JP2014042017A - 押圧型積層組立体に実装することが意図される電子半導体デバイス、およびそのようなデバイスを備える押圧型積層組立体 - Google Patents

押圧型積層組立体に実装することが意図される電子半導体デバイス、およびそのようなデバイスを備える押圧型積層組立体 Download PDF

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Abstract

【課題】押圧型積層組立体に実装される半導体電子デバイス(12)を提供する。
【解決手段】下部および上部プレート(22,24)が導電性であり、各々の構成要素(28)が第1の電極(42)および第2の電極(44)を備え、第1の電極(42)が下部プレート(22)に電気的に接続され、第2の電極(44)が上部プレート(24)に電気的に接続される。構成要素(28)と、下部プレート(22)および上部プレート(24)から選択される支持プレート(24)との間に弾性部(30)が配置される。中間密封壁(32)は、構成要素(28)と弾性部(30)との間で箱(20)の内側に配置され、構成要素(28)を電気的に接続する。中間密封壁(32)が、中間密封壁(32)と支持プレート(24)との間で弾性部(30)の周囲を循環するように構成される電気絶縁性の冷却液から構成要素(28)を離隔する。
【選択図】図2

Description

本発明は、押圧型積層組立体に実装することが意図される電子半導体に関する。
米国特許第5,705,853A号
本発明は、押圧型積層組立体に実装することが意図される電子半導体に関し、電子半導体は、
− 下部プレート、上部プレート、および下部プレートを上部プレートに機械的に接続する側壁を備え、下部プレートおよび上部プレートが導電性である箱、
− 各々の半導体構成要素が第1の電極および第2の電極を備え、第1の電極が下部プレートに電気的に接続され、第2の電極が上部プレートに電気的に接続される複数の半導体構成要素、ならびに、
− 好ましくは導電性であり、半導体構成要素と、下部プレートと上部プレートとの間で選択される支持プレートとの間に配置される弾性部
を備える。
本発明はさらに、垂直積層軸に沿って押圧される複数の半導体電子デバイスを備える押圧型積層組立体に関する。
複数の半導体電子デバイスを備えるそのような押圧型積層組立体は通常、例えば、好ましくはメガワットを超える電力を用いる電気エンジンに電気エネルギーを供給するためのものであるコンバータとして、電力モジュールに設けられる。
そのような組立体は、「プレスパック」という組立体の名前により一般には言及され、電子デバイスは、積層軸に平行な2つの縦方向のロッドにより据え付けられた2つの外部の側部のフランジによって押圧される。電子デバイスは、垂直積層軸に沿って数トンの圧力のもとで積層かつ圧縮される。
前に述べたタイプの電子デバイスは、米国特許第5,705,853A号の文献からよく知られている。この電子デバイスは、箱と、箱内に配置される複数のチップとを備え、各々のチップは半導体材料で作製される。箱は、下部プレート、上部プレート、および下部プレートを上部プレートに機械的に接続する側部キャッププレートを備える。下部プレートおよび上部プレートは導電性であり、各々のチップは2つの電極を備え、一方の電極は下部プレートに電気的に接続され、他方の電極は上部プレートに電気的に接続される。
この電子デバイスは、導電性および熱伝導性のばねをさらに備え、各々のばねは、上部プレートと接触スイッチフックプランジャとの間に配置され、スイッチフックプランジャは、半導体材料で作製されるチップの対応する電極にあてがわれて支持される。これらのばねによって、電子デバイスの製造が容易になる。
しかしながらそのような電子デバイスでは、動作の間に温度ピークが生じる場合があり、その温度ピークが、電子デバイスの半導体構成要素の1つまたは複数の劣化を引き起こす可能性があり、ばねが、上部プレートとチップとの間の電流の電気伝達、および、外側に向けてチップにより放出される熱の熱伝達を同時に確実にしている。
