JP2014035780A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

【課題】トラックを有するサーボ層と光照射に応じたマーク形成により情報記録が行われるトラックを有さない記録層から構成される光ディスクに適した追加記録及び再生を可能とする光ディスク装置を提供する。
【解決手段】サーボ層に第一の光スポットを照射してサーボ層のトラックに追従するようにトラッキング制御を行う。また、記録層に第二及び第三の光スポットを照射し、第二の光スポットが光ディスクの記録済のマーク列からなるトラックに追従するように制御を行うとともに、第三の光スポットにより新たなマークを記録する。
【選択図】図１

Description

本発明は、レーザを用いて光ディスクから情報を再生、または光ディスクに情報を記録及び再生する光ディスク装置に関する。

背景技術としては、例えば、特許文献１（特開２０１０−４００９３号公報）及び特許文献２（特開２０１１−１９８４２４号公報）がある。

特開２０１０−４００９３号公報 特開２０１１−１９８４２４号公報

記録層を多数積層する場合でも製造が容易となるように、アドレッシング、トラッキングサーボ制御を行うためのアドレスを含む物理的な溝構造を持つ層(以下、サーボ層と記す)を設け、ランド/グルーブ構造と言った物理的な溝構造を持たない記録再生を行う層（積層型の記録層）からなる光ディスク（以下、積層型の光ディスク）が特許文献１で紹介されている。

また、特許文献の２にて複数の物理的な層構造を持たない記録再生を行う層（以下、バルク層）に焦点位置を変えてレーザ光を照射することにより複数の仮想的な層（以下、バルク型の記録層）ができる光ディスク（以下、バルク型の光ディスク）が紹介されている。この特許文献１、２で紹介されている光ディスクの共通点は記録再生用のレーザ光源とは別にサーボ制御用のレーザ光源を持つ点である。

光ディスクのサーボ層の溝構造に基づく位置制御を行うための第１のレーザ光源と、記録層に記録を行うための第二のレーザ光源を備えた光ディスク装置における記録方法として、特許文献１に、「記録済みの領域の最終記録位置から間を空けて追加記録が開始されるので、光ディスクの経時変化による反りや記録装置の違い等により図６に示すように各レーザビームの光軸に対して光ディスクにチルト（傾き）が存在していても記録済みの領域に重複して追記の記録をすることが防止される。すなわち、記録済みの領域の記録情報を破壊することなく未記録領域に情報を追加記録することができる。」と記載されている。しかしながら、開示されている記録方法では追加記録において記録容量が低下する。

そこで本発明の目的は、積層型の光ディスクやバルク型の光ディスクにおいて記録容量の低下無くデータの追加記録および再生が可能な光ディスク装置を提供することである。

上記課題は特許請求の範囲に記載の発明により解決される。

本発明によれば、積層型またはバルク型の記録層とサーボ層を有する光ディスクに対して記録容量の低下無くデータの追加記録および再生が可能となる。

実施例１の光ディスク装置を示す構成図 バルク型光ディスクの構造を示す模式図 記録時において記録層とサーボ層に合焦している光スポットの関係を示す模式図 実施例１におけるサーボ信号生成回路の構成図 実施例１における光ディスク装置の動作概要を示すフローチャート。 実施例１における光ディスク装置の記録動作概要を示すフローチャート 積層型光ディスクの構造を示す模式図 実施例２におけるサーボ信号生成回路の構成図 実施例２における光ディスク装置の記録動作概要を示すフローチャート

以下、本発明を実施するための形態について図を用いて説明する。また、ここで説明する構成は実施形態の一例を示すものであり、この実施形態に限定されるものではない。

各実施例は対象とするディスク構造と光スポットの位置関係、光ディスク装置の構成、フローチャート、特徴及び効果の４つから構成されている。対象とするディスク構造と光スポットの位置関係では、各実施例が対象とする光ディスクの構造を述べた後に、その光ディスクに集光する計４つの光スポットの位置関係を述べる。光ディスク装置の構成では各実施例を実施する上で必要となる構成要素を述べる。フローチャートでは、光ディスク装置の構成で述べた構成要素で対象とする光ディスクに記録を行う場合の制御の特徴および動作フローを述べる。最後にまとめとして特徴及び効果で各実施例の特徴とその特徴により達成される効果について述べる。

図１は光ディスク装置の一実施例を示すブロック構成図である。

光ディスク装置は装置に装着された光ディスクにレーザ光を照射することで情報の記録または再生を行い、SATA(Serial Advanced Technology Attachment)などのインターフェースを通じてPC(Personal Computer）などのホスト２００と通信を行う。

(ディスク構造と光スポットの位置関係)
図２に、本実施例が対象とする光ディスクであるバルク型光ディスク１０１の構造(断面)を示す。１０１は、物理的な溝構造が形成されたサーボ層と、複数の物理的な層構造を持たないバルク層を有した光ディスクである。サーボ層の溝構造は、ＤＶＤやＢＤなどの光ディスクの溝構造と同様である。

また、１２１１は、図１に示した光ディスク装置において光ディスク１０１にレーザ光を集光するための対物レンズである。図１の第一のレーザ光源１２１５から出射された第一の光束と第二のレーザ光源１２０２から出射された第二の光束が対物レンズ１２１１を通過し、第一の光束が光ディスク１０１のサーボ層に集光し、第二の光束が光ディスク１０１のバルク層に集光していることを示している。本実施例は、このように２つ、あるいは、２つ以上の光束を用いて記録または再生を行う光ディスクを対象とする。

バルク型光ディスク１０１に記録を行う際には、図２に示すバルク層１０内のディスク面に垂直な方向（以下、ディスク面方向）に対してマークを記録する位置を予め定めておく必要がある。図中では、バルク層１０内においてマークを形成する位置が５つの場合を示す。図２に示す第一の位置(以下、Ｌ０)はサーボ層を基準としてディスク面方向にオフセットＤ０分だけ離間した位置として設定する。また、第二の位置（以下、Ｌ１）、第三の位置（以下、Ｌ２）、第四の位置（以下、Ｌ３）、第五の位置（以下、Ｌ４）はＬ０と同様にサーボ層を基準としてディスク面方向にオフセットＤ１、オフセットＤ２、オフセットＤ３、オフセットＤ４分だけ離間した位置として設定する。このオフセットＤ０〜Ｄ４に基づいて設定された位置にマークを形成することで所望のディスク面方向にＬ１〜Ｌ４のバルク型の記録層が形成される。

図３を用いてサーボ層に集光される光スポットとバルク型の記録層に集光される光スポットの関係をより詳細に説明する。図３は図２に示した構造を有した光ディスクの一部を切り出し、拡大したものである。

