JP2014038680A - 半導体装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】評価測定に用いるテストシステムの接続ピン数を低減できる半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置は、第1の動作モード時、第1及び第2のアドレスパッドで受信したアドレス信号をクロック信号の第1のレベル反転エッジに同期して取り込み、それぞれ第1及び第2のアドレス信号として出力する。また、第2の動作モード時、第1のアドレスパッドで順次受信したアドレス信号をクロック信号の第2及び第3のレベル反転エッジに同期してそれぞれ取り込み、第1及び第2のアドレス信号として出力する。
【選択図】図5
【解決手段】半導体装置は、第1の動作モード時、第1及び第2のアドレスパッドで受信したアドレス信号をクロック信号の第1のレベル反転エッジに同期して取り込み、それぞれ第1及び第2のアドレス信号として出力する。また、第2の動作モード時、第1のアドレスパッドで順次受信したアドレス信号をクロック信号の第2及び第3のレベル反転エッジに同期してそれぞれ取り込み、第1及び第2のアドレス信号として出力する。
【選択図】図5
Description
本発明は評価測定用の回路を備えた半導体装置に関する。
半導体装置の評価測定(検査)に用いるテストシステムは、複数の接続ピン(プローブ)を備え、該接続ピンを測定対象である半導体装置のパッドに接触させることで、該半導体装置を通電させた状態で評価測定を可能にする。テストシステムは、例えば予め設定されたテストパターンにしたがって測定対象である半導体装置の所要のメモリセルにデータを書き込み、該メモリセルから読み出したデータと予め設定された期待値とを比較することで、該半導体装置の良否を判定する。
なお、評価測定用(テスト動作モード用)の回路を備えた半導体装置については、例えば引用文献1にも記載されている。
一般的に、テストシステムは、評価測定に要する時間やコストを削減するために、複数の半導体装置を同時に評価測定することが可能な構成である。一方、テストシステムに設けることができる接続ピン数は物理的に限られるため、複数の半導体装置を同時に評価測定するには、各接続ピンを効率よく使用することが重要になる。そこで、本発明者は、より少ない接続ピン数で評価測定が可能な半導体装置について検討した。
本発明の半導体装置は、メモリセルアレイと、
第1及び第2のアドレスパッドを含む複数のアドレスパッドと、
前記メモリセルアレイと前記複数のアドレスパッドとの間に設けられ、外部から供給される第1及び第2のアドレス信号を含むアドレス情報を前記メモリセルアレイに出力するアドレス入力回路と、
を備え、
前記アドレス入力回路は、
前記第1及び第2のアドレスパッドで受信した信号をクロック信号の第1のレベル反転エッジに同期して取り込み、それぞれ第1及び第2のアドレス信号として出力する第1の動作モードと、
前記第1のアドレスパッドで受信した信号を前記クロック信号の第2及び第3のレベル反転エッジに同期して取り込み、前記第1及び第2のアドレス信号として出力する第2の動作モードと、
を有し、
前記第2及び第3のレベル反転エッジは、前記クロック信号のライズエッジまたはフォールエッジのいずれか一方である。
第1及び第2のアドレスパッドを含む複数のアドレスパッドと、
前記メモリセルアレイと前記複数のアドレスパッドとの間に設けられ、外部から供給される第1及び第2のアドレス信号を含むアドレス情報を前記メモリセルアレイに出力するアドレス入力回路と、
を備え、
前記アドレス入力回路は、
前記第1及び第2のアドレスパッドで受信した信号をクロック信号の第1のレベル反転エッジに同期して取り込み、それぞれ第1及び第2のアドレス信号として出力する第1の動作モードと、
前記第1のアドレスパッドで受信した信号を前記クロック信号の第2及び第3のレベル反転エッジに同期して取り込み、前記第1及び第2のアドレス信号として出力する第2の動作モードと、
を有し、
前記第2及び第3のレベル反転エッジは、前記クロック信号のライズエッジまたはフォールエッジのいずれか一方である。
上記のような構成の半導体装置では、第2の動作モード時、複数のアドレス信号を第2及び第3のレベル反転エッジに同期して分割して取り込むため、半導体装置に一度に入力するアドレス信号数を低減できる。
本発明によれば、評価測定に用いるテストシステムの接続ピン数を低減できる半導体装置が得られる。
次に本発明について図面を用いて説明する。
図1は、本発明の半導体装置の一構成例を示すブロック図である。図1は、半導体装置としてDRAM(Dynamic Random Access Memory)の構成例を示しているが、本発明は、DRAMに限らず、SRAM(Static Random Access Memory)、PRAM(Phase change Random Access Memory)、フラッシュメモリ等、その他の半導体装置にも適用可能である。