したがって本発明の目標は、半導体構成要素の劣化を防止するために、半導体構成要素の動作の間の最高温度の低下を可能にする半導体電子デバイスを供与することである。
この趣旨で本発明の目的物は、上記で述べたタイプの電子デバイスであって、その電子デバイスが、半導体構成要素と弾性部との間で箱の内側に配置される中間密封壁をさらに備え、中間密封壁が、半導体構成要素を電気的に接続し、電気絶縁性の中間密封壁が、中間密封壁と支持プレートとの間で弾性部の周囲を循環するように構成される冷却液から半導体構成要素を離隔するように調整されることを特徴とする電子デバイスである。
本発明の他の有利な態様によれば電子デバイスは、個々に、またはすべての技術的に可能な組み合わせによって選び取られる以下の特性、すなわち、
− 中間密封壁が、導電性の中間プレートを備え、中間プレートが、半導体構成要素、および、中間プレートと側壁との間に配置される密封接合部に接触して配置される、
− 側壁が電気絶縁性であり、弾性部が導電性である、
− 側壁が、垂直方向に沿って中間密封壁の両側に配置される第1の部分および第2の部分を備え、第1の部分が、電気絶縁性であり、中間密封壁と、下部プレートおよび上部プレートの中の支持プレートとは別のプレートとの間に配置され、第2の部分が中間密封壁と支持プレートとの間に配置され、第2の部分が好ましくは導電性である、
− 中間プレートが、垂直方向に直交して側壁の外縁まで延在する、
− 中間プレートが、垂直方向に沿って一方が他方の上方に配置される第1の中間プレートおよび第2の中間プレートを備え、第1の中間プレートが半導体構成要素および第1の部分に接触して配置され、第2の中間プレートが弾性部および第2の部分に接触して配置される、
− デバイスが、下部プレートと上部プレートとの間の支持プレートとは別のプレートの内側に第2の冷却液用の循環回路をさらに備え、循環回路が、(支持プレートとは別の前記プレートの内側に設けられる)空洞を備える、
− 下部プレートおよび上部プレートが、本質的には平面状であり相互に平行であり、弾性部が、上部プレートおよび下部プレートに近似的に直交する方向に沿って弾性がある、
− 各々の弾性部が、ばねおよびピストンからなる群の中から選択される構成要素である、
− 各々の半導体構成要素が、IGBTトランジスタ、IEGTトランジスタ、MOSFETトランジスタ、およびダイオードからなる群の中から選択される構成要素である、
− 側壁が、冷却液の通路用の少なくとも1つの開口部を備え、または各々の通路用の開口部が側壁を横断し、または各々の通路用の開口部が冷却液用の駆動デバイスに接続されるように構成される、
のうちの1つまたは複数を備える。
本発明の目的物はさらに、少なくとも1つの半導体電子デバイスが、上記で定義したようなものであることを特徴とする、垂直積層軸に沿って押圧される複数の半導体電子デバイスを備える押圧型積層組立体である。
本発明のこれらの特性および利点は、単に非限定的な例として与えられる、以下に続く説明を読むことで、および添付の図面を参照することで明らかとなろう。
図1は、垂直積層軸に沿って押圧される複数の半導体電子デバイスを備える押圧型積層組立体の概略表示の図である。 図2は、第1の実施形態による図1の電子デバイスの概略表示であり断面としての図である。 図3は、本発明の第2の実施形態による図2の図と同様の図である。 図4は、本発明の第3の実施形態による図2の図と同様の図である。 図5は、本発明の第4の実施形態による図2の図と同様の図である。 図6は、本発明の第5の実施形態による図2の図と同様の図である。
従前通りに本出願では表現「近似的に等しい」は、5%の多少までの相等性の関係を表現するものとする。
図1では押圧型積層組立体10は、垂直積層軸Zに沿って押圧される複数の半導体電子デバイス12を備え、半導体電子デバイス12は、冷却回路16を介して冷却液用の駆動デバイス14に接続される。