図３は、光ディスクの接線方向に進みながら第三の光スポット３００にてマークを記録することでバルク型の記録層を形成している様子を示しており、同時に、第二の光スポット３０１と第四の光スポット３０２が、第三の光スポット３００と一定の距離を置き、記録されたマーク上と、後にマークが記録される予定の領域(未記録領域)にそれぞれ集光されおり、さらに、第三の光スポット３００の略真上のサーボ層の溝(トラック)に、第一の光スポット３１１が集光されていることを示している。なお、第二の光スポット３０１、第三の光スポット３００、および第四の光スポット３０２は、第二のレーザ光源１２０２から出射された第二の光束をグレーティング１１１により分光し、同一の対物レンズ１２１１から放たれたものであり、第一の光スポット３１１は、第二の光スポット３０１、第三の光スポット３００、および第四の光スポット３０２とは異なる第一のレーザ光源１２１５から出射された第一の光束であるが、同じ対物レンズ１２１１から放たれたことを示している。

第二の光スポット３０１、第三の光スポット３００、第四の光スポット３０２の半径方向の間隔はトラックピッチ（例えば０．３２ｕｍ）に等しくなるようにグレーティング１１１等の光学素子により調整する。ただし、周方向の距離はディテクタ１２１４にて分解できる距離であれば良い。ここで、第三の光スポット３００、第二の光スポット３０１、第四の光スポット３０２の半径方向のトラックピッチの設計はグレーティング１１１や記録する密度等により変わるため０．３２ｕｍは一例として示している。また、本実施例ではレーザ光をグレーティング１１１により３ビームとしたが、バルク型の記録層において記録マークに追従する方式であれば第二の光スポット３０１と第三の光スポット３００の２ビーム方式や複数の光ビーム（メインビーム０次光及びそのサーボビーム±１次光、そのサーボビーム±２次光）の５ビームのような方式も考えられる。

また、記録時の光スポットの強度は、第三の光スポット３００にて記録マークを形成しかつ第二の光スポット３０１にて既に記録されている記録マークを上書きすることが無く、また第四の光スポット３０２にて未記録部に記録することが無いように例えば第二の光スポット３０１対第三の光スポット３００対第四の光スポット３０２の光の強度比を１：１０：１とする。スポットの強度比はこれに限るものではなく、第三の光スポット３００にて記録マークを形成しかつ第二の光スポット３０１にて既に記録されている記録マークを上書きすることが無く、また第四の光スポット３０２にて未記録部に記録することが無ければどのような強度比としても良い。

(本実施例の光ディスク装置の構成)
図１の光ディスク装置は、光ピックアップ１０２と、信号処理回路１０３と、スピンドルモータ１０４と、サーボエラー信号生成回路１０５と、記録再生信号処理回路１０６と、スピンドル駆動回路１０７と、第一のアクチュエータ駆動回路１０８と、第二のアクチュエータ駆動回路１０９と、収差補正素子駆動回路１１０で構成される。

信号処理回路１０３は光ディスク装置の各種の信号処理を行う回路である。この信号処理回路１０３は、システム制御回路１３０１と、記録層フォーカス制御回路１３０２と、スイッチ１３０３と、加算器１３０４と、記録層フォーカス駆動電圧生成回路１３０５と、サーボ層フォーカス制御回路１３０６と、スイッチ１３０７と、加算器１３０８と、サーボ層フォーカス駆動電圧生成回路１３０９と、サーボ層トラッキング制御回路１３１０と、スイッチ１３１１と、記録層トラッキング制御回路１３１２と、スイッチ１３１４と、スピンドル制御回路１３１３で構成される。

光ディスク１０１はスピンドルモータ１０４により、所定の回転数で回転される。スピンドルモータ１０４は、信号処理回路１０３に搭載されたシステム制御回路１３０１からの指令信号を受けたスピンドル制御回路１３１３によって制御される。スピンドル制御回路１３１３から出力された信号はスピンドル駆動回路１０７で増幅され、増幅された信号がスピンドルモータ１０４に供給される。

光ピックアップ１０２は、波長の異なる２つの光学系を備えており、それぞれの光学系は光源として第一のレーザ光源と第二のレーザ光源の何れかを備えている。一例として第一のレーザ光源の波長を６５０ｎｍ、第二のレーザ光源の波長を４０５ｎｍとして説明する。

まず、６５０ｎｍの光学系について説明する。レーザパワー制御回路１２０１は、システム制御回路１３０１によって制御されており、レーザダイオード１２１５を駆動する電流を出力する。レーザダイオード１２１５は第一のレーザ光源として波長６５０ｎｍのレーザ光を駆動電流に応じた光強度で出射する。出射されたレーザ光はコリメータレンズ１２１６にて平行光となり、ビームスプリッタ１２１７で一部が反射し、集光レンズ１２１８によってパワーモニタ１２１９に集光する。パワーモニタ１２１９は、レーザ光の強度に応じた電流または電圧をシステム制御回路１３０１にフィードバックする。これによって光ディスク１０１のサーボ層に集光するレーザ光の強度が、たとえば３ｍＷなど所望のパワーに保持される。一方、ビームスプリッタ１２１７を透過したレーザ光は、偏光ビームスプリッタ１２２０にて反射した後、ダイクロイックミラー１２０８を透過し、１／４波長板１２１０を経て、対物レンズ１２１１により光ディスク１０１のサーボ層に第一の光スポット３１１として集光する。この集光した光スポットは第一のアクチュエータ駆動回路１０８の駆動量に応じて第一のアクチュエータ１２１２により対物レンズ１２１１を駆動することで位置制御を行う。光ディスク１０１にて反射したレーザ光は偏光ビームスプリッタ１２２０を透過し、集光レンズ１２２２にてディテクタ１２２３に集光する。ディテクタ１２２３はレーザ光の強度を検出し、これに応じた信号をサーボエラー信号生成回路１０５及び記録再生信号処理回路１０６に対して出力する。
次に、４０５ｎｍの光学系について説明する。６５０ｎｍの光学系と同様にレーザパワー制御回路１２０１は、システム制御回路１３０１によって制御されており、レーザダイオード１２０２を駆動する電流を出力する。レーザダイオード１２０２は、駆動電流に応じた光強度で波長４０５ｎｍのレーザ光を出射する第二のレーザ光源である。出射されたレーザ光はコリメータレンズ１２０３にて平行光となり、ビームスプリッタ１２０４で一部が反射し、集光レンズ１２０５によってパワーモニタ１２０６に集光する。パワーモニタ１２０６は、レーザ光の強度に応じた電流または電圧をシステム制御回路１３０１にフィードバックする。これによって光ディスク１０１のバルク層に集光するレーザ光の強度が、たとえば２ｍＷなど所望の値に保持される。一方、ビームスプリッタ１２０４を透過したレーザ光は３ビーム仕様のグレーティング１１１により、図３に示した第二の光スポット３０１、第三の光スポット３００、第四の光スポット３０２に対応する３つの光ビーム（メインビーム０次光及びそのサーボビーム±１次光）となり、偏光ビームスプリッタ１２０７を透過し、収差補正素子駆動回路１１０にて駆動される収差補正素子１２０９によって収束・発散が制御され、リレーレンズ１２２１に入射する。第二のアクチュエータ１２２８は第二のアクチュエータ駆動回路１０９の駆動量に応じてリレーレンズ１２２１を駆動し、バルク型の記録層に照射される第二の光スポット３０１のフォーカス方向及びトラッキング方向の位置の制御を行う（実際のリレーレンズ１２２１は可動レンズと固定レンズからなり、ここでは可動レンズのみを図示している）。その後、ダイクロイックミラー１２０８にて反射される。ここで、合焦位置を図２に示す所望の位置にするために、システム制御回路１３０１から収差補正素子駆動回路１１０を介して収差補正素子１２０９を駆動する。この収差補正素子の収束・発散を制御することで、Ｌ０〜Ｌ４に焦点を移動することができる。これにより、第二の光スポット３０１、第三の光スポット３００、第四の光スポット３０２に対応する３つの光ビームが所望のバルク型の記録層の位置で合焦する。
また、ダイクロイックミラー１２０８は特定の波長の光を反射し、その他の波長の光を透過する光学素子である。ここでは波長４０５ｎｍの光を反射し、６５０ｎｍの光を透過するものとする。ダイクロイックミラー１２０８にて反射されたレーザ光は、１／４波長板１２１０にて円偏光となり、対物レンズ１２１１によって光ディスク１０１の所望の位置に集光する。光ディスク１０１によって反射したレーザ光は、光ディスク１０１に記録された情報に応じて強度が変調され、１／４波長板１２１０にて直線偏光となり、ダイクロイックミラー１２０８、リレーレンズ１２２１、収差補正素子１２０９、偏光ビームスプリッタ１２０７を経たレーザ光は、集光レンズ１２１３によってディテクタ１２１４に集光する。ディテクタ１２１４はレーザ光の強度を検出し、これに応じた信号をサーボエラー信号生成回路１０５及び記録再生信号処理回路１０６に対して出力する。

