JP2014038185A - 表示装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】表示モジュールの信頼性試験を従来より容易に行うことができる技術を提供すること。
【解決手段】液晶表示装置は、表示信号に応じた画像を表示する表示部と、表示部を制御する駆動回路と、それぞれ端子から電位または信号が入力される複数の配線であって、前記制御部に電気的に接続される切替信号線と、表示データを伝送するデータ配線と、を含む複数の配線と、を含む。前記駆動回路は、試験に用いる表示信号を出力するテスト信号生成部と、前記表示データに基づく表示信号と、前記テスト信号生成部が出力する表示信号とのうち一方を選択的に表示部に向けて出力する切替部と、前記切替信号線から所定の切替信号が入力されない場合に、前記テスト信号生成部が出力する表示信号を前記切替部が前記表示部に向けて出力するよう制御する制御部と、を含む。
【選択図】図3
【解決手段】液晶表示装置は、表示信号に応じた画像を表示する表示部と、表示部を制御する駆動回路と、それぞれ端子から電位または信号が入力される複数の配線であって、前記制御部に電気的に接続される切替信号線と、表示データを伝送するデータ配線と、を含む複数の配線と、を含む。前記駆動回路は、試験に用いる表示信号を出力するテスト信号生成部と、前記表示データに基づく表示信号と、前記テスト信号生成部が出力する表示信号とのうち一方を選択的に表示部に向けて出力する切替部と、前記切替信号線から所定の切替信号が入力されない場合に、前記テスト信号生成部が出力する表示信号を前記切替部が前記表示部に向けて出力するよう制御する制御部と、を含む。
【選択図】図3
Description
本発明は平面に複数の画素が配置された表示モジュールを有する表示装置に関する。
液晶モジュールなどの表示モジュールの寿命などを確認するために、表示モジュールをある程度の期間点灯させる信頼性試験が行われる。信頼性試験は、例えば、高温高湿槽などの信頼性試験装置の中に表示モジュールが並べられた状態で実施される。また、信頼性試験の際には表示モジュールに信号ケーブルを接続し、信頼性試験装置の外にある信号供給装置から表示モジュールに表示させる映像の信号を供給する。
特許文献1には、液晶駆動IC装置の試験を行う装置が開示されている。
信頼性試験を行う環境を準備することが問題となっている。例えば、信頼性試験では複数の表示モジュールを一斉に試験することが多いが、その場合は信号供給装置をその表示パネルの数だけ確保する必要がある。また、近年は高解像度化に伴い表示モジュールに高速差動信号などの高速な信号を用いることが増えており、通信ケーブルの長さなどの制約が厳しくなっている。
本発明は上記課題を鑑みてなされたものであって、その目的は、信頼性試験を従来より容易に行うことを可能にする技術を提供することにある。
本出願において開示される発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、以下
の通りである。
の通りである。
(1)表示信号に応じた画像を表示する表示部と、表示部を制御する駆動回路と、それぞれ端子から電位または信号が入力される複数の配線であって、前記駆動回路に電気的に接続される切替信号線と、表示データを伝送するデータ配線と、を含む複数の配線と、を含み、前記駆動回路は、試験に用いる表示信号を出力するテスト信号生成部と、前記表示データに基づく表示信号と、前記テスト信号生成部が出力する表示信号とのうち一方を選択的に表示部に向けて出力する切替部と、前記切替信号線から所定の切替信号が入力されない場合に、前記テスト信号生成部が出力する表示信号を前記切替部が前記表示部に向けて出力するよう制御する制御部とを含む、ことを特徴とする表示装置。
(2)(1)において、前記制御部は、前記切替信号線が切断された場合に、前記テスト信号生成部が出力する表示信号を前記切替部が前記表示部に出力するよう制御する、ことを特徴とする表示装置。
(3)(2)において、前記切替信号線の隣の配線は、前記切替信号線と所定の間隔をもって平行にのびる第1および第2の部分と、前記第1および第2の部分の間にあり前記切替信号線から離れるよう蛇行する第3の部分とを有する、ことを特徴とする表示装置。