押圧型積層組立体10はパイル(pile)とも呼ばれ、電子デバイス12は、積層軸に平行な、図示しない2つの縦方向のロッドにより据え付けられた、図示しない2つの側部の外部のフランジによって押圧される。電子デバイス12は、垂直積層軸に沿って数トンの圧力のもとで積層かつ圧縮される。
例えば押圧型積層組立体10は、電気エンジンに電力供給するために電気エネルギーを変換することが意図されるコンバータに組み込まれ、電気エンジンは、好ましくは1MWより大きな、好ましくはさらに10MWより大きな電力を有する。
各々の電子デバイス12は、垂直積層軸Zに沿って数トンの圧力のもとで積層かつ圧縮され、「プレスパック」デバイスとも呼ばれる。
各々の電子デバイス12は、図2に示すように、下部プレート22、上部プレート24、および下部プレート22を上部プレート24に機械的に接続する側壁26を伴う箱20を備える。
各々の電子デバイス12は、複数の半導体構成要素28、ならびに、半導体構成要素28と、下部プレート22および上部プレート24から選択される支持プレートとの間に配置される弾性部30を備える。
図2での実施形態の例では、支持プレートは上部プレート24である。図示しない変形例では、支持プレートは下部プレート22である。
例えば電子デバイス12は、各々の半導体構成要素28に対する弾性部30を備える。
各々の電子デバイス12は、半導体構成要素28と弾性部30との間で箱20の内側に配置される中間密封壁32をさらに備え、中間密封壁32が、半導体構成要素28と弾性部30との間で半導体構成要素28を電気的に接続する。
例えば各々の電子デバイス12は、円筒形の厚板の形態であり、したがって下部プレート22および上部プレート24は円形であり、側壁26はリング形状である。
図1に認められる電気絶縁性の駆動デバイス14は、冷却回路16内部で、および電子デバイス12の各々で冷却液の循環を引き起こすように構成される。駆動デバイス14は、図示しないポンプを備える。
冷却回路16は、図1に示すように、各々の電子デバイス12の内側での冷却液の循環を確実にするために、各々の電子デバイス12を駆動デバイス14に接続する第1の循環チャネル34および第2の循環チャネル36を備える。例えば冷却回路16は、電子デバイス12と駆動デバイス14との間の閉ループ回路である。
冷却液は電気絶縁性であり、例えば脱イオン水を含む。
下部プレート22および上部プレート24は導電性である。図2での実施形態の例では、下部プレート22および上部プレート24は、本質的には平面状であり相互に平行である。それらは垂直積層軸Zに直交する。
側壁26は、第1の実施形態では電気絶縁性である。側壁26は好ましくは、セラミック材料で作製される。側壁26は、好ましくは垂直積層軸Zの周囲を一巡する壁の形態である。
側壁26は冷却液の通路用の第1の開口部38を備え、通路用の第1の開口部38は、対応する第1のチャネル34に接続されることが意図され、側壁26は冷却液の通路用の第2の開口部40を備え、通路用の第2の開口部40は、対応する第2のチャネル36に接続されることが意図される。
各々の半導体構成要素28は第1の電極42および第2の電極44を備え、複数の構成要素28の第1の電極42は下部プレート22に電気的に接続され、複数の構成要素28の第2の電極44は上部プレート24に電気的に接続される。
図2での実施形態の例では、第1の電極42は下部プレート22に直接接触して配置される。換言すれば、第1の電極42は各々が下部プレート22にあてがわれて支持される。第2の電極44は、中間密封壁32に直接接触して配置され、前記密封壁32および弾性部30によって上部プレート24に電気的に接続される。
各々の半導体構成要素28は、IGBTトランジスタ(英語では絶縁ゲートバイポーラトランジスタ)、IEGTトランジスタ(英語では注入促進型ゲートトランジスタ)、MOSFETトランジスタ(英語では金属酸化物半導体電界効果トランジスタ)、およびダイオードからなる群の中から選択される構成要素である。