次に、記録再生信号処理回路１０６では、ディテクタ１２１４で検出した信号に対して増幅、等化、復号などの処理を行い、バルク型の光ディスク１０１のバルク型の記録層から読み出した情報（記録されたデータや現在のアドレス情報など）をシステム制御回路１３０１に出力する。また、ディテクタ１２２３で検出した信号からサーボ層にウォブルして形成されたトラックに対応した信号により記録或いは再生を行う際の基準となるクロック信号を生成するとともに、第一の光スポット３１１が追従しているサーボ層上の位置に対応したアドレスを再生してシステム制御回路１３０１に出力する。

図４にサーボエラー信号生成回路１０５の構成を示す。ディテクタ１２２３から出力された信号はサーボ層フォーカスエラー信号生成回路１０５１及びサーボ層トラッキングエラー信号生成回路１０５２に入力される。サーボ層フォーカスエラー信号生成回路１０５１では光スポット３１１のサーボ層に対する焦点位置ずれを表すサーボ層フォーカスエラー信号（以下、Ｓ＿ＦＥ）を生成し、サーボ層トラッキングエラー信号生成回路１０５２では第一の光スポット３１１のサーボ層のトラックからの位置ずれを表すサーボ層トラッキングエラー信号（以下、Ｓ＿ＴＥ）を生成して出力する。また、ディテクタ１２１４から出力される信号は総光量信号生成回路１０５３及び記録層トラッキングエラー信号生成回路１０５４に入力される。総光量信号生成回路１０５３では第二の光スポット３０１の総光量を第二の光スポット３０１の記録マーク列からバルク型の記録層に対する焦点位置ずれを表す記録層フォーカスエラー信号（以下、Ｒ＿ＦＥ）として生成する。この記録層フォーカスエラー信号Ｒ＿ＦＥは後述の用途のためにＲ＿ＳＵＭ信号としてもサーボエラー信号生成回路１０５から出力する。記録層トラッキングエラー信号生成回路１０５４では第二の光スポット３０１とバルク型の記録層の記録マーク列からなるトラックとの位置ずれを表す記録層トラッキングエラー信号（以下、Ｒ＿ＴＥ）を生成して出力する。また、ディテクタ１２１４で検出した信号から第四の光スポット３０２の総光量に対応するＦ＿ＳＵＭ信号を総光量検出回路１０５６で生成して出力する。ここで、各エラー信号は、電位Ｖｒｅｆを基準として出力されるものとする。

次にバルク型の記録層及びサーボ層に対して行われるフォーカス制御及びトラッキング制御について説明する。

まず、６５０ｎｍの光学系において、サーボ層に対して行われるフォーカス制御及びトラッキング制御について説明する。

サーボ層フォーカス制御回路１３０６は、システム制御回路１３０１からの指令信号によりサーボ層フォーカスエラー信号Ｓ＿ＦＥに対してゲインと位相の補償を行い、サーボ層に対するフォーカス制御を行うための駆動信号を出力し、スイッチ１３０７、加算器１３０８を介してＳ＿ＦＯＤとして第一のアクチュエータ駆動回路１０８に入力される。これによりサーボ層に対するフォーカス制御が行われる。

スイッチ１３０７はシステム制御回路１３０１の出力するＳ＿ＦＯＮ信号に基づき、サーボ層フォーカス制御回路１３０６の出力信号もしくは基準電位Ｖｒｅｆを選択して出力する。Ｓ＿ＦＯＮ信号としてＨｉｇｈレベルが入力されると、スイッチ１３０７は端子ｃが選択される。一方でＲ＿ＦＯＮ信号としてＬｏｗレベルが入力されると、スイッチ１３０７は端子ｄを選択し、基準電位Ｖｒｅｆを出力する。

この結果、Ｓ＿ＦＯＮ信号はサーボ層に対するフォーカス制御のオン・オフを指示する信号となる。またスイッチ１３０７は、サーボ層に対するフォーカス制御のオン、オフを切り替えるスイッチとして機能する。Ｓ＿ＦＯＮ信号がＬｏｗからＨｉｇｈに切り替わることでサーボ層に対するフォーカス制御がオンされることになり、この動作をサーボ層へのフォーカス引き込み動作と呼ぶ。

サーボ層フォーカス駆動電圧生成回路１３０９は、システム制御回路１３０１からの指令信号により、所定の電圧を出力する。サーボ層フォーカス駆動電圧生成回路１３０９は例えば、フォーカススイープ動作におけるスイープ電圧を出力する。

サーボ層フォーカス駆動電圧生成回路１３０９の出力信号とスイッチ１３０７の出力信号を加算器１３０８により加算しＳ＿ＦＯＤとして第一のアクチュエータ駆動回路１０８に出力する。Ｓ＿ＦＯＤに従って第一のアクチュエータ１２１２を駆動することで、対物レンズ１２１１がフォーカス方向に駆動される。フォーカス制御がオンし、サーボ層へのフォーカス引き込み動作が行われると、第一のアクチュエータ駆動回路１０８はサーボ層フォーカス制御回路１３０６の出力信号に応じて第一のアクチュエータ１２１２を駆動することでサーボ層に第一の光スポット３１１が追従するようにフォーカス制御が行われる。