図1に示す半導体装置1は、メモリセルアレイ11、ロウデコーダ12、カラムデコーダ13、アドレス入力回路14、コマンド入力制御回路15、センスアンプ列16、データアンプ回路17、データ入出力回路18及び内部クロック発生回路19を有する。
メモリセルアレイ11は、マトリクス状に配置された、データを保持する多数のメモリセルMCを備え、メモリセルMCの行毎にワード線WLが接続され、メモリセルMCの列毎にビット線BLが接続された構成である。
内部クロック発生回路18は、外部からクロックパッドCLK PADを介して供給される外部クロックCLKに基づき、半導体装置1内で用いる各種の内部クロックICLKを生成して出力する。
コマンド入力制御回路15は、コマンド入力回路151及びコマンドデコーダ152を備える。コマンド入力回路151は、外部からコマンドパッドCMD PAD0〜CMD PADiを介して入力される外部コマンド信号CMD0〜CMDiを受信する入力バッファ回路である。コマンド信号CMD0〜CMDiには、チップセレクト信号CS、ロウアドレスストローブ信号RAS、カラムアドレスストローブ信号CAS、ライトイネーブル信号WEN等がある。
コマンドデコーダ152は、コマンド入力回路151で受信した外部コマンド信号CMD0〜CMDiをデコードし、メモリセルアレイ11、ロウデコーダ12、カラムデコーダ13、データアンプ回路17、センスアンプ列16、データ入出力回路18等を動作させるための内部コマンド信号を生成・出力する。
アドレス入力回路14は、半導体装置1の通常動作モード時、外部からアドレスパッドADD PAD0〜13を介して入力されるアドレス信号A0〜A13を受信し、該アドレス信号A0〜A13を内部クロックICLKに同期して出力する。また、アドレス入力回路14は、半導体装置1のテスト動作モード時、アドレスパッドADD PAD0〜13のうち、所定のアドレスパッドを用いて入力されるアドレス信号A0〜A13を受信し、該アドレス信号A0〜A13を内部クロックICLKに同期して出力する。通常動作モード及びテスト動作モードは、テストシステムからテストパッドTEST PADを介して入力されるテスト信号にしたがって切り替わる。なお、テストパッドTEST PADは、例えばテスト動作モード時にテストシステムから供給される外部コマンド信号CMD0〜CMDiをデコードすることで上記テスト信号を生成し、生成したテスト信号をアドレス入力回路14に供給できれば、無くてもよい。
ロウデコーダ12はアドレス入力回路14から出力されるロウアドレスをデコードし、カラムデコーダ13はアドレス入力回路14から出力されるカラムアドレスをデコードする。ロウデコーダ12及びカラムデコーダ13から出力されるデコード後の信号によって、データを読み出すメモリセルMCまたはデータを書き込むメモリセルMCが特定される。データを読み出すメモリセルMCまたはデータを書き込むメモリセルMCに対応するワード線WL及びビット線BLは、アドレス情報及びコマンドデコーダ152から出力される内部コマンド信号に応じて活性化される。アドレス情報は、内部コマンド信号に対応して用いられるアドレス信号で示される、データを読み出すメモリセルMCまたはデータを書き込むメモリセルMCのアドレスを指す。
データ入出力回路18は、外部の半導体装置やテストシステム等からデータ入出力端子DQ PAD0〜nを介して入力される、メモリセルMCへ書き込むデータDQ0〜nを受信すると共に、メモリセルMCから読み出されたデータDQ0〜nをデータ入出力端子DQ PAD0〜nを介して外部の半導体装置やテストシステム等へ送信する。
センスアンプ列16は、複数のセンスアンプSAを備え、所定の内部コマンド信号(リードコマンドREAD)にしたがって、各センスアンプSAによりメモリセルMCに格納されたデータが読み出される。
データアンプ回路17は、データ入出力回路18で受信した、メモリセルMCへ書き込むデータを保持し、内部クロックICLKに同期してメモリセルアレイ11に出力する。また、データアンプ回路17は、メモリセルMCから読み出されたデータを保持し、内部クロックICLKに同期してデータ入出力回路18へ出力する。
図2は、図1に示した半導体装置に入力されるコマンドの代表例を示すテーブル図である。
図2に示すように、図1に示した半導体装置に入力されるコマンドは、大きく分けて3種類(コマンドA、B、C)に分類される。コマンドAは、外部コマンド信号CMD0〜CMDiのみで設定される内部コマンドである。コマンドAには、例えばプリチャージコマンドPRE、ノーオペレーションコマンドNOP、リフレッシュコマンドREF等がある。コマンドBは、外部コマンド信号CMD0〜CMDiとアドレス信号A0〜A7とによって設定される内部コマンドである。コマンドBには、例えばリードコマンドREAD、ライトコマンドWRITE等がある。コマンドCは、外部コマンド信号CMD0〜CMDiとアドレス信号A0〜A13とによって設定される内部コマンドである。コマンドCには、例えばアクティブコマンドACT、モードレジスタコマンドMRS等がある。