(4)(1)から(3)のいずれかにおいて、前記制御部は、前記所定の切替信号が入力されず、かつ、前記切替信号線と異なる配線から所定の信号が入力された場合には、前記表示データに基づく表示信号を前記切替部が前記表示部に出力するよう制御する、ことを特徴とする表示装置。
(5)(1)から(4)のいずれかにおいて、前記テスト信号生成部は、クロック信号を生成するクロック生成器と、前記クロック信号に基づいて前記表示データを生成する表示信号生成回路とを含む、ことを特徴とする表示装置。
(6)(5)において、前記テスト信号生成部は、前記クロック信号に基づいて水平同期信号と垂直同期信号を生成する表示タイミング発生器をさらに含む、ことを特徴とする表示装置。
(7)(5)または(6)において、前記クロック生成器が生成したクロック信号を出力する端子をさらに含む、ことを特徴とする表示装置。
本発明によれば、表示モジュールの信頼性試験を従来より容易に行うことができる。
以下では、本発明の実施形態について図面に基づいて説明する。出現する構成要素のうち同一機能を有するものには同じ符号を付し、その説明を省略する。
図1は、本発明の実施形態にかかる液晶モジュールの構成の一例を示す図である。液晶モジュールは、アレイ基板1と、アレイ基板1に対向する対向基板2と、フレキシブル基板3(Flexible Printed Circuits)と、コネクタ4と、集積回路パッケージ6とを含む。矩形のアレイ基板1上には表示領域5があり、また集積回路パッケージ6が実装されている。対向基板2は、矩形であり、表示領域5を覆いかつ集積回路パッケージ6と干渉しない大きさである。集積回路パッケージ6はアレイ基板1上にCOG(Chip on Glass)実装されている。また図1のフレキシブル基板3はほぼ矩形であり、その一辺はアレイ基板1に接続され、その一辺に対向する辺には携帯電話機などのメイン基板と接続するためのコネクタ4が接続されている。ここで、フレキシブル基板3の形状は矩形である場合もあるが、一般的には携帯電話機などに液晶モジュールを実装できるようにするために複雑な形状を有している場合も多い。この場合においてもフレキシブル基板3の一端にアレイ基板1を接続し、他の一端にコネクタ4が接続される。図1においては説明のためにフレキシブル基板3を矩形で表現したに過ぎず、必ずしもこの形状でなくても構わない。
図2は、本発明の実施形態にかかる液晶モジュールの回路構成の一例を概略的に示す図である。液晶モジュールは、回路構成でみると、駆動回路11と、表示領域5にマトリクス状に配置される画素回路15と、複数のデータ線12、複数の走査線13、複数のコモン線14とを含む。各画素回路15は、走査線13により走査されるタイミングでデータ線12を介して入力される階調信号の電圧に応じて光の偏光を制御する。これにより、複数の画素回路15は、画像を表示する。各画素回路15は薄膜トランジスタと画素電極とコモン電極とを有する。薄膜トランジスタはゲート電極とソース電極とドレイン電極とを有し、ソース電極は画素電極に接続されている。また画素電極とコモン電極とはキャパシタを構成しており、これらの電極の間に生じる電界により、液晶の偏光および表示階調が変化する。走査線13とコモン線14とが画素回路15の行に対応して設けられ、走査線13は対応する画素回路15に含まれる薄膜トランジスタのゲート電極に、コモン線14は対応する画素回路15に含まれるコモン電極に接続される。なお、コモン線14どうしは電気的に接続されている。データ線12は画素回路15の列に対応して設けられ、データ線12に対応する画素回路15に含まれる薄膜トランジスタのドレイン電極に接続される。なお、薄膜トランジスタに極性はないので、ソース電極とドレイン電極の接続先が反対であってもよい。
駆動回路11には、データ線12、走査線13、コモン線14、差動信号端子21、切替信号端子22、電源端子23、接地端子24、図2に図示しないクロック出力端子26等が接続される。駆動回路11は、主に集積回路パッケージ6の中に収められている。駆動回路11の一部はアレイ基板1上に実装されてもよい。差動信号端子21、切替信号端子22、電源端子23、接地端子24、クロック出力端子26は集積回路パッケージ6に設けられており、これらはアレイ基板1上の配線、フレキシブル基板3上の配線やコネクタ4を介してメイン基板上の配線と電気的に接続されている。