次に、サーボ層のトラッキング制御について説明する。サーボ層トラッキング制御回路１３１０は、システム制御回路１３０１からの指令信号により、サーボエラー信号生成回路１０５から入力されたサーボ層トラッキングエラー信号Ｓ＿ＴＥに対してゲインと位相の補償を行い、トラッキング制御を行うための駆動信号（以下、Ｓ＿ＴＲＤ）を出力する。サーボ層トラッキング制御回路１３１０から出力されたＳ＿ＴＲＤは、スイッチ１３１１を介して第一のアクチュエータ駆動回路１０８に入力される。

スイッチ１３１１はシステム制御回路１３０１の出力するＳ＿ＴＯＮ信号に基づき、サーボ層トラッキング制御回路１３１０の出力信号もしくは基準電位Ｖｒｅｆを選択して、Ｓ＿ＴＲＤとして第一のアクチュエータ駆動回路１０８に出力する。Ｓ＿ＴＯＮ信号としてＨｉｇｈレベルが入力されると、スイッチ１３１１の端子はｅが選択され、サーボ層トラッキング制御回路１３１０の出力信号が第一のアクチュエータ駆動回路１０８に出力される。一方でＳ＿ＴＯＮ信号としてＬｏｗレベルが入力されると、スイッチ１３１１は端子ｆを選択し、基準電位Ｖｒｅｆを出力する。

トラッキング制御がオンし、トラック引き込み動作が行われると、第一のアクチュエータ駆動回路１０８はサーボ層トラッキング制御回路１３１０の出力信号に応じて第一のアクチュエータ１２１２を駆動することでサーボ層のトラックに第一の光スポット３１１が追従するようにトラッキング制御が行われる。

次に、４０５ｎｍの光学系のバルク型の記録層に対して行われるフォーカス制御及びトラッキング制御について説明する。記録層フォーカス制御回路１３０２は、システム制御回路１３０１からの指令信号により、記録層フォーカスエラー信号Ｒ＿ＦＥに対してゲインと位相の補償を行い、バルク型の記録層に対するフォーカス制御を行うための駆動信号を出力する。記録層フォーカス制御回路１３０２の出力信号は、スイッチ１３０３、加算器１３０４を介してＳ＿ＦＯＤとして第二のアクチュエータ駆動回路１０９に入力される。

スイッチ１３０３はシステム制御回路１３０１の出力するＲ＿ＦＯＮ信号に基づき、記録層フォーカス制御回路１３０２の出力信号もしくは基準電位Ｖｒｅｆを選択して出力する。Ｒ＿ＦＯＮ信号としてＨｉｇｈレベルが入力されると、スイッチ１３０３の端子はａが選択され、記録層フォーカス制御回路１３０２の出力信号が加算器１３０４を介して第二のアクチュエータ駆動回路１０９に出力される。一方でＲ＿ＦＯＮ信号としてＬｏｗレベルが入力されると、スイッチ１３０３は端子ｂを選択し、基準電位Ｖｒｅｆを出力する。

この結果、Ｒ＿ＦＯＮ信号はバルク型の記録層に対するフォーカス制御のオン・オフを指示する信号となる。またスイッチ１３０３はバルク型の記録層に対するフォーカス制御のオン、オフを切り替えるスイッチとして機能する。Ｒ＿ＦＯＮ信号がＬｏｗからＨｉｇｈに切り替わることでバルク型の記録層に対するフォーカス制御がオンになる。この動作をバルク型の記録層へのフォーカス引き込み動作と呼ぶ。

記録層フォーカス駆動電圧生成回路１３０５は、システム制御回路１３０１からの指令信号により、所定の電圧を出力する。記録層フォーカス駆動電圧生成回路１３０５は例えば、フォーカススイープ動作におけるスイープ電圧や、フォーカスジャンプ時のジャンプ電圧を出力する。記録層フォーカス駆動電圧生成回路１３０５の出力信号とスイッチ１３０３の出力信号を加算器１３０４により加算しＲ＿ＦＯＤとして第二のアクチュエータ駆動回路１０９に出力する。Ｒ＿ＦＯＤに従って第二のアクチュエータ１２２８を駆動することで、リレーレンズ１２２１がフォーカス方向に駆動される。フォーカス制御がオンし、バルク型の記録層へのフォーカス引き込み動作が行われると、第二のアクチュエータ駆動回路１０９はバルク型の記録層フォーカス制御回路１３０２の出力信号に応じて第二のアクチュエータ１２２８を駆動することで記録マーク列からなる記録層に第二の光スポット３０１が合焦するようにフォーカス制御が行われる。

次に、バルク型の記録層のトラッキング制御について説明する。記録層トラッキング制御回路１３１２は、システム制御回路１３０１からの指令信号により、バルク型の記録層のトラッキングエラー信号Ｒ＿ＴＥに対してゲインと位相の補償を行い、トラッキング制御を行うための駆動信号を出力する。記録層トラッキング制御回路１３１２から出力された駆動信号（以下、Ｒ＿ＴＲＤ）は、スイッチ１３１４を介して第二のアクチュエータ駆動回路１０９に入力される。

スイッチ１３１４はシステム制御回路１３０１の出力するＲ＿ＴＯＮ信号に基づき、記録層トラッキング制御回路１３１２の出力信号もしくは基準電位Ｖｒｅｆを選択して、Ｒ＿ＴＲＤとして第二のアクチュエータ駆動回路１０９に出力する。Ｒ＿ＴＯＮ信号としてＨｉｇｈレベルが入力されると、スイッチ１３１４の端子はｇが選択され、記録層トラッキング制御回路１３１２の出力信号が第二のアクチュエータ駆動回路１０９に出力される。一方でＲ＿ＴＯＮ信号としてＬｏｗレベルが入力されると、スイッチ１３１４は端子ｈを選択し、基準電位Ｖｒｅｆを出力する。

この結果、Ｒ＿ＴＯＮ信号はバルク型の記録層に対するトラッキング制御のオン・オフを指示する信号となる。またスイッチ１３１４は、バルク型の記録層に対するトラッキング制御のオン、オフを切り替えるスイッチとして機能する。Ｒ＿ＴＯＮ信号がＬｏｗからＨｉｇｈに切り替わることでサーボ層トラッキング制御がオンされることになり、この動作はバルク型の記録層トラック引き込み動作と呼ばれる。ここで、Ｒ＿ＴＯＮ信号、Ｓ＿ＴＯＮ信号のＨｇｉｈレベルとＬｏｗレベルは前述した状態では無く、例えばＲ＿ＴＯＮ信号がＬｏｗレベルのときに端子ｇが選択されるようにスイッチを制御しても良い。

Ｒ＿ＴＲＤを第二のアクチュエータ駆動回路１０９に与えることで第二のアクチュエータ１２２８を駆動し、バルク型の記録層に集光した第三の光スポット３００、第二の光スポット３０１、第四の光スポット３０２の位置がディスク半径方向に移動する。トラッキング制御がオンし、トラック引き込み動作が行われると、第二のアクチュエータ駆動回路１０９は記録層トラッキング制御回路１３１２の出力信号に応じて第二のアクチュエータ１２２８を駆動することでバルク型の記録層の記録マーク列からなるトラックに第二の光スポット３０１が追従するようにトラッキング制御が行われる。
このように、本実施例における第二のアクチュエータ駆動回路１０９は、フォーカス方向に駆動する回路とトラッキング方向に駆動する回路を包含したものである。

