. Can do.

傾斜部130の傾斜面は、図10ないし図12に示すように、平面の辺にそれぞれ接する4つの台形面を含むことができる。上述したように、平面部120の平面は正四角形であるため、4つの台形面からなる傾斜面は該正四角形の平面の辺にそれぞれ接することになる。   As shown in FIGS. 10 to 12, the inclined surface of the inclined portion 130 may include four trapezoidal surfaces that are in contact with the sides of the plane. As described above, since the plane of the plane portion 120 is a regular tetragon, the inclined surfaces formed by the four trapezoidal surfaces are in contact with the sides of the regular tetragonal plane.

なお、図10ないし図12に示すように、平面に対する4つの台形面の傾斜度は互いに等しい。つまり、傾斜部130の台形形状の傾斜面は平面を基準としてそれぞれ等しく傾いて形成される。   As shown in FIGS. 10 to 12, the inclinations of the four trapezoidal surfaces with respect to the plane are equal to each other. That is, the trapezoidal inclined surfaces of the inclined portion 130 are formed to be equally inclined with respect to the plane.

結局、本実施例に係るアライメント誤差測定用ジグ110は、図10ないし図12に示すように、正四角錐台形状に実現される。これにより、アライメント誤差測定用ジグ110が左右及び上下対称をなすので、より容易にフラットベッド・スキャン・モジュール10のアライメント誤差を確認することができ、さらに、より精密にそのアライメント誤差を測定することができる。   Eventually, the alignment error measuring jig 110 according to the present embodiment is realized in the shape of a regular quadrangular pyramid as shown in FIGS. As a result, the alignment error measuring jig 110 is horizontally and vertically symmetric, so that the alignment error of the flatbed scan module 10 can be more easily confirmed, and the alignment error can be measured more precisely. Can do.

次に、本発明の他の実施例に係るフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定方法について説明する。   Next, a method for measuring an alignment error of a flatbed scan module according to another embodiment of the present invention will be described.

図13は、本発明の他の実施例に係るフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定方法を示す順序図である。   FIG. 13 is a flowchart illustrating an alignment error measurement method for a flatbed scan module according to another embodiment of the present invention.

図10及び図13を参照すると、本実施例に係るフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定方法は、上述の実施例で説明したアライメント誤差測定用ジグ110を用いてレーザ発振部とカメラとの間のアライメント誤差、及びフラットベッド・スキャン・モジュール10と対象装備105との間のアライメント誤差を測定するための方法であって、フラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント時の基準データを得るステップと、フラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差の発生時の測定データを得るステップと、基準データに対する測定データの誤差を算出するステップと、を含むことができる。   Referring to FIG. 10 and FIG. 13, the alignment error measurement method of the flatbed scan module according to the present embodiment uses the alignment error measurement jig 110 described in the above-described embodiment to connect the laser oscillation unit and the camera. A method for measuring an alignment error between the flatbed scan module 10 and the target equipment 105, and obtaining reference data during alignment of the flatbed scan module; Obtaining measurement data when an alignment error of the flatbed scan module occurs and calculating an error of the measurement data with respect to the reference data can be included.

本実施例によれば、フラットベッド・スキャン・モジュール10と対象装備105との間のアライメント誤差を確認し、その誤差の程度を容易に測定することができる。さらにフラットベッド・スキャン・モジュール10のカメラとレーザ発振部との間のアライメント誤差を確認し、その誤差の程度を容易に測定することができる。   According to the present embodiment, the alignment error between the flatbed scan module 10 and the target equipment 105 can be confirmed, and the degree of the error can be easily measured. Furthermore, the alignment error between the camera of the flatbed scan module 10 and the laser oscillation unit can be confirmed, and the degree of the error can be easily measured.

具体的に、本実施例に係るフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定方法を説明すると、先ず、レーザ発振部とカメラ、及びフラットベッド・スキャン・モジュール10と対象装備105がそれぞれアライメントされている初期状態においてアライメント誤差測定用ジグ110を対象装備105とアライメントさせる(S110)。   Specifically, the alignment error measuring method of the flatbed scan module according to the present embodiment will be described. First, the laser oscillation unit and the camera, and the flatbed scan module 10 and the target equipment 105 are respectively aligned. In the initial state, the alignment error measuring jig 110 is aligned with the target equipment 105 (S110).

この場合、アライメント誤差測定用ジグ110の傾斜部130側の方向には原点アライメント部(図示せず)が配置されてもよい。よって、このような原点アライメント部を用いてアライメント誤差測定用ジグ110と対象装備105とをより効果的にアライメントさせることができる。   In this case, an origin alignment unit (not shown) may be disposed in the direction of the inclined portion 130 side of the alignment error measuring jig 110. Therefore, the alignment error measurement jig 110 and the target equipment 105 can be more effectively aligned using such an origin alignment unit.

