JP2014045048A - 固体撮像装置及びその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】パッケージレスの固体撮像装置でありながらも、撮像領域を覆う透光性板上の異物やキズの影響を低減することができる固体撮像装置を提供する。
【解決手段】固体撮像装置1は、撮像領域2aを有する半導体チップ2と、撮像領域2aを覆う透光性板3と、撮像領域2aを取り囲むように半導体チップ2と透光性板3との間に設けられて、半導体チップ2と透光性板3とを接合し、0.5mm以上の高さを有するスペーサ4と、を備える。
【選択図】図1
【解決手段】固体撮像装置1は、撮像領域2aを有する半導体チップ2と、撮像領域2aを覆う透光性板3と、撮像領域2aを取り囲むように半導体チップ2と透光性板3との間に設けられて、半導体チップ2と透光性板3とを接合し、0.5mm以上の高さを有するスペーサ4と、を備える。
【選択図】図1
Description
本発明は、固体撮像装置及びその製造方法に関するものである。
従来のパッケージレスの固体撮像装置は、一般的に、撮像領域を有するシリコンチップと、前記撮像領域を覆うように前記シリコンチップに接合されたガラス板とを備えている。このような従来の固体撮像装置の一例として、下記特許文献1の図4(E)には、いわゆるCOG(Chip on glass)構造を有する固体撮像装置が開示されている。
このような従来のパッケージレスの固体撮像装置では、前記撮像領域と前記ガラス板との間の間隔は非常に狭くされていた。
しかしながら、前記従来のパッケージレスの固体撮像装置では、前記撮像領域と前記ガラス板との間の間隔は非常に狭くされているので、透光性板上のゴミ等の異物やキズが前記撮像領域の表面に高コントラストで投影されて、撮像画像に写り込んでしまう。したがって、許容される透光性板上の異物やキズの規格がシビアのものとなってしまう結果、当該固体撮像装置の歩留りが低下して、コストアップを免れない。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、パッケージレスの固体撮像装置でありながらも、撮像領域を覆う透光性板上の異物やキズの影響を低減することができる固体撮像装置及びその製造方法を提供することを目的とする。
前記課題を解決するための手段として、以下の各態様を提示する。第1の態様による固体撮像装置は、撮像領域を有する半導体チップと、前記撮像領域を覆う透光性板と、前記撮像領域を取り囲むように前記半導体チップと前記透光性板との間に設けられて、前記半導体チップと透光性板とを接合し、0.5mm以上の高さを有するスペーサと、を備えたものである。
第2の態様による固体撮像装置は、前記第1の態様において、前記スペーサの高さをdとしたとき、前記スペーサは前記撮像領域の周縁からd/2.8以上の距離離れたものである。
第3の態様による固体撮像装置は、前記第1又は第2の態様において、前記スペーサは、1Gpa以下のヤング率を有する材料で構成されたものである。
第4の態様による固体撮像装置は、前記第1乃至第3のいずれかの態様において、前記半導体チップは、パッシベーション膜及び有機材料層を有し、前記スペーサは、前記有機材料層を介することなく、前記パッシベーション膜に接合されたものである。
第5の態様による固体撮像装置は、前記第1乃至第4のいずれかの態様において、前記スペーサは接着剤のみからなるものである。
第6の態様による固体撮像装置は、前記第1乃至第4のいずれかの態様において、前記スペーサは、スペーサ部材と、前記スペーサ部材の前記透光性板側の面に設けられた第1の接着剤と、前記スペーサ部材の前記半導体チップ側の面に設けられた第2の接着剤とを有するものである。
第7の態様による固体撮像装置は、前記第1乃至第6のいずれかの態様において、前記透光性板は、平面視で前記半導体チップからはみ出さない大きさを有するものである。
第8の態様による固体撮像装置は、前記第1乃至第7のいずれかの態様による固体撮像装置を製造する方法であって、前記半導体チップに相当する部分が複数分一体化された状態の半導体ウエハを用意する段階と、前記半導体ウエハの前記半導体チップに相当する部分の各々の上に、前記スペーサを形成する段階と、予め個片化された前記透光性板を前記各スペーサ上に接合する段階と、前記接合する段階の後に、前記半導体ウエハを前記半導体チップの個々にダイシングする段階と、を備えたものである。
本発明によれば、パッケージレスの固体撮像装置でありながらも、撮像領域を覆う透光性板上の異物やキズの影響を低減することができる固体撮像装置及びその製造方法を提供することができる。