図3は、駆動回路11の構成の一例を示すブロック図である。駆動回路11は、差動送受信回路31と、制御回路32と、レジスタ33と、エンコーダ34と、表示タイミング生成回路35と、走査信号生成回路36と、セレクタ37と、シフトレジスタ38と、ラッチ回路39と、DAコンバータ40と、電圧生成回路41と、クロック発生器42と、表示パターン発生回路43と、不揮発性メモリ44と、電源回路45と、を含む。この中でクロック発生器42と表示パターン発生回路43は信頼性試験の際に信号を生成する回路であり、あわせてテスト信号生成部46と呼ぶ。
差動送受信回路31は、メイン基板から高速差動信号を受信し、また液晶モジュールの状態を示す信号をメイン基板に向けて送信する。高速差動信号はシリアルデータであり、表示データと、クロック、タイミング信号、設定データを含む制御データとを含む。差動送受信回路31は、受信した表示データや制御データを制御回路32に渡す。図3では差動送受信回路31は2組存在するが、この数は解像度や色数により定まる情報量に応じて増減させてよい。設定データは、駆動回路11を制御するための情報であり、制御回路32によりレジスタ33に格納され、レジスタ33に格納された設定データは制御回路32により読み出される。
以下では通常の表示モードにおける制御回路32の動作について説明する。制御回路32は、差動送受信回路31から取得した表示データをエンコーダ34に入力する。エンコーダ34は、表示データに基づいて赤、青、緑の画素回路15(サブ画素)の階調を示すRGBデータ(表示信号)を復元し、そのRGBデータをセレクタ37に入力する。セレクタ37は、エンコーダ34が出力するRGBデータと、表示パターン発生回路43が出力するRGBデータとのうち、一方を選択的にシフトレジスタ38に向けて出力する。通常の表示モードでは、セレクタ37は前者を出力する。シフトレジスタ38はRGBデータを出力するタイミングを調整し、ラッチ回路39に1水平出力分の(画素回路15の1行に相当する)RGBデータを一時的に格納させる。ラッチ回路39に格納された1水平出力分のRGBデータは、次の水平走査期間にDAコンバータ40に出力される。DAコンバータ40は、1行分のRGBデータに応じて、1行分の画素回路15のそれぞれに出力する階調信号を生成する。階調信号は、画素回路15が出力すべき階調に応じた電圧であり、データ線12に出力される。
電圧生成回路41は、DAコンバータ40の動作の基準となる基準電圧や、各画素回路15のコモン電極にコモン線14を介して供給するコモン電圧を生成する。コモン電圧の値は不揮発性メモリ44にあらかじめ記憶されており、制御回路32は記憶されたコモン電圧の値を用いて電圧生成回路41が出力するコモン電圧を制御する。
さらに、制御回路32は、差動送受信回路31から取得した制御データと、レジスタ33に格納された情報を用いて表示タイミング生成回路35を制御する。具体的には制御回路32は、レジスタ33に記憶されている設定条件を満たすドットクロック73、水平同期信号74、垂直同期信号75などの液晶モジュールを駆動するための各信号を表示タイミング生成回路35が出力するように制御する。ここで、レジスタ33には、この設定条件として、水平・垂直同期信号周波数または水平・垂直帰線期間、ドットクロック周波数、液晶パネルを駆動するための各信号の詳細な位相関係などが格納されている。
表示タイミング生成回路35は制御回路32からの指示により、駆動回路11の内部の動作タイミングを決定するドットクロック73、水平同期信号74、垂直同期信号75などを生成する。これらの信号は、特にシフトレジスタ38、ラッチ回路39、走査信号生成回路36の動作の基準となる。走査信号生成回路36は、画素回路15の行を選択するための垂直走査信号を生成し、その垂直走査信号をその行に対応する走査線13に出力する。表示タイミング生成回路35は内部クロックを分周するなどして水平同期信号74などを生成するが、通常表示モードの場合はコネクタ4を介して入力される内部クロックが用いられる。