(本実施例のフローチャート)
図５は本実施例の光ディスク装置の動作概要を示すフローチャートである。ステップＳ５０１において光ディスク装置に光ディスクが装着されたら、ステップＳ５０２においてセットアップ処理を行う。セットアップ処理では情報の記録または再生を行うことが可能な状態にするためのディスク認識、フォーカス引き込み、トラック引き込み、収差調整、当該ディスクの管理情報の再生などの各種処理が行われる。次にステップＳ５０３においてホスト２００からデータ再生コマンドを受け取ったら、ステップＳ５０４においてデータ再生処理を行う。あるいはステップＳ５０５においてホスト２００からデータ記録コマンドを受け取ったら、ステップＳ５０６においてデータ記録処理を行う。あるいはステップＳ５０７においてホストコンピュータからその他のコマンドを受け取ったら、ステップＳ５１０においてその他の処理を行う。また、ステップＳ５０９において光ディスクが排出された場合は、処理を終了する。

図６のフローチャートを用いてより図５のデータ記録処理Ｓ５０６を詳細に説明する。

まず、ステップＳ６０１にて合焦位置が図２の所望の位置になるように、システム制御回路１３０１から収差補正素子駆動回路１１０を介して収差補正素子１２０９を駆動する。これにより、第二の光スポット３０１、第三の光スポット３００、第四の光スポット３０２に対応する３つの光ビームが所望のバルク型の記録層の位置に移動する。

ステップＳ６０２において移動したバルク型の記録層が未記録状態かを判定する。未記録状態かを判定する方法としては、例えばセットアップ処理Ｓ５０２において取得したディスクの管理情報により行なう方法がある。

ステップＳ６０２において未記録ではないと判定した場合には第二の光スポット３０１のフォーカス制御をオンし、記録マーク列からなるバルク型の記録層に第二の光スポット３０１が合焦するようにＲ＿ＦＥに基づいてフォーカス制御が行われる。次に、ステップＳ６０４にて第二の光スポット３０１のトラッキング制御をオンし、記録のマーク列からなるトラックに第二の光スポット３０１が追従するようにＲ＿ＴＥに基づいてトラッキング制御が行われる。

システム制御回路１３０１から記録再生信号処理回路１０６には記録開始アドレス、記録データ等が設定され、ステップＳ６０５で記録開始アドレスから記録を開始する。記録再生信号処理回路１０６では入力されたデータ及びアドレス情報をサーボ層から再生された信号から生成された基準クロック信号に基づいて所定の方式で変調し、レーザパワー制御回路１２０１に出力する。レーザパワー制御回路１２０１は記録再生信号処理回路１０６の出力に応じた駆動電流をレーザダイオード１２０２に出力し、レーザダイオード１２０２が対応した強度でレーザ光を出射することでバルク型の光ディスク１０１のバルク型の記録層に第三の光スポット３００にて記録を行う。ステップＳ６０６で記録終了アドレスに一致したところで記録処理を終了する。

ステップＳ６０２において未記録と判定した場合には、記録されたマーク列からのフォーカス制御及びトラッキング制御ではなく、サーボ層の溝を光スポット３１１が辿るようトラッキング制御を行い、これにより、光スポット３１１の略直下にある光スポット３００のディスク半径方向の位置を確定しならがバルク型の記録層へのマークの記録を行い、バルク型の記録層に記録済みのマークが存在する場合は、光スポット３０１が記録済みのマークに対してフォーカス制御及びトラック制御を行うことで、光スポット３００のディスク半径方向の位置を確定しつつ記録にマークを記録する。

ステップＳ６０２における未記録状態の判定は、Ｒ＿ＦＥやＲ＿ＴＥの振幅により行なうこともできる。記録されている状態であれば、バルク型の記録層に記録されたマーク列によって総光量が変化し、またトラックとのずれに応じて記録層トラッキングエラー信号Ｒ＿ＴＥが変化する。しかし、記録されていない状態では基準電圧Ｖｒｅｆ近傍となる。従って、ステップＳ６０１でマークを記録する層位置の総光量変化によりディスク面方向の未記録判定を行うことも可能である。

また、バルク型の記録層に照射される第二の光スポット３０１と第四の光スポット３０２のディスクからの反射光量により、記録時において第二の光スポット３０１が記録済のマーク列からなるトラックに追従しながら所定のトラックの間隔で正常に記録しているかを確認することができる。 例えば記録マークが形成されると透過率が低下する光ディスク１０１であれば記録マークを追従している第二の光スポット３０１の総光量に対応するＲ＿ＳＵＭ信号に比べて未記録にある第四の光スポット３０２の総光量に対応するＦ＿ＳＵＭ信号の信号レベルが小さくなる。従って、Ｒ＿ＳＵＭ信号振幅よりもＦ＿ＳＵＭ信号振幅が小さい場合には正常な記録状態であり、Ｆ＿ＳＵＭ信号振幅よりもＲ＿ＳＵＭ信号振幅が大きい場合には記録状態が異常として記録を停止する等の処理を行なうことができる。光ディスク１０１が記録マークの形成にて透過率が高くなるのであれば、前述のＦ＿ＳＵＭ信号とＲ＿ＳＵＭ信号の振幅の大小が逆転する。

また、記録マークに追従している第二の光スポット３０１と第一の光スポット３１１の位置を記録再生信号処理回路１０６にてアドレスとして読み取れるため、このアドレスを記録時の記録が適切な位置と適切なバルク型の記録層にて行われているかの確認に使用しても良い。

また、前述したステップＳ６０４で未記録と判定した場合にも、ディスク１回転以上記録を行なうと記録マーク列からなるトラックが形成されるため、第二の光スポット３０１にて記録層フォーカスエラー信号Ｒ＿ＦＥ及び記録層トラッキングエラー信号Ｒ＿ＴＥを生成することが可能となる。従って、記録開始後に１回転以上の記録を行なった時点で第二の光スポット３０１によるＲ＿ＦＥ及びＲ＿ＴＥに基づいてバルク型の記録層へのフォーカス制御とトラッキング制御をオンするようにしても良い。或いは、一度記録を止めて第二の光スポット３０１によるＲ＿ＦＥ及びＲ＿ＴＥに基づいてバルク型の記録層への制御をオンした後に再度記録を開始しても良い。

以上の実施例におけるフローチャートは主たるステップを記載したものであり、各ステップの間に他のステップを設けるようにしても良い。また、光ディスク装置の動作として不都合が生じない範囲でステップの順序を変えるようにしてもよい。