図3は、本発明の半導体装置の通常動作モード時におけるコマンド入力例を示す模式図である。図3は、下矢印(↓)のタイミング(内部クロックICLKのライズエッジ)で外部コマンド信号CMD0〜CMDi及びアドレス信号A0〜A13が半導体装置1に取り込まれる(入力される)例を示している。
図3に示すように、半導体装置1の通常動作モード時、コマンドA(例えばPREコマンド)は、外部コマンド信号CMD0〜CMDiにより内部クロックICLKの所定のレベル反転エッジ(例えばライズエッジ)に同期して入力される。また、コマンドB(例えばWRITEコマンドやREADコマンド)は、外部コマンド信号CMD0〜CMDiにより内部クロックICLKの所定のレベル反転エッジ(例えばライズエッジ)に同期して入力されると共に、それに付随するアドレス信号A0〜A7が並列に一度に入力される。同様に、コマンドC(例えばACTコマンド)は、外部コマンド信号CMD0〜CMDiにより内部クロックICLKの所定のレベル反転エッジ(例えばライズエッジ)に同期して入力されると共に、それに付随するアドレス信号A0〜A13が並列に一度に入力される。
図3に示すように、コマンドCは、外部コマンド信号CMD0〜CMDi及びアドレス信号A0〜A13をそれぞれ用いて設定されるため、半導体装置1の評価測定時(テスト動作モード時)に、これらの信号を通常動作モード時と同様に一度に入力しようとすると、該半導体装置1の評価測定用に多くの接続ピンが必要になる。
図4は、図2に示した各コマンドの入力時の規則性を示したテーブル図である。
図4に示すように、DRAM等の半導体装置では、コマンドA及びコマンドBが入力される場合、その直前(1つ前)にはコマンドA、BまたはCの任意のコマンドが入力される。一方、コマンドCが入力される場合、その直前には必ずコマンドAが入力される。発明者は、このコマンドCが入力される場合、その直前に必ずコマンドAが入力されることに注目した。
図5は、本発明の半導体装置のテスト動作モード時におけるコマンド入力例を示す模式図である。図5は、下矢印(↓)のタイミング(内部クロックICLKのライズエッジ)で外部コマンド信号CMD0〜CMDiが半導体装置1に取り込まれる(入力される)例を示している。
図5に示すように、本実施形態では、半導体装置1のテスト動作モード時、コマンドC(例えばACTコマンド)の入力時、それに付随するアドレス信号A0〜A13を一度に入力するのではなく、コマンドC及びその直前のコマンドAが入力される内部クロックICLKの2つの周期に同期してアドレス信号A0〜A13を分割して入力する。すなわち、内部クロックICLKの隣接する2つのフォールエッジ及び2つのライズエッジにそれぞれ同期してアドレス信号A0〜A13を分割して入力する。上述したように、コマンドA(例えばPREコマンド)はアドレス信号を伴わないため、テスト動作モード時において、コマンドAの入力タイミングでコマンドCに付随するアドレス信号を入力しても何ら支障は無い。
図5は、コマンドA入力時の内部クロックICLKのフォールエッジに同期してアドレス信号A8、A10及びA12を入力し、コマンドA入力時の内部クロックICLKのライズエッジに同期してアドレス信号A9、A11及びA13を入力し、コマンドC入力時の内部クロックICLKのフォールエッジに同期してアドレス信号A0、A2、A4及びA6を入力し、コマンドC入力時の内部クロックICLKのライズエッジに同期してアドレス信号A1、A3、A5及びA7を入力する例を示している。
また、図5に示すように、本実施形態では、半導体装置1のテストモード時、コマンドB(例えばWRITEコマンド)の入力時に、それに付随するアドレス信号A0〜A7を、内部クロックICLKの1つの周期の各レベル反転エッジに同期して分割して入力する。すなわち、内部クロックICLKの隣接するフォールエッジ及びライズエッジにそれぞれ同期してアドレス信号A0〜A7を分割して入力する。つまり、コマンドBに付随するアドレス信号A0〜A7は、コマンドCにおけるアドレス信号A0〜A7と其々同じタイミングで内部クロックICLKに同期し分割して入力する。
図5では、コマンドB入力時の内部クロックICLKのフォールエッジに同期してアドレス信号A0、A2、A4及びA6を入力し、ライズエッジに同期してアドレス信号A1、A3、A5及びA7を入力する例を示している。