次に、レーザ発振部とカメラ、及びフラットベッド・スキャン・モジュール10と対象装備105のアライメント時、十字ビームが平面部120に走査されて形成される一対の基準ラインをカメラで撮影して基準データを得る(S120)。   Next, at the time of alignment of the laser oscillation unit and the camera, and the flatbed scan module 10 and the target equipment 105, a pair of reference lines formed by scanning the cross beam on the plane unit 120 is photographed by the camera and the reference data. Is obtained (S120).

図14は、本発明の他の実施例に係るフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定方法の基準データを得る過程における基準ラインを示す平面図である。   FIG. 14 is a plan view showing a reference line in a process of obtaining reference data of an alignment error measurement method for a flatbed scan module according to another embodiment of the present invention.

図14に示すように、カメラにより撮影された映像には十字ビームが平面部120に走査されて形成された一対の基準ライン150a、150bが表示される。したがって、このような基準ライン150a、150bから基準データを抽出することができる。ここで、基準データには、第1基準座標値、第2基準座標値、基準ラインの長さ及び傾きなどが含まれてもよい。   As shown in FIG. 14, a pair of reference lines 150 a and 150 b formed by scanning the cross beam on the plane unit 120 is displayed on the image captured by the camera. Accordingly, reference data can be extracted from such reference lines 150a and 150b. Here, the reference data may include the first reference coordinate value, the second reference coordinate value, the length and inclination of the reference line, and the like.

第1基準座標値は、一対の基準ライン150a、150bのそれぞれの両端点a1、a2、b1、b2に対する2次元座標値を意味する。図14に示すように、十字ビームによりアライメント誤差測定用ジグ110に表示される映像は、アライメント誤差測定用ジグ110により折れて特異点を生成することになるので、このように生成された特異点、つまり各基準ライン150a、150bの両端点a1、a2、b1、b2に対する2次元座標が第1基準座標値として得られる。   The first reference coordinate value means a two-dimensional coordinate value for each of the end points a1, a2, b1, b2 of the pair of reference lines 150a, 150b. As shown in FIG. 14, the image displayed on the alignment error measurement jig 110 by the cross beam is folded by the alignment error measurement jig 110 to generate a singular point, and thus the singular point generated in this way. That is, the two-dimensional coordinates for the end points a1, a2, b1, b2 of the reference lines 150a, 150b are obtained as the first reference coordinate values.

第2基準座標値は、一対の基準ライン150a、150bのそれぞれの中心点に対する第2次元座標値を意味する。このような第2基準座標値は、上述した第1基準座標値を用いて算出することが可能である。   The second reference coordinate value means a second dimension coordinate value for the center point of each of the pair of reference lines 150a and 150b. Such a second reference coordinate value can be calculated using the first reference coordinate value described above.

例えば、任意の基準ライン150aの両端点a1、a2に対する2次元座標が第1基準座標値である。この場合、両端点a1、a2に対する第1基準座標値の中点が第2基準座標値として得られることができる。   For example, the two-dimensional coordinates for the end points a1 and a2 of the arbitrary reference line 150a are the first reference coordinate values. In this case, the midpoint of the first reference coordinate value with respect to both end points a1 and a2 can be obtained as the second reference coordinate value.

一対の基準ライン150a、150bの長さ及び傾きも上述した第1基準座標値を用いて算出することができる。例えば、一つの基準ライン150aの両端点a1、a2に対する2つの第1基準座標値の間の距離が当該基準ライン150aの長さとして得られ、このような2つの第1基準座標値から基準軸である残りの一つの基準ライン150bに対する傾きを算出することができる。   The length and inclination of the pair of reference lines 150a and 150b can also be calculated using the above-described first reference coordinate values. For example, a distance between two first reference coordinate values with respect to both end points a1 and a2 of one reference line 150a is obtained as the length of the reference line 150a, and the reference axis is calculated from the two first reference coordinate values. The inclination with respect to the remaining one reference line 150b can be calculated.

また、上述した基準データとして一対の基準ライン150a、150bの厚さを得ることもできる。   Further, the thickness of the pair of reference lines 150a and 150b can be obtained as the reference data described above.