電源端子23および接地端子24は電源回路45に接続され、電源回路45は駆動回路11の各部の動作に必要な電源電圧を生成する。なお、図示していないが、レジスタ33には電源電圧を調整する値を格納することができ、電源回路45はその値に応じて調整した電圧を生成する。
次に、高温高湿槽などを用いて長時間表示を行う為のモードである自走モードに関連する構成について説明する。
制御回路32は、切替信号端子22からの入力を監視しており、その入力によって自走モードと通常表示モードとを切替える。例えば、制御回路32は、切替信号端子22の入力がハイレベルの場合に自走モード、ローレベルの場合に通常表示モードに切替える。切替信号端子22の入力の詳細については後述する。
制御回路32は、自走モードに切り替わると、クロック発生器42と表示パターン発生回路43を起動する。また制御回路32は外部から入力されるクロック信号の代わりに、クロック発生器42が生成したクロック信号を表示タイミング生成回路35に入力させる。表示タイミング生成回路35は、通常表示モードと同様にドットクロック73や水平同期信号74などを生成する。また、表示パターン発生回路43はドットクロック73や水平同期信号74などに基づいてテストパターンの画像を示す表示信号であるRGBデータを生成し、セレクタ37に向けて出力する。さらにセレクタ37は自走モードでは、制御回路32の制御により表示パターン発生回路43が出力するRGBデータをシフトレジスタ38に向けて出力する。これにより、複数の画素回路15からなる表示領域5には、テスト用の表示パターンが表示される。表示パターン発生回路43の詳細については後述する。
上述のように、本実施形態にかかる液晶モジュールは、切替信号端子22および切替信号線53に予め定められた信号が入力されるか否かで自走モードと通常表示モードとを切替え、自走モードではコネクタ4に接続される信号ケーブルから高速差動信号が入力されないかあるいは信号ケーブルが接続されていなくてもテスト用の表示パターンを出力し、信頼試験装置(高温高湿槽)において連続通電試験などの信頼性試験を行うことが可能になる。
次に、切替信号端子22への入力について説明する。図4は、切替信号端子22に接続される配線の一例を示す図である。駆動回路11に接地電位を入力する接地端子24は、アレイ基板1上の接地配線に接続されており、その接地配線はさらにフレキシブル基板3上の接地配線を経てコネクタ4の接地端子25に電気的に接続されている。また、切替信号端子22はアレイ基板1上の切替信号線53に接続され、また切替信号線53はFOG端子54を介してフレキシブル基板3上の切替信号線51に接続される。また切替信号線51は、フレキシブル基板3上で、接地配線に接続されている。なお、図4には図示していないが、駆動回路11とコネクタ4との間には高速差動信号を伝送する配線や、電源配線などの他の複数の配線も配置されている。また切替信号線51上には切断ポイント52が設けられている。
図5は、図4に示す回路において切替信号線51が切断された場合の例を示す図である。切替信号線51は、専用の穴あけ治具により切断ポイント52で切断されることが可能である。切替信号線51が切断ポイント52で切断されると、切替信号端子22と接地配線と電気的に接続されなくなる。なお、フレキシブル基板3上の配線や切断ポイント52は、様々な形態が可能である。この詳細については後述する。
また駆動回路11は、切替信号端子22に接続されるプルアップ抵抗56と、フリップフロップ回路55とを有する。フリップフロップ回路55は、それぞれ制御回路32からのセット信号およびリセット信号が入力されるセット端子59およびリセット端子60と、電源オン信号端子57と、切替信号端子22に接続される入力端子と、出力端子58とを含む。切替信号端子22は、プルアップ抵抗56を介して電源に接続されている。切替信号端子22に何らかの電圧が供給されない場合には、切替信号端子22の電圧はプルアップ抵抗56によりハイレベルとなり、接地配線と電気的に接続されていれば、切替信号端子22の電圧はローレベルとなる。