なお、図5では、内部クロックICLKの隣接する2つの周期の各レベル反転エッジ(フォールエッジ及びライズエッジ)に同期してアドレス信号A0〜A13を分割して入力する例を示しているが、本発明の半導体装置は、テスト動作モード時、コマンドC入力時にアドレス信号A0〜A13を分割して入力すればよく、図5に示す分割方法に限定されるものではない。例えば内部クロックICLKの隣接する2つの周期のフォールエッジまたはライズエッジのいずれか一方にのみ同期してアドレス信号A0〜A13を分割して入力してもよく、コマンドAまたはコマンドCのいずれか一方の入力時の内部クロックICLKのフォールエッジ及びライズエッジに同期してアドレス信号A0〜A13を分割して入力してもよい。また、テスト動作モード時に半導体装置1に一度に入力するアドレス信号数は、図5に示す「3」や「4」に限定されるものではなく、その他の信号数であってもよい。
図5に示す例では、テスト動作モード時に、半導体装置1に対して一度に入力するアドレス信号数が最大でも「4」であり、半導体装置1が備えるアドレスパッドADD PAD0〜13のうち、例えばアドレスパッドADD PAD0、2、6、10のみ用いてアドレス信号A0〜A13を入力できる。
本実施形態によれば、テスト動作モード時、複数のアドレス信号A0〜A13を複数のレベル反転エッジに同期して分割して入力するため、半導体装置1に一度に入力するアドレス信号数を低減できる。それため、アドレス信号A0〜A13の入力に必要な接続ピン数も低減できる。
図6は、本実施形態のアドレス入力回路の一構成例を示すブロック図である。図6の斜線で示すアドレスパッドADD PAD1、3〜5、7〜9、11〜13は、半導体装置1の通常動作モード時にのみ使用されるアドレスパッドである。また、図6は、図5に示したアドレス信号A0〜A13の分割方法に対応するアドレス入力回路14の構成例を示している。
図6に示すように、アドレス入力回路14は、アドレスパッドADD PAD0〜1に対応して設けられた第1のタイミング制御回路20、アドレスパッドADD PAD2〜5に対応して設けられた第2のタイミング制御回路21−1、アドレスパッドADD PAD6〜9に対応して設けられた第3のタイミング制御回路21−2及びアドレスパッドADD PAD10〜13に対応して設けられた第4のタイミング制御回路21−3を有する。
第1のタイミング制御回路20は、半導体装置1の通常動作モード時、アドレスパッドADD PAD0を介して入力されるアドレス信号A0及びアドレスパッドADD PAD1を介して入力されるアドレス信号A1を、内部クロック信号ICLKの所定のレベル反転エッジ(例えばライズエッジ)に同期して取り込み、それぞれ出力する。
また、第1のタイミング制御回路20は、半導体装置1のテスト動作モード時、アドレスパッドADD PAD0を介して順次入力されるアドレス信号A0、A1を、内部クロック信号ICLKの隣接する2つのレベル反転エッジ(フォールエッジ及びライズエッジ)に同期して順次取り込み、それぞれ出力する。
第2のタイミング制御回路21−1は、半導体装置1の通常動作モード時、アドレスパッドADD PAD2を介して入力されるアドレス信号A2、アドレスパッドADD PAD3を介して入力されるアドレス信号A3、アドレスパッドADD PAD4を介して入力されるアドレス信号A4、アドレスパッドADD PAD5を介して入力されるアドレス信号A5を、内部クロック信号ICLKの所定のレベル反転エッジ(例えばライズエッジ)に同期して取り込み、それぞれ出力する。
また、第2のタイミング制御回路21−1は、半導体装置1のテスト動作モード時、アドレスパッドADD PAD2を介して順次入力されるアドレス信号A8、A9、A2、A3を、内部クロック信号ICLKの隣接する4つのレベル反転エッジ(2つのフォールエッジ及び2つのライズエッジ)に同期して順次取り込み、それぞれ出力する。
第3のタイミング制御回路21−2は、半導体装置1の通常動作モード時、アドレスパッドADD PAD6を介して入力されるアドレス信号A6、アドレスパッドADD PAD7を介して入力されるアドレス信号A7、アドレスパッドADD PAD8を介して入力されるアドレス信号A8、アドレスパッドADD PAD9を介して入力されるアドレス信号A9を、内部クロック信号ICLKの所定のレベル反転エッジ(例えばライズエッジ)に同期して取り込み、それぞれ出力する。
また、第3のタイミング制御回路21−2は、半導体装置1のテスト動作モード時、アドレスパッドADD PAD6を介して順次入力されるアドレス信号A10、A11、A4、A5を、内部クロック信号ICLKの隣接する4つのレベル反転エッジ(2つのフォールエッジ及び2つのライズエッジ)に同期して順次取り込み、それぞれ出力する。
同様に、第4のタイミング制御回路21−3は、半導体装置1の通常動作モード時、アドレスパッドADD PAD10を介して入力されるアドレス信号A10、アドレスパッドADD PAD11を介して入力されるアドレス信号A11、アドレスパッドADD PAD12を介して入力されるアドレス信号A12、アドレスパッドADD PAD13を介して入力されるアドレス信号A13を、内部クロック信号ICLKの所定のレベル反転エッジ(例えばライズエッジ)に同期して取り込み、それぞれ出力する。