例えばすべての半導体構成要素28は、それらの半導体構成要素28が構成するそれらの半導体構成要素28のタイプの半導体電子デバイス12を得るために、所与の半導体電子デバイス12に対して同じタイプのものである。例えばすべての半導体構成要素28はIGBTトランジスタであり、したがって半導体電子デバイス12はIGBTトランジスタである。あるいはすべての半導体構成要素28はダイオードであり、したがって半導体電子デバイス12はダイオードである。
あるいは同じ半導体電子デバイス12が、様々なタイプの半導体構成要素28を備える。例えば半導体電子デバイス12は、IGBTトランジスタ28およびダイオード28の混合体を備える。
弾性部30は、一方では支持プレート24と、他方では中間密封壁32との間で圧縮される。
弾性部30は、下部プレート22および上部プレート24に近似的に直交する方向に沿って弾性がある。換言すれば、弾性部30は弾性の方向を有し、弾性の方向は、下部プレート22および上部プレート24に近似的に直交する。図2での実施形態の例では、弾性部30の弾性の方向は、垂直積層軸Zに近似的に平行である。
例えば各々の弾性部30は、図2に示すようにコイルばねなどのばねを備える。図示しない変形例では、各々の弾性部30はピストンを備える。
第1の実施形態では弾性部30は、下部プレート22から支持プレート24への電流の循環の継続を確実にするために、本質的には導電性であり、側壁26はこの実施形態では電気絶縁性である。
中間密封壁32は、中間密封壁32と支持プレート24との間で弾性部30の周囲を循環するように構成される電気絶縁性の冷却液の半導体構成要素28を離隔するように構成される。
換言すれば中間密封壁32は、電子デバイス12への冷却液の循環用の空洞を、支持プレート24および側壁26とともに形成するように構成され、冷却液は、通路用の第1の開口部38を通って電子デバイス12に入り込むこと(矢印F1)、および、通路用の第2の開口部40を通って電子デバイス12から脱すること(矢印F2)が意図される。冷却液は、通路用の第1の開口部38から通路用の第2の開口部40に向かって弾性部30の周囲を循環するように構成される。
図2での実施形態の例では中間密封壁32は、導電性の中間プレート46を備え、中間プレート46は、半導体構成要素28、および、中間プレート46と側壁26との間に配置される密封接合部48に接触して配置される。
次いで弾性部30は、下部プレート22から半導体構成要素28、中間プレート46、および導電性の弾性部30を横断する支持プレート24への電流の循環の継続を可能にし、同時に電子デバイス12の製造を容易にするように、一方で導電性の中間プレート46に、および他方で支持プレート24にあてがわれて支持される。
通路用の第1の開口部38および通路用の第2の開口部40は各々、側壁26を横断して設けられる孔の形態である。換言すれば、各々の通路用の開口部38、40は側壁26を完全に通過する。通路用の第1の開口部38および通路用の第2の開口部40は、対応する第1のチャネル34および第2のチャネル36を介して、冷却液の駆動デバイス14に接続されるように構成される。
中間プレート46は、半導体構成要素28の第2の電極44にあてがわれて支持される。例えば中間プレート46は円形であり、したがって密封接合部48は中間プレート46の縁部に配置される円形の接合部である。
中間プレート46は、上部プレート24にあてがわれて支持される弾性部30により及ぼされる力の影響のもとで伸縮するように構成される。中間プレート46は、半導体構成要素28の近くではない領域で最小の厚さEminを有する。例えば最小の厚さEminは、1mmに近似的に等しい。
例えば中間プレート46は、鋼鉄のように、導電性材料で作製され、冷却液と適合する。
例えば密封接合部48は、中間プレート46の縁部に対して中間プレート46と側壁26との間に作製される金属セラミックはんだである。
したがって本発明による電子デバイス12によって、導電性の弾性部30の周囲の冷却液の循環により、半導体構成要素28が動作し電力供給されている間の半導体構成要素28の冷却を改善することが可能になる。