次に、レーザ発振部とカメラとの間、及びフラットベッド・スキャン・モジュールと対象装備との間のうちの少なくともいずれか一方にアライメント誤差の発生時に、十字ビームが平面部120に走査されて形成される一対の測定ライン150c、150dをカメラで撮影して測定データを得る(S130)。   Next, when an alignment error occurs between at least one of the laser oscillation unit and the camera and between the flatbed scan module and the target equipment, the cross beam is scanned on the plane unit 120 and formed. A pair of measurement lines 150c and 150d is photographed with a camera to obtain measurement data (S130).

このように測定データを得るためには、上述した基準データを得る過程と同様に原点アライメント部を用いてアライメント誤差測定用ジグ110を対象装備105にアライメントさせる過程が要求される。これにより、アライメント誤差測定用ジグ110は、対象装備105に対して基準データを得るときと同様な相対的位置を維持することになる。   In order to obtain the measurement data in this way, a process of aligning the alignment error measurement jig 110 with the target equipment 105 using the origin alignment unit is required in the same manner as the process of obtaining the reference data described above. As a result, the alignment error measurement jig 110 maintains the same relative position as when the reference data is obtained for the target equipment 105.

図15ないし図18は、本発明の他の実施例に係るフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定方法の測定データを得る過程における測定ラインを示す平面図である。   15 to 18 are plan views showing measurement lines in a process of obtaining measurement data of an alignment error measurement method for a flatbed scan module according to another embodiment of the present invention.

図15ないし図18に示すように、カメラにより撮影された映像には、十字ビームが平面部120に走査されて形成された一対の測定ライン150c、150dが表示される。したがって、このような測定ライン150c、150dから測定データを抽出することができる。ここで、測定データには、基準データと同様に、第1測定座標値、第2測定座標値、測定ラインの長さ及び傾きなどが含まれてもよい。   As shown in FIGS. 15 to 18, a pair of measurement lines 150 c and 150 d formed by scanning the cross beam on the plane portion 120 is displayed on the image taken by the camera. Therefore, measurement data can be extracted from such measurement lines 150c and 150d. Here, like the reference data, the measurement data may include the first measurement coordinate value, the second measurement coordinate value, the length and inclination of the measurement line, and the like.

第1測定座標値の測定データは、一対の測定ライン150c、150dのそれぞれの両端点c1、c2、d1、d2に対する2次元座標値を意味する。第2測定座標値は、一対の測定ライン150c、150dのそれぞれの中心点に対する2次元座標値を意味し、これは第1測定座標値を用いて算出することができる。   The measurement data of the first measurement coordinate value means a two-dimensional coordinate value for each of the end points c1, c2, d1, and d2 of the pair of measurement lines 150c and 150d. The second measurement coordinate value means a two-dimensional coordinate value with respect to the center point of each of the pair of measurement lines 150c and 150d, and can be calculated using the first measurement coordinate value.

一対の測定ライン150c、150dの長さ及び傾きも第1測定座標値を用いて算出することができる。そして、測定データとして測定ラインの厚さを得ることもできる。   The length and inclination of the pair of measurement lines 150c and 150d can also be calculated using the first measurement coordinate values. And the thickness of a measurement line can also be obtained as measurement data.

次に、基準データと測定データとを比べて、基準データに対する測定データの誤差を算出する(S140)。上述した過程により基準データ及び測定データを確保した後に、これらを互いに比べることによりフラットベッド・スキャン・モジュール10(図10参照)と対象装備105(図10参照)との間、またはレーザ発振部とカメラとの間のアライメント可否を容易に確認することができる。   Next, the reference data and the measurement data are compared to calculate an error of the measurement data with respect to the reference data (S140). After securing the reference data and measurement data by the above-described process, comparing them with each other, the flatbed scan module 10 (see FIG. 10) and the target equipment 105 (see FIG. 10) or the laser oscillation unit Whether or not alignment with the camera is possible can be easily confirmed.

また、基準データに対する測定データの誤差を算出することにより、フラットベッド・スキャン・モジュール10(図10参照)と対象装備105(図10参照)との間、またはレーザ発振部とカメラとの間のアライメント誤差の程度を容易に測定することができる。   Further, by calculating the error of the measurement data with respect to the reference data, between the flatbed scan module 10 (see FIG. 10) and the target equipment 105 (see FIG. 10), or between the laser oscillation unit and the camera. The degree of alignment error can be easily measured.

さらに、基準データ及び測定データ中の厚さに関するデータを相互比べてレーザ発振部の異常可否を容易に確認することができる。   Furthermore, it is possible to easily confirm whether the laser oscillation unit is abnormal by comparing the reference data and the data related to the thickness in the measurement data.

具体的に、図14及び図15を参照すると、測定データ中のラインの長さ、傾き及び厚さは、先立って得られた基準データと同様である。ただし、ライン交差点は、基準データに比べて水平移動された。   Specifically, referring to FIG. 14 and FIG. 15, the length, inclination and thickness of the line in the measurement data are the same as the reference data obtained in advance. However, the line intersection was moved horizontally compared to the reference data.