また、第4のタイミング制御回路21−3は、半導体装置1のテスト動作モード時、アドレスパッドADD PAD10を介して順次入力されるアドレス信号A12、A13、A10、A11を、内部クロック信号ICLKの隣接する4つのレベル反転エッジ(2つのフォールエッジ及び2つのライズエッジ)に同期して順次取り込み、それぞれ出力する。
図7は図6に示した第1のタイミング制御回路の構成例を示す回路図であり、図8は図6に示した第2のタイミング制御回路の構成例を示す回路図である。なお、図6に示した第3のタイミング制御回路21−2及び第4のタイミング制御回路21−3は、入出力されるアドレス信号が異なることを除いて、図8に示す第2のタイミング制御回路21−1と同様の構成である。また、図7及び図8は、図5に示したアドレス信号A0〜A13の分割方法に対応する第1のタイミング制御回路20及び第2のタイミング制御回路21−1の構成例を示している。
図7に示すように、第1のタイミング制御回路20は、フリップフロップ(Flip Flop)201〜203、セレクタ(Selector)204〜205及びインバータ206を備える。
アドレスパッドADD PAD0と出力端子A1_out間には直列に接続されたセレクタ204及びフリップフロップ201が接続され、アドレスパッドADD PAD1と出力端子A0_out間には直列に接続されたセレクタ205及びフリップフロップ202が接続されている。
アドレスパッドADD PAD0はセレクタ204の第2入力端子IN2と接続され、セレクタ204の出力端子OUTはフリップフロップ201の入力端子INと接続されている。セレクタ204の第1入力端子IN1は接地されている。また、フリップフロップ201の出力端子OUTは出力端子A1_outと接続されている。アドレスパッドADD PAD0はフリップフロップ203の入力端子INと接続され、フリップフロップ203の出力端子OUTはセレクタ205の第1入力端子IN1と接続されている。
アドレスパッドADD PAD1はセレクタ205の第2入力端子IN2と接続され、セレクタ205の出力端子OUTはフリップフロップ202の入力端子INと接続されている。フリップフロップ202の出力端子OUTは出力端子A0_outと接続されている。
フリップフロップ201及び202には内部クロックICLKが供給され、フリップフロップ203にはインバータ206で反転された内部クロックICLKBが供給される。
セレクタ205の制御端子XにはテストパッドTEST PADを介してテスト信号が入力される。セレクタ204の制御端子Xは接地されている。
このような構成において、半導体装置1の通常動作モード時、セレクタ205は、テストパッドTEST PADを介して入力されるテスト信号にしたがって、アドレスパッドADD PAD1から第2入力端子IN2に入力されるアドレス信号A1を選択して出力する。セレクタ204は、アドレスパッドADD PAD0から第2入力端子IN2に入力されるアドレス信号A0を出力する。
フリップフロップ201は、セレクタ204から出力されたアドレス信号A0を内部クロックICLKの所定のレベル反転エッジ(例えばライズエッジ)に同期して取り込み、出力端子A1_outへ出力する。フリップフロップ202は、セレクタ205から出力されたアドレス信号A1を内部クロックICLKの所定のレベル反転エッジ(例えばライズエッジ)に同期して取り込み、出力端子A0_outへ出力する。
一方、半導体装置1のテスト動作モード時、フリップフロップ203は、アドレスパッドADD PAD0から入力されたアドレス信号A0及びA1のうち、アドレス信号A0をインバータ206から出力された内部クロックICLKBの所定のレベル反転エッジ(例えばライズエッジ)に同期して取り込み、出力する。
セレクタ205は、テストパッドTEST PADを介して入力されるテスト信号にしたがって、フリップフロップ203から第1入力端子IN1に入力されるアドレス信号A0を選択して出力する。フリップフロップ201は、セレクタ204から出力されたアドレス信号A1を内部クロックICLKの所定のレベル反転エッジ(例えばライズエッジ)に同期して取り込み、出力端子A1_outへ出力する。フリップフロップ202は、セレクタ205から出力されたアドレス信号A0を内部クロックICLKの所定のレベル反転エッジ(例えばライズエッジ)に同期して取り込み、出力端子A0_outへ出力する。
図8に示すように、第2のタイミング制御回路21−1は、フリップフロップ211〜215、フリップフロップ217〜220、セレクタ221〜224及びインバータ225を備える。
