JP2014045906A5

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Publication number: JP2014045906A5
Application number: JP2012190616A
Authority: JP
Filing date: 2012-08-30
Publication date: 2015-11-19
Anticipated expiration: 2032-08-30

Description

本発明の一側面に係る光断層撮像装置は、測定光を照射した被検査物からの戻り光と該測定光に対応する参照光との干渉光に基づいて、該被検査物の断層画像を取得する干渉光学系と、
前記被検査物に照明する照明光学系と、該照明光学系によって照明された前記被検査物からの戻り光を受光素子により受光する受光光学系とを有し、該受光素子から出力される受光信号に基づいて該被検査物の観察画像を得る観察光学系と、
前記受光光学系に配置される第１フォーカス用光学部材を移動させる第１フォーカス手段と、
前記第１フォーカス用光学部材の移動に連動させて、前記干渉光学系に配置される第２フォーカス用光学部材を移動させる第２フォーカス手段と、
を有する。

光路Ｌ２は、ＳＬＯ光学系（観察光学系）を成している。具体的には光路Ｌ２は、被検眼眼底に照明光を照射する照明光学系と、眼底反射光（戻り光）を受光素子により受光する受光光学系とを有し、受光素子から出力される受光信号に基づいて被検眼の正面眼底画像（観察画像）を得るように構成されている。具体的には、眼底観察光学系は、Xスキャナ、Yスキャナを持ち、眼底上にスポットをスキャンすることによって眼底２次元像を得るように構成されている。１１５は光源であり、例えば７８０ｎｍの波長の光を発生する。また、光源１１５から発せられた光を被検眼１００の眼底上で走査するためのXスキャナ１１７−１、Yスキャナ１１７−２が配置されている。レンズ１０１−２は、Xスキャナ１１７−１、Yスキャナ１１７−２の中心位置付近を焦点位置として配置されている。Xスキャナ１１７−１は、Ｘ方向に高速スキャンするために、ポリゴンミラーによって構成されている。あるいは、Xスキャナ１１７−１は共振型のミラーで構成されていてもよい。また、１１６はシングルディテクタであり、ＡＰＤ（アバランシェフォトダイオード）で構成され、眼底から散乱・反射され戻ってきた光（眼底反射光）を受光する受光素子である。１１９はピンホール板であり、シングルディテクタ１１６の直前に配置されている。このために、フォーカスが合った際にシングルディテクタ１１６に最大の光量が到達する仕組みになっている。１１８は、穴あきミラーや、中空のミラーが蒸着されたプリズムであり、光源１１５による照明光と、眼底からの戻り光とを分離する。

また、１２３−２は、ＰＩセンサである。３０１は、ＯＣＴフォーカスベースであり、ＯＣＴのフォーカス調整用のレンズ１２３とそれを駆動させる機構を保持するベース部品である。３０２は、ＯＣＴのフォーカス調整用のレンズ１２３が固定されている枠体部品である。３０３はナットである。３０４はピッチ０．５の送りねじである。ステッピングモータ１２３−１の軸に圧入されて固定されている。枠体部品３０２は、不図示のＯＣＴフォーカスベースに固定された送りねじ３０４に平行なシャフトガイドと嵌合している。そして、そのシャフトガイドに不図示のコイルバネが入れられており、ナット３０３と枠体部品３０２が常に密着するような構成になっている。３０５は、スリット板金である。枠体部品３０２にネジで固定されて枠体部品に連動して動く。１２３−２は、ＰＩセンサで、不図示のＰＩセンサの投光部と受光部の間に、スリット板金３０５が差し込まれている。このスリット板金で、ＰＩセンサをＯＮ／ＯＦＦすることで、ステッピングモータ１２３−１のパルスの位置と物理的な位置を校正する。