以下、本発明による固体撮像装置及びその製造方法について、図面を参照して説明する。
[第1の実施の形態]
図1は、本発明の第1の実施の形態による固体撮像装置1を模式的に示す概略断面図である。図2は、図1中の一部を拡大した拡大概略断面図である。図3は、図1中の半導体チップ2の各領域を模式的に示す概略平面図である。理解を容易にするため、図3において、スペーサ4を破線で示している。
図1は、本発明の第1の実施の形態による固体撮像装置1を模式的に示す概略断面図である。図2は、図1中の一部を拡大した拡大概略断面図である。図3は、図1中の半導体チップ2の各領域を模式的に示す概略平面図である。理解を容易にするため、図3において、スペーサ4を破線で示している。
本実施の形態による固体撮像装置1は、パッケージレスのベアチップ実装タイプの固体撮像装置であり、撮像領域(受光領域)2aを有する半導体チップ2と、撮像領域2aを覆う透光性板3と、スペーサ4とを備えている。スペーサ4は、撮像領域2aを取り囲むように半導体チップ2と透光性板3との間に設けられて、半導体チップ2と透光性板3とを接合し、0.5mm以上の高さdを有している。
本実施の形態では、半導体チップ2は、チップとして構成されたCMOS、CCD等のイメージセンサであり、撮像領域2aには複数の画素(図示せず)が2次元状に配置されている。半導体チップ2は、透光性板3を介して撮像領域2aに入射した入射光を光電変換して、画像信号を出力する。本実施の形態では、半導体チップ2には、前記画素を駆動して画像信号を読み出す読み出し回路(図示せず)も搭載されている。
本実施の形態では、透光性板3は、平面視で前記半導体チップからはみ出さない大きさを有している。もっとも、本発明では、透光性板3の大きさはこれに限らない。透光性板3は、ガラス板でもよいし、水晶板や透明樹脂板などでもよい。また、透光性板3は、単なる透明板に限らず、ローパスフィルタや赤外線カットフィルタなどでもよい。これらの点は、後述する実施の形態についても同様である。
半導体チップ2において、最上の配線層5の上側には、半導体チップ2のほぼ全領域に渡って、シリコン酸化膜などのパッシベーション膜6が形成されている。
半導体チップ2は、撮像領域2aにおいて、パッシベーション膜6上に、有機材料層からなるカラーフィルタ7、及び、有機材料層からなるマイクロレンズ8を有している。カラーフィルタ7及びマイクロレンズ8は、撮像領域2aのみならず、その周囲にも形成されている。しかし、本実施の形態では、図3においてハッチングを付した周辺領域Rには、カラーフィルタ7及びマイクロレンズ8が形成されておらず、有機材料層は形成されていない。この周辺領域Rでは、パッシベーション膜6が半導体チップ2の最上層となっている。本実施の形態では、スペーサ4は周辺領域Rに配置され、スペーサ4がパッシベーション膜6に直接に接合されている。
スペーサ4は、撮像領域2aの周縁からd/2.8以上の距離L離れていることが好ましい。dは前述したようにスペーサ4の高さである。距離Lがd/2.8以上であれば、入射光がF値1.4の光束であると想定した場合であっても、その入射光のスペーサ4によるケラレが、発生しなくなる。
本実施の形態では、スペーサ4は接着剤9のみで構成されている。接着剤9の材料は、特に限定されるものではないが、後述するように、1Gpa(1×109pa)以下のヤング率(室温25℃でのヤング率)を有する材料であることが好ましい。1Gpa(1×109pa)以下のヤング率を有する接着剤9としては、アクリル系樹脂やシリコン系樹脂を挙げることができる。また、接着剤9の材料は、例えば、接着性(粘着性)を有するエポキシ系樹脂でもよい。この場合、接着剤9として、例えば、感光性を有し露光及び現像可能な市販のダイアタッチフィルムを用いることができる。
半導体チップ2の上面におけるスペーサ4よりも更に周辺側には、外部配線用の電極パッド(図示せず)が形成されている。また、外部引き出し用のフレキシブルプリント基板11の下面には、半導体チップ2と電気的に接続するための電極パッド(図示せず)が形成されている。そして、半導体チップ2の前記電極パッドとフレキシブルプリント基板11の前記電極パッドとの間が、バンプ12によって接合されている。また、半導体チップ2とフレキシブルプリント基板11との間は、接着剤13によっても接合されている。
なお、パッドの結線は、狭ピッチの場合にはAuメッキバンプやCuピラーを介した半田バンプ、緩いピッチの場合にはAuスタッドバンプや半田バンプを介して接合されるのが、一般的である。また、外部引き出し用パッドとフレキシブルプリント基板11の結線には、Auスタッドバンプや半田バンプを介して接合されるのが一般的である。