通路用の第1の開口部38および通路用の第2の開口部40は、冷却液が、通路用の第1の開口部38を通って電子デバイス12に、中間密封壁32と支持プレート24との間に入り込むこと(矢印F1)を、次いで、中間密封壁32と支持プレート24との間を循環した後に通路用の第2の開口部40を通って電子デバイス12から脱すること(矢印F2)を可能にすることが意図される。
循環する間に中間密封壁32および弾性部30に接触する冷却液によって、動作の間の半導体構成要素28の加熱の結果として生じる熱を効果的に除去することを確実にすることが可能になり、同時に冷却液は、冷却液から半導体構成要素28を離隔する密封壁32が存在するために前記半導体構成要素28の動作を妨げない。例えば冷却液の圧力は数バールである。
加えて弾性部30が存在することによって、詳細には前に述べた米国特許第5,705,853A号の文献からそれ自体は知られているように、電子デバイス12の製造が容易になる。
したがって本発明による半導体電子デバイス12が、半導体構成要素28の劣化を防止するように、半導体構成要素28の最高動作温度の低下を可能にすることが理解される。
図3は本発明の第2の実施形態を例示し、第2の実施形態に関しては、前に説明した第1の実施形態と同様の構成要素は、同じ参照番号により識別され、もう一度説明はしない。
第2の実施形態によればデバイス12は、下部プレート22および上部プレート24から選択される支持プレートとは別のプレートの内側に第2の冷却液用の循環回路70をさらに備え、循環回路70が、支持プレートとは別の前記プレート内に設けられる空洞72を備える。
図4での実施形態の例では、支持プレートは上部プレート24であり、支持プレートとは別のプレートは下部プレート22である。換言すれば、空洞72は下部プレート22の内側に設けられる。
支持プレート24とは別のプレート22は、第2の冷却液の通路用の第3の開口部74、および第2の冷却液の通路用の第4の開口部76をさらに備える。
通路用の第3の開口部74および通路用の第4の開口部76は各々、空洞72と、支持プレートとは別のプレートの外側との間を通過する孔の形態である。通路用の第3の開口部74および通路用の第4の開口部76は、第2の冷却液が、通路用の第3の開口部74を通って空洞72の内側に入り込むこと(矢印F3)を、次いで、前記空洞72内部を循環した後に通路用の第4の開口部76を通って前記空洞72から脱すること(矢印F4)を可能にするように、空洞72と外側との間の連通を形成することが意図される。
例えば第2の冷却液は、冷却回路16を横断して循環する第1の冷却液と同一であり、したがって駆動デバイス14により導かれる。次いで通路用の第3の開口部74および通路用の第4の開口部76は、対応する第1のチャネル34および第2のチャネル36によって冷却回路16に接続される。
この第2の実施形態の動作は、前に説明した第1の実施形態の動作と同様であり、もう一度説明はしない。
この第2の実施形態による電子デバイス12は、電流の循環の方向に対応する垂直積層軸Zに沿った半導体構成要素28の両側での冷却液の循環を確実にすることにより、半導体構成要素28の冷却をさらに改善することに役立つ。換言すれば、この第2の実施形態による電子デバイス12によって、第1の電極42および第2の電極44の各々の近くでの冷却液の循環が可能になる。
図4は本発明の第3の実施形態を例示し、第3の実施形態に関しては、前に説明した第1の実施形態と同様の構成要素は、同じ参照番号により識別され、もう一度説明はしない。
第3の実施形態によれば側壁26は、垂直方向Zに沿って中間プレート46の各々の側に配置される第1の部分100および第2の部分102を備える。
第1の部分100は、電気絶縁性であり、下部プレート22と中間プレート46との間に配置される。第1の部分100は、好ましくはセラミック材料で作製される。
第2の部分102は、導電性であり、中間プレート46と上部プレート24との間に配置される。例えば第2の部分102は、下部プレート22および上部プレート24と同じ材料で作製される。
