JP2014030359A5 - 半導体装置、モジュール、インバータ、コンバータおよびモジュールの駆動方法 - Google Patents

半導体装置、モジュール、インバータ、コンバータおよびモジュールの駆動方法 Download PDF

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この発明は、半導体装置、モジュール、インバータ、コンバータおよびモジュールの駆動方法に関する。
この発明の目的は、SiC−MOSFETに内蔵されているPN接合ダイオードに電流が流れるのを抑制できる半導体装置、モジュール、インバータ、コンバータおよびモジュールの駆動方法を提供することである。
この発明の目的は、バイポーラデバイスに含まれているPN接合ダイオードに電流が流れるのを抑制できる半導体装置を提供することである。
この発明の第1の半導体装置は、SiCを半導体材料として用いたSiC−MOSFETと、ショットキーバリアダイオードと、前記SiC−MOSFETおよび前記ショットキーバリアダイオードが接合されたダイパッドと、前記SiC−MOSFETおよび前記ショットキーバリアダイオードが接続された外部端子とを含み、前記ダイパッド、前記SiC−MOSFETおよび前記ショットキーバリアダイオードが樹脂封止された半導体装置であって、前記SiC−MOSFETのドレインが前記ダイパッドに接合され、前記ショットキーバリアダイオードのカソードが前記ダイパッドに接合され、前記SiC−MOSFETのソースから前記ショットキーバリアダイオードのアノードを経由して前記外部端子までステッチボンディングされた接続金属部材を含み、前記接続金属部材における前記ショットキーバリアダイオードから前記外部端子までのインダクタンスが、前記接続金属部材における前記SiC−MOSFETから前記外部端子までのインダクタンスよりも小さいことを特徴としている(請求項1)。
この構成では、SiC−MOSFETのソースからショットキーバリアダイオードのアノードを経由して外部端子までステッチボンディングされた接続金属部材を含んでいる。したがって、接続金属部材におけるSiC−MOSFETとショットキーバリアダイオードとの間の部分によるインダクタンスが存在し、かつ接続金属部材におけるショットキーバリアダイオードと外部端子との間の部分によるインダクタンスが存在する。そのため、ショットキーバリアダイオード外部端子との間のインダクタンスは、SiC−MOSFETと外部端子との間のインダクタンスよりも小さい。ショットキーバリアダイオードに電流が流れると、ショットキーバリアダイオード外部端子との間のインダクタンスによって、逆起電力が発生する。しかし、SiC−MOSFETショットキーバリアダイオードに接続されているため、ショットキーバリアダイオードの動作電圧(順方向立ち上がり電圧)に相当する電圧がSiC−MOSFETに内蔵されているPN接合ダイオードにかかるに過ぎない。SiC−MOSFETに内蔵されているPN接合ダイオードの動作電圧は、ショットキーバリアダイオードの動作電圧より低いので、SiC−MOSFETに内蔵されているPN接合ダイオードに電流は流れない。このため、SiC−MOSFETに結晶欠陥部が存在していたとしても、結晶欠陥部が拡大するのを抑制できる。
この発明の一実施形態では、前記ショットキーバリアダイオードと前記外部端子との間のインダクタンスにより生じる逆起電力が2.0V以上である(請求項)。SiC−MOSFETに内蔵されているPN接合ダイオードの順方向立ち上がり電圧は、2.0V程度であると考えられる。したがって、ショットキーバリアダイオード外部端子との間のインダクタンスにより生じる逆起電力が2.0V未満では、SiC−MOSFETに内蔵されているPN接合ダイオードにそもそも電流は流れない。したがって、ショットキーバリアダイオード外部端子との間のインダクタンスにより生じる起電力が2.0V以上の場合に、この発明による実質的な効果が得られる。
この発明の一実施形態では、前記SiC−MOSFETがPN接合ダイオードを内蔵しており、前記接続金属部材が前記ショットキーバリアダイオードのアノードと前記PN接合ダイオードのアノードとを接続している(請求項
この発明の一実施形態では、前記接続金属部材が可撓性を有する帯状接続部材であるリボンまたは可撓性の少ない板状金属部材であるフレームである(請求項4)。
この発明の一実施形態では、平面視において、前記SiC−MOSFETと前記ショットキーバリアダイオードとが、前記ダイパッド上に所定の一方向に間隔をおいて並んで配置され、前記外部端子であるソース端子が前記所定の一方向に対して垂直な方向に離れた位置に配置されている(請求項5)
この発明の一実施形態では、前記ソース端子が、前記SiC−MOSFETよりも前記ショットキーバリアダイオードに近い位置に配置されている(請求項6)
この発明の一実施形態では、前記ソース端子に対して、前記所定の一方向と平行な方向でかつ前記SiC−MOSFETに近づく方向に間隔をおいてゲート端子が配置されており、前記SiC−MOSFETは、前記SiC−MOSFETにおけるソースを有する表面における前記ゲート端子寄りの位置にゲートを有している(請求項7)。