本実施の形態による固体撮像装置1において、バンプ12、接着剤13及びフレキシブルプリント基板11を取り除いた状態において、室温25℃で半導体チップ2の撮像面(素子面)の反り量が0であった場合に、温度が室温25℃から所定温度に変化したときの、半導体チップ2の撮像面(素子面)の反り量をシミュレーションにより得た。このシミュレーションにおいて、スペーサ4のヤング率のみを変化させ他の条件を同一にして前記反り量を得た。
図4は、このシミュレーション結果を、横軸をスペーサ4のヤング率とするとともに縦軸を半導体チップ2の撮像面の反り量(素子面反り量)としてプロットしたグラフであり、素子面反り量の、スペーサ4のヤング率依存性を示している。図5は、図4に示すシミュレーション結果を示す数値データシートである。図4及び図5において、素子面反り量は、半導体チップ2における中心部に対する周辺部の法線方向(中心部における法線の方向)の位置ずれ量の絶対値を、任意単位として示している。
本シミュレーション結果から、素子面反り量は、スペーサ4のヤング率にほぼ比例して低減することがわかる。そして、素子面反り量は、スペーサ4のヤング率が1.0Gpa以下であれば、スペーサ4のヤング率が3.0Gpaの場合の素子面反り量の約1/3以下となって素子面反り量を大きく低減することができ、スペーサ4のヤング率が0.5Gpa以下であれば素子面反り量を更に低減することができ、スペーサ4のヤング率が0.1Gpa以下であれば素子面反り量をほぼゼロにすることができることがわかる。したがって、素子面反り量を低減して撮像画像の画質を向上させるためには、スペーサ4のヤング率は、1.0Gpa以下であることが好ましく、0.5Gpa以下であることがより好ましく、0.1以下であることがより一層好ましい。
次に、本実施の形態による固体撮像装置1の製造方法の一例について、図6を参照して説明する。図6は、その製造方法の各工程を模式的に示す概略断面図である。
まず、公知のウエハプロセスによって、前記半導体チップ2に相当する部分が複数分一体化された状態の半導体ウエハ21を用意する。
次いで、この半導体ウエハ21上に、感光性を有し露光及び現像可能なダイアタッチフィルム22を貼付する(図6(a))。このダイアタッチフィルム22は、後にスペーサ4を構成する接着剤9となるべきものである。
引き続いて、ダイアタッチフィルム22をフォトリソグラフィにより露光及び現像して、ダイアタッチフィルム22が各半導体チップ2のスペーサ4となるように、ダイアタッチフィルム22をパターニングする(図6(b))。
次に、KGD(=known good die)にのみ、事前にゴミやキズが無いことを検査済みのガラス等の透光性板3の個片を各ショット(各半導体チップ2になるべき部分)毎にスペーサ4上に搭載し、熱圧着などにより接着する(図6(c))。
次いで、半導体ウエハ21をダイシングして、半導体チップ2毎に個片化する(図6(d))。その後、フレキシブルプリント基板11を、バンプ12及び接着剤13により半導体チップ2の電極パットに接合する。
以上のようなCOW(=chip on wafer)実装方法により透光性板3を搭載することにより、半導体ウエハ21に同一形状のウエハ状の透光性板をW to W(=wafer to wafer)で搭載後に透光性板と一緒に半導体ウエハ21をダイシングして個片化する方法と比較して、実装歩留まりが向上し、かつ実装コストが低減する。W to Wでは、KGDに不良の透光性板が搭載される事象を回避できないとともに、ゴミやキズのない良品の透光性板部分が不良チップ部分上に搭載されてしまう事象を、これまた構造上回避できないので、実装歩留まりが低減し、かつ実装コストが増大する。前述したようなCOW実装方法を採用することで、前記各事象を回避することができ、実装歩留まりが向上し、かつ実装コストが低減することができるのである。
なお、前述したようなダイアタッチフィルム22を用いてこれを露光及び現像してスペーサ4にパターニングする代わりに、スペーサ4を構成する接着剤9として、例えばUV硬化タイプの接着剤を用い、UV硬化タイプの接着剤をディスペンサ塗布により図6(a)に示すようなパターンで半導体ウエハ21上に形成し、UV硬化タイプの接着剤によって透光性板3を接着してもよい。
本実施の形態では、前述したように、スペーサ4の高さdが0.5mm以上であるため、透光性板3上の異物やキズの影響を低減することができ、許容される透光性板上のゴミ等の異物やキズの規格が緩和され、固体撮像装置1の歩留りが向上して、コスト低減を図ることができる。