アドレスパッドADD PAD2と出力端子A3_out間には、直列に接続されたセレクタ221及びフリップフロップ211が接続され、アドレスパッドADD PAD3と出力端子A2_out間には、直列に接続されたセレクタ222及びフリップフロップ212が接続されている。また、アドレスパッドADD PAD4と出力端子A9_out間には、直列に接続されたセレクタ223及びフリップフロップ214が接続され、アドレスパッドADD PAD5と出力端子A8_out間には、直列に接続されたセレクタ224及びフリップフロップ215が接続されている。
アドレスパッドADD PAD2はセレクタ221の第2入力端子IN2と接続され、セレクタ221の出力端子OUTはフリップフロップ211の入力端子INと接続されている。セレクタ221の第1入力端子IN1は接地されている。また、フリップフロップ211の出力端子OUTは出力端子A3_outと接続されている。
アドレスパッドADD PAD2はフリップフロップ213の入力端子INと接続され、フリップフロップ213の出力端子OUTはセレクタ222の第1入力端子IN1と接続されている。さらに、アドレスパッドADD PAD2はフリップフロップ217の入力端子INと接続され、フリップフロップ217の出力端子OUTはフリップフロップ218の入力端子INと接続され、フリップフロップ218の出力端子OUTはセレクタ223の第1入力端子IN1と接続されている。
フリップフロップ213の出力端子OUTはフリップフロップ219の入力端子INと接続され、フリップフロップ219の出力端子OUTはフリップフロップ220の入力端子INと接続され、フリップフロップ220の出力端子OUTはセレクタ224の第1入力端子IN1と接続されている。
アドレスパッドADD PAD3はセレクタ222の第2入力端子IN2と接続され、セレクタ222の出力端子OUTはフリップフロップ212の入力端子INと接続されている。フリップフロップ212の出力端子OUTは出力端子A2_outと接続されている。
アドレスパッドADD PAD4はセレクタ223の第2入力端子IN2と接続され、セレクタ223の出力端子OUTはフリップフロップ214の入力端子INと接続されている。フリップフロップ214の出力端子OUTは出力端子A9_outと接続されている。
アドレスパッドADD PAD5はセレクタ224の第2入力端子IN2と接続され、セレクタ224の出力端子OUTはフリップフロップ215の入力端子INと接続されている。フリップフロップ215の出力端子OUTは出力端子A8_outと接続されている。
フリップフロップ211〜215、217及び219には内部クロックICLKが供給され、フリップフロップ213、218及び220にはインバータ225で反転された内部クロックICLKBが供給される。
セレクタ222〜224の制御端子Xには、それぞれテストパッドTEST PADを介してテスト信号が入力される。セレクタ221の制御端子Xは接地されている。
このような構成において、半導体装置1の通常動作モード時、セレクタ222〜224は、テストパッドTEST PADを介して入力されるテスト信号にしたがって、アドレスパッドADD PAD3〜5から第2入力端子IN2に入力されるアドレス信号A3〜A5を選択して出力する。セレクタ211は、アドレスパッドADD PAD2から第2入力端子IN2に入力されるアドレス信号A2を出力する。
フリップフロップ211は、セレクタ221から出力されたアドレス信号A2を内部クロックICLKの所定のレベル反転エッジ(例えばライズエッジ)に同期して取り込み、出力端子A3_outへ出力する。フリップフロップ212は、セレクタ222から出力されたアドレス信号A3を内部クロックICLKの所定のレベル反転エッジ(例えばライズエッジ)に同期して取り込み、出力端子A2_outへ出力する。同様に、フリップフロップ214は、セレクタ223から出力されたアドレス信号A4を内部クロックICLKの所定のレベル反転エッジ(例えばライズエッジ)に同期して取り込み、出力端子A9_outへ出力する。フリップフロップ215は、セレクタ224から出力されたアドレス信号A5を内部クロックICLKの所定のレベル反転エッジ(例えばライズエッジ)に同期して取り込み、出力端子A8_outへ出力する。
一方、半導体装置1のテスト動作モード時、フリップフロップ213は、アドレスパッドADD PAD2から入力されたアドレス信号A2、A3、A8及びA9のうち、アドレス信号A2及びA8をインバータ225から出力された内部クロックICLKBの所定のレベル反転エッジ(例えばライズエッジ)に同期して取り込み、順次出力する。