また、本実施例において、サーボ層は１ビームによりフォーカス制御、トラッキング制御を行っている例であるが、例えばビームスプリッタ１２１７と偏向ビームスプリッタ１２２０の間にグレーティングをおいて３ビーム（メインビーム０次光及びサーボビーム±１次光）としても良い。本実施例におけるサーボエラー信号生成回路１０５にて生成される信号はトラッキング信号であれば差動プッシュプル法（ＤＰＰ法）やプッシュプル法、フォーカス信号であればナイフエッジ法や差動非点収差方式などの方式を用いて行えばよい。ただし、前述の方式は限定するものではなく異なる方式であっても良い。また、サーボ層のトラックは溝構造ではなく、ピットで構成しても良い。更に、本実施例では１つのレーザダイオード１２０２とグレーティング１１１の組み合わせで３つの第三の光スポット３００、第二の光スポット３０１、第四の光スポット３０２をバルク型の記録層に集光したが、この方法以外として３つのレーザダイオードで３つの第三の光スポット３００、第二の光スポット３０１、第四の光スポット３０２をバルク型の記録層に集束させことも可能である。

本実施例では収差補正素子１２０９の収束・発散を制御することで、Ｌ０〜Ｌ４に光スポット３００、光スポット３０１、光スポット３０２を移動したが、リレーレンズ１２２１と組み合わせることでも実現できる。例えばＬ０からＬ１に光スポット３００、光スポット３０１、光スポット３０２を移動する場合、オフセットＤ０とオフセットＤ１との距離差に相当する電圧をシステム制御回路１３０１から記録層フォーカス駆動電圧生成回路に指令することでリレーレンズ１２２１の位置を変えることで焦点を移動させても良い。これにより広範囲な収差補正素子１２０９が必要なく、また収差によるスポットの歪も防ぐことができる。

（本実施例の特徴及び効果）
本実施例の特徴は、第一のレーザ光源からサーボ層に照射される６５０ｎｍの第一の光スポット３１１のサーボ層に対するディスク面方向の位置を表すＳ＿ＦＥとサーボ層の溝に対する第一の光スポット３１１の位置を表すＳ＿ＴＥに基づくＳ＿ＦＯＤ、Ｓ＿ＴＲＤにより第一のアクチュエータ駆動回路１０８を介して対物レンズ１２１１の位置を制御し、第二のレーザ光源からバルク型の記録層に照射される４０５ｎｍの３つの光スポットの内、第二の光スポット３０１のバルク型の記録層に対するディスク面方向の位置を表すＲ＿ＦＥとバルク型の記録層の記録マーク列からなるトラックと第二の光スポット３０１のトラックずれを表すＲ＿ＴＥに基づくＲ＿ＦＯＤ、Ｒ＿ＴＲＤにより第二のアクチュエータ駆動回路１０９を介してリレーレンズ１２２１の位置制御することで、２つの光スポットをバルク型の記録層、サーボ層に対してフォーカス制御、トラッキング制御を独立に制御する点が特徴である。

ここで、バルク層１０にマークが記録されていない状態では、バルク型の記録層に対してフォーカス制御及びトラッキング制御が行えない。そこで、合焦位置が図２に示す所望のバルク型の記録層に対応した位置になるようにシステム制御回路１３０１から収差補正素子駆動回路１１０を介して収差補正素子１２０９を駆動する。例えば所望の位置がＬ０であればオフセットＤ０の位置に焦点を位置づける。これにより、第二の光スポット３０１、第三の光スポット３００、第四の光スポット３０２に対応する３つの光ビームを所望の位置で合焦させるとともに、サーボ層の溝を第一の光スポット３１１が辿るようトラッキング制御を行うことで、第一の光スポット３１１の略真上に第三の光スポット３００のディスク半径方向の位置を確定しならがバルク型の記録層へのマークの記録を行う。また、バルク型の記録層に記録のマークが存在する場合は、第二の光スポット３０１がバルク型の記録層の記録マーク列からなるトラックを辿るようトラッキング制御することで、第三の光スポット３００のディスク半径方向の位置を確定しつつバルク型の記録層にマークを記録することができる。

このように本実施例に従ったフォーカス制御方法、トラッキング制御方法で、マーク列(トラック)をディスク半径方向に一定の間隔で記録でき、かつディスク面方向にも一定間隔でバルク型の記録層を形成できる。このサーボ層とバルク型の記録層に対して独立にアクチュエータを駆動する効果は、光ディスクの経時変化による反りや記録装置の違い等による第一の光束と第二の光束の光軸に対して光ディスクにチルト（傾き）が存在しても２つの光スポットの位置制御により記録済みの領域への上書きを防止できる点とディスク面方向及びディスク半径方向に一定間隔で記録、追加記録が可能となり記録容量の無駄を無くすことができる点である。さらに、記録時におけるＣＬＶ制御や記録のタイミング生成等はサーボ溝から得られる情報により行う点も特徴である。

図１は、本発明に従う光ディスク装置の一実施例を示すブロック構成図である。実施例１と実施例２の違いは対象とする光ディスクが図７に示す積層型の光ディスク７０１となる点とサーボエラー信号生成回路１０５の内部の構造が図８に変わる点であり、この２点以外の構成は同じであるため第１の実施例にて説明した内容と重複する部分については省略する。

(ディスク構造と光スポットの位置関係)
図７に、本実施例が対象とする積層型の光ディスク７０１の構造(断面)を示す。同図の７０１は、溝が形成されたサーボ層を一つと、溝が無くフラットな積層型の記録層を一つまたは複数有した光ディスクである。サーボ層の溝構造は、ＤＶＤやＢＤなどの光ディスクの溝構造と同様である。

また、同図の１２１１は、図１に示した光ディスク装置において光ディスク７０１にレーザ光を集光するための対物レンズである。同図は、対物レンズ１２１１を異なる第一の光束と第二の光束が通過し、第一の光束が光ディスク７０１のサーボ層に集光し、第二の光束が光ディスク７０１の複数ある積層型の記録層のうちの一つ（図７ではＬ３）に集光していることを示している。本実施例は、このように２つの光束、あるいは、２つ以上の光束を用いて記録または再生を行う光ディスクを対象とする。

(本実施例の光ディスク装置の構成)
図1に示す本実施例の光ディスク装置の構成において、第1の実施例と異なるのはサーボエラー信号生成回路１０５の内部構成のみであり、これ以外の説明は省略する。

図９にサーボエラー信号生成回路１０５の構成を示す。ディテクタ１２２３から出力された信号はサーボ層フォーカスエラー信号生成回路１０５１及びサーボ層トラッキングエラー信号生成回路１０５２に入力される。サーボ層フォーカスエラー信号生成回路１０５１ではサーボ層に対するフォーカス制御に使用するためのＳ＿ＦＥを生成し、サーボ層トラッキングエラー信号生成回路１０５２ではＳ＿ＴＥを生成して出力する。また、ディテクタ１２１４から出力される信号は記録層フォーカスエラー信号生成回路１１５３及び記録層トラッキングエラー信号生成回路１０５４に入力される。記録層フォーカスエラー信号生成回路１１５３では記録層に対するフォーカス制御に使用するためのＲ＿ＦＥを生成し、記録層トラッキングエラー信号生成回路１０５４ではＲ＿ＴＥを生成して出力する。また、ディテクタ１２１４で検出した信号から第二の光スポット３０１と第四の光スポット３０２の総光量に対応するＲ＿ＳＵＭ信号、Ｆ＿ＳＵＭ信号を総光量検出回路１０５５と総光量検出回路１１５６で生成して出力する。ここで、各エラー信号は、電位Ｖｒｅｆを基準として出力されるものとする。