液晶モジュールの電源が投入された後に、制御回路32はフリップフロップ回路55の電源オン信号端子57に電源オン信号を出力する。フリップフロップ回路55は電源オン信号が入力される際の切替信号端子22の論理レベル状態(ハイレベルかローレベルか)を保持し、その論理レベル状態を示す切替モード信号を出力端子58から出力する。この切替モード信号により制御回路32は自走モードもしくは通常表示モードを切り替える。信頼性試験に投入するため切断ポイント52を切断加工した液晶モジュールでは、電源投入直後の切替モード信号により制御回路32は自走モードになる。
このように切断ポイント52の切断加工により自走モードと通常表示モードとを切替えることを可能にすることで、携帯端末やテレビなどに組み込まれる場合には切断加工をせず通常表示モードで動作させ、かつ信頼性試験を行う場合には切断加工により容易に信頼性試験を実施することが可能となる。なお、信頼性試験の対象となった液晶モジュールは外部に出荷されることはないため切断加工をしても問題は生じない。
さらに、フリップフロップ回路55は、制御回路32からセット信号端子59にセット信号が入力されると切替信号端子22からの入力に関わらず自走モードを示すハイレベルの切替モード信号を出力し、制御回路32からリセット信号端子60にリセット信号が入力されると切替信号端子22からの入力に関わらず通常表示モードを示すローレベルの切替モード信号を出力端子58から出力する。制御回路32は、このセット信号およびリセット信号を、高速差動信号に含まれる制御データに特定のコマンドが含まれる場合(言い換えれば駆動回路11に特定の信号入力された場合)に生成する。これにより、切断ポイント52が切断されて自走モードになっている場合でも通常表示モードに復帰させることが可能になる。通常表示モードに復帰すると、高速差動信号から入力される表示データに応じた画像を液晶モジュールが表示することが可能になる。なお、本実施形態では自走モードでは液晶モジュールの外部から高速差動信号に含まれる制御データによりレジスタ33の設定を行うことも可能となっているため、レジスタ33に設定されている値を変更して液晶モジュールの状態を詳細に調査することも可能になる。
信頼性試験では、予め定められた期間が経過するまで液晶モジュールに連続通電した後に、信頼性試験装置から液晶モジュールを取り出し、液晶モジュールの状態を詳細に調査する。そしてまた液晶モジュールを信頼性試験装置に再度投入し、さらに一定期間経過後に詳細に調査することを繰り返す。このような調査の結果から製品の寿命を予測している。液晶モジュールの状態を詳細に調査する際の調査項目には、表示画面の明るさや色のむらの有無、電気的な特性の変化、外観・外形の変化などがある。これらの調査をする際には、液晶モジュールの特性に応じた表示パターンを出力させたり、レジスタ33の設定値や各種端子への入力の電気的な特性(電圧や周波数、位相など)を変化させるなど、液晶モジュールに複雑な信号を入力する必要が生じる。液晶モジュールが通常表示モードに復帰できることで、これらの複雑な信号を用いた詳細な調査が可能になる。
フレキシブル基板3上の配線はいくつかの種類があってよい。図6Aは、フレキシブル基板3上の配線の一例を示す図である。本図の例では、接地配線、切替信号線51を含むフレキシブル基板3上の配線は、互いに一定の間隔をもって、コネクタ4からアレイ基板1に向かう方向に平行に延びている。また切替信号線51の一端はアレイ基板1に接続するFOG端子54に接続し、他端はコネクタ4の手前で屈曲し隣りにある接地配線に接続されている。
図6Bは、フレキシブル基板3上の配線の他の一例を示す図である。図6Aの例と異なり、切断ポイント52からの距離がある範囲内にある配線が切断ポイント52を迂回するレイアウトとなっている。より具体的には、切替信号線51の隣の配線および切替信号線51との距離がある値より小さい配線は、切替信号線と平行にのび、互いの間隔が一定である第1および第2の部分と、第1の部分と第2の部分の間にあり、切替信号線51から離れるように蛇行する第3の部分を有する。第3の部分は、切断ポイント52の近傍である。こうすることで、フレキシブル基板3が狭いなどの理由により配線の間隔が十分に確保しづらい場合でも、切断ポイント52で切替信号線51のみを確実に切断することが可能になる。