フリップフロップ217は、アドレスパッドADD PAD2から入力されたアドレス信号A2、A3、A8及びA9のうち、アドレス信号A3及びA9を内部クロックICLKの所定のレベル反転エッジ(例えばライズエッジ)に同期して取り込み、順次出力する。フリップフロップ218は、フリップフロップ217から入力されたアドレス信号A3及びA9のうち、アドレス信号A9をインバータ225から出力された内部クロックICLKBの所定のレベル反転エッジ(例えばライズエッジ)に同期して取り込み、出力する。
フリップフロップ219は、フリップフロップ213から出力されたアドレス信号A2及びA8を内部クロックICLKの所定のレベル反転エッジ(例えばライズエッジ)に同期して取り込み、順次出力する。フリップフロップ220は、フリップフロップ219から入力されたアドレス信号A2及びA8のうち、アドレス信号A8をインバータ225から出力された内部クロックICLKBの所定のレベル反転エッジ(例えばライズエッジ)に同期して取り込み、出力する。
セレクタ222は、テストパッドTEST PADを介して入力されるテスト信号にしたがって、フリップフロップ213から第1入力端子IN1に入力されるアドレス信号A2及びA8を選択して出力する。
フリップフロップ211は、セレクタ221から出力されたアドレス信号A3を内部クロックICLKの所定のレベル反転エッジ(例えばライズエッジ)に同期して取り込み、出力端子A3_outへ出力する。フリップフロップ212は、セレクタ222から出力されたアドレス信号A2を内部クロックICLKの所定のレベル反転エッジ(例えばライズエッジ)に同期して取り込み、出力端子A2_outへ出力する。
セレクタ223は、テストパッドTEST PADを介して入力されるテスト信号にしたがって、フリップフロップ218から第1入力端子IN1に入力されるアドレス信号A9を選択して出力する。フリップフロップ214は、セレクタ223から出力されたアドレス信号A9を内部クロックICLKの所定のレベル反転エッジ(例えばライズエッジ)に同期して取り込み、出力端子A9_outへ出力する。セレクタ224は、テストパッドTEST PADを介して入力されるテスト信号にしたがって、フリップフロップ220から第1入力端子IN1に入力されるアドレス信号A8を選択して出力する。フリップフロップ215は、セレクタ224から出力されたアドレス信号A8を内部クロックICLKの所定のレベル反転エッジ(例えばライズエッジ)に同期して取り込み、出力端子A8_outへ出力する。
図7に示す第1のタイミング制御回路20、並びに図8に示す第2のタイミング制御回路21−1(第3のタイミング制御回路21−2及び第4のタイミング制御回路21−3)によれば、半導体装置1が備えるアドレスパッドADD PAD0、2、6、10に順次入力されてラッチされたアドレス信号A0〜A13が、それぞれ同時に出力される。
11 メモリセルアレイ
12 ロウデコーダ
13 カラムデコーダ
14 アドレス入力回路
15 コマンド入力制御回路
16 センスアンプ列
17 データアンプ回路
18 データ入出力回路
19 内部クロック発生回路
20 第1のタイミング制御回路
21−1 第2のタイミング制御回路
21−2 第3のタイミング制御回路
21−3 第4のタイミング制御回路
151 コマンド入力回路
152 コマンドデコーダ
201〜203、211〜215、217〜220 フリップフロップ
204〜205、221〜224 セレクタ
206、225 インバータ
12 ロウデコーダ
13 カラムデコーダ
14 アドレス入力回路
15 コマンド入力制御回路
16 センスアンプ列
17 データアンプ回路
18 データ入出力回路
19 内部クロック発生回路
20 第1のタイミング制御回路
21−1 第2のタイミング制御回路
21−2 第3のタイミング制御回路
21−3 第4のタイミング制御回路
151 コマンド入力回路
152 コマンドデコーダ
201〜203、211〜215、217〜220 フリップフロップ
204〜205、221〜224 セレクタ
206、225 インバータ
Claims (6)
- メモリセルアレイと、
第1及び第2のアドレスパッドを含む複数のアドレスパッドと、
前記メモリセルアレイと前記複数のアドレスパッドとの間に設けられ、外部から供給される第1及び第2のアドレス信号を含むアドレス情報を前記メモリセルアレイに出力するアドレス入力回路と、
を備え、
前記アドレス入力回路は、
前記第1及び第2のアドレスパッドで受信した信号をクロック信号の第1のレベル反転エッジに同期して取り込み、それぞれ第1及び第2のアドレス信号として出力する第1の動作モードと、
前記第1のアドレスパッドで受信した信号を前記クロック信号の第2及び第3のレベル反転エッジに同期して取り込み、前記第1及び第2のアドレス信号として出力する第2の動作モードと、
を有し、
前記第2及び第3のレベル反転エッジは、前記クロック信号のライズエッジまたはフォールエッジのいずれか一方である半導体装置。 - 前記複数のアドレスパッドに、さらに第3及び第4のアドレスパッドを含み、
前記アドレス入力回路は、