(本実施例のフローチャート)
本実施例の光ディスク装置の動作概要フローチャートは図５と同様であるため省略する。

図９のフローチャートを用いて、図５のデータ記録処理Ｓ５０６を詳細に説明する。

まず、ステップＳ１１０１にて記録を行なう積層型の記録層ｎに４０５ｎｍの光スポットの焦点位置を移動させるフォーカスジャンプを行なう。この結果、積層型の記録層と積層型の記録層に集光した第三の光スポット３００との位置ずれを表すＲ＿ＦＥに基づいたフォーカス制御がオンになる。次にステップＳ１１０２において移動した積層型の記録層ｎが未記録状態かを判定する。未記録状態かを判定する方法としては、例えばセットアップ処理Ｓ５０２において取得したディスクの管理情報により行なう方法がある。

ステップＳ１１０２において未記録ではないと判定した場合には、ステップＳ１１０３において積層型の記録層に記録されたマーク列からなるトラックと第二の光スポット３０１との位置ずれを表すＲ＿ＴＥに基づいてトラッキング制御をオンとし、サーボ層に照射される６５０ｎｍの第一の光スポット３１１と積層型の記録層に照射される４０５ｎｍの第二の光スポット３０１にてディスク半径方向の位置制御が行われる。

システム制御回路１３０１から記録再生信号処理回路１０６には記録開始アドレス、記録データ等が設定され、ステップＳ１１０４で記録開始アドレスから記録を開始する。記録再生信号処理回路１０６では入力されたデータ及びアドレス情報をサーボ層から再生された信号から生成された基準クロック信号に基づいて所定の方式で変調し、レーザパワー制御回路１２０１に出力する。レーザパワー制御回路１２０１は記録再生信号処理回路１０６の出力に応じた駆動電流をレーザダイオード１２０２に出力し、レーザダイオード１２０２が対応した強度でレーザ光を出射することで積層型の光ディスク７０１の積層型の記録層に記録が第三の光スポット３００にて行われる。ステップＳ１１０５で記録終了アドレスに一致したところで記録処理を終了する。

ステップＳ１１０２において未記録と判定した場合には、記録されたマーク列へのトラッキング制御ではなく、サーボ層の溝を光スポット３１１が辿るようトラッキング制御を行い、これにより、光スポット３１１の略直下にある光スポット３００のディスク半径方向の位置を確定しならが積層型の記録層へのマークの記録を行い、記録層に記録済みのマークが存在する場合は、光スポット３０１が記録済みのマークを辿るようトラッキングを制御し、これにより、光スポット３００のディスク半径方向の位置を確定しつつ記録にマークを記録する。

ステップＳ１１０２における未記録状態の判定は、Ｒ＿ＴＥの振幅により行なうこともできる。記録されている状態であれば、第二の光スポット３０１と積層型の記録層に記録されたマーク列からなるトラックとのずれに応じて記録層トラッキングエラー信号Ｒ＿ＴＥの振幅が変化するが、記録されていない状態では基準電圧Ｖｒｅｆ近傍となっている。従って、ステップＳ１１０１で積層型の記録層ｎにフォーカスジャンプを行い、トラッキング制御がオフした状態でのＲ＿ＴＥの振幅により未記録状態の判定を行なうことができる。

また、積層型の記録層に照射される第二の光スポット３０１と第四の光スポット３０２のディスクからの反射光量により、記録時において第二の光スポット３０１が記録済のマーク列からなるトラックを追従しながら所定のトラックの間隔で正常に記録しているかを確認することができる。例えば記録マークが形成されると反射率が低くなる積層型の光ディスク７０１であれば記録マークを追従している第二の光スポット３０１の総光量に対応するＲ＿ＳＵＭ信号に比べて未記録にある第四の光スポット３０２の総光量に対応するＦ＿ＳＵＭ信号の信号レベルが大きくなる。従って、Ｒ＿ＳＵＭ信号振幅よりもＦ＿ＳＵＭ信号振幅が大きい場合には正常な記録状態であり、Ｆ＿ＳＵＭ信号振幅よりもＲ＿ＳＵＭ信号振幅が大きい場合には記録状態が異常として記録を停止する等の処理を行なうことができる。積層型の光ディスク７０１が記録マークの形成により反射率が高くなるであれば、前述のＦ＿ＳＵＭ信号とＲ＿ＳＵＭ信号の振幅の大小が逆転する。

また、第二の光スポット３０１と第一の光スポット３１１の位置情報は記録再生信号処理回路１０６にてアドレスとして読み取れるため、このアドレスを記録時の記録が適切な位置と適切な積層型の記録層にて行われているかの確認に使用しても良い。

また、前述したステップＳ１１０２で未記録と判定した場合にも、ディスク１回転以上記録を行なうと記録マーク列からなるトラックが形成されるため、サーボエラー信号生成回路１０５にてＲ＿ＴＥを生成することが可能となる。従って、記録開始後に１回転以上の記録を行なった時点で積層型の記録層へトラッキング制御をオンするようにしても良い。或いは、一度記録を止めて積層型の記録層へのトラッキング制御をオンした後に再度記録を開始しても良い。

以上の実施例におけるフローチャートは主たるステップを記載したものであり、各ステップの間に他のステップを設けるようにしても良い。また、光ディスク装置の動作として不都合が生じない範囲でステップの順序を変えるようにしてもよい。

また、本実施例において、サーボ層は１ビームによりフォーカス制御、トラッキング制御を行っている例であるが、例えばビームスプリッタ１２１７と偏向ビームスプリッタ１２２０の間にグレーティングをおいて３ビーム（メインビーム０次光及びサーボビーム±１次光）としても良い。本実施例におけるサーボエラー信号生成回路１０５にて生成される信号はトラッキング信号であれば差動プッシュプル法（ＤＰＰ法）やプッシュプル法、フォーカス信号であればナイフエッジ法や差動非点収差方式などの方式を用いて行えばよい。ただし、前述の方式は限定するものではなく異なる方式であっても良い。また、溝をピットで構成しても良い。更に、本実施例では１つのレーザダイオード１２０２とグレーティング１１１の組み合わせで３つの第三の光スポット３００、第二の光スポット３０１、第四の光スポット３０２を積層型の記録層に集光したが、この方法以外として３つのレーザダイオードで３つの第三の光スポット３００、第二の光スポット３０１、第四の光スポット３０２を積層型の記録層に集束させことも可能である。

さらに、積層型の記録層と積層型の記録層に集光した第三の光スポット３００との位置ずれを表すＲ＿ＦＥに基づいたフォーカス制御を行う例であったが、第二の光スポット３０１との位置ずれをＲ＿ＦＥとして記録されたマーク列へのフォーカス制御を行っても良い。