図6Cは、フレキシブル基板3上の配線の他の一例を示す図である。図6Cの例は、図6Aや図6Bの例と異なり、切断ポイント52は設けられていない。切替信号線51と隣の配線との間隔が十分に確保でき、通常の工具等で切断しても問題ない場合は、このようなフレキシブル基板3に対して切断ポイント52を用いずに切断加工してもよい。
次に制御回路32に含まれるクロック発生器42の構成を説明する。図7は、クロック発生器42の構成の一例を示す図である。クロック発生器42は、リング発振器61と、電圧設定回路62と、PLL回路63(Phased-locked loop回路)とを含む。制御回路32は、自走モードになると、リング発振器61にハイレベルの発信制御信号を入力し、リング発振器61を発振させる。なお、リング発振器61にローレベルの信号が入力されると、リング発振器61は発振しない。リング発振器61が発振することで生成されるクロックは、PLL回路63に入力される。PLL回路63は、M逓倍とN分周を行うことにより、入力されたクロックの周波数をM/N倍にした内部クロックを生成し、表示タイミング生成回路35等に向けて出力する。このMやNの値は、レジスタ33内のPLL設定レジスタ65に格納されている。PLL回路63は既知のものを用いればよく、その詳細についての説明は省略する。
図8はリング発振器61の構成を示す回路図である。リング発振器61は、偶数個のNOT回路と1個のNAND回路を含み、それらの回路はリング上にループさせるように接続されている。なお図8では6個のNOT回路と1個のNAND回路でループを構成するが、この数は駆動回路11の製造プロセスや論理回路の動作性能に応じて増減させてよい。
電圧設定回路62は、リング発振器61を構成するNOT回路等に供給する電源電圧を周波数設定レジスタ64の値に応じて調整する。周波数設定レジスタ64はレジスタ33内にある。周波数設定レジスタ64やPLL設定レジスタ65の値を調整することで、内部クロックの周波数における通常表示モードとの誤差を許容範囲内とすることができ、より正確に信頼性試験を行うことが可能となる。さらにクロック発生器42が出力する内部クロックはクロック出力端子26からモニタリングされるように構成する。このようにすれば、リング発振器61の製造誤差に起因する周波数のばらつきを測定することができる。この測定結果から周波数設定レジスタ64の値、およびPLL設定レジスタ65の値を調整することで、自走モード時の動作周波数を正確に設定することができる。なおクロック出力端子26からモニタ出力される内部クロックは、リング発振器61の出力クロックもしくはPLL回路の出力クロックのどちらでもよい。通常は、発振周波数の低いリング発振器61の出力クロックをクロック出力端子26からモニタ出力することが好ましい。またクロックを出力することにより駆動回路11の消費電力が増加することがあるため、クロック出力端子26からモニタ出力するクロック出力をレジスタ33の設定によりオン、オフ制御できることが好ましい。さらにまた、図7には図示していないが、リング発振器61を停止させたうえで、駆動回路11の外部からクロックを入力するための外部クロック入力端子86を設け、これを直接PLL回路63に入力して内部クロックを生成するようにしてもよい。前述したように、PLL回路63はM/N倍の周波数に変換することができるため、PLL設定レジスタ65の設定により比較的周波数の低い外部入力クロックから内部クロックを生成することも可能である。これにより低周波数のクロックであれば信頼性試験装置の外部からクロックをケーブルで容易に伝送することが可能となる。この低周波数のクロックと自走モードにより、信頼性試験装置内においても液晶モジュールを点灯することができる。
なお、自走モードでもレジスタ33に格納される設定データを用いる。この設定データは、周波数設定レジスタ64やPLL設定レジスタ65の値、また水平・垂直同期信号周波数または水平・垂直帰線期間、ドットクロック周波数、また液晶モジュールを駆動するための各信号の詳細な位相関係などである。自走モードでテストを行う際にレジスタ33にセットすべき値を不揮発性メモリ44に格納しておき、自走モードの際には制御回路32が不揮発性メモリ44からこれらの値を読み出して、レジスタ33に設定するようにしてもよい。こうすれば、通常表示モードと自走モードとで様々な条件を揃えることが可能となる。また、不揮発性メモリ44は集積回路パッケージ6の外にあってもよい。この場合、不揮発性メモリ44に対して情報を読み書きするための端子を別途設けるとよい。