この発明のモジュールは、前記請求項1〜7のいずれか一項に記載の半導体装置によって構成される上アームと、前記請求項1〜7のいずれか一項に記載の半導体装置によって構成される下アームとを含み、前記上アームにおける前記SiC−MOSFETのソースが、前記下アームにおける前記SiC−MOSFETのドレインに接続されている(請求項8)
この発明のインバータは、前記請求項8に記載のモジュールによって構成される第1モジュールと、前記請求項8に記載のモジュールによって構成される第2モジュールとを含み、前記第1モジュールにおける前記上アームと前記下アームとの接続点と、前記第2モジュールにおける前記上アームと前記下アームとの接続点との間に負荷が接続される(請求項9)
この発明のコンバータは、前記請求項8に記載のモジュールを有する(請求項1)。
この発明のモジュールの駆動方法は、前記請求項8に記載のモジュールの駆動方法であって、前記モジュールの前記上アームおよび前記下アームにおける前記SiC−MOSFETがそれぞれPN接合ダイオードを内蔵しており、前記上アームの前記SiC−MOSFETと前記下アームの前記SiC−MOSFETとが、前記両SiC−MOSFETが共にオフとなるデットタイム期間を挟んで交互にオンされ、前記デットタイム期間に前記PN接合ダイオードに電流が流れない(請求項1)。
この発明の第2の半導体装置は、PN接合ダイオードを含み、SiCを半導体材料として用いたバイポーラデバイスと、ショットキーバリアダイオードを含むユニポーラデバイスと、前記バイポーラデバイスおよび前記ユニポーラデバイスが接合されたダイパッドと、前記バイポーラデバイスおよび前記ユニポーラデバイスが接続された外部端子とを含み、前記ダイパッド、前記バイポーラデバイスおよび前記ユニポーラデバイスが樹脂封止された半導体装置であって、前記バイポーラデバイスにおける前記PN接合ダイオードのカソード側表面が前記ダイパッドに接合され、前記ユニポーラデバイスにおける前記ショットキーバリアダイオードのカソード側表面が前記ダイパッドに接合され、前記バイポーラデバイスにおける前記PN接合ダイオードのアノード側表面から前記ユニポーラデバイスにおける前記ショットキーバリアダイオードのアノード側表面を経由して前記外部端子までステッチボンディングされた接続金属部材を含み、前記接続金属部材における前記バイポーラデバイスから前記外部端子までのインダクタンスが、前記接続金属部材における前記ユニポーラデバイスから前記外部端子までのインダクタンスよりも大きいことを特徴とする(請求項1
この発明の第3の半導体装置は、PN接合ダイオードを含み、SiCを半導体材料として用いたバイポーラデバイスと、ショットキーバリアダイオードを含むユニポーラデバイスと、前記バイポーラデバイスおよび前記ユニポーラデバイスが接合されたダイパッドと、前記バイポーラデバイスおよび前記ユニポーラデバイスが接続された外部端子とを含み、前記ダイパッド、前記バイポーラデバイスおよび前記ユニポーラデバイスが樹脂封止された半導体装置であって、前記バイポーラデバイスにおける前記PN接合ダイオードのアノード側表面が前記ダイパッドに接合され、前記ユニポーラデバイスにおける前記ショットキーバリアダイオードのアノード側表面が前記ダイパッドに接合され、前記バイポーラデバイスにおける前記PN接合ダイオードのカソードと前記ユニポーラデバイスにおける前記ショットキーバリアダイオードのカソードとを接続する第1接続金属部材と、前記ユニポーラデバイスにおける前記ショットキーバリアダイオードのカソードと前記外部端子とを接続する第2接続金属部材を含み、前記ユニポーラデバイスから前記外部端子までのインダクタンスが、前記バイポーラデバイスから前記外部端子までのインダクタンスよりも小さいことを特徴とする(請求項13)

Claims (13)

  1. SiCを半導体材料として用いたSiC−MOSFETと、ショットキーバリアダイオードと、前記SiC−MOSFETおよび前記ショットキーバリアダイオードが接合されたダイパッドと、前記SiC−MOSFETおよび前記ショットキーバリアダイオードが接続された外部端子とを含み、前記ダイパッド、前記SiC−MOSFETおよび前記ショットキーバリアダイオードが樹脂封止された半導体装置であって、
    前記SiC−MOSFETのドレインが前記ダイパッドに接合され、
    前記ショットキーバリアダイオードのカソードが前記ダイパッドに接合され、
    前記SiC−MOSFETのソースから前記ショットキーバリアダイオードのアノードを経由して前記外部端子までステッチボンディングされた接続金属部材を含み、
    前記接続金属部材における前記ショットキーバリアダイオードから前記外部端子までのインダクタンスが、前記接続金属部材における前記SiC−MOSFETから前記外部端子までのインダクタンスよりも小さいことを特徴とする、半導体装置。
  2. 前記ショットキーバリアダイオードと前記外部端子との間のインダクタンスにより生じる逆起電力が2.0V以上である、請求項1に記載の半導体装置