例えばF値の大きいレンズで撮影した画像を結像する場合、焦点深度が深くなり、透光性板3の裏面(撮像領域2a側の面)に付着したゴミやその面のキズが撮像画像に写り込んでしまう。そこで、大きなF値のレンズの焦点深度よりも十分離れた距離、例えば0.5mm以上離れた位置に透光性板3の裏面が配置されていれば、大きなF値のレンズで撮影した画像が撮像面で結像されても、例えば透光性板3裏面上のキズや付着ゴミが例えば10〜20um以下であれば、撮像画像に写り込むことがなくなる。以上の理由により、スペーサ4の高さdを0.5mm以上とすることで、透光性板3裏面から撮像面までの距離を0.5mm以上離して配置することにより、透光性板3の面のゴミやキズの欠陥規格を10〜20um以下に管理することにより、透光性板3のゴミやキズの写り込みを抑制して、画質を劣化させることを回避できる。
また、本実施の形態では、前述したように、スペーサ4が配置されている周辺領域Rには、カラーフィルタ7及びマイクロレンズ8などの有機材料層が形成されておらず、スペーサ4がパッシベーション膜6に直接に接合されているため、スペーサ4と半導体チップ2との密着強度が高まる。
スペーサ4で封止された撮像領域2aは、実装後は耐環境性を有する必要がある。そのためには、スペーサ4と接着された半導体チップ2における領域の密着強度は、前記耐環境性、即ち、一定の信頼性を満たしていることが必要となる。具体的には、熱衝撃に耐え得るとともに耐湿性を維持する必要がある。しかし、スペーサ4を形成する半導体チップ2上の領域に、カラーフィルタ7やマイクロレンズ8などの有機材料層が形成され、撮像素子と前記有機材料層との密着強度が弱く、前記信頼性を満たさない場合には、スペーサ4の形成後、透光性板3を貼り付けた後の実装部品において、スペーサ4を形成した箇所でスペーサ4により前記有機材料層が引き剥がされて信頼性がもたないという事態が発生するおそれがある。これに対し、本実施の形態では、半導体チップ2のシリコン基板との密着強度が高いパッシベーション膜6が領域Rにおいて露出されて、そのパッシベーション膜6にスペーサ4が直接に接合されているため、スペーサ4と半導体チップ2との密着強度が高まるのである。
[第2の実施の形態]
図7は、本発明の第2の実施の形態による固体撮像装置31の一部を模式的に示す一部拡大概略断面図であり、図2に対応している。図7において、図2中の要素と同一又は対応する要素には同一符号を付し、その重複する説明は省略する。
図7は、本発明の第2の実施の形態による固体撮像装置31の一部を模式的に示す一部拡大概略断面図であり、図2に対応している。図7において、図2中の要素と同一又は対応する要素には同一符号を付し、その重複する説明は省略する。
本実施の形態による固体撮像装置31が前記第1の実施の形態による固体撮像装置1と異なる所は、前記第1の実施の形態では、スペーサ4が接着剤9のみで構成されているのに対し、本実施の形態では、スペーサ4が、接着性を持たないスペーサ部材32と、スペーサ部材32の透光性板3側の面に設けられた第1の接着剤33と、スペーサ部材32の半導体チップ2側の面に設けられた第2の接着剤34とから構成されている点のみである。
接着剤33,34の材料は、特に限定されるものではなく、例えば、UV硬化タイプの接着剤を用いることができる。スペーサ部材の材料は、特に限定されるものではなく、各種の樹脂などを用いることができる。
なお、素子面反り量を低減して撮像画像の画質を向上させるためには、スペーサ部材32の材料や接着剤33,34の材料として、1Gpa以下のヤング率を有する材料を用いることが好ましく、0.5Gpa以下のヤング率を有する材料を用いることがより好ましく、0.1Gpa以下のヤング率を有する材料を用いることがより一層好ましい。
本実施の形態によっても、前記第1の実施の形態と同様の利点が得られる。
[第3の実施の形態]
図8は、本発明の第3の実施の形態による固体撮像装置41を模式的に示す概略断面図であり、図1に対応している。図8において、図1中の要素と同一又は対応する要素には同一符号を付し、その重複する説明は省略する。
図8は、本発明の第3の実施の形態による固体撮像装置41を模式的に示す概略断面図であり、図1に対応している。図8において、図1中の要素と同一又は対応する要素には同一符号を付し、その重複する説明は省略する。
本実施の形態による固体撮像装置41が前記第1の実施の形態による固体撮像装置1と異なる所は、以下に説明する点である。