（本実施例の特徴及び効果）
本実施例の特徴は、第一のレーザ光源からサーボ層に照射される６５０ｎｍの第一の光スポット３１１のサーボ層に対するディスク面方向の位置を表すＳ＿ＦＥ、サーボ層の溝に対する第一の光スポット３１１の位置を表すＳ＿ＴＥに基づく駆動信号Ｓ＿ＦＯＤ、Ｓ＿ＴＲＤにより第一のアクチュエータ駆動回路１０８を介して対物レンズ１２１１を制御し、第二のレーザ光源から積層型の記録層に照射される４５０ｎｍの３つの光スポットの内、第三の光スポット３００の積層型の記録層に対するディスク面方向の位置を表すＲ＿ＦＥと積層型の記録層の記録マークにて形成されるトラックに対する第二の光スポット３０１の位置を表すＲ＿ＴＥに基づく駆動信号Ｒ＿ＦＯＤ、Ｒ＿ＴＲＤにより第二のアクチュエータ駆動回路１０９を介してリレーレンズ１２２１を制御することで、積層型の記録層、サーボ層に対してフォーカス制御、トラック制御を独立に制御する点である。

この制御により、所定のトラック間隔で第三の光スポット３００にてマークを記録することが可能になり、追加記録する際に２つのレーザ光の光軸と光ディスクの面の法線がディスクの反り等により変化した場合でもデータに上書きすることを抑制することができ、無駄な領域を設けることなくかつフィードバック制御にて追加記録を行うことができる。また、記録時においても基準となるクロック信号等をサーボ層のトラックから得られる情報から生成することができる。

なお、本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。また、制御線や情報線は説明上必要と考えられるものを示しており、製品上必ずしも全ての制御線や情報線を示しているとは限らない。実際には殆ど全ての構成が相互に接続されていると考えてもよい。

１０１…光ディスク
７０１…光ディスク
１０２…光ピックアップ
１０３…信号処理回路
１０６…記録再生信号処理回路
１０８…第一のアクチュエータ駆動回路
１０９…第二のアクチュエータ駆動回路
１１０…収差補正素子駆動回路
１１１…グレーティング
１０５１…サーボ層フォーカスエラー信号生成回路
１０５２…サーボ層トラッキングエラー信号生成回路
１０５３…総光量信号生成回路
１１５３…記録層フォーカスエラー信号生成回路
１０５４…記録層トラッキングエラー信号生成回路
１０５５…総光量信号生成回路
１０５６…総光量信号生成回路
１２０１…レーザパワー制御回路
１２０２…レーザダイオード
１２０９…収差補正素子
１２１１…対物レンズ
１２１２…第一のアクチュエータ
１２２８…第二のアクチュエータ
１２１４…ディテクタ
１２１５…レーザダイオード
１２２１…リレーレンズ
１２２３…ディテクタ
１３０１…システム制御回路
１３０２…記録層フォーカス制御回路
１３０６…サーボ層フォーカス制御回路
１３１０…トラッキング制御回路
１３１２…記録層トラッキング制御回路

Claims (7)

1. 予めトラックが形成された少なくとも一つのサーボ層と、
   レーザ光を照射してマークを形成することにより情報記録が行われる複数の記録層と、
   を備える光ディスクの記録および再生を行う光ディスク装置において、
   前記光ディスクの前記サーボ層にレーザ光を照射する第一のレーザ光源と、
   前記光ディスクの前記記録層にレーザ光を照射する第二のレーザ光源と、
   前記第二のレーザ光源から出射されたレーザ光を分光する分光部と、
   前記分光部を通過した分光後のレーザ光の収束と発散を制御するリレーレンズと、
   第一のレーザ光源から出射されたレーザ光を第一の光スポットとして前記サーボ層に照射するとともに前記リレーレンズを通過したレーザ光を第二の光スポットと第三の光スポットとして前記記録層に照射する対物レンズと、
   前記対物レンズを駆動する第一のアクチュエータと、
   前記リレーレンズを駆動する第二のアクチュエータと、
   前記第一の光スポットの前記サーボ層に対する焦点位置のずれ及び前記第一の光スポットの前記サーボ層のトラックとの位置ずれを検出する第一の検出部と、
   前記第一の検出部の出力に基づいて前記第一のアクチュエータにより前記対物レンズを前記光ディスク面の垂直方向、および、半径方向に駆動し、前記第一の光スポットを前記サーボ層の所定箇所に位置付ける制御を行う第一の制御部と、
   前記第二の光スポット或いは前記第三の光スポットの前記記録層に対する焦点位置のずれ及び前記第二の光スポットの前記記録層のトラックとの位置ずれを検出する第二の検出部と、
   前記第二の検出部の出力に基づいて前記第二のアクチュエータにより前記リレーレンズを駆動することで、前記第二の光スポットおよび前記第三の光スポットを前記記録層の所定箇所に位置付ける制御を行う第二の制御部と、
   を備え、
   前記第一の制御部により前記第一の光スポットが前記光ディスクのサーボ層のトラックを追従するように制御を行い、
   前記第二の制御部により前記第二の光スポットが前記光ディスクの記録済のマーク列からなるトラックを追従するように制御を行うとともに、前記第三の光スポットにより新たなマークを前記光ディスクに形成して情報を記録することを特徴とする光ディスク装置。
2. 請求項１に記載の光ディスク装置において、
   前記光ディスクはバルク層を有し、
   前記記録層は前記バルク層にレーザ光を照射してマークを形成することにより情報が記録された仮想的な記録層であることを特徴とする光ディスク装置。
3. 請求項２に記載の光ディスク装置において、
   前記第二の検出部にて前記第二の光スポットの前記記録層に対する焦点位置のずれを検出し、フォーカス制御を行うことを特徴とする光ディスク装置。
4. 請求項１に記載の光ディスク装置において、
   前記光ディスクはトラックを有さない複数の記録層が予め積層された光ディスクであることを特徴とする光ディスク装置。
5. 請求項４に記載の光ディスク装置において、
   前記第二の検出部にて前記第三の光スポットで前記記録層に対する焦点位置のずれを検出し、フォーカス制御を行うことを特徴とする光ディスク装置。
6. 請求項４に記載の光ディスク装置において、
   前記第二の検出部にて前記第二の光スポットで前記記録層に対する焦点位置のずれを検出し、フォーカス制御を行うことを特徴とする光ディスク装置。
7. 請求項１から６のいずれかに記載の光ディスク装置において、
   前記記録層の記録或いは未記録の状態を判別する記録状態判別手段を備え、
   前記記録状態判別手段において未記録と判定した場合には、前記第一の制御部により前記第一の光スポットが前記光ディスクのサーボ層のトラックを追従するように制御を行いながら前記第三の光スポットにより新たなマークを形成して記録を行い、
   前記未記録状態判別手段において記録済みと判定した場合には、前記第二の制御部により前記第二の光スポットが前記光ディスクの記録層の記録済みのマーク列からなるトラック追従するように制御を行うとともに、前記第三の光スポットにより新たなマークを形成して記録することを特徴とする光ディスク装置。

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