これにより、フラットベッド・スキャン・モジュール10(図10参照)自体の中心が対象装備105(図10参照)に対して水平方向に移動配置されたことを確認できる。これにより、フラットベッド・スキャン・モジュール10が対象装備105に対してアライメントされていないことが分かる。   Thereby, it can be confirmed that the center of the flatbed scan module 10 (see FIG. 10) is moved and arranged in the horizontal direction with respect to the target equipment 105 (see FIG. 10). Thereby, it can be seen that the flatbed scan module 10 is not aligned with the target equipment 105.

図14及び図16を参照すると、測定データ中のラインの厚さは先立って得られた基準データと同様である。ただし、ラインの長さ、傾きは、基準データに比べて差がある。つまり、一つの測定ライン150cの長さが、これに対応する基準ライン150aの長さと異なり、一つの測定ライン150cと残りの一つの測定ライン150dの相互間の傾きが、一対の基準ライン150a、150bの間の傾きと異なる。   Referring to FIGS. 14 and 16, the thickness of the line in the measurement data is the same as the reference data obtained in advance. However, the length and slope of the line are different from the reference data. That is, the length of one measurement line 150c is different from the length of the corresponding reference line 150a, and the inclination between one measurement line 150c and the remaining one measurement line 150d is a pair of reference lines 150a, Different from the slope between 150b.

これにより、十字ビームを生成するレーザ発振部に含まれた一対のレーザダイオードの離隔角がアライメントされた状態から外れていることを確認できる。   Accordingly, it can be confirmed that the separation angles of the pair of laser diodes included in the laser oscillation unit that generates the cross beam are out of the aligned state.

図14及び図17を参照すると、測定データ中のラインの長さ、ラインの傾き、ラインの厚さは、先立って得られた基準データと同様である。ただし、図17に示すカメラにより撮影されたアライメント誤差測定用ジグ110及びこれに走査された一対の測定ライン150c、150dに対する映像は、図14に示された映像に比べて一定角度に回転した状態にある。   Referring to FIGS. 14 and 17, the line length, the line inclination, and the line thickness in the measurement data are the same as the reference data obtained in advance. However, the image of the alignment error measurement jig 110 photographed by the camera shown in FIG. 17 and the pair of measurement lines 150c and 150d scanned by the jig is rotated at a constant angle as compared with the image shown in FIG. It is in.

これにより、カメラのみが、アライメントされた状態から外れていることを確認できる。   Thereby, it can be confirmed that only the camera is out of the aligned state.

図14及び図18を参照すると、一対の測定ライン150c、150dのうちの一つの測定ライン150cの厚さが、これに対応する基準ライン150aに比べて小さい。これにより、レーザ発振部に含まれた一対のレーザダイオードのうちの一つのレーザダイオードが弱化されたか損傷されたことを確認できる。   14 and 18, the thickness of one measurement line 150c of the pair of measurement lines 150c, 150d is smaller than the corresponding reference line 150a. Thereby, it can be confirmed that one of the laser diodes included in the laser oscillation unit is weakened or damaged.

上記では、本発明の好ましい実施例を参照して説明したが、該当技術分野で通常の知識を有する者であれば、下記の特許請求の範囲に記載された本発明の思想及び領域から逸脱しない範囲内で本発明を多様に修正及び変更させることができることを理解できよう。   The above description has been made with reference to the preferred embodiments of the present invention. However, those skilled in the art will not depart from the spirit and scope of the present invention described in the following claims. It will be understood that various modifications and changes can be made to the present invention within the scope.

10 フラットベッド・スキャン・モジュール、
12、14、16、18 レーザ発振部、
20 カメラ、
22 ブラケット、
24 フレーム、
26 下部ケース、
28、32 サポート、
30、36 開口部、
34 上部ケース、
38 レール、
40 ガントリ、
42 トロリーレール、
44 トロリー、
46 平板、
48 固定具、
50 四角枠、
52 連結バー、
54 連結具、
110 アライメント誤差測定用ジグ、
120 平面部、
130 傾斜部、
150a、150b 基準ライン、
150c、150d 測定ライン。
10 Flatbed scan module,
12, 14, 16, 18 laser oscillation part,
20 cameras,
22 bracket,
24 frames,
26 Lower case,
28, 32 support,
30, 36 opening,
34 Upper case,
38 rails,
40 Gantry,
42 Trolley rail,
44 Trolley,
46 flat plate,
48 fasteners,
50 square frame,
52 connecting bar,
54 connectors,
110 Jig for measuring alignment error,
120 plane part,
130 slope,
150a, 150b reference line,
150c, 150d Measurement line.