前記第1の実施の形態では、半導体チップ2には画素を駆動して画像信号を読み出す読み出し回路も搭載されているのに対し、本実施の形態では、半導体チップ2には前記読み出し回路は搭載されていない。本実施の形態による固体撮像装置41は、前記読み出し回路の一部が搭載された半導体チップ42と、前記読み出し回路の他の部分が搭載された半導体チップ43とを有している。本実施の形態における半導体チップ2,42,43が全体として、前記第1の実施の形態における半導体チップ2と同じ機能を担うようになっている。
半導体チップ2の上面の電極パッド(図示せず)と半導体チップ42の下面の電極パット(図示せず)との間が、バンプ44により接合されている。半導体チップ2と半導体チップ42との間は、接着剤45によっても接合されている。半導体チップ2の上面の電極パッド(図示せず)と半導体チップ43の下面の電極パット(図示せず)との間が、バンプ46により接合されている。半導体チップ2と半導体チップ42との間は、接着剤47によっても接合されている。
外部引き出し用のフレキシブルプリント基板48の上面の電極パット(図示せず)と半導体チップ42の下面の電極パット(図示せず)との間が、バンプ50により接合されている。フレキシブルプリント基板48と半導体チップ42との間は、接着剤51によっても接合されている。外部引き出し用のフレキシブルプリント基板49の上面の電極パット(図示せず)と半導体チップ43の下面の電極パット(図示せず)との間が、バンプ52により接合されている。フレキシブルプリント基板49と半導体チップ43との間は、接着剤53によっても接合されている。
なお、本実施の形態では、スペーサ4は、前記第1の実施の形態と同じく接着剤9のみで構成してもよいし、前記第2の実施の形態と同じくスペーサ部材32及び接着剤33,34で構成してもよい。この点は、後述する各実施の形態についても同様である。
本実施の形態による固体撮像装置41は、例えば、前記第1の実施の形態による固体撮像装置1と同様の製造方法によって製造することができる。この点は、後述する各実施の形態についても同様である。
本実施の形態によっても、前記第1の実施の形態と同様の利点が得られる。
[第4の実施の形態]
図9は、本発明の第4の実施の形態による固体撮像装置61を模式的に示す概略断面図であり、図1に対応している。図9において、図1中の要素と同一又は対応する要素には同一符号を付し、その重複する説明は省略する。
図9は、本発明の第4の実施の形態による固体撮像装置61を模式的に示す概略断面図であり、図1に対応している。図9において、図1中の要素と同一又は対応する要素には同一符号を付し、その重複する説明は省略する。
本実施の形態による固体撮像装置61が前記第1の実施の形態による固体撮像装置1と異なる所は、以下に説明する点である。
前記第1の実施の形態では、半導体チップ2には画素を駆動して画像信号を読み出す読み出し回路も搭載されているのに対し、本実施の形態では、半導体チップ2には前記読み出し回路は搭載されていない。本実施の形態による固体撮像装置61は、前記読み出し回路の一部が搭載された半導体チップ62と、前記読み出し回路の他の部分が搭載された半導体チップ63とを有している。本実施の形態における半導体チップ2,62,63が全体として、前記第1の実施の形態における半導体チップ2と同じ機能を担うようになっている。
半導体チップ62,63の上面にそれぞれ形成された電極パッド(図示せず)と半導体チップ2の下面の電極パット(図示せず)との間が、バンプ64,65により接合されている。半導体チップ62,63の上面と半導体チップ2の下面との間は、接着剤66,67によっても接合されている。なお、図9中、2b,2c,62a,63aはTSV(シリコン貫通ビア、through-silicon via)である。
外部引き出し用のフレキシブルプリント基板68の上面の電極パット(図示せず)と半導体チップ62の下面の電極パット(図示せず)との間が、バンプ70により接合されている。フレキシブルプリント基板68と半導体チップ62との間は、接着剤71によっても接合されている。外部引き出し用のフレキシブルプリント基板69の上面の電極パット(図示せず)と半導体チップ63の下面の電極パット(図示せず)との間が、バンプ72により接合されている。フレキシブルプリント基板69と半導体チップ63との間は、接着剤73によっても接合されている。
本実施の形態によっても、前記第1の実施の形態と同様の利点が得られる。
[第5の実施の形態]
図10は、本発明の第5の実施の形態による固体撮像装置81を模式的に示す概略断面図であり、図1に対応している。図10において、図1中の要素と同一又は対応する要素には同一符号を付し、その重複する説明は省略する。