以下では表示パターン発生回路43について説明する。図9は、表示パターン発生回路43の構成の一例を示す回路図である。図9の例では、表示パターン発生回路43は、1ドットに対応する周期を持つドットクロック73をカウントする水平カウンタ71とを有している。水平カウンタ71は、垂直同期信号75によりリセットされ、垂直カウンタ72は垂直同期信号75によりリセットされる。
図9の例では、表示パターン発生回路43は、水平同期信号74をカウントする垂直カウンタ72と、EXOR回路78(排他的論理和回路)と、R用バッファ79と、G用バッファ80と、B用バッファ81とをさらに有している。EXOR回路78は、水平カウンタ71の出力カウントを示すビット列のうち最下位ビット(bit0)と、垂直カウンタ72の出力カウントを示すビット列のうち最下位ビット(bit0)との排他的論理和を出力する。R用バッファ79と、G用バッファ80と、B用バッファ81とはそれぞれ赤、緑、青を表示する画素回路15に向けて出力する階調電圧を示す値のビット列を取得し、そのビット列をRGBデータとしてセレクタ37に向けて出力する。階調電圧を示す値のビット列の全てのビットは、EXOR回路78の出力である。従って、EXOR回路78の出力が「1」を示す電圧の場合には最大階調が、「0」を示す電圧の場合には最小階調がRGBデータとして出力される。
図10は、図9に示す表示パターン発生回路43が生成する表示パターンを示す図である。図10に示すように、表示パターン発生回路43はチェッカーフラグパターンを生成し、表示領域5に表示させる。このように水平カウンタ71や垂直カウンタ72のカウントを示すビット列の一部のビットを用いて、簡易な回路で表示パターンを生成することが可能である。なお、EXOR回路78に入力するビット列のビットは、最下位ビットでなくてもよい。
図11は、表示パターン発生回路43の構成の他の一例を示す回路図である。図11の例では、垂直カウンタ72はなく、水平カウンタ71の出力カウントを示すビット列のうち最下位ビット(bit0)を階調電圧を示す値のビット列の全てのビットに設定している。図12は、図11に示す表示パターン発生回路43が生成する表示パターンを示す図である。図10に示すように、表示パターン発生回路43は縦ストライプパターンを生成し、表示領域5に表示させる。なお図11を応用すれば、水平カウンタ71ではなく、垂直カウンタ72の出力カウントを示すビット列を用いて表示パターン発生回路43を構成することもできる。この場合、横ストライプパターンが表示される。本例においても使用するビット列のビットは最下位ビットではなくてもよい。
図12は、表示パターン発生回路43の構成の他の一例を示す回路図である。図12の例では、表示パターン発生回路43は水平カウンタ71、デコーダ82、R用OR回路83、G用OR回路84、B用OR回路85、R用バッファ79、G用バッファ80、B用バッファ81を有する。表示パターン発生回路43は水平カウンタ71の出力カウントを示すビット列のうち5番目から7番目の3つのビット(bit4,5,6)を用いて8色を出力する表示パターンを生成する。
図14はデコーダ82の入力と出力との関係を示す真理値表の一例を示す図である。デコーダ82は3ビットの入力から、図14に示す変換規則によりD0からD7の8ビットの出力を生成する。また、R用OR回路83はR用バッファ79の全ビットに向けてD0、D4、D5、D6の論理和を出力する。G用OR回路84はG用バッファ80の全ビットに向けてD1、D3、D5、D6の論理和を出力する。B用OR回路85は、B用バッファ81の全ビットに向けてD2、D3、D4、D7の論理和を出力する。
図15は、図13に示す表示パターン発生回路43が生成する表示パターンを示す図である。この例では、水平カウンタ71のビット列のうち5番目から7番目のビットを用いるため、表示領域5には水平方向に16ドットの幅の帯が並んでいる。また、帯の色は、赤、緑、青、シアン、マゼンタ、黄色、白、黒の順に変化する。