Claims

測定光を照射した被検査物からの戻り光と該測定光に対応する参照光との干渉光に基づいて、該被検査物の断層画像を取得する干渉光学系と、
前記被検査物に照明する照明光学系と、該照明光学系によって照明された前記被検査物からの戻り光を受光素子により受光する受光光学系とを有し、該受光素子から出力される受光信号に基づいて該被検査物の観察画像を得る観察光学系と、
前記受光光学系に配置される第１フォーカス用光学部材を移動させる第１フォーカス手段と、
前記第１フォーカス用光学部材の移動に連動させて、前記干渉光学系に配置される第２フォーカス用光学部材を移動させる第２フォーカス手段と、
を有することを特徴とする光断層撮像装置。
前記第１フォーカス手段は、前記受光素子から出力される受光信号に基づいて、前記第１フォーカス用光学部材を移動させることを特徴とする請求項１に記載の光断層撮像装置。
前記第２フォーカス手段は、前記第１フォーカス用光学部材の移動に連動させて、前記受光素子から出力される受光信号に基づいて、前記第２フォーカス用光学部材を移動させることを特徴とする請求項２に記載の光断層撮像装置。
前記第２フォーカス手段は、前記第１フォーカス用光学部材の移動に連動させ且つ前記第１フォーカス用光学部材の位置情報に基づいて、前記第２フォーカス用光学部材を移動させる
ことを特徴とする請求項２に記載の光断層撮像装置。
前記第２フォーカス手段は、前記第１フォーカス用光学部材の合焦位置への移動が完了する前に、前記第２フォーカス用光学部材の移動を開始することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の光断層撮像装置。
前記第２フォーカス手段は、前記第１フォーカス用光学部材の第１の移動が完了した後に、前記第２フォーカス用光学部材の移動を開始し、前記第１フォーカス用光学部材の第２の移動に連動して前記第２フォーカス用光学部材を移動させることを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の光断層撮像装置。
前記第１フォーカス用光学部材を移動させる移動量を指示する指示手段を更に有し、
前記第１フォーカス手段は、前記指示された移動量に基づいて前記第１フォーカス用光学部材を移動させ、
前記第２フォーカス手段は、前記第１フォーカス用光学部材の移動に連動させ且つ前記指示された移動量に基づいて、前記第２フォーカス用光学部材を移動させる
ことを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の光断層撮像装置。
前記第１フォーカス用光学部材の位置に対する、前記干渉光学系に配置された第２フォーカス用光学部材の位置決めを、所定のテーブルに基づいて行うことを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の光断層撮像装置。
前記被検査物は、被検眼であり、
正常眼データベースに基づいて、前記所定のテーブルを作成するテーブル作成手段を更に有する
ことを特徴とする請求項８に記載の光断層撮像装置。
前記被検査物は、被検眼であり、
前記被検眼の視度に基づいて、前記所定のテーブルを作成するテーブル作成手段を更に有する
ことを特徴とする請求項８に記載の光断層撮像装置。
測定光を照射した被検査物からの戻り光と該測定光に対応する参照光との干渉光に基づいて、該被検査物の断層画像を取得する干渉光学系と、
前記被検査物に照明する照明光学系と、該照明光学系によって照明された前記被検査物からの戻り光を受光素子により受光する受光光学系とを有し、該受光素子から出力される受光信号に基づいて該被検査物の観察画像を得る観察光学系と、
前記受光光学系に配置される第１フォーカス用光学部材を移動させる第１フォーカス手段と、
前記第１フォーカス用光学部材の移動と同時に、前記干渉光学系に配置される第２フォーカス用光学部材を移動させる第２フォーカス手段と、
を有することを特徴とする光断層撮像装置。
前記第１フォーカス手段は、前記受光素子から出力される受光信号に基づいて、前記第１フォーカス用光学部材を移動させ、
前記第２フォーカス手段は、前記第１フォーカス用光学部材の移動と同時に、前記受光素子から出力される受光信号に基づいて、前記第２フォーカス用光学部材を移動させる
ことを特徴とする請求項１１に記載の光断層撮像装置。
前記第１フォーカス手段及び前記第２フォーカス手段はそれぞれ、モータであり、
前記第２フォーカス手段は、前記第１フォーカス手段と独立に制御される
ことを特徴とする請求項１乃至１２のいずれか１項に記載の光断層撮像装置。
測定光を照射した被検査物からの戻り光と該測定光に対応する参照光との干渉光に基づいて、該被検査物の断層画像を取得する干渉光学系と、
前記被検査物に照明する照明光学系と、該照明光学系によって照明された前記被検査物からの戻り光を受光素子により受光する受光光学系とを有し、該受光素子から出力される受光信号に基づいて該被検査物の観察画像を取得する観察光学系と、を有する光断層撮像装置の制御方法であって、
前記受光光学系に配置される第１フォーカス用光学部材を移動させるステップと、
前記第１フォーカス用光学部材の移動に連動させて、前記干渉光学系に配置される第２フォーカス用光学部材を移動させるステップと、
を有することを特徴とする制御方法。
前記第１フォーカス用光学部材を移動させるステップでは、前記受光素子から出力される受光信号に基づいて、前記第１フォーカス用光学部材を移動させることを特徴とする請求項１４に記載の制御方法。
前記第２フォーカス用光学部材を移動させるステップでは、前記第１フォーカス用光学部材の移動に連動させて、前記受光素子から出力される受光信号に基づいて、前記第２フォーカス用光学部材を移動させることを特徴とする請求項１５に記載の制御方法。
前記第２フォーカス用光学部材を移動させるステップでは、前記第１フォーカス用光学部材の移動に連動させ且つ前記第１フォーカス用光学部材の位置情報に基づいて、前記第２フォーカス用光学部材を移動させる
ことを特徴とする請求項１５に記載の制御方法。
測定光を照射した被検査物からの戻り光と該測定光に対応する参照光との干渉光に基づいて、該被検査物の断層画像を取得する干渉光学系と、
前記被検査物に照明する照明光学系と、該照明光学系によって照明された前記被検査物からの戻り光を受光素子により受光する受光光学系とを有し、該受光素子から出力される受光信号に基づいて該被検査物の観察画像を得る観察光学系と、を有する光断層撮像装置の制御方法であって、
前記受光光学系に配置される第１フォーカス用光学部材を移動させるステップと、
前記第１フォーカス用光学部材の移動と同時に、前記干渉光学系に配置される第２フォーカス用光学部材を移動させるステップと、
を有することを特徴とする制御方法。
前記第１フォーカス用光学部材を移動させるステップでは、前記受光素子から出力される受光信号に基づいて、前記第１フォーカス用光学部材を移動させ、
前記第２フォーカス用光学部材を移動させるステップでは、前記第１フォーカス用光学部材の移動と同時に、前記受光素子から出力される受光信号に基づいて、前記第２フォーカス用光学部材を移動させる
ことを特徴とする請求項１８に記載の制御方法。
前記第１フォーカス用光学部材の移動及び前記第２フォーカス用光学部材の移動はそれぞれ、モータを用いて行われ、
前記第２フォーカス用光学部材を移動させるステップは、前記第１フォーカス用光学部材を移動させるステップとは独立に制御される
ことを特徴とする請求項１４乃至１９のいずれか１項に記載の制御方法。
請求項１４乃至２０のいずれか１項に記載の制御方法の各ステップをコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。