  3. 前記SiC−MOSFETがPN接合ダイオードを内蔵しており、前記接続金属部材が前記ショットキーバリアダイオードのアノードと前記PN接合ダイオードのアノードとを接続している、請求項1または2に記載の半導体装置
  4. 前記接続金属部材が可撓性を有する帯状接続部材であるリボンまたは可撓性の少ない板状金属部材であるフレームである、請求項1〜3のいずれか一項に記載の半導体装置
  5. 平面視において、前記SiC−MOSFETと前記ショットキーバリアダイオードとが、前記ダイパッド上に所定の一方向に間隔をおいて並んで配置され、前記外部端子であるソース端子が前記所定の一方向に対して垂直な方向に離れた位置に配置されている、請求項1〜4のいずれか一項に記載の半導体装置
  6. 前記ソース端子が、前記SiC−MOSFETよりも前記ショットキーバリアダイオードに近い位置に配置されている、請求項に記載の半導体装置
  7. 前記ソース端子に対して、前記所定の一方向と平行な方向でかつ前記SiC−MOSFETに近づく方向に間隔をおいてゲート端子が配置されており、前記SiC−MOSFETは、前記SiC−MOSFETにおけるソースを有する表面における前記ゲート端子寄りの位置にゲートを有している、請求項に記載の半導体装置
  8. 前記請求項1〜7のいずれか一項に記載の半導体装置によって構成される上アームと、
    前記請求項1〜7のいずれか一項に記載の半導体装置によって構成される下アームとを含み、
    前記上アームにおける前記SiC−MOSFETのソースが、前記下アームにおける前記SiC−MOSFETのドレインに接続されている、モジュール
  9. 前記請求項8に記載のモジュールによって構成される第1モジュールと、
    前記請求項8に記載のモジュールによって構成される第2モジュールとを含み、
    前記第1モジュールにおける前記上アームと前記下アームとの接続点と、前記第2モジュールにおける前記上アームと前記下アームとの接続点との間に負荷が接続される、インバータ
  10. 前記請求項8に記載のモジュールを有する、コンバータ
  11. 前記請求項8に記載のモジュールの駆動方法であって、
    前記モジュールの前記上アームおよび前記下アームにおける前記SiC−MOSFETがそれぞれPN接合ダイオードを内蔵しており、
    前記上アームの前記SiC−MOSFETと前記下アームの前記SiC−MOSFETとが、前記両SiC−MOSFETが共にオフとなるデットタイム期間を挟んで交互にオンされ、前記デットタイム期間に前記PN接合ダイオードに電流が流れない、モジュールの駆動方法。
  12. PN接合ダイオードを含み、SiCを半導体材料として用いたバイポーラデバイスと、ショットキーバリアダイオードを含むユニポーラデバイスと、前記バイポーラデバイスおよび前記ユニポーラデバイスが接合されたダイパッドと、前記バイポーラデバイスおよび前記ユニポーラデバイスが接続された外部端子とを含み、前記ダイパッド、前記バイポーラデバイスおよび前記ユニポーラデバイスが樹脂封止された半導体装置であって、
    前記バイポーラデバイスにおける前記PN接合ダイオードのカソード側表面が前記ダイパッドに接合され、
    前記ユニポーラデバイスにおける前記ショットキーバリアダイオードのカソード側表面が前記ダイパッドに接合され、
    前記バイポーラデバイスにおける前記PN接合ダイオードのアノード側表面から前記ユニポーラデバイスにおける前記ショットキーバリアダイオードのアノード側表面を経由して前記外部端子までステッチボンディングされた接続金属部材を含み、
    前記接続金属部材における前記バイポーラデバイスから前記外部端子までのインダクタンスが、前記接続金属部材における前記ユニポーラデバイスから前記外部端子までのインダクタンスよりも大きいことを特徴とする、半導体装置
  13. PN接合ダイオードを含み、SiCを半導体材料として用いたバイポーラデバイスと、ショットキーバリアダイオードを含むユニポーラデバイスと、前記バイポーラデバイスおよび前記ユニポーラデバイスが接合されたダイパッドと、前記バイポーラデバイスおよび前記ユニポーラデバイスが接続された外部端子とを含み、前記ダイパッド、前記バイポーラデバイスおよび前記ユニポーラデバイスが樹脂封止された半導体装置であって、
    前記バイポーラデバイスにおける前記PN接合ダイオードのアノード側表面が前記ダイパッドに接合され、
    前記ユニポーラデバイスにおける前記ショットキーバリアダイオードのアノード側表面が前記ダイパッドに接合され、
    前記バイポーラデバイスにおける前記PN接合ダイオードのカソードと前記ユニポーラデバイスにおける前記ショットキーバリアダイオードのカソードとを接続する第1接続金属部材と、
    前記ユニポーラデバイスにおける前記ショットキーバリアダイオードのカソードと前記外部端子とを接続する第2接続金属部材を含み、
    前記ユニポーラデバイスから前記外部端子までのインダクタンスが、前記バイポーラデバイスから前記外部端子までのインダクタンスよりも小さいことを特徴とする、半導体装置
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