図10は、本発明の第5の実施の形態による固体撮像装置81を模式的に示す概略断面図であり、図1に対応している。図10において、図1中の要素と同一又は対応する要素には同一符号を付し、その重複する説明は省略する。
本実施の形態による固体撮像装置81が前記第1の実施の形態による固体撮像装置1と異なる所は、以下に説明する点である。
前記第1の実施の形態では、半導体チップ2には画素を駆動して画像信号を読み出す読み出し回路も搭載されているのに対し、本実施の形態では、半導体チップ2には前記読み出し回路は搭載されていない。本実施の形態による固体撮像装置81は、前記読み出し回路の一部が搭載された半導体チップ82と、前記読み出し回路の他の部分が搭載された半導体チップ83とを有している。本実施の形態における半導体チップ2,82,83が全体として、前記第1の実施の形態における半導体チップ2と同じ機能を担うようになっている。
半導体チップ82,83の上面にそれぞれ形成された電極パッド(図示せず)と半導体チップ2の下面の電極パット(図示せず)との間が、バンプ84,85により接合されている。半導体チップ82,83の上面と半導体チップ2の下面との間は、接着剤86,87によっても接合されている。なお、図10中、2b,2cはTSV(シリコン貫通ビア、through-silicon via)である。
外部引き出し用のフレキシブルプリント基板88の下面の電極パット(図示せず)と半導体チップ82の上面の電極パット(図示せず)との間が、バンプ90により接合されている。外部引き出し用のフレキシブルプリント基板89の下面の電極パット(図示せず)と半導体チップ83の上面の電極パット(図示せず)との間が、バンプ91により接合されている。
本実施の形態によっても、前記第1の実施の形態と同様の利点が得られる。
以上、本発明の各実施の形態について説明したが、本発明はこれらの実施の形態に限定されるものではない。
1,31,41,61,81 固体撮像装置
2 半導体チップ
2a 撮像領域
3 透光性板
4 スペーサ
2 半導体チップ
2a 撮像領域
3 透光性板
4 スペーサ
Claims (8)
- 撮像領域を有する半導体チップと、
前記撮像領域を覆う透光性板と、
前記撮像領域を取り囲むように前記半導体チップと前記透光性板との間に設けられて、前記半導体チップと透光性板とを接合し、0.5mm以上の高さを有するスペーサと、
を備えたことを特徴とする固体撮像装置。 - 前記スペーサの高さをdとしたとき、前記スペーサは前記撮像領域の周縁からd/2.8以上の距離離れたことを特徴とする請求項1記載の固体撮像装置。
- 前記スペーサは、1Gpa以下のヤング率を有する材料で構成されたことを特徴とする請求項1又は2記載の固体撮像装置。
- 前記半導体チップは、パッシベーション膜及び有機材料層を有し、
前記スペーサは、前記有機材料層を介することなく、前記パッシベーション膜に接合されたことを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の固体撮像装置。 - 前記スペーサは接着剤のみからなることを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の固体撮像装置。
- 前記スペーサは、スペーサ部材と、前記スペーサ部材の前記透光性板側の面に設けられた第1の接着剤と、前記スペーサ部材の前記半導体チップ側の面に設けられた第2の接着剤とを有することを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の固体撮像装置。
- 前記透光性板は、平面視で前記半導体チップからはみ出さない大きさを有することを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載の固体撮像装置。
- 請求項1乃至7のいずれかに記載の固体撮像装置を製造する方法であって、
前記半導体チップに相当する部分が複数分一体化された状態の半導体ウエハを用意する段階と、
前記半導体ウエハの前記半導体チップに相当する部分の各々の上に、前記スペーサを形成する段階と、
予め個片化された前記透光性板を前記各スペーサ上に接合する段階と、
前記接合する段階の後に、前記半導体ウエハを前記半導体チップの個々にダイシングする段階と、
を備えたことを特徴とする固体撮像装置の製造方法。
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2012
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