Claims (9)

仮想の四角形の一辺の両端部にそれぞれ位置し、平板及び前記平面に接する傾斜面に線状のレーザビームを出射する第1レーザ発振部及び第2レーザ発振部と、
前記四角形の一辺に隣接した他辺の両端部にそれぞれ位置し、前記平板及び前記平面に接する傾斜面に線状のレーザビームを出射する第3レーザ発振部及び第4レーザ発振部と、
前記四角形の中央部に位置し、前記平板及び前記平面に接する傾斜面から反射された前記レーザビームを撮影するカメラと、
前記第1レーザ発振部ないし第4レーザ発振部及び前記カメラを支持するフレームと、を含むフラットベッド・スキャン・モジュールの前記第1レーザ発振部、前記第2レーザ発振部、前記第3レーザ発振部及び前記第4レーザ発振部から選択された一対のレーザ発振部から線状のレーザビームが出射されて十字ビームを形成し、前記一対のレーザ発振部と前記カメラとの間のアライメント誤差、及び前記フラットベッド・スキャン・モジュールと前記フラットベッド・スキャン・モジュールが設けられた対象装備との間のアライメント誤差を測定するための、フラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定用ジグであって、
前記十字ビームが走査される平面を有する平面部と、
前記平面部を取り囲み、前記平面に接する傾斜面を有する傾斜部と、を含むフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定用ジグ。
A first laser oscillating unit and a second laser oscillating unit which are respectively located at both ends of one side of a virtual quadrangle and emit a linear laser beam to an inclined surface in contact with the flat plate and the plane;
A third laser oscillation unit and a fourth laser oscillation unit, which are respectively located at both ends of the other side adjacent to one side of the quadrangle, and emit linear laser beams to the inclined surface in contact with the flat plate and the plane;
A camera for photographing the laser beam reflected from an inclined surface in contact with the flat plate and the plane, which is located at the center of the quadrangle;
The first laser oscillation unit, the second laser oscillation unit, and the third laser oscillation unit of a flatbed scan module including the first laser oscillation unit to the fourth laser oscillation unit and a frame that supports the camera. A linear laser beam is emitted from a pair of laser oscillation units selected from the fourth laser oscillation unit to form a cross beam, and an alignment error between the pair of laser oscillation units and the camera, and A jig for measuring an alignment error of a flatbed scan module for measuring an alignment error between the flatbed scan module and a target equipment provided with the flatbed scan module,
A plane portion having a plane in which the cross beam is scanned;
A jig for measuring an alignment error of a flatbed scan module, comprising: an inclined portion surrounding the flat portion and having an inclined surface in contact with the flat surface.
前記平面は、正四角形であり、
前記傾斜面は、前記平面の辺にそれぞれ接する4つの台形面を含むことを特徴とする請求項1に記載のフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定用ジグ。
The plane is a regular square;
The jig for measuring an alignment error of a flatbed scan module according to claim 1, wherein the inclined surface includes four trapezoidal surfaces that are in contact with the sides of the plane.
前記平面に対する前記4つの台形面の傾斜度は、互いに等しいことを特徴とする請求項2に記載のフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定用ジグ。   The jig for measuring an alignment error of a flatbed scan module according to claim 2, wherein the inclinations of the four trapezoidal surfaces with respect to the plane are equal to each other. 請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載のアライメント誤差測定用ジグを用いて、前記一対のレーザ発振部と前記カメラとの間のアライメント誤差、及び前記フラットベッド・スキャン・モジュールと前記フラットベッド・スキャン・モジュールが設けられた対象装備との間のアライメント誤差を測定するための方法であって、
前記一対のレーザ発振部と前記カメラ、及び前記フラットベッド・スキャン・モジュールと前記対象装備のアライメント時、前記十字ビームが前記平面部に走査されて形成される一対の基準ラインを前記カメラで撮影して基準データを得るステップと、
前記一対のレーザ発振部と前記カメラとの間、及び前記フラットベッド・スキャン・モジュールと前記対象装備との間のうちの少なくともいずれか一方にアライメント誤差の発生時、前記十字ビームが前記平面部に走査されて形成される一対の測定ラインを前記カメラで撮影して測定データを得るステップと、
前記基準データと前記測定データとを比べて、前記基準データに対する前記測定データの誤差を算出するステップと、
を含むフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定方法。
An alignment error measurement jig according to any one of claims 1 to 3, and an alignment error between the pair of laser oscillation units and the camera, the flatbed scan module, and the jig A method for measuring an alignment error with a target equipment provided with a flatbed scan module,