第2の部分102は冷却液の通路用の第1の開口部38を備え、通路用の第1の開口部38は、対応する第1のチャネル34に接続されることが意図され、第2の部分102は冷却液の通路用の第2の開口部40を備え、通路用の第2の開口部40は、対応する第2のチャネル36に接続されることが意図される。
第1の部分100および第2の部分102は、好ましくは各々が、垂直積層軸Zの周囲を一巡する壁の形態である。
したがって中間プレート46は、垂直方向Zに直交して側壁26の外縁まで、すなわち第1の部分100および第2の部分102の外縁まで延在する。
例えば密封接合部48は、中間プレート46と第1の部分100との間に作製される金属セラミックはんだである。例えば金属セラミックはんだは、中間プレート46の横面と第1の部分100の対応する横面との間に配置され、前記横面は、相互に対向し、垂直方向Zに直交して延在する。
この第3の実施形態の動作は、前に説明した第1の実施形態の動作と同様であり、もう一度説明はしない。半導体構成要素28と上部面24との間の電流は、弾性部30を横断して、さらには第2の部分102を横断して循環するように構成される。
あるいは弾性部は導電性ではなく、半導体構成要素28と上部面24との間の電流は、第2の部分102を横断してのみで循環するように構成される。
この第3の実施形態による電子デバイス12によって、半導体構成要素28の適切な冷却を維持している間じゅう、半導体構成要素28と上部面24との間の電流の循環をさらに改善することが可能になる。
図5は本発明の第4の実施形態を例示し、第4の実施形態に関しては、前に説明した第3の実施形態と同様の構成要素は、同じ参照番号により識別され、もう一度説明はしない。
第4の実施形態によればデバイス12は、第2の実施形態に関して前に説明したように、下部プレート22および上部プレート24からの支持プレートとは別のプレートの内側に第2の冷却液用の循環回路70をさらに備え、循環回路70が、支持プレートとは別の前記プレート内に設けられる空洞72を備える。
図5での実施形態の例では、支持プレートは上部プレート24であり、支持プレートとは別のプレートは下部プレート22である。換言すれば、空洞72は下部プレート22の内側に設けられる。
支持プレート24とは別のプレート22は、前に説明したように、第2の冷却液の通路用の第3の開口部74、および第2の冷却液の通路用の第4の開口部76をさらに備える。
この第4の実施形態の動作は、前に説明した第1の実施形態の動作と同様であり、もう一度説明はしない。
この第4の実施形態による電子デバイス12によって、電流の循環の方向に対応する垂直積層軸Zに沿った半導体構成要素28の両側での冷却液の循環、および、第2の部分102を横断する半導体構成要素28と上部面24との間の電流の循環を確実にすることにより、半導体構成要素28の冷却時間の最適化が可能になる。
図6は本発明の第5の実施形態を例示し、第5の実施形態に関しては、前に説明した第4の実施形態と同様の構成要素は、同じ参照番号により識別され、もう一度説明はしない。
第5の実施形態によれば中間プレート46は、中央の横平面Pに沿って2つに、すなわち、第1の中間プレート200および第2の中間プレート202に分割される。横平面Pは垂直方向Zに直交して延在する。
換言すれば中間プレート46は、垂直方向Zに沿って一方が他方の上方に配置される第1の中間プレート200および第2の中間プレート202を備える。
第1の中間プレート200は、半導体構成要素28に接触して配置され、第1の部分100に固定される。
第2の中間プレート202は、弾性部30に接触して配置され、第2の部分102に固定される。
第1の中間プレート200および第2の中間プレート202は、中間プレート46を形成し、導電性である。例えばそれらは、同じ導電性材料で作製される。
例えば密封接合部48は、第1の中間プレート200と第1の部分100との間に作製される金属セラミックはんだである。例えば金属セラミックはんだは、第1の中間プレート200の横面と第1の部分100の対応する横面との間に配置され、前記横面は、相互に対向し、垂直方向Zに直交して延在する。