前記第1の動作モードにおいて、前記第3及び第4のアドレスパッドで受信した信号を前記クロック信号の前記第1のレベル反転エッジに同期して取り込み、前記アドレス情報に含まれる第3及び第4のアドレス信号として出力し、
前記第2の動作モードにおいて、前記第1のアドレスパッドで受信した信号を前記クロック信号の第4及び第5のレベル反転エッジに同期して取り込み、前記第3及び第4のアドレス信号として出力し、
前記第2及び第3のレベル反転エッジは前記クロック信号のライズエッジであり、前記第4及び第5のレベル反転エッジは前記クロック信号のフォールエッジである請求項1に記載の半導体装置。 - 前記クロック信号の前記第1のレベル反転エッジは、前記クロック信号のライズエッジである請求項1または2に記載の半導体装置。
- 前記第2及び第3のレベル反転エッジは、前記クロック信号の隣接するライズエッジであり、前記第4及び第5のレベル反転エッジは、前記クロック信号の隣接するフォールエッジである請求項2に記載の半導体装置。
- コマンドパッドと、
前記コマンドパッドと前記メモリセルアレイとの間に設けられ、内部コマンド信号を前記メモリセルアレイに供給するコマンド入力制御回路と、
をさらに備え、
前記コマンド入力制御回路は、
前記アドレス入力回路が前記第1の動作モードの時、前記コマンドパッドで受信した信号を前記クロック信号の前記第1のレベル反転エッジに同期して取り込み、前記内部コマンド信号として出力し、
前記アドレス入力回路が前記第2の動作モードの時、前記コマンドパッドで受信した信号を前記クロック信号の前記第3のレベル反転エッジに同期して取り込み、前記内部コマンド信号として出力する請求項1乃至4のいずれか1項に記載の半導体装置。 - 前記メモリセルアレイは、複数のメモリセル及び前記複数のメモリセルに接続されるワード線及びビット線を含み、
前記ワード線及びビット線は、前記アドレス情報及び前記内部コマンド信号に応じて活性化される請求項5に記載の半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012181487A JP2014038680A (ja) | 2012-08-20 | 2012-08-20 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012181487A JP2014038680A (ja) | 2012-08-20 | 2012-08-20 | 半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014038680A true JP2014038680A (ja) | 2014-02-27 |
Family
ID=50286685
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012181487A Pending JP2014038680A (ja) | 2012-08-20 | 2012-08-20 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2014038680A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20170066703A1 (en) * | 2014-05-15 | 2017-03-09 | Dic Corporation | Compound containing modified phenolic hydroxy group, method for producing compound containing modified phenolic hydroxy group, photosensitive composition, resist material, and resist coating film |
-
2012
- 2012-08-20 JP JP2012181487A patent/JP2014038680A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20170066703A1 (en) * | 2014-05-15 | 2017-03-09 | Dic Corporation | Compound containing modified phenolic hydroxy group, method for producing compound containing modified phenolic hydroxy group, photosensitive composition, resist material, and resist coating film |
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