When aligning the pair of laser oscillation units and the camera, and the flatbed scan module and the target equipment, the camera captures a pair of reference lines formed by scanning the cross beam on the plane portion. Obtaining reference data
When an alignment error occurs between at least one of the pair of laser oscillation units and the camera and between the flatbed scan module and the target equipment, the cross beam is placed on the plane unit. Capturing a pair of measurement lines formed by scanning with the camera to obtain measurement data;
Comparing the reference data with the measurement data to calculate an error of the measurement data with respect to the reference data;
Alignment error measurement method for flatbed scan module including
前記基準データは、前記一対の基準ラインそれぞれの両端点に対する第1基準座標値を含み、
前記測定データは、前記一対の測定ラインそれぞれの両端点に対する第1測定座標値を含むことを特徴とする請求項4に記載のフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定方法。
The reference data includes first reference coordinate values for both end points of the pair of reference lines,
5. The method for measuring an alignment error of a flatbed scan module according to claim 4, wherein the measurement data includes first measurement coordinate values for both end points of the pair of measurement lines.
前記基準データは、前記一対の基準ラインそれぞれの中心点に対する第2基準座標値をさらに含み、
前記測定データは、前記一対の測定ラインそれぞれの中心点に対する第2測定座標値をさらに含むことを特徴とする請求項5に記載のフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定方法。
The reference data further includes a second reference coordinate value for the center point of each of the pair of reference lines,
6. The method for measuring an alignment error of a flatbed scan module according to claim 5, wherein the measurement data further includes a second measurement coordinate value with respect to a center point of each of the pair of measurement lines.
前記基準データは、前記一対の基準ラインそれぞれの長さをさらに含み、
前記測定データは、前記一対の測定ラインそれぞれの長さをさらに含むことを特徴とする請求項5に記載のフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定方法。
The reference data further includes a length of each of the pair of reference lines,
The method of claim 5, wherein the measurement data further includes the length of each of the pair of measurement lines.
前記基準データは、前記一対の基準ラインのうちの一つの基準ラインに対する残りの基準ラインの傾きをさらに含み、
前記測定データは、前記一対の測定ラインのうちの一つの測定ラインに対する残りの測定ラインの傾きをさらに含むことを特徴とする請求項5に記載のフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定方法。
The reference data further includes an inclination of the remaining reference line with respect to one reference line of the pair of reference lines,
The method of claim 5, wherein the measurement data further includes an inclination of a remaining measurement line with respect to one measurement line of the pair of measurement lines.
前記基準データは、前記一対の基準ラインそれぞれの厚さをさらに含み、
前記測定データは、前記一対の測定ラインそれぞれの厚さをさらに含むことを特徴とする請求項5に記載のフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定方法。
The reference data further includes a thickness of each of the pair of reference lines,
6. The method for measuring an alignment error of a flatbed scan module according to claim 5, wherein the measurement data further includes a thickness of each of the pair of measurement lines.
JP2013221041A 2009-05-21 2013-10-24 Flat bed scan module, flat bed scan system, flat bed scan module alignment error measurement jig and flat bed scan module alignment error measurement method using flat bed scan module alignment error measurement jig Pending JP2014059309A (en)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020090044333A KR101194756B1 (en) 2009-05-21 2009-05-21 Module for scanning plate and system for scanning plate
KR10-2009-0044333 2009-05-21
KR10-2009-0074792 2009-08-13
KR1020090074792A KR101168297B1 (en) 2009-08-13 2009-08-13 Apparatus For Measuring Alignment Error Of a Laser Vision System and Method For Measuring Alignment Error Of a Laser Vision System Using the Same