第5の実施形態の動作は、前に説明した第4の実施形態の動作と同様であり、もう一度説明はしない。
第5の実施形態によって、よりモジュール式の形態で電子デバイス12を供与することが可能になる。実際図6に示すように、下部プレート22、半導体構成要素28、ならびに、第1の部分100、および金属セラミックはんだにより中間に固定される第1の中間プレート200が第1のモジュールM1を形成し、第2の中間プレート202、第2の部分102、弾性部30、および上部プレート24が第2のモジュールM2を形成する。
このことによって電子デバイス12の製造はさらに容易になる、その理由は、半導体構成要素28を備える第1のモジュールM1が、クリーンルームなどの不純物レベルが低下した環境で組み立てられる必要がある一方で、第2のモジュールM2は、不純物レベルが低下した環境で組み立てられる必要がないからというものである。
図示しない第6の実施形態によれば電子デバイス12は、図5に関連して前に説明した第4の実施形態と同様であり、中間プレート46は、第5の実施形態に関して前に説明したように、中央の横平面Pに沿って2つに、すなわち、第1の中間プレート200に、および第2の中間プレート202に分割される。横平面Pは垂直方向Zに直交して延在する。
この第6の実施形態による電子デバイス12によって、第1の電極42および第2の電極44の各々の近くでの冷却液の循環、ならびに、第2の部分102を横断する半導体構成要素28と上部面24との間の電流の循環に起因して、半導体構成要素28の冷却時間を最適化することが可能になる。第6の実施形態による電子デバイス12は、第1のモジュールM1および第2のモジュールM2によるモジュール式の配置構成をさらに供与し、そのことによって製造が容易になる。
したがって本発明による半導体電子デバイス12が、半導体構成要素28の劣化を防止するように、半導体構成要素28の動作の間の最高動作温度のさらなる低下を可能にすることが理解される。
10 押圧型積層組立体
12 半導体電子デバイス、電子デバイス、デバイス
14 駆動デバイス
16 冷却回路
20 箱
22 下部プレート
24 上部プレート、支持プレート、上部面
26 側壁
28 半導体構成要素、構成要素
30 弾性部
32 中間密封壁
34 第1の循環チャネル、第1のチャネル
36 第2の循環チャネル、第2のチャネル
38 通路用の第1の開口部
40 通路用の第2の開口部
42 第1の電極
44 第2の電極
46 中間プレート
48 密封接合部
70 循環回路
72 空洞
74 通路用の第3の開口部
76 通路用の第4の開口部
100 第1の部分
102 第2の部分
200 第1の中間プレート
202 第2の中間プレート
M1 第1のモジュール
M2 第2のモジュール
P 横平面
Z 垂直積層軸、垂直方向

Claims (12)

  1. 押圧型積層組立体(10)に実装することが意図される半導体電子デバイス(12)であって、
    − 下部プレート(22)、上部プレート(24)、および前記下部プレート(22)を前記上部プレート(24)に機械的に接続する側壁(26)を備え、前記下部プレート(22)および前記上部プレート(24)が導電性である箱(20)、
    − 各々の半導体構成要素(28)が第1の電極(42)および第2の電極(44)を備え、前記第1の電極(42)が前記下部プレート(22)に電気的に接続され、前記第2の電極(44)が前記上部プレート(24)に電気的に接続される複数の半導体構成要素(28)、ならびに、
    − 好ましくは導電性であり、前記半導体構成要素(28)と、前記下部プレート(22)および前記上部プレート(24)から選択される支持プレート(24)との間に配置される弾性部(30)
    を備える半導体電子デバイス(12)において、