ここで、表示パターン発生回路43は、上述の3つの構成のうち複数の構成を含み、時間に応じて使用するものを切替えるようにしてもよい。さらに、表示パターンの内容においても図10、図12、図15に限定するものではなく、水平カウンタ71と垂直カウンタ72の出力するビット列から論理演算で生成するデータを用いて表示パターンとしてもよい。こうすれば、より実際の環境に近い信頼性試験を行うことも可能になる。
1 アレイ基板、2 対向基板、3 フレキシブル基板、4 コネクタ、5 表示領域、6 集積回路パッケージ、11 駆動回路、12 データ線、13 走査線、14 コモン線、15 画素回路、21 差動信号端子、22 切替信号端子、23 電源端子、24,25 接地端子、26 クロック出力端子、31 差動送受信回路、32 制御回路、33 レジスタ、34 エンコーダ、35 表示タイミング生成回路、36 走査信号生成回路、37 セレクタ、38 シフトレジスタ、39 ラッチ回路、40 DAコンバータ、41 電圧生成回路、42 クロック発生器、43 表示パターン発生回路、44 不揮発性メモリ、45 電源回路、46 テスト信号生成部、51,53 切替信号線、52 切断ポイント、54 FOG端子、55 フリップフロップ回路、56 プルアップ抵抗、57 電源オン信号端子、58 出力端子、59 セット端子、60 リセット端子、61 リング発振器、62 電圧設定回路、63 PLL回路、64 周波数設定レジスタ、65 PLL設定レジスタ、71 水平カウンタ、72 垂直カウンタ、73 ドットクロック、74 水平同期信号、75 垂直同期信号、78 EXOR回路、79 R用バッファ、80 G用バッファ、81 B用バッファ、82 デコーダ、83 R用OR回路、84 G用OR回路、85 B用OR回路。
Claims (7)
- 表示信号に応じた画像を表示する表示部と、
表示部を制御する駆動回路と、
それぞれ端子から電位または信号が入力される複数の配線であって、前記駆動回路に電気的に接続される切替信号線と、表示データを伝送するデータ配線と、を含む複数の配線と、
を含み、
前記駆動回路は、
試験に用いる表示信号を出力するテスト信号生成部と、
前記表示データに基づく表示信号と、前記テスト信号生成部が出力する表示信号とのうち一方を選択的に表示部に向けて出力する切替部と、
前記切替信号線から所定の切替信号が入力されない場合に、前記テスト信号生成部が出力する表示信号を前記切替部が前記表示部に向けて出力するよう制御する制御部と、
を含む、
ことを特徴とする表示装置。 - 前記制御部は、前記切替信号線が切断された場合に、前記テスト信号生成部が出力する表示信号を前記切替部が前記表示部に出力するよう制御する、
ことを特徴とする請求項1に記載の表示装置。 - 前記切替信号線の隣の配線は、前記切替信号線と所定の間隔をもって平行にのびる第1および第2の部分と、前記第1および第2の部分の間にあり前記切替信号線から離れるよう蛇行する第3の部分とを有する、
ことを特徴とする請求項2に記載の表示装置。 - 前記制御部は、前記所定の切替信号が入力されず、かつ、前記切替信号線と異なる配線から所定の信号が入力された場合には、前記表示データに基づく表示信号を前記切替部が前記表示部に出力するよう制御する、
ことを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の表示装置。 - 前記テスト信号生成部は、クロック信号を生成するクロック生成器と、前記クロック信号に基づいて前記表示データを生成する表示信号生成回路とを含む、
ことを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載の表示装置。 - 前記テスト信号生成部は、前記クロック信号に基づいて水平同期信号と垂直同期信号を生成する表示タイミング発生器をさらに含む、
ことを特徴とする請求項5に記載の表示装置。 - 前記クロック生成器が生成したクロック信号を出力する端子をさらに含む、
ことを特徴とする請求項5または6に記載の表示装置。
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