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012511752A Division JP2012527611A (en) 2009-05-21 2010-05-06 Flatbed scan module, flatbed scan system, jig for measuring alignment error of flatbed scan module, and method of measuring alignment error of flatbed scan module using the same

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2014059309A true JP2014059309A (en) 2014-04-03

Family

ID=43126622

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012511752A Pending JP2012527611A (en) 2009-05-21 2010-05-06 Flatbed scan module, flatbed scan system, jig for measuring alignment error of flatbed scan module, and method of measuring alignment error of flatbed scan module using the same
JP2013221041A Pending JP2014059309A (en) 2009-05-21 2013-10-24 Flat bed scan module, flat bed scan system, flat bed scan module alignment error measurement jig and flat bed scan module alignment error measurement method using flat bed scan module alignment error measurement jig

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012511752A Pending JP2012527611A (en) 2009-05-21 2010-05-06 Flatbed scan module, flatbed scan system, jig for measuring alignment error of flatbed scan module, and method of measuring alignment error of flatbed scan module using the same

Country Status (3)

Country Link
JP (2) JP2012527611A (en)
CN (1) CN102549377A (en)
WO (1) WO2010134709A2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017072575A (en) * 2015-10-08 2017-04-13 恩斯邁電子(深▲しん▼)有限公司Msi Computer (Shenzhen) Co.,Ltd. Laser range finding calibration method and device using the same

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5350082B2 (en) * 2009-05-29 2013-11-27 株式会社ブリヂストン Accuracy determination device for shape measuring device
CN105144346B (en) 2013-02-21 2017-12-15 恩耐公司 The laser scribing of sandwich construction
US10618131B2 (en) 2014-06-05 2020-04-14 Nlight, Inc. Laser patterning skew correction
US9837783B2 (en) 2015-01-26 2017-12-05 Nlight, Inc. High-power, single-mode fiber sources
US10050404B2 (en) 2015-03-26 2018-08-14 Nlight, Inc. Fiber source with cascaded gain stages and/or multimode delivery fiber with low splice loss
CN105091767B (en) * 2015-05-27 2017-10-10 北京理工大学 A kind of hand-held sheet material installation quality detector
US10295820B2 (en) 2016-01-19 2019-05-21 Nlight, Inc. Method of processing calibration data in 3D laser scanner systems
US10673199B2 (en) 2016-09-29 2020-06-02 Nlight, Inc. Fiber-based saturable absorber
US10673198B2 (en) 2016-09-29 2020-06-02 Nlight, Inc. Fiber-coupled laser with time varying beam characteristics
US10423015B2 (en) 2016-09-29 2019-09-24 Nlight, Inc. Adjustable beam characteristics
US10673197B2 (en) 2016-09-29 2020-06-02 Nlight, Inc. Fiber-based optical modulator
US10730785B2 (en) 2016-09-29 2020-08-04 Nlight, Inc. Optical fiber bending mechanisms
US11173548B2 (en) 2017-04-04 2021-11-16 Nlight, Inc. Optical fiducial generation for galvanometric scanner calibration
CN113532881B (en) * 2021-07-22 2022-09-20 中国第一汽车股份有限公司 Complete vehicle collision test method

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4645348A (en) * 1983-09-01 1987-02-24 Perceptron, Inc. Sensor-illumination system for use in three-dimensional measurement of objects and assemblies of objects
JPH05223524A (en) * 1982-09-29 1993-08-31 Technical Arts Corp Method of determining space coordinate of work
JPH0875435A (en) * 1994-09-01 1996-03-22 Penta Ocean Constr Co Ltd Transporting capacity measuring device
JP2000055619A (en) * 1998-08-05 2000-02-25 Tsubakimoto Chain Co Stacking position detector
JP2002310625A (en) * 2001-04-13 2002-10-23 Omron Corp Three-dimensional measuring method and instrument thereof
JP2007327882A (en) * 2006-06-08 2007-12-20 Konica Minolta Sensing Inc Three-dimensional shape measuring method and device, and focus adjusting method
JP2009036589A (en) * 2007-07-31 2009-02-19 Omron Corp Target for calibration and device, method and program for supporting calibration

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2530605B2 (en) * 1985-12-20 1996-09-04 財団法人 エヌエイチケイエンジニアリングサービス Object shape recognition device
JPH0755440A (en) * 1993-08-19 1995-03-03 Fuji Facom Corp Shape recognition system
JPH0825087A (en) * 1994-07-07 1996-01-30 Tanaka Seisakusho Kk Device for working steel
JPH0886616A (en) * 1994-09-16 1996-04-02 Mitsubishi Heavy Ind Ltd Method and apparatus for measuring three-dimensional image
US6094269A (en) * 1997-12-31 2000-07-25 Metroptic Technologies, Ltd. Apparatus and method for optically measuring an object surface contour
JP2001059720A (en) * 1999-08-23 2001-03-06 Fuji Photo Film Co Ltd Apparatus for inspecting sheet material
JP2004309344A (en) * 2003-04-08 2004-11-04 Act Denshi Kk Cross-sectional shape measuring method, reference tool used therefor, cross-sectional shape measuring device with supporter, and supporter for cross-sectional shape measuring device
US7460250B2 (en) * 2003-10-24 2008-12-02 3Dm Devices Inc. Laser triangulation system
CN2676151Y (en) * 2003-12-26 2005-02-02 暨南大学 Doublesided light knife type three dimensional profile measuring device with adjustable height measurement range
KR20070070733A (en) * 2005-12-29 2007-07-04 삼성중공업 주식회사 3d self-measurement system for the curved surface
JP2007206797A (en) * 2006-01-31 2007-08-16 Omron Corp Image processing method and image processor
JP5119602B2 (en) * 2006-03-08 2013-01-16 凸版印刷株式会社 Periodic pattern defect inspection method and defect inspection apparatus
JP4877100B2 (en) * 2007-06-29 2012-02-15 トヨタ自動車株式会社 Mounting board inspection apparatus and inspection method
KR20090027369A (en) * 2007-09-12 2009-03-17 삼성중공업 주식회사 Method for detecting an edge in measurement system