    前記半導体電子デバイス(12)が、前記半導体構成要素(28)と前記弾性部(30)との間で前記箱(20)の内側に配置される中間密封壁(32)をさらに備え、前記中間密封壁(32)が、前記半導体構成要素(28)を電気的に接続し、前記中間密封壁(32)が、前記中間密封壁(32)と前記支持プレート(24)との間で前記弾性部(30)の周囲を循環するように構成される電気絶縁性の冷却液から前記半導体構成要素(28)を離隔するように構成されることを特徴とする半導体電子デバイス(12)。
  2. 前記中間密封壁(32)が、導電性の中間プレート(46)を備え、前記中間プレート(46)が、前記半導体構成要素(28)、および、前記中間プレート(46)と前記側壁(26)との間に配置される密封接合部(48)に接触して配置される、請求項1に記載のデバイス(12)。
  3. 前記側壁(26)が電気絶縁性であり、前記弾性部(30)が導電性である、請求項1または2に記載のデバイス(12)。
  4. 前記側壁(26)が、垂直方向(Z)に沿って前記中間密封壁(32)の両側に配置される第1の部分(100)および第2の部分(102)を備え、前記第1の部分(100)が、電気絶縁性であり、前記中間密封壁(32)と、前記下部プレート(22)および前記上部プレート(24)からの前記支持プレート(24)とは別のプレート(22)との間に配置され、前記第2の部分(102)が前記中間密封壁(32)と前記支持プレート(24)との間に配置され、前記第2の部分(102)が好ましくは導電性である、請求項1または2に記載のデバイス(12)。
  5. 前記中間プレート(46)が、前記垂直方向(Z)に直交して前記側壁(26)の外縁まで延在する、請求項2および4に記載のデバイス(12)。
  6. 前記中間プレート(46)が、前記垂直方向(Z)に沿って一方が他方の上方に配置される第1の中間プレート(200)および第2の中間プレート(202)を備え、前記第1の中間プレート(200)が前記半導体構成要素(28)および前記第1の部分(100)に接触して配置され、前記第2の中間プレート(202)が前記弾性部(30)および前記第2の部分(102)に接触して配置される、請求項5に記載のデバイス(12)。
  7. 前記デバイス(12)が、前記下部プレート(22)および前記上部プレート(24)からの前記支持プレート(24)とは別の前記プレート(22)の内側に第2の冷却液用の循環回路(70)をさらに備え、前記循環回路(70)が、前記支持プレート(24)とは別の前記プレート(22)の内側に設けられる空洞(72)を備える、請求項1から6のいずれか一項に記載のデバイス(12)。
  8. 前記下部プレート(22)および前記上部プレート(24)が、本質的には平面状であり相互に平行であり、前記弾性部(30)が、前記下部プレート(22)および前記上部プレート(24)に近似的に直交する方向に沿って弾性がある、請求項1から7のいずれか一項に記載のデバイス(12)。
  9. 各々の弾性部(30)が、ばねおよびピストンからなる群の中から選択される構成要素である、請求項1から8のいずれか一項に記載のデバイス(12)。
  10. 各々の半導体構成要素(28)が、IGBTトランジスタ、IEGTトランジスタ、MOSFETトランジスタ、およびダイオードからなる群の中から選択される構成要素である、請求項1から9のいずれか一項に記載のデバイス(12)。
  11. 前記側壁(26)が、前記冷却液の通路用の少なくとも1つの開口部(38、40)を備え、前記(または各々の)通路用の開口部(38、40)が前記側壁(26)を通過し、前記(または各々の)通路用の開口部(38、40)が前記冷却液用の駆動デバイス(14)に接続されるように構成される、請求項1から10のいずれか一項に記載のデバイス(12)。
  12. 少なくとも1つの半導体電子デバイス(12)が、請求項1から11のいずれか一項に記載のデバイス(12)であることを特徴とする、垂直積層軸(Z)に沿って押圧される複数の半導体電子デバイス(12)を備える押圧型積層パイル組立体(10)。
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