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05223524A (en) * 1982-09-29 1993-08-31 Technical Arts Corp Method of determining space coordinate of work
US4645348A (en) * 1983-09-01 1987-02-24 Perceptron, Inc. Sensor-illumination system for use in three-dimensional measurement of objects and assemblies of objects
JPH0875435A (en) * 1994-09-01 1996-03-22 Penta Ocean Constr Co Ltd Transporting capacity measuring device
JP2000055619A (en) * 1998-08-05 2000-02-25 Tsubakimoto Chain Co Stacking position detector
JP2002310625A (en) * 2001-04-13 2002-10-23 Omron Corp Three-dimensional measuring method and instrument thereof
JP2007327882A (en) * 2006-06-08 2007-12-20 Konica Minolta Sensing Inc Three-dimensional shape measuring method and device, and focus adjusting method
JP2009036589A (en) * 2007-07-31 2009-02-19 Omron Corp Target for calibration and device, method and program for supporting calibration

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017072575A (en) * 2015-10-08 2017-04-13 恩斯邁電子(深▲しん▼)有限公司Msi Computer (Shenzhen) Co.,Ltd. Laser range finding calibration method and device using the same
CN106569220A (en) * 2015-10-08 2017-04-19 恩斯迈电子(深圳)有限公司 Laser ranging correction method and device applying same

Also Published As

Publication number Publication date
WO2010134709A2 (en) 2010-11-25
WO2010134709A9 (en) 2011-03-10
CN102549377A (en) 2012-07-04
JP2012527611A (en) 2012-11-08
WO2010134709A3 (en) 2011-04-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2014059309A (en) Flat bed scan module, flat bed scan system, flat bed scan module alignment error measurement jig and flat bed scan module alignment error measurement method using flat bed scan module alignment error measurement jig
CN105620050B (en) High-precision galvanometer error self-correcting apparatus and method based on machine vision
CN103229018A (en) Profile measuring apparatus, method for manufacturing structure, and structure manufacturing system
CN113496523A (en) System and method for three-dimensional calibration of visual system
CN110831718A (en) Apparatus and method for automatic seam welding of workpieces comprising a base plate with a pattern of upright profiles
KR101168297B1 (en) Apparatus For Measuring Alignment Error Of a Laser Vision System and Method For Measuring Alignment Error Of a Laser Vision System Using the Same
KR20170102250A (en) Adaptive part profile creation via independent side measurement with alignment features
JP2019063954A (en) Robot system, calibration method and calibration program
CN102666000B (en) Bevelling apparatus and method of beveling
KR20060069802A (en) Laser marking system with creating correction file and the method for creating correction file therein
KR20220058740A (en) System and Method for calibration of robot based on a scanning
JP2006329895A (en) Substrate measuring apparatus
JP2013125915A (en) Method for detecting alignment mark and laser processing apparatus
JPWO2020202440A1 (en) Laser machining equipment, laser machining method, and error adjustment method
KR200422239Y1 (en) Laser marking apparatus with creating correction file
JP2001157951A (en) Shape accuracy measuring device by sequential two-point method, and method for measuring space between laser displacement meter for measuring shape accuracy by sequential two-point method
KR101194756B1 (en) Module for scanning plate and system for scanning plate
KR20090011265A (en) Method for automatically correcting center point offset according to scan head deviation in laser marking system
CN109506626A (en) A kind of measurement method of camera tilt angles
JPH07324915A (en) Method and apparatus for measuring sectional shape
KR101122257B1 (en) Apparatus for Calibrating a Laser Vision System and Method for Calibrating a Laser Vision System Using the Same
KR100856564B1 (en) Method for automatically correcting marking offset according to scan head deviation in laser marking system
JPS6129709A (en) Measuring method of shape
KR100890259B1 (en) Method for Automatically Correcting Marking Pattern Offset According to Driving Axis Deviation in Laser Marking System
JP2005216974A (en) Method for controlling move of moving block in electronic component mounting device, and matrix board used therefor

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20140718

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140805

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20